KR20060069085A - 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 평판 표시패널 검사장치에 구비되는 워크 테이블에 관한 것으로, 특히 다양한 크기의 패널을 신속하게 셋팅할 수 있도록 한 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 관한 것이다.
이에, 그 구성은 베이스플레이트와, 상기 베이스플레이트상에 설치되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재를 포함하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 있어서, 상기 고정부재는, 패널의 밑면에 밀착되는 지지부가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀이 형성되는 다수개의 블록으로 구성되며; 상기 블록은 각각 상기 베이스플레이트상에 설치된 레일을 따라 이동가능하게 설치되어, 패널의 크기에 맞게 배치 및 고정이 가능하게 구성된 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 워크 테이블을 제공함으로써, 패널의 크기 변경시 부품교체에 따른 시간 및 인력의 낭비를 방지하여 작업성 및 생산성이 현저하게 향상되는 효과를 가진다.
베이스플레이트, 고정부재, 블록, 레일

Description

평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블{WORK TABLE FOR FLAT DISPLAY PANEL TESTER}
도 1은 본 발명의 제1 실시예를 보인 사시도.
도 2는 도 1의 작동상태를 보인 평면도.
도 3은 본 발명의 제2 실시예를 보인 사시도.
도 4는 도 3의 작동상태를 보인 평면도.
도 5는 본 발명의 제3 실시예를 보인 사시도.
도 6은 도 5의 측면도.
도 7은 도 5의 평면도.
도 8은 본 발명의 제4 실시예를 보인 사시도.
도 9는 도 8의 작동상태를 보인 사시도.
도 10은 종래 검사장치의 일 예를 보인 사시도.
도 11은 도 10의 워크 테이블을 보인 사시도.
※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
10 : 베이스플레이트 20 : 고정부재
21a,21b : 제1,2 고정블록 22 : 가동블록
23 : 교체블록
24a,24b,24c,24d : 가동플레이트
25a,25b,25c,25d : 가동블록
26a,26b,26c,26d : 고정블록
27,28,29 : 보조블록
R1,R2,R3 : 레일 P : 패널
본 발명은 평판 표시패널 검사장치에 구비되는 워크 테이블에 관한 것으로, 보다 상세하게는 외부에서 공급된 패널을 셋팅하여 프로브 유닛의 검사를 유도할 수 있도록 한 평판 표시패널 검사장치용 워크테이블에 관한 것이다.
일반적으로 평판 표시패널은 TV나 컴퓨터의 모니터에 사용되고 있는 음극선관(CRT, Cathode Ray Tube)을 대체하기 위해 개발된 차세대 표시장치로, LCD(Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), EL(Electro Luminance) 등이 대표적으로 사용되고 있다.
한편, 상기 평판 표시패널을 생산하는 과정에서 백라이트, 구동회로 등을 조립하기 전에 패널의 외관 및 전기적인 결함을 검사하는 공정을 거치게 된다. 상기 검사공정은 검사장치에서 각 단위 패널에 구비된 데이터 라인과 게이트 라인에 전원을 인가하여, 작업자가 패널의 불량여부를 육안으로 검사하는 방식으로 진행되며, 도 10은 종래 검사장치의 일 예를 보인 사시도이고, 도 11은 도 10의 워크 테 이블을 보인 사시도이다.
도시된 바와 같이, 검사장치(100)는 크게 패널(P)을 검사하는 검사부와, 상기 검사부에 패널을 로딩함과 동시에 검사된 패널을 언로딩하는 이송부(미도시)와, 상기 이송부로 패널을 공급하고 검사된 패널을 전달받아 외부로 반출하는 공급부(130)로 구성된다.
상기 이송부는 대한민국 등록특허공보(등록번호 제354103호)에 개시된 바와 같이, 패널을 적재하는 한 쌍의 캐리어가 구비되어, 상기 캐리어를 상호 교차되게 이송하면서 로딩 및 언로딩을 동시에 수행할 수 있도록 구성된다.
상기 검사부에는 패널의 측부에 구비된 컨텍 패드(contact pad)의 접점에 접지하여, 패널의 데이터 라인과 게이트 라인에 전원을 인가하는 데이터 베이스(111) 및 게이트 베이스(112)로 구성된 프로브 유닛(110)이 구비되고, 상기 캐리어에서 이송된 패널을 셋팅한 후 상기 프로브 유닛측으로 전진시켜 접촉을 유도하는 워크 테이블이 구비된다.
