KR101146196B1 - 정전류 구동장치, 백라이트 광원장치 및 컬러 액정표시장치 - Google Patents
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Abstract
펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의해 서로 직렬로 연결된 복수의 소자의 정전류 구동을 위한 정전류 구동장치는, 서로 직렬로 연결된 복수의 소자와 각각 병렬로 연결된 스위치소자와, 각각의 스위치소자를 경유하여 임의의 피측정소자 이외의 소자를 통해 흐르는 구동전류를 바이패스(bypass)하도록 하고 피측정소자만을 통해 측정 구동 전류를 지나가도록 제어를 행하는 제어회로와, 서로 직렬로 연결된 복수의 소자를 통해 흐르는 구동전류를 검출함으로써 불량위치의 소자를 인지하는 검출회로를 포함한다.
Description
도 1은 본 발명에 적용되는 백라이트 방식 컬러 액정표시장치의 구조를 나타낸 개략적인 투시도이다.
도 2는 컬러 액정표시장치의 구동을 위한 구동회로의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 3a, 3b, 그리고 3c는 컬러 액정표시장치 내의 컬러 액정패널에 설치되는 컬러필터의 배열을 나타내는 개략적인 도면이다.
도 4는 컬러 액정표시장치를 구성하기 위한 백라이트 광원장치 내의 발광다이오드의 배열의 일례를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 5는 발광다이오드 배열의 일례에서 서로 연결되어 있는 발광다이오드의 구성을 전기회로 도면기호로서 다이오드 마크로 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 6은 단위셀(unit cell)을 나타내는 각 색의 발광다이오드의 개수를 이용한 패턴표시와 함께, 두 개의 적색 발광다이오드, 두 개의 녹색 발광 다이오드, 두 개의 청색 발광 다이오드를 사용하여 합계 6개의 발광다이오드가 한 줄로 배열된 단위셀을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 7은 3개의 단위셀을 나타내는 발광다이오드의 개수를 이용한 패턴표시와 함께, 서로 직렬로 연결된 기본단위로서 3개의 단위셀을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 8은 LED의 수를 이용한 패턴표시로 백라이트 광원장치의 광원 내의 발광다이오드의 실제 배열의 일례를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 9는 백라이트 광원장치 내의 발광다이오드를 구동하기 위한 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 10은 백라이트 광원장치 내의 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드를 통하여 정전류가 흐르게 하기 위한 구성의 구체적인 예를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 11은 백라이트 광원장치 내의 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드의 각 소자의 불량을 검출하기 위한 구성의 구체적인 예를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 12는 백라이트 광원장치 내의 서로 직렬로 연결된 복수의 발광 다이오드에 스위치소자로서 트랜지스터를 연결하여 이루어진 구성의 일례를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 13은 백라이트 광원장치 내의 서로 직렬로 연결된 복수의 발광 다이오드에 스위치소자로서 트랜지스터를 연결하여 이루어진 구성 예의 동작을 설명하기 위한 파형도이다.
도 14는 백라이트 광원장치 내의 발광 다이오드에서 일어나는 발광량이 감소하는 모드의 LED 불량을 검출하기 위한 구성의 일례를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 15는 백라이트 광원장치 내의 발광 다이오드에서 단선이 발생하는 오픈(OPEN)모드의 LED 불량을 검출하기 위한 구성의 일례를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 16은 오픈(OPEN)모드의 LED 불량이 발생할 때 불량위치의 발광다이오드를 인지하기 위한 과정을 나타낸 플로차트이다.
도 17은 불량위치의 발광다이오드에 흐르는 구동전류를 바이패스(bypass)하기 위한 동작을 개략적으로 나타낸 도면이다.
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본 발명은 복수의 소자, 예를 들면, 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의해 서로 직렬로 연결된 발광다이오드(LED; Light Emitting Diode), 정전류 구동장치에 의해 구동되는 백라이트 광원장치와, 컬러 액정표시장치의 정전류 구동을 위한 정전류 구동장치에 관한 것이다.
