KR102217920B1 - 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

표시 장치는, 복수의 게이트 라인들과 복수의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 픽셀들을 포함하는 표시 패널과,상기 복수의 게이트 라인들을 구동하는 게이트 드라이버와, 상기 복수의 데이터 라인들 중 일군의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 테스트 겸용 패드들 및 타군의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 패드들을 포함하는 데이터 드라이버, 및 상기 데이터 드라이버로 제어 신호들 및 데이터 신호를 제공하고, 상기 게이트 드라이버를 제어하는 구동 제어부를 포함하며, 상기 데이터 드라이버는, 상기 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 각각 대응하는 복수의 아날로그 전압들로 변환하는 디지털-아날로그 변환기, 및 노말 모드동안 상기 복수의 테스트 겸용 패드들 및 상기 복수의 패드들을 통해 상기 복수의 아날로그 전압들을 대응하는 데이터 라인들로 각각 제공하고, 테스트 모드동안 상기 복수의 아날로그 전압들을 상기 테스트 겸용 패드들로 순차적으로 출력하는 스위칭 회로를 포함한다.

Description

표시 장치{DISPLAY APPARATUS}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 데이터 드라이버에 대한 테스트를 할 수 있는 표시 장치에 관한 것이다.
일반적으로 표시 장치는 영상을 표시하기 위한 표시 패널과 표시 패널을 구동하는 데이터 드라이버 및 게이트 드라이버를 포함한다. 표시 패널은 복수의 게이트 라인들, 복수의 데이터 라인들 및 복수의 픽셀들을 포함한다. 복수의 픽셀 각각은 스위칭 트랜지스터, 액정 커패시터 및 스토리지 커패시터를 포함한다. 이러한 표시 장치는 게이트 드라이버에 의해서 소정 게이트 라인으로 게이트 온 전압을 인가한 후, 데이터 드라이버에 의해서 영상 신호에 대응하는 데이터 전압을 데이터 라인들로 제공하는 것에 의해서 영상을 표시할 수 있다.
표시 패널에 표시되는 영상에 문제가 생긴 경우 문제를 일으킨 원인은 다양하다. 일 예로, 데이터 드라이버의 불량에 의해서 표시 패널에 원하는 영상이 표시되지 않을 수 있다.
데이터 드라이버 IC에 대한 테스트를 위해서는 프로브(probe)와의 접촉을 위해서 패드의 크기를 크게 해야 한다. 최근 표시 패널의 크기가 커짐에 따라서 하나의 데이터 드라이버 IC가 구동하는 데이터 라인들의 수가 많아지고 있다. 데이터 드라이버 IC의 크기는 제한적이므로 데이터 드라이버 IC와 데이터 라인을 연결하는 패드의 크기를 크게 하는 것은 용이하지 않다.
따라서 본 발명의 목적은 데이터 드라이버를 테스트할 수 있는 표시 장치를 제공하는데 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 특징에 의하면, 표시 장치는: 복수의 게이트 라인들과 복수의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 픽셀들을 포함하는 표시 패널과, 상기 복수의 게이트 라인들을 구동하는 게이트 드라이버와, 상기 복수의 데이터 라인들 중 일군의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 테스트 겸용 패드들 및 타군의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 패드들을 포함하는 데이터 드라이버, 및 상기 데이터 드라이버로 제어 신호들 및 데이터 신호를 제공하고, 상기 게이트 드라이버를 제어하는 구동 제어부를 포함한다. 상기 데이터 드라이버는, 상기 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 각각 대응하는 복수의 아날로그 전압들로 변환하는 디지털-아날로그 변환기, 및 노말 모드동안 상기 복수의 테스트 겸용 패드들 및 상기 복수의 패드들을 통해 상기 복수의 아날로그 전압들을 대응하는 데이터 라인들로 각각 제공하고, 테스트 모드동안 상기 복수의 아날로그 전압들을 상기 테스트 겸용 패드들로 순차적으로 출력하는 스위칭 회로를 포함한다.
