KR101676440B1 - 백라이트 유닛, 이의 구동 방법 및 이상 검출 방법 - Google Patents

백라이트 유닛, 이의 구동 방법 및 이상 검출 방법 Download PDF

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Abstract

백라이트 유닛은 구동회로, 다수의 광원 스트링 및 이상 검출부를 포함한다. 구동회로는 구동전압을 출력한다. 다수의 광원 스트링은 각각 다수의 광원들을 포함하고 입력단으로 구동전압을 받아 광을 발생한다. 이상 검출부는 다수의 광원 스트링 각각의 출력단에 연결되어 다수의 광원 스트링 각각의 입력단과 출력단 사이의 전압을 측정하고, 측정된 전압 중 최고 전압과 최저 전압의 차인 제1 전압과 상기 측정된 전압 중 어느 하나의 전압을 상기 어느 하나의 전압을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원 수로 나눈 제2 전압으로부터 광원들의 오류여부를 검출한다.

Description

백라이트 유닛, 이의 구동 방법 및 이상 검출 방법{BACKLIGHT UNIT, INCLUDING PLURAL LIGHT SOURCES, DRIVING METHOD THEREOF, AND ERROR DETECTION METHOD THEREOF}
본 발명은 백라이트 유닛, 이의 구동 방법, 그리고 이를 이용한 이상검출 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 광원의 이상여부를 탐지하는 능력을 개선한 백라이트 유닛, 이의 구동 방법, 및 이를 이용한 이상검출 방법에 관한 것이다.
액정표시장치는 영상을 표시하는 액정표시패널 및 액정표시패널의 하부에 구비되어 액정표시패널로 광을 공급하는 백라이트 유닛으로 이루어진다. 근래, 냉음극 형광 램프(Cold Cathode Fluorescent Lamp)를 대신하여 낮은 소비전력 및 높은 색 재현성을 갖는 발광 다이오드가 백라이트 유닛의 광원으로 각광받고 있다.
발광 다이오드를 백라이트 유닛의 광원으로 채용하는 경우, 백라이트 유닛은 서로 병렬 연결된 다수의 발광 스트링으로 이루어지고, 각 발광 스트링은 직렬 연결된 다수의 발광 다이오드로 이루어진다. 그런데 상기 다수의 발광 스트링을 구성하는 발광 다이오드는 종종 단락되거나 개방된다.
따라서, 본 발명의 목적은 원가를 절감하면서 광원의 이상여부를 탐지하는 능력을 개선한 백라이트 유닛을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 백라이트 유닛을 구동하는 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 상기 백라이트 유닛의 이상검출 방법을 제공하는 것이다.
본 발명에 일 실시예에 따른 백라이트 유닛은 구동회로, 다수의 광원 스트링, 및 이상 검출부를 포함한다.
상기 구동회로는 구동전압을 출력한다. 상기 다수의 광원 스트링은 각각 다수의 광원들을 포함하고 입력단으로 상기 구동전압을 받아 광을 발생한다. 상기 이상 검출부는 상기 다수의 광원 스트링 각각의 출력단에 연결되어 상기 다수의 광원 스트링 각각의 상기 입력단과 상기 출력단 사이의 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 중 최고 전압과 최저 전압의 차인 제1 전압과 상기 측정된 전압 중 어느 하나의 전압을 상기 어느 하나의 전압을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원 수로 나눈 제2 전압으로부터 상기 광원들의 오류여부를 검출한다.
본 발명에 따른 백라이트 유닛의 구동 방법은 다음과 같다. 구동전압이 인가되고 각각 다수의 광원들을 포함하는 다수의 광원 스트링 각각의 상기 입력단과 출력단 사이의 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 중 최고 전압과 최저 전압의 차인 제1 전압과 상기 측정된 전압 중 어느 하나의 전압을 상기 어느 하나의 전압을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원 수로 나눈 제2 전압으로부터 상기 광원들의 오류여부를 검출하여 오류검출 신호를 출력하며, 상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 구동전압을 제어한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 백라이트 유닛은 구동회로, 다수의 광원 스트링, 다수의 제1 다이오드, 다수의 제2 다이오드, 제1 저항, 제2 저항, 제1 회로, 제2 회로, 및 비교회로를 포함한다.
