KR101950715B1 - 적층 세라믹 콘덴서 - Google Patents

적층 세라믹 콘덴서 Download PDF

Info

Publication number
KR101950715B1
KR101950715B1 KR1020170000163A KR20170000163A KR101950715B1 KR 101950715 B1 KR101950715 B1 KR 101950715B1 KR 1020170000163 A KR1020170000163 A KR 1020170000163A KR 20170000163 A KR20170000163 A KR 20170000163A KR 101950715 B1 KR101950715 B1 KR 101950715B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
internal electrode
internal
stacking direction
capacitor
electrode
Prior art date
Application number
KR1020170000163A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20170094487A (ko
Inventor
히로타카 나카자와
타카시 사와다
Original Assignee
가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 filed Critical 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼
Publication of KR20170094487A publication Critical patent/KR20170094487A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101950715B1 publication Critical patent/KR101950715B1/ko

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/005—Electrodes
    • H01G4/012—Form of non-self-supporting electrodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/018—Dielectrics
    • H01G4/06—Solid dielectrics
    • H01G4/08—Inorganic dielectrics
    • H01G4/12—Ceramic dielectrics
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/018—Dielectrics
    • H01G4/06—Solid dielectrics
    • H01G4/08—Inorganic dielectrics
    • H01G4/12—Ceramic dielectrics
    • H01G4/1209—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/018—Dielectrics
    • H01G4/06—Solid dielectrics
    • H01G4/08—Inorganic dielectrics
    • H01G4/12—Ceramic dielectrics
    • H01G4/1209—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
    • H01G4/1236—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on zirconium oxides or zirconates
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/228—Terminals
    • H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/30—Stacked capacitors
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/018—Dielectrics
    • H01G4/06—Solid dielectrics
    • H01G4/08—Inorganic dielectrics
    • H01G4/12—Ceramic dielectrics
    • H01G4/1209—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
    • H01G4/1218—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates
    • H01G4/1227—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates based on alkaline earth titanates
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002—Details
    • H01G4/228—Terminals
    • H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
    • H01G4/2325—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor characterised by the material of the terminals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)

Abstract

고강도인 적층 세라믹 콘덴서를 제공한다.
콘덴서 본체(10)는, 제1 내부전극(11)이 적층방향을 따라 연속하여 3매 이상 적층된 제1 내부전극 적층부(11a)와, 제2 내부전극(12)이 적층방향을 따라 연속하여 3매 이상 적층된 제2 내부전극 적층부(12a)를 포함한다. 제2 내부전극 적층부(12a)는 적층방향(T)에서 제1 내부전극 적층부(11a)와 대향하고 있다.