이 실시예에서, 상기 제어 신호는, 상기 노말 모드 및 상기 테스트 모드를 나타내는 테스트 모드 신호 및 클럭 신호를 포함한다.
이 실시예에서, 상기 데이터 드라이버는, 상기 테스트 모드 신호에 응답해서 복수의 선택 신호들을 출력하는 테스트 제어부, 및 상기 테스트 모드 신호 및 상기 복수의 선택 신호들에 응답해서 상기 복수의 아날로그 전압들을 상기 복수의 테스트 겸용 패드들 및 상기 복수의 패드들로 선택적으로 출력하는 스위칭 회로를 포함한다.
이 실시예에서, 상기 데이터 드라이버는, 상기 복수의 테스트 겸용 패드들 및 상기 복수의 패드들에 각각 대응하는 복수의 버퍼들을 더 포함한다.
이 실시예에서, 상기 스위칭 회로는, 상기 복수의 선택 신호들 중 대응하는 선택 신호에 응답해서 상기 복수의 아날로그 전압들 중 일군의 아날로그 전압들을 상기 테스트 겸용 패드들에 대응하는 복수의 버퍼들로 선택적으로 제공하는 제1 스위칭부를 포함한다.
이 실시예에서, 상기 스위칭 회로는, 복수의 테스트 출력 라인들과, 상기 복수의 테스트 출력 라인들과 상기 테스트 겸용 패드들에 대응하는 복수의 버퍼들의 입력 단자들 사이에 각각 연결되고, 상기 테스트 모드 신호에 응답해서 동작하는 제2 스위칭부, 및 상기 복수의 패드들에 각각 대응하는 버퍼의 출력 단자와 상기 복수의 테스트 출력 라인들 사이에 연결되고, 상기 복수의 선택 신호들 중 대응하는 선택 신호에 응답해서 동작하는 제3 스위칭부를 더 포함한다.
이 실시예에서, 상기 테스트 제어부는, 상기 테스트 모드 신호가 제1 레벨인 동안 상기 클럭 신호에 동기해서 상기 복수의 선택 신호들을 출력한다.
이 실시예에서, 상기 테스트 제어부는, 상기 테스트 모드 신호가 제1 레벨인 동안 상기 클럭 신호의 소정 주기마다 상기 복수의 선택 신호들을 순차적으로 활성화한다.
이 실시예에서, 상기 테스트 겸용 패드의 면적은 상기 패드의 면적보다 넓다.
이와 같은 구성을 갖는 표시 장치는 데이터 드라이버 IC에 구비되는 테스트 겸용 패드의 수를 최소화하면서 데이터 드라이버 IC를 테스트할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 데이터 구동 집적 회로의 구성을 보여주는 블록도이다.
도 3은 도 2에 도시된 출력 버퍼부의 회로 구성을 보여주는 도면이다.
도 4는 테스트 모드동안 도 3에 도시된 출력 버퍼부의 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
이하 본 발명의 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치의 평면도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 구동 제어부(120), 인쇄 회로 기판(130), 복수의 데이터 구동 회로들(141-148) 및 게이트 드라이버(160)를 포함한다.
표시 패널(110)은 복수의 픽셀들(PX)이 구비된 표시 영역(DA) 및 표시 영역(DA)에 인접한 비표시 영역(NDA)을 포함한다. 표시 영역(DA)은 영상이 표시되는 영역이고, 비표시 영역(NDA)은 영상이 표시되지 않는 영역이다. 표시 패널(110)은 유리 기판, 실리콘 기판, 또는 필름 기판 등이 채용될 수 있다.
인쇄 회로 기판(130)은 표시 패널(110)을 구동하기 위한 다양한 회로를 포함할 수 있다. 인쇄 회로 기판(130)은 구동 제어부(120)와 데이터 구동 회로들(141-146) 및 게이트 드라이버(160)에 연결되기 위한 다수의 배선들을 포함할 수 있다.
구동 제어부(120)는 케이블(121)을 통해 인쇄 회로 기판(130)과 전기적으로 연결된다. 다른 실시예에서, 구동 제어부(120)는 인쇄 회로 기판(130) 상에 직접 실장될 수 있다.
