KR102082204B1 - Apparatus for inspecting curved surface of cover glass - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a device for inspecting a curved surface part of cover glass which comprises a camera, a reflection member, and a lighting unit. The camera photographs a defect located in the curved surface part. The reflection member is placed a certain distance apart from the curved surface part while facing the curved surface part, and is arranged so that an optical axis of light reflected from the surface deviates from the curved surface part side. The lighting unit irradiates the light toward the reflection member. A background portion of an image photographing the curved surface part is formed of the image in which the image of the reflective member to which the light is irradiated from the lighting unit is projected.

Description

커버 글라스의 곡면부 검사장치{Apparatus for inspecting curved surface of cover glass}Apparatus for inspecting curved surface of cover glass}

본 발명은 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 스마트폰 등에 장착되는 커버 글라스의 가장자리부에 형성된 곡면부에 존재하는 결함을 검사하기 위한 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for inspecting curved portions of a cover glass, and more particularly, to an apparatus for inspecting curved portions of a cover glass for inspecting defects present in curved portions formed on an edge portion of a cover glass mounted on a smartphone or the like. .

최근 가장자리부에 곡면부가 형성된 커버 글라스가 스마트폰 등에 장착되는데, 제조 공정 또는 취급 과정에서 커버 글라스 표면에 스크래치, 돌출 등의 결함이 발생할 수 있다. 따라서, 작업자의 육안 검사뿐만 아니라 카메라와 광학계를 포함한 커버 글라스의 곡면부 검사장치를 이용한 검사를 통해 곡면부에 형성된 결함을 검사하고 있다.Recently, a cover glass having a curved portion formed on an edge portion is mounted on a smartphone, etc., and defects such as scratches and protrusions may occur on the surface of the cover glass in a manufacturing process or a handling process. Therefore, the defects formed on the curved portions are inspected through the inspection using the curved portion inspection device of the cover glass including the camera and the optical system as well as the visual inspection of the operator.

도 1은 커버 글라스의 일례를 개략적으로 도시한 도면이다. 도 1의 (b)는 도 1의 (a)의 A-A'선을 따라 절단한 단면을 나타낸다.1 is a view schematically showing an example of a cover glass. (B) of FIG. 1 shows the cross section cut along the line A-A 'of FIG.

도 1을 참조하면, 스마트폰 등에 장착되는 커버 글라스(10)는 평면부(11)와, 곡면부(12)를 구비한다. 평면부(11)는 커버 글라스(10)의 중앙부에 형성되고, 곡면부(12)는 평면부(11)의 가장자리에서 연장되어 상측으로 볼록하게 형성된다.Referring to FIG. 1, a cover glass 10 mounted on a smartphone or the like includes a flat portion 11 and a curved portion 12. The planar portion 11 is formed at the center of the cover glass 10, and the curved portion 12 extends from the edge of the planar portion 11 and is formed to be convex upward.

곡면부(12)의 적어도 일부에는 베젤 영역(13)이 형성되는데, 베젤 영역(13)은 글라스 기판의 하면에 블랙 잉크나 필름 라미네이트 등이 도포되면서 광이 투과되지 않는 영역으로 정의될 수 있다.A bezel region 13 is formed on at least a portion of the curved portion 12. The bezel region 13 may be defined as a region in which light is not transmitted while black ink or a film laminate is applied to a lower surface of the glass substrate.

한편, 도 2는 종래의 커버 글라스의 곡면부 검사장치의 일례를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 3은 도 2의 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 의해 촬영된 영상을 개략적으로 도시한 도면이다.2 is a view schematically showing an example of a curved surface inspection apparatus of a conventional cover glass, and FIG. 3 is a view schematically showing an image photographed by the curved portion inspection apparatus of the cover glass of FIG. 2.