Description

적층 세라믹 콘덴서{MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR}
본 발명은 적층 세라믹 콘덴서에 관한 것이다.
종래, 다양한 전자기기에 콘덴서가 사용되고 있다. 예를 들면, 특허문헌 1에는 내부전극이 적층방향(T)을 따라 적층된 적층 세라믹 콘덴서가 개시되어 있다.
일본 공개특허공보 2015-153764호
용도에 따라서는, 대용량의 적층 세라믹 콘덴서가 요구되는 경우도 있고, 소용량의 적층 세라믹 콘덴서가 요구되는 경우도 있다. 적층 세라믹 콘덴서의 용량의 조절 방법으로는 내부전극의 적층 수를 적게 하는 방법이 생각된다. 내부전극의 적층 수를 적게 하면, 적층 세라믹 콘덴서의 강도가 낮아지는 등의 문제가 있다.
본 발명의 주된 목적은 고강도인 적층 세라믹 콘덴서를 제공하는 것에 있다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 콘덴서는, 콘덴서 본체와 제1 외부전극과 제2 외부전극과 제1 내부전극과 제2 내부전극을 포함한다. 콘덴서 본체는, 제1 및 제2 주면(主面)과 제1 및 제2 측면과 제1 및 제2 단면(端面)을 가진다. 제1 및 제2 주면은 길이방향 및 폭방향을 따라 연장되어 있다. 제1 및 제2 측면은 길이방향 및 적층방향을 따라 연장되어 있다. 제1 및 제2 단면은 폭방향 및 적층방향을 따라 연장되어 있다. 제1 외부전극은 제1 및 제2 측면 그리고 제1 및 제2 단면 중 적어도 한 면 상에 마련되어 있다. 제2 외부전극은 제1 및 제2 측면 그리고 제1 및 제2 단면 중 적어도 한 면 상이며, 제1 외부전극이 마련된 위치와는 다른 위치에 마련되어 있다. 제1 내부전극은 콘덴서 본체 내에 배치되어 있고, 제1 외부전극에 접속되어 있다. 제2 내부전극은 콘덴서 본체 내에 배치되어 있고, 제2 외부전극에 접속되어 있다. 콘덴서 본체는, 제1 내부전극이 적층방향을 따라 연속하여 3매 이상 적층된 제1 내부전극 적층부와, 제2 내부전극이 적층방향을 따라 연속하여 3매 이상 적층된 제2 내부전극 적층부를 포함한다. 제2 내부전극 적층부는 적층방향에서 제1 내부전극 적층부와 대향하고 있다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 콘덴서에서는 제1 및 제2 내부전극 적층부가 마련되어 있다. 이 때문에, 내부전극의 층수를 적게 하지 않고, 저(低)용량화할 수 있다. 따라서, 고강도이면서 저용량인 적층 세라믹 콘덴서를 실현할 수 있다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 콘덴서에서는, 적층방향에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리를 제2 내부전극의 두께와 적층방향에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 간의 거리의 합으로 제산(除算)한 값((적층방향에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리)/{(제2 내부전극의 두께)+(적층방향에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 간의 거리)})이 25 이하인 것이 바람직하다. 적층방향에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리를 제1 내부전극의 두께와 적층방향에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 간의 거리의 합으로 제산한 값((적층방향에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리)/{(제1 내부전극의 두께)+(적층방향에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 간의 거리)})이 25 이하인 것이 바람직하다. 이 경우, 적층 세라믹 콘덴서 내에 구조 결함이 생기는 것을 억제할 수 있다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 콘덴서에서는, 적층방향에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리와, 적층방향에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리가, 각각 31㎛ 이하인 것이 바람직하다. 이 경우, 적층 세라믹 콘덴서 내에 구조 결함이 생기는 것을 억제할 수 있다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 콘덴서에서는, 콘덴서 본체가, 제1 내부전극과 제2 내부전극이 적층방향을 따라 교대로 적층된 교대 적층부를 가지는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명에서의 교대 적층부란, 제1 내부전극 적층부와 제2 내부전극 적층부가 적층방향을 따라 서로 이웃하여 적층됨으로써 형성되는 부분을 의미한다. 본 발명에서의 교대 적층부에는, 제1 내부전극과 제2 내부전극이 적층방향을 따라 서로 이웃하여 적층된 부분은 포함되지 않는다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 콘덴서에서는, 콘덴서 본체의 제1 주면과 가장 가깝게 배치된 내부전극이 접속되는 외부전극은, 적층방향에서 서로 이웃하는 내부전극이 접속되는 외부전극과 다른 것이 바람직하다. 이 경우, 콘덴서 본체의 제1 주면과 가장 가깝게 배치된 내부전극과 적층방향에서 서로 이웃하는 내부전극 사이에서 용량이 형성된다. 이 적층 세라믹 콘덴서를 제1 주면 측을 실장면으로 하여 실장했을 때는, 적층 세라믹 콘덴서의 등가직렬 인덕턴스(ESL)를 낮게 할 수 있다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 콘덴서에서는, 콘덴서 본체의 제2 주면과 가장 가깝게 배치된 내부전극이 접속되는 외부전극은, 적층방향에서 서로 이웃하는 내부전극이 접속되는 외부전극과 다른 것이 바람직하다. 이 경우, 콘덴서 본체의 제2 주면과 가장 가깝게 배치된 내부전극과 적층방향에서 서로 이웃하는 내부전극 사이에서 용량이 형성된다. 이 적층 세라믹 콘덴서를 제2 주면 측을 실장면으로 하여 실장했을 때는, 적층 세라믹 콘덴서의 등가직렬 인덕턴스(ESL)를 낮게 할 수 있다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 콘덴서에서는, 콘덴서 본체가, 제1 내부전극 적층부와 제2 내부전극 적층부가 교대로 11층 이상 적층된 부분을 가지는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 고강도인 적층 세라믹 콘덴서를 제공할 수 있다.
도 1은 제1 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 사시도이다.
도 2는 도 1의 선 II-II부분의 모식적 단면도이다.
도 3은 제1 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
도 4는 제1 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
도 5는 도 1의 선 V-V부분의 모식적 단면도이다.
도 6은 제2 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
도 7은 제3 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
도 8은 제4 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
도 9는 제5 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
도 10은 제6 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
도 11은 제7 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
도 12는 제7 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
도 13은 유전체층 및 내부전극의 두께 측정법을 설명하기 위한 모식적 단면도이다.
이하, 본 발명을 실시한 바람직한 형태의 일례에 대해 설명한다. 단, 하기의 실시형태는 단순한 예시이다. 본 발명은 하기의 실시형태에 조금도 한정되지 않는다.
또한, 실시형태 등에서 참조하는 각 도면에서, 실질적으로 동일한 기능을 가지는 부재는 동일한 부호로 참조하는 것으로 한다. 또한, 실시형태 등에서 참조하는 도면은 모식적으로 기재된 것이다. 도면에 묘화된 물체의 치수의 비율 등은, 현실 물체의 치수의 비율 등과는 다른 경우가 있다. 도면 상호간에서도 물체의 치수 비율 등이 다른 경우가 있다. 구체적인 물체의 치수 비율 등은 이하의 설명을 참작하여 판단되어야 한다.
(제1 실시형태)
도 1은 제1 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 사시도이다. 도 2는 도 1의 선 II-II부분의 모식적 단면도이다. 도 3은 제1 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다. 도 4는 제1 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다. 도 5는 도 1의 선 V-V부분의 모식적 단면도이다.
