KR101802431B1 - 유기발광소자의 불량 검출 방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 유기발광소자의 불량 검출 장치 및 방법으로서, 본 발명에 따르는 유기발광소자의 불량 검출 방법은 유기발광 패널의 샘플을 준비하고, 준비된 샘플을 로딩한 후 위치 정렬하는 단계, 로딩된 샘플을 향하여 광을 조사하여, ROI(Region of Interest) 내에 위치하는 RGB 서브 픽셀에 대한 이미지를 획득하는 단계, 및 획득한 이미지로부터 RGB 서브 픽셀에 대한 면적 데이터를 산출하고, 기준 ROI 내의 RGB 서브 픽셀에 대한 기준 면적 데이터와 비교하여, 샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부를 판정하는 단계를 포함한다.
Description
본 발명은 유기발광소자의 불량 검출 장치 및 방법에 관한 것이다.
정보를 표시하기 위한 표시장치가 널리 개발되고 있다.
특히 유기발광소자, 즉 OLED(Organic Light Emitting Diodes)를 이용한 표시장치(이하, '유기발광 표시장치'라 함)는 소비 전력이 낮고, 시야 각이 넓으며, 경량이고 휘도가 높은 장점 때문에 차세대 표시장치로서 각광받고 있다.
OLED(Organic Light Emitting Diodes)는 형광성 유기화합물에 전류가 흐르면 빛을 내는 전계 발광현상을 이용하여 스스로 빛을 내는 '자체발광형 유기물질'을 말한다.
이러한 OLED를 이용한 유기발광 표시장치는 낮은 전압에서 구동이 가능하고 얇은 박형으로 만들 수 있으며, 넓은 시야 각과 빠른 응답속도를 갖고 있어 일반 LCD와 달리 바로 옆에서 보아도 화질이 변하지 않으며 화면에 잔상이 남지 않는 장점이 있다. 나아가, 소형 화면에서는 LCD 이상의 화질과 단순한 제조공정으로 인하여 유리한 가격 경쟁력을 갖는다.
유기발광 표시장치는 주요 컬러 구현 방식으로 3색(Red, Green, Blue) 독립화소방식, 색변환 방식(CCM), 컬러 필터 방식 등이 있다. 그리고 사용하는 발광재료에 포함된 유기물질의 양에 따라 저분자 OLED와 고분자 OLED로 구분하고, 구동방식에 따라 수동형 구동방식(passive matrix, PM)과 능동형 구동방식(active matrix, AM)으로 구분한다.
한편, 유기발광 표시장치에 적용되는 패널(이하, 'OLED 패널'이라 함)의 생산 과정에서, 서브 픽셀(Sub pixel)의 수명과 패널의 영상품질에 영향을 끼치는 증착면적 과부족 현상을 검출하는 게 중요한데, 이는 OLED 패널의 품질관리에 활용된다.
종래에는 OLED 패널의 증착면적 과부족 현상을 측정하기 위해, 측정장비를 이용하여 TEG 패턴을 기준으로 증착의 정확성 여부를 판단하거나, 마스크 공정의 기준을 잡는 방법을 사용하고, 전체 패턴의 불량을 판단하는 방법이 이용되었다. 하지만, 실제 R, B, G의 정확한 침범이나 밝기 여부를 판단하기에는 어려움이 있었다.
나아가, 종래의 측정장비에서는 픽셀의 밝기 및 색좌표 측정을 통해 패널의 불량 판정을 진행하였으나 증착면적 과부족 현상이 있어도 패널의 밝기나 색좌표에 끼치는 영향이 미미하여 기존의 방법으로는 증착면적 과부족 현상을 자동 검출하기에는 어려움이 따랐다.