구동 제어부(120)는 케이블(121)을 통해 데이터 신호(DATA) 및 제1 제어 신호(CONT1)를 데이터 구동 회로들(141-146)로 제공하고, 제2 제어 신호(CONT2)를 게이트 드라이버(160)로 제공한다. 제1 제어 신호(CONT1)는 수평 동기 시작 신호, 클럭 신호, 라인 래치 신호, 극성 제어 신호, 테스트 모드 신호를 포함하고, 제2 제어 신호(CONT2)는 수직 동기 시작 신호, 출력 인에이블 신호 및 게이트 펄스 신호 등을 포함할 수 있다.
복수의 데이터 구동 회로들(141-146) 각각은 테이프 캐리어 패키지(tape carrier package: TCP) 또는 칩 온 필름(chip on film: COF)으로 구현될 수 있으며, 데이터 드라이버 집적 회로(151-156)가 각각 실장된다. 데이터 드라이버 집적 회로들(151-156) 각각은 제어부(130)로부터의 데이터 신호(DATA) 및 제1 제어 신호(CONT1)에 응답해서 복수의 데이터 라인들을 구동한다. 데이터 드라이버 집적 회로들(151-156)은 인쇄 회로 기판(130) 상에 배치되는 것이 아니라 표시 패널(110) 상에 직접 실장될 수도 있다. 데이터 드라이버 집적 회로들(151-156) 각각은 데이터 라인들(DL1~DLm) 중 대응하는 데이터 라인들을 구동한다.
복수의 데이터 구동 회로들(141-146)은 표시 패널(110)의 제1측에 제1 방향(X1)으로 순차적으로 배열된다. 게이트 드라이버(160)는 표시 패널(110)의 제2측에 배열된다.
게이트 드라이버(160)는 비정질-실리콘 박막 트랜지스터(amorphous Silicon Thin Film Transistor a-Si TFT)를 이용한 ASG(Amorphous silicon gate), 산화물 반도체, 결정질 반도체, 다결정 반도체 등을 이용한 회로로 구현되어서 표시 패널(110)의 비표시 영역(NAR)에 집적된다. 다른 실시예에서, 게이트 드라이버(160)는 테이프 캐리어 패키지(tape carrier package: TCP) 또는 칩 온 필름(chip on film: COF)으로 구현될 수 있다.
게이트 드라이버(160)는 구동 제어부(120)로부터의 제2 제어 신호(CONT2)에 응답해서 게이트 라인들(GL1~GLn)을 구동한다. 하나의 게이트 라인에 게이트 온 전압(VON)이 인가된 동안 이에 연결된 한 행의 박막 트랜지스터가 턴 온되고, 이때 데이터 드라이버 집적 회로들(151-156)은 데이터 신호(DATA)에 대응하는 데이터 구동 신호들을 데이터 라인들(DL1-DLm)로 제공한다. 데이터 라인들(DL1-DLm)에 공급된 데이터 구동 신호들은 턴 온된 박막 트랜지스터를 통해 해당 픽셀에 인가된다.
도 2는 도 1에 도시된 데이터 구동 집적 회로의 구성을 보여주는 블록도이다. 도 2에는 도 1에 도시된 데이터 드라이버 집적 회로들(151-156) 중 데이터 드라이버 집적 회로(151) 만을 도시하고 설명하나 나머지 데이터 드라이버 집적 회로들(152-156)은 데이터 드라이버 집적 회로(151)와 동일한 회로 구성을 가지고 유사하게 동작한다.
도 2를 참조하면, 데이터 드라이버 집적 회로(151)는 쉬프트 레지스터(210), 래치부(220), 디지털-아날로그 변환기(230), 출력 버퍼부(240), 테스트 제어부(250) 그리고 복수의 패드들(P1~Pm)을 포함한다. 복수의 패드들(P1~Pm)은 도 1에 도시된 데이터 라인들(DL1~DLm)에 각각 대응한다. 복수의 패드들(P1~Pm) 중 일부는 테스트 겸용 패드들이다. 도 2에 도시된 예에서, 패드들(P1, P2, P3, Pm-2, Pm-1, Pm)은 테스트 겸용 패드들이다.