상기 워크 테이블(120)에는 베이스플레이트(121)의 상부에 패널(P)이 셋팅되는 고정부재(122)가 구비되며, 상기 베이스플레이트는 후방에 설치된 작동부(123)에 의해 전,후,좌,우 및 회전동작이 이루어진다.
상기 고정부재(122)는 공급된 패널을 진공으로 흡착하여 고정할 수 있도록 구성되는데, 통상의 워크 테이블은 상기 고정부재의 구조가 정형화되어 있으므로, 크기가 다른 패널은 고정이 불가능한 문제점이 있었다.
그에 따라, 다른 크기의 패널을 검사하고자 하는 경우에는 고정부재 및 베이스플레이트를 교체해야 함으로써, 인력 및 시간의 낭비로 인해 작업성 및 생산성의 저하가 초래되었다.
이에, 본 발명은 상술한 바와 같은 종래의 제반 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 고정부재의 크기를 패널에 맞게 조정할 수 있도록 구성하여, 다양한 크기의 패널을 신속하게 셋팅할 수 있도록 한 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블을 제공함에 있다.
상기와 같은 목적을 이루기 위한 본 발명의 일 양상은 베이스플레이트와, 상기 베이스플레이트상에 설치되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재를 포함하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 있어서, 상기 고정부재는, 패널의 밑면에 밀착되는 지지부가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀이 형성되는 다수개의 블록으로 구성되며; 상기 블록은 각각 상기 베이스플레이트상에 설치된 레일을 따라 이동가능하게 설치되어, 패널의 크기에 맞게 배치 및 고정이 가능하게 구성된 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 양상은 베이스플레이트와, 상기 베이스플레이트상에 설치되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재를 포함하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 있어서, 상기 고정부재는, 상기 베이스플레이트상에 고정되며 패널의 일측 모서리와 대응되게 상호 직각으로 배치되는 제1,2 고정블록과, 상기 제1 고정블록의 맞은편에 구비되며 패널의 크기에 따라 상기 제1 고정블록을 향하여 전,후로 이동이 가능한 가동블록과, 상기 제1 고정블록과 가동블록의 사이에 설치되며 패널의 크기에 따라 교체되는 교체블록을 포함하며; 상기 제1,2 고정블록, 가동블록, 교체블록의 상면에는 각각 패널의 밑면에 밀착되는 지지부가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀이 형성되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 또 다른 양상은 베이스플레이트와, 상기 베이스플레이트상에 설치되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재를 포함하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 있어서, 상기 고정부재는, 상기 베이스플레이트상에 상호 대칭되게 설치되며 각각 전,후로 이동이 가능하게 구비되는 다수개의 가동플레이트와, 상기 가동플레이트상에 각각 구비된 레일을 따라 좌,우로 이동이 가능하게 설치되는 다수개의 가동블럭을 포함하며; 상기 가동블록의 상면에는 각각 패널의 밑면에 밀착되는 지지부가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀이 형성되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 또 다른 양상은 베이스플레이트와, 상기 베이스플레이트상에 설치되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재를 포함하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 있어서, 상기 고정부재는, 상기 베이스플레이트상에 사각형으로 설치되어 패널의 하측 둘레를 지지하는 4개의 고정블록과, 상기 고정블록에 각각 다단으로 적층되어 패널의 중심을 향해 전,후로 슬라이드 가능하게 구성되는 다수개의 가동블록을 포함하며; 상기 고정블록과 가동블록의 상면에는 각각 패널의 밑면에 밀착되는 지지부가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀이 형성되는 것을 특징으로 한다.
상술한 본 발명의 양상은 첨부된 도면을 참조하여 설명되는 바람직한 실시예들을 통하여 더욱 명백해질 것이다. 이하에서는 바람직한 실시예를 통해 당업자가 본 발명을 용이하게 이해하고 재현할 수 있도록 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예를 보인 사시도이고, 도 2는 도 1의 작동상태를 보인 평면도이다.
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 워크 테이블은 베이스플레이트(10)와, 그 상측에 구비되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재(20)로 구성된다. 상기 고정부재는 패널의 하면을 지지하는 다수개의 블록으로 구성되며, 상기 블록은 패널의 크기에 맞게 배치 및 고정이 가능하게 구성된다. 이때, 각 블록의 상면에는 패널의 밑면에 밀착되는 지지부(S)가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀(H)이 형성된다.
