KR20130031054A

KR20130031054A - 평판 표시패널

Info

Publication number: KR20130031054A
Application number: KR1020110094737A
Authority: KR
Inventors: 양정열; 이지노
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2011-09-20
Filing date: 2011-09-20
Publication date: 2013-03-28

Abstract

본 발명의 실시예에서는 제1 기판과 제2 기판 사이에 픽셀이 마련된 평판 표시패널에 있어, 상기 픽셀에 인가되는 신호를 선택적으로 스위칭하는 직접 회로부와, 상기 직접 회로부에 연결돼 검사 신호를 인가하는 제1 및 제2 검사패드와, 그라운드 전압원과 연결되는 접지패드와, 상기 제1 및 제2 검사 패드 사이에 연결되는 제1 스위치 및 상기 제2 검사패드와 상기 접지 패드 사이에 연결되는 제2스위치와, 상기 제1 스위치 및 제2 스위치를 온/오프시키는 제어신호를 인가하는 제어 패드를 포함하는 평판 표시패널을 개시한다.

Description

평판 표시패널{FLAT DISPLAY PANEL}

본 발명은 검사용 패드를 통해 유입되는 정전기를 차단한 평판 표시패널에 관한 것이다.

전면기판과 후면기판 사이에 화소가 배치되는 평판 표시패널은 발광 형식에 따라 액정표시 패널(Liquid Crystal Display, LCD), 전계방출 표시소자(Field Emission Display : FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP), 유기발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Display, OLED), 전기영동 표시소자(Electrophoresis, EPD) 등과 같이 나눌 수 있다.

이 중 액정 표시패널은 매트릭스 형태로 배열된 다수의 제어용 스위칭 소자에 인가되는 영상신호에 따라 광의 투과량이 조절되어 화면에 원하는 화상을 표시하게 된다. 이러한 액정 표시패널은 상부기판인 컬러필터 기판과 하부기판인 박막 트랜지스터 어레이 기판이 서로 대향하고, 상기 두 기판 사이에 액정층이 형성되어 있다.

이와 같은 구성을 갖는 액정 표시패널은 컬러필터 기판과 박막 트랜지스터 어레이 기판 상에 다수의 소자 및 배선을 형성하는 공정과, 상기 컬러필터 기판과 박막 트랜지스터 어레이 기판을 합착하고 액정을 주입하여 액정 패널을 형성하는 공정을 통해 제조된다.

이처럼 제조된 후, 액정 표시패널은 오토 프로브(auto probe) 검사 장치를 이용하여 피검사체인 액정패널에 소정의 신호를 인가하여 구동시키고 액정패널의 배면에 광을 공급하여 검사 패턴을 구현한 상태에서 패턴을 관찰하여 화소의 정상 구동 및 불량 유무를 판별하는 오토 프로브 검사를 실시한다. 때문에, 액정 표시패널은 오토 프로브 검사 시에 검사 장치와 연결되는 검사용 패드를 구비하고 있다.

이 검사용 패드는 게이트 라인과 직접(또는 간접)적으로 연결된 게이트 검사 패드와 데이터 라인과 직접(또는 간접)적으로 연결된 데이터 검사 패드를 포함하며, 상기 게이트 검사 패드는 오토 프로브 검사 시에 오토프로브 검사 장치의 게이트 검사 핀(pin)을 통해 게이트 검사 신호를 입력받아 게이트 라인이 구동되도록 하고, 상기 데이터 검사 패드는 오토 프로브 검사 시에 오토 프로브 검사 장치의 데이터 검사 핀을 통해 데이터 검사 신호를 입력받아 데이터 라인이 구동되도록 한다.

그런데, 검사 장치에 마련된 검사 핀을 검사 패드에 접촉하고 떼어 내는 과정에서 정전기가 발생해 검사 패드를 통해 액정 표시패널의 게이트 라인 또는 데이터 라인에 유입돼 각 화소에 마련된 TFT를 손상시키는 문제를 발생시킨다.

본 발명은 이 같은 배경에서 창안된 것으로, 액정 표시패널과 같은 평판 표시패널에서 검사 패드를 통해 유입되는 정전기를 차단하는데 있다.

