KR101876908B1 - 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법 - Google Patents

디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도를 개선하는 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 디스플레이 패널로 배경 광원을 조사하여 영상를 취득하고, 취득된 영상을 가로와 세로로 방향으로 여러 개로 분할하며, 분활된 영상에서 디스플레이 패널 영역을 식별하며, 식별된 디스플레이 영역에 포함된 모든 화소 유닛들에 대해 결함 여부를 판정하고, 판정된 결함들에 대해 디스플레이 패널의 모서리를 기준으로 위치를 정확하게 산출하여 표시할 수 있는 방법에 관한 것이다.

Description

디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법{ENHANCEMENT METHOD FOR LOCATION ACCURACY OF DISPLAY PANEL DEFECT}
본 발명은 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도를 개선하는 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 디스플레이 패널로 배경 광원을 조사하여 영상를 취득하고, 취득된 영상을 가로와 세로 방향으로 여러 개로 분할하며, 분활된 영상에서 디스플레이 패널 영역을 식별하며, 식별된 디스플레이 영역에 포함된 모든 화소 유닛들에 대해 결함 여부를 판정하고, 판정된 결함들에 대해 디스플레이 패널의 모서리를 기준으로 위치를 정확하게 산출하여 표시할 수 있는 방법에 관한 것이다.
일반적인 디스플레이 패널의 제조공정을 간략하게 설명하면, 글래스에 전극을 형성하여 TFT 글래스를 제조하는 TFT 공정, 글래스에 R,G,B 감광액을 증착시켜 CF 글래스를 제조하는 CF공정, TFT 공정에서 제조된 TFT 글래스와 CF 공정에서 제조된 CF 글래스를 접합시키고 그 사이에 액정을 주입 봉합하는 셀(cell) 공정 및 상기 셀 공정에서 제조된 패널에 편광필름과 PCB 등을 결합하여 일체화시키는 모듈(module) 공정으로 이루어진다.
디스플레이 패널을 제조하는 각 공정에서는 불량 패널이 최종 단계로 진행되는 것을 방지하면서 불량 패널의 발생 원인 및 실시간 공정 개선을 위해 많은 검사들이 중간중간 공정에서 이루어진다. 이에 따라, 결함을 갖는 패널을 중간 제조 과정에서 파악하여 폐기하거나 결함을 수리하여 다음 단계로 진행하여 제품의 불량률을 감소시킴으로써, 수율을 높이고 제품의 신뢰도를 향상시킬 수 있게 된다.
이에, 디스플레이 패널의 결함을 검출하는 다양한 방식이 개발되었으며, 디스플레이 패널의 불량을 검사하는 기술 중의 하나로서 등록특허공보 제10-1068356호에 화상처리를 이용한 디스플레이 패널의 픽셀 불량 검사 방법이 개시되었다.
상기 기술은 디스플레이 패널 내의 각 1개 픽셀 유닛을 A×B개의 스캔픽셀로 촬영 가능한 라인스캔 카메라를 이용하여 디스플레이 패널의 영상을 취득하는 단계와, 영상 중의 각 스캔픽셀들의 밝기값을 분석하여, 문턱치 이상의 스캔픽셀들로 형성된 디스플레이 패널 픽셀 영역과 문턱치 미만의 스캔픽셀들로 형성된 배경영역으로 경계를 구분하는 단계와, 디스플레이 패널 픽셀영역 내에 위치한 스캔픽셀들의 각 행방향마다 최대 밝기값을 갖는 중심점들을 탐색하여, 중심점들이 가장 많이 배치된 특정 열방향을 픽셀의 X방향 중심위치로 결정하고 특정 열방향에 대한 중앙위치를 Y방향 중심위치로 결정하여, 각 픽셀의 중심좌표 x, y를 결정하는 단계와, 중심좌표를 중앙으로 하여 A×B개 스캔픽셀을 갖는 직사각형 영역을 픽셀 부분으로 최종 결정하는 단계 및 디스플레이 패널 내에서 결정된 각 픽셀들의 개별밝기 특성값을 연산하고, 개별 밝기 특성값을 전체 픽셀에 대해 연산된 평균 밝기 특성값과 비교하여 각 픽셀의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하여 이루어진다.