본 실시예에 따른 고정부재(20)는, 베이스플레이트(10)상에 고정되며 패널의 일측 모서리와 대응되게 상호 직각으로 배치되는 제1,2 고정블록(21a)(21b)과, 상기 제1 고정블록의 맞은편에 구비되는 가동블록(22)과, 상기 제1 고정블록과 가동블록의 사이에 설치되는 교체블록(23)으로 구성된다.
제1 고정블록(21a)은 패널의 가로측 길이와 대응되는 길이로 형성되고, 제2 고정블록(21b)은 세로측 길이와 대응되는 길이로 형성된다. 가동블록(22)은 제1 고정블록(21a)과 대응되는 길이로 형성되며, 베이스플레이트(10)상에 나란히 설치된 한 쌍의 레일(R1)을 따라 상기 제1 고정블록측으로 전,후 이동이 가능하게 설치된다.
교체블록(23)은 양측 단부가 제1 고정블록(21a) 및 가동블록(22)측에 볼트로 고정된다. 이에 따라, 작은 크기의 패널을 셋팅하고자 하는 경우에는 그 패널의 세로폭에 맞게 가동블록(22)을 전진시킨 후 가로폭에 맞는 교체블록(23)을 설치함으로써, 종래와는 달리 워크 테이블을 교체할 필요없이 신속하고 간편하게 패널을 셋팅할 수 있게 된다.
도 3은 본 발명의 제2 실시예를 보인 사시도이고, 도 4는 도 3의 작동상태를 보인 평면도이다. 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 워크 테이블은 제1,2 고정블록(21a)(21b)과 가동블록(22)을 각각 전,후,좌,우로 이동할 수 있도록 구성한 것을 특징으로 한다.
즉, 전술한 제1 실시예에서는 제1,2 고정블록(21a)(21b)이 베이스플레이트(10)상에 고정되어 패널의 셋팅시 기준선이 됨으로써, 소형 패널의 경우에는 상기 제1,2 고정블록측으로 치우치게 셋팅된다.
그러나, 본 실시예에서는 제1,2 고정블록(21a)(21b)과 가동블록(22)을 함께 이동시킬 수 있으므로, 패널의 크기에 관계없이 동일한 위치에 셋팅할 수 있을 뿐만 아니라 베이스플레이트(10)상의 원하는 위치에 셋팅할 수 있게 된다.
이에 따라, 본 실시예에서는 베이스플레이트(10)상에 설치된 고정식 레일(R1)상에 한 쌍의 이동식 레일(R2)을 슬라이드 가능하게 설치하고, 상기 이동식 레일상에 제1 고정블록(21a)과 가동블록(22)을 각각 슬라이드 가능하게 설치한다.
한편, 상기와 같이 레일을 이용하여 블록들을 원하는 방향으로 이동하는 기술은 당업자가 용이하게 실시 및 변형할 수 있는 범위에 속하므로, 보다 다양한 실 시예가 존재할 수 있다.
도 5는 본 발명의 제3 실시예를 보인 사시도이고, 도 6,7은 도 5의 측면도 및 평면도이다.
도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 워크 테이블은 고정부재(20)가 베이스플레이트(10)상에 상호 대칭되게 설치되는 4개의 가동플레이트(24a,24b)(24c,24d)와, 상기 가동플레이트상에 각각 구비된 레일(R3)을 따라 좌,우로 이동이 가능하게 설치되는 다수개의 가동블럭(25a,25b)(25c,25d)으로 구성된다. 이때, 상기 가동플레이트는 상호 마주보는 방향으로 각각 전,후 이동이 가능하게 설치된다.
가동블록(25a,25b)(25c,25d)의 상면에는 각각 패널의 밑면에 밀착되는 지지부(S)가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀(H)이 형성되어 패널을 셋팅할 수 있게 구성된다.
상기와 같이 가동블록이 동일한 중심선을 기준으로 각각 전,후,좌,우 4방향으로 이동이 가능함으로써, 베이스플레이트(10)의 중심부를 기준으로 다양한 크기의 패널을 항상 동일한 위치에 셋팅할 수 있게 된다.
도 8은 본 발명의 제4 실시예를 보인 사시도이고, 도 9는 도 8의 작동상태를 보인 사시도이다.