액정패널과 플라즈마 디스플레이 패널(PDP ; Plasma Display Panel)로 대표되는 최근의 경향은 더 얇은 디스플레이 쪽으로 향하고 있다. 이들 디스플레이 중, 휴대용의 많은 디스플레이가 액정패널이며, 이는 정확한 색 재현능력이 요구된다. 액정패널에 쓰이는 백라이트의 주류가 형광관을 사용한 CCFL(Cold Cathode Fluorescent Lamp) 방식으로, 저수은 백라이트가 환경적 관점에서 요구되어 왔다. 발광다이오드 등이 CCFL을 대체할 광원이 될 것으로 여겨지고 있다.
일반적으로, 표시화소로서 발광다이오드를 이용한 디스플레이는 각 화소에 대해 발광다이오드의 매트릭스 구동을 수행하는 X-Y 주소구동회로(addressing driving circuit)를 필요로 한다. X-Y 주소구동회로는 빛을 내게 하기를 원하는 화소의 위치의 발광다이오드를 선택하고(addressing), 펄스 폭 변조(PWM; Pulse Width Modulation)로 발광시간을 변화시켜 발광다이오드의 밝기를 조절하는, 소정의 단계로 표시화면이 얻어진다. 그러므로 구동회로는 복잡하고 고비용이 요구된다.(예를 들면, 일본특허 공개문헌 2001-272938호 참조)
발광다이오드에는 또한 수명이 있다. 개별 소자의 불량은: (1) 단선이 발생하는 오픈(OPEN)모드의 불량; (2) 단락(short circuit)이 발생하는 쇼트(Short)모드의 불량; (3) 상기 두 모드의 어느 것도 아닌 광량의 감소가 일어나는 모드로, 대략 세 가지 유형으로 나누어진다.
이러한 불량들을 검출한다는 것은, 독립된 구동회로에 의해 각 LED 소자를 구동하는 방법의 채용과, 각 소자의 동작상태를 항상 피드백하는 시스템의 구조를 필요로 하기 때문에, 비용의 증가로 인해 실제 장치로 실현하기가 어렵다.
발광다이오드를 개별적인 발광화소로 이용하는 화상 표시장치가 있다. 이 경우에 매트릭스형 구동에 있어서, 상술한 바와 같은 각 발광다이오드 소자의 불량을 개별적으로 판단하고 더 나아가 그 불량을 제거하는 기능을 가지는 시스템이 종래에는 없었다.
발광다이오드를 액정 디스플레이의 백라이트로 사용할 경우, 각 발광다이오드의 전력은 높고, 발광다이오드의 수는 비교적 적다. 그러므로, 불량으로 인하여 일부분이 점등되지 않을 경우, 불균형 등이 발생하여 보기에 좋지 않다. 조명용의 LED 구동장치에 있어 대전력 구동용의 매트릭스구동 LSI 등은 만들어지지 않았고, 실용상 비용면에서 단점이 있다. 그러므로 직렬연결 구성이 사용된다. 그러나, 직렬연결 구성에서는 개별 발광다이오드에 불량이 발생할 때, 그것이 단선일 경우, 같은 행의 모든 발광다이오드가 점등되지 않아, 무시할 수 없는 색 불균형이 야기된다.
따라서, 본 발명의 목적은, 상술한 바와 같은 종래기술의 실정을 감안하여, 정전류 구동소자, 예를 들면 서로 직렬로 연결된 발광다이오드에 있어서 불량시에불량소자의 위치를 인지하고 불량위치에서 소자전류를 바이패스(bypass)할 수 있는 정전류 구동장치, 정전류 구동장치에 의해 구동되는 백라이트 광원장치, 및 컬러 액정표시장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 또 다른 목적과, 본 발명에 의해 얻어지는 구체적인 이점은 이후에 상세히 기술되는 실시형태로부터 한층 더 명확해진다.
따라서, 본 발명의 목적은, 상술한 바와 같은 종래기술의 실정을 감안하여, 정전류 구동소자, 예를 들면 서로 직렬로 연결된 발광다이오드에 있어서 불량시에불량소자의 위치를 인지하고 불량위치에서 소자전류를 바이패스(bypass)할 수 있는 정전류 구동장치, 정전류 구동장치에 의해 구동되는 백라이트 광원장치, 및 컬러 액정표시장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 또 다른 목적과, 본 발명에 의해 얻어지는 구체적인 이점은 이후에 상세히 기술되는 실시형태로부터 한층 더 명확해진다.