부연하면, 상기 기술은 디스플레이 패널의 개별 픽셀에 대한 결함 여부를 확인할 수 있는 장점이 있으나, 중심점들이 가장 많이 배치된 특정 열방향을 픽셀의 X방향 중심위치로 결정하고 특정 열방향에 대한 중앙위치를 Y방향 중심위치로 결정하여, 결함이 존재하는 경우 밝기 분포의 중심 위치가 검출되지 않거나, 밝기 분포의 값이 변화하는 것을 이용하여 결함을 검출하는 방법에 관한 것이다.
그러나 상기 종래 기술은 결함의 위치를 계산하는 방법이 아니고 디스플레이 패널이 갖는 결함의 존재 유무를 확인하는 것으로서, 결함 자체를 확인할 수 있으나 결함 위치를 확인할 수 없는 문제점이 있다.
한편, 디스플레이 패널에서 결함의 위치를 계산하는 기존 방식 중에서 바둑판 모양의 체크박스 패턴을 디스플레이 패널에 조사하고, 이를 촬영하여 체크박스 패턴의 모서리에 대한 영상 위치 점들을 산출하고, 산출된 점들에 대한 3차 함수를 고정하여 위치를 확인하는 방식이 있으나, 디스플레이 패널을 제조하는 중간 공정 과정에서는 복수 개의 화소를 공통으로 연결하는 공통전극이 결속된 상태이기 때문에 상기 공통전극을 통한 신호의 인가가 국부적으로 제한되므로, 복잡한 형태의 체크박스 패턴을 인가할 수 없어, 체크박스 패턴 방식으로는 패널의 결함 위치를 확인할 수 없는 문제점이 있다.
KR 10-1068356 B1 (2011. 09. 21.)
본 발명은 상기 종래기술이 갖는 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 본 발명에서 해소하고자 하는 과제는 촬영된 영상에 존재하는 디스플레이 패널의 위치에 따른 밝기차 분포를 최소화하기 위해 가로 및 세로 방향으로 영상을 복수 개로 분할하고, 분할된 각각의 영상에서 디스플레이 패널 영역을 식별하고, 디스플레이 패널 영상을 이진화 처리하여 화소유닛의 중심점을 산출한 상태에서, 산출된 상기 중심점에 대해 순차적으로 좌표를 부여하며, 결함으로 판단된 화소유닛에 대해 정확한 좌표값을 산출하여 표시할 수 있는 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법을 제공하는 데 있다.
상기의 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법은 촬영부의 카메라를 이용하여 상기 디스플레이 패널의 영상을 취득하는 촬영단계; 상기 촬영단계에서 촬영된 영상에서 영상 밝기 분포 차이에 근거하여 영상을 가로 및 세로의 복수 개로 분할하는 영상 분할단계; 상기 영상 분할단계에서 분할된 영역별로 화상처리하는 이진화 처리단계; 상기 이진화 처리단계를 통해 화소유닛의 중심점을 계산하는 중심점 산출단계; 상기 중심점 산출단계에서 계산된 중심점들에 화소유닛 좌표를 순차적으로 부여하는 좌표 할당단계; 및 상기 좌표 할당단계에서 결함으로 판단된 화소유닛의 좌표를 표시하는 결함 화소유닛 표시단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 좌표 할당단계에서 부여되는 좌표는 상기 화상정보의 영역에서 디스플레이 패널의 모서리를 기준점으로 설정하고, 디스플레이 패널의 화소유닛들에 대해 X축 및 Y축의 평면 좌표로 순차적으로 계수하여 그 좌표를 부여하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 결함 검출단계에서 검출되는 결함은 상기 화소유닛의 중심점을 산출할 수 없는 경우를 결함으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 불량 화소유닛에 대한 위치를 기준점으로부터 계수하여 디스플레이 패널에서 불량 화소유닛의 위치를 정확하게 확인할 수 있는 장점이 있다.