도 2 및 도 3을 참조하면, 종래의 커버 글라스의 곡면부 검사장치는 카메라(20)와, 조명부(30)를 포함할 수 있다. 조명부(30)에서 조사된 광이 곡면부(12)의 표면에서 반사되어 카메라(20)에 입사되면서, 곡면부(12)의 영상을 촬영할 수 있다.2 and 3, the curved surface inspection apparatus of the conventional cover glass may include a camera 20 and an illumination unit 30. As the light irradiated from the illumination unit 30 is reflected from the surface of the curved portion 12 and enters the camera 20, the image of the curved portion 12 may be captured.

그러나, 도 3에 도시된 바와 같이, 곡면부(12)의 굴곡진 표면에서 반사된 광이 카메라(20)에 직접 입사되면서 촬영한 영상(IM1)에서 굴곡진 표면에 해당하는 영역의 세기가 카메라(20)의 분해능을 뛰어 넘어 하얗게 번지는 현상(51)이 발생하고, 특정 영역의 세기가 세고, 전체적으로 균일하지 않은 세기를 가지는 배경으로 인해 촬영한 영상(IM1)을 통해 곡면부(12)에 존재하는 결함의 검사가 불가능해지는 문제가 있다.However, as shown in FIG. 3, the intensity of the area corresponding to the curved surface of the image IM1 taken while the light reflected from the curved surface of the curved portion 12 is directly incident on the camera 20 is represented by the camera. A phenomenon in which the phenomenon of smearing white over the resolution of (20) (51) occurs, the intensity of a specific area is strong, and the curved portion 12 is photographed through the image IM1 photographed due to the background having an uneven intensity as a whole. There is a problem that inspection of existing defects becomes impossible.

한국등록특허공보 제10-1775458호(2017.08.31 등록, 발명의 명칭 : 곡면 모델 디스플레이 정렬 상태 검사 시스템 및 곡면 모델 디스플레이 정렬 상태 검사 방법)Korea Patent Publication No. 10-1775458 (2017.08.31 registration, name of the invention: surface model display alignment state inspection system and surface model display alignment state inspection method)

따라서, 본 발명의 목적은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 광이 조사되는 반사부재의 이미지가 곡면부에 투사되도록 함으로써, 커버 글라스의 곡면부를 촬영한 영상에서 배경의 세기가 균일하게 형성되고, 이로 인해 곡면부에 존재하는 결함을 용이하게 식별할 수 있는 커버 글라스의 곡면부 검사장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to solve such a conventional problem, by making the image of the reflecting member to which light is irradiated is projected on the curved portion, the background intensity is uniformly formed in the image photographing the curved portion of the cover glass. Accordingly, to provide a curved surface inspection apparatus of the cover glass that can easily identify the defect present in the curved surface portion.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 커버 글라스의 곡면부 검사장치는, 평면부와, 상기 평면부의 양측부에서 연장되어 상측으로 볼록하게 형성되는 곡면부를 구비하는 커버 글라스를 검사하며, 상기 곡면부 상에 존재하는 결함을 검사하기 위한 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 있어서, 상기 곡면부 상에 위치하는 결함을 촬영하기 위한 카메라; 상기 곡면부와 마주보며 상기 곡면부로부터 일정 거리 이격되게 배치되고, 표면에서 반사되면서 진행하는 광의 광축이 상기 곡면부 측으로부터 어긋나도록 배치되는 반사부재; 및 상기 반사부재를 향해 광을 조사하는 조명부;를 포함하고, 상기 곡면부를 촬영한 영상의 배경 부분은, 상기 조명부로부터 광이 조사되는 반사부재의 이미지가 상기 곡면부에 투사되는 영상으로 구성되는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the curved portion inspection device of the cover glass of the present invention inspects the cover glass having a flat portion and a curved portion extending from both sides of the flat portion to be convex upward. Claims [1] A curved portion inspection apparatus of a cover glass for inspecting a defect present on a portion, comprising: a camera for photographing a defect located on the curved portion; A reflection member disposed to face the curved portion and spaced apart from the curved portion by a predetermined distance, and arranged such that an optical axis of light traveling while being reflected from the surface is shifted from the curved portion; And an illumination unit for irradiating light toward the reflective member, wherein the background portion of the image photographing the curved portion includes an image in which an image of the reflective member irradiated with light from the illumination portion is projected onto the curved portion. It features.

