KR20010022779A - 문서용 안전 엘리먼트의 구조물, 이러한 안전 엘리먼트를 가진 문서의 시험을 위한 장치 및 이러한 안전 엘리먼트와장치를 사용하는 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 독일 특허출원번호 197 34 855.6호에 다른 문서용 안전 엘리먼트, 이러한 안전 엘리먼트를 포함하는 문서 제어용 장치 및 이러한 안전 엘리먼트와 장치를 사용하는 방법에 관한 것이다. 본 발명은 문성용 안전 엘리먼트 구조물, 이러한 안전 엘리먼트를 제어하는 장치 및 이러한 안전 엘리먼트와 장치를 사용하는 방법을 제공하는 것을 목적으로 하고, 안전 엘리먼트에 관한 한 불가능하지는 않지만 위조자들이 이러한 방법과 장치가 동작하는 방법을 아는 것을 어렵게하고, 다음으로 위조된 문서가 원본과 확연히 식별되어 제어장치에 의해 검출될 수 없도록 하는 것을 목적으로 한다. 제어될 문서용 안전 엘리먼트 구조물은 육안 검사에 기초하는 것이 아니라 제어 방법에 기초하는 새로운 설계에 해당한다. 상기 설계는 기능적 설계라 불리고, 도전성 구조물과 동일한 또는 다른 크기, 동일한 또는 다른 평면, 동일한 또는 다른 도전성을 가진 절연 구조물을 조합하여 실현되고 금속-코팅된 구조물 및/또는 도전성 잉크의 인쇄 또는 프린팅에 의해 제조된다.

Description

문서용 안전 엘리먼트의 구조물, 이러한 안전 엘리먼트를 가진 문서의 시험을 위한 장치 및 이러한 안전 엘리먼트와 장치를 사용하는 방법 {SECURITY ELEMENT STRUCTURE FOR DOCUMENTS, DEVICES FOR CONTROLLING DOCUMENTS COMPRISING SUCH SECURITY ELEMENTS, AND METHOD FOR USING SAID SECURITY ELEMENTS AND DEVICES}

지금까지, 회절-광학 효과 안전 엘리먼트를 포함하는 문서는 고가의 광학 시험 방법에 의해 검사되어 왔다. 예를 들면, 회절-광학 효과 안전 엘리먼트 또는 소위 광학 가변 소자(OVD)를 가진 문서의 시험은 문서 처리기계내에서는 불가능했는데, 그 이유는 매우 고속으로 동작하기 때문이다.

독일 특허출원번호 27 47 156호에는 홀로그래피로 고정된 식별 카드의 위조 시험을 위한 시험 방법 및 장치가 개시되어 있다. OVD는 재생 가능하고 다음으로 육안으로 검사된다. 이러한 방법은 빠르고 효율적인 무인 시험에는 적합하지 않다. 유럽 특허출원번호 0 042 946호에는 레이저, 거울 및 라인 장치과 광검출기에 의해 시험되는 스캐닝 패턴을 발생시키기 위한 장치가 개시되어 있다. 이 경우, 비용이 매우 고가이다. 시험될 재료가 분류되지 않은 상태로 시험된다면 더 높아질 것이다. 사전분류를 하지 않을 경우, 위조 시험 장치의 다수의 장치 또는 반복시험이 필요하다.

유럽 특허출원번호 제 0 092 691 A1호에는 지폐내 안전 스트립의 검출을 위한 장치가 개시되어 있다. 적외선 범위 및 대략 5㎛의 파장의 두 개의 투과광 측정 채널에 의해, 플라스틱 스트립으로 구성된 재료-고유 흡수 밴드가 측정된다. 반사형 홀로그램 또는 키네그램과 같이 금속적으로 반사하는 회절-광학 효과 안전 엘리먼트의 위조 또는 품질시험이 상기 유럽특허에는 개시되어 있지 않고, 상기 장치에 의해 가능하지도 않다. 영국 특허출원번호 제 21 60 644 A호로부터 지폐의 반사광 방법이 라인 스캔 카메라에 의해 시험되는 것이 공지되어 있고, CH-PS 652 355로부터 특정 층구조를 가진 카드가 반사광 방법 또는 투과광 방법에 의해 시험되는 것이 공지되어 있다. 두 경우 모두, 수신된 이미지 정보가 원본과 비교되어 시험된다. 두 경우에 나타나는 반사와 트레이싱은 문제가 많고 큰 단점을 가진다. 홀로그램 정보의 자동 위조 시험이 DE-OS 38 11 905에 개시되어 있다. 반사광 홀로그램 시험을 위해, DE-OS에 개시된 장치는 송신기와 수신기가 서로 마주하여 배치되어 홀로그램 정보를 분석할 수 있도록 한다. 송신기와 수신기의 이러한 마주하는 배치는 우선적으로 도량형적으로 단점을 가지고 때로 연속하는 지폐 사이의 계면에서 직접 입사광에 의해 수신 엘리먼트에 손상을 주기도 한다. 시험시, 주름진 사용된 지폐는 일시적인 반사 때문에 실질적으로 불가능하다.

앞에서 언급된 공지된 방법에 따르면, 시험할 대상의 정확한 배치가 필요하고, 모든 장치는 고속 처리기계에는 적합하지 않다.

