CN114354622B - 显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质。采集显示屏的显示屏图像，并提取所述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息；根据所述显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值；根据所述显示颗粒的灰度值和所述显示颗粒的实际位置信息，将所述显示颗粒拼接成灰度拼接图像；根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷。根据显示屏图像上的显示颗粒信息，检测显示屏是否存在缺陷，避免了人工检测显示屏缺陷导致的检测误差，提高了检测效率和检测精度。

Description

显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质

技术领域

本发明实施例涉及显示屏检测领域，尤其涉及一种显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质。

背景技术

随着显示技术的发展，在传统的LCD与OLED显示技术之外，市场出现了基于microLED的显示屏。其原理是，将微米等级的RGB三色MicroLED芯片转移到基板上，以此形成各种尺寸的MiniLED显示器。在显示屏芯片转移的过程中，会出现转移不稳定的情况，比如受制于车间洁净度、制作工艺等原因，导致被转移的芯片无法正常点亮，出现亮度变弱、甚至不亮的情况。对这种亮度不满足标准的产品需要分辨出来，进行维修或作为废品报废处理。因此，如何在芯片转移后检测显示屏是否出现缺陷，是需要解决的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质，以自动化的检测显示屏的缺陷，提高显示屏缺陷检测的效率和准确性。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示屏的缺陷检测方法，该方法包括：

采集显示屏的显示屏图像，并提取所述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息；

根据所述显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值；

根据所述显示颗粒的灰度值和所述显示颗粒的实际位置信息，将所述显示颗粒拼接成灰度拼接图像；

根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示屏的缺陷检测装置，该显示屏的缺陷检测装置包括：

实际位置信息提取模块，用于采集显示屏的显示屏图像，并提取所述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息；

显示颗粒灰度值确定模块，用于根据所述显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值；

灰度拼接图像获取模块，用于根据所述显示颗粒的灰度值和所述显示颗粒的实际位置信息，将所述显示颗粒拼接成灰度拼接图像；

显示屏缺陷检测模块，用于根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示屏的缺陷检测设备，该设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本发明任意实施例所述的显示屏的缺陷检测方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例所述的显示屏的缺陷检测方法。

本发明实施例通过提供一种显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质。通过采集显示屏图像，为显示屏图像上的显示颗粒设置显示颗粒区域，获取显示颗粒区域的灰度值，再按照显示颗粒的实际位置将显示颗粒区域拼接成灰度拼接图像，根据灰度拼接图像判断显示屏是否存在缺陷。解决了在显示屏芯片转移过程中出现损坏而无法及时通过人工查询出显示屏缺陷并针对显示屏缺陷及时修护显示屏，且人工检测显示屏缺陷可能出现检测结果不准确的问题。通过划分显示颗粒区域，根据显示颗粒拼接出的灰度拼接图像确认显示屏上是否存在异常显示颗粒，并确定显示屏是否存在缺陷，可以及时并准确的检测显示屏是否存在缺陷，并可以根据灰度拼接图像定位显示屏上存在缺陷的显示颗粒的位置，方便后续对显示屏进行维修。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的一种显示屏的缺陷检测方法流程图；

图2为本发明实施例提供的采用图像采集设备采集显示屏图像示意图；

图3为本发明实施例提供的显示屏的图像示意图；

图4为本发明实施例提供的采用阈值分割方法确定显示颗粒的位置点的示例图；

图5为本发明实施例提供的显示颗粒区域设置示例图；

图6为本发明实施例二提供的一种显示屏的缺陷检测方法流程图；

图7为本发明实施例提供的带有靶标的显示屏图像示例图；

图8为本发明实施例提供的一种显示屏图像上的显示颗粒旋转校正示例图；

图9为本发明实施例三提供的一种显示屏的缺陷检测方法流程图；

图10为本发明实施例四提供的一种显示屏的缺陷检测装置的结构示意图；

图11为本发明实施例五提供的一种显示屏的缺陷检测设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的一种显示屏的缺陷检测方法流程图，本实施例可适用于如何对显示屏进行缺陷检测的情况，尤其适用于通过显示屏上显示颗粒的灰度值对显示屏进行缺陷检测的情况。该方法可以由本发明实施例提供的显示屏的缺陷检测装置来执行，该装置可以采用软件和/或硬件的方式来实现。该装置可配置于终端设备/服务器中，该方法具体包括：