상기 구동회로는 구동전압을 출력한다. 상기 다수의 광원 스트링은 각각 다수의 광원들을 포함하고 입력단으로부터 상기 구동전압을 공급받아 광을 발생하며 서로 병렬 연결된다. 상기 다수의 제1 다이오드는 애노드 단자가 상기 다수의 광원 스트링 각각의 출력단에 연결된다. 상기 다수의 제2 다이오드는 캐소드 단자가 상기 다수의 광원 스트링 각각의 출력단에 연결된다. 상기 제1 저항은 상기 다수의 광원 스트링의 상기 입력단에 일 단자가 연결된다. 상기 제2 저항은 상기 제1 저항과 상기 다수의 제1 다이오드의 캐소드 단자 사이에 연결된다. 상기 제1 회로는 상기 다수의 제1 다이오드의 캐소드 단자 및 상기 다수의 제2 다이오드의 애노드 단자에 연결되어 양 단자 사이의 제1 전압을 출력한다. 상기 제2 회로는 상기 다수의 제1 다이오드의 캐소드 단자와 상기 제1 저항과 상기 제2 저항을 연결하는 단자에 연결되어 양 단자 사이의 제2 전압을 출력한다. 상기 비교회로는 상기 제1 회로 및 상기 제2 회로에 연결되어 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압으로부터 상기 광원들의 오류여부를 검출한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 백라이트 유닛의 이상 검출 방법은 다음과 같다. 구동전압이 인가되고 각각 다수의 광원들을 포함하는 상기 다수의 광원 스트링 각각의 상기 입력단과 상기 출력단 사이의 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 중 최고 전압과 최저 전압의 차인 제1 전압과 상기 측정된 전압 중 어느 하나의 전압을 상기 어느 하나의 전압을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원 수로 나눈 제2 전압으로부터 상기 광원들의 오류여부를 검출한다.
이와 같은 백라이트 유닛 및 이의 구동 방법과 이의 이상검출 방법에 따르면, 상기 이상 검출부는 다수의 광원 스트링의 출력단들에 각각 연결되어 다수의 광원 스트링 각각의 입력단과 출력단 사이의 전압을 측정한다. 또한, 상기 이상 검출부는 측정된 전압을 바탕으로 하나의 광원의 평균 전압과 다수의 광원 스트링 간의 전압차를 구하고, 이를 비교하여 광원들의 이상여부를 탐지하여 구동회로 및 전류제어소자를 제어한다. 따라서, 제조 원가의 상승 없이 광원의 이상 여부를 탐지하는 능력을 개선하고 상기 광원의 이상 여부에 대한 탐지 결과에 따라 백라이트 유닛을 효과적으로 제어할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 유닛의 블록도다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 백라이트 유닛의 블록도이다.
도 3은 도 2에 도시된 제1 회로의 회로도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 유닛(100)의 블록도다.
도 1을 참조하면, 상기 백라이트 유닛(100)은 구동회로(110), 다수의 광원 스트링(120), 이상 검출부(130), 및 제어회로(140)를 포함한다.
상기 다수의 광원 스트링(120)은 서로 병렬로 연결되고, 상기 다수의 광원 스트링(120) 각각은 직렬 연결된 다수의 광원, 예를 들어 다수의 발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED)로 이루어진다. 이때 상기 다수의 광원 스트링(120)은 다수의 제너 다이오드(zener diode)를 포함할 수 있고, 상기 광원들 각각은 적어도 하나의 제너 다이오드와 서로 병렬로 연결될 수 있다.
상기 구동회로(110)는 외부로부터 입력전압(Vin)(예를 들어, 12V)을 받아 구동전압(Vout)을 출력한다. 상기 구동회로(110)의 출력단은 상기 다수의 광원 스트링(120)의 입력단에 공통으로 연결된다. 따라서 상기 다수의 광원 스트링(120) 각각은 상기 구동전압(Vout)을 수신할 수 있다.
도시하지 않았지만, 상기 구동회로(110)는 DC/DC 컨버터로 이루어질 수 있다. 상기 구동전압(Vout)은 상기 다수의 광원 스트링(120)의 상기 광원들을 구동하기 위한 전압으로써, 예를 들어 20V 내지 35V의 전압 레벨을 가질 수 있다. 다만, 상기 전압 레벨은 하나의 광원 스트링에 연결되는 광원의 수에 따라 달라질 수 있다.