도 1~도 5에 나타내는 바와 같이, 콘덴서(1)는 콘덴서 본체(10)를 포함하고 있다. 콘덴서 본체(10)는 대략 직방체상이다. 콘덴서 본체(10)는, 제1 및 제2 주면(10a, 10b)과 제1 및 제2 측면(10c, 10d)과 제1 및 제2 단면(10e, 10f)을 포함하고 있다. 제1 및 제2 주면(10a, 10b)은 각각 길이방향(L) 및 폭방향(W)을 따라 연장되어 있다. 폭방향(W)은 길이방향(L)에 대하여 수직이다. 제1 및 제2 측면(10c, 10d)은 각각 길이방향(L) 및 적층방향(T)을 따라 연장되어 있다. 적층방향(T)은 길이방향(L) 및 폭방향(W) 각각에 대하여 수직이다. 제1 및 제2 단면(10e, 10f)은 각각 폭방향(W) 및 적층방향(T)을 따라 연장되어 있다. 콘덴서 본체(10)의 능선부 및 각(角)부는 모따기 형상(chamfered shape)으로 되어 있어도 되고, 둥근 형상으로 되어 있어도 되지만, 크랙이 발생하는 것을 억제하는 관점에서는 둥근 형상을 가지는 것이 바람직하다.
콘덴서 본체(10)는, 예를 들면 적절한 유전체 세라믹스에 의해 구성할 수 있다. 콘덴서 본체(10)는, 구체적으로는 예를 들면, BaTiO3, CaTiO3, SrTiO3, CaZrO3 등을 포함하는 유전체 세라믹스에 의해 구성되어 있어도 된다. 콘덴서 본체(10)에는 Mn 화합물, Fe 화합물, Cr 화합물, Co 화합물, Ni 화합물 등이 첨가되어 있어도 된다.
콘덴서 본체(10)의 치수는 특별히 한정되지 않지만, 콘덴서 본체(10)의 높이 치수를 DT, 길이 치수를 DL, 폭 치수를 DW로 했을 때에, DT＜DW＜DL인 것이 바람직하다. 또한, DT＜0.7㎜가 충족되는 것이 바람직하고, 0.05㎜≤DT＜0.5㎜가 충족되는 것이 보다 바람직하다. 또한, 0.4㎜≤DL≤1.2㎜인 것이 바람직하다. 또한, 0.3㎜≤DW≤0.7㎜인 것이 바람직하다.
도 1, 도 3 및 도 4에 나타내는 바와 같이, 콘덴서(1)는 제1 외부전극(21, 22, 23)과 제2 외부전극(24, 25, 26)을 포함하고 있다. 제1 외부전극(21, 22, 23)과 제2 외부전극(24, 25, 26)은, 각각 콘덴서 본체(10)의 제1 및 제2 측면(10c, 10d) 그리고 제1 단면(10e, 10f) 중 적어도 한 면 상에 마련되어 있다.
도 3에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태에서는, 제1 외부전극(21)은 제1 측면(10c)의 길이방향(L)에서의 중앙부 상에 마련되어 있다. 도 1에 나타내는 바와 같이, 제1 외부전극(21)은 제1 측면(10c) 상으로부터 제1 및 제2 주면(10a, 10b) 각각의 상에 걸쳐 마련되어 있다. 도 3에 나타내는 바와 같이, 이 제1 외부전극(21)에 의해 제1 내부전극(11)의 제1 인출부의 노출부가 덮여 있다.
제1 외부전극(23)은 제2 측면(10d)의 길이방향(L)의 L2 측의 부분 상에 마련되어 있다. 도 1, 도 3 및 도 4에 나타내는 바와 같이, 제1 외부전극(23)은 제2 측면(10d) 상으로부터 제1 및 제2 주면(10a, 10b)과 제2 단면(10f) 각각의 상에 걸쳐 마련되어 있다. 도 3에 나타내는 바와 같이, 이 제1 외부전극(23)에 의해, 제1 내부전극(11)의 제3 인출부의 노출부가 덮여 있다. 도 1에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태에서는, 제1 외부전극(23)의 제2 단면(10f) 상에 위치하는 부분은 U자 형상으로 형성되어 있지만, 이것에 한정되는 것이 아니다. 제1 외부전극(23)의 제2 단면(10f) 상에 위치하는 부분은, 예를 들면 직사각형상으로 형성되어 있어도 된다. 제1 외부전극(23)은 제2 단면(10f) 상에 배치되어 있지 않아도 되지만, 배치되어 있는 것이 바람직하다.
제1 외부전극(22)은 제2 측면(10d)의 길이방향(L)의 L1 측의 부분 상에 마련되어 있다. 도 1, 도 3, 도 4 및 도 5에 나타내는 바와 같이, 제1 외부전극(22)은 제2 측면(10d) 상으로부터 제1 및 제2 주면(10a, 10b)과 제1 단면(10e) 각각의 상에 걸쳐 마련되어 있다. 도 3에 나타내는 바와 같이, 이 제1 외부전극(22)에 의해, 제1 내부전극(11)의 제2 인출부의 노출부가 덮여 있다. 본 실시형태에서는, 제1 외부전극(22)의 제1 단면(10e) 상에 위치하는 부분은 제1 외부전극(23)과 동일하게 U자 형상으로 형성되어 있지만, 이것에 한정되는 것이 아니다. 제1 외부전극(22)의 제1 단면(10e) 상에 위치하는 부분은, 예를 들면 직사각형상으로 형성되어 있어도 된다. 제1 외부전극(22)은 제1 단면(10e) 상에 배치되어 있지 않아도 되지만, 배치되어 있는 것이 바람직하다.
도 4에 나타내는 바와 같이, 제2 외부전극(24)은 제2 측면(10d)의 길이방향(L)에서의 중앙부 상에 마련되어 있다. 도 1에 나타내는 바와 같이, 제2 외부전극(24)은 제2 측면(10d) 상으로부터 제1 및 제2 주면(10a, 10b) 각각의 상에 걸쳐 마련되어 있다. 도 4에 나타내는 바와 같이, 이 제2 외부전극(24)에 의해 제2 내부전극(12)의 제1 인출부의 노출부가 덮여 있다.
제2 외부전극(25)은 제1 측면(10c)의 길이방향(L)의 L1 측의 부분 상에 마련되어 있다. 도 1, 도 3, 도 4 및 도 5에 나타내는 바와 같이, 제2 외부전극(25)은 제1 측면(10c) 상으로부터 제1 및 제2 주면(10a, 10b)과 제1 단면(10e) 각각의 상에 걸쳐 마련되어 있다. 도 4에 나타내는 바와 같이, 이 제2 외부전극(25)에 의해, 제2 내부전극(12)의 제2 인출부의 노출부가 덮여 있다. 본 실시형태에서는, 제2 외부전극(25)의 제1 단면(10e) 상에 위치하는 부분은 제1 외부전극(23)과 동일하게 U자 형상으로 형성되어 있지만, 이것에 한정되는 것이 아니다. 제2 외부전극(25)의 제1 단면(10e) 상에 위치하는 부분은, 예를 들면 직사각형상으로 형성되어 있어도 된다. 제2 외부전극(25)은 제1 단면(10e) 상에 배치되어 있지 않아도 되지만, 배치되어 있는 것이 바람직하다.
제2 외부전극(26)은 제1 측면(10c)의 길이방향(L)의 L2 측의 부분 상에 마련되어 있다. 도 1, 도 3 및 도 4에 나타내는 바와 같이, 제2 외부전극(26)은 제1 측면(10c) 상으로부터 제1 및 제2 주면(10a, 10b)과 제2 단면(10f) 각각의 상에 걸쳐 마련되어 있다. 도 4에 나타내는 바와 같이, 이 제2 외부전극(26)에 의해 제2 내부전극(12)의 제3 인출부의 노출부가 덮여 있다. 도 1에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태에서는, 제2 외부전극(26)의 제2 단면(10f) 상에 위치하는 부분은 제1 외부전극(23)과 동일하게 U자 형상으로 형성되어 있지만, 이것에 한정되는 것이 아니다. 제2 외부전극(26)의 제2 단면(10f) 상에 위치하는 부분은, 예를 들면 직사각형상으로 형성되어 있어도 된다. 제2 외부전극(26)은 제2 단면(10f) 상에 배치되어 있지 않아도 되지만, 배치되어 있는 것이 바람직하다.
제1 및 제2 외부전극(21~26)은, 각각 적절한 도전재료에 의해 구성할 수 있다. 제1 및 제2 외부전극(21~26)은, 예를 들면 각각 콘덴서 본체(10) 상에 마련된 하지전극층과, 하지전극층 상에 마련된 Ni 도금층과, Ni 도금층 상에 마련된 Sn 도금층의 적층체에 의해 구성되어 있어도 된다.
하지전극층은, 예를 들면 소성 전극층, 도금층, 도전성 수지층 등에 의해 구성되어 있어도 된다. 소성 전극층은 도전성 페이스트를 도포한 후에 베이킹함으로써 형성한 전극이다. 하지전극층은, 예를 들면 Cu, Ni, Ag, Pd, Ag-Pd 합금, Au 등으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 금속을 포함하는 것이 바람직하다. 하지전극층은 유리를 포함하고 있는 것이 바람직하다. 하지전극층에 포함되는 유리는 Si, Zn을 포함하는 것이 바람직하다.
Ni 도금층은 하지전극층 상에 마련되어 있다. 이 Ni 도금층을 마련함으로써, 예를 들면 솔더(solder)를 이용하여 콘덴서(1)를 실장기판에 실장할 때에 하지전극층이 솔더에 의해 침식되는 것을 효과적으로 억제할 수 있다.
또한, 본 실시형태에서는 외부전극(21~26)이 각각 제1 및 제2 주면(10a, 10b) 상까지 연장되어 있는 예에 대해 설명했다. 단, 본 발명은 이 구성에 한정되지 않는다. 외부전극은, 예를 들면 측면 또는 단면 상에만 마련되어 있어도 된다. 또한, 하나의 측면 상에 4개 이상의 외부전극이 마련되어 있어도 된다.
콘덴서 본체(10)에 깨짐이나 균열이 발생하는 것을 억제하는 관점에서는, 콘덴서 본체(10)의 능선부의 적어도 일부가 외부전극(21~26)에 의해 덮여 있는 것이 바람직하다.
도 2~도 5에 나타내는 바와 같이, 콘덴서 본체(10)의 내부에는 제1 내부전극(11)과 제2 내부전극(12)이 마련되어 있다. 제1 내부전극(11)은 제1 외부전극(21~23) 각각에 접속되어 있다. 제2 내부전극(12)은 제2 외부전극(24~26) 각각에 접속되어 있다.
제1 및 제2 내부전극(11, 12)은 적절한 도전재료에 의해 구성할 수 있다. 제1 및 제2 내부전극은, 예를 들면 Ni, Cu, Ag, Pd, Au 등의 금속이나, 이들 금속의 일종을 포함하는 예를 들면 Ag-Pd 합금 등의 합금에 의해 구성할 수 있다. 제1 및 제2 내부전극(11, 12)은 Ni를 함유하고 있는 것이 보다 바람직하다. 또한, 제1 및 제2 내부전극(11, 12)은 콘덴서 본체(10)에 포함되는 세라믹스와 동종의 조성계의 유전체 입자(공재(共材; common material))를 포함하고 있어도 된다.