본 발명에 따른 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 있어서, 상기 곡면부에 대한 상기 반사부재의 배치 각도를 조정하기 위한 반사부재 각도 조절부;를 더 포함할 수 있다.In the curved portion inspection apparatus of the cover glass according to the present invention, a reflection member angle adjusting unit for adjusting the arrangement angle of the reflection member with respect to the curved portion; may further include.

본 발명에 따른 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 있어서, 상기 카메라 및 상기 반사부재는 상기 커버 글라스의 중심축을 기준으로 촬영되는 곡면부가 존재하는 일측에 배치되고, 상기 조명부는 상기 커버 글라스의 중심축을 기준으로 촬영되는 곡면부가 존재하는 일측과 반대되는 반대측에 배치될 수 있다.In the curved portion inspection apparatus of the cover glass according to the present invention, the camera and the reflective member is disposed on one side where the curved portion is photographed based on the central axis of the cover glass, the lighting unit is based on the central axis of the cover glass It may be disposed on the opposite side opposite to the one side where the curved portion is photographed.

본 발명의 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 따르면, 커버 글라스의 곡면부를 촬영한 영상에서 배경의 세기가 균일하게 형성되고, 이로 인해 곡면부에 존재하는 결함을 용이하게 식별할 수 있다.According to the curved portion inspection apparatus of the cover glass of the present invention, the intensity of the background is uniformly formed in the image photographing the curved portion of the cover glass, thereby making it possible to easily identify the defect present in the curved portion.

또한, 본 발명의 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 따르면, 다양한 크기의 커버 글라스에 대하여 호환성 있게 검사할 수 있다.In addition, according to the curved portion inspection apparatus of the cover glass of the present invention, it is possible to inspect the cover glass of various sizes compatible.

도 1은 커버 글라스의 일례를 개략적으로 도시한 도면이고,
도 2는 종래의 커버 글라스의 곡면부 검사장치의 일례를 개략적으로 도시한 도면이고,
도 3은 도 2의 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 의해 촬영된 영상을 개략적으로 도시한 도면이고,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 커버 글라스의 곡면부 검사장치를 개략적으로 도시한 도면이고,
도 5는 도 4의 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 의해 촬영된 영상을 개략적으로 도시한 도면이다.1 is a view schematically showing an example of a cover glass,
2 is a view schematically showing an example of a curved portion inspection device of a conventional cover glass,
FIG. 3 is a view schematically showing an image photographed by the curved portion inspection device of the cover glass of FIG.
4 is a view schematically showing a curved surface inspection apparatus of the cover glass according to an embodiment of the present invention,
FIG. 5 is a view schematically showing an image photographed by the curved line inspection device of the cover glass of FIG. 4.

이하, 본 발명에 따른 커버 글라스의 곡면부 검사장치의 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the curved portion inspection apparatus of the cover glass according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 커버 글라스의 곡면부 검사장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 5는 도 4의 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 의해 촬영된 영상을 개략적으로 도시한 도면이다.4 is a view schematically showing a curved surface inspection apparatus of the cover glass according to an embodiment of the present invention, Figure 5 is a view schematically showing an image taken by the curved surface inspection apparatus of the cover glass of FIG. to be.

도 1, 도 4 및 도 5를 참조하면, 본 실시예에 따른 커버 글라스의 곡면부 검사장치(100)는 스마트폰 등에 장착되는 커버 글라스의 가장자리부에 형성된 곡면부에 존재하는 결함을 검사하기 위한 것으로서, 카메라(110)와, 반사부재(120)와, 조명부(130)와, 반사부재 각도 조절부(미도시)를 포함한다.1, 4 and 5, the curved portion inspection device 100 of the cover glass according to the present embodiment for inspecting a defect present in the curved portion formed on the edge portion of the cover glass mounted on a smart phone, etc. As a camera, the camera 110, the reflective member 120, the lighting unit 130, and the reflective member angle adjusting unit (not shown) are included.