상기 이상 검출부(130)는 상기 구동회로(110)의 출력단 및 상기 다수의 광원 스트링(120) 각각의 출력단에 연결되어 상기 구동회로(110)의 출력단 및 상기 광원 스트링들(120) 각각의 출력단 사이의 전압을 측정한다.
상기 이상 검출부(130)는 상기 측정된 전압 중 최고 전압과 최저 전압의 차인 제1 전압과 상기 측정된 전압 중 어느 하나의 전압을 상기 어느 하나의 전압을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원 수로 나눈 제2 전압으로부터 상기 광원들의 오류여부를 검출한다. 이때 상기 어느 하나의 전압은 상기 최고 전압일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
상기 이상 검출부(130)는 상기 제어회로(140)와 전기적으로 연결되고 상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우 상기 제어회로(140)로 오류검출 신호(SED)를 출력할 수 있다. 또는 상기 이상 검출부(130)는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압에 기 설정된 전압을 더한 전압보다 큰 경우 상기 제어회로(140)로 상기 오류검출 신호(SED)를 출력할 수도 있다.
상기 기 설정된 전압은 상기 광원들(121)의 특성에 따라 이론적 또는 실험적으로 결정될 수 있다. 또한 본 발명의 실시형태에 따라 상기 오류검출 신호(SED)를 출력하는 상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 관계식은 상기 제1 전압과 상기 제2 전압을 변수로 한 1차 이상의 부등식 또는 지수나 로그를 포함하는 부등식이 될 수 있다.
상기 제어회로(140)는 칩 형태로 이루어질 수 있고 상기 이상 검출부(130)와 상기 구동회로(110)에 전기적으로 연결된다. 상기 제어회로(140)는 상기 오류검출 신호(SED)를 입력받고, 상기 오류검출 신호(SED)에 응답하여 상기 구동전압(Vout)을 제어하는 전원제어신호(CS)를 상기 구동회로(110)로 출력할 수 있다. 예를 들어, 상기 제어회로(140)는 상기 오류검출 신호(SED)가 기 설정된 기준값보다 큰 경우 상기 구동전압(Vout)을 낮게 하는 전원제어신호(CS)를 출력하거나 상기 구동전압(Vout)의 출력을 차단하는 전원제어신호(CS)를 출력할 수 있다.
도 1에서는 상기 제어회로(140)와 상기 이상 검출부(130)를 분리하여 도시하였으나, 실시 형태에 따라 상기 제어회로(140)가 상기 이상 검출부(130)를 포함할 수 있다.
상기 백라이트 유닛(100)은 각각 제1 전극이 상기 다수의 광원 스트링(120) 각각의 출력단에 전기적으로 연결되는 다수의 전류제어소자(Tr1~Trn)를 포함할 수 있다. 상기 제어회로(140)는 상기 다수의 전류제어소자(Tr1~Trn) 각각의 제2 전극 및 제3 전극에 연결된다. 상기 제어회로(140)는 상기 다수의 전류제어소자(Tr1~Trn) 각각의 제3 전극으로부터 상기 다수의 광원 스트링(120)에 흐르는 전류를 측정하고, 상기 측정된 전류(Is1~Isn) 및 상기 오류검출 신호(SED)에 응답하여 상기 다수의 전류제어소자(Tr1~Trn) 각각의 제2 전극으로 상기 다수의 광원 스트링(120)에 흐르는 전류를 제어하는 전류제어신호(S1~Sn)를 출력한다.
다만 본 발명의 실시형태에 따라, 상기 제어회로(140)는 상기 다수의 전류제어소자(Tr1~Trn) 각각의 제3 전극에 연결되지 않을 수 있다. 이 경우, 상기 제어회로(140)는 상기 이상 검출부(130)로부터의 상기 오류검출 신호(SED)에 응답하여 상기 다수의 전류제어소자(Tr1~Trn) 각각의 제2 전극으로 상기 다수의 광원 스트링(120)에 흐르는 전류를 제어하는 전류제어신호(S1~Sn)를 출력할 수 있다. 이때 상기 오류검출 신호(SED)는 오류여부를 판단하는 신호와 동시에 상기 다수의 광원 스트링(120) 각각의 전압을 나타내는 신호를 포함할 수 있다.