본 발명의 1형태에 따르면, 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의한 서로 직렬로 연결된 복수의 소자의 정전류 구동을 위한 정전류 구동장치가 제공되며, 정전류 구동장치는, 서로 직렬로 연결된 복수의 소자와 각각 병렬로 연결된 스위치소자와, 각각의 스위치소자를 경유하여 임의의 피측정소자 이외의 소자를 통하여 흐르는 구동전류를 바이패스(bypass)하도록 하고 피측정소자만을 통하여 측정구동전류를 지나가도록 제어를 행하는 제어회로와, 서로 직렬로 연결된 복수의 소자를 통해 흐르는 구동전류를 검출함으로써 불량위치의 소자를 인지하는 검출회로로 이루어진다.
또한, 본 발명의 2형태에 따르면 디스플레이 패널의 뒤쪽으로부터 디스플레이 패널을 조명하기 위한 백라이트 광원장치가 제공되며, 백라이트 광원장치는, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와 각각 병렬로 연결된 스위치소자와, 각각의 스위치소자를 경유하여 임의의 피측정 발광다이오드 이외의 발광다이오드를 통해 흐르는 구동전류를 바이패스(bypass)하도록 하고 피측정 발광다이오드만을 통하여 측정구동전류를 지나가도록 제어를 행하는 제어회로와, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드를 통해 흐르는 구동전류를 검출함으로써 불량위치의 발광다이오드를 인지하는 검출회로로 이루어진다.
또한, 본 발명의 3형태는, 컬러필터를 갖는 투과형(透過型; transmissive type) 컬러 액정 디스플레이 패널과, 컬러 액정 디스플레이 패널의 뒤쪽으로부터 컬러 액정 디스플레이 패널을 조명하기 위한 백라이트 광원장치로 이루어지는 컬러 액정 디스플레이 장치가 제공되어 있으며, 상기 백라이트 광원장치는, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와 각각 병렬로 연결된 스위치소자와, 각각의 스위치소자를 경유하여 임의의 피측정 발광다이오드 이외의 발광다이오드를 통해 흐르는 구동전류를 바이패스(bypass)하도록 하고 피측정 발광다이오드만을 통해 측정구동전류를 지나가도록 제어를 행하는 제어회로와, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드를 통해 흐르는 구동전류를 검출함으로써 불량위치의 발광다이오드를 인지하는 검출회로를 포함하고 있다.
이하 본 발명의 실시형태를 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 발명은 다음의 예에만 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 취지에 벗어나지 않는 범위에서 임의로 변경될 수 있음은 물론이다.
본 발명은 예를 들면, 도 1에 나타내는 바와 같은 구성의 백라이트 방식의 컬러 액정 디스플레이 장치(100)에 적용된다.
컬러 액정 디스플레이 장치(100)는 투과형의 컬러 액정 디스플레이 패널(10)과 컬러 액정 디스플레이 패널(10) 뒤에 설치된 백라이트 광원 장치(20)로 구성된다.
투과형 컬러 액정 디스플레이 패널(10)은, 유리 등으로 구성된 두 개의 투명한 기판(TFT 기판(11)과 카운터전극 기판(12))이 서로 대치되어 있고, 액정층(13)은 예를 들면, 트위스티드 네마틱(nematic; 가늘고 긴 분자가 상호 위치는 불규칙하지만 장축(長軸)이 모두 일정 방향으로 향한 것) (TN; Twisted Nematic)액정이, 기판 사이의 간격에 채워져 설치되어 있는 구조를 가진다. TFT 기판(11)에는 매트릭스 형태로 배치된 신호선(14)과 스캔라인(15) 및, 또, 신호선(14)과 스캔라인(15)의 교차점에 배치된 스위치소자로서의 박막 트랜지스터(16)와, 화소전극(17)이 형성되어 있다. 박막 트랜지스터(16)는 스캔라인(15)에 의해 순차적으로 선택되고, 신호선(14)으로부터 공급된 비디오 신호는 대응하는 화소전극(17)에 기록된다. 한편, 카운터전극(18)과 컬러필터(19)는 카운터전극 기판(12)의 안쪽 표면에 형성된다.