쉬프트 레지스터(210)는 클럭 신호(CLK)에 동기해서 래치 클럭 신호들(CK1~CKm)을 순차적으로 활성화한다. 래치부(220)는 쉬프트 레지스터(210)로부터의 래치 클럭 신호들(CK1~CKm)에 동기해서 데이터 신호(DATA)를 래치하고, 라인 래치 신호(LOAD)에 응답해서 디지털 데이터 신호들(DA1~DAm)을 동시에 디지털-아날로그 변환기(230)로 제공한다.
디지털-아날로그 변환기(230)는 극성 제어 신호(POL)에 응답해서 래치부(220)로부터의 디지털 데이터 신호들(DA~DAm)을 아날로그 영상 신호들(Y1~Ym)로 변환해서 출력 버퍼부(240)로 출력한다. 극성 제어 신호(POL)는 도 1에 도시된 구동 제어부(120)로부터 데이터 구동 회로들(141-146)로 제공되는 제1 제어 신호(CONT1)에 포함된다. 디지털-아날로그 변환기(230)는 극성 제어 신호(POL)에 응답해서 아날로그 영상 신호들(Y1~Ym)의 전압 극성을 반전시킬 수 있다.
테스트 제어부(250)는 도 1에 도시된 구동 제어부(120)로부터 제공되는 제1 제어 신호(CONT1)에 포함된 테스트 모드 신호(TEST_EN) 및 클럭 신호(CLK)에 응답해서 복수의 선택 신호들(SEL1~SELk)을 출력한다.
출력 버퍼부(240)는 테스트 모드 신호(TEST_EN) 및 복수의 선택 신호들(SEL1~SELk)에 응답해서 아날로그 영상 신호들(Y1~-Ym)을 데이터 라인들(DL1-DLm)로 출력한다.
출력 버퍼부(240)는 아날로그 영상 신호들(Y1-Ym)을 입력받고, 테스트 모드 신호(TEST_EN)가 노말 모드를 나타낼 때 모든 패드들(P1~Pm)을 통해 데이터 구동 신호(D1~Dm)를 대응하는 데이터 라인들(DL1-DLm)로 각각 제공한다. 출력 버퍼부(240)는 테스트 모드 신호(TEST_EN)가 테스트 모드를 나타낼 때 데이터 구동 신호(D1~Dm)를 테스트 겸용 패드들(P1, P2, P3, Pm-2, Pm-1, Pm)로 출력한다.
도 3은 도 2에 도시된 출력 버퍼부의 회로 구성을 보여주는 도면이다.
도 3을 참조하면, 출력 버퍼부(240)는 도 1에 도시된 데이터 라인들(DL1~DLm)에 각각 연결될 수 있는 복수의 패드들(P1~Pm)을 포함한다. 앞서 설명한 바와 같이, 패드들(P1, P2, P3, Pm-2, Pm-1, Pm)은 테스트 겸용 패드들이다. 테스트 겸용 패드들의 수는 6개에 한정되는 것이 아니라 하나 이상 다양하게 변경될 수 있다.
출력 버퍼부(240)는 패드들(P1~Pm)에 각각 대응하는 복수의 버퍼들(B1~Bm)과 스위칭 회로를 더 포함한다. 스위칭 회로는 제1 스위칭부(421), 제2 스위칭부 및 제3 스위칭부를 포함한다. 제1 스위칭부(421)는 스위치들(SW1, SW2, SW3, SWm-2, SWm-1, SWm)을 포함한다. 제2 스위칭부는 스위치들(SW21, SW22, SW23, SW24, SW25, SW26)을 포함한다. 제3 스위칭부는 스위치들(SW4~SWm-3)을 포함한다.
제1 스위칭부(421) 내 스위치들(SW1~SW3)은 도 2에 도시된 디지털 아날로그 변환기(230)로부터 출력되는 아날로그 영상 신호들(Y1~Y3)과 버퍼들(B1~B3)의 입력 단자들 사이에 각각 연결된다. 스위치들(SW1~SW3)은 선택 신호(SEL1)에 응답해서 동작한다.