이러한 연유에 따라, 최근까지 측정 인력을 동원하여 직접 현미경을 통해 증착면적 과부족 현상을 육안으로 확인한 후 패널의 불량 여부를 판정하고 있어, 시간적, 인력적 손실이 큰 문제가 있다. 나아가, 측정 작업자의 개인적인 숙련도 및 피로도에 따라 판정 결과가 달라질 수 있어, 일괄된 판정을 기대하기에 어려움이 있다.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 유기발광소자의 불량 검출 장치를 제공하고자 한다.
또한, 본 발명은 자동으로 검사를 진행하여 문제가 되는 패널의 위치 정보를 신속하고 정확하게 피드백 하여 시간적, 인력적 효율성을 높일 수 있는 유기발광소자의 불량 검출 장치를 제공하고자 한다.
그리고 본 발명은 이러한 유기발광소자의 불량 검출 장치를 이용한 유기발광소자의 불량 검출 방법을 제공하고자 한다.
본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있고, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 이해될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시예에 의한 유기발광소자의 불량 검출 방법은 (a) 유기발광 패널의 샘플을 준비하고, 준비된 샘플을 로딩한 후 위치 정렬하는 단계; (b) 상기 로딩된 샘플을 향하여 광을 조사하여, ROI(Region of Interest) 내에 위치하는 RGB 서브 픽셀에 대한 이미지를 획득하는 단계; 및 (c) 상기 획득한 이미지로부터 상기 RGB 서브 픽셀에 대한 면적 데이터를 산출하고, 기준 ROI 내의 RGB 서브 픽셀에 대한 기준 면적 데이터와 비교하여, 상기 샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부를 판정하는 단계;를 포함한다.
상기 (a) 단계에서, 상기 샘플은, 검사 지그의 상부에 로딩되며, 상기 검사 지그의 상부에 로딩된 상태에서 적어도 하나의 얼라인 장치를 이용하여 설정위치에 정렬 및 위치 고정될 수 있다.
또한, 상기 (a) 단계에서, 상기 샘플은, 상기 설정위치에 정렬 및 위치 고정된 다음, 상기 샘플 내의 특정 위치 확인을 위한 좌표 값이 설정될 수 있다.
또한, 상기 (c) 단계에서, 기 설정된 RGB 서브 픽셀의 면적이 기준 ROI 면적 내에서 어느 정도 면적으로 점유하는지에 대한 기준 면적 데이터가 주어지고, 상기 획득한 이미지에 대해 상기 기준 ROI와 동일한 ROI가 설정된 다음, 상기 설정된 ROI 내에서, 상기 RGB 서브 픽셀이 점유하는 면적을 연산한 후 산출된 면적 데이터를 기준 면적 데이터와 비교하여 일치 여부를 판단할 수 있다.
또한, 상기 (b) 단계 이후에, 상기 획득한 이미지에 대한 노이즈 필터링 영상처리를 실시할 수 있다.
또한, 상기 (b) 단계 또는 상기 (c) 단계 이후에, 상기 획득한 이미지에 대해 색 침범 확인을 위한 영상처리를 실시할 수 있다.
또한, 상기 (b) 단계에서, 상기 로딩된 샘플에 대해 광을 조사한 다음, 상기 샘플의 상부에 배치된 이미지획득부를 측정 좌표로 이동시켜, 상기 측정 좌표에서의 상기 샘플에 대한 RGB 서브 픽셀의 이미지를 획득할 수 있다.
또한, 상기 (c) 단계 이후에, (d) 상기 불량 여부를 판정한 결과를 유기발광패널의 증착 공정으로 피드백하고, 피드백 한 결과를 상기 증착 공정에 반영하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 의한 유기발광소자의 불량 검출 장치는 준비된 유기발광 패널의 샘플을 로딩시키는 검사 지그; 상기 로딩된 샘플을 향해 광을 조사하는 발광부; 상기 발광부의 광 조사 동작에 연동하여 상기 로딩된 샘플에 대한 RGB 서브 픽셀의 이미지를 획득하는 이미지획득부; 및 상기 이미지획득부에서 획득한 이미지로부터 RGB 서브 픽셀에 대한 면적 데이터를 산출하고, 기준 면적 데이터와 비교하여, 상기 샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부를 판정하는 제어부;를 포함한다.