독일 특허출원번호 제 196 04 856 A1호에는 안전 종이 특히, 지폐상에 키네그램 및 홀로그램 등과 같은 금속 반사층 형태의 광학 안전 형상부의 상태, 품질 및레지스터 시험을 수행하는 것에 관해 개시하고 있고, 이러한 방법은 안전 장치의 금속반사 형상부가 적어도 하나의 전자 카메라 특히, CCD 라인 스캔 카메라에 의해 공지된 방식으로 투과광에 의해 스캐닝되고 그리고 이러한 방식으로 결정된 실제값이 공지된 이미지 평가 방법에 의해 원하는 값과 비교되어 결함이 있는 안전 형상부를 가진 지폐를 마킹하거나 또는 사용된 지폐를 분류 유니트로 분리하도록 한다. 독일 특허출원번호 제 196 04 856 A1호에 개시된 장치는 전자 카메라의 범위내에서 안전 문서를 전달하는 것으로 공지된 전달 장치 및 카메라와 마주하는 시험될 안전 종이의 측면상의 적외선 소스에 관해 개시하고 있고, 카메라의 광학축은 조사 유니트의 광학축에 180도로 편향하는 각을 가지며 전달 유니트는 전달 방향에 서로 횡단하여 이격하는 전달 벨트에 의해 바람직하게 설정된다.

이러한 장치 및 방법은 문제점 또한 가지는데, 특히 주름진 사용된 지폐 또는 손상된 키네그램 필름 또는 키네그램이 포함되지 않은 부분을 가진 지폐가 진본으로서 검출되지 않도록 해야 한다는 것이다. 더욱이, 이와 관련된 특정 방법 및 장치가 자동화되면, 분당 1,200장 이상(≥1,200)을 통과시키는 속도로 고속 지폐 기계에 적합하지 않다.

독일 100 및 200 OM 지페와 같은 안전 문서상의 회절-광학 효과 안전 형상부 또는 OVD는 현재 손상, 제리스터 정확성, 정확한 에지 형성등에 관해 수동 또는 육안으로 시험된다. 시험은 지폐 제조동안 육안으로 수행되고 필요에 따라 지폐의 분류 배출동안 순환으로부터 배출된다. 이러한 방법은 시간-소모적이고 고가이다. 더욱이, 시험은 예를 들면, 회절-광학 효과 안전 엘리먼트에 대해 탈금속화 영역이 화학 에칭법으로 통상적으로 제조되기 때문에 부정확하다. 이러한 방법은 구조물의 정확한 흐름을 허용하지 않는 것으로 알려져 있다. 일반적으로, "닳은" 에지 흐름이 발생한다.

독일 특허출원번호 제 195 42 995 A1호에는 특히, 입수가능한 여러 데이터를 조정함으로써 데이터 캐리어의 위조 시험을 위한 방법이 개시되어 있다.

이러한 특허 명세서에 따르면, 이하의 가능성을 가진다:

- 홀로그램의 표준 이미지와 메모리 유니트중 하나와의 비교

- 홀로그램의 홀로그램 데이터와 데이터 캐리어 및/또는 메모리 유니트의 한정된 범위내의 데이터와의 비교

- 홀로그램 데이터와 입력 유니트를 통해 입수가능한 데이터와의 비교

- 홀로그램의 개별 이미지와 메모리의 입력 유니트의 데이터 및/또는 한정된 범위의 데이터와의 비교.

이러한 방법 또한 시간-소모적이고 고가이다. 판독장치에 의한 이미지 검출을 통해 광학적으로 밸런싱됨으로써 시험이 수행되고, 이는 고속 처리 또는 시험 기계에 적합하지 않다.

독일 특허출원번호 제 197 34 855.6호에 개시된 바와 같이, 회절-광학 효과 안전 엘리먼트 또는 OVD는 각각 광학 효과를 이루는데만 사용되고, 이들은 광학 시험법 또는 육안 검사를 통해서만 시험될 수 있다. 다른 시험 방법 특히 고속 처리기계에서의 이러한 방법의 사용은 공지되어 있지 않다.

물체, 안전 문서 특히, 지폐의 위조 시험을 위한 공지된 형상부, 시험 영역과 시험 구조물 및 시험 방법은 공지된 정도의 주된 단점을 가진다. 이러한 알려진 정도는 위조자가 시험 방법과 장치에 관한 지식 및 시험될 형상부, 시험 영역 및 시험 구조물에 대해 동작하는 방법으로부터 결론을 유도하는 것을 가능케 한다. 이는 물체, 안전 문서 특히, 지폐에 대한 완전한 새로운 공식을 필요로 하고, 이에 대한 해법은 정보 코드가 쉽게 발견되고 복사되는 것을 방지하도록 시험 형상부, 시험 방법 및 시험 장치에 대한 새로운 응용을 반영해야만 한다.

본 발명의 목적은 최첨단 기술의 단점을 해결하며, 추가의 안전 엘리먼트에 의해 문서용 안전 엘리먼트를 완성하고 그리고 안전 엘리먼트의 시험을 위할 뿐만 아니라 안전 엘리먼트의 응용의 새로운 방법을 위한 장치 및 불가능하지는 않지만 위조자가 시험될 안전 엘리먼트에 대한 시험 방법과 장치의 기능으로부터 결론을 유출하는 것을 어렵게 하여 원본과 너무나 유사하여 시험장치에 의해 검출되지 않는 위조문서를 방지하는 장치를 완성하는 것이다.

추가로, 본원 발명의 목적은 도전성 프린팅 잉크와 빠르게 조합하며 저가의 비용이 들며 정확하게 시험되는 무인 회절-광학 효과 안전 엘리먼트 및 형상부 또는 OVD를 완성하는 것이다. 이에 속하는 안전 형상부의 시험을 위한 장치는 고속 문서 처리 기계와 수동 시험장치에서 사용될 수 있다. 추가로, 본 발명의 목적은 본 발명과 관련된 장치의 일부를 설계하여 이들이 시험될 안전 엘리먼트의 수가 장치 사이에서 변하는 문서상에 존재하는 여러 안전 엘리먼트 또는 형상부의 한정된 수를 시험하록 하는 것이다. 이러한 목적은 잠재적 비용과 시험가능한 안전 엘리먼트에 따라 여러 시험 기준에 도달하도록 한다.