S110、采集显示屏的显示屏图像，并提取显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息。

其中，显示屏是指LED显示屏，LED显示屏是一种平板显示器，由小的LED模块面板组成，用来显示文字、图像和视频等各种信息的设备。显示颗粒是指可以通过改变灰度值形成显示屏图像的发光颗粒，例如LED灯。

具体的，采用图像采集设备采集显示屏的图像，图2为本发明实施例提供的采用图像采集设备采集显示屏图像示意图,如图2所示，其中，10为图像采集设备；20为待检测的显示屏。图像采集设备采集到的显示屏图像如图3所示，图3(a)为图像采集设备采集到的显示屏图像，图3(b)为图3(a)中虚线部分的放大示意图。显示屏的图像上包含显示屏上所有的显示颗粒，且每个显示颗粒成像清晰一致，显示颗粒之间无粘连。获取到显示屏的图像后，可以在显示屏图像上设置一个坐标系，进一步获得显示颗粒在坐标系中的显示颗粒坐标点，显示颗粒坐标点可以作为显示颗粒的实际位置信息。

示例性的，可以采用阈值分割方法获取到显示屏图像上的显示颗粒的位置点。根据显示屏图像可得到显示屏每排上显示颗粒数量m和每列上的显示颗粒数量n。在显示屏图像上生成均匀分布的m条横线和n条纵线，生成的横线与纵线的交点作为显示颗粒的位置点。图4为本发明实施例提供的采用阈值分割方法确定显示颗粒的位置点的示例图。其中，图4(a)为在显示屏图像上生成n条纵线的示例图；图4(b)为在显示屏图像上生成m条横线的示例图；图4(c)中的点为显示颗粒的位置点。

优选的，图像采集设备可以是面阵相机，面阵相机可以方便的读取更多的显示屏信息，包括显示屏的面积、形状、尺寸、显示颗粒的位置和显示颗粒的温度。通过面阵相机可以对显示屏直视成像，保证每个显示颗粒都可以被面阵相机采集到。在采集显示颗粒的图像时，保证显示颗粒亮度适中，不会产生过度曝光的情况，采集到的显示屏图像中的显示颗粒行列间距不小于10个相机像素。采集到显示屏的显示屏图像后，可以以显示屏图像左上方的顶点作为坐标原点建立坐标系，根据坐标系提取显示屏图像中显示颗粒的位置点的坐标，将显示颗粒的位置点的坐标作为显示颗粒的实际位置信息。

S120、根据显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值。

其中，显示颗粒区域是指根据显示颗粒的大小和亮度划分的，将显示颗粒完全包裹在内的区域，不同的显示颗粒区域不发生重合。显示颗粒区域的形状和大小可以根据显示屏的实际情况设置。

优选的，本步骤可以根据显示颗粒的位置信息，设置包围所述显示颗粒的圆形区域，作为显示颗粒区域；确定显示颗粒区域的灰度值。

具体的，可以以显示颗粒的中心点为圆心设置一个可以将显示颗粒完全包裹在内的圆形区域，如图5所示，图5为本发明实施例提供的显示颗粒区域设置示例图。其中，黑色圆点代表显示屏图像中的显示颗粒，以显示颗粒的中心点为圆心，为显示屏图像上的显示颗粒设置圆形的显示颗粒区域，圆环包围的区域为显示颗粒区域。显示颗粒区域的半径大小可根据显示器的尺寸、成像条件和像素颗粒大小进行设置。灰度是指显示颗粒的亮度，即显示颗粒显示出的色彩的深浅程度。获取到显示颗粒的实际位置信息后，根据显示颗粒的实际位置信息，和显示颗粒行列间距设置可以将显示颗粒完全包裹在内的显示颗粒区域，每一个显示颗粒设置一个显示颗粒区域，并通过计算机设备分析得到显示颗粒区域的平均灰度值，可以将通过计算设备得到的显示颗粒区域的平均灰度值，以显示颗粒区域的平均灰度值作为显示颗粒区域的灰度值。

示例性的，以显示屏图像左上角的顶点为坐标原点，在显示屏图像上设置一个坐标系。若根据设置的坐标系获取到显示屏上某一显示颗粒的实际位置信息为(1,1)，显示屏图像中的显示颗粒行列间距为10个相机像素，则可以根据这一显示颗粒的实际位置信息(1,1)作为圆心，设置一个半径大于0小于或等于5个相机像素的圆形显示颗粒区域包围住显示颗粒，通过计算机设备求得这一显示颗粒区域的平均灰度值，这一显示颗粒区域的平均灰度值作为这一显示颗粒所在的显示颗粒区域的灰度值。