도 1을 참조하면, 본 발명의 커버 글라스의 곡면부 검사장치(100)에 의해 검사되는 커버 글라스(10)는 스마트폰 등에 장착되는 것으로서, 평면부(11)와, 곡면부(12)를 구비한다. 평면부(11)는 커버 글라스(10)의 중앙부에 형성되어 스마트폰 사용자에게 스마트폰의 정보를 표시하고, 곡면부(12)는 평면부(11)의 가장자리에서 연장되어 상측으로 볼록하게 형성된다.Referring to FIG. 1, the cover glass 10 inspected by the curved portion inspection device 100 of the cover glass of the present invention is mounted on a smartphone, etc., and includes a flat portion 11 and a curved portion 12. do. The flat portion 11 is formed in the center of the cover glass 10 to display the information of the smart phone to the smartphone user, the curved portion 12 is formed to extend from the edge of the flat portion 11 is convex upwards. .

곡면부(12)의 적어도 일부에는 베젤 영역(13)이 형성되는데, 베젤 영역(13)은 글라스 기판의 하면에 블랙 잉크나 필름 라미네이트 등이 도포되면서 광이 투과되지 않는 영역으로 정의될 수 있다. 곡면부(12)의 나머지 일부에는 블랙 잉크나 필름 라미네이트 등이 도포되지 않고, 스마트폰의 정보가 표시될 수 있다.A bezel region 13 is formed on at least a portion of the curved portion 12. The bezel region 13 may be defined as a region in which light is not transmitted while black ink or a film laminate is applied to a lower surface of the glass substrate. The remaining portion of the curved portion 12 may not be coated with black ink, film laminate, or the like, and information of the smartphone may be displayed.

도 4를 참조하면, 상기 카메라(110)는 곡면부(12) 상에 위치하는 결함(1)을 촬영한다. 이때, 결함(1)은 곡면부(12)의 표면 또는 내부 등 다양한 위치에 존재할 수 있다.Referring to FIG. 4, the camera 110 photographs a defect 1 located on the curved portion 12. In this case, the defect 1 may exist at various positions such as the surface or the inside of the curved portion 12.

본 실시예의 카메라(110)로는 에어리어 카메라 또는 라인 카메라가 이용될 수 있으며, 이 외에도 영상 검사장치에 사용되는 다양한 이미지 캡쳐수단이 이용될 수 있다.As the camera 110 of the present embodiment, an area camera or a line camera may be used. In addition, various image capturing means used in an image inspection apparatus may be used.

상기 반사부재(120)는 곡면부(12)와 마주보며 곡면부(12)로부터 일정 거리 이격되게 배치되고, 후술할 조명부(130)로부터 조사된 광을 반사시킨다.The reflective member 120 is disposed to face the curved portion 12 to be spaced apart from the curved portion 12 by a predetermined distance, and reflects the light emitted from the lighting unit 130 to be described later.

본 실시예의 반사부재(120)로는 반사 미러가 이용될 수 있으며, 이 외에도 영상 검사장치에 사용되는 다양한 광 반사수단이 이용될 수 있다.As the reflective member 120 of the present exemplary embodiment, a reflective mirror may be used. In addition, various light reflecting means used in the image inspection apparatus may be used.

상기 조명부(130)는 반사부재(120)를 향해 광을 조사한다. 본 실시예의 조명부(130)는 엘이디(LED) 광원 등을 이용할 수 있다.The lighting unit 130 irradiates light toward the reflective member 120. The lighting unit 130 of the present embodiment may use an LED light source.

조명부(130)에서 조사된 광은 반사부재(120)의 표면에서 반사되는데, 본 실시예의 반사부재(120)는 표면에서 반사되면서 진행하는 광의 광축(LA)이 곡면부(12)로 입사되지 않고, 곡면부(12) 측으로부터 어긋나도록 배치되는 것을 특징으로 한다.The light irradiated from the lighting unit 130 is reflected on the surface of the reflecting member 120. In the reflecting member 120 of the present embodiment, the optical axis LA of the light traveling while being reflected from the surface is not incident on the curved portion 12. It is arrange | positioned so that it may shift from the curved-surface part 12 side.