이러한 목적은 이하의 본 발명에 대한 설명을 통해 달성된다.

시험될 문서를 위한 안전 엘리먼트의 구조물은 육안 검사에 주로 기초하는 것이 아니라 시험 방법에 기초하는 새로운 설셰를 제공한다. 이러한 설계-이하에서는 기능적 설계라함-는 동일한 또는 다른 레벨로 동일한 또는 다른 도전을 가진 도전성과 동일한 또는 다른 크기의 절연 구조물과의 조합이고, 금속화 구조물 및/또는 도전 잉크 또는 프린팅 잉크로 구성된다. 이러한 다양성과 조성으로, 기능적 설계는 모든 구별가능한 안전 엘리먼트내의 코딩 기능을 취하고 이에 따라 코딩된 방식으로 시험가능하다. 본 발명에 따르면, 기능적 설계는 회절-광학 효과 안전 엘리먼트이거나 또는 도전성 컬러 또는 잉크로 구성될 수 있다. 회절-광학 효과 안전 엘리먼트로서 설계된다면, 광학적으로 육안으로 감지가능한 설계와 동시에 발생할 수 있고, 자신의 광학 설계내에서도 지지될 수 있다.

선, 점 및 형상부 형태의 도전성 컬러 또는 잉크와 용량성 커플링에 의해 시험가능한 금속화 구조물이 안전 엘리먼트라 불린다. 상기 안전 엘리먼트는 개별적으로 또는 조합하여 문서상에 위치한다.

하나의 안전 형상부는 적어도 하나의 안전 엘리먼트 바람직하게는 다른 배치, 크기, 색체 및/또는 도전성을 가진 안전 엘리먼트가 축적하여 구성된다.

생산 기술을 사용하여 실제로 공지된 회절-광학 효과 안전 엘리먼트는 종래의 개별 구조물의 탈금속화 대신에 본 발명에 따른 금속화 영역으로 제조된다. 시험될 안전 엘리먼트를 고품질로 제조하기 위해, 본 발명에 따른 금속화 안전 엘리먼트는 금속화 구조물과 인접한 절연 구조물에 가파른 에지부에 매우 근접하여 제조된다. 이러한 에지부의 가파르기는 미세구조물이 제조되고 시험될 수 있도록 한다. 상술된 바와 같이, 회절-광학 효과 안전 엘리먼트에서, 탈금속화 영역은 통상적으로 예를 들면, 화학 에칭법에 의해 제조된다. 이러한 방법은 에지부의 가파르기와 원하는 구조물의 정확한 연장부를 가능케 하지 않는다. 일반적으로, "닳은" 에지 연장부가 발생된다. 이러한 에지 연장부는 밀리미터 범위의 폭을 가진 탈금속화 영역이 기능적 설계로서 사용되지 않도록 한다. 기능적 설계에 대한 정확한 에지 연장부를 위해, 다른 제조 기술이 사용되어야만 한다. 비금속 영역을 가진 특정 금속화가 공지된 고-진공 금속화기내에서 수행된다. 위조자에게 이는 위조문서를 제조하는데 더 많은 비용이 들게 한다. 본 발명에 따른 회절-광학 효과 안전 엘리먼트는 다소의 완전히-프린팅된 구조물에 추가하여 적어도 하나의 시험 가능한 5mm 이하의 선폭을 가진 빔-형, 격자형, 원형 및/또는 곡선형 안전 엘리먼트를 구비한다. 이러한 안전 엘리먼트는 본 발명에 따른 잔이체 의해 검출되고 평가될 수 있는 동시에 정보의 코딩이다.

본 발명에 따른 특정 형상부의 시험을 위한 장치는 용량적으로 동작하는 스캐너이다. 이러한 스캐너는 하나 이상의 라인에 평행한 송신 전극 및 이러한 배치에 평행으로 위치하는 수신 전극을 구비한다. 광역-표면을 가진 센서와 비교하여, 작은 전극 표면을 가진 이러한 스캐너는 개별 전극 사이에 낮은 용량성 커플링을 가진다. 문서 처리 기계에서, 스캐너는 통상적인 문서 처리 기계내에 존재하는 광학 또는 기계 센서가 본 발명에 따른 시험 장치를 활성화시키도록 위치한다. 검출 및 측정 에러를 감소시키기 위해, 센서 캐리어는 바람직하게는 시험을 위한 모든 센서를 사용하도록 선택된다. 센서 사이의 거리는 최소화된다. 센서 사이의 이러한 거리의 최소화는 문서의 위치가 문서 상태, 기계의 마모 및 주위 환경 특히, 온도와 공기중의 습도에 따라 기계를 통과하는 동안 변하기 때문에 필요하다. 바람직하지 않은 문서 공급으로 인해 서로에 대한 문서의 거리는 변한다. 경사진 문서의 통과는 운반 롤러와 베어링의 마모로부터 야기될 수 있고, 이는 또한 공급된 문서가 운반동안 꼬이는 것을 의미한다. 이러한 바람직하지 않은 위치의 변화는 한정된 타이밍을 방해하고 잘못된 배출이 발생하도록 한다. 안전 엘리먼트가 작아질수록 이들에 대한 검출은 더욱 문제시 된다. 본 발명에 따른 장치는 문서에 대해 매우 적은 저항을 나타내는 프레스장치를 가진다. 이러한 프레스장치는 문서를 스캐너에 팽행하게 운반하거나 또는 바람직하게는 스캐너상에서 시험될 문서를 프레싱한다. 게다가, 운반 롤러의 축은 슬라이딩-액션 접촉부에 의해 접지된다. 이러한 추가의 차폐물 및 프레스장치에 의해, 동일한 문서 거리 또는 접촉을 위한 반복적인 시험 조건이 보장되고 센서의 동작모드가 실질적으로 개선된다. 전기 에너지에 의한 개별 송신 전극의 제어는 kHz 범위 이상의 스위칭률을 가진 전자 제어시스트메에 의해 시간-시프팅된 베이시스상에서 형성된다. 전자 제어장치는 전원에 추가하여 주요 부품으로서 멀티플렉서, 송신 전극에 에너지를 공급하기 위한 발진기 및 멀티플렉서의 제어를 위한 발진기를 구비한다.

