CN108983453B

CN108983453B - 背光模组的检测装置、检测治具及显示模组

Info

Publication number: CN108983453B
Application number: CN201810834337.0A
Authority: CN
Inventors: 钟本顺; 赵静赟; 倪园婷
Original assignee: Wuhan Tianma Microelectronics Co Ltd
Current assignee: Wuhan Tianma Microelectronics Co Ltd
Priority date: 2018-07-26
Filing date: 2018-07-26
Publication date: 2021-11-05
Anticipated expiration: 2038-07-26
Also published as: CN108983453A

Abstract

本发明公开了一种背光模组的检测装置、检测治具及显示模组，可以通过第一分压单元、数据处理单元、与各第三检测电阻一一对应的第二分压单元、以及与各第二分压单元一一对应的检测比较单元的相互配合，可以实现对背光模组的异常进行检测。并且，在对背光模组进行检测时，还可以通过使电压检测单元的每一检测输入端直接与对应的第一检测电阻所连接的第二端口耦接，从而可以直接检测得到耦接的第二端口上的电压，即检测输入端的电压，进而通过检测输入端的电压，可以直接判断背光模组是否出现异常。与通过分压电路将第二端口的电压进行分压后输出再进行判断相比，可以不用额外的设置分压电路，从而简化检测装置的结构。

Description

背光模组的检测装置、检测治具及显示模组

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种背光模组的检测装置、检测治具及显示模组。

背景技术

目前液晶显示屏在手机、电视等各种产品中得到广泛的使用，而液晶显示屏本身不发光，需要配合背光模组才能显示图像。然而，背光模组在生产时，受诸多不确定因素影响，会出现短路或断路等异常问题。因此，如何对背光模组进行检测以确定其是否出现异常，是本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种背光模组的检测装置、检测治具及显示模组，用以检测背光模组是否出现异常。

本发明实施例提供了一种背光模组的检测装置，所述背光模组包括：多个灯串、第一端口、与各所述灯串一一对应的第二端口、至少与部分第二端口一一对应的第一检测电阻以及阴极电压输入端；其中，各所述灯串的阳极与所述第一端口耦接，各所述灯串的阴极与对应的第二端口耦接；所述至少部分第二端口中的每一所述第二端口通过对应的第一检测电阻与所述阴极电压输入端耦接；

所述检测装置包括：具有与各所述第一检测电阻一一对应的检测输入端的电压检测单元；其中，所述电压检测单元的每一所述检测输入端用于在检测时与对应的第一检测电阻所连接的第二端口耦接，并根据所述检测输入端的电压，判断所述背光模组是否出现异常。

可选地，在本发明实施例中，所述电压检测单元包括：门限电压子单元、处理控制子单元、以及与各所述第一检测电阻一一对应的比较子单元；

所述门限电压子单元的第一输出端与所述比较子单元的第一参考输入端耦接，所述门限电压子单元的第二输出端与所述比较子单元的第二参考输入端耦接；所述门限电压子单元用于通过所述第一输出端输出第一门限电压，通过所述第二输出端输出第二门限电压；其中，所述第一门限电压小于所述第二门限电压；

各所述比较子单元的端口电压输入端作为所述检测装置的检测输入端，各所述比较子单元的检测输出端与所述处理控制子单元的电压输入端耦接；各所述比较子单元用于在所述端口电压输入端的电压小于所述第一门限电压或在所述端口电压输入端的电压大于所述第二门限电压时，向所述处理控制子单元输出具有第一电平的检测信号；在所述端口电压输入端的电压不小于所述第一门限电压且不大于所述第二门限电压时，向所述处理控制子单元输出具有第二电平的检测信号；

所述处理控制子单元用于在判断至少一个检测信号的电平为第一电平时，确定所述背光模组存在异常；在判断所有所述检测信号的电平均为第二电平时，确定所述背光模组未存在异常。

可选地，在本发明实施例中，所述电压检测单元包括：具有与各所述检测输入端一一对应的检测电压输入端的第二微型处理器；

所述第二微型处理器的各所述检测电压输入端作为对应的所述检测输入端，用于在判断所有所述检测电压输入端的电压均满足第一阈值电压范围时，确定所述背光模组未存在异常；在判断至少一个检测电压输入端的电压不满足所述第一阈值电压范围时，确定所述背光模组存在异常。

相应地，本发明实施例还提供了一种背光模组的检测装置，所述背光模组包括：多个灯串、第一端口、与各所述灯串一一对应的第二端口、第二检测电阻、至少与部分第二端口一一对应的第三检测电阻以及阴极电压输入端；其中，各所述灯串的阳极通过所述第二检测电阻与所述第一端口耦接，各所述灯串的阴极与对应的第二端口耦接；所述至少部分第二端口中的每一所述第二端口通过对应的第一检测电阻与所述阴极电压输入端耦接；

所述检测装置包括：第一分压单元、数据处理单元、与各所述第三检测电阻一一对应的第二分压单元、以及与各所述第二分压单元一一对应的检测比较单元；

所述第一分压单元用于根据所述第二检测电阻两端的电压，向所述检测比较单元输出第一检测电压和第二检测电压；

所述第二分压单元用于根据对应的第三检测电阻两端的电压，向所述检测比较单元输出第三检测电压和第四检测电压；

各所述检测比较单元用于在所述第一检测电压不大于所述第二检测电压或所述第四检测电压不大于第三检测电压时，向所述数据处理单元输出具有第一电平的检测信号；在所述第一检测电压大于所述第二检测电压且所述第四检测电压大于第三检测电压时，向所述数据处理单元输出具有第二电平的检测信号；

所述数据处理单元用于在判断至少一个检测信号的电平为第一电平时，确定所述背光模组存在异常；在判断所有所述检测信号的电平均为第二电平时，确定所述背光模组未存在异常。

相应地，本发明实施例还提供了一种检测治具，包括本发明实施例提供的背光模组的检测装置。

可选地，在本发明实施例中，所述检测治具还包括：印刷电路板；

所述检测装置设置于所述印刷电路板上。

相应地，本发明实施例还提供了一种显示模组，包括：背光模组以及设置于所述背光模组出光侧的液晶显示面板；

所述背光模组包括：多个灯串、第一端口、与各所述灯串一一对应的第二端口、至少与部分第二端口一一对应的第一检测电阻以及阴极电压输入端；其中，各所述灯串的阳极与所述第一端口耦接，各所述灯串的阴极与对应的第二端口耦接；所述至少部分第二端口中的每一所述第二端口通过对应的第一检测电阻与所述阴极电压输入端耦接。