또한, 상기 검사 지그에 구비되며 상기 로딩된 샘플의 위치를 정렬하고, 정렬된 위치를 고정하는 얼라인 장치;를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 이미지획득부는, 상기 검사 지그의 상부에 이격 배치되어, 상기 샘플 내에 설정된 소정의 좌표 값으로 이동하도록 형성될 수 있다.
본 발명에 의하면, 자동으로 검사를 진행하여 문제가 되는 패널의 위치 정보를 신속하고 정확하게 피드백 하여 시간적, 인력적 효율성을 높일 수 있으며, 일관적인 판정 결과를 확보할 수 있는 장점이 있다.
나아가, 유기발광 표시장치의 OLED 패널 생산 과정에서 발생하는 서브 픽셀의 수명과 패널의 영상품질에 영향을 끼치는 증착면적 과부족 현상을 신속하고 정확하게 검출하여 OLED 패널의 품질관리에 도움을 줄 수 있다.
상술한 효과와 더불어 본 발명의 구체적인 효과는 이하 발명을 실시하기 위한 구체적인 사항을 설명하면서 함께 기술한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광소자의 불량 검출 장치의 구성을 간략히 도시한 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광소자의 불량 검출 방법을 나타낸 순서도이다.
도 3은 유기발광 표시장치에서 증착면적 과부족 현상이 나타나지 않은 정상 상태의 픽셀 이미지와, 증착면적 과부족 현상이 나타난 불량 상태의 픽셀 이미지를 비교 도시한 것이다.
도 4는 유기발광 표시장치에서 색 침범이 발생한 픽셀 이미지를 간략히 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광소자의 불량 검출 방법을 나타낸 순서도이다.
도 3은 유기발광 표시장치에서 증착면적 과부족 현상이 나타나지 않은 정상 상태의 픽셀 이미지와, 증착면적 과부족 현상이 나타난 불량 상태의 픽셀 이미지를 비교 도시한 것이다.
도 4는 유기발광 표시장치에서 색 침범이 발생한 픽셀 이미지를 간략히 나타낸 것이다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다. 또한, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.
본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
또한, 본 발명을 구현함에 있어서 설명의 편의를 위하여 구성요소를 세분화하여 설명할 수 있으나, 이들 구성요소가 하나의 장치 또는 모듈 내에 구현될 수도 있고, 혹은 하나의 구성요소가 다수의 장치 또는 모듈들에 나뉘어져서 구현될 수도 있다.
본 명세서에서 유기발광소자의 불량 검출 장치 및 방법은 유기발광 소자표시장치를 중심으로 설명한다. 여기서, 유기발광 표시장치라 함은 OLED(Organic Light Emitting Diodes)를 이용한 표시장치를 말하는 것으로, 소비 전력이 낮고, 시야 각이 넓으며, 경량이면서 휘도가 높은 장점 때문에 다양한 기술분야에서 표시장치로 이용된다.
유기발광 표시장치에 적용되는 패널을 생산하는 과정에서, 서브 픽셀(Sub pixel)의 수명과 패널의 영상품질에 영향을 끼치는 증착면적 과부족 현상을 검출하는 게 중요하다.
일반적으로, OLED 패널의 증착면적 과부족 현상을 측정하기 위해, 측정장비를 이용하여 TEG 패턴을 기준으로 증착의 정확성 여부를 판단하거나, 마스크 공정의 기준을 잡는 방법을 사용하고, 전체 패턴의 불량을 판단하는 방법이 이용되고 있다. 하지만, R, B, G의 정확한 침범이나 밝기 여부를 판단하기에는 어려움이 있었다. 나아가, 이러한 종래의 측정장비에서는 픽셀의 밝기 및 색 좌표 측정을 통해 패널의 불량 판정을 수행하는데, 증착면적 과부족이 있어도 패널의 밝기나 색 좌표에 끼치는 영향이 미미하여 자동화된 방법으로 증착면적 과부족 현상을 검출하기에는 어려움이 있다.