본 발명의 일 실시예에서는 제1 기판과 제2 기판 사이에 픽셀이 마련된 평판 표시패널에 있어, 상기 픽셀에 인가되는 신호를 선택적으로 스위칭하는 직접 회로부와, 상기 직접 회로부에 연결돼 검사 신호를 인가하는 제1 및 제2 검사패드와, 상기 제1 및 제2 검사패드로부터 각각 연장돼 이루어진 접지블록을 포함하고, 상기 제1 및 제2 검사패드는 상기 검사신호가 인가되기 전에 상기 접지블록을 통해 접지를 이루며, 검사핀이 접촉된 후에 상기 제1 검사패드와 제2 검사패드는 전기적으로 분리되는 평판 표시패널을 개시한다.

상기 접지블록은 상기 제1 및 제2 검사패드로부터 연장된 배선으로 이뤄지거나, 상기 제1 및 제2 검사패드와 동일한 형태를 이루는 접지패드부로 이뤄질 수 있다.

상기 접지블록을 이루는 배선 또는 접지패드부 각각은 서로 전기적으로 연결되어 있지 않다.

본 발명의 다른 실시예에서는 제1 기판과 제2 기판 사이에 픽셀이 마련된 평판 표시패널에 있어, 상기 픽셀에 인가되는 신호를 선택적으로 스위칭하는 직접 회로부와, 상기 직접 회로부에 연결돼 검사 신호를 인가하는 제1 및 제2 검사패드와, 그라운드 전압원과 연결되는 접지패드와, 상기 제1 및 제2 검사 패드 사이에 연결되는 제1 스위치 및 상기 제2 검사패드와 상기 접지 패드 사이에 연결되는 제2스위치와, 상기 제1 스위치 및 제2 스위치를 온/오프시키는 제어신호를 인가하는 제어 패드를 포함하는 평판 표시패널을 개시한다.

상기 평판 표시패널은 제1 검사패드와 상기 직접 회로부 사이에 연결되는 제3 스위치와, 상기 제2 검사패드와 상기 직접 회로부 사이에 연결되는 제4 스위치와, 상기 제3 스위치 및 제3 스위치를 온/오프시키는 제어신호를 인가하는 스위칭 패드를 더 포함할 수 있다.

상기 제어패드는, 상기 제1 및 제2 검사패드를 통해서 검사신호가 인가되기 전에, 상기 제1 및 제2 스위치를 턴온시켜서 상기 제1 및 제2 검사패드를 상기 접지 패드와 연결시킨다.

상기 제어패드는, 상기 제1 및 제2 검사패드가 검사핀과 접촉하고 검사신호가 인가되기 전에, 상기 제1 및 제2 스위치를 턴오프시켜서 상기 제1 및 제2 검사패드를 상기 접지 패드와 분리시킨다.

상기 스위칭 패드는, 상기 제1 및 제2 검사패드를 통해서 검사신호가 상기 직접회로부로 인가되기 전까지, 상기 제3 및 제4 스위치를 턴오프시켜서 상기 제1 및 제2 검사패드를 상기 직접회로부와 분리시킨다.

상기 스위칭 패드는, 상기 제1 및 제2 검사패드와 상기 접지 패드 사이가 연결된 후 분리된 다음에, 상기 제3 및 제4 스위치를 턴온시켜서 상기 제1 및 제2 검사패드를 상기 직접 회로부와 연결한다.

본 발명의 일 실시예에서는 검사 패드에 마련된 접지패드를 그라운드 전압원과 연결해 검사 패드에 검사핀이 접촉될 때 검사 패드가 접지를 이루도록 구성된다. 따라서, 검사 패드와 검사핀이 접촉할 때 발생하는 정전기는 평판 표시패널 쪽으로 인가되는 것을 근본적으로 차단할 수가 있다.