제어된 송신 전극의 에너지는 이러한 송신 전극과 수신 전극 사이에 도전성의 경우 용량적으로 오버커플링된다. 수신 전극상의 신호 경로는 신호 이미지로 변환된다. 신호 이미지는 회절-광학 효과 안전 엘리먼트의 금속화 구조물에 의존한다. 수신 전극 하류의 전자 평가장치가 시험된 물체의 신호 이미지와 해당 기준 신호를 비교한다. 기본적으로, 전자 평가장치는 전원, 증폭기, 디모듈레이터, 비교기, 메모리를 가진 마이크로프로세서 및 간섭과 원하지 않는 신호를 억제하기 위한 필터로 구성된다.

마이크로프로세서용 소프트웨어에 추가하여, 기준 신호 이미지가 메모리내에 저장되고, 이는 시험될 안전 엘리먼트에 의존하여 시험 문서의 스캐닝된 신호 이미지와 비교된다. 스캐너가 문서의 전체 폭에 대해 확장되기 때문에, 각각의 도전성 형상부가 본 발명에 따른 장치에 의해 검출된다. 기준 신호 이미지와의 비교는 추가의 프로세싱을 위한 분류 신호를 제공한다. 따라서, 위조로 판명된 문서는 시험 장치를 정지시킴으로써 또는 문서 운반 경로로부터 이탈시킴으로써 분류배출될 수 있다. 원하지 않는 효과를 감소시키기 위해, 센서 캐리어는 전자 제어 및 평가 장치를 지지하는 보드에 단단하게 결합된다.

전자장치에 대한 변형으로서 본 발명의 범위내에서 다수의 평행 수신 전극에 나란하게 평행 장착으로 긴 송신 전극을 위치시킨다. 이 경우, 수신된 신호는 멀티플렉서에 의해 처리된다. 전자 평가 장치의 나머지는 이전에 상술된 것과 같다.

송신 및 수신 전극의 다른 설계는 다수이 송신 및 수신 전극이 평행하게 및/또는 줄지어 배치되도록 한다. 신호의 제어 및 수신은 멀티플렉서 또는 디멀티플렉서 과정에 따라 처리된다.

수동 장치에서 사용하기 위해, 스캐너의 문서 운반을 위한 해당 장치와 유사하게 배치되고, 이들의 기능은 복사기, 광학 자동-공급 이미지 스캐너 또는 팩스 유니트내의 운반 장치와 유사하다. 이에 대한 변형으로서, 정지 엘리먼트에 의해 문서에 대한 본 발명에 따른 시험 장치의 용량적으로 동작하는 스캐너의 위치를 한정하는 장치가 제공된다.

문서의 한정된 다수의 안전 엘리먼트의 한정된 시험을 위해, 장치는 다른 다수의 평행 송신 및 수신 전극을 가진다. 이러한 방식으로 수신된 분해능이 높을 수록 위조인 것을 판명하기 훨씬 더 어려운 안전 엘리먼트와 코딩이 더 많이 시험될 수 있다. 이러한 방식으로, 예를 들면, 간단한 안전 실과 같은 안전 엘리먼트의 존재가 시험도는 일상적인 사용에 대한 간단한 수동장치가 저비용으로 용이하게 처리되어 제조될 수 있다. 하지만, 안전 엘리먼트를 검출할 수 없을 때 높은 분해능을 가진 장치는 추가의 안전 엘리먼트의 시험을 가능케 한다. 이는 특정 안전 형상부에만 민감하고 공지되지 않은 간단한 마이크로프로세서 소프트웨어에 의해 실현된다. 마이크로콘트롤러용으로 적절하게 설계된 소프트웨어를 가진 높은 분해능은 모든 안전 형상부를 시험하는 것을 가능케 한다. 이러한 고가의 시험은 예를 들면, 상기 안전 형상부의 제조업자에 의해 및 매우 높은 안전 표준을 가진 사용자에 의해 공급되어 최상의 시험결과가 얻어지도록 한다. 이러한 방식으로 다른 도전성 또한 신뢰성있게 검출될 수 있다.