본 명세서에서는 유기발광소자의 불량을 자동화된 방식으로 검사하여 문제가 되는 패널의 위치 정보를 신속하고 정확하게 피드백 할 수 있으며, 일관된 판정 결과를 획득할 수 있는 유기발광소자의 불량 검출 장치 및 방법에 관하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광소자의 불량 검출 장치의 구성을 간략히 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광 표시장치(100)는 검사 지그(110), 얼라인 장치(120), 발광부(130), 이미지획득부(140), 그리고 제어부(150)를 포함하여 구성될 수 있다.
검사 지그(110)는 유기발광 표시장치의 RGB 서브 픽셀의 불량, 구체적인 예로서, 증착면적 과부족 현상을 검출하기 위해 준비된 유기발광 패널의 샘플을 로딩시키는 장치에 해당한다.
이러한 검사 지그(110)의 구체적인 형상 및 구조는 다양하게 변경되어 이용될 수 있으므로, 특정 형상 및 구조에 한정되지 않는다.
얼라인 장치(120)는 검사 지그(110)에 구비될 수 있다.
얼라인 장치(120)는 검사 지그(110)에 로딩된 유기발광 패널의 샘플의 위치를 정렬하는 역할을 담당하는데, 관용적으로 알려진 얼라인 수단이라면 제한 없이 이용될 수 있으며, 적어도 하나 이상 구비되어 샘플을 정해진 위치에 정렬하여 위치 고정시킬 수 있다.
발광부(130)는 검사 지그(110)에 로딩된 유기발광 패널의 샘플을 향해 광을 조사하는 장치를 말한다. 이러한 발광부(130)는 소정의 밝기로 점등 가능하게 구성될 수 있다. 이로써, 발광부(130)의 점등에 의해 검사 지그(110)에 로딩된 유기발광 패널의 샘플의 이미지 획득이 가능해 질 수 있다.
이미지획득부(140)는 발광부(130)의 광 조사 동작에 연동하여 검사 지그(110)에 로딩된 샘플에 대한 RGB 서브 픽셀의 이미지를 획득하도록 구성될 수 있다.
예를 들면, 이미지획득부(140)는 고배율 렌즈를 사용하는 광학계(예: 현미경 광학계 등)일 수 있는데 이에 한정되지 않는다. 이와 같이, 이미지획득부(140)는 유기발광 패널의 샘플을 발광부(130)를 이용하여 점등시킨 상태에서 다수의 Red, Green, Blue의 서브 픽셀의 이미지를 획득할 수 있는 장치라면 종류에 제한을 두지 않고 다양하게 이용할 수 있다.
제어부(150)는 이미지획득부(140)에서 획득한 이미지로부터 RGB 서브 픽셀에 대한 면적 데이터를 산출한다. 그리고 산출된 면적 데이터를 기준 면적 데이터와 비교하여 샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부를 판정한다. 이러한 제어부(150)의 작용에 관하여는 유기발광소자의 불량 검출 방법의 설명 시 구체적으로 다루기로 한다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광소자의 불량 검출 장치에서의 이미지획득부(140)는 바람직하게는 검사 지그(110)의 상부에 이격 배치될 수 있다. 그리고 이미지획득부(140)는 샘플 내에 설정된 소정의 좌표 값으로 이동하도록 형성될 수 있다. 이로써, 샘플 내에서의 특정 위치 좌표에 대한 RGB 픽셀 불량 검출을 손쉽게 수행할 수 있으며, 검출 작업의 편의성이 극대화 될 수 있다.