도 1은 액정 표시패널을 보여주는 도면이다.
도 2는 패드가 형성된 영역 일부를 보여주는 도면이다.
도 3은 접지 블록의 다른 형태를 보여주는 도면이다.
도 4는 접지 블록을 이용한 검사 장치의 개략적인 구성을 보여주는 도면이다.
도 5는 도 4의 검사 장치를 이용한 검사 방법을 설명하는 도면이다.
도 6은 검사핀이 접지 블록에 접촉된 상태를 예시하는 도면이다.
도 7은 제2 실시예의 액정표시패널 중 패드가 형성된 영역 일부를 보여주는 도면이다.
도 8은 제2 실시예의 액정표시패널의 검사장치를 개략적으로 보여주는 도면이다.
도 9는 도 8의 검사 장치를 이용한 검사 방법을 설명하는 도면이다.
도 10은 제3 실시예의 액정표시패널 중 패드가 형성된 영역 일부를 보여주는 도면이다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.

이하의 설명에서 평판 표시패널의 한 예로 액정 표시패널을 들어 설명하지만, 검사 패드를 구비하는 어떠한 형태의 평판 표시패널에서도 후술하는 실시예들이 동일하게 적용될 수 있음은 물론이다.

도 1 및 도 2는 액정 표시패널의 개략적인 구성을 보여준다.

액정 표시패널(101)은, TFT 기판(101a)과 컬러필터 기판(101b) 사이에 액정이 합착된 형태를 이루고 있다. TFT 기판(101a) 상에는 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인이 각 화소에서 교차하도록 매트릭스 배열을 이루고 있다. 그리고 각 화소의 게이트 라인(미도시)과 데이터 라인(미도시)이 교차하는 영역에는 TFT가 형성돼 있어서, 액티브 타입(active type)으로 각 화소가 구동될 수 있도록 구성되어 있다.

TFT 기판(101) 중 노출된 오픈영역(OA)으로는 데이터 라인에 신호를 인가하는 데이터 구동부가 COG(Chip on Glass) 방식으로 실장되고, 게이트 구동부(미도시)는 TFT 기판(101)의 장변을 따라 GIP(gate in panel) 방식으로 실장될 수 있다. 또는, 게이트 구동부는 데이터 구동부와 같이 실장될 수도 있다. 이하의 설명에서는 게이트 구동부와 데이터 구동부가 같이 실장된 것으로 실시예를 설명하며, 이하 집적 회로부(105)라고 말한다. 그리고, 집적 회로부(105)는 링크(미도시)를 통해서 각 데이터 라인 및 게이트 라인에 전기적으로 연결된다.

오픈영역(OA)의 한쪽에는 오토 프로브 검사 시에 이용되는 검사패드(106)가 형성되어 있으며, 검사패드(106)는 집적 회로부(105)에 배선(CL)을 통해서 전기적으로 연결된다. 검사패드(106)는 게이트 라인과 연결되는 게이트용 제1 검사패드(106a)와 데이터 라인과 연결되는 데이터용 제2 검사패드(106b), 그리고 이외에 다수의 검사패드를 포함하고 있으나, 이하에서는 설명의 편의를 위해 검사패드(106)가 제1 및 제2 검사패드(106a, 106b)로 구성되는 것을 예시한다.

검사패드(106)는 오토 프로브 검사시 검사핀과 쉽게 접촉할 수 있도록 사각 형상으로 일정한 면적을 가지고 있다. 검사패드(106)는 접지선(107)을 포함해서 구성된다. 접지선(107)은 검사패드(106)에서 연장되고, 한 곳에 모여 접지 블록(GB)를 이루게 된다.

이에 대해서 자세히 설명하면, 제1 검사패드(106a)는 제2 검사패드(106b)와 전기적으로 연결되는 것을 방지하면서 집적 회로부(105)와 전기적으로 연결될 수 있도록, 윗면(US)에 연결된 배선(CL)을 통해 집적 회로부(105)와 연결된다. 그리고 이 윗면(US)과 마주하는 아랫면(DS)으로는 접지 블록(GB)을 이루는 접지선(107)이 연결되어 있다. 마찬가지로, 제2검사패드(106b)는 배선(CL)이 윗면(US)에 연결되어 있고, 아랫면(DS)으로는 접지선(107)이 연결되어 있다. 접지선(107)은 이웃한 접지선과 나란하게 동일한 방향으로 접지 블락(GB)까지 연장되어 있다.