그런데 용량을 형성하기 위해서는 제1 내부전극과 제2 내부전극을 유전체층을 통해 대향시킬 필요가 있다. 이 때문에, 통상 적층 세라믹 콘덴서에서는 제1 내부전극과 제2 내부전극이 적층방향을 따라 교대로 마련되어 있다. 적층 세라믹 콘덴서의 정전 용량은 이 제1 및 제2 내부전극의 적층 수를 조절함으로써 조절할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들면 큰 정전 용량을 가지는 적층 세라믹 콘덴서를 얻기 위해서는 제1 및 제2 내부전극의 적층 수를 많게 할 필요가 있다. 반대로, 작은 정전 용량의 적층 세라믹 콘덴서를 얻기 위해서는 제1 및 제2 내부전극의 적층 수를 적게 할 필요가 있다. 그러나 적층 세라믹 콘덴서의 정전 용량을 작게 하기 위해 제1 및 제2 내부전극의 적층 수를 적게 하면, 콘덴서 본체가 얇아진다. 이 때문에, 적층 세라믹 콘덴서의 강도가 저하된다는 문제가 생긴다.
여기서, 도 5에 나타내는 바와 같이 적층 세라믹 콘덴서(1)에서는, 콘덴서 본체(10)가, 제1 내부전극(11)이 적층방향(T)을 따라 연속하여 3매 이상 적층된 제1 내부전극 적층부(11a)와, 제2 내부전극(12)이 적층방향(T)을 따라 연속하여 3매 이상 적층된 제2 내부전극 적층부(12a)를 포함한다. 제1 내부전극 적층부(11a)와 제2 내부전극 적층부(12a)가 적층방향(T)에서 유전체층을 통해 대향함으로써 용량이 형성되어 있다.
적층 세라믹 콘덴서(1)에서는, 제1 내부전극 적층부(11a)에서, 적층방향(T)의 양측에 제1 내부전극(11)이 위치하고 있는 제1 내부전극(11)은 용량 형성에 실질적으로 기여하지 않는다. 동일하게, 제2 내부전극 적층부(12a)에서, 적층방향(T)의 양측에 제2 내부전극(12)이 위치하고 있는 제2 내부전극(12)은 용량 형성에 실질적으로 기여하지 않는다. 따라서, 제1 내부전극(11)이 적층방향을 따라 연속하여 3매 이상 적층된 제1 내부전극 적층부(11a) 및 제2 내부전극(12)이 적층방향을 따라 연속하여 3매 이상 적층된 제2 내부전극 적층부(12a)를 마련함으로써, 내부전극(11, 12)의 적층 수를 줄이지 않고, 작은 정전 용량을 가지는 적층 세라믹 콘덴서(1)를 실현할 수 있다. 즉, 제1 및 제2 내부전극 적층부(11a, 12a)를 마련함으로써, 고강도이면서 작은 정전 용량을 가지는 적층 세라믹 콘덴서(1)를 실현할 수 있다.
저용량을 취득하면서 적층 세라믹 콘덴서(1)의 강도를 더 높이는 관점에서는, 각 내부전극 적층부(11a, 12a)에서 내부전극(11, 12)이 5층 이상 적층되어 있는 것이 바람직하고, 7층 이상 적층되어 있는 것이 보다 바람직하다.
동일한 관점에서, 콘덴서 본체(10)가 제1 내부전극 적층부(11a)와 제2 내부전극 적층부(12a)가 교대로 11층 이상 적층된 부분을 가지는 것이 바람직하다.
단, 각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수가 지나치게 많아지거나, 내부전극 적층부(11a, 12a)에서의 내부전극(11, 12)의 적층 수가 지나치게 많아지면, 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부(11a) 간의 거리나 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부(12a) 간의 거리가 커진다. 이때, 예를 들면 도 5에서의 제1 외부전극(22)과 제2 내부전극 적층부(12a)와 적층방향에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부(11a)로 둘러싸인, 내부전극(11, 12)이 마련되어 있지 않은 유전체층의 부분과, 내부전극(11, 12)이 마련된 부분에서, 주위의 온도가 변화되었을 때나 소성 시, 베이킹 시 등에 열팽창률이 크게 달라진다. 이 때문에, 내부전극(11, 12)이 마련되어 있지 않은 유전체층의 부분에 응력이 작용하여, 콘덴서 본체(10) 내에 내부 결손이 발생하는 경우가 있다. 콘덴서 본체(10) 내에 내부 결손이 발생하면, 적층 세라믹 콘덴서(1)의 신뢰성이 낮아질 우려가 있다. 따라서, 적층 세라믹 콘덴서(1)의 신뢰성의 저하를 억제하는 관점에서, 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부(11a) 간의 거리를 제2 내부전극(12)의 두께와 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극(12) 간의 거리의 합으로 제산한 값((적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부(11a) 간의 거리)/{(제2 내부전극(12)의 두께)+(적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극(12) 간의 거리)})이 25 이하인 것이 바람직하고, 8 이하인 것이 보다 바람직하다. 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부(12a) 간의 거리를 제1 내부전극(11)의 두께와 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극(11) 간의 거리의 합으로 제산한 값((적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부(12a) 간의 거리)/{(제1 내부전극(11)의 두께)+(적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극(11) 간의 거리)})이 25 이하인 것이 바람직하고, 8 이하인 것이 보다 바람직하다.
구체적으로는, 적층방향에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부(11a) 간의 거리와, 적층방향에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부(12a) 간의 거리가, 각각 31㎛ 이하인 것이 바람직하고, 26㎛ 이하인 것이 보다 바람직하며, 18㎛ 이하인 것이 더 바람직하다.
고강도이면서 뛰어난 신뢰성을 가지는 적층 세라믹 콘덴서(1)를 얻는 관점에서, 내부전극(11, 12)의 평균 두께는 0.4㎛ 이상 1.0㎛ 이하인 것이 바람직하다. 적층방향(T)에서 인접하는 내부전극 간에 위치하는 유전체층(10g)은 0.5㎛ 이상 3㎛ 이하인 것이 바람직하다.
또한, 내부전극(11, 12)은, 콘덴서 본체(10)의 측면(10c, 10d)의 길이방향(L)의 양단(兩端)에 위치하는 외부전극(22, 23, 25, 26) 이외의 외부전극(21, 24)에도 접속되어 있는 것이 바람직하다. 그렇게 함으로써 내부전극과 외부전극의 접속 신뢰성을 높일 수 있다.
콘덴서 본체(10) 내에 대한 수분 등의 침입을 억제하는 관점에서, 내부전극(11, 12)은 콘덴서 본체(10)의 단면(10e, 10f)에 노출되어 있지 않은 것이 바람직하다.
(적층 세라믹 콘덴서(1)의 제조 방법의 일례)
다음으로, 적층 세라믹 콘덴서(1)의 제조 방법의 일례에 대해 설명한다.
우선, 세라믹 그린 시트, 내부전극용 도전성 페이스트 및 외부단자전극용 도전성 페이스트를 각각 준비한다. 세라믹 그린 시트 및 도전성 페이스트는 바인더 및 용제를 함유하고 있어도 된다. 세라믹 그린 시트 및 도전성 페이스트에 사용되는 바인더 및 용매는, 예를 들면 공지의 것을 사용할 수 있다.
다음으로, 세라믹 그린 시트 상에, 예를 들면 스크린 인쇄법이나 그라비어 인쇄법 등에 의해 소정 패턴으로 도전성 페이스트를 인쇄하여 내부전극 패턴을 형성한다.
다음으로, 내부전극 패턴이 인쇄되어 있지 않은 외층용 세라믹 그린 시트를 소정 매수 적층하고, 그 위에 내부전극 패턴이 인쇄된 세라믹 그린 시트를 순차 적층하며, 그 위에 외층용 세라믹 그린 시트를 소정 매수 적층하여 머더 적층체를 제작한다. 그 후, 머더 적층체를 정수압 프레스 등의 수단에 의해 적층방향으로 프레스한다.
다음으로, 머더 적층체를 소정 사이즈로 커트하고, 생(生;raw)세라믹 적층체를 잘라낸다. 이때, 배럴 연마 등에 의해 생세라믹 적층체의 능선부나 각부에 둥그스름함을 형성해도 된다.
소정 사이즈로 커트된 생 세라믹 적층체의 측면에 노출되는 내부전극 노출부 상에, 하지전극층을 형성하기 위한 전극 페이스트를 도포한다. 전극 페이스트의 도포 방법은 한정되지 않는다. 전극 페이스트의 도포 방법으로는, 예를 들면 롤러 전사법 등을 들 수 있다.
다음으로, 생세라믹 적층체를 소성함으로써 콘덴서 본체(10)를 얻는다. 소성 온도는 사용되는 세라믹 재료나 도전재료에 따라서도 다르지만, 예를 들면 900℃ 이상 1300℃ 이하인 것이 바람직하다. 이 후에, 콘덴서 본체(10)를 배럴 연마 등을 하여 콘덴서 본체(10)의 능선부나 각부에 둥그스름함을 형성해도 된다.
본 실시형태에 따른 적층 세라믹 콘덴서(1)에서는 제1 및 제2 내부전극 적층부(11a, 12a)가 마련되어 있다. 이 때문에, 내부전극(11, 12)의 층수를 적게 하지 않고 저용량화할 수 있다. 내부전극(11, 12)의 층수가 적어지면, 콘덴서 본체(10)에 차지하는 내부전극(11, 12)의 체적 비율이 감소된다. 이 경우, 내부전극(11, 12)의 층수를 줄이기 전과 비교하여, 생세라믹 적층체의 소성 시에서의 수축 거동이 크게 변화된다. 이 때문에, 내부전극(11, 12)의 층수를 줄이기 전과 동일한 소성 조건으로 소성한 경우, 소성 시에 크랙 등의 불량이 발생하는 경우가 있다. 특히, 보다 저용량을 취득하기 위해 내부전극(11, 12)의 층수를 크게 줄인 경우, 콘덴서 본체(10) 내의 내부전극(11, 12)의 체적 비율이 큰 부분과 작은 부분의 소성 시에서의 수축 거동의 차가 보다 커지고, 불량은 확대된다. 따라서, 본 실시형태에 따른 적층 세라믹 콘덴서(1)가 저용량인 적층 세라믹 콘덴서인 경우도 효율적으로 제조할 수 있다.