이와 같이 구성된 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광소자의 불량 검출 장치는 상기와 같은 구성을 포함하여 유기발광소자의 불량을 검출하는 전용의 장치로 구성될 수도 있으며, 이와 달리 유기발광소자의 점등검사시스템의 일부 구성으로 이용될 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광소자의 불량 검출 방법을 나타낸 순서도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광소자의 불량 검출 방법은, 샘플 로딩 및 위치 정렬 단계(S100), 이미지 획득 단계(S200), 및 샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부 판단 단계(S300)를 포함한다.
샘플 로딩 및 위치 정렬 단계(S100)
본 단계는 샘플 로딩 및 위치 정렬 단계로서, 유기발광 패널의 샘플을 준비하고, 준비된 샘플을 로딩한 후 위치 정렬하는 단계에 해당한다.
이 단계에서, 샘플은 검사 지그의 상부로 로딩될 수 있다. 구체적인 로딩 방식은 관용적으로 알려진 방식 중 제한 없이 이용 가능하며, 특정 로딩 형태로 한정되지 않는다.
그리고 샘플은 검사 지그의 상부에 로딩된 상태에서 적어도 하나의 얼라인 장치를 이용하여 설정된 위치로 정렬될 수 있으며, 정렬 후에는 정해진 위치로 고정될 수 있다.
나아가, 이 단계에서, 샘플은 설정위치에 정렬 및 위치 고정된 이후에, 샘플 내에서의 특정 위치 확인을 위한 좌표 값이 설정될 수 있다.
구체적인 예로서, 얼라인 장치를 사용하여 샘플을 정렬 및 고정 시킨 후 측정 위치 확인을 위한 좌표를 작성하기 위한 얼라인 마크(Align Mark) 또는 샘플의 모서리 등과 같은 특정 위치 확인 작업이 실시된다.
한편, 본 단계가 수행된 다음, 로딩된 샘플을 향하여 광을 조사하기에 앞서 유기발광 패널의 샘플에 신호를 인가하는 단계가 추가적으로 포함될 수 있다.
이미지 획득 단계(S200)
본 단계는 이미지 획득 단계로서, 신호가 인가된 샘플을 향하여 광을 조사하여, ROI(Region of Interest) 내에 위치하는 RGB 서브 픽셀에 대한 이미지를 획득하는 단계에 해당한다.
이 단계에서는, 이전 단계에서 검사 지그에 로딩된 샘플에 대해 광을 조사한 다음, 샘플의 상부에 배치된 이미지획득부를 측정 좌표로 이동시켜, 측정 좌표에서의 샘플에 대한 RGB 서브 픽셀의 이미지를 획득할 수 있다.
구체적으로, 고배율 렌즈를 사용하는 광학계(예: 현미경 광학계 등)가 달린 헤드를 측정 좌표로 이동시킨 후, 유기발광 패널 샘플을 점등시킨 상태에서 다수의 RGB 서브 픽셀의 이미지를 획득할 수 있다.
바람직하게는 이렇게 획득된 이미지에 대해 노이즈 필터링 영상처리를 실시할 수 있다. 이는 이 단계에서 획득한 이미지에서 노이즈가 측정 결과에 큰 영향을 미칠 수 있기 때문에 노이즈 필터링 영상처리를 수행하는 것이다.
또한, 바람직하게는 이렇게 획득된 이미지에 대해 색 침범을 확인하기 위한 영상처리가 추가적으로 실시될 수 있다. 예컨대, 색 침범을 확인하기 위한 방법으로서 RGB Extract 및 Threshold 영상처리가 실시될 수 있는데, 이에 한정되지 않는다.
구체적인 예로서, 본 발명에서는 증착면적의 부족은 물론, 증착면적이 과다하여 색이 침범하거나 겹치는 현상까지 불량으로 처리할 수 있는데, 이에 대한 설명은 도 3 및 도 4의 설명 시 상세히 다루기로 한다.
샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부 판단 단계(S300)
본 단계는 샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부 판단 단계로서, 이전 단계에서 획득한 이미지로부터 RGB 서브 픽셀에 대한 면적 데이터를 산출하고, 기준 ROI 내의 RGB 서브 픽셀에 대한 기준 면적 데이터와 비교하여, 샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부를 판정하는 단계에 해당한다.
그 다음으로, 유기발광패널에 대한 불량 여부를 판단한 결과를 유기발광패널의 점등검사 이전 공정, 예컨대 증착 공정 등의 이전 공정으로 피드백하는 단계가 더 수행될 수 있다. 그리고 이러한 피드백 결과를 증착 공정 등에 반영하는 단계가 더 수행될 수 있다.
구체적으로는, 본 단계에서는 기 설정된 RGB 서브 픽셀의 면적이 기준 ROI 면적 내에서 어느 정도 면적으로 점유하는지에 대한 기준 면적 데이터를 확인한다.
이어서, 획득한 이미지에 대해 상기 기준 ROI와 동일한 ROI가 설정된다. 그리고 상기 설정된 ROI 내에서, 상기 RGB 서브 픽셀이 점유하는 면적을 연산한 후 산출된 면적 데이터를 기준 면적 데이터와 비교하여 이들 데이터 간의 일치 여부를 판단함으로써, 유기발광소자의 불량을 검출할 수 있다.
즉, 유기발광 패널의 생산과정에서 RGB가 고르게 분포되지 않거나, 지정된 영역을 침범하여 RGB가 분포되는 경우(예: Red의 영역에 Green이 침투하는 경우 등)에 패널에서 보여지는 영상이 본래 의도한 색이 아닌 색으로 보이는 등의 품질저하의 원인이 된다. 또한, 픽셀 당 유기물이 부족하여, 유기물의 단위 부피당 전류가 기준보다 많이 흐르게 되는데, 유기물의 손상이 유발됨에 따라 유기발광 패널의 수명 감소가 나타날 수 있다.
따라서, 설계된 RGB 서브 픽셀의 면적이 일정한 ROI 면적에서 어느 정도의 면적을 점유하고 있는지 확인한 후, 현미경 광학계 및 기타 샘플의 이미지를 획득할 수 있는 광학계를 사용하여, RGB 등의 이미지를 획득한다. 그리고 획득된 이미지 내에서 설계된 ROI와 같은 ROI 영역을 설정 한 후, RGB의 이미지에서 RGB가 점유하고 있는 영역의 비율을 설계된 RGB의 면적과 어느 정도 일치하는지를 검사하여 RGB 픽셀 불량을 검출할 수 있다.
도 3은 유기발광 표시장치에서 증착면적 과부족 현상이 나타나지 않은 정상 상태의 픽셀 이미지와, 증착면적 과부족 현상이 나타난 불량 상태의 픽셀 이미지를 비교 도시한 것이며, 도 4는 유기발광 표시장치에서 증착면적이 과다하여 색 침범이 발생한 픽셀 이미지를 간략히 나타낸 것이다.
도 3의 (a)를 참조하면, 기준 ROI 영역 내에는 3개의 Blue 픽셀(B1, B2, B3), 3개의 Green 픽셀(G1, G2, G3), 3개의 Red 픽셀(R1, R2, R3)이 소정의 면적을 갖도록 나타나 있다.
도 3의 (b) 및 (c)를 참조하면, 도 3의 기준 ROI와 같은 크기의 설정된 ROI 영역 내에 3개의 Blue 픽셀, 3개의 Green 픽셀, 3개의 Red 픽셀이 각각 도시되어 있다. 다만, 도 3의 (b) 및 (c)를 참조하면, 다수의 증착면적 부족 현상(E1, E2, E3, E4, E5, E6)이 발생되어, 도 3의 (a)에 나타난 3개의 Blue 픽셀(B1, B2, B3), 3개의 Green 픽셀(G1, G2, G3), 3개의 Red 픽셀(R1, R2, R3)과는 점유 면적 비율에서 차이가 발생된다. 이러한 차이를 통해 증착면적 과부족 현상이 존재하는지를 손쉽게 판단할 수 있다.