이처럼 구성되는 접지 블록(GB)은 오토 프로브 검사 시에 검사 장치의 검사 핀과 연결돼 제1 및 제2 검사 패드(106a, 106b)를 접지시킨다. 따라서, 검사 핀과 검사 패드(106)의 접촉시 정전기가 발생하더라도 배선(CL)을 통해서 집적 회로부(105)쪽으로 전달되지 않고, 접지 블록(GB)를 통해서 검사 장치 쪽으로 전달돼 집적 회로부(105)가 손상되는 것을 방지할 수 있다.

한편 이상의 실시예에서는 접지 블록(GB)이 검사패드(106)보다 얇은 선폭 갖는 접지선(107)의 집합으로 구성되는 것을 설명했으나, 검사패드(106)처럼 소정의 선폭을 갖는 형태로도 가능하다.

도 3은 접지 블록(GB)의 다른 형태를 보여준다. 도 2와 비교해서 검사패드(106)의 구성은 동일하므로, 이에 대한 설명은 생략한다.

도 3에서, 접지 블록(GB)은 제1 접지패드부(PD1) 및 제2 접지패드부(PD2)를 포함한다. 제1 접지패드부(PD1)는 제1 검사패드(106a)와 세로 방향으로 나란하게 배열되어 있으며, 제1 검사패드(106a)와 비교해서 동일한 선폭으로 형성되어 있다. 제2 접지패드부(PD2)는 제1 접지패드부(PD1)에 가로 방향으로 바로 이웃해서 나란하게 형성되어 있으며, 또한 제2 검사패드(106b)와 세로 방향으로 나란하게 배열되어 있다.

이처럼, 구성되는 접지 블록(GB)은 도 2의 형태와 비교해서 접지블록(GB)의 접촉 면적이 커져 검사핀과 접촉을 쉽게 할 수 있는 이점이 있다. 한편, 도 3에서는 제1 및 제2 접지패드부(PD1, PD2)가 배선(CL)을 통해서 제1 검사패드(106a)와 제2 검사패드(106b)에 각각 연결된 형태로 설명했으나, 배선(CL)없이 제1 및 제2 검사패드(106a, 106b)가 접지 블록(GB)까지 연장된 형태를 이룰 수도 있다.

도 4는 상술한 접지 블록(GB)을 이용한 검사 장치의 개략적인 구성을 보여준다. 도 4에서 예시하는 바처럼, 검사장치는 스테이지(11), 헤드부(12), 제1 검사핀(13), 제2 검사핀(14), 제어부(19)를 포함해서 구성된다.

스테이지(11)에는 액정패널(101)에 대한 검사가 이뤄지는 동안에 액정패널(101)이 안착된다.

헤드부(12)는 제1 검사핀(13)과 제2 검사핀(14)을 포함해서 구성이 된다. 제1 검사핀(13)과 제2 검사핀(14)은 각각 하강 및 상승 운동할 수 있도록 헤드부(12)에 설치되어 있다.

제1 검사핀(13)은 스테이지(11)에 안착된 액정패널(101)의 검사패드(106)에 접촉해 검사신호를 검사패드(106)를 통해서 액정패널(101)에 공급한다. 이에 따라, 액정패널(101)은 검사신호에 따른 패턴을 디스플레이한다. 제2 검사핀(14)은 액정패널(101)의 접지 블록(GB)와 접촉한다. 제2검사핀(14)은 검사장치의 그라운드 전압원과 전기적으로 연결되어 있어서, 제2 검사핀(14)이 접지 블록(GB)에 접촉함에 따라 접지 블록(GB)에 전기적으로 연결되어 있는 검사패드(106) 역시 접지된다.

제어부(19)는 각 부의 동작 상태를 제어해서 아래에서 설명되는 검사 장치의 일련의 동작을 제어한다. 제어부(19)는 제1 검사핀(13)이 검사패드(106)에 접촉해서 액정패널(101)로 검사신호를 공급하기 전에, 제2 검사핀(14)을 먼저 접지 블록(GB)에 접촉한 다음에, 제1 검사핀(13)을 검사 패드(106)에 접촉시켜, 제1 검사핀(13)이 검사패드(106)에 접촉할 때 발생하는 정전기를 제2 검사핀(104)을 통해서 검사장치 쪽으로 유도시킨다. 그리고, 제어부(19)는 제 1 검사핀(13)이 검사패드(13)에 접촉된 후 검사 신호가 인가되기 전에, 헤드부(12)의 동작을 제어해서 제2 검사핀(14)을 접지 블록(GB)과 분리시켜 검사패드(106)가 숏트되는 것을 방지한다.