S130、根据显示颗粒的灰度值和显示颗粒的实际位置信息，将显示颗粒拼接成灰度拼接图像。

其中，灰度拼接图像是指将显示屏中所有的显示颗粒区域按照灰度值生成显示颗粒的灰度图像，并将显示颗粒区域的灰度图像进行拼接得到的完整的可以显示出显示屏中每一个显示颗粒灰度的图像。

优选的，灰度拼接图像的获取方式可以是，根据显示颗粒的实际位置信息对显示颗粒进行拼接，得到颗粒拼接图像；根据显示颗粒区域的灰度值，对颗粒拼接图像中显示颗粒进行灰度赋值，得到灰度拼接图像。

具体的，在确定显示颗粒的实际位置信息后，可以将显示屏上显示颗粒所在的显示颗粒区域提取出来，提取出的显示颗粒区域的平均灰度值作为显示颗粒区域中显示颗粒的灰度值。再将提取出的显示颗粒区域按照显示颗粒的实际位置信息的排列顺序排列拼接，拼接后的到的由显示颗粒区域组成的显示颗粒区域图像，再根据每一个显示颗粒的灰度值为显示颗粒区域图像上的显示颗粒区域进行灰度赋值，完成灰度赋值后的显示颗粒区域图像作为灰度拼接图像。构成灰度拼接图像的每一个显示颗粒灰度图像的灰度值和显示颗粒灰度图像对应的显示颗粒实际位置存储在计算机设备中。

示例性的，在确定显示颗粒的实际位置信息后，可以根据显示颗粒的实际位置信息为显示颗粒标号，显示颗粒的标号可以是(x,y)，其中x和y均为正整数，x表示显示颗粒所在的行数，y表示显示颗粒所在的列数。根据显示颗粒的标号将显示颗粒灰度图像拼接为灰度拼接图像，显示颗粒标号为(m,n)的显示颗粒在灰度拼接图像中位于灰度拼接图像的第m行第n列。其中，m为小于x的正整数，n为小于y的正整数。

根据显示颗粒的实际位置信息获得灰度拼接图像，可以在检测到灰度拼接图像上存在异常灰度值的异常显示颗粒时，获得异常显示颗粒在显示屏图像上的实际位置信息，并根据实际位置信息定位到显示屏上的异常显示颗粒，方便对异常显示颗粒进行维修处理。

S140、根述灰度拼接图像判断显示屏是否存在缺陷。

其中，显示屏存在的缺陷可以是，显示屏上存在亮度异常的显示颗粒、显示屏大面积亮度异常。例如，可以采用视觉处理算法处理灰度拼接图像，根据处理结果判断显示屏是否存在缺陷。

优选的，本步骤可以根据灰度拼接图像中显示颗粒的灰度值判断显示屏是否存在缺陷。具体的，可以通过如下子步骤实现：

S1401、确定灰度拼接图像中显示颗粒的灰度值。

其中，可以将显示颗粒区域的灰度值作为显示颗粒的灰度值。

具体的，为显示屏中的显示颗粒设置显示颗粒区域后，通过计算机设备分析得到显示颗粒区域的平均灰度值，可以将通过计算设备得到的显示颗粒区域的平均灰度值，以显示颗粒区域的平均灰度值作为显示颗粒区域的灰度值。

S1402、根据显示颗粒的灰度值判断显示屏是否存在缺陷。

具体的，预先设置显示屏上显示颗粒的正常灰度值范围，获得灰度拼接图像后，将组成灰度拼接图像的每一个显示颗粒的实际位置信息、显示屏上显示颗粒的正常灰度值范围和显示颗粒的灰度值作为视觉处理算法的输入，通过视觉处理算法计算出显示屏上显示颗粒的灰度值是否在正常灰度值范围，灰度值在正常灰度值范围的显示颗粒为正常显示颗粒，灰度值不在正常灰度值范围的显示颗粒为异常显示颗粒。根据视觉处理算法的输出结果获得显示屏上是否存在异常显示颗粒，并获取到异常显示颗粒的实际位置信息和正常显示颗粒在显示屏上显示颗粒中的占比。进一步的，可以根据异常显示颗粒的实际位置信息定位到显示屏中的异常显示颗粒，修复显示屏中的异常显示颗粒。