可选地，在本发明实施例中，还包括本发明实施例提供的的背光模组的检测装置。

可选地，在本发明实施例中，所述显示模组还包括：柔性电路板；

所述检测装置设置于所述柔性电路板上。

本发明实施例提供的背光模组的检测装置、检测治具及显示模组，可以通过第一分压单元、数据处理单元、与各第三检测电阻一一对应的第二分压单元、以及与各第二分压单元一一对应的检测比较单元的相互配合，可以实现对背光模组的异常进行检测。并且，在对背光模组进行检测时，还可以通过使电压检测单元的每一检测输入端直接与对应的第一检测电阻所连接的第二端口耦接，从而可以直接检测得到耦接的第二端口上的电压，即检测输入端的电压，进而通过检测输入端的电压，可以直接判断背光模组是否出现异常。与通过分压电路将第二端口的电压进行分压后输出再进行判断相比，可以不用额外的设置分压电路，从而简化检测装置的结构。

附图说明

图1为本发明实施例提供的背光模组及其检测装置的结构示意图之一；

图2为本发明实施例提供的背光模组及其检测装置的结构示意图之二；

图3为本发明实施例提供的背光模组及其检测装置的结构示意图之三；

图4为本发明实施例提供的背光模组及其检测装置的结构示意图之四；

图5为本发明实施例提供的背光模组及其检测装置的结构示意图之五；

图6为本发明实施例提供的检测装置的具体结构示意图之一；

图7为本发明实施例提供的检测装置的具体结构示意图之二；

图8为本发明实施例提供的检测装置的具体结构示意图之三；

图9为本发明实施例提供的检测装置的具体结构示意图之四；

图10为本发明实施例提供的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的背光模组的检测装置、检测治具及显示模组的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。并且，附图中各图形的大小和形状不反映背光模组的检测装置、检测治具及显示模组的真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

如图1所示，本发明实施例提供的背光模组100的结构可以包括：多个灯串110_m(2≤m≤M且为整数，图1以M＝2为例)，第一端口LEDA，与灯串110_m一一对应的第二端口ledk_m，第二检测电阻Rx、至少与部分第二端口ledk_m一一对应的第三检测电阻Ry_k(1≤k≤K且为整数，图2以K＝1为例)，以及阴极电压输入端LEDK；其中，各灯串110_m的阳极通过第二检测电阻Rx与第一端口LEDA耦接，各灯串110_m的阴极与对应的第二端口ledk_m耦接；至少部分第二端口中的每一第二端口通过对应的第一检测电阻与阴极电压输入端LEDK耦接。

进一步地，在具体实施时，各灯串110_m分别可以包括：6个发光二极管(LightEmitting Diode，LED)D1～D6。灯串110_1中的第一个LED D1的阳极通过第二检测电阻Rx与第一端口LEDA耦接，最后一个LED D6的阴极与对应的第二端口ledk_1耦接，第二端口ledk_1通过对应的第三检测电阻Ry_1与阴极电压输入端LEDK耦接，其余LED的阳极分别与其上一个LED的阴极耦接。同理，灯串110_2的LED D6的阴极与第二端口ledk_2耦接，其余连接方式在此不作赘述。

在生产制备过程中，背光模组可能会出现断路或短路的异常问题，例如可能会出现第二端口ledk_1与灯串110_1断路、第二端口ledk_2与灯串110_2断路、或者第二端口LEDK_1与第二端口LEDK_2短路的异常问题，为了检测背光模组是否异常，本发明实施例提供了一种背光模组的检测装置，用于对背光模组的异常进行检测。下面通过实施例对本发明提供的检测装置的结构进行说明，但是读者应知，其结构并不局限于此。

实施例一、

如图1所示，本发明实施例提供的背光模组的检测装置可以包括：第一分压单元210、数据处理单元220、与各第三检测电阻Ry_k一一对应的第二分压单元230_k、以及与各第二分压单元230_k一一对应的检测比较单元240_k；

第一分压单元210用于根据第二检测电阻Rx两端的电压，向检测比较单元240输出第一检测电压和第二检测电压；

第二分压单元230_k用于根据对应的第三检测电阻Ry_k两端的电压，向对应的检测比较单元240_k输出第三检测电压和第四检测电压；

各检测比较单元240_k用于在第一检测电压不大于第二检测电压或第四检测电压不大于第三检测电压时，向数据处理单元220输出具有第一电平的检测信号；在第一检测电压大于第二检测电压且第四检测电压大于第三检测电压时，向数据处理单元220输出具有第二电平的检测信号；

数据处理单元220用于在判断至少一个检测信号的电平为第一电平时，确定背光模组存在异常；在判断所有检测信号的电平均为第二电平时，确定背光模组未存在异常。

本发明实施例提供的背光模组的检测装置，在对背光模组进行检测时，通过第一分压单元向检测比较单元输出第一检测电压和第二检测电压；通过第二分压单元向对应的检测比较单元输出第三检测电压和第四检测电压；通过检测比较单元在第一检测电压不大于第二检测电压或第四检测电压不大于第三检测电压时，向数据处理单元输出具有第一电平的检测信号；在数据处理单元判断至少一个检测信号的电平为第一电平时，可以确定背光模组存在异常。通过检测比较单元在第一检测电压大于第二检测电压且第四检测电压大于第三检测电压时，向数据处理单元输出具有第二电平的检测信号，数据处理单元在判断所有检测信号的电平均为第二电平时，可以确定背光模组未存在异常，从而实现对背光模组的异常进行检测。