도 4를 참조하면, 증착면적이 과다하여 색 침범이 발생한 픽셀 이미지를 간략히 나타낸 것이다. 도시된 바와 같이, 설정된 ROI(Region of Interest) 내에는 각각 3개의 Blue, Green, Red 픽셀이 존재하는데, 이들 RGB 픽셀을 통해서 색 침범된 영역(F1, F2, F3, F4)이 다수 발생되어, 패널에서 보여지는 영상이 본래 의도한 색이 아닌 색으로 보이는 등 유기발광 패널의 품질이 저하된 것을 신속하고 정확하게 파악할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 구성 및 작용에 따르면, 자동으로 검사를 진행하여 문제가 되는 패널의 위치 정보를 신속하고 정확하게 피드백 하여 시간적, 인력적 효율성을 높일 수 있으며, 일관적인 판정 결과를 확보할 수 있다.
그리고 유기발광 표시장치의 OLED 패널 생산 과정에서 발생하는 서브 픽셀의 수명과 패널의 영상품질에 영향을 끼치는 증착면적 과부족 현상을 신속하고 정확하게 검출하여 OLED 패널의 품질관리에 도움을 줄 수 있다.
이상과 같이 본 발명에 대해서 예시한 도면을 참조로 하여 설명하였으나, 본 명세서에 개시된 실시예와 도면에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술사상의 범위 내에서 통상의 기술자에 의해 다양한 변형이 이루어질 수 있음은 자명하다. 아울러 앞서 본 발명의 실시예를 설명하면서 본 발명의 구성에 따른 작용 효과를 명시적으로 기재하여 설명하지 않았을지라도, 해당 구성에 의해 예측 가능한 효과 또한 인정되어야 함은 당연하다.
100: 유기발광소자의 불량 검출 장치
110: 검사 지그
120: 얼라인 장치
130: 발광부
140: 이미지획득부
150: 제어부
110: 검사 지그
120: 얼라인 장치
130: 발광부
140: 이미지획득부
150: 제어부
Claims (11)
- (a) 유기발광 패널의 샘플을 준비하고, 준비된 샘플을 로딩한 후 위치 정렬하는 단계;
(b) 상기 로딩된 샘플을 향하여 광을 조사하여, ROI(Region of Interest) 내에 위치하는 RGB 서브 픽셀에 대한 이미지를 획득하는 단계; 및
(c) 상기 획득한 이미지로부터 상기 RGB 서브 픽셀에 대한 면적 데이터를 산출하고, 기준 ROI 내의 RGB 서브 픽셀에 대한 기준 면적 데이터와 비교하여, 상기 샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부를 판정하는 단계;를 포함하며,
상기 (b) 단계 또는 상기 (c) 단계 이후에, 상기 획득한 이미지에 대해 색 침범 확인을 위한 영상처리를 실시하는 것을 특징으로 하는 유기발광소자의 불량 검출 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 (a) 단계에서,
상기 샘플은, 검사 지그의 상부에 로딩되며,
상기 검사 지그의 상부에 로딩된 상태에서 적어도 하나의 얼라인 장치를 이용하여 설정위치에 정렬 및 위치 고정되는 것을 특징으로 하는
유기발광소자의 불량 검출 방법.
- 제2항에 있어서,
상기 (a) 단계에서,
상기 샘플은, 상기 설정위치에 정렬 및 위치 고정된 다음, 상기 샘플 내의 특정 위치 확인을 위한 좌표 값이 설정되는 것을 특징으로 하는
유기발광소자의 불량 검출 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 (c) 단계에서,
기 설정된 RGB 서브 픽셀의 면적이 기준 ROI 면적 내에서 어느 정도 면적으로 점유하는지에 대한 기준 면적 데이터가 주어지고,
상기 획득한 이미지에 대해 상기 기준 ROI와 동일한 ROI가 설정된 다음,
상기 설정된 ROI 내에서, 상기 RGB 서브 픽셀이 점유하는 면적을 연산한 후 산출된 면적 데이터를 기준 면적 데이터와 비교하여 일치 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는
유기발광소자의 불량 검출 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 (b) 단계 이후에,
상기 획득한 이미지에 대한 노이즈 필터링 영상처리를 실시하는 것을 특징으로 하는
유기발광소자의 불량 검출 방법.