제2 스위칭부 내 스위치들(SW21, SW22, SW23)은 테스트 출력 라인들(TL1, TL2, TL3)과 버퍼들(B1~B3)의 입력 단자들 사이에 각각 연결된다. 스위치들(SW21, SW22, SW23)은 테스트 모드 신호(TEST_EN)에 응답해서 동작한다.
제2 스위칭부 내 스위치들(SW24, SW25, SW26)은 테스트 출력 라인들(TL4, TL5, TL6)과 버퍼들(Bm-2, Bm-1, Bm)의 입력 단자들 사이에 각각 연결된다. 스위치들(SW24, SW25, SW26)은 테스트 모드 신호(TEST_EN)에 응답해서 동작한다.
제3 스위칭부 내 스위치들(SW4~SWm-3)의 일단은 버퍼들(B4~Bm-3)의 출력단에 각각 연결된다. 제3 스위칭부 내 스위치들(SW4~SWm-3) 중 일군의 스위치들(SW7~SW9, ..., SWm-5, SWm-4, SWm-3)의 타단은 테스트 출력 라인들(TL1~TL3)에 연결된다. 제3 스위칭부 내 스위치들(SW4~SWm-3) 중 타군의 스위치들(SW4~SW6, ..., SWm-8~SWm-6)의 타단은 테스트 출력 라인들(TL4~TL6)에 연결된다. 제3 스위칭부 내 스위치들(SW4~SW6)은 선택 신호(SW1)에 응답해서 동작한다. 제3 스위칭부 내 스위치들(SW7~SW12)은 선택 신호(SW2)에 응답해서 동작한다. 제3 스위칭부 내 스위치들(SWm-5~SWm-3)은 선택 신호(SWk)에 응답해서 동작한다.
테스트 모드 신호(TEST_EN)가 제1 레벨(예를 들면, 로우 레벨)이면, 도 2에 도시된 테스트 제어부(250)는 제1 레벨(예를 들면, 로우 레벨)의 선택 신호들(SEL1~SELk)을 출력한다.
테스트 모드 신호(TEST_EN)가 노말 모드를 나타내는 제1 레벨이면 출력 버퍼부(240)는 노말 모드로 동작한다. 제1 레벨의 테스트 모드 신호(TEST_EN)에 응답해서 제2 스위칭부 내 스위치들(SW21~S26)은 턴 오프된다. 따라서 테스트 출력 라인들(TL1~TL6)과 버퍼들(B1~B3, Bm-2~Bm)은 연결되지 않는다. 제1 레벨의 선택 신호들(SEL1~SELk)에 응답해서 제1 스위칭부(421) 내 스위치들(SW1~SW3, SWm-2~SWm) 및 제3 스위칭부 내 스위치들(SW4~SWm-3)은 모두 턴 오프된다.
그러므로 노말 모드 동안 도 2에 도시된 디지털 아날로그 변환기(230)로부터 출력되는 아날로그 영상 신호들(Y1~Ym)은 모든 패드들(P1~Pm)을 통해 데이터 구동 신호(D1~Dm)로서 데이터 라인들(DL1~DLm)로 제공된다.
도 4는 테스트 모드동안 도 3에 도시된 출력 버퍼부의 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 2, 도 3 및 도 4를 참조하면, 테스트 모드 신호(TEST_EN)가 제1 레벨에서 제2 레벨(예를 들면, 하이 레벨)로 천이하고 소정 시간이 경과하면, 테스트 제어부(250)는 내부적으로 테스트 시작 신호(TEST_ST)를 활성화한다. 테스트 시작 신호(TEST_ST)가 활성화되면, 테스트 제어부(250)는 클럭 신호(CLK)에 동기해서 선택 신호들(SEL1~SELk)을 순차적으로 활성화한다. 테스트 제어부(250)는 클럭 신호(CLK)의 4 주기마다 선택 신호들(SEL1~SELk)을 순차적으로 활성화할 수 있다. 예컨대, 테스트 제어부(250)는 테스트 시작 신호(TEST_ST)가 활성화되면, 클럭 신호(CLK)에 동기해서 선택 신호(SEL1)를 활성화한다. 이후 4 클럭 사이클이 경과했을 때 다음 선택 신호(SEL2)를 활성화한다.