또 다른 예로써, 상기 제어회로(140)는 상기 다수의 광원 스트링(120) 각각의 출력단에 직접 연결되어 전압 또는 전류를 측정하고, 그 측정 결과에 따라 상기 전류제어신호(S1~Sn)를 출력할 수도 있다.
상기 백라이트 유닛(100)은 상기 다수의 전류제어소자(Tr1~Trn) 각각의 제3 전극과 접지 전극 사이에 각각 연결되는 다수의 저항(Rs1~Rsn)을 포함할 수 있다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 백라이트 유닛(200)의 블록도이다. 이때 도 1과 비교하여 동일한 구성 요소에 대한 설명은 간략하게 기재하거나 생략한다.
상기 백라이트 유닛(200)은 구동회로(210), 다수의 광원 스트링(220), 다수의 제1 다이오드(D11~D1n), 다수의 제2 다이오드(D21~D2n), 제1 저항(R1), 제2 저항(R2), 제1 회로(231), 제2 회로(233), 및 비교회로(235)를 포함한다.
상기 다수의 제1 다이오드(D11~D1n) 각각의 애노드 단자는 상기 다수의 광원 스트링(220) 각각의 출력단에 연결된다. 이러한 구성으로 인하여, 상기 다수의 광원 스트링(220) 중 최고 전압(Vmax)이 상기 다수의 제1 다이오드(D11~D1n)의 캐소드 단자로 출력된다.
상기 다수의 제2 다이오드(D21~D2n) 각각의 캐소드 단자는 상기 다수의 광원 스트링(220) 각각의 출력단에 연결된다. 이러한 구성으로 인하여, 상기 다수의 제2 다이오드(D21~D2n)의 애노드 단자로 상기 다수의 광원 스트링(220) 중 최저 전압(Vmin)이 출력된다.
상기 제1 저항(R1)은 상기 다수의 광원 스트링(220)의 상기 입력단에 일 단자가 연결된다.
상기 제2 저항(R2)은 상기 제1 저항(R1)과 상기 다수의 제1 다이오드(D21~D2n)의 캐소드 단자 사이에 연결된다.
상기 제1 저항(R1) 및 상기 제2 저항(R2)의 크기는 상기 최고 전압(Vmax)을 상기 최고 전압(Vmax)을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원의 수로 나눈 제2 전압(V2)이 출력되도록 상기 제2 회로(233)와의 관계에서 적절하게 선택될 수 있다. 이때 상기 제1 저항(R1) 및 상기 제2 저항(R2)은 이들 저항에 흐르는 전류를 최소화하도록 상기 다수의 광원 스트링(220) 각각의 저항보다 충분히 큰 것이 바람직하다.
상기 제1 회로(231)는 제1 단자가 상기 다수의 제1 다이오드(D11~D1n)의 캐소드 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 다수의 제2 다이오드(D21~D2n)의 애노드 단자에 연결된다. 이때 상기 제1 회로(231)는 상기 제1 단자 및 상기 제2 단자로부터 상기 최대 전압(Vmax)과 상기 최소 전압(Vmin)을 각각 수신하고 상기 최대 전압(Vmax)과 상기 최소 전압(Vmin)의 차인 제1 전압(V1)을 출력한다.
상기 제2 회로(233)는 제1 단자가 상기 다수의 제1 다이오드(D11~D1n)의 캐소드 단자와 연결되고, 제2 단자가 상기 제1 저항(R1) 및 상기 제2 저항(R2)을 연결하는 단자에 연결된다. 상기 제2 회로(233)는 상기 제1 단자 및 상기 제2 단자로부터 상기 최고 전압(Vmax) 및 분배 전압(Vs)을 수신하고, 상기 최고 전압(Vmax)을 상기 최고 전압(Vmax)을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원의 수로 나눈 상기 제2 전압(V2)을 출력한다.
상기 비교회로(235)는 일단이 상기 제1 회로(231)의 출력단자에 연결되고 타단이 상기 제2 회로(233)의 출력단자에 연결되어 상기 제1 전압(V1) 및 상기 제2 전압(V2)을 수신하고, 상기 제1 전압(V1) 및 상기 제2 전압(V2)으로부터 상기 광원들의 오류여부를 검출한다. 상기 비교회로(235)는 입력된 두 전압을 비교할 수 있는 어떤 회로, 예를 들어 차증폭기 등, 일 수 있고, 상기 제1 회로(231) 또는 상기 제2 회로(233)와 유사한 회로를 사용할 수도 있다.