可选的，还可以根据正常显示颗粒在显示屏上显示颗粒中的占比确定显示屏的级别。例如可以确定正常显示颗粒在显示屏上显示颗粒中的占比为100％的显示屏为AA级显示屏；正常显示颗粒在显示屏上显示颗粒中的占比为小于100％且大于等于98％的显示屏为A级显示屏；正常显示颗粒在显示屏上显示颗粒中的占比为小于98％且大于等于95％的显示屏为B级显示屏；正常显示颗粒在显示屏上显示颗粒中的占比为小于95％且大于等于92％的显示屏为C级显示屏；正常显示颗粒在显示屏上显示颗粒中的占比为小于92％的显示屏为D级显示屏。

示例性的，还可以通过显示屏缺陷检测方法检测是否存在显示屏大面积亮度异常的情况。预先设置灰度拼接图像的正常灰度值范围，获得灰度拼接图像后，通过显示屏缺陷检测方法检测灰度拼接图像上不满足正常灰度值范围的面积在灰度拼接图像上的所占比例，即异常灰度值面积所占比例，根据异常灰度值面积所占比例确定显示屏的级别。例如可以确定异常灰度值面积所占比例为0％的显示屏为AA级显示屏；异常灰度值面积所占比例小于2％且大于0％的显示屏为A级显示屏；异常灰度值面积所占比例小于4％且大于等于2％的显示屏为B级显示屏；异常灰度值面积所占比例小于6％且大于等于4％的显示屏为C级显示屏；异常灰度值面积所占比例大于4％的显示屏为D级显示屏。

根据显示颗粒的灰度值判断显示屏是否存在缺陷，可以通过视觉处理算法判断显示屏上是否存在灰度值异常的显示颗粒，以及判断显示屏上是否存在大面积过亮或者过暗的问题，无需人为检测，就可以获得较认为检测更加准确的显示屏缺陷检测结果。相对于显示屏图像，灰度拼接图像存在较少的与显示颗粒灰度无关的冗余信息，通过灰度拼接图像检测显示屏是否存在缺陷可以使检测过程不受冗余信息的干扰，从而获得更准确的显示屏的缺陷检测结果。

本实施例提供的技术方案，通过采集显示屏图像，为显示屏图像上的显示颗粒设置显示颗粒区域，获取显示颗粒区域的灰度值，再按照显示颗粒的实际位置将显示颗粒区域拼接成灰度拼接图像，根据灰度拼接图像判断显示屏是否存在缺陷。解决了在显示屏芯片转移过程中出现损坏而无法及时通过人工查询出显示屏缺陷并针对显示屏缺陷及时修护显示屏，且人工检测显示屏缺陷可能出现检测结果不准确的问题。通过划分显示颗粒区域，根据显示颗粒拼接出的灰度拼接图像确认显示屏上是否存在异常显示颗粒，并确定显示屏是否存在缺陷，可以及时并准确的检测显示屏是否存在缺陷，并可以根据灰度拼接图像定位显示屏上存在缺陷的显示颗粒的位置，方便后续对显示屏进行维修。

实施例二

图6为本发明实施例二提供的一种显示屏的缺陷检测方法流程图，本实施例在上述实施例的基础上进行了优化，给出了在提取显示屏图像中显示颗粒的位置信息时，先对采集到的显示屏图像进行校正，根据校正后的显示屏图像确定显示颗粒的位置信息的优选实施例。具体的，如图6所示，本实施例提供的显示屏的缺陷检测方法可以包括：

S210、采集带有靶标的图像，根据靶标的位置计算显示屏图像的偏移角度。

其中，靶标是指用于精准的定位显示屏上显示颗粒位置的基准点。显示屏图像的偏移角度是指在使用图像采集设备采集显示屏图像时，可能会出现采集到的显示屏图像存在一定的旋转偏移，旋转偏移使得显示屏上的显示颗粒行列在显示屏图像中不是横平竖直状态，因此可以在提取显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息之前，对显示屏进行旋转校正，使显示屏上的显示颗粒行列在显示屏图像中是横平竖直状态，再根据旋转校正后的显示屏图像确定显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息。显示颗粒组成的显示颗粒行与水平面存在一定的夹角，显示颗粒组成的显示颗粒行与水平面之间的夹角即偏移角度。

具体的，在显示屏两侧各设置一个靶标，两个靶标距离显示屏底边的长度相同，再采用图像采集设备采集带有靶标的显示屏图像，图7为本发明实施例提供的带有靶标的显示屏图像示例图，如图7所示，其中靶标上带有“+”标记。获取到带有靶标的显示屏图像后，将带有靶标的显示屏图像输入到计算机设备中，通过模板匹配算法获取到靶标的位置信息，根据两个靶标的高度差值和水平距离差值，计算出显示屏图像的偏移角度。例如，以显示屏中心点为原点建立正交坐标系，正交坐标系的横坐标和水平面平行。两个靶标在正交坐标系中的坐标分别为(X1，Y1)和(X2，Y2)，则显示屏图像的偏移角度为：