이처럼, 구성되는 검사 장치의 동작 과정을 도 5와 결부해서 설명하면 다음과 같다.

도 5에서, 제어부(19)는 헤드부(12)를 아래로 하강시켜 제2 검사핀(14)을 접지 블록(GB)에 접촉시킨다(S11). 이때, 제어부(19)는 제1 검사핀(13)이 검사 패드(106)에 접촉하지 않도록 동작 제어한다. 이처럼, 제2 검사핀(14)이 접지 블록(GB)에 접촉함에 따라 접지 블록(GB)에 연결된 검사 패드(106) 역시 접지를 이루게 된다.

한편, 도 6은 제2 검사핀(14)이 접지 블록(GB)에 접촉된 상태를 예시한다. 접지 블록(GB)은 접지선(17)의 집합으로 이뤄져 있고, 접지선(107)과 접지선(107) 사이는 일정한 거리로 떨어져 서로 나란하게 배열돼 있다. 그리고, 이 접지선(107)은 세로 방향으로 길게 연장돼 있다. 이와 비교해서, 제2 검사핀(14)은 접지선(107)과 교차하는 가로 방향으로 길이가 긴 형상을 이루고 있다. 제2 검사핀(14)의 길이는 접지선과 접지선 사이의 거리보다 길다. 이에 따라, 제2 검사핀(14)이 접지 블록(GB)에 접촉되면, 모든 접지선과 접촉될 수가 있고, 결과적으로 모든 검사 패드(106)가 제2 검사핀(14)의 접촉에 맞춰 접지된다.

이처럼, 제2 검사핀(14)을 접지 블록(GB)에 접촉시킨 상태에서, 제어부(19)는 헤드부(12)를 동작 제어해서 제1 검사핀(13)을 검사 패드(106)에 접촉시킨다(S12 단계). 그런데, 제2 검사핀(14)이 접지 블록(GB)에 접촉된 상태이기 때문에, 접지 블록(GB)의 한쪽에 연결된 검사 패드(106) 역시 제1 검사핀(13)과 접촉될 때, 접지를 이루고 있다. 따라서, 제1 검사핀(13)과 검사 패드(GB)의 접촉 과정에서 발생하는 정전기가 직접 회로부(105)로 전달되지 못하고, 접지 블록(GB), 제2 검사핀(14)을 통해 검사장치 쪽으로 유도될 수가 있다.

다음으로, 이처럼 제1 검사핀(13)과 검사 패드(GB) 사이의 접촉이 이뤄진 후에, 제어부(19)는 헤드부(12)를 동작 제어해서 제2 검사핀(14)을 접지 블록(GB)으로부터 상승시켜, 이 둘 사이를 분리한다(S13 단계).

이처럼, 제2 검사핀(14)으로 인해서 제1 및 검사 패드(106a, 106b) 사이가 연결되었던 것을 분리한 후, 제어부(19)는 제1 검사핀(13)에 검사 신호를 인가해서 액정패널(101)이 검사 패턴을 디스플레이할 수 있도록 한다.

이 같은 본 실시예에 따르면, 검사 패드(106)에 검사핀(13)을 연결하기 전에, 검사패드(106)를 접지시킨 상태로 검사핀(103)을 접촉시키게 된다. 이에 따라, 검사 패드에 검사핀이 연결되면서 정전기가 발생하더라도, 발생된 정전기는 집적회로부로 전달되지 못하고, 검사장치쪽으로 유도돼서 집적회로부가 손상되는 것을 방지할 수가 있다.

도 7은 제2 실시예의 액정표시패널 중 패드가 형성된 영역 일부를 보여준다. 도 7에서 예시하는 바처럼, 제2 실시예에서 검사 패드(106)는 접지패드(GP) 및 제어패드(CP)와 함께 패드군을 이루고 있다.