상기 비교회로(235)는 상기 제1 전압(V1)이 상기 제2 전압(V2)보다 큰 경우 상기 제어회로(240)로 오류검출 신호(SED)를 출력할 수 있다. 상기 제어회로(240)는 일 단자가 상기 비교회로(235)에 연결되어 상기 오류검출 신호(SED)를 수신하고, 상기 오류검출 신호(SED)에 응답하여 상기 구동전압(Vout)을 제어하는 전원제어신호(CS)를 상기 구동회로(210)로 출력할 수 있다. 또한 상기 제어회로(240)는 상기 다수의 광원 스트링(220)에 흐르는 전류를 제어하는 전류제어신호(S1~Sn)를 상기 전류제어소자(Tr1~Trn)로 출력할 수 있다.
다른 실시예로써, 상기 비교회로(235)는 상기 제1 전압(V1)이 상기 제2 전압(V2)에 기 설정된 전압을 더한 전압보다 큰 경우 상기 제어회로(240)로 상기 오류검출 신호(SED)를 출력할 수 있다. 상기 제어회로(240)는 상기 오류검출 신호(SED)에 응답하여 상기 구동전압(Vout)을 제어하는 상기 전원제어신호(CS)를 상기 구동회로(210)로 출력할 수 있다. 또한 상기 제어회로(240)는 상기 다수의 광원 스트링(220)에 흐르는 전류를 제어하는 상기 전류제어신호(S1~Sn)를 상기 전류제어소자(Tr1~Trn)로 출력할 수 있다.
본 발명의 실시 형태에 따라, 상기 제2 회로(233)의 상기 제1 단자는 상기 다수의 제2 다이오드(D21~D2n)의 애노드 단자에 연결될 수 있다. 또한 상기 제2 저항(R2)도 상기 제1 저항(R1)과 상기 다수의 제2 다이오드(D21~D2n)의 애노드 단자 사이에 연결될 수 있다. 이러한 경우, 상기 제2 회로(233)는 상기 최저 전압(Vmin)을 수신하고, 상기 최저 전압(Vmin)을 상기 최저 전압(Vmin)을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원의 수로 나눈 값을 상기 제2 전압으로 출력한다.
또한 본 발명의 실시형태에 따라 상기 오류검출 신호(SED)를 출력하는 상기 제1 전압(V1)과 상기 제2 전압(V2)의 관계식은 상기 제1 전압(V1)과 상기 제2 전압(V2)을 변수로 한 1차 이상의 다차 부등식 또는 지수나 로그를 포함하는 식이 될 수 있다.
도 3은 도 2에 도시된 제1 회로(231)를 나타내는 회로도이다. 도 3에 도시된 회로는 예시적인 것이며, 일반적으로 알려진 차증폭기 기능을 갖는 다른 회로일 수 있다.
상기 제1 회로(231)는 제1 내지 제3 연산증폭기(OP1~OP3), 2개의 제3 저항(R3), 2개의 제4 저항(R4), 1개의 제5 저항(R5), 및 2개의 제6 저항(R6)을 포함한다.
상기 제1 연산증폭기(OP1)의 양(+)의 단자는 상기 다수의 제2 다이오드(D21~D2n)의 애노드 단자에 연결되어 상기 최소 전압(Vmin)을 입력받고, 상기 제2 연산증폭기(OP2)의 양의 단자는 상기 다수의 제1 다이오드(D11~D1n)의 캐소드 단자에 연결되어 상기 최대 전압(Vmax)이 입력받는다.
상기 제5 저항(R5)은 상기 제1 연산증폭기(OP1)의 음(-)의 입력단자와 상기 제2 연산증폭기(OP2)의 음(-)의 입력단자 사이에 연결된다.
상기 제6 저항(R6) 중 하나는 상기 제1 연산증폭기(OP1)의 음의 단자와 출력단자 사이에 연결되고, 상기 제6 저항(R6) 중 다른 하나는 상기 제2 연산증폭기(OP2)의 음의 단자와 출력단자 사이에 연결된다.