S220、根据偏移角度对显示屏图像进行反向旋转，得到校正后的显示屏图像。

其中，对显示屏图像进行反向旋转时，将显示屏中心点作为旋转中心。将显示屏按照旋转中心进行旋转，旋转方向与显示屏图像偏移方向相反。例如计算得到偏移角度为β，则对显示屏图像进行旋转时，旋转角度为-β。

示例性的，如图8所示，图8为本发明实施例提供的一种显示屏图像上的显示颗粒旋转校正示例图。以显示屏中心点为原点建立正交坐标系，正交坐标系的横坐标和水平面平行。P0为显示屏旋转校正之前显示屏上一个显示颗粒在正交坐标系中的位置坐标，坐标为(X0,Y0)。计算得到偏移角度为β，P为显示屏旋转校正之后这一显示颗粒在正交坐标系中的位置坐标。若R为P或P0点到正交坐标系原点的距离，则P点在正交坐标系中的横坐标Px和P点在正交坐标系中的纵坐标Py的计算公式为：

Px＝R*cos(α+β)

Py＝R*sin(α+β)

其中，R*cosα＝X0，R*sinα＝Y0，

Px＝X0*cosβ-Y0*sinβ

Py＝Y0*cosβ+X0*sinβ

进一步的，对以正交坐标系任意点作为旋转中心的显示颗粒，旋转校正后在正交坐标系中的位置，均可先将旋转中心点作为原点，在对显示颗粒进行旋转校正，旋转校正后再计算旋转校正之后的显示颗粒在正交坐标系中的坐标，以旋转中心为正交坐标系上的坐标点(a,b)为例，P点在正交坐标系中的横坐标Px和P点在正交坐标系中的纵坐标Py的计算公式为：

Px-a＝(X0-a)*cosβ-(Y0-b)*sinβ

Py-b＝(Y0-b)*cosβ+(X0-a)*sinβ

整理后得，

Px＝(X0-a)*cosβ-(Y0-b)*sinβ+a

Py＝(Y0-b)*cosβ+(X0-a)*sinβ+b

因此，对显示屏图像上的每一个显示颗粒，均进行旋转校正，并得到校正后显示颗粒在正交坐标系中的位置，根据显示屏图像上每一个显示颗粒在正交坐标系中的位置，得到校正后的显示屏图像。

S230、提取校正后的显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息。

具体的，以校正后的显示屏图像左上角作为坐标原点，建立显示屏坐标系，根据显示屏坐标系提取校正后的显示屏图像上的显示颗粒在显示屏坐标系中的坐标，作为显示颗粒的实际位置信息。

S240、根据显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值。

S250、根据显示颗粒的灰度值和显示颗粒的实际位置信息，将显示颗粒拼接成灰度拼接图像。

S260、根据灰度拼接图像判断显示屏是否存在缺陷。

本实施例的技术方案，在显示屏两侧设置靶标，采集带有靶标的显示屏图像，根据靶标计算采集到的显示屏图像的偏移角度，再根据偏移角度对存在偏移的显示屏图像进行反向旋转校正，再提取校正后的显示屏图像上显示颗粒的实际位置信息。解决了在采集显示屏图像时，由于图像采集设备和显示屏的位置关系导致采集到的显示屏图像存在一定的旋转偏移，使得根据显示屏图像提取出的显示颗粒的实际位置信息不准确的问题。实现了通过设置靶标的方式对计算显示屏图像的偏移角度，并根据偏移角度对显示屏进行校正，在校正后的显示屏图像中提取显示颗粒的位置信息，得到更加精准的显示颗粒位置信息，减少显示颗粒位置信息提取误差的效果。

实施例三

图9为本发明实施例三提供的一种显示屏的缺陷检测方法流程图，本实施例在上述实施例的基础上进行了优化，给出了根据显示颗粒的数量确定显示颗粒的坐标点，生成坐标点图，并根据显示颗粒的坐标点图判断显示屏是否存在缺陷的优选实施例。具体的，如图9所示，本实施例提供的显示屏的缺陷检测方法可以包括：