검사 패드(106)는 제1 검사패드(106a)와 제2 검사패드(106b)를 포함하고 있으며, 각각은 제1 배선(CL1)을 통해서 직접 회로부(105)에 연결되어 있다. 그리고, 제2 검사패드(106b)와 이웃하게 접지 패드(GP)가 배치되어 있다. 접지 패드(GP)는 검사 장치의 그라운드 전압원에 연결된다.

제1 검사패드(106a)와 제2 검사패드(106b) 사이, 그리고 제2 검사패드(106b)와 접지패드(GP) 사이에는 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 형성되어 있다. 제1 스위치(SW1)는 제1 검사패드(106a)와 제2 검사패드(106b) 사이를 온/오프시키고, 제2 스위치(SW2)는 제2 검사패드(106b)와 접지패드(GP) 사이를 온/오프시킨다.

제1 검사패드(106a)에 이웃해서는 제어패드(CP)가 배치되어 있다. 제어패드(CP)는 제2 배선(CL2)을 통해서 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)와 연결돼서 이들 스위치의 온/오프 타이밍을 제어할 수 있도록 구성되어 있다.

도 8은 이처럼 구성되는 액정표시패널의 검사장치를 개략적으로 보여준다. 도 8에서 검사 장치는 스테이지(11), 헤드부(12), 제1 검사핀(13), 제2 검사핀(14), 제3 검사핀(15), 제어부(19)를 포함해서 구성된다.

헤드부(12)는 제1 검사핀(13), 제2 검사핀(14), 제3 검사핀(15)을 구비하고 있다. 제1 검사핀(13), 제2 검사핀(14), 제3 검사핀(15)은 개별적으로 하강 및 상승 운동할 수 있도록 헤드부(12)에 설치되어 있다.

제1 검사핀(13)은 스테이지(11)에 안착된 액정패널(101)의 검사패드(106)에 접촉해 검사신호를 검사패드(106)를 통해서 액정패널(101)에 공급한다. 이에 따라, 액정패널(101)은 검사신호에 따른 패턴을 디스플레이한다. 제2 검사핀(14)은 액정패널(101)의 접지패드(GP)와 접촉한다. 제2검사핀(14)은 검사장치의 그라운드 전압원과 전기적으로 연결되어 있다.

제3 검사핀(15)은 제어패드(CP)와 접촉한다. 제3 검사핀(15)을 통해서는 제1 및 제2 스위치(SW1, SW2)를 온/오프시키는 제어신호가 인가돼 검사패드(106)와 접지패드(GP) 사이를 전기적으로 연결시키거나 차단시킨다.

제어부(19)는 각 부의 동작 상태를 제어해서 아래에서 설명되는 검사 장치의 일련의 동작을 수행한다. 제어부(19)는 제1 검사핀(13)이 검사패드(106)에 접촉해서 액정패널(101)로 검사신호를 공급하기 전에, 제2 검사핀(14)을 먼저 접지패드(GP)에 시키고, 제1 및 제2 스위치(SW1, SW2)를 턴온시켜 검사패드(106)와 접지패드(GP) 사이를 연결시킨다. 그리고, 제어부(19)는 제 1 검사핀(13)이 검사패드(106) 접촉된 후 검사 신호가 인가되기 전에, 제1 및 제2 스위치(SW1, SW2)를 턴오프시켜 검사패드(106)와 접지패드(GP) 사이를 차단시킨다.

이처럼, 구성되는 검사 장치의 동작 과정을 도 9와 결부해서 설명하면 다음과 같다.

도 9에서, 제어부(19)는 헤드부(12)를 아래로 하강시켜, 제2 검사핀(14)을 액정패널(101)의 접지패드(GP)와 접촉시키고, 제3 검사핀(15)을 제어패드(CP)와 접촉시킨다(S21 단계). 이때, 제어부(12)는 제1 검사핀(13)이 검사 패드(106)에 접촉되지 않게 동작 제어한다.