다음으로, Ni 도금층(21b~26b)을 형성하고, 그 후, Sn 도금층(21c~26c)을 형성함으로써 적층 세라믹 콘덴서(1)를 완성시킬 수 있다. 이하, 본 발명의 바람직한 실시형태의 다른 예에 대해 설명한다. 이하의 설명에서, 상기 제1 실시형태와 실질적으로 공통 기능을 가지는 부재를 공통 부호로 참조하고, 설명을 생략한다.
(제2~제5 실시형태)
도 6은 제2 실시형태에 따른 콘덴서(1a)의 모식적 단면도이다. 도 7은 제3 실시형태에 따른 콘덴서(1b)의 모식적 단면도이다. 도 8은 제4 실시형태에 따른 콘덴서(1c)의 모식적 단면도이다. 도 9는 제5 실시형태에 따른 콘덴서(1d)의 모식적 단면도이다. 도 10은 제6 실시형태에 따른 콘덴서(1e)의 모식적 단면도이다.
제1 실시형태에 따른 콘덴서(1)에서는, 제1 내부전극(11)의 전부가 제1 내부전극 적층부(11a)를 구성하고 있고, 제2 내부전극(12)의 전부가 제2 내부전극 적층부(12a)를 구성하고 있는 예에 대해 설명했다. 단, 본 발명은 이 구성에 한정되지 않는다. 도 6 및 도 7에 나타내는 적층 세라믹 콘덴서(1a, 1b)와 같이, 콘덴서 본체(10)가, 제1 내부전극(11)과 제2 내부전극(12)이 적층방향(T)을 따라 교대로 적층된 교대 적층부(13)를 가지고 있어도 된다. 구체적으로는, 도 6에 나타내는 적층 세라믹 콘덴서(1a)에서는, 적층방향(T)에서 제1 및 제2 내부전극(11, 12)이 마련된 영역 중, 제1 주면(10a)과 가장 가까운 부분에 교대 적층부(13)가 마련되어 있다. 도 7에 나타내는 적층 세라믹 콘덴서(1b)에서는, 적층방향(T)에서 제1 및 제2 내부전극(11, 12)이 마련된 영역 중, 제1 주면(10a)과 가장 가깝게 위치하는 부분과, 제2 주면(10b)과 가장 가깝게 위치하는 부분의 양쪽에 교대 적층부(13)가 마련되어 있다. 이와 같이, 적층방향(T)에서 제1 및 제2 내부전극(11, 12)이 마련된 영역 중, 주면(10a, 10b)과 가장 가깝게 위치하는 부분에 교대 적층부(13)를 마련함으로써, 상기 주면(10a, 10b)의 어느 쪽을 실장면으로 하여 적층 세라믹 콘덴서(1a, 1b)를 실장해도, 적층 세라믹 콘덴서(1a, 1b) 내에서 전류가 흐르는 경로 길이를 짧게 할 수 있다. 따라서, 적층 세라믹 콘덴서(1a, 1b)의 등가직렬 인덕턴스(ESL)를 낮게 할 수 있다.
동일하게, 도 8에 나타내는 적층 세라믹 콘덴서(1c)와 같이, 콘덴서 본체(10)의 주면(10a)과 가장 가깝게 배치된 내부전극(12)이 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 내부전극(11)과 용량을 형성하도록 마련되어 있는 경우나, 도 9에 나타내는 적층 세라믹 콘덴서(1d)와 같이, 콘덴서 본체(10)의 주면(10a, 10b)과 가장 가깝게 배치된 내부전극(12, 11)이 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 내부전극(11, 12)과 용량을 형성하도록 마련되어 있는 경우도, 적층 세라믹 콘덴서(1c, 1d) 내에서 전류가 흐르는 경로 길이를 짧게 할 수 있다. 따라서, 적층 세라믹 콘덴서(1c, 1d)의 ESL을 낮게 할 수 있다.
또한, 도 8에 나타내는 적층 세라믹 콘덴서(1c)에서, 콘덴서 본체(10)의 주면(10a)과 가장 가깝게 배치된 내부전극(12)이 적층방향(T)에서 연속하여 2층 적층되어 있는 경우도 있다. 이와 같이, 연속하여 2층 적층된 내부전극(12) 중, 콘덴서 본체(10)의 내측에 배치된 내부전극(12)을 콘덴서 본체(10)의 외측에 배치된 내부전극(12)으로 보호함으로써, 내습성 등의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
동일하게, 도 9에 나타내는 적층 세라믹 콘덴서(1d)에서, 콘덴서 본체(10)의 주면(10a)과 가장 가깝게 배치된 내부전극(12)이 적층방향(T)에서 연속하여 2층 적층되고, 콘덴서 본체(10)의 주면(10b)과 가장 가깝게 배치된 내부전극(11)이 적층방향(T)에서 연속하여 2층 적층되어 있는 경우도 있다.
또한, 도 10에 나타내는 적층 세라믹 콘덴서(1e)와 같이, 제1 내부전극 적층부(11a)와 제2 내부전극 적층부(12a) 간에 교대 적층부(13)를 마련해도 된다.
(제7 실시형태)
도 11은 제7 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다. 도 12는 제7 실시형태에 따른 콘덴서의 모식적 단면도이다.
본 실시형태에 따른 적층 세라믹 콘덴서(1f)는, 내부전극(11, 12)과 외부전극(21~26)의 접속 양태에서 제1 실시형태에 따른 적층 세라믹 콘덴서(1)와 다르다. 본 발명에서는 내부전극과 외부전극의 접속 양태는 특별히 한정되지 않는다. 본 실시형태에 따른 적층 세라믹 콘덴서(1f)에서는, 제1 내부전극(11)이 외부전극(22, 23, 25, 26)에 접속되어 있고, 제2 내부전극(12)이 외부전극(21, 24)에 접속되어 있다.
단, ESL을 낮게 하는 관점에서는, 제1 실시형태와 같이 내부전극(11, 12)과 외부전극(21~26)을 접속하는 것이 바람직하다. 이 경우, 길이방향(L)에서 서로 이웃하는 외부전극이나 폭방향(W)에서 대향하는 외부전극의 극성이 서로 다르기 때문에, 발생하는 자계가 상쇄되기 때문이다. 이하, 본 발명에 대해 구체적인 실시예에 기초하여 더 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시예에 조금도 한정되는 것이 아니고, 그 요지를 변경하지 않는 범위에서 적절히 변경하여 실시하는 것이 가능하다.
(실시예 1)
하기의 조건으로, 제1 실시형태에 따른 적층 세라믹 콘덴서(1)와 실질적으로 동일한 구성을 가지는 콘덴서를 제작했다.
콘덴서 본체의 주성분: Mg, V, Dy, Si를 첨가한 티탄산바륨
유전체층의 두께: 평균 0.74㎛
내부전극의 두께: 평균 0.52㎛
(유전체층 및 내부전극의 두께 측정법)
우선, 시료를 3개 준비하고 각 시료를 수직이 되도록 세워, 각 시료의 주변을 수지로 굳혔다.
이때, 각 시료의 길이방향(L) 및 적층방향(T)에 따른 측면이 노출되도록 했다. 연마기에 의해 측면을 연마하고, 콘덴서 본체의 W 방향의 1/2의 깊이에서 연마를 종료하여, 연마면을 노출시켰다. 이 연마면에 대하여 이온 밀링(ion milling)을 실시하여, 연마에 의한 처짐(sag)을 제거했다. 이와 같이 하여 관찰용 절단면을 얻었다.
도 13에 나타내는 바와 같이, 길이방향(L) 및 적층방향(T)을 따른 절단면의 L 방향의 1/2의 위치에서 내부전극과 직교하는 수선을 그었다. 다음으로, 시료의 내부전극이 적층되어 있는 영역을 적층방향으로 3등분으로 분할하여 상측부(U), 중간부(M), 하측부(D)의 3개의 영역으로 나누었다. 그리고 각 영역 각각의 적층방향 중앙부로부터 10층의 유전체층을 선정하고, 이들 유전체층의 상기 수선 상에서의 두께를 측정했다. 단, 상기 수선 상에서 내부전극이 결손되어, 상기 내부전극을 끼우는 세라믹스층이 연결되어 있는 등에 의해 측정이 불가능한 것은 제외했다.
이상으로부터, 각 시료에 대해 30군데에서 유전체층의 두께를 측정하고, 이들의 평균값을 구했다. 따라서, 시료 수 3개×3개의 영역×10층=90군데에서의 유전체층의 두께의 평균값이 구해졌다.
동일하게 하여, 각 시료에 대해 30군데에서 내부전극의 두께를 측정하고, 이들의 평균값을 구했다. 실시예 1에서는, 제1 내부전극의 두께와 제2 내부전극의 두께는 실질적으로 동일하다. 따라서, 시료 수 3개×3개의 영역×10층=90군데에서의 내부전극의 두께의 평균값이 구해졌다. 단, 내부전극이 결락되어 있는 등에 의해 측정할 수 없는 부분은 측정 대상에서 제외했다.
유전체층의 두께와 내부전극의 두께는 주사형(走査型) 전자현미경을 이용하여 측정했다.
주면과 가장 가깝게 위치하는 내부전극과 주면 간의 거리: 평균 30㎛
제1~제6 외부전극의 두께(W 방향에서의 가장 두꺼운 부분): 평균 20㎛
제1~제6 외부전극의 Ni 도금층의 두께: 4㎛
제1~제6 외부전극의 Sn 도금층의 두께: 4㎛
콘덴서 본체의 길이 치수: 1.14㎜
콘덴서 본체의 폭 치수: 0.57㎜
콘덴서 본체의 높이 치수: 0.4㎜
제1 내부전극과 제2 내부전극이 대향하고 있는 부분과 단면 간의 거리: 평균 50㎛
제1 내부전극과 제2 내부전극이 대향하고 있는 부분과 측면 간의 거리: 평균 50㎛
소성 온도: 1200℃
베이킹 온도: 920℃
각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수: 3층
내부전극 적층부의 적층 수: 90층
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리: 5㎛
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리: 5㎛
또한, 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리와, 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리는, 이하의 요령으로 측정했다.