S310、采集显示屏的显示屏图像，并提取显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息。

S320、根据显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值。

S330、根据显示颗粒的灰度值和显示颗粒的实际位置信息，将显示颗粒拼接成灰度拼接图像。

S340、根据显示颗粒的位置信息，确定显示颗粒的数量。

具体的，可以采用阈值分割方法获取到显示屏图像上的显示颗粒的位置点，确定显示颗粒位置点的数量为显示屏上显示颗粒的数量。

S350、确定灰度拼接图像的长度和宽度。

具体的，将将显示颗粒拼接成灰度拼接图像时，在显示颗粒位置点处检测到显示颗粒区域的灰度值为零时，也将灰度值为零的显示颗粒区域按照显示颗粒的实际位置信息拼接进灰度拼接图像。将显示颗粒区域的灰度图像进行拼接得到灰度拼接图像后，通过计算机设备分析得到灰度拼接图像的长度和宽度。

S360、根据显示颗粒的数量，以及灰度拼接图像的长度和宽度确定显示颗粒的坐标点，并生成坐标点图。

具体的，根据灰度拼接图像的长度和宽度，以灰度拼接图像上任意点为原点，设置灰度图像坐标系。可选的，坐标系上的基础单位可以是像素。灰度拼接图像坐标系中每一个坐标点对应一个显示颗粒，根据显示屏每排上显示颗粒数量和每列上的显示颗粒数量确定显示颗粒在灰度拼接图像上的坐标点，并在灰度拼接图像上将每一个显示颗粒的坐标点进行标注，生成坐标点图。

S370、根据坐标点图判断显示屏是否存在缺陷。

具体的，坐标点图上标注的每一个坐标点对应一个显示颗粒，预先设置显示屏上显示颗粒的正常灰度值范围，并确定每一个坐标点上的灰度值。灰度值不在显示颗粒的正常灰度值范围的坐标点所对应的显示颗粒为存在缺陷的显示颗粒，并统计存在缺陷的显示颗粒数目，可以根据存在缺陷的显示颗粒的数目判断显示屏是否存在缺陷。

示例性的，可以确定存在缺陷的显示颗粒数目为0的显示屏为AA级显示屏；存在缺陷的显示颗粒数目小于2且大于0的显示屏为A级显示屏；存在缺陷的显示颗粒数目小于4且大于等于2的显示屏为B级显示屏；存在缺陷的显示颗粒数目小于6且大于等于4的显示屏为C级显示屏；存在缺陷的显示颗粒数目大于4的显示屏为D级显示屏。可以根据实际需求确定具体哪一等级的显示屏为存在缺陷的显示屏。例如可以预设B级显示屏以下的显示屏为存在缺陷的显示屏，若检测到显示屏上存在缺陷的显示颗粒数目为4，则显示屏存在缺陷。

进一步的，还可以预先将显示颗粒在坐标点图上的坐标和显示颗粒的实际位置信息的对应关系存储在计算机设备中，并根据显示颗粒在坐标点图上的坐标和显示颗粒的实际位置信息的对应关系，在显示屏图像上定位存在缺陷的显示颗粒，并对存在缺陷的显示颗粒进行维修或更换操作。

本实施例的技术方案，根据显示颗粒的数量确定灰度拼接图像的长度和宽度，并在灰度拼接图像上标注显示颗粒的坐标点，根据坐标点图上每一个坐标点对应的灰度值判断显示屏是否存在缺陷。解决了在对显示屏进行缺陷检测时，无法精准的获得显示屏上每一个显示颗粒灰度值的问题。实现了根据坐标点图获取到显示屏上每一个显示颗粒灰度值，并确定显示屏上存在缺陷的显示颗粒数目的效果。

实施例四

图10为本发明实施例四提供的一种显示屏的缺陷检测装置的结构示意图，本实施例可适用于对显示屏缺陷进行检测的情况，如图10所示，该显示屏的缺陷检测装置包括：实际位置信息提取模块410、显示颗粒灰度值确定模块420、灰度拼接图像获取模块430、显示屏缺陷检测模块440。

其中，实际位置信息提取模块410，用于采集显示屏的显示屏图像，并提取显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息；