S22 단계에서, 제어부(19)는 제3 검사핀(15)을 통해서 제1 및 제2 스위치(SW1, SW2)를 턴온시키는 제어신호를 인가한다. 이에 따라, 제1 및 제2 스위치(SW1, SW2)가 턴온되면서, 제1 및 제2 검사패드(106a, 106b) 사이와, 제2 검사패드(106b)와 접지 패드(GP) 사이가 전기적으로 연결된다. 한편, 제2 검사핀(14)은 검사장치의 그라운드 전압원에 연결되어 있으므로, 이처럼 제1 및 2 스위치(SW1, SW2)가 턴온되면 검사패드(CP)는 접지패드(GP)를 통해서 접지된다.

검사패드(106)를 접지시킨 상태에서, 제어부(19)는 제1 검사핀(13)을 하강시켜서 검사패드(106)에 접촉시킨다(S23 단계). 이처럼 검사패드(106)가 접지된 상태에서 제1 검사핀(106)을 검사패드(106)에 접촉시킴으로써 제1 검사핀(13)과 검사패드(106)의 접촉시 정전기가 발생하더라도, 정전기는 직접회로부(105)로 전달되지 않고 접지패드(GP)를 통해서 검사장치 쪽으로 흐르게 돼 직접회로부(105)를 보호할 수가 있다.

S24 단계에서, 제어부(19)는 제3 검사핀(15)을 통해서 제1 및 제2 스위치(SW1, SW2)를 턴오프시키는 제어신호를 인가한다. 이에 따라, 제1 및 제2 스위치(SW1, SW2)가 턴오프되면서, 제1 및 제2 검사패드(106a, 106b) 사이와, 제2 검사패드(106b)와 접지 패드(GP) 사이가 전기적으로 분리된다.

이처럼, 패드 사이를 분리한 다음에, 제어부(19)는 제1 검사핀(13)에 검사 신호를 인가해서 액정패널(101)이 검사 패턴을 디스플레이할 수 있도록 한다(S25 단계).

이상의 실시예에 따르면, 접지패드와 검사패드 사이의 연결을 스위치를 이용해서 선택적으로 제어해 검사패드의 접촉시 발생하는 정전기를 직접회로부로 전달하지 않고, 접지패드를 통해서 검사장치 쪽으로 전달해 직접회로부가 손상되는 것을 원천적으로 차단할 수가 있다.

도 10은 제3 실시예의 액정표시패널 중 패드가 형성된 영역 일부를 보여준다. 도 7의 제2 실시예와 비교해서, 검사패드(106)와 직접회로부(105) 사이에 위치하는 제3 및 제4 스위치(SW3, SW4)와 이 스위치들에 연결된 스위칭패드(SP)를 더 포함한다는 점에서 도 7의 제2 실시예와 차이가 있다.

도 10에서, 검사패드(106) 중 제1 검사패드(106a)는 제1 배선(AL1)을 통해서 직접 회로부(105)에 연결되어 있고, 제2 검사패드(106b)는 제2 배선(AL2)을 통해서 직접회로부(105)에 연결되어 있다. 제3 스위치(SW3)는 제1 검사패드(106a)와 직접 회로부(105) 사이에 배치될 수 있게 제1 배선(AL1)에 연결되어 있으며, 제4 스위치(SW4)는 제2 검사패드(106b)와 직접 회로부(105) 사이에 배치될 수 있게 제2 배선(AL2)에 연결되어 있다. 제3 스위치(SW3)는 제1 검사패드(106a)와 직접 회로부(105) 사이를 온/오프시키고, 제4 스위치(SW4)는 제2 검사패드(106b)와 직접 회로부(105) 사이를 온/오프시킨다.

제어패드(CP)에 이웃해서는 스위칭패드(SP)가 배치되어 있다. 스위칭패드(SP)는 제3 배선(AL3)을 통해서 제3 스위치(SW3) 및 제4 스위치(SW4)와 연결돼서 이들 스위치의 온/오프 타이밍을 제어할 수 있도록 구성되어 있다.

이 같은 구성에 따라, 스위칭 패드(SP)는 제1 및 제2 검사패드(106a, 106B)를 통해서 검사신호가 상기 직접 회로부(105)로 인가되기 전까지, 상기 제3 및 제4 스위치(SW3, SW4)를 턴오프시켜서 상기 제1 및 제2 검사패드(106a, 106b)를 직접 회로부(105)와 분리시켜서 정전기가 직접 회로부(105) 쪽으로 인가되는 것을 원천적으로 차단한다.