一般，每个LED的压降可以设置为3.1V，第一端口的电压可以设置为18.6V，阴极电压输入端LEDK的电压可以设置为0.3V，为了使每个灯串的亮度均匀，在具体实施时，可以使流过每个灯串的电流为0.02A。然而，由于部分灯串串联有第三检测电阻，因此可能会导致该灯串中实际流过的电流略小于0.02A，例如可以为0.019A。由于其对灯串发光的影响较小，可以忽略不计。当然，在实际应用中，第一端口LEDA的电压和阴极电压输入端LEDK的电压可以由背光驱动芯片提供。并且，上述各数值可以根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例中，如图1所示，第一分压单元210可以包括：第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1以及第二电容C2；

第一电阻R1的第一端用于在检测时与第一端口LEDA耦接，第一电阻R1的第二端分别与第三电阻R3的第一端、第一电容C1的第一端以及对应的检测比较单元240耦接，用于输出第一检测电压；

第二电阻R2的第一端用于在检测时与第二检测电阻Rx连接各灯串110_m的阳极的一端耦接，第二电阻R2的第二端分别与第四电阻R4的第一端、第二电容C2的第一端以及对应的检测比较单元240耦接，用于输出第二检测电压；

第三电阻R3的第二端分别与第一电容C1的第二端、第二电容C2的第二端、第四电阻R4的第二端以及接地端GND耦接。

在具体实施时，可以使第一电阻的电阻值等于第二检测电阻的电阻值，第一电阻和第三电阻的电阻值大于第二电阻和第四电阻的电阻值，以使第一检测电压V₀₁大于第二检测电压V₀₂。当然，在实际应用中，上述电阻的电阻值需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例中，如图1所示，第二分压单元230_k可以包括：第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第三电容C3、第四电容C4；

第五电阻R5的第一端与阴极电压输入端LEDK耦接，第五电阻R5的第二端分别与第七电阻R7的第一端、第三电容C3的第一端以及对应的检测比较单元240耦接，用于输出第三检测电压；

第六电阻R6的第一端与对应的第二端口ledk_1耦接，第六电阻R6的第二端分别与第八电阻R8的第一端、第四电容C4的第一端以及对应的检测比较单元240耦接，用于输出第四检测电压；

第七电阻R7的第二端分别与第三电容C3的第二端、第八电阻R8的第二端、第四电容C4的第二端以及接地端GND耦接。

在具体实施时，可以使第六电阻和第八电阻的电阻值大于第五电阻和第七电阻的电阻值，以使背光模组正常时，第四检测电压V₀₄大于第三检测电压V₀₃。当然，在实际应用中，上述电阻的电阻值需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例中，如图1所示，检测比较单元240_k可以包括：第二比较器comp2_k和第九电阻R9；

第二比较器comp2_k的第一端INA-与第一分压单元210耦接，用于接收第二检测电压，第二比较器comp2_k的第二端INB+与对应的第二分压单元230_k耦接，用于接收第四检测电压，第二比较器comp2_k的第三端INB-与第二分压单元230_k耦接，用于接收第三检测电压，第二比较器comp2_k的第四端INA+与第一分压单元210耦接，用于接收第一检测电压，第二比较器comp2_k的第五端OUTA分别与第六端OUTB、第九电阻R9的第一端、以及数据处理单元220耦接，用于输出检测信号；第二比较器comp2_k的第七端VCC分别与第二电源端VIN以及第九电阻R9的第二端耦接，第二比较器comp2_k的第八端GND与接地端GND耦接。

在具体实施时，在第四端INA+的电压大于第一端INA-的电压时，第五端OUTA输出高电平；反之，第五端OUTA输出低电平。在第二端INB+的电压大于第三端INB-的电压时，第六端OUTB输出高电平；反之，第六端OUTB输出低电平。并且，在第五端OUTA输出高电平且第六端OUTB也输出高电平时，则检测信号为高电平。只要第五端OUTA和第六端OUTB中有一个输出低电平时，则检测信号为低电平。

在具体实施时，第二电源端VIN的电压可以由电源电路提供，其具体电压值可以根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例中，如图1所示，数据处理单元220可以包括第三微型处理器221。进一步地，第三微型处理器221可以为结合软件和硬件方面的实施例。并且，第三微型处理器221可以与相关技术中的结构基本相同，其组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。当然，第三微型处理器的结构也可以为其他可以实现的结构，在此不作限定。

以上仅是举例说明本发明实施例提供的检测装置的具体结构，在具体实施时，其具体结构不限于本发明实施例提供的上述结构，还可以是本领域技术人员可知的其他结构，在此不作限定。

下面结合图1所示的结构，对本发明实施例提供的上述检测装置的工作过程作以描述。在对背光模组检测时，将第一分压单元210中的第一电阻R1的第一端与第一端口LEDA耦接，将第二电阻R2的第一端与第二检测电阻Rx另一端耦接，将第二分压单元230中的第六电阻R6的第一端与第二端口ledk_1耦接，将第五电阻R5的第一端与阴极电压输入端LEDK耦接。

在背光模组正常时，各灯串110_m中的电流正常流通，通过分压，则有V₀₁>V₀₂且V₀₄>V₀₃，则第二比较器comp2_1输出高电平的检测信号。

在第二端口ledk_1与灯串110_1之间断路时，则第二端口ledk_1与阴极电压输入端LEDK之间无压降，则不再有V₀₄>V₀₃，使得第二比较器comp2_1输出低电平的检测信号。

在第二端口ledk_1与第二端口ledk_2之间短路时，则不再有V₀₄>V₀₃，使得第二比较器comp2_1输出低电平的检测信号。

这样通过第三微型处理器221对接收到的检测信号的电平进行判断，在判断接收到的检测信号的电平为高电平时，可以确定背光模组不存在异常。在判断接收到的检测信号的电平为低电平时，可以确定背光模组存在断路或短路的异常。

实施例二、

实施例一中的检测装置在第二端口ledk_2出现断路时将不能被检测出来。因此，为了检测第二端口ledk_2，因此还需要在第二端口ledk_2与阴极电压输入端LEDK之间设置第三检测电阻，并且再设置第二分压单元和检测比较单元，这样会导致电路过多，不利于简化检测装置的结构。