显示颗粒灰度值确定模块420，用于根据显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值；

灰度拼接图像获取模块430，用于根据显示颗粒的灰度值和显示颗粒的实际位置信息，将显示颗粒拼接成灰度拼接图像；

显示屏缺陷检测模块440，用于根据灰度拼接图像判断显示屏是否存在缺陷。

本实施例提供的技术方案，通过采集显示屏图像，为显示屏图像上的显示颗粒设置显示颗粒区域，获取显示颗粒区域的灰度值，再按照显示颗粒的实际位置将显示颗粒区域拼接成灰度拼接图像，根据灰度拼接图像判断显示屏是否存在缺陷。解决了在显示屏芯片转移过程中出现损坏而无法及时通过人工查询出显示屏缺陷并针对显示屏缺陷及时修护显示屏，且人工检测显示屏缺陷可能出现检测结果不准确的问题。通过划分显示颗粒区域，根据显示颗粒拼接出的灰度拼接图像确认显示屏上是否存在异常显示颗粒，并确定显示屏是否存在缺陷，可以及时并准确的检测显示屏是否存在缺陷，并可以根据灰度拼接图像定位显示屏上存在缺陷的显示颗粒的位置，方便后续对显示屏进行维修。

其中，实际位置信息提取模块410，还包括：

偏移角度计算单元，用于采集带有靶标的图像，根据靶标的位置计算显示屏图像的偏移角度；

显示屏图像校正单元，用于根据偏移角度对所述显示屏图像进行反向旋转，得到校正后的显示屏图像；

位置信息提取单元，用于提取校正后的显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息。

示例性的，显示屏缺陷检测模块440，可以具体用于：

根据显示颗粒的位置信息，确定显示颗粒的数量；

确定灰度拼接图像的长度和宽度；

根据显示颗粒的数量，以及灰度拼接图像的长度和宽度确定显示颗粒的坐标点，并生成坐标点图；

根据坐标点图判断显示屏是否存在缺陷。

示例性的，灰度拼接图像获取模块430，还具体用于：

根据显示颗粒的实际位置信息对显示颗粒进行拼接，得到颗粒拼接图像；

根据显示颗粒区域的灰度值，对颗粒拼接图像中显示颗粒进行灰度赋值，得到灰度拼接图像。

示例性的，显示颗粒灰度值确定模块420，还包括：

显示颗粒区域确定单元，用于根据显示颗粒的位置信息，设置包围显示颗粒的圆形区域，作为显示颗粒区域；

显示颗粒区域灰度值确定单元，用于确定显示颗粒区域的灰度值。

示例性的，显示屏缺陷检测模块440，还用于：

确定灰度拼接图像中显示颗粒的灰度值；

根据显示颗粒的灰度值判断显示屏是否存在缺陷。

本实施例提供的显示屏的缺陷检测装置可适用于上述任意实施例提供的显示屏的缺陷检测方法，具备相应的功能和有益效果。

实施例五

图11为本发明实施例五提供的一种显示屏的缺陷检测设备的结构示意图，如图11所示，该设备包括处理器50、存储器51、输入装置52和输出装置53；设备中处理器50的数量可以是一个或多个，图11中以一个处理器50为例；设备中的处理器50、存储器51、输入装置52和输出装置53可以通过总线或其他方式连接，图11中以通过总线连接为例。

存储器51作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的显示屏的缺陷检测方法对应的程序指令/模块。处理器50通过运行存储在存储器51中的软件程序、指令以及模块，从而执行设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述的显示屏的缺陷检测方法。

存储器51可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作***、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储器51可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储器51可进一步包括相对于处理器50远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

输入装置52可用于接收输入的显示屏的缺陷检测信息，以及产生与设备的用户设置以及功能控制有关的显示屏的缺陷检测相关参数输入。输出装置53可包括显示屏等显示设备。

本实施例提供的显示屏的缺陷检测设备可适用于上述任意实施例提供的显示屏的缺陷检测方法，具备相应的功能和有益效果。

实施例六

本发明实施例六还提供一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行一种显示屏的缺陷检测方法，该方法包括：

采集显示屏的显示屏图像，并提取显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息；

根据显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值；

根据显示颗粒的灰度值和显示颗粒的实际位置信息，将显示颗粒拼接成灰度拼接图像；

根据所述灰度拼接图像判断显示屏是否存在缺陷。

当然，本发明实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质，其计算机可执行指令不限于如上所述的方法操作，还可以执行本发明任意实施例所提供的显示屏的缺陷检测方法中的相关操作。

通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

值得注意的是，上述显示屏的缺陷检测方法的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (7)