만약 반사부재(120)의 표면에서 반사되는 광이 곡면부(12)로 입사되면, 앞서 설명한 바와 같이, 곡면부(12)의 굴곡진 표면에서 반사된 광이 카메라(110)에 직접 입사되면서 카메라(110)에서 촬영한 영상에는 카메라(110)에 입사된 광의 지나치게 높은 세기로 인해 하얗게 번지는 영역이 생성되고, 이로 인해 곡면부(12)에 존재하는 결함을 검출할 수 없게 된다.If the light reflected from the surface of the reflective member 120 is incident to the curved portion 12, as described above, the light reflected from the curved surface of the curved portion 12 is directly incident on the camera 110, the camera In the image photographed at 110, a white smeared area is generated due to an excessively high intensity of light incident on the camera 110, and thus, a defect present in the curved portion 12 may not be detected.

따라서, 본 실시예에서는, 우선 반사부재(120)의 표면에서 반사되면서 진행하는 광의 광축(LA)이 곡면부(12) 측으로부터 어긋나도록 반사부재(120)를 배치한다. 이때, 곡면부(12)가 일종의 거울면 역할을 할 수 있으므로, 조명부(130)로부터 광이 조사되는 반사부재(120)의 이미지가 곡면부(12)에 투사될 수 있다. 곡면부(12)에 투사되는 반사부재(120)의 이미지는 전체적으로 광의 세기(intensity)가 높고, 전체 영역에 걸쳐 광의 세기가 균일하게 형성된다.Therefore, in the present embodiment, first, the reflective member 120 is disposed so that the optical axis LA of the light propagating while being reflected from the surface of the reflective member 120 is shifted from the curved portion 12 side. In this case, since the curved portion 12 may serve as a kind of mirror surface, an image of the reflective member 120 to which light is radiated from the lighting unit 130 may be projected onto the curved portion 12. The image of the reflective member 120 projected onto the curved portion 12 has a high intensity of light as a whole and a uniform intensity of light over the entire area.

곡면부(12)에 투사되는 반사부재(120)의 이미지를 촬영할 수 있도록 곡면부(12)에 대한 카메라(110)의 각도를 조정한 상태에서 카메라(110)로 곡면부(12)를 촬영하면, 균일한 광의 세기를 가지는 배경 부분(62)을 얻을 수 있다.When photographing the curved portion 12 with the camera 110 while adjusting the angle of the camera 110 with respect to the curved portion 12 so as to capture an image of the reflective member 120 projected onto the curved portion 12. The background portion 62 having a uniform light intensity can be obtained.

도 5를 참조하면, 곡면부(12)를 촬영한 영상(IM2)은 결함(1)이 표시되는 결함 부분(61)과, 전체적인 영상에서 결함(1)이 드러나는 배경이 되며 곡면부(12)에 대응하는 배경 부분(62)으로 구성된다.Referring to FIG. 5, the image IM2 photographing the curved portion 12 is a defect portion 61 in which the defect 1 is displayed, and a background in which the defect 1 is revealed in the overall image. It consists of a background portion 62 corresponding to.

이때, 결함 검사 영상(IM2)의 배경 부분(62)은 곡면부(12)에서 반사된 광에 의해서 형성되는 것이 아니고, 곡면부(12)에 투사되는 반사부재(120)의 이미지에 의해 형성되므로, 도 5에 도시된 바와 같이, 영상(IM2)의 배경 부분(62) 전체에 걸쳐 균일한 광의 세기를 나타내고, 또한 결함 부분(61)과 구분되는 높은 광의 세기를 나타낸다.In this case, the background portion 62 of the defect inspection image IM2 is not formed by the light reflected from the curved portion 12, but is formed by the image of the reflective member 120 projected onto the curved portion 12. 5, the uniform light intensity is shown throughout the background portion 62 of the image IM2, and the high light intensity distinguished from the defective portion 61 is shown.