상기 제3 저항(R3) 중 하나는 상기 제1 연산증폭기(OP1)의 출력단자와 상기 제3 연산증폭기(OP3)의 음의 단자 사이에 연결되고, 상기 제3 저항(R3) 중 다른 하나는 상기 제2 연산증폭기(OP2)의 출력단자와 상기 제2 연산증폭기(OP2)의 양의 단자 사이에 연결된다.
상기 제4 저항(R4) 중 하나는 상기 제3 연산증폭기(OP3)의 양의 단자와 그라운드(ground) 사이에 연결되고, 상기 제4 저항(R4) 중 다른 하나는 상기 제3 연산증폭기(OP3)의 음의 단자와 출력단자 사이에 각각 연결된다.
상기 제1 회로(231)에 입력되는 상기 최저 전압(Vmin) 및 상기 최고 전압(Vmax)과 상기 제1 회로(231)에서 출력되는 상기 제1 전압(V1) 사이의 관계는 아래 방정식 1을 만족한다.
방정식 1
V1 = R4/R3(1+R4/R3)(Vmax-Vmin).
이때, 제3 저항(R3) 및 제4 저항(R4)은 아래 방정식 2을 만족하도록 선택될 수 있다.
방정식 2
R4/R3(1+R4/R3)=1.
도시하지 않았지만, 도 2에 도시된 상기 제2 회로(233)는 도 3에 도시된 상기 제1 회로(231)와 유사하거나 또는 유사한 기능을 갖는 알려진 다른 회로일 수 있다.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 또한 본 발명에 개시된 실시예는 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니고, 하기의 특허 청구의 범위 및 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 백라이트 유닛 110: 구동회로
120: 다수의 광원 스트링 130: 이상 검출부
140: 제어회로

Claims (23)

  1. 구동전압을 출력하는 구동회로;
    각각 다수의 광원들을 포함하고 각각의 입력단으로 상기 구동전압을 받아 광을 발생하는 다수의 광원 스트링; 및
    상기 다수의 광원 스트링 각각의 상기 입력단 및 출력단에 연결되어서 상기 다수의 광원 스트링 각각의 상기 입력단과 상기 출력단 사이의 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 중 최고 전압과 최저 전압의 차인 제1 전압과 상기 측정된 전압 중 어느 하나의 전압을 그 전압을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원 수로 나눈 제2 전압에 근거해서 오류검출 신호를 출력하는 이상 검출부를 포함하는 백라이트 유닛.
  2. 제1항에 있어서, 상기 어느 하나의 전압은 상기 최고 전압인 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
  3. 제2항에 있어서, 각각 제1 전극이 상기 다수의 광원 스트링 각각의 출력단에 일대일로 전기적으로 연결되는 다수의 전류제어소자; 및
    상기 다수의 전류제어소자 각각의 제2 전극, 상기 구동회로 및 상기 이상 검출부에 전기적으로 연결된 제어회로를 더 포함하는 백라이트 유닛.
  4. 제3항에 있어서, 상기 이상 검출부는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우 상기 제어회로로 상기 오류검출 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제어회로는 상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 구동전압을 제어하는 전원제어신호를 상기 구동회로로 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
  6. 제4항에 있어서, 상기 제어회로는 상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 다수의 광원 스트링에 흐르는 전류를 제어하는 전류제어신호를 상기 전류제어소자로 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
  7. 제3항에 있어서, 상기 이상 검출부는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압에 기 설정된 전압을 더한 전압보다 큰 경우 상기 제어회로로 오류검출 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
  8. 제7항에 있어서, 상기 제어회로는 상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 구동전압을 제어하는 전원제어신호를 상기 구동회로로 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
  9. 제7항에 있어서, 상기 제어회로는 상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 다수의 광원 스트링에 흐르는 전류를 제어하는 전류제어신호를 상기 전류제어소자로 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
  10. 각각 다수의 광원들을 포함하고, 구동전압을 수신하는 다수의 광원 스트링 각각의 입력단과 출력단 사이의 전압을 측정하는 단계;
    상기 측정된 전압 중 최고 전압과 최저 전압의 차인 제1 전압과 상기 측정된 전압 중 어느 하나의 전압을 그 전압을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원 수로 나눈 제2 전압에 근거해서 오류검출 신호를 출력하는 단계; 및
    상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 구동전압을 제어하는 단계를 포함하는 백라이트 유닛의 구동방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 어느 하나의 전압은 상기 최고 전압인 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛의 구동방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 오류검출 신호는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우 출력되는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛의 구동방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 다수의 광원 스트링에 흐르는 전류를 제어하는 단계를 더 포함하는 백라이트 유닛의 구동방법.