특정 안전 엘리먼트와 문서용 시험을 위한 장치를 사용하는 전체 장치에 추가하여, 이미지 검출과 지폐의 상태 제어를 수행하는 것 또한 본 발명에 따라 제공된다. 도전성 안전 엘리먼트에 의해, 이미지 검출 또한 코딩에 의해 가능하게 되고, 이는 독립 코딩 또는 분류 보조용 코딩 지지, 금종구분의 결정을 위한 코딩과 위조 결정을 위한 코딩이다. 독립 코딩의 경우, 다른 안전 엘리먼트는 없고 도전성 안전 엘리먼트는 반드시 문서의 위치와 같이 명확히 구분가능하여 잘못된 배출율을 최소화시키도록 해야한다. 보조용 코딩 지지에 있어서, 다른 형상부가 있다: 코딩은 잘못된 배출이 검출되는 경우에 대한 기준 수단으로서의 역할을 한다. 상태 제어는 본 발명에 따른 시험 장치에 의해 수행되어 안전 엘리먼트의 도전성이 문서의 상태에 대한 결론을 유출할 수 있도록 하는데, 그 이유는 매우 마모된 문서는 경험으로 알 수 있듯이 도전성 구조물의 마모를 초래하고, 이에 따라 도전성이 변하기 때문이다. 여러 마모율은 소프트웨어에 의해 구분된다. 이에 따라, 특정 마모율을 가진 한정된 문서는 분류배출될 수 있다. 이러한 마모율은 예를 들면, 부분적으로 손상된 OVD, 찢어진 문서 및 이에 의해 손상된 또는 안전 엘리먼트내에 금기 있는 매우 주름진 안전 엘리먼트에서 보여진다. 따라서, 위조 시험, 이미지 검출 및 상태 제어 사이에 여러 조합이 가능하다. 시험될 물체상의 안전 형상부의 광학 설계에 추가하여, 본 발명에 따른 안전 엘리먼트는 -상술된 바와 같이-서로에 대한 수학적 기준인 주요 코딩을 합-예를 들면, 합산-해지는 코딩을 얻고, 이는 다시 진위여부, 상태 또는 특정 문서의 형태를 금속 안전 실 및/또는 OVD의 동시 시험에 의해 결정한다.

본 발명의 특징은 청구항에 추가하여 보호받고자 하는 하부조합, 대표 특징, 보호받고자하는 설계로부터의 개별 특징, 개별 또는 다수의 조합으로 상세한 설명과 도면으로부터 이해될 수 있다. 본 발명의 설계예가 도면에 도시되고 이하에서 설명될 것이다.

본 발명은 문서용 안전 엘리먼트의 구조 및 이러한 엘리먼트를 가진 문서의 시험장치와 이러한 엘리먼트의 응용 방법 및 독일 특허출원번호 제 197 34 855.6호에 따른 장치에 관한 것이다.

도 1은 구불구불한 형태의 금속 안전 형상부를 가진 문서의 개략도.

도 2와 도 3은 스트립 형태의 금속 안전 형상부를 가진 문서의 개략도.

도 4는 격자 형태의 금속 안전 형상부를 가진 문서의 개략도.

도 5는 여러 안전 형상부의 개략도.

도 6은 시험장치의 블럭도.

도 7 내지 도 9는 여러 스캐너의 개략도.

도 10은 스캐너의 개략도와 시험될 문서의 측면도.

도 11은 금속화 안전 엘리먼트의 개략 단면도.

도 12는 도 11의 평가 신호의 전압-시간 도표.

도 13 내지 도 15는 스캐너와 구성된 안전 형상부의 개략도.

도 1 내지 도 5에 도시된 예는 본 발명에 따른 안전 엘리먼트를 가진 문서를 도시하고, 여기서 본 발명에 따른 장치의 용량적으로 동작하는 스캐너 또한 개략도로 도시된다.

도 1에서, 금속화층(2)을 가진 안전 형상부의 개략적인 구조가 도시되어 있다. 금속화층(2)은 절연 영역(3)에 의해 분리된다. 위에서 볼 때 절연 영역(3)은 구불구불한 형상을 가진다. 구불구불한 형상내의 절연 영역(3)은 두 전극의 최소 거리보다 크다. 용량적으로 동작하는 스캐너(4)는 다수의 평행 송신 전극(5)과 나란한 배치에 팽행한 수신 전극(6)으로 구성된다.

도 2는 금속화 영역(7)과 스트립형 절연 영역(8)이 서로 팽행하게 교대로 배치되는 안전 형상부(1)의 개략 구조를 도시한다. 위에서 볼 때 스트립형상(7, 8)이 문서 운반 경로에 평행하게 또는 수직하여 연장한다. 후자의 경우가 도 3에 도시된다. 동일한 도전성 영역 사이의 거리는 0.2mm 내지 1.0mm이다. 동일한 도전성 영역의 폭은 변한다. 다른 폭을 가진 다른 도전성 영역 또한 가능하다.

도 2와 도 3의 형성부의 조합이 도 4에 도시된다. 문서 운반 방향에 평행하게, 스트립 형태의 금속화 영역(7)과 절연 영역(8)이 교대로 배치된다. 금속화 영역(7)은 자신을 수직하게 연장하는 스트립 형태의 절연 영역(9)에 의해 중단된다.

도 5는 여러 안전 형성부를 가진 문서를 도시한다. 특정 조합은 다른 코딩을 발생시킨다. 이는 시험 안전성을 증가시킨다.

도 6과 도 9는 용량적으로 동작하는 스캐너(4)의 블럭도 및 여러 설계를 도시한다.

도 6은 전자 제어 장치, 용량적으로 동작하는 스캐너(4) 및 전자 평가 장치로 구성된 본 발명에 따른 시험 장치의 블럭도를 도시한다. 전원에 추가하여, 전자 제어 장치는 디멀티플렉서(10), 송긴 전극에 에너지 공급을 위한 발진기(11) 및 디멀티플렉서의 제어를 위한 발진기(12)를 기본적으로 포함한다. 주로, 전자 평가 장치는 전원, 증폭기(13), 디모듈레이터(14), 비교기(15), 메모리를 가진 마이크로프로세서(16) 및 간섭과 원하지 않는 신호의 억제를 위한 필터로 구성된다.