도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 워크 테이블은 고정부재(20)가 베이스플레이트(10)상에 사각형으로 설치되어 패널의 하측 둘레를 지지하는 4개의 고정블록(26a,26b)(26c,26d)과, 상기 고정블록상에 각각 다단으로 적층되어 패널의 중심을 향해 전,후 방향으로로 슬라이드 가능하게 구성되는 다수개의 가동블록 (27)(28)(29)으로 구성된다.
이때, 각각의 고정블록(26a,26b)(26c,26d)과 가동블록(27)(28)(29)의 상면에는 패널의 밑면에 밀착되는 지지부(S)가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀(H)이 형성된다.
가동블록(27)(28)(29)은 4개의 고정블록(26a,26b)(26c,26d)에 각각 구비되는데, 접촉면에 돌기(미부호)와 홈(미부호)이 각각 다수개 형성되어, 상호 마주보는 방향으로 전,후 이동이 가능하게 구성된다.
즉, 패널의 크기에 따라 가동블록을 이동시켜 그 가로폭과 세로폭에 맞게 셋팅할 수 있으므로, 다양한 크기의 패널을 신속하고 간편하게 셋팅할 수 있게 된다.
한편, 상기 실시예들의 경우 블록들을 이동시켜 패널의 크기에 맞게 재배치하여야 하는데, 통상적인 패널은 그 사이즈가 규격화되어 있으므로, 블록의 이동량 또한 그에 맞게 규격화하는 것이 바람직하다.
즉, 기본적으로는 패널의 사이즈 별로 눈금을 표시하거나 각종 조정수단을 설치할 수 있으며, 이는 당업자가 통상적으로 사용되고 있는 다양한 방식을 적용하여 용이하게 실시할 수 있는 기술범위에 속하므로, 보다 다양한 실시예가 존재할 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 워크 테이블은 다양한 크기의 패널을 신속하고 간편하게 셋팅할 수 있으므로, 부품교체에 따른 시간 및 인력의 낭비를 방지하여 작업성 및 생산성이 현저하게 향상되는 효과를 가진다.
한편, 본 발명은 도면에 도시된 실시예들을 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.

Claims (5)

  1. 베이스플레이트(10)와, 상기 베이스플레이트상에 설치되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재(20)를 포함하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 있어서,
    상기 고정부재는,
    패널의 밑면에 밀착되는 지지부(S)가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀(H)이 형성되는 다수개의 블록으로 구성되며;
    상기 블록은 각각 상기 베이스플레이트상에 이동이 가능하게 설치되어, 패널의 크기에 맞게 배치 및 고정이 가능하게 구성된 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블.
  2. 베이스플레이트(10)와, 상기 베이스플레이트상에 설치되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재(20)를 포함하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 있어서,
    상기 고정부재는,
    상기 베이스플레이트상에 고정되며 패널의 일측 모서리와 대응되게 상호 직각으로 배치되는 제1,2 고정블록(21a)(21b)과, 상기 제1 고정블록의 맞은편에 구비되며 패널의 크기에 따라 상기 제1 고정블록을 향하여 전,후로 이동이 가능한 가동블록(22)과, 상기 제1 고정블록과 가동블록의 사이에 설치되며 패널의 크기에 따라 교체되는 교체블록(23)을 포함하며;
    상기 제1,2 고정블록, 가동블록, 교체블록의 상면에는 각각 패널의 밑면에 밀착되는 지지부(S)가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀(H)이 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1,2 고정블록(21a)(21b)과 가동블록(22)을 각각 전,후,좌,우로 이동할 수 있도록 구성한 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블.
  4. 베이스플레이트(10)와, 상기 베이스플레이트상에 설치되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재(20)를 포함하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 있어서,
    상기 고정부재는,
    상기 베이스플레이트상에 상호 대칭되게 설치되며 각각 전,후로 이동이 가능하게 구비되는 다수개의 가동플레이트(24a,24b)(24c,24d)와, 상기 가동플레이트상에 각각 구비된 레일(R3)을 따라 좌,우로 이동이 가능하게 설치되는 다수개의 가동블럭(25a,25b)(25c,25d)을 포함하며;
    상기 가동블록의 상면에는 각각 패널의 밑면에 밀착되는 지지부(S)가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀(H)이 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블.