그리고, 스위칭 패드(SP)는, 검사패드(106)에 검사핀이 접촉된 후에는 제3 및 제4 스위치(SW3, SW4)를 턴온시켜서 검사패드(106)를 직접 회로부(105)에 연결시켜서 검사 신호가 인가될 수 있도록 동작한다.

이 실시예의 구성에 따르면, 검사패드와 직접 회로부 사이에도 스위치를 더 구성해서, 검사핀이 검사패드에 접촉할 때 발생하는 정전기를 스위치를 통해 완벽히 차단할 수가 있다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.

Claims

제1 기판과 제2 기판 사이에 픽셀이 마련된 평판 표시패널에 있어서,
상기 픽셀에 인가되는 신호를 선택적으로 스위칭하는 직접 회로부와,
상기 직접 회로부에 연결돼 검사 신호를 인가하는 제1 및 제2 검사패드와,
상기 제1 및 제2 검사패드로부터 각각 연장돼 이루어진 접지블록을 포함하고,
상기 제1 및 제2 검사패드는 상기 검사신호가 인가되기 전에 상기 접지블록을 통해 접지를 이루며, 검사핀이 접촉된 후에 상기 제1 검사패드와 제2 검사패드는 전기적으로 분리되는 평판 표시패널.
제1항에 있어서,
상기 접지블록은 상기 제1 및 제2 검사패드로부터 연장된 배선으로 이뤄지거나, 상기 제1 및 제2 검사패드와 동일한 형태를 이루는 접지패드부로 이뤄진 평판 표시패널.
제2항에 있어서,
상기 접지블록을 이루는 배선 또는 접지패드부 각각은 서로 전기적으로 연결되어 있지 않은 평판 표시패널.
제1 기판과 제2 기판 사이에 픽셀이 마련된 평판 표시패널에 있어서,
상기 픽셀에 인가되는 신호를 선택적으로 스위칭하는 직접 회로부와,
상기 직접 회로부에 연결돼 검사 신호를 인가하는 제1 및 제2 검사패드와,
그라운드 전압원과 연결되는 접지패드와,
상기 제1 및 제2 검사 패드 사이에 연결되는 제1 스위치 및 상기 제2 검사패드와 상기 접지 패드 사이에 연결되는 제2스위치와,
상기 제1 스위치 및 제2 스위치를 온/오프시키는 제어신호를 인가하는 제어 패드
를 포함하는 평판 표시패널.
제4항에 있어서,
상기 제1 검사패드와 상기 직접 회로부 사이에 연결되는 제3 스위치와,
상기 제2 검사패드와 상기 직접 회로부 사이에 연결되는 제4 스위치와,
상기 제3 스위치 및 제3 스위치를 온/오프시키는 제어신호를 인가하는 스위칭 패드
를 더 포함하는 평판 표시패널.
제4항에 있어서,
상기 제어패드는, 상기 제1 및 제2 검사패드를 통해서 검사신호가 인가되기 전에, 상기 제1 및 제2 스위치를 턴온시켜서 상기 제1 및 제2 검사패드를 상기 접지 패드와 연결시키는 평판 표시패널.
제6항에 있어서,
상기 제어패드는, 상기 제1 및 제2 검사패드가 검사핀과 접촉하고 검사신호가 인가되기 전에, 상기 제1 및 제2 스위치를 턴오프시켜서 상기 제1 및 제2 검사패드를 상기 접지 패드와 분리시키는 평판 표시패널.
제5항에 있어서,
상기 스위칭 패드는, 상기 제1 및 제2 검사패드를 통해서 검사신호가 상기 직접회로부로 인가되기 전까지, 상기 제3 및 제4 스위치를 턴오프시켜서 상기 제1 및 제2 검사패드를 상기 직접회로부와 분리시키는 평판 표시패널.
제8항에 있어서,
상기 스위칭 패드는, 상기 제1 및 제2 검사패드와 상기 접지 패드 사이가 연결된 후 분리된 다음에, 상기 제3 및 제4 스위치를 턴온시켜서 상기 제1 및 제2 검사패드를 상기 직접 회로부와 연결하는 평판 표시패널.