또한, 체크박스(check box) 패턴을 패널에 조명하지 못하는 디스플레이의 제조 공정에서도 사용할 수 있으므로, 최종적으로 제조된 제품의 불량률을 최소화할 수 있을 뿐만 아니라, 검사에 따른 장치가 간단하여 종래 검사 장치에 쉽게 적용 가능한 장점이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법이 적용된 결함 위치 검출시스템에 대한 개략적인 구성도.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에 대한 흐름도.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 촬영부에 의해 촬영된 디스플레이 패널의 화상정보를 나타낸 도면.
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점을 검출하는 과정을 나타낸 흐름도.
도 5은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 이진화된 영상을 나타낸 도면.
도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점의 좌표 위치를 표현한 도면.
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점을 기준으로 분할영역의 좌표를 표현한 도면.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 더욱 상세하게 설명한다.
본 발명은 디스플레이 패널로 배경 광원을 조사하여 영상를 취득하고, 취득된 영상을 가로와 세로로 방향으로 여러 개로 분할하며, 분활된 영상에서 디스플레이 패널 영역을 식별하며, 식별된 디스플레이 영역에 포함된 모든 화소 유닛들에 대해 결함 여부를 판정하고, 판정된 결함들에 대해 디스플레이 패널의 모서리를 기준으로 위치를 정확하게 산출하여 표시할 수 있는 방법에 관한 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법이 적용된 결함 위치 검출시스템에 대한 개략적인 구성도이다.
첨부된 도 1을 참조하면, 결함 위치 검출시스템은 백라이트부(10), 촬영부(20) 및 결함확인 표시부(30)를 포함하여 구성된다.
백라이트부(10)는 디스플레이 패널(100, 피검물)의 하부에 위치하여 상기 디스플레이 패널에 광원을 조사하는 것으로서, 그 상면에는 편광필름(10A)이 부착된다.
이때, 상기 편광필름(10A)은 여러 방향으로 진동하면서 입사되는 광원을 일측 방향으로만 진동하는 빛으로 출력하는 기능을 수행한다.
또한, 상기 백라이트부(10)에 구비되는 광원모듈은 균일한 광원을 조사하기 위해 지그재그 방식으로 배치될 수 있다.
상기 광원모듈로는 음극형광램프(cold cathode fluorescent lamp) 또는 외부전극형광램프(external electrode fluorescent lamp) 등이 사용될 수 있고, 설계조건에 따라서는 LED(light emitting diode)로도 구성될 수 있다.
한편, 상기 백라이트부(10)의 상부에는 검사 대상물인 디스플레이 패널(100)이 배치된다.
상기 디스플레이 패널(100)은 크게, 상부의 CF 글래스(110)와 하부의 TF 글래스(120) 및 그 사이에 충전되는 액정(130)을 포함하여 구성된다.
상기 CF 글래스(110)에는 상부기판(111) 상에 컬러필터(112), 블랙매트릭스(113), 공통 전극(114) 및 배향막(115)이 구성된다.
상기 TFT 글래스(120)에는 하부기판(121) 상에 TFT 어레이(122), 화소전극(123) 및 배향막(124)이 구성된다
촬영부(20)는 상기 디스플레이 패널의 상부에서 카메라를 이용하여 화상정보에 대한 영상을 취득하는 기능을 수행하는 것으로서, 상기 카메라는 디스플레이 패널 전체를 촬영하거나 확대 영상을 취득하기 위해 디스플레이 패널을 4분할하여 분할된 영상을 취득하도록 구성될 수 있다.
이때, 상기 촬영부(20)에는 편광필름(20A1)이 구비되어 특정된 편광성분은 투과시키면서 특정되지 않은 편광성분은 흡수한다.