우선, 제작한 적층 세라믹 콘덴서를 제1 측면이 노출되도록 수지로 굳히고, 제1 측면을, 제1 측면과 평행하게 콘덴서 본체의 W 방향의 폭 치수가 1/2이 될 때까지 연마했다. 노출된 연마면에 대하여 이온 밀링을 실시하여, 연마에 의한 처짐을 제거했다. 다음으로, 이 절단면에서의 내부전극이 적층되어 있는 영역을 적층방향(T)으로 3등분한 각 영역에서의 적층방향(T)에서의 중앙 부근에서, 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리 및 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리를 측정했다. 이 측정은, 제1 내부전극 적층부 간의 거리를 측정하는 경우, 길이방향(L)에서 복수의 제2 내부전극(12) 중 가장 돌출된 내부전극의 선단이 위치하고 있는 부분에서 실시했다. 또한, 제2 내부전극 적층부 간의 거리를 측정하는 경우, 길이방향(L)에서 복수의 제1 내부전극(11) 중 가장 돌출된 내부전극의 선단이 위치하고 있는 부분에서 실시했다. 상기 측정을 4개의 샘플에 대해 실시하고, 측정된 12군데의 거리를 평균함으로써, 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리와 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리를 각각 측정했다.
(실시예 2)
이하의 조건으로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수: 6층
내부전극 적층부의 적층 수: 45층
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리: 8㎛
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리: 8㎛
(실시예 3)
이하의 조건으로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수: 12층
내부전극 적층부의 적층 수: 22층
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리: 16㎛
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리: 16㎛
(실시예 4)
이하의 조건으로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수: 14층
내부전극 적층부의 적층 수: 20층
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리: 18㎛
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리: 18㎛
(실시예 5)
이하의 조건으로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수: 20층
내부전극 적층부의 적층 수: 14층
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리: 26㎛
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리: 26㎛
(실시예 6)
이하의 조건으로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수: 24층
내부전극 적층부의 적층 수: 11층
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리: 31㎛
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리: 31㎛
(비교예 1)
이하의 조건으로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수: 30층
내부전극 적층부의 적층 수: 9층
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리: 39㎛
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리: 39㎛
(비교예 2)
이하의 조건으로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수: 40층
내부전극 적층부의 적층 수: 7층
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리: 51㎛
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리: 51㎛
또한, 비교예 2에서는, 4개의 샘플에 대해 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리를 모두 측정하고, 이들의 평균값을 구했다. 또한, 4개의 샘플에 대해 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리를 모두 측정하고, 이들의 평균값을 구했다.
(비교예 3)
이하의 조건으로 한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수: 78층
내부전극 적층부의 적층 수: 4층
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리: 99㎛
적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리: 99㎛
또한, 비교예 3에서는, 10개의 샘플에 대해 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리를 모두 측정하고, 이들의 평균값을 구했다. 또한, 10개의 샘플에 대해 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리를 모두 측정하고, 이들의 평균값을 구했다.
(깨짐, 균열 유무의 확인)
각 실시예 및 비교예에서 제작한 100개의 샘플에 대해, 이하의 요령으로 깨짐, 균열의 유무를 확인했다. 결과를 표 1에 나타낸다.
(깨짐, 균열의 확인법)
우선, 각 시료를 수직이 되도록 세워, 각 시료의 주변을 수지로 굳혔다.
이때, 각 시료의 단면이 노출되도록 했다. 연마기에 의해 단면을 연마하고, 콘덴서 본체의 길이방향(L)의 1/2의 깊이에서 연마를 종료하여, 폭방향(W) 및 적층방향(T)을 따른 절단면을 노출시켰다. 이 절단면에서, 제1 외부전극과, 제2 내부전극 적층부와, 적층방향에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부로 둘러싸인 부분의 유전체층, 및 제2 외부전극과, 제1 내부전극 적층부와, 적층방향에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부로 둘러싸인 부분의 유전체층을 관찰했다. 유전체층에 깨짐, 균열이 확인된 것을 깨짐, 균열 발생 있음으로 카운트했다. 또한, 관찰은 광학현미경을 이용했다.
(ESL의 측정)
각 실시예 및 비교예에서 제작한 5개의 샘플을 실장기판 상에 실장하고, 네트워크 애널라이저(애질런트사 제품 E5071B)를 이용하여 ESL을 측정하고, 평균값을 산출했다. 측정 주파수 대역은 0.5㎓ 이상 8.5㎓ 이하로 했다. 결과를 표 1에 나타낸다.
또한, 표 1에 나타내는 A, B, C는 이하와 같다.
A: 각 내부전극 적층부에서의 내부전극의 적층 수
B: 내부전극 적층부의 적층 수
C: 적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제1 내부전극 적층부 간의 거리(=적층방향(T)에서 서로 이웃하는 제2 내부전극 적층부 간의 거리)
Figure 112017000168120-pat00001
(실시예 7)
도 9에 나타내는 바와 같이, 제1 주면과 가장 가까운 위치에 제2 내부전극을 1매 추가하고, 제2 주면과 가장 가까운 위치에 제1 내부전극을 1매 추가한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
(실시예 8)
도 10에 나타내는 바와 같이, 제1 주면 측으로부터 세어 45번째의 내부전극 적층부와 46번째의 내부전극 적층부 사이에, 제1 주면 측으로부터 제2 내부전극과 제1 내부전극을 1매씩 추가한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
(실시예 9)
도 9에 나타내는 바와 같이, 제1 주면과 가장 가까운 위치에 제2 내부전극을 1매 추가하고, 제2 주면과 가장 가까운 위치에 제1 내부전극을 1매 추가한 것 이외에는, 실시예 3과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
(실시예 10)
도 10에 나타내는 바와 같이, 제1 주면 측으로부터 세어 11번째의 내부전극 적층부와 12번째의 내부전극 적층부 사이에, 제1 주면 측으로부터 제2 내부전극과 제1 내부전극을 1매씩 추가한 것 이외에는, 실시예 3과 동일하게 하여 적층 세라믹 콘덴서를 제작했다.
실시예 7~10에서 제작한 샘플에 대해서도 깨짐, 균열 유무의 확인과 ESL의 측정을 상술의 방법과 동일한 방법으로 실시했다. 결과를 표 2에 나타낸다.
Figure 112017000168120-pat00002
1, 1a, 1b, 1c, 1d, 1e, 1f: 적층 세라믹 콘덴서
10: 콘덴서 본체
10a: 제1 주면
10b: 제2 주면
10c: 제1 측면
10d: 제2 측면
10e: 제1 단면
10f: 제2 단면
10g: 유전체층
11: 제1 내부전극
11a: 제1 내부전극 적층부
12: 제2 내부전극
12a: 제2 내부전극 적층부
13: 교대 적층부
21~23: 제1 외부전극
24~26: 제2 외부전극