컬러 액정 디스플레이 장치(100)에는 투과형 컬러 액정 디스플레이 패널(10)이 두 개의 편광판(31, 32) 사이에 샌드위치 되는 구조로 되어 있다. 컬러 액정 디스플레이 패널(10)은 백라이트 광원장치(20)에 의해 뒤쪽으로부터 백색광이 조사된 상태로 액티브(active) 매트릭스 시스템에 의해 구동됨으로써, 원하는 총천연색 화상이 표시된다.
백라이트 광원장치(20)는 광원(21)과 파장선택필터(22)로 구성된다. 백라이트 광원장치(20)는 컬러 액정 디스플레이 패널(10)을 광원(21)에 의해 방출된 빛으로 파장선택필터(22)를 통해 그 뒤쪽으로부터 조사한다.
컬러 액정 디스플레이 장치(100)는 구동회로(200)에 의해 구동되고 예를 들면, 도 2에 나타낸 바와 같은 전기적인 블록 구조를 가진다.
구동회로(200)는 예를 들면, 컬러 액정 디스플레이 패널(10)과 백라이트 광원장치(20)에 구동전력을 공급하는 전원부(110)와, 컬러 액정 디스플레이 패널(10)을 구동하기 위한 X-구동회로(120)와 Y-구동회로(130)와, 입력단(140)을 통해 외부적으로 비디오 신호를 공급받는 RGB 처리부(150)와, RGB 처리부(150)에 연결된 비디오 메모리(160)와 제어부(170)와, 그리고 백라이트 광원장치(20)의 구동제어를 위한 백라이트 구동제어부(180)를 포함한다.
입력단(140)을 통한 구동회로(200)로의 비디오 신호 입력은 크로마(chroma; 채도, 색도) 처리 등의 신호처리를 통해 컴포지트 신호에서 컬러 액정 디스플레이 패널(10)의 구동에 적합한 RGB 신호로 변환되어, 제어부(170)에 공급되고 비디오 메모리(160)를 통해 X-구동회로에 공급된다. 제어부(170)는 X-구동회로(120)와 Y-구동회로(130)를 RGB 신호에 따른 소정의 타이밍으로 제어하고, 비디오 메모리(160)를 통해 X-구동회로(120)에 공급되어 컬러 액정 디스플레이 패널(10)을 구동함으로써, RGB 신호에 대응하는 화상이 표시된다.
컬러필터(19)는 각각의 화소전극(17)에 대응하는 복수의 부분으로 나누어진다. 예를 들면, 컬러필터(19)는 도 3a에 나타낸 바와 같이 삼원색의 세 부분으로 즉, 적색 컬러필터(CFR), 녹색 컬러필터(CFG), 청색 컬러필터(CFB)로, 도 3b에 나타낸 바와 같이 삼원색(RGB)에 청록색(C)을 더한 네 부분 즉, 적색 컬러필터(CFR), 청록색 컬러필터(CFC), 녹색 컬러필터(CFG), 청색 컬러필터(CFB)로, 또는 도 3c에 나타낸 바와 같이 삼원색(RGB)에 청록색(C)과 노란색(Y)을 더한 다섯 부분 즉, 적색 컬러필터(CFR), 청록색 컬러필터(CFC), 녹색 컬러필터(CFG), 노란색 컬러필터(CFY), 청색 컬러필터(CFB)로 나누어진다.
이 경우, 컬러 액정 디스플레이 패널(10)의 뒤쪽에 배치된 복수의 발광다이오드(LED)에 의해 투과형 액정 디스플레이 패널(10)을 조사하는 지역조명구조(area light configuration) 광원(21)이 백라이트 광원장치(20)에 사용된다.
백라이트 광원장치(20)의 광원(21) 내의 발광다이오드의 배열에 대해 설명한다.
도 4는 발광다이오드 배열의 일례로서, 두 개의 적색 발광다이오드(1), 두 개의 녹색 발광다이오드(2), 그리고 두 개의 청색 발광다이오드(3)가 사용되어 총 6개의 발광다이오드가 각 단위셀(4-1)과 (4-2)에 일렬로 배열된 것을 나타낸다.