송신 및 수신 전극은 센서 캐리어내에 주조된다. 이들은 전체 문서 정면-공급 폭에 대해 용량적으로 동작하는 스캐너(4)를 형성한다. 스트립 형태의 수신 전극은 문서 정면-공급 방향을 가로질러 연장한다. 송신 전극으로부터 수신 전극의 거리는 문서 고유의 도전성 안전 엘리먼트에 의해 결정된다. 송신 전극의 나란한 배치에 의해, 용량적으로 동작하는 스캐너(4)의 종축내 여러 도전성 형상부를 동시에 검출하는 것이 가능하다. 이러한 배치에 의해 얻어진 분해능은 사용된 송신 전극의 수에 의존한다. 이러한 설계예에서, 분해능은 종방향 및 횡방향으로의 mm당 스캔가능 점이다. 인접 송신 전극 사이의 최소 거리는 그들 사이의 간섭성 용량성 커플링에 의해 제한된다. 이를 방지하고 인접 송신 전극의 간섭 효과를 최소화하기 위해, 송신 전극은 멀티플렉서(10)에 의해 연속적으로 제어된다. 전체 문서 정면-공급 폭에 대해 송신 전극을 배치함으로써, 문서가 어떠한 위치에서도 시험될 수 있다. 즉, 여러 문서의 사전분류 단계가 문서 처리 기계내에서 필요하지 않다.

도 7은 다수의 송신 전극과 하나의 수신 전극(6)을 가진 스캐너(4)의 개략도를 도시한다. 제어 및 평가는 도 6에 도시된 블럭도에 따라 수행된다.

도 8은 하나의 송신 전극(17)과 다수의 수신 전극(18)을 가진 용량적으로 동작하는 스캐너 설계의 개략도를 도시한다. 도 6의 블럭도의 변형으로서, 송신 전극(17)은 발진기에 의해 제어된다. 수신 전극(18)의 신호는 멀티플렉서에 의해 처리된다. 전원, 증폭기, 디모듈레이터, 비교기, 메모리를 가진 마이크로프로세서 및 간섭과 원하지 않는 신호의 억제를 위한 필터로 구성된 전자 평가 장치의 다른 부분은 도 6에 따른 블럭도와 동일하다.

도 9는 다수의 송신 전극(19)과 다수의 수신 전극(20)을 가진 용량적으로 동작하는 스캐너의 다른 설계의 개략도를 도시한다. 이들은 하나의 선에 교내로 배치된다.

따라서, 송신 전극의 제어 신호 및 수신 전극(20)의 평자 신호는 각각 멀티플렉서 또는 디멀티플렉서 과정에 의해 처리된다.

도 10은 용량적으로 동작하는 스캐너(4)의 개략도와 시험될 문서의 측면도를 도시한다. 안전 형상부(10)은 금속화 라인(21) 및 도전성 절연 캐리어 필름(22)을 포함한다.

도 11은 캐리어층(23)과 부분적으로 금속화된 층(24)을 가진 안전 형상부의 개략 단면도를 도시한다. 부분적으로 금속화된 층(24)은 여러 절연 세그먼트(25)를 구비한다. 부분적으로 금속화된 층(26)은 부분적으로 금속화된 층(24)과는 다른 도전성을 가진다. 도 12는 자신에 속하는 평가 신호의 전압-시간 도표를 도시한다.

도 13 내지 도 15는 스캐너(33, 34, 35)와 구조화된 안전 형상부(36)의 개략도를 도시한다. 안전 형상부의 구조물(36)은 원형 금속화 안전 엘리먼트(37), 스트립형 금속화 안전 엘리먼트(38) 및 두 개의 직사각형 금속화 안전 엘리먼트(39, 40)로 구성된다. 시험 안전성은 이러한 방식에서는 위조 비용이 매우 증가하기 때문에 금속화의 식별가능한 높은 에지 가파르기에 의해 구현된다. 간단한 수동장치는 도 13에 따른 스캐너(33)를 구비한다. 분해능이 너무 낮아서 스트립형 안전 엘리먼트(38)만이 검출될 수 있다. 이러한 수동장치는 이들이 용이하게 제조되고 저비용이 들며 다루기 쉽기 때문에 일상적인 사용에 적합하다. 도 14에 따른 높은 분해능을 가진 장치는 스캐너(34)로 구성되고 스트립형 안전 엘리먼트(38)의 시험에 추가하여 이 경우 원형 안전 엘리먼트(37)인 추가의 안전 엘리먼트를 가능케 한다. 직사각형 안전 엘리먼트(39, 40)는 시험되지 않는다. 이는 특정 안전 엘리먼트에만 민감한 간단한 마이크로프로세서 소프트웨어에 의해 실현된다. 직삭각형 안전 엘리먼트(39, 40)는 메모리내 기준 신호로서 얻어질 수 없다.

마이크로프로세서용으로 적절하게 설계된 소프트웨어를 가진 높은 분해능은 도 15에 도시되어 있다. 이는 모든 안전 형상부의 시험을 가능케 하고, 또한 직사각형 안전 엘리먼트(39, 40)이기도 하다. 광학 효과 안전 엘리먼트의 휘도를 유지하기 위해, 미세구조물이 특정 금속화에 의해 제조된다. 이러한 방식으로, 비금속화 구조물에 대해 가파른 에지부가 제조된다.