有鉴于此，本发明实施例又提供了一种背光模组的检测装置，可以通过结构简单的检测装置并结合结构简化的背光模组，实现对背光模组的异常的检测功能。

如图2至图5所示，本发明实施例提供了一种背光模组100可以包括：多个灯串110_m(2≤m≤M且为整数，图2与图5以M＝2为例，图3以M＝3为例，图4以M＝4为例)、第一端口LEDA、与各灯串110_m一一对应的第二端口ledk_m、至少与部分第二端口一一对应的第一检测电阻RS_n(1≤n≤N且为整数，图2以N＝1为例，图3以N＝1为例，图4以N＝2为例、图5以N＝2为例)以及阴极电压输入端LEDK。进一步地，在具体实施时，各灯串110_m的阳极与第一端口LEDA耦接，各灯串110_m的阴极与对应的第二端口ledk_m耦接。其中，如图2至图4所示，仅部分第二端口中的每一第二端口通过对应的第一检测电阻与阴极电压输入端LEDK耦接，其余部分第二端口中的每一第二端口直接与阴极电压输入端LEDK耦接。这样可以仅使背光模组中的部分第二端口与灯串之间串联第一检测电阻，从而可以简化背光模组的结构，以及降低背光模组的功耗。

一般，每个LED的压降可以设置为3.1V，第一端口的电压可以设置为18.6V，阴极电压输入端LEDK的电压可以设置为0.3V，为了使每个灯串的亮度均匀，在具体实施时，可以使流过每个灯串的电流为0.02A。然而，由于部分灯串串联有第一检测电阻，因此可能会导致该灯串中实际流过的电流略小于0.02A，例如可以为0.019A。由于其对灯串发光的影响较小，可以忽略不计。当然，在实际应用中，第一端口LEDA的电压和阴极电压输入端LEDK的电压可以由背光驱动芯片提供。并且，上述各数值可以根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

进一步地，在具体实施时，可以使

即N为不超过

的最大整数，以及使通过第一检测电阻与阴极电压输入端耦接的第二端口和直接与阴极电压输入端耦接的第二端***替排列。例如，如图2所示，背光模组包括2个灯串110_1和110_2和一个第一检测电阻RS_1，灯串110_1的阴极与第二端口ledk_1耦接，第二端口ledk_1通过第一检测电阻RS_1与阴极电压输入端LEDK耦接。如图3所示，背光模组包括3个灯串110_1～110_3和一个第一检测电阻RS_1，灯串110_2的阴极与第二端口ledk_2耦接，第二端口ledk_2通过第一检测电阻RS_1与阴极电压输入端LEDK耦接。如图4所示，背光模组包括4个灯串110_1～110_4和两个第一检测电阻RS_2，灯串110_1的阴极与第二端口ledk_1耦接，第二端口ledk_1通过第一检测电阻RS_1与阴极电压输入端LEDK耦接；灯串110_3的阴极与第二端口ledk_3耦接，第二端口ledk_3通过第一检测电阻RS_2与阴极电压输入端LEDK耦接。以上仅是举例说明，其结构并不局限于此。其余结构可以此类推，在此不作赘述。

如图2至图5所示，本发明实施例提供的背光模组的检测装置可以包括：具有与各第一检测电阻RS_n一一对应的检测输入端Vin_n的电压检测单元300；其中，电压检测单元300的每一检测输入端Vin_n用于在检测时与对应的第一检测电阻RS_n所连接的第二端口耦接，并根据检测输入端的电压，判断背光模组是否出现异常。

本发明实施例提供的背光模组的检测装置，在对背光模组进行检测时，通过使电压检测单元的每一检测输入端直接与对应的第一检测电阻所连接的第二端口耦接，从而可以直接检测得到耦接的第二端口上的电压，即检测输入端的电压，进而通过检测输入端的电压，可以直接判断背光模组是否出现异常。与通过分压电路将第二端口的电压进行分压后输出再进行判断相比，可以不用额外的设置分压电路，从而简化检测装置的结构。

在具体实施时，如图6(图6以N＝1为例)所示，电压检测单元可以包括：门限电压子单元310、处理控制子单元320、以及与各第一检测电阻RS_n一一对应的比较子单元330_n；

门限电压子单元310的第一输出端IO_LOW与比较子单元330_n的第一参考输入端V1_LOW耦接，门限电压子单元310的第二输出端IO_TOP与比较子单元330_n的第二参考输入端V2_TOP耦接；门限电压子单元310用于通过第一输出端IO_LOW输出第一门限电压，通过第二输出端IO_TOP输出第二门限电压；其中，第一门限电压小于第二门限电压。

各比较子单元330_n的端口电压输入端Vs作为检测装置的检测输入端Vin_n，各比较子单元330_n的检测输出端Vout_n与处理控制子单元320的电压输入端V0_n耦接；各比较子单元330_n用于在端口电压输入端Vs的电压小于第一门限电压或端口电压输入端Vs的电压大于第二门限电压时，向处理控制子单元320输出具有第一电平的检测信号；在端口电压输入端Vs的电压不小于第一门限电压且不大于第二门限电压时，向处理控制子单元320输出具有第二电平的检测信号；其中，可以使第一电平为低电平，第二电平为高电平；或者，也可以使第一电平为高电平，第二电平为低电平，在此不作限定。

处理控制子单元320用于在判断至少一个检测信号的电平为第一电平时，确定背光模组存在异常；在判断所有检测信号的电平均为第二电平时，确定背光模组未存在不良。

本发明实施例提供的背光模组的检测装置，在对背光模组进行检测时，通过门限电压子单元、处理控制子单元、以及与各第一检测电阻一一对应的比较子单元的相互配合，可以直接判断背光模组是否出现异常。与通过分压电路将第二端口的电压进行分压后输出再进行判断相比，可以不用额外的设置分压电路，从而简化检测装置的结构。

在具体实施时，如图7所示，门限电压子单元310可以包括：第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4以及第五电阻R5；其中，