제2 레벨의 테스트 모드 신호(TEST_EN)에 응답해서 제2 스위칭부 내 스위치들(SW21~SW26)이 턴 온된다. 선택 신호(SEL1)가 활성화되면, 제1 스위칭부 내 스위치들(SW1~SW3) 및 제2 스위칭부 내 스위치들(SW4~SW6)이 턴 온된다.
그러므로 아날로그 영상 신호들(Y1~Y3)은 스위치들(SW1~SW3) 및 버퍼들(B1~B3)을 통해 테스트 겸용 패드들(P1~P3)로 출력된다. 아날로그 영상 신호들(Y4~Y6)은 버퍼들(B4~B6), 스위치들(SW4~SW6), 스위치들(SW24~SW26) 및 버퍼들(Bm-2~Bm)을 통해 테스트 겸용 패드들(Pm-2~Pm)로 출력된다. 즉, 테스트 겸용 패드들(P1~P3, Pm-2~Pm)을 통해 아날로그 영상 신호들(Y1~Y6)이 동시에 출력된다.
계속해서, 선택 신호(SEL2)가 활성화되면, 아날로그 영상 신호들(Y7~Y9)이 버퍼들(B7~B9), 스위치들(SW4~SW6) 및 스위치들(SW21~SW23)을 통해 테스트 겸용 패드들(P1~P3)로 출력된다. 아날로그 영상 신호들(Y10~Y12)은 버퍼들(B10~B12), 스위치들(SW10~SW12), 스위치들(SW24~SW26) 및 버퍼들(Bm-2~Bm)을 통해 테스트 겸용 패드들(Pm-2~Pm)로 출력된다. 즉, 테스트 겸용 패드들(P1~P3, Pm-2~Pm)을 통해 아날로그 영상 신호들(Y7~Y12)이 동시에 출력된다.
마지막으로 선택 신호(SELk)가 활성화되면, 아날로그 영상 신호들(Ym-5~Ym-3)이 버퍼들(Bm-5~Bm-3), 스위치들(SWm-5~SWm-3) 및 스위치들(SW21~SW23)을 통해 테스트 겸용 패드들(P1~P3)로 출력된다. 아날로그 영상 신호들(Ym-2~Ym)은 스위치들(SWm-2~SWm), 버퍼들(Bm-2~Bm) 및 스위치들(SW24~SW26)을 통해 테스트 겸용 패드들(Pm-2~Pm)로 출력된다. 즉, 테스트 겸용 패드들(P1~P3, Pm-2~Pm)을 통해 아날로그 영상 신호들(Ym-5~Ym)이 동시에 출력된다.
이와 같은 방법으로 선택 신호들(SEL1~SELk)이 순차적으로 활성화됨에 따라서 아날로그 영상 신호들(Y1~Ym)이 테스트 겸용 패드들(P1~P3, Pm-2~Pm)로 순차적으로 출력될 수 있다. 테스트 모드동안 도 1에 도시된 구동 제어부(120)로부터 데이터 구동 회로들(141-146)로 제공되는 제1 제어 신호(CONT1)에 포함된 극성 제어 신호(POL)는 제2 레벨(예를 들면, 하이 레벨)로 고정된다. 또한 테스트 모드동안 도 1에 도시된 구동 제어부(120)는 소정의 테스트 데이터 신호를 데이터 신호(DATA)로서 데이터 구동 회로들(141-146)로 제공할 수 있다.