안전 엘리먼트와 시험장치의 새로운 응용을 위한 본 발명의 목적을 충족시키고 시험 방법 및 장치의 기능이 빠르게 알려지는 것을 방지하기 위해, 이하에서 상기 방법을 사용하는 안전 엘리먼트 및 본 발명에 따는 장치를 포함한 사용이 설명된다.

본 발명의 넓은 사용을 위해, 고의로 시험장치에 관한 특정 지식을 얻고자 하고 특정 시험방법에 의한 위조 시험, 이미지 검출과 상태 시험을 수행하고자 하는 시험자의 그룹을 고정하는 것이 필요하다.

그룹 A, B 및 C에 의해, 이러한 시험장치가 설명된다.

그룹 A:

국가 지폐는 사용자가 지시에 따라 스스로 시험을 수행할 수 있도록 지폐의 활성 안전 형상부에 관해 공표하고 있다는 것은 알려져 있다. 이러한 공표는 보보기구없이 수행되는 시험방법을 말하는 것이다. 스캐너 센서가 수동장치내에 장착된다. 이러한 수동장치와 특정 소프트웨어를 통해, 특정 안전 엘리먼트의 도전성이 시험될 수 있다.

소프트웨어는 스캐너가 지폐가 통고하고 통과 길이가 측정될 때 광학 센서에 의해 활성화되도록 변조된다. 안전 엘리먼트의 도전성은 한정된 값으로 얻어질 수 있어야만 한다. 광학 센서에 의해 지폐의 단부가 결정되고 스캐너 센서가 불활성화된다. 따라서, 시험 물체상의 도전성 안전 엘리먼트의 위치가 결정될 수 있다. 제어기에 의해 데이터가 저장된 데이터와 비교 및 평가된다.

그룹 B:

그룹 B는 지폐를 처리하기 위한 기계를 가진다. 이러한 기계는 다른 형상부를 검출하기 위해 광학 센서를 구비한다. 현재는, 이러한 기계는 광학 범위 및/또는 자기 특성의 검출 및/또는 통과 길이의 특정을 위한 용량성 센서에 의한 시험을 위한 센서를 구비한다. 이러한 용량성 센서에 의해, 6mm보다 큰 도전성 형상부의 존재가 검출될 수 있다. 이들은 통과 길이내에서 여러 도전성 안전 엘리먼트의 검출을 허용하지 않는다. 게다가, 시험 영역내에서의 다른 도전성의 검출은 불가능하다. 안전 형상부내의 구조물 또한 검출될 수 없다. 특정 스캐너 센서에 의해 이러한 시험은 이러한 그룹 B가 고품질 시험을 수행하도록 할 수 있다.

그룹 B를 위한 소프트웨어는 스캐너 센서가 광학 센서에 의해 활성화되고 다음으로 링형 금속화 안전 엘리먼트(37)와 스트립형 금속화 안전 형상부(38)가 검출된다. 도전성의 값은 고정된다. ±30%의 편차로 배출된다.

그룹 C:

소프트웨어는 모든 안전 엘리먼트가 검출되도록 설계된다. 광학 센서에 의해 스캐너 센서가 활성화된다. 안전 형상부(36), 링형 금속화 안전 엘리먼트(37), 스트립형 안전 엘리먼트(38) 및 직사각형 안전 엘리먼트(39, 40)의 통과 길이 및 통과 폭이 검출된다. 도전성이 주어지고 30%보다 큰 또는 작은 편차로 배출된다.

특히 그룹 B와 C를 위해, 전체 시험장치는 유로화(Euro)의 시험을 위해 변화되고 특정화되며, 목적에 따라 국가적으로 변조될 수 있는 것으로 간주된다. 유로화와 같은 시험될 안전 형상부가 모든 국가에서 동일하기 때문에, 시험방법과 시험장치는 물체에 따라 여러 국가에서 다른 방식으로 연속하는 간격으로 변조되고 변화될 수 있다.

상술된 바와 같은 안전 엘리먼트와 시험장치의 응용은 이하와 같이 사용된다: 코딩된 금속화에 의해 이미지 검출이 가능하다. 이러한 이미지 검출은 여러 목적 특히, 분류를 목적으로, 금종구분 및 위조 검출을 목적으로 사용될 수 있다. 이러한 시험 방법의 다른 장점은 상태 제어라는 것이다. 도전성 측정은 지폐 종이의 상태에 대한 결론을 유출할 수 있도록 한다. 매우 마모된 종이는 도전성을 매우 감소시킨다.

본 발명에서 안전 엘리먼트의 구조물과 이러한 엘리먼트의 시험을 위한 장치가 정확한 설계 예에 의해 특정화된다. 하지만, 본 발명이 설계 예에 특정화된 설명에 한정되는 것이 아니라는 것을 숙지해야하는데, 그 이유는 청구항의 범위내에서 변조와 변화가 가능하기 때문이다. 다른 도전성 형상부를 가진 회절-광학 효과 안전 엘리먼트의 특정 조합이 다른 코딩을 야기한다. 현재는 도전성 안전 실과 같은 추가의 도전성 시험 형상부가 본 발명에 따른 시험장치에 의해 분류될 수 있다.