第一电阻R1的第一端与第一电源端IO_VCC耦接，第一电阻R1的第二端分别与第二电阻R2的第一端以及第三电阻R3的第一端耦接；

第二电阻R2的第二端分别与第四电阻R4的第一端以及第二输出端IO_TOP耦接；

第三电阻R3的第二端分别与第五电阻R5的第一端以及第一输出端IO_LOW耦接；

第四电阻R4的第二端分别与第五电阻R5的第二端以及接地端GND耦接。

进一步地，在具体实施时，可以将第一门限电压V_{IO_LOW}设置为0.72V，将第二门限电压V_{IO_TOP}设置为0.98V。并且可以通过设置第一电源端IO_VCC的电压值并调整第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4以及第五电阻R5的电阻值，从而可以得到第一门限电压和第二门限电压。在实际应用中，不同的背光模组的具体结构不同，因此第一门限电压和第二门限电压可以根据背光模组的结构进行设定，上述电压值和电阻值也需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，如图7所示，比较子单元310_n可以包括：第一分压电阻Rf1、第二分压电压Rf2以及第一比较器comp1_n；其中，第一比较器comp1_n的第一端INA-与第二端INB+耦接，作为比较子单元310_n的端口电压输入端Vs，第一比较器comp1_n的第三端INB-作为比较子单元310_n的第一参考输入端V1_LOW，第一比较器comp1_n的第四端INA+作为比较子单元310_n的第二参考输入端V2_TOP，第一比较器comp1_n的第五端OUTA分别与第六端OUTB、第一分压电阻Rf1的第一端以及第二分压电阻Rf2的第一端耦接。第一分压电阻Rf1的第二端与第二电源端VIN耦接；第二分压电阻Rf2的第二端作为比较子单元310_n的检测输出端Vout_n。

在具体实施时，在第四端INA+的电压大于第一端INA-的电压时，第五端OUTA输出高电平；反之，第五端OUTA输出低电平。在第二端INB+的电压大于第三端INB-的电压时，第六端OUTB输出高电平；反之，第六端OUTB输出低电平。并且，在第五端OUTA输出高电平且第六端OUTB也输出高电平时，则检测输出端Vout_n为高电平。只要第五端OUTA和第六端OUTB中有一个输出低电平时，则检测输出端Vout_n为低电平。

在具体实施时，如图7所示，处理控制子单元320可以包括第一微型处理器321。进一步地，第一微型处理器321可以为结合软件和硬件方面的实施例。并且，第一微型处理器321可以与相关技术中的结构基本相同，其组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。当然，处理控制子单元的结构也可以为其他可以实现的结构，在此不作限定。

下面结合图2与图7所示的结构，对本发明实施例提供的上述检测装置的工作过程作以描述。以V_{IO_LOW}＝0.72V，V_{IO_TOP}＝0.98V为例，以及以流过灯串110_2的电流为0.02A，流过灯串110_1的电流为0.019A，第一检测电阻RS_1的电阻值为30Ω为例。

在对背光模组检测时，将比较子单元330_1的端口电压输入端Vs与第二端口ledk_1耦接，以检测第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}。

在背光模组正常时，第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}＝0.03V+0.019A*30Ω＝0.87V。由于V_{in_1}>V_{IO_LOW}且V_{in_1}<V_{IO_TOP}，则检测输出端Vout_1输出高电平的检测信号。

在第二端口ledk_1与灯串110_1之间断路时，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为LEDK的电压，即V_{in_1}＝0.3V。由于V_{in_1}<V_{IO_LOW}，则检测输出端Vout_1输出低电平的检测信号。

在第二端口ledk_2与灯串110_2之间断路时，灯串110_2的电流0.02A流入灯串110_1，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为：V_{in_1}＝0.3V+(0.019A+0.02A)*30Ω＝1.47V。由于V_{in_1}>V_{IO_TOP}，则检测输出端Vout_1输出低电平的检测信号。

在第二端口ledk_1与第二端口ledk_2短路时，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为LEDK的电压，即V_{in_1}＝0.3V。由于V_{in_1}<V_{IO_LOW}，则检测输出端Vout_1输出低电平的检测信号。

这样通过第一微型处理器320对接收到的检测信号的电平进行判断，在判断接收到的所有检测信号的电平均为高电平时，可以确定背光模组不存在异常。在判断接收到的检测信号中的至少一个检测信号的电平为低电平时，可以确定背光模组存在断路或短路的异常。这样可以仅需在背光模组中的部分灯串中串联第一检测电阻，以通过电路结构简单的检测装置，对背光模组进行检测，以确定背光模组是否异常。

同理，在背光模组如图3所示时，通过第一微型处理器320对接收到的检测信号的电平进行判断，在判断接收到的检测信号的电平为高电平时，可以确定背光模组不存在异常。在判断接收到的检测信号的电平为低电平时，可以确定背光模组存在断路或短路的异常。具体检测过程可以参考上述检测过程，在此不作详述。

实施例三、

本实施例对应的检测装置的结构示意图如图8所示，其针对实施例二中的局部结构进行了变形。下面仅说明本实施例与实施例二的区别之处，其相同之处在此不作赘述。

在具体实施时，如图8所示，检测装置可以包括两个比较子单元330_1和330_2，其可以对应如图4所示的设置有2个第一检测电阻RS_1和RS_2的背光模组100。

在具体实施时，如图8所示，比较子单元330_1可以包括第一比较器comp1_1、第一分压电阻Rf1以及第二分压电阻Rf2。比较子单元330_2可以包括第一比较器comp1_2、第一分压电阻Rf1以及第二分压电阻Rf2。其具体连接关系可以参见实施例一，在此不作赘述。

当然，检测装置也包括3个比较子单元，其可以对应设置有3个第一检测电阻的背光模组。在实际应用中，比较子单元和第一检测电阻的数量可以根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，可以使各比较子单元一一对应一个门限电压子单元。并且，可以使各个第一检测电阻的电阻值可以相同，例如均为30Ω。或者也可以不同，在此不作限定。

为了降低门限电压子单元的数量，在具体实施时，可以使各个第一检测电阻的电阻值设置为相同，在本发明实施例中，可以使至少两个比较子单元共用一个门限电压子单元。这样可以降低门限电压子单元的数量，简化电路结构，节省占用空间。例如可以使两个比较子单元共用一个门限电压子单元，或者使三个比较子单元共用一个门限电压子单元，其余结构可以以此类推，在此不作赘述。进一步地，可以使所有比较子单元共用一个门限电压子单元。这样可以最大化的简化电路结构，节省占用空间。