테스트 겸용 패드들(P1~P3, Pm-2~Pm)은 프로브(probe, 미도시됨)와의 접촉을 용이하게 하기 위하여 패드들(P4~Pm-3)보다 넓은 면적을 갖는다. 패드들(P4~Pm-3)은 데이터 라인들(D4~DLm-3)과 연결될 수 있는 최소 크기로 설계될 수 있다. 그러므로 도 1에 도시된 데이터 드라이버 집적 회로들(151~156)의 크기를 최소화하면서 데이터 드라이버 집적 회로들(151~156)에 대한 테스트가 가능하다.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 또한 본 발명에 개시된 실시예는 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니고, 하기의 특허 청구의 범위 및 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 표시 장치 110: 표시 패널
120: 구동 제어부 130: 인쇄 회로 기판
141~148: 데이터 구동 회로들 160: 게이트 드라이버
210: 쉬프트 레지스터 220: 래치부
230: 디지털-아날로그 변환기 240: 출력 버퍼부
250: 테스트 제어부

Claims (9)

  1. 복수의 게이트 라인들과 복수의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 픽셀들을 포함하는 표시 패널과;
    상기 복수의 게이트 라인들을 구동하는 게이트 드라이버와;
    상기 복수의 데이터 라인들 중 일군의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 테스트 겸용 패드들 및 타군의 데이터 라인들에 각각 연결된 복수의 패드들을 포함하는 데이터 드라이버; 및
    상기 데이터 드라이버로 제어 신호들 및 데이터 신호를 제공하고, 상기 게이트 드라이버를 제어하는 구동 제어부를 포함하되;
    상기 데이터 드라이버는,
    상기 데이터 신호를 상기 복수의 데이터 라인들에 각각 대응하는 복수의 아날로그 전압들로 변환하는 디지털-아날로그 변환기; 및
    노말 모드동안 상기 복수의 테스트 겸용 패드들 및 상기 복수의 패드들을 통해 상기 복수의 아날로그 전압들을 대응하는 데이터 라인들로 각각 제공하고, 테스트 모드동안 상기 복수의 아날로그 전압들을 상기 테스트 겸용 패드들로 순차적으로 출력하는 스위칭 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어 신호는,
    상기 노말 모드 및 상기 테스트 모드를 나타내는 테스트 모드 신호 및 클럭 신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 데이터 드라이버는,
    상기 테스트 모드 신호에 응답해서 복수의 선택 신호들을 출력하는 테스트 제어부; 및
    상기 테스트 모드 신호 및 상기 복수의 선택 신호들에 응답해서 상기 복수의 아날로그 전압들을 상기 복수의 테스트 겸용 패드들 및 상기 복수의 패드들로 선택적으로 출력하는 스위칭 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 데이터 드라이버는,
    상기 복수의 테스트 겸용 패드들 및 상기 복수의 패드들에 각각 대응하는 복수의 버퍼들을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 스위칭 회로는,
    상기 복수의 선택 신호들 중 대응하는 선택 신호에 응답해서 상기 복수의 아날로그 전압들 중 일군의 아날로그 전압들을 상기 테스트 겸용 패드들에 대응하는 복수의 버퍼들로 선택적으로 제공하는 제1 스위칭부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 스위칭 회로는,
    복수의 테스트 출력 라인들과;
    상기 복수의 테스트 출력 라인들과 상기 테스트 겸용 패드들에 대응하는 복수의 버퍼들의 입력 단자들 사이에 각각 연결되고, 상기 테스트 모드 신호에 응답해서 동작하는 제2 스위칭부; 및
    상기 복수의 패드들에 각각 대응하는 버퍼의 출력 단자와 상기 복수의 테스트 출력 라인들 사이에 연결되고, 상기 복수의 선택 신호들 중 대응하는 선택 신호에 응답해서 동작하는 제3 스위칭부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제 3 항에 있어서,
    상기 테스트 제어부는,
    상기 테스트 모드 신호가 제1 레벨인 동안 상기 클럭 신호에 동기해서 상기 복수의 선택 신호들을 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 테스트 제어부는,
    상기 테스트 모드 신호가 제1 레벨인 동안 상기 클럭 신호의 소정 주기마다 상기 복수의 선택 신호들을 순차적으로 활성화하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 겸용 패드의 면적은 상기 패드의 면적보다 넓은 것을 특징으로 하는 표시 장치.
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