이를 통해, 곡면부(12)에 존재하는 결함(1)을 용이하게 검사할 수 있고, 검사의 오류 또한 감소시킬 수 있다.Through this, the defect 1 existing in the curved portion 12 can be easily inspected, and the error of inspection can be reduced.

상기 반사부재 각도 조절부(미도시)는 곡면부(12)에 대한 반사부재(120)의 배치 각도를 조정한다.The reflection member angle adjuster (not shown) adjusts an arrangement angle of the reflection member 120 with respect to the curved portion 12.

앞서 설명한 바와 같이, 반사부재(120)의 표면에서 반사되면서 진행하는 광의 광축(LA)이 곡면부(12)로 입사되지 않고, 곡면부(12) 측으로부터 어긋나도록 반사부재(120)를 배치해야 하는데, 검사하는 커버 글라스(10)의 크기 등이 변경될 때, 반사부재 각도 조절부(미도시)를 이용하여 반사부재(120)의 배치 각도를 조정할 수 있다.As described above, the reflecting member 120 should be disposed so that the optical axis LA of the light propagating while being reflected from the surface of the reflecting member 120 does not enter the curved portion 12 and is shifted from the curved portion 12 side. However, when the size, etc. of the cover glass 10 to be inspected is changed, an arrangement angle of the reflecting member 120 may be adjusted using a reflecting member angle adjusting unit (not shown).

반사부재 각도 조절부는 반사부재(120)의 후면에 회전축을 설치하고, 수동으로 조정할 수도 있고, 회전축에 모터 등의 구동수단을 연결하여 자동으로 조정할 수도 있다.The reflection member angle adjusting unit may be installed on the rear surface of the reflection member 120 and adjusted manually, or may be automatically adjusted by connecting a driving means such as a motor to the rotation shaft.

본 실시예에서, 카메라(110) 및 반사부재(120)는 커버 글라스의 중심축(CA)을 기준으로 촬영되는 곡면부(12)가 존재하는 일측에 배치되고, 조명부(130)는 커버 글라스의 중심축(CA)을 기준으로 촬영되는 곡면부(12)가 존재하는 일측과 반대되는 반대측에 배치되는 것이 바람직하다.In the present exemplary embodiment, the camera 110 and the reflective member 120 are disposed on one side where the curved portion 12 photographed based on the central axis CA of the cover glass exists, and the lighting unit 130 is formed of the cover glass. It is preferable that the curved portion 12 photographed on the basis of the central axis CA is disposed on the opposite side opposite to the one side on which it is present.

상술한 바와 같이 구성된 본 실시예에 따른 커버 글라스의 곡면부 검사장치는, 광이 조사되는 반사부재의 이미지가 곡면부에 투사되도록 하고, 이를 결함 검사 영상의 배경으로 활용함으로써, 커버 글라스의 곡면부를 촬영한 영상에서 배경의 세기가 균일하게 형성되고, 이로 인해 곡면부에 존재하는 결함을 용이하게 식별할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.The curved portion inspection apparatus of the cover glass according to the present exemplary embodiment configured as described above allows the curved portion of the cover glass to be projected onto the curved portion by using the image of the reflective member to which light is irradiated, and to use it as a background of the defect inspection image. The intensity of the background is uniformly formed in the captured image, thereby obtaining an effect of easily identifying a defect present in the curved portion.

또한, 상술한 바와 같이 구성된 본 실시예에 따른 커버 글라스의 곡면부 검사장치는, 반사부재 각도 조절부를 이용하여 곡면부에 대한 반사부재의 배치 각도를 조정함으로써, 다양한 크기의 커버 글라스에 대하여 호환성 있게 검사할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.In addition, the curved portion inspection device of the cover glass according to the present embodiment configured as described above, by adjusting the placement angle of the reflective member with respect to the curved portion using the reflection member angle adjustment unit, it is compatible with the cover glass of various sizes The effect can be inspected.