下面结合图4与图8所示的结构，对本发明实施例提供的上述检测装置的工作过程作以描述。以V_{IO_LOW}＝0.72V，V_{IO_TOP}＝0.98V为例，以及以流过灯串110_2、110_4的电流为0.02A，流过灯串110_1、110_3的电流为0.019A，第一检测电阻RS_1、RS_2的电阻值为30Ω为例。

在对背光模组检测时，将比较子单元330_1的端口电压输入端Vs与第二端口ledk_1耦接，以检测第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}；将比较子单元330_2的端口电压输入端Vin_2与第二端口ledk_3耦接，以检测第二端口ledk_3的电压值V_{in_2}。

在背光模组正常时，第二端口ledk_3的电压值V_{in_2}＝0.03V+0.019A*30Ω＝0.87V。由于V_{in_2}>V_{IO_LOW}且V_{in_2}<V_{IO_TOP}，则检测输出端Vout_2输出高电平的检测信号。

在第二端口ledk_3与灯串110_3之间断路时，则第二端口ledk_3的电压值V_{in_2}为LEDK的电压，即V_{in_2}＝0.3V。由于V_{in_2}<V_{IO_LOW}，则检测输出端Vout_2输出低电平的检测信号。

在第二端口ledk_2与灯串110_2之间断路时，灯串110_2的电流0.02A大约均分的流入灯串110_1、110_3、110_4，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为：V_{in_1}＝0.3V+(0.019A+0.0067A)*30Ω＝1.07V。由于V_{in_1}>V_{IO_TOP}，则检测输出端Vout_1输出低电平的检测信号。同理，检测输出端Vout_2输出低电平的检测信号。并且在第二端口ledk_4与灯串110_2之间断路时，检测输出端Vout_1输出低电平的检测信号。进而，在有两个以上灯串同时断路时，检测输出端Vout_1输出低电平的检测信号。

在第二端口ledk_1与第二端口ledk_2短路时，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为LEDK的电压，即V_{in_1}＝0.3V。由于V_{in_1}<V_{IO_LOW}，则检测输出端Vout_1输出低电平的检测信号。同理，在第二端口ledk_2与第二端口ledk_3短路或第二端口ledk_3与第二端口ledk_4短路时，则第二端口ledk_3的电压值V_{in_2}为LEDK的电压，即V_{in_2}＝0.3V。由于V_{in_2}<V_{IO_LOW}，则检测输出端Vout_2输出低电平的检测信号。

这样通过第一微型处理器320对接收到的检测信号的电平进行判断，在判断接收到的所有检测信号的电平均为高电平时，可以确定背光模组不存在异常。在判断接收到的任意一个检测信号的电平为低电平时，可以确定背光模组存在断路或短路的异常。这样可以仅需在背光模组中的部分灯串中串联第一检测电阻，以通过电路结构简单的检测装置，对背光模组进行检测，以确定背光模组是否异常。

实施例四、

本实施例对应的检测装置的结构示意图如图5所示，其针对实施例二中的局部结构进行了变形。下面仅说明本实施例与实施例二的区别之处，其相同之处在此不作赘述。

在具体实施时，在本发明实施例中，如图5所示，各第二端口ledk_m中的每一第二端口ledk_m通过对应的第一检测电阻RS_n与阴极电压输入端LEDK耦接；并且，相邻的两个第一检测电阻RS_n的电阻值不同。

在具体实施时，在本发明实施例中，如图9所示，电压检测单元包括：门限电压子单元310、处理控制子单元320、以及与各第一检测电阻RS_n一一对应的比较子单元330_n。并且，在具体实施时，可以使各比较子单元330_n一一对应一个门限电压子单元310。或者，也可以使每间隔一个第一检测电阻的第一检测电阻对应的比较子单元共用一个门限电压子单元，这需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

在具体实施时，在本发明实施例中，如图9所示，与比较子单元330_1连接的门限电压子单元310包括的第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4以及第五电阻R5之间的连接方式参见实施例二，在此不作赘述。并且，与比较子单元330_2连接的门限电压子单元310包括的第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4以及第五电阻R5之间的连接方式参见实施例二，在此不作赘述。

其中，以图9为例，第一检测电阻RS_1和RS_2的电阻值不同，例如第一检测电阻RS_1的电压值为30Ω，第一检测电阻RS_2的电压值为15Ω，从而使得第二端口ledk_1和ledk_2的电压不同，因此与比较子单元330_1连接的门限电压子单元310输出的第一门限电压与第二门限电压和与比较子单元330_2连接的门限电压子单元310输出的第一门限电压与第二门限电压的电压值不同。进一步地，在第一检测电阻RS_1的电压值为30Ω时，可以使第一门限电压V_{IO_LOW1}＝0.72V，第二门限电压V_{IO_TOP1}＝0.98V。同理，在第一检测电阻RS_2的电压值为15Ω时，可以通过设置电阻的电阻值，以得到合理的第一门限电压和第二门限电压，例如，其对应的使第一门限电压V_{IO_LOW2}＝0.5V，第二门限电压V_{IO_TOP2}＝0.7V。

下面结合图2与图9所示的结构，对本发明实施例提供的上述检测装置的工作过程作以描述。以第一检测电阻RS_1的电压值为30Ω、其对应的第一门限电压V_{IO_LOW1}＝0.72V，第二门限电压V_{IO_TOP1}＝0.98V为例，以及以第一检测电阻RS_2的电压值为15Ω、其对应的第一门限电压V_{IO_LOW2}＝0.5V，第二门限电压V_{IO_TOP2}＝0.7V为例，以及以流过灯串110_1的电流为0.019A，流过灯串110_2的电流为0.02A为例。

在对背光模组检测时，将比较子单元330_1的端口电压输入端Vs与第二端口ledk_1耦接，以检测第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}，将比较子单元330_2的端口电压输入端Vs与第二端口ledk_2耦接，以检测第二端口ledk_2的电压值V_{in_2}。

在背光模组正常时，第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}＝0.03V+0.019A*30Ω＝0.87V。由于V_{in_1}>V_{IO_LOW1}且V_{in_1}<V_{IO_TOP1}，则检测输出端Vout_1输出高电平的检测信号。