1.一种显示屏的缺陷检测方法，其特征在于，包括：

采集显示屏的显示屏图像，并提取所述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息；

根据所述显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值；

根据所述显示颗粒的灰度值和所述显示颗粒的实际位置信息，将所述显示颗粒拼接成灰度拼接图像；

根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷；

所述根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷，包括：

确定所述灰度拼接图像中显示颗粒的灰度值；

根据所述显示颗粒的灰度值判断所述显示屏是否存在缺陷，包括：

通过视觉处理算法计算显示颗粒的灰度是否在正常灰度值范围，并确定灰度值在正常灰度值范围的显示颗粒为正常显示颗粒，灰度值不在正常灰度值范围的显示颗粒为异常显示颗粒；

根据所述异常显示颗粒的实际位置信息定位到所述显示屏中的异常显示颗粒，并修复所述异常显示颗粒；

通过显示屏缺陷检测方法检测所述灰度拼接图像上不满足正常灰度值范围的面积在所述灰度拼接图像上的所占比例，即异常灰度值面积所占比例，根据所述异常灰度值面积所占比例确定显示屏的级别；

所述采集显示屏的显示屏图像，并提取所述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息，包括：

采集带有靶标的图像，根据靶标的位置计算所述显示屏图像的偏移角度；

根据所述偏移角度对所述显示屏图像进行反向旋转，得到校正后的显示屏图像，包括：

针对显示屏图像上的每一个显示颗粒均进行旋转校正，并得到校正后显示颗粒在正交坐标系中的位置，根据显示屏图像上每一个显示颗粒在正交坐标系中的位置，得到校正后的显示屏图像；

提取所述校正后的显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷，包括：

根据所述显示颗粒的位置信息，确定所述显示颗粒的数量；

确定所述灰度拼接图像的长度和宽度；

根据所述显示颗粒的数量，以及所述灰度拼接图像的长度和宽度确定所述显示颗粒的坐标点，并生成坐标点图；

根据所述坐标点图判断所述显示屏是否存在缺陷。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述显示颗粒区域的灰度值和所述显示颗粒的实际位置信息，将所述显示颗粒拼接成灰度拼接图像，包括：

根据所述显示颗粒的实际位置信息对显示颗粒进行拼接，得到颗粒拼接图像；

根据显示颗粒区域的灰度值，对颗粒拼接图像中显示颗粒进行灰度赋值，得到灰度拼接图像。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值，包括：

根据所述显示颗粒的位置信息，设置包围所述显示颗粒的圆形区域，作为显示颗粒区域；

确定所述显示颗粒区域的灰度值。

5.一种显示屏的缺陷检测装置，其特征在于，包括：

实际位置信息提取模块，用于采集显示屏的显示屏图像，并提取所述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息；

显示颗粒灰度值确定模块，用于根据所述显示颗粒的实际位置信息，确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值，作为显示颗粒的灰度值；

灰度拼接图像获取模块，用于根据所述显示颗粒的灰度值和所述显示颗粒的实际位置信息，将所述显示颗粒拼接成灰度拼接图像；

显示屏缺陷检测模块，用于根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷；

所述显示屏缺陷检测模块，还用于：确定所述灰度拼接图像中显示颗粒的灰度值；

根据所述显示颗粒的灰度值判断所述显示屏是否存在缺陷，包括：

通过视觉处理算法计算显示颗粒的灰度是否在正常灰度值范围，并确定灰度值在正常灰度值范围的显示颗粒为正常显示颗粒，灰度值不在正常灰度值范围的显示颗粒为异常显示颗粒；

根据所述异常显示颗粒的实际位置信息定位到所述显示屏中的异常显示颗粒，并修复所述异常显示颗粒；

通过显示屏缺陷检测方法检测所述灰度拼接图像上不满足正常灰度值范围的面积在所述灰度拼接图像上的所占比例，即异常灰度值面积所占比例，根据所述异常灰度值面积所占比例确定显示屏的级别；

所述实际位置信息提取模块，包括：

偏移角度计算单元，用于采集带有靶标的图像，根据靶标的位置计算所述显示屏图像的偏移角度；

显示屏图像校正单元，用于根据所述偏移角度对所述显示屏图像进行反向旋转，得到校正后的显示屏图像；

针对显示屏图像上的每一个显示颗粒均进行旋转校正，并得到校正后显示颗粒在正交坐标系中的位置，根据显示屏图像上每一个显示颗粒在正交坐标系中的位置，得到校正后的显示屏图像

位置信息提取单元，用于提取所述校正后的显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息。

6.一种显示屏的缺陷检测设备，其特征在于，所述设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-4中任一所述的显示屏的缺陷检测方法。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一所述的显示屏的缺陷检测方法。