Claims (7)

  1. 길이방향 및 폭방향을 따라 연장되는 제1 및 제2 주면(主面)과, 길이방향 및 적층방향을 따라 연장되는 제1 및 제2 측면과, 폭방향 및 적층방향을 따라 연장되는 제1 및 제2 단면(端面)을 가지는 콘덴서 본체와,
    상기 제1 및 제2 측면 그리고 상기 제1 및 제2 단면 중 적어도 한 면 상에 마련된 제1 외부전극과,
    상기 제1 및 제2 측면 그리고 상기 제1 및 제2 단면 중 적어도 한 면 상이며, 상기 제1 외부전극이 마련된 위치와는 다른 위치에 마련된 제2 외부전극과,
    상기 콘덴서 본체 내에 배치되어 있고, 상기 제1 외부전극에 접속된 제1 내부전극과,
    상기 콘덴서 본체 내에 배치되어 있고, 상기 제2 외부전극에 접속된 제2 내부전극을 포함하며,
    상기 콘덴서 본체는,
    상기 제1 내부전극이 적층방향을 따라 연속하여 3매 이상 적층된 제1 내부전극 적층부와,
    상기 제2 내부전극이 적층방향을 따라 연속하여 3매 이상 적층되어 있고, 적층방향에서 상기 제1 내부전극 적층부와 대향하는 제2 내부전극 적층부를 포함하고,
    적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제1 내부전극 적층부 간의 거리를 상기 제2 내부전극의 두께와 적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제2 내부전극 간의 거리의 합으로 제산(除算)한 값((적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제1 내부전극 적층부 간의 거리)/{(상기 제2 내부전극의 두께)+(적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제2 내부전극 간의 거리)})이 25 이하이고,
    적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제2 내부전극 적층부 간의 거리를 상기 제1 내부전극의 두께와 적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제1 내부전극 간의 거리의 합으로 제산한 값((적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제2 내부전극 적층부 간의 거리)/{(상기 제1 내부전극의 두께)+(적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제1 내부전극 간의 거리)})이 25 이하인 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제1 내부전극 적층부 간의 거리와, 적층방향에서 서로 이웃하는 상기 제2 내부전극 적층부 간의 거리가, 각각 31㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 콘덴서 본체는, 상기 제1 내부전극과 상기 제2 내부전극이 적층방향을 따라 교대로 적층된 교대 적층부를 가지는 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 콘덴서 본체의 상기 제1 주면과 가장 가깝게 배치된 내부전극이 접속되는 외부전극은, 적층방향에서 서로 이웃하는 내부전극이 접속되는 외부전극과 다른 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 콘덴서 본체의 상기 제2 주면과 가장 가깝게 배치된 내부전극이 접속되는 외부전극은, 적층방향에서 서로 이웃하는 내부전극이 접속되는 외부전극과 다른 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 콘덴서 본체가, 상기 제1 내부전극 적층부와 상기 제2 내부전극 적층부가 교대로 11층 이상 적층된 부분을 가지는 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 콘덴서.
KR1020170000163A 2016-02-09 2017-01-02 적층 세라믹 콘덴서 KR101950715B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2016-022549 2016-02-09
JP2016022549A JP2017143129A (ja) 2016-02-09 2016-02-09 積層セラミックコンデンサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170094487A KR20170094487A (ko) 2017-08-18
KR101950715B1 true KR101950715B1 (ko) 2019-02-21