在背光模组正常时，第二端口ledk_2的电压值V_{in_2}＝0.03V+0.02A*15Ω＝0.6V。由于V_{in_2}>V_{IO_LOW2}且V_{in_2}<V_{IO_TOP2}，则检测输出端Vout_2输出高电平的检测信号。

在第二端口ledk_1与灯串110_1之间断路时，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为LEDK的电压，即V_{in_1}＝0.3V。由于V_{in_1}<V_{IO_LOW1}，则检测输出端Vout_1输出低电平的检测信号。

在第二端口ledk_2与灯串110_2之间断路时，则第二端口ledk_2的电压值V_{in_2}为LEDK的电压，即V_{in_2}＝0.3V。由于V_{in_2}<V_{IO_LOW2}，则检测输出端Vout_2输出低电平的检测信号。

在第二端口ledk_1与第二端口ledk_2短路时，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为第二端口ledk_2的电压值V_{in_2}，即V_{in_1}＝V_{in_2}。由于V_{in_1}<V_{IO_LOW1}，则检测输出端Vout_1输出低电平的检测信号。

这样通过第一微型处理器320对接收到的检测信号的电平进行判断，在判断接收到的所有检测信号的电平均为高电平时，可以确定背光模组不存在异常。在判断接收到的检测信号中的至少一个检测信号的电平为低电平时，可以确定背光模组存在断路或短路的异常。

实施例五、

在具体实施时，电压检测单元也可以包括：具有与各检测输入端一一对应的检测电压输入端的第二微型处理器；其中，第二微型处理器的各检测电压输入端作为对应的检测输入端，用于在判断所有检测电压输入端的电压均满足第一阈值电压范围时，确定背光模组未存在异常；在判断至少一个检测电压输入端的电压不满足第一阈值电压范围时，确定背光模组存在异常。这样可以不用设置门限电压子单元于比较子单元，从而进一步简化检测装置的结构。

在具体实施时，如图2与图3所示的背光模组具有1个第一检测电阻RS_1时，则第二微型处理器可以具有一个检测电压输入端。在具体实施时，可以将第一阈值电压范围设置为0.72V～0.98V。当然，在实际应用中，第一阈值电压范围也可以为其他范围，这需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

具体地，以图2所示的背光模组为例，在背光模组正常时，第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}＝0.87V。由于V_{in_1}>0.72V且V_{in_1}<0.98V，则可以确定背光模组未存在异常。

在第二端口ledk_1与灯串110_1之间断路时，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为LEDK的电压，即V_{in_1}＝0.3V。由于V_{in_1}<0.72V，则确定背光模组存在异常。

在第二端口ledk_2与灯串110_2之间断路时，灯串110_2的电流0.02A流入灯串110_1，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为：V_{in_1}＝1.47V。由于V_{in_1}>0.98V，则确定背光模组存在异常。

在第二端口ledk_1与第二端口ledk_2短路时，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为LEDK的电压，即V_{in_1}＝0.3V。由于V_{in_1}<0.72V，则确定背光模组存在异常。

这样可以采用第二微处理器直接检测与第一检测电阻连接的第二端口的电压，从而直接进行判断，以确定背光模组是否存在异常，进而简化检测装置的结构。

在具体实施时，如图4所示的背光模组具有2个第一检测电阻RS_1，则第二微型处理器可以具有2个检测电压输入端。在背光模组具有3个第一检测电阻时，第二微型处理器可以具有3个检测电压输入端。其余依次类推，在此不作赘述。并且其具体检测过程可以参考上述检测过程，在此不作详述。

进一步地，第二微型处理器可以为结合软件和硬件方面的实施例。并且，第二微型处理器可以与相关技术中的结构基本相同，其组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。当然，第二微型处理器的结构也可以为其他可以实现的结构，在此不作限定。

实施例六、

本实施例对应的检测装置的结构示意图如图5所示，其针对实施例六中的局部结构进行了变形。下面仅说明本实施例与实施例六的区别之处，其相同之处在此不作赘述。

在如图5所示的背光模组具有2个第一检测电阻RS_1和RS_2时，则第二微型处理器可以具有两个检测电压输入端。在具体实施时，可以根据每个第一检测电阻RS_1和RS_2的电阻值分别设置对应的第一阈值电压范围。例如，在第一检测电阻RS_1的电阻值为30Ω时，其对应设置的第一阈值电压范围可以设置为0.72V～0.98V。在第一检测电阻RS_2的电阻值为15Ω时，其对应设置的第一阈值电压范围可以设置为0.5V～0.7V。当然，在实际应用中，第一阈值电压范围也可以为其他范围，这需要根据实际应用环境来设计确定，在此不作限定。

具体地，以图5所示的背光模组为例，在背光模组正常时，第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}＝0.87V。由于V_{in_1}>0.72V且V_{in_1}<0.98V，则可以确定背光模组未存在异常。

在背光模组正常时，第二端口ledk_2的电压值V_{in_2}＝0.6V。由于V_{in_2}>0.5V且V_{in_1}<0.7V，则可以确定背光模组未存在异常。

在第二端口ledk_2与灯串110_2之间断路时，则第二端口ledk_2的电压值V_{in_2}为LEDK的电压，即V_{in_2}＝0.3V。由于V_{in_2}<0.5V，则确定背光模组存在异常。

在第二端口ledk_1与第二端口ledk_2短路时，则第二端口ledk_1的电压值V_{in_1}为V_{in_2}的电压，即有V_{in_1}<0.72V，则确定背光模组存在异常。

这样可以采用第二微处理器直接检测与第一检测电阻连接的第二端口的电压，从而直接进行判断，以确定背光模组是否存在异常，进而简化检测装置的结构。其余以此类推，在此不作限定。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种检测治具，包括本发明实施例提供的背光模组的检测装置。该检测治具解决问题的原理与前述背光模组的检测装置相似，因此该检测治具的实施可以参见前述背光模组的检测装置的实施，重复之处在此不再赘述。