여기서, 상기 촬영부(20)의 카메라에 의해서 촬영된 영상에 이용되는 화소 유닛은 카메라의 해상도, 렌즈 배율에 의해서 확대/축소되어 진다.
또한, 상기 카메라는 2차원의 면을 촬상하는 에어리어(area) 이미지 센서로 구성될 수 있다.
결함확인 표시부(30)는 상기 촬영부(10)에서 취득된 영상을 수신하고, 수신된 영상에 근거하여 불량 화소유닛의 위치를 계산하여 표시하는 기능을 수행하는 것으로서, 설정된 로직을 수행하는 프로세서, 메모리, 입/출력장치, 그래픽 인터페이스 및 통신장치 등을 구비한 단말기와 상기 단말기에 설치되어 결함 위치를 계산하는 결함확인용 프로그램을 포함하여 구성될 수 있다.
이하, 결함확인 표시부(30)에서 이루어지는 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에 대해서 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에 대한 흐름도이다.
첨부된 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법은 촬영단계(S10), 영상 분할단계(S20), 이진화 처리단계(S30), 중심점 산출단계(S40), 좌표 할당단계(S50) 및 결함 화소유닛 표시단계(S60)를 포함하여 이루어진다.
1. 촬영단계(S10)
촬영단계(S10)는 촬영부(20, 도 1 참조)의 카메라를 이용하여 디스플레이 패널의 영상을 촬영하는 단계이다.
이때, 촬영된 영상에는 기준점을 설정할 수 있도록 디스플레이 패널 전체 영역이 촬영되거나 적어도 하나의 모서리(가장자리)가 촬영되도록 한다.
2. 영상 분할단계(S20)
영상 분할단계(S20)는 상기 촬영단계(S10)에서 촬영된 영상에서 디스플레이 패널의 영역을 식별하고, 상기 식별된 디스플레이 영역의 밝기 분포 차이를 최소화하여 처리하기 위해 영상의 영역을 가로 및 세로로 분할하는 단계이다.
이때, 분할된 영역의 개수는 설정된 분할개수에 근거하여 분할영역을 제한하도록 구성될 수 있다. 예를 들면, 영상의 분할영역 개수가 100×100으로 설정된 경우, 영상의 영역 중에서 가로 100개의 선과 세로 100개의 선으로 이루어지는 분할영역이 설정되고 나머지 영역은 분할되지 않는 영역으로 구성될 수 있다. 이에, 지정된 영역을 집중적으로 조사할 수 있는 장점이 있다.
여기서, 상기 화소유닛은 디스플레이 패널에서 반복되는 최소 단위로서, R(red), G(green) 및 B(blue)로 이루어지는 각 픽셀의 집합을 의미한다.
일반적으로 화소(픽셀, pixel)는 R, G, B 값을 가지는 막대 형상으로 이루어지는 데, 화소를 구성하는 단위인 작은 점(dot)을 의미한다.
CF 글래스는 복잡한 공정을 통해 제조되나, 개략적으로 글래스에 블랙 매트릭스 패턴을 형성한 후, Red 감광액, Green 감광액 및 Blue 감광액을 순차적으로 증착시키고, 투명전극(ITO, Indium-Tin Oxide)을 도포하여 제조되는 것으로서, 본 발명에서의 화소유닛은 픽셀 3개가 결합된 R(red), G(green) 및 B(blue)로 이루어진 하나의 집합체를 의미한다.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 촬영부에 의해 촬영된 디스플레이 패널의 영상을 나타낸 도면이다.
디스플레이 패널의 일부(국부) 또는 전체에 광원이 조사되는 상태에서 상기 디스플레이 패널을 상부에서 카메라로 촬영하면, G 화소(dot)의 영상 밝기가 가장 밝고 R 화소(dot)의 영상 밝기가 가장 어둡게 나타난다.