본 발명의 권리범위는 상술한 실시예 및 변형례에 한정되는 것이 아니라 첨부된 특허청구범위 내에서 다양한 형태의 실시예로 구현될 수 있다. 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 변형 가능한 다양한 범위까지 본 발명의 청구범위 기재의 범위 내에 있는 것으로 본다.The scope of the present invention is not limited to the above-described embodiments and modifications, but may be embodied in various forms of embodiments within the scope of the appended claims. Without departing from the gist of the invention claimed in the claims, it is intended that any person skilled in the art to which the present invention pertains falls within the scope of the claims described herein to various extents which can be modified.

10 : 커버 글라스
11 : 평면부
12 : 곡면부
100 : 커버 글라스의 곡면부 검사장치
110 : 카메라
120 : 반사부재
130 : 조명부10: cover glass
11: flat part
12: curved part
100: curved surface inspection device of the cover glass
110: camera
120: reflection member
130: lighting unit

Claims (3)

평면부와, 상기 평면부의 양측부에서 연장되어 상측으로 볼록하게 형성되고, 하면에 베젤 영역이 형성된 곡면부를 구비하는 커버 글라스를 검사하며, 상기 곡면부 상에 존재하는 결함을 검사하기 위한 커버 글라스의 곡면부 검사장치에 있어서,
상기 곡면부 상에 위치하는 결함을 촬영하기 위한 카메라;
상기 곡면부와 마주보며 상기 곡면부로부터 일정 거리 이격되게 배치되고, 표면에서 반사되면서 진행하는 광의 광축이 상기 곡면부 측으로부터 어긋나도록 배치되는 반사부재; 및
상기 반사부재를 향해 광을 조사하는 조명부;를 포함하고,
상기 곡면부를 촬영한 영상은, 상기 곡면부에 존재하는 결함이 표시되는 결함 부분과, 상기 조명부로부터 광이 조사되는 반사부재의 이미지가 상기 곡면부에 투사되는 배경 부분으로 구성되는 것을 특징으로 하는 커버 글라스의 곡면부 검사장치.A cover glass having a flat portion and a curved surface portion extending from both sides of the flat portion and convex upward, and having a bezel area formed on a lower surface thereof, and a cover glass for inspecting a defect present on the curved portion. In the curved surface inspection device,
A camera for photographing a defect located on the curved portion;
A reflection member disposed to face the curved portion and spaced apart from the curved portion by a predetermined distance, and arranged such that an optical axis of light traveling while being reflected from the surface is shifted from the curved portion; And
And a lighting unit for irradiating light toward the reflective member.
The image capturing the curved portion includes a defect portion in which a defect present in the curved portion is displayed, and a background portion in which an image of a reflecting member to which light is irradiated from the illumination unit is projected onto the curved portion. Device for inspecting curved parts of glass. 제1항에 있어서,
상기 곡면부에 대한 상기 반사부재의 배치 각도를 조정하기 위한 반사부재 각도 조절부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 커버 글라스의 곡면부 검사장치.The method of claim 1,
And a reflection member angle adjusting unit for adjusting an arrangement angle of the reflection member with respect to the curved portion. 제1항에 있어서,
상기 카메라 및 상기 반사부재는 상기 커버 글라스의 중심축을 기준으로 촬영되는 곡면부가 존재하는 일측에 배치되고,
상기 조명부는 상기 커버 글라스의 중심축을 기준으로 촬영되는 곡면부가 존재하는 일측과 반대되는 반대측에 배치되는 것을 특징으로 하는 커버 글라스의 곡면부 검사장치.The method of claim 1,
The camera and the reflective member are disposed on one side where the curved portion photographed based on the central axis of the cover glass exists,
The lighting unit curved surface inspection apparatus of the cover glass, characterized in that disposed on the opposite side opposite to the one side where the curved surface is photographed based on the central axis of the cover glass.
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