在具体实施时，本发明实施例提供的检测治具还可以包括与检测输入端一一对应的检测探针；该检测探针与对应的检测输入端耦接。在对背光模组检测时，检测输入端通过对应的检测探针与对应的第二端口耦接。并且，对于该检测治具的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。

在具体实施时，本发明实施例提供的检测治具还可以包括印刷电路板；其中，检测装置设置于印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)上。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示模组，如图10所示，可以包括：背光模组100以及设置于背光模组出光侧的液晶显示面板400。

其中，如图1至图5所示，背光模组100可以包括：多个灯串110_m、第一端口LEDA、与各灯串110_m一一对应的第二端口ledk_m、至少与部分第二端口一一对应的第一检测电阻RS_n以及阴极电压输入端LEDK；其中，各灯串110_m的阳极与第一端口LEDA耦接，各灯串110_m的阴极与对应的第二端口ledk_m耦接。并且，至少部分第二端口中的每一第二端口通过对应的第一检测电阻与阴极电压输入端LEDK耦接。进一步地，仅部分第二端口中的每一第二端口通过对应的第一检测电阻与阴极电压输入端LEDK耦接，其余部分第二端口中的每一第二端口直接与阴极电压输入端LEDK耦接。这样可以仅使背光模组中的部分第二端口与灯串之间串联第一检测电阻，从而可以简化背光模组的结构，以及降低背光模组的功耗。或者，每一第二端口分别对应一个第一检测电阻，且每一第二端口通过对应的第一检测电阻与阴极电压输入端LEDK耦接；相邻的两个第一检测电阻的电阻值不同。

在具体实施时，如图10所示，液晶显示面板400可以包括：相对设置的阵列基板410和对向基板420以及封装于阵列基板410和对向基板420之间的液晶层430。其中，该液晶显示面板400可以与相关技术中的结构基本相同，为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。

进一步地，在具体实施时，本发明实施例提供的显示模组还可以包括本发明实施例提供的背光模组的检测装置。一般在背光模组与液晶显示面板组装工艺中，可能会对背光模组造成损坏，这样通过设置检测装置，以通过检测装置在背光模组与液晶显示面板组装后对背光模组进行检测，以保证产品的质量。

进一步地，在具体实施时，显示模组还可以包括：与液晶显示面板400电连接的柔性电路板(Flexible Printed Circuit，FPC)440。进一步地，在具体实施时，可以将检测装置设置于FPC上，以提高集成度。

进一步地，显示模组还可以包括：与背光源100电连接的FPC120。在对背光源100进行检测时，通过将FPC120与FPC440电连接，以通过FPC440上的检测装置对背光源进行检测。

在具体实施时，本发明实施例提供的显示装置具体可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims

1.一种背光模组的检测装置，其特征在于，所述背光模组包括：多个灯串、第一端口、与各所述灯串一一对应的第二端口、第二检测电阻、至少与部分第二端口一一对应的第三检测电阻以及阴极电压输入端；其中，各所述灯串的阳极通过所述第二检测电阻与所述第一端口耦接，各所述灯串的阴极与对应的第二端口耦接；所述至少部分第二端口中的每一所述第二端口通过对应的所述第三检测电阻与所述阴极电压输入端耦接；

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第一分压单元包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一电容以及第二电容；

所述第一电阻的第一端用于在检测时与所述第一端口耦接，所述第一电阻的第二端分别与所述第三电阻的第一端、所述第一电容的第一端以及对应的所述检测比较单元耦接，用于输出所述第一检测电压；

所述第二电阻的第一端用于在检测时与所述第二检测电阻连接各所述灯串的阳极的一端耦接，所述第二电阻的第二端分别与所述第四电阻的第一端、所述第二电容的第一端以及对应的所述检测比较单元耦接，用于输出所述第二检测电压；

所述第三电阻的第二端分别与所述第一电容的第二端、所述第二电容的第二端、所述第四电阻的第二端以及接地端耦接。

3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第二分压单元包括：第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第三电容、第四电容；

所述第五电阻的第一端与所述阴极电压输入端耦接，所述第五电阻的第二端分别与所述第七电阻的第一端、所述第三电容的第一端以及对应的所述检测比较单元耦接，用于输出所述第三检测电压；

所述第六电阻的第一端与对应的第二端口耦接，所述第六电阻的第二端分别与所述第八电阻的第一端、所述第四电容的第一端以及对应的所述检测比较单元耦接，用于输出所述第四检测电压；

所述第七电阻的第二端分别与所述第三电容的第二端、所述第八电阻的第二端、所述第四电容的第二端以及接地端耦接。

4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测比较单元包括：第二比较器和第九电阻；

所述第二比较器的第一端与所述第一分压单元耦接，用于接收所述第二检测电压，所述第二比较器的第二端与所述第二分压单元耦接，用于接收所述第四检测电压，所述第二比较器的第三端与所述第二分压单元耦接，用于接收所述第三检测电压，所述第二比较器的第四端与所述第一分压单元耦接，用于接收所述第一检测电压，所述第二比较器的第五端分别与第六端、所述第九电阻的第一端以及所述数据处理单元耦接，用于输出所述检测信号；所述第二比较器的第七端分别与第二电源端以及所述第九电阻的第二端耦接，所述第二比较器的第八端与接地端耦接。

5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述数据处理单元包括第三微型处理器。

6.一种检测治具，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的背光模组的检测装置。

7.如权利要求6所述的检测治具，其特征在于，所述检测治具还包括：印刷电路板；

所述检测装置设置于所述印刷电路板上。

8.一种显示模组，其特征在于，包括：背光模组以及设置于所述背光模组出光侧的液晶显示面板；

所述背光模组包括：多个灯串、第一端口、与各所述灯串一一对应的第二端口、第二检测电阻、至少与部分第二端口一一对应的第三检测电阻以及阴极电压输入端；其中，各所述灯串的阳极通过所述第二检测电阻与所述第一端口耦接，各所述灯串的阴极与对应的第二端口耦接；所述至少部分第二端口中的每一所述第二端口通过对应的所述第三检测电阻与所述阴极电压输入端耦接；

所述显示模组还包括：柔性电路板以及如权利要求1-5任一项所述的背光模组的检测装置；

所述检测装置设置于所述柔性电路板上。