즉, 촬영된 영상에서 R, G, B(22)의 집합체인 화소유닛(21) 사이의 밝기 차이에 따라 인접하는 화소유닛들 간의 사이를 구분할 수 있게 된다. 그리고 CF 디스플레이 패널의 block matrix로 인해 상하로 인접한 화소유닛들 간을 구별할 수 있다. 즉 밝기에 의해 좌우 및 상하 사이의 인접 화소유닛들의 밝기분포로 구분할 수 있다.
3. 화상처리단계(S30)
화상처리단계(S30)는 상기 영상 분할단계에서 분할된 영상별로 화상처리 하는 단계이다.
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 화상처리과정을 나타낸 흐름도이다.
첨부된 도 4를 참조하면, 중심점 검출단계(S30)는 이진화 임계값 산출단계(S31), 이진화 단계(S32) 및 중심부 검출단계(S33)를 포함하여 이루어진다.
3-1. 이진화 임계값 산출단계(S31)
이진화 임계값 산출단계(S31)는 상기 분할된 영상에서 디스플레이 패널의 영역을 구별하고 디스플레이 패널 영역에 있는 화소유닛의 영역을 식별하기 위해 이진화를 수행하는 데 따른 이진화 임계값을 산출하는 단계이다.
영상의 이진화는 영상에서 디스플레이 패널과 영상 배경으로 구분하는 효과적인 영상분할 방식으로서, 촬영부의 카메라에서 촬영된 영상이 가지는 복잡한 정보를 본 발명에서 필요로 하는 축약된 소량의 정보로 변환하는 과정이다.
즉, 영상의 이진화는 영상 내의 모든 픽셀을 흑과 백(0과 1)으로 표현하는 것을 의미하는 것으로서, 픽셀당 8비트 기준으로 0 ~ 255 값을 갖는 이미지에 대해 산출된 임계값을 기준으로 임계값 이하는 0을 부여하고, 임계값 초과는 1을 부여하여 각 픽셀을 흑백으로 처리하는 것이다. 여기서 픽셀은 카메라의 의해서 촬영되어 취득된 영상의 최소단위이다.
이때, 화상정보를 이진화하는 방식은 전역적 이진화(global binarization) 또는 지역적 이진화(local binarization) 중에서 선택될 수 있으나, 본 발명에서는 촬영한 영상을 복수 개로 분할하여 각각의 영상에서 한 개의 임계값을 적용하는 지역적 이진화(local binarization) 방식을 적용한다. 여기서, 임계값은 분할된 각 영상에서 최대 밝기값, 최소 밝기값, 밝기 분산값 및 사용자의 설정 입력값에 의해 조절가능하도록 구성될 수 있다.
즉, 본 발명에서 이진화를 수행하기 위한 임계값은 분할된 영역의 픽셀이 n×m이라는 가정하에 분할된 영역내의 각각 픽셀에서 최대 밝기값과 최소 밝기값의 평균 밝기값을 산출하고, 평균 밝기값과 각 픽셀의 밝기값을 이용하여 밝기 분산값을 산출한 다음, 산출된 밝기 분산값에서 일정한 상수(사용자 입력값)를 감산하여 산출되게 된다.
이러한, 임계값 산출 방식에 의해 영상 촬영시의 주변 밝기값과 사용자의 입력값에 따라 이진화처리에 따른 임계값이 산출되기 때문에 이진화를 수행하는 데 따른 최적의 임계값을 산출할 수 있는 장점이 있다.
3-2. 영역별 이진화단계(S32)
영역별 이진화단계(S32)는 상기 이진화 임계값 산출단계에서 산출된 이진화 임계값에 따라 해당 영역의 영상을 이진화하는 단계이다.
본 발명에 적용된 이진화 방식은 화상정보를 복수 개의 영역으로 분할하여 각 영역마다 다른 임계값을 적용하여 이진화하는 것으로서, 도 5는 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 이진화된 영상을 나타낸 도면이다.