Claims (17)

1. 독일 특허출원번호 제 197 34 855.6호에 따른 문서내 회절-광학 효과 안전 엘리먼트의 구조물에 있어서,

   가파른 에지를 가진 빔형, 격자형, 곡선형 및/또는 원형 도전성 구조물에 의해 최소 시험가능한 도전성 구조물이 ≤5mm의 선폭인 평행 비금속화 구조물에 대해 정보의 특정 전기 코딩이 이루어지는 것을 특징으로 하는 구조물.
2. 제 1 항에 있어서, 가파른 에지를 가진 빔형, 격자형, 곡선형 및/또는 원형 금속화 구조물에 의해 최소 시험가능한 금속화 구조물이 ≤5mm의 선폭인 평행 비금속화 구조물에 대해 정보의 특정 전기 코딩이 이루어지는 것을 특징으로 하는 구조물.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 여러 금속화 안전 엘리먼트가 다른 도전성을 가지는 것을 특징으로 하는 구조물.
4. 제 1 항 내지 제 3 항중 어느 한 항에 있어서, 안전 형상부내에 적어도 두 개의 구조물은 다른 금속화 두께를 가지는 것을 특징으로 하는 구조물.
5. 제 1 항 내지 제 4 항중 어느 한 항에 있어서, 일정한 도전성을 가진 하나의 금속화 구조물의 폭은 시험장치의 적어도 두 개의 전극의 폭에 해당하는 것을 특징으로 하는 구조물.
6. 제 1 항 내지 제 5 항중 어느 한 항에 있어서, 동일한 및/또는 다른 도전성의 두 개의 금속화 구조물 사이의 거리는 적어도 0.1mm인 것을 특징으로 하는 구조물.
7. 독일 특허출원번호 제 197 34 855.6호에 회절-광학 효과 안전 엘리먼트를 가진 문서의 시험장치에 있어서,

   용량적으로 동작하는 스캐너(4, 33-35)가 하나 또는 여러 선으로 나란하게 배치된 다수의 평행 전극에 의해 금속화 안전 엘리먼트(37)내에 위치하는 금속화 안전 엘리먼트(39, 40)를 시험하고, 시험될 문서의 신호 곡선과 해당 기준 신호 곡선을 비교를 위해 스캐너(4, 33-35)내에 위치하는 전자 제어 및 평가 장치를 통해 평가하는 것을 특징으로 하는 시험장치
8. 제 7 항에 있어서, 적어도 두 개의 인접한 전극이 도전 방식으로 위치하는 것을 특징으로 하는 시험장치.
9. 제 7 항 또는 제 8 항에 있어서, 상기 전자 제어 장치는 전원, 멀티플렉서(10), 송신 전극(5)에 에너지를 공급하는 발진기(11) 및 상기 멀티플렉서(10)를 제어하는 발진기(12)로 구성되는 것을 특징으로 하는 시험장치.
10. 제 7 항 내지 제 9 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 전자 평가 장치는 전원, 증폭기(13), 디모듈레이터(14), 비교기(15), 메모리를 가진 마이크로프로세서(16) 및 간섭과 원하지 않는 신호의 억제를 위한 필터로 구성되는 것을 특징으로 하는 시험장치.
11. 제 7 항 내지 제 10 항중 어느 한 항에 있어서, 두 개의 송신 전극(5) 사이의 최소 거리는 0.5mm보다 작은 것을 특징으로 하는 시험장치.
12. 제 7 항 내지 제 11 항중 어느 한 항에 있어서, 하나의 송신 전극(5)과 수신 전극(6) 사이의 최소 거리는 적어도 0.5mm인 것을 특징으로 하는 시험장치.
13. 제 7 항 내지 제 12 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 시험장치는 송신 전극과 수신 전극에 평행한 시험될 문서를 인도하는 바람직하게는 스캐너상에 프레싱하는 프레스장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 시험장치.
14. 제 7 항 내지 제 13 항중 어느 한 항에 있어서, 문서 운반 롤러의 축은 슬라이딩-액션 접촉부에 의해 접지되는 것을 특징으로 하는 시험장치.
15. 제 7 항 내지 제 14 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 시험장치는 고속 문서 처리기계내에 배치되는 것을 특징으로 하는 시험장치.
16. 제 7 항 내지 제 15 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 시험장치는 수동장치내에 배치되는 것을 특징으로 하는 시험장치.
17. 제 1 항 내지 제 6 항중 어느 한 항에 다른 구조물을 가진 문서내 회절-광학 효과 안전 엘리먼트의 응용 및 제 7 항 내지 제 16 항중 어느 한 항에 따른 시험장치의 응용을 위해 독일 특허출원번호 제 197 34 855.6호에 따른 방법에 있어서,

    금속화 층(2, 24, 26), 금속화 영역(7), 금속화 라인(21) 또는 금속화 안전 엘리먼트(37-40)의 형태의 금속화 시험 엘리먼트가 시험될 문서상에 위치하는데,

    - 수동장치로서 설계된 스캐너(33)에 의해 적어도 하나의 금속화 시험 엘리먼트는 사람 그룹 A에 의해 시험되며,

    - 고속 처리기계내에 설치되고 특정 소프트웨어를 가진 스캐너(34)에 의해, 적어도 두 개의 금속화 시험 엘리먼트가 작은 수로 한정된 사람 그룹 B에 의해 시험되며,

    - 고속 처리기계내에 설치되고 매우-특정화된 소프트웨어를 가진 스캐너(35)에 의해 적어도 세 개의 금속화 시험 엘리먼트가 매우 적은 수로 한정된 사람 그룹 C에 의해 시험되고,

    - 상기 금속화 시험 엘리먼트는 상기 사람 그룹 A에 의해 육안으로 감지할 수 있으며, 상기 사람 그룹 B에 의해 상기 소프트웨어로 육안 및 코딩으로 감지할 수 있고, 상기 사람 그룹 A와 B에 의해 액세스될 없는 소프트웨어에 의한 디코딩을 통해 상기 사람 그룹 C에 의한 코딩을 나타내도록 하는 크기, 형상, 수, 색체 및 이격으로 시험되는 것을 특징으로 하는 방법.