Family

ID=59498051

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170000163A KR101950715B1 (ko) 2016-02-09 2017-01-02 적층 세라믹 콘덴서

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20170229244A1 (ko)
JP (1) JP2017143129A (ko)
KR (1) KR101950715B1 (ko)
CN (1) CN107045936A (ko)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWM527148U (zh) * 2016-03-29 2016-08-11 Yageo Corp 具有多個端電極的積層電容器
JP7180685B2 (ja) * 2018-10-02 2022-11-30 株式会社村田製作所 固体電池
KR102127804B1 (ko) 2018-11-07 2020-06-29 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자부품
JP7361465B2 (ja) * 2018-11-08 2023-10-16 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ
WO2020121967A1 (ja) 2018-12-12 2020-06-18 Jsr株式会社 感光性樹脂組成物、レジストパターン膜の製造方法、およびメッキ造形物の製造方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006073018A1 (ja) * 2005-01-06 2006-07-13 Murata Manufacturing Co., Ltd. 圧電アクチュエータの製造方法及び圧電アクチュエータ

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02137210A (ja) * 1988-11-17 1990-05-25 Nec Corp 積層セラミックコンデンサおよびその製造方法
JP2004342846A (ja) * 2003-05-15 2004-12-02 Tdk Corp 積層セラミックコンデンサ
KR100925603B1 (ko) * 2007-09-28 2009-11-06 삼성전기주식회사 적층형 캐패시터
KR101079464B1 (ko) * 2009-12-22 2011-11-03 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터
KR101197980B1 (ko) * 2010-11-24 2012-11-05 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터용 세라믹 조성물, 이를 포함하는 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법
JP2015153764A (ja) 2014-02-10 2015-08-24 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ、積層セラミックコンデンサ連及び積層セラミックコンデンサの実装構造体
KR20140039016A (ko) * 2014-02-27 2014-03-31 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
KR102097323B1 (ko) * 2014-08-14 2020-04-06 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
JP6550737B2 (ja) * 2014-12-09 2019-07-31 Tdk株式会社 積層セラミックコンデンサ

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006073018A1 (ja) * 2005-01-06 2006-07-13 Murata Manufacturing Co., Ltd. 圧電アクチュエータの製造方法及び圧電アクチュエータ

Also Published As

Publication number Publication date
CN107045936A (zh) 2017-08-15
KR20170094487A (ko) 2017-08-18
US20170229244A1 (en) 2017-08-10
JP2017143129A (ja) 2017-08-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101565640B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법
KR101888551B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서
KR101514512B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법
KR101950715B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서
KR101523630B1 (ko) 적층형 세라믹 전자부품
KR101983129B1 (ko) 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법
KR101496814B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터, 그 제조방법 및 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판
CN111724991B (zh) 层叠陶瓷电容器
KR101565651B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
KR20120133716A (ko) 적층 세라믹 커패시터
KR102015809B1 (ko) 전자부품 및 그 제조 방법
KR20120133717A (ko) 적층 세라믹 커패시터
KR20190011219A (ko) 적층 세라믹 콘덴서
KR101968286B1 (ko) 전자부품
JP2020053577A (ja) 電子部品
KR101434103B1 (ko) 적층 세라믹 전자부품 및 적층 세라믹 전자부품의 실장 기판
KR101872529B1 (ko) 적층 칩 전자부품
US11049651B2 (en) Electronic component and method for manufacturing same
KR101565725B1 (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법
KR20170065444A (ko) 적층 세라믹 전자부품
US11462359B2 (en) Multilayer ceramic capacitor
KR102089704B1 (ko) 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법
KR101535752B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서
KR101556859B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서
KR20230124372A (ko) 적층 세라믹 커패시터

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right