  14. 제11항에 있어서, 상기 오류검출 신호는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압에 기 설정된 전압을 더한 전압보다 큰 경우 출력되는 것을 특징으로 하는 다수의 광원 스트링을 포함하는 백라이트 유닛의 구동방법.
  15. 제14항에 있어서, 상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 다수의 광원 스트링에 흐르는 전류를 제어하는 단계를 더 포함하는 백라이트 유닛의 구동방법.
  16. 구동전압을 출력하는 구동회로;
    각각 다수의 광원들을 포함하고 입력단으로부터 상기 구동전압을 공급받아 광을 발생하며 서로 병렬 연결된 다수의 광원 스트링;
    각각의 애노드 단자가 상기 다수의 광원 스트링 각각의 출력단에 연결된 다수의 제1 다이오드;
    각각의 캐소드 단자가 상기 다수의 광원 스트링 각각의 출력단에 연결된 다수의 제2 다이오드;
    상기 다수의 광원 스트링의 상기 입력단에 일 단자가 연결된 제1 저항;
    상기 제1 저항의 타 단자와 상기 다수의 제1 다이오드의 캐소드 단자 사이에 연결된 제2 저항;
    상기 다수의 제1 다이오드의 캐소드 단자 및 상기 다수의 제2 다이오드의 애노드 단자에 연결되어 양 단자 사이의 제1 전압을 출력하는 제1 회로;
    상기 다수의 제1 다이오드의 캐소드 단자와 상기 제1 저항과 상기 제2 저항을 연결하는 단자에 연결되어 양 단자 사이의 제2 전압을 출력하는 제2 회로; 및
    상기 제1 회로 및 상기 제2 회로에 연결되어 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압에 근거해서 오류검출 신호를 출력하는 비교회로를 포함하는 백라이트 유닛.
  17. 제16항에 있어서, 각각 제1 전극이 상기 다수의 광원 스트링 각각의 출력단에 전기적으로 연결되는 다수의 전류제어소자; 및
    상기 다수의 전류제어소자 각각의 제2 전극, 상기 구동회로 및 상기 비교회로에 전기적으로 연결된 제어회로를 더 포함하는 백라이트 유닛.
  18. 제17항에 있어서, 상기 비교회로는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우 상기 제어회로로 상기 오류검출 신호를 출력하고, 상기 제어회로는 상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 구동전압을 제어하는 전원제어신호를 상기 구동회로로 출력하고 상기 다수의 광원 스트링에 흐르는 전류를 제어하는 전류제어신호를 상기 전류제어소자로 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
  19. 제17항에 있어서, 상기 비교회로는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압에 기 설정된 전압을 더한 전압보다 큰 경우 상기 제어회로로 오류검출 신호를 출력하고, 상기 제어회로는 상기 오류검출 신호에 응답하여 상기 구동전압을 제어하는 전원제어신호를 상기 구동회로로 출력하고 상기 다수의 광원 스트링에 흐르는 전류를 제어하는 전류제어신호를 상기 전류제어소자로 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛.
  20. 각각 다수의 광원들을 포함하고, 구동전압을 수신하는 다수의 광원 스트링 각각의 입력단과 출력단 사이의 전압을 측정하는 단계; 및
    상기 측정된 전압 중 최고 전압과 최저 전압의 차인 제1 전압과 상기 측정된 전압 중 어느 하나의 전압을 그 전압을 나타내는 광원 스트링에 연결된 광원 수로 나눈 제2 전압에 근거해서 오류검출 신호를 출력하는 단계를 포함하는 백라이트 유닛의 이상 검출 방법.
  21. 제20항에 있어서, 상기 어느 하나의 전압은 상기 최고 전압인 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛의 이상 검출 방법.
  22. 제21항에 있어서, 상기 오류검출 신호 출력 단계는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우 상기 오류검출 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛의 이상 검출 방법.
  23. 제21항에 있어서, 상기 오류검출 신호 출력 단계는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압에 기 설정된 전압을 더한 전압보다 큰 경우 상기 오류검출 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛의 이상 검출 방법.
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