이 예에서는 6개의 발광다이오드가 배열되어 있으나, 각 색마다 할당되는 발광다이오드의 개수는, 사용되는 발광다이오드의 등급, 발광효율 등을 기초로 혼합색을 잘 조화시켜 백색광으로 만들기 위해 광출력의 균형을 조절할 필요 때문에, 본 예와는 달리 변화될 수 있다.
도 4에 나타낸 배열 예와 같이, 단위셀(4-1)과 단위셀(4-2)은 서로 동일하고, 화살표가 가리키는 중앙부에 서로 연결되어 있다. 도 5는 서로 연결되어 있는 단위셀(4-1)과 단위셀(4-2)의 구성을 전기회로도 기호로서 나타낸 것이다. 이 예에서, 발광다이오드는, 적색 발광다이오드(1), 녹색 발광다이오드(2), 청색 발광다이오드(3)가, 왼쪽에서 오른쪽 방향으로 전류가 흐르도록 극성을 가지고 서로 직렬로 연결되어 있다.
도 6에 나타낸 바와 같이, (2G 2R 2B)는 두 개의 적색 발광다이오드(1), 두 개의 녹색 발광다이오드(2), 두 개의 청색 발광다이오드(3), 합계 6개의 발광다이오드가 일렬로 배열된 단위셀(4)을 나타내는 각 색의 발광다이오드의 수를 이용한 패턴표시이다. 즉, (2G 2R 2B)는 기본 단위로 사용되는 두 개의 녹색 발광다이오드, 두 개의 적색 발광다이오드, 두 개의 청색 발광다이오드로 구성된 합계 6개의 발광다이오드의 패턴을 나타낸다. 도 7에 나타낸 바와 같이. 세 개의 단위 셀(4)이 기본단위로서 서로 직렬로 연결되어 3*(2G 2R 2B)로 표시되고, 발광다이오드의 수에 근거하여 (6G 6R 6B)의 패턴표시로 나타내어진다.
백라이트 광원장치(20)의 백라이트 광원(21) 내의 발광다이오드의 실제 배열 예를 도 7의 표시에 의거하여 설명한다.
도 8에 나타낸 바와 같이, 상술한 바와 같은 세 개의 기본단위 (2G 2R 2B)의 발광다이오드를 하나의 중간단위 (6G 6R 6B)라 하고, 중간단위가 네 개의 세로 열과 다섯 개의 가로 행으로 구성되어 합계 360개의 발광다이오드가 광원(21)에 배열되어 있다.
360개의 발광다이오드 모두에 개별적으로 주소를 부여하는 것은 쉬운 일이 아니므로 백라이트 광원장치(20)는 도 9에 나타낸 바와 같은 구동구성을 가진다.
특히, 각각의 행에 대응하는 RGB 쌍(pair)(g1~gn)은 적색 발광다이오드, 녹색 발광다이오드, 청색 발광다이오드가 각 행마다 다른 행과 독립적으로 서로 직렬연결되어 형성되어 있고, DC-DC 컨버터(7)에 의해 정전류가 공급된다.
LED 직렬연결기판(m1, m2)을 통해 정전류가 흐르는 구체적인 예를 도 10을 참조하여 설명한다.
서로 직렬로 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)를 연결하여 형성된 LED 열(string)(40)은, 한쪽 끝은 검출저항(Rc)(5)을 통해 DC-DC 컨버터(7)에 연결되어 있고 다른 쪽 끝은 FET(6)를 통해 접지되어 있다.
DC-DC 컨버터(7)는, 출력전압(Vcc)의 설정으로부터 검출저항(5)에 의해 전압강하를 검출하고 직렬연결된 LED 열(string)을 통하여 소정의 정전류(ILED)를 흐르도록 피드백 루프(feedback loop)를 형성한다. 이 예에서, 검출저항(5)에 의한 강하 전압이 DC-DC 컨버터(7) 내에 설치된 샘플-홀드 회로(sample-and-hold circuit)를 통해 피드백된다.
또한, 이 예에서는 샘플-홀드 회로가 정전류를 최대치로 제어하기 위해 전류검출 피드백 루프에 설치된다고 하나, 이는 하나의 예로서, 다른 방법도 사용될 수 있다.