이와 같은 영역별 이진화에 의해 영상을 처리하는 방식은 계산 복잡도를 간편하게 하는 장점이 있다. 예를 들어, 24비트의 RGB 화상정보의 경우 1개 픽셀당 24비트 값을 갖게 되어 0 ~ 16,777,216(대략 1,600만)의 정보가 포함되나, 화상정보를 이진화를 처리하면 픽셀당 800만배의 신속한 분석이 가능하다.
3-3. 영역별 중심부 도출단계(S33)
영역별 중심부 검출단계(S33)는 상기 영역별 이진화단계에서 각 영역별로 이진화된 각 화소유닛의 중심부를 도출하는 단계이다.
첨부된 도 5에서 붉은 색 영역은 디스플레이 패널에 존재하는 화소유닛의 G 화소(dot)에 대한 검출 영역을 나타낸 것이다.
4. 중심점 산출단계(S40)
중심점 검출단계(S40)는 상기 이진화단계(S30)에서 분할된 영상에서 도출된 G 화소(dot)의 중심부에 근거하여 최종적으로 중심부에 대한 중심점을 산출하는 단계이다.
도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점의 좌표 위치를 표현한 도면이다.
이때, 디스플레이 패널에 결함이 존재할 경우, 결함 부분에 있는 화소유닛들은 중심점을 산출할 수 없게 된다.
즉, 중심부로 검출된 G화소에 근거하여 중심점을 산출하는 과정에서 결함이 발생되면, 중심점을 산출할 수 없게 되고, 중심점이 산출되지 않는 것으로 판단되면 이를 화소유닛 빠짐의 결함으로 판단되도록 구성된다.
또한, G화소의 중심점이 이웃하는 중심점들과 위치를 비교하여 해당 G화소의 중심점이 이웃하는 중심점들의 위치와 직선상에 위치하지 않는 경우에는 화소유닛의 위치 결함으로 판단되도록 구성된다. 부연하면, 화소유닛의 위치 결함은 인접 중심점들의 위치정보에 근거하여 산출되도록 구성된다.
이에, 상기 화소유닛 빠짐의 결함 또는 화소유닛 위치 결함으로 판단되는 경우, 이에 대한 정보가 표시되도록 구성된다.
설계조건에 따라서, 상기 화소유닛 빠짐의 결함 또는 화소유닛 위치 결함으로 판단되는 경우에는 정확성을 위해 재계산하도록 구성될 수 있다.
5. 좌표 할당단계(S50)
좌표 할당단계(S50)는 상기 중심점 산출단계(S40)에서 산출된 중심점에 좌표를 부여하는 단계이다.
상기 좌표 할당단계에서 할당되는 좌표의 순서는 디스플레이 영역으로 판단되는 기준점(예를 들면, 모서리)으로부터 순차적으로 할당되도록 구성될 수 있다. 이때, 기준점은 촬영된 영상에서 디스플레이 영역으로 판단되는 좌상, 우상, 좌하 또는 우하 모서리 중에서 영상에 존재하는 모서리로 선택될 수 있고, 선택된 모서리를 기준으로 (0, 0), (1, 1) 및 (n, m) 순으로 순차적으로 할당될 수 있다.
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법에서 중심점을 기준으로 분할영역의 좌표를 표현한 도면이다.
여기서, 도 6을 참조하면, 각 화소유닛의 중심점에 대해 1개의 점으로 표시되고, 표시되는 점들은 좌우, 상하로 정렬된 구조를 갖는다.
즉, 첨부된 도 6에서 각각의 점들은 하나의 화소유닛의 좌표를 갖는 것으로서, 첨부된 도 6에서와 같이 좌상을 기준으로 촬영된 영상에서는 좌측 최상의 좌표를 (0, 0)으로 설정되고, 가로축으로 (1, 0), (2, 0)의 순서로 좌표가 부여되고, 세로축으로는 (0, 0)을 기준으로 (0, 1), (0, 2)의 순서로 좌표가 부여된다.
이런 방식을 통해 촬영된 영상에 대해 전체 화소유닛들에 대해 좌표가 할당될 수 있다.