- 삭제
- 제1항에 있어서,
상기 (b) 단계에서,
상기 로딩된 샘플에 대해 광을 조사한 다음, 상기 샘플의 상부에 배치된 이미지획득부를 측정 좌표로 이동시켜, 상기 측정 좌표에서의 상기 샘플에 대한 RGB 서브 픽셀의 이미지를 획득하는 것을 특징으로 하는
유기발광소자의 불량 검출 방법.
- 제1항에 있어서,
상기 (c) 단계 이후에,
(d) 상기 불량 여부를 판정한 결과를 유기발광패널의 증착 공정으로 피드백하고, 피드백 한 결과를 상기 증착 공정에 반영하는 단계;
를 더 포함하는 유기발광소자의 불량 검출 방법.
- 유기발광소자의 불량 검출 장치로서,
준비된 유기발광 패널의 샘플을 로딩시키는 검사 지그;
상기 로딩된 샘플을 향해 광을 조사하는 발광부;
상기 발광부의 광 조사 동작에 연동하여 상기 로딩된 샘플에 대한 RGB 서브 픽셀의 이미지를 획득하는 이미지획득부; 및
상기 이미지획득부에서 획득한 이미지로부터 RGB 서브 픽셀에 대한 면적 데이터를 산출하고, 기준 면적 데이터와 비교하여, 상기 샘플 내의 RGB 서브 픽셀의 불량 여부를 판정하는 제어부;를 포함하며,
상기 제어부는 상기 이미지획득부에서 획득한 이미지에 대해 색 침범 확인을 위한 영상처리를 실시하는 것을 특징으로 하는 유기발광소자의 불량 검출 장치.
- 제9항에 있어서,
상기 검사 지그에 구비되며 상기 로딩된 샘플의 위치를 정렬하고, 정렬된 위치를 고정하는 얼라인 장치;
를 더 포함하는 유기발광소자의 불량 검출 장치.
- 제9항에 있어서,
상기 이미지획득부는,
상기 검사 지그의 상부에 이격 배치되어, 상기 샘플 내에 설정된 소정의 좌표 값으로 이동하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 유기발광소자의 불량 검출 장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020170084359A KR101802431B1 (ko) | 2017-07-03 | 2017-07-03 | 유기발광소자의 불량 검출 방법 및 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020170084359A KR101802431B1 (ko) | 2017-07-03 | 2017-07-03 | 유기발광소자의 불량 검출 방법 및 장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR101802431B1 true KR101802431B1 (ko) | 2017-11-29 |
Family
ID=60812157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| KR1020170084359A KR101802431B1 (ko) | 2017-07-03 | 2017-07-03 | 유기발광소자의 불량 검출 방법 및 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101802431B1 (ko) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101876908B1 (ko) * | 2018-01-16 | 2018-07-10 | (주) 리드에이텍 | 디스플레이 패널의 결함 위치 정확도 개선 방법 |
| CN111784666A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-10-16 | 深兰科技(达州)有限公司 | 基于学习记忆的led灯珠缺陷检测方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005017270A (ja) * | 2003-06-06 | 2005-01-20 | Ebara Corp | 欠陥検査方法及びデバイス製造方法 |
| KR101182822B1 (ko) | 2011-03-29 | 2012-09-13 | 삼성전자주식회사 | 발광소자 검사장치 및 방법 |
-
2017
- 2017-07-03 KR KR1020170084359A patent/KR101802431B1/ko active IP Right Grant
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