  5. 베이스플레이트(10)와, 상기 베이스플레이트상에 설치되어 패널의 위치를 셋팅하는 고정부재(20)를 포함하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블에 있어서,
    상기 고정부재는,
    상기 베이스플레이트상에 사각형으로 설치되어 패널의 하측 둘레를 지지하는 4개의 고정블록(26a,26b)(26c,26d)과, 상기 고정블록상에 각각 다단으로 적층되어 패널의 중심을 향해 전,후로 슬라이드 가능하게 구성되는 다수개의 가동블록(27)(28)(29)을 포함하며;
    상기 고정블록과 가동블록의 상면에는 각각 패널의 밑면에 밀착되는 지지부(S)가 형성되고, 상기 지지부에 하나 이상의 진공홀(H)이 형성되는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사장치용 워크 테이블.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100820049B1 (ko) * 2006-08-18 2008-04-07 주식회사 파이컴 액정표시패널 검사 장비의 검사 스테이지
KR100913188B1 (ko) * 2008-05-02 2009-08-20 (주)유비프리시젼 디스플레이 패널 검사장치용 워크테이블의 다규격 패널지지장치
KR101258267B1 (ko) * 2006-06-30 2013-04-25 엘지디스플레이 주식회사 액정 패널의 검사 장치, 이를 사용한 워크 테이블 유닛의안착 방법 및 교체 방법
KR101285167B1 (ko) * 2013-01-04 2013-07-11 주식회사 프로이천 디스플레이 패널 검사장치용 워크 테이블
KR101395219B1 (ko) * 2012-05-30 2014-05-15 (주)펨트론 디스플레이 글라스 안착 모듈
KR20210012698A (ko) * 2019-07-26 2021-02-03 (주)에스티아이 윈도우 고정모듈 및 이를 포함하는 라미네이팅 장치

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200939088A (en) * 2008-03-07 2009-09-16 & T Technology Co Ltd A touch-control screen system of automatically detecting sizes and its module
KR100950016B1 (ko) * 2008-04-11 2010-03-31 티에스씨멤시스(주) 평판 패널 지지유닛
KR100950018B1 (ko) 2008-04-11 2010-03-29 티에스씨멤시스(주) 평판 패널 지지유닛 및 이를 갖는 평판 패널 검사 스테이지
KR100950014B1 (ko) * 2008-04-11 2010-03-29 티에스씨멤시스(주) 평판 패널 지지유닛 및 이를 갖는 평판 패널 검사 스테이지
JP5156970B2 (ja) * 2008-11-10 2013-03-06 株式会社日本マイクロニクス 電気的検査のためのプローブユニット、電気的検査装置および点灯検査装置
KR20130005128A (ko) * 2011-07-05 2013-01-15 주식회사 탑 엔지니어링 글라스패널 이송장치
CN109360518B (zh) * 2018-09-06 2023-09-29 武汉精测电子集团股份有限公司 一种显示面板自动对位微调载具
CN112213876B (zh) * 2020-10-29 2021-08-24 Tcl华星光电技术有限公司 可调式曲面液晶显示面板试验装置及其操作方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3350899B2 (ja) * 1999-08-31 2002-11-25 株式会社双晶テック プローブブロックの支持枠体
JP3480925B2 (ja) * 2000-09-12 2003-12-22 株式会社双晶テック ディスプレイパネル又はプローブブロックの支持枠体

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101258267B1 (ko) * 2006-06-30 2013-04-25 엘지디스플레이 주식회사 액정 패널의 검사 장치, 이를 사용한 워크 테이블 유닛의안착 방법 및 교체 방법
KR100820049B1 (ko) * 2006-08-18 2008-04-07 주식회사 파이컴 액정표시패널 검사 장비의 검사 스테이지
KR100913188B1 (ko) * 2008-05-02 2009-08-20 (주)유비프리시젼 디스플레이 패널 검사장치용 워크테이블의 다규격 패널지지장치
KR101395219B1 (ko) * 2012-05-30 2014-05-15 (주)펨트론 디스플레이 글라스 안착 모듈
KR101285167B1 (ko) * 2013-01-04 2013-07-11 주식회사 프로이천 디스플레이 패널 검사장치용 워크 테이블
KR20210012698A (ko) * 2019-07-26 2021-02-03 (주)에스티아이 윈도우 고정모듈 및 이를 포함하는 라미네이팅 장치

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