6. 결함 화소유닛 표시단계(S60)
결함 화소유닛 표시단계(S60)는 상기 좌표 할당단계(S50)에서 할당된 불량 화소유닛에 대해 정확한 위치 좌표를 표시하는 단계이다. 이와 더불어 상기 좌표 할당단계(S50)에서 중심점을 찾을 수 없는 화소유닛이 존재하는 경우로 판단하고 결함으로 인식한다.
본 발명에 의하면, 화소유닛에 대한 결함 검출과 결함 위치 계산을 분할 영상에서 개별적으로 분석함에 따라, 결함이 존재하는 화소유닛의 위치를 확인하고 위치 오차를 제거할 수 있는 장점이 있다.
또한, 체크박스(check box) 패턴을 패널에 조명하지 못하는 중간 공정에서도 이 방법을 사용할 수 있으므로, 최종적으로 제조된 제품의 불량률을 최소화할 수 있고, 검사에 따른 장치가 간단하여 종래 검사 장치에 쉽게 적용 가능한 장점이 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명하였으나, 본 발명의 권리범위는 이에 한정되지 아니하며 본 발명의 실시 예와 실질적으로 균등한 범위에 있는 것까지 본 발명의 권리범위가 미치는 것으로 이해되어야 하며, 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형 실시가 가능하다.
100: 디스플레이 패널
10: 백라이트부
20: 촬영부
30: 결함검출부

Claims (3)

  1. 디스플레이 패널의 하부에서 광원을 조사하는 백라이트부와 상기 디스플레이 패널의 상부에서 카메라를 이용하여 영상을 취득하는 촬영부 및 상기 촬영부에서 취득된 영상에 근거하여 불량 화소유닛을 검출하고, 검출된 불량에 대한 결함 위치 정확도를 개선하는 방법에 있어서,
    상기 촬영부의 카메라를 이용하여 상기 디스플레이 패널의 전체 영역 또는 적어도 하나의 모서리가 촬영되도록 영상을 취득하는 촬영단계;
    상기 촬영단계에서 촬영된 영상에서 영상 밝기 분포 차이에 근거하여 영상을 가로 및 세로의 복수 개로 분할하는 영상 분할단계;
    상기 영상 분할단계에서 분할된 영역별로 화상처리하는 이진화 처리단계;
    상기 이진화 처리단계를 통해 화소유닛의 중심점을 계산하는 중심점 산출단계;
    상기 중심점 산출단계에서 계산된 중심점들에 화소유닛 좌표를 순차적으로 부여하는 좌표 할당단계; 및
    상기 좌표 할당단계에서 결함으로 판단된 화소유닛 좌표를 표시하는 결함 화소유닛 표시단계;
    를 포함하여 구성되고,
    상기 이진화 처리단계에서 이진화를 수행하기 위한 임계값은,
    분할된 영역내의 각각 픽셀에서 최대 밝기값과 최소 밝기값의 평균 밝기값을 산출하고, 평균 밝기값과 각 픽셀의 밝기값을 이용하여 밝기 분산값을 산출한 다음, 산출된 밝기 분산값에서 상수를 감산하여 산출되며,
    상기 임계값은 분할된 각 영상에서 최대 밝기값, 최소 밝기값, 밝기 분산값 및 사용자의 설정 입력값에 의해 조절가능하도록 구성되고,
    상기 좌표 할당단계에서 부여되는 좌표는,
    분할된 상기 영역에서 디스플레이 패널의 좌상, 우상, 좌하 또는 우하 모서리 중에서 영상에 존재하는 모서리를 기준점으로 설정하고, 디스플레이 패널의 화소유닛들에 대해 X축 및 Y축의 평면 좌표로 순차적으로 계수하여 그 좌표를 부여하고,
    상기 결함 화소유닛 표시단계에서 검출되는 결함은,
    상기 화소유닛의 중심점을 산출할 수 없는 경우를 결함으로 판단하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법.
  2. 삭제
  3. 삭제
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