LED 열(string)(40)을 통해 흐르는 전류는 백라이트 구동 제어부(180)에 설치된 구동 IC(181)로부터 FET(6)의 게이트에 인가되는 주(main)_PWM(Pulse Width Modulation) 신호에 의해 소정의 시간 동안 온(on), 오프(off)가 전환되고, 발광다이오드의 발광량이 증가하거나 감소한다.
즉, 백라이트 광원장치(20)는 FET(6)로 하여금 백라이트 구동 제어부(180)에 설치된 구동 IC(180)로부터 공급된 주(main)_PWM 신호에 의해 스위치 동작을 수행하게 하여 DC-DC 컨버터(7)로부터 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)를 서로 직렬로 연결하여 형성된 LED 열(string)(40)로 공급되는 구동전류를 온, 오프시키고, 이것에 의해 발광다이오드(LED1~LEDn)의 펄스 폭 변조 정전류 구동이 수행된다.
또한, 이러한 구성 예에는, 측정 기준 정전류를 LED 열(40)을 통해 흐르게 하기 위한 측정 기준 정전류 회로로서 DC-DC 컨버터(70)와, DC-DC 컨버터(70)에 연결된 검출저항(Rref)(50)과, 선택스위치(60)가 설치된다. LED 열(40)의 한쪽 끝은 구동전류를 LED 열(40)을 통해 흐르게 하기 위한 주 정전류 회로로서 DC-DC 컨버터(7)에, 측정 기준전류를 LED 열(40)을 통해 흐르게 하기 위한 측정 기준 정전류 회로로서 DC-DC 컨버터(70)에 선택스위치(60)를 경유하여 선택적으로 연결된다.
또한, 스위치소자(SW1~SWn)는 발광다이오드(LED1~LEDn)와 각각 병렬로 연결되어 있기 때문에, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)를 통해 흐르는 구동전류가 스위치소자(SW1~SWn)를 경유하여 개별적으로 바이패스 될 수 있다.
그러므로, 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의해 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)의 정전류 구동에 있어서, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)를 통해 흐르는 구동전류는 스위치소자(SW1~SWn)를 경유하여 개별적으로 바이패스 될 수 있고, 개별적인 발광다이오드의 불량이 검출될 수 있다.
비교적 고전압이 요구되는 서로 직렬로 대량의 발광다이오드(LED1~LEDn)를 연결하여 형성된 LED 열(40)을 구동하기 위하여, 정상발광시의 구동전류를 공급하기 위한 주 정전류 회로로서 DC-DC 컨버터(7)는 전압에 잘 견뎌야 하며 구성부품이 크다. 한편, 스위치소자(SW1~SWn)를 사용하는 개별 발광다이오드(LED1~ LEDn)를 통해 기준전류(IrefLED)를 흐르게 함에 있어서, 도 11에 나타내는 바와 같이 단 한 개의 발광다이오드만 켜도 충분하기 때문에 전압이 매우 낮아도 된다. DC-DC 컨버터(7)가 매우 낮은 전압에서 동작가능하도록 DC-DC 컨버터(7)를 구성하는 것은 비효율적이므로, 측정 기준 정전류를 LED 열(40)을 통해 흐르게 하기 위한 측정기준 정전류 회로로서 DC-DC 컨버터(70)는 선택스위치(60)를 경유하여 연결된다.
DC-DC 컨버터(70)는 출력전압(Vset)의 설정으로부터 검출저항(Rref)(50)에 의해 전압강하를 검출하고 소정의 정전류(IrefLED)를 통과시키도록 피드백 루프를 형성한다.
기준전류(IrefLED)가 DC-DC 컨버터(70)로부터 공급될 때, FET(6)는 항상 온 상태이다.
또한, 도 10과 도 11에 나타내는 한 그룹으로서 LED 열(40)은 도 9에 나타내는 개별 n행에 대응하는 한 행의 RGB 쌍(g1~gn)에 대응한다. 그러므로, 이 예는 LED 열(40)과 같이 gn행 x 3 (RGB분)의 회로가 필요하다.
도 10과 도 11에 나타내는 한 그룹으로서 LED 열(40) 내의 LED(41)의 수는 광량의 균형의 관점에서 변동되므로 여러 가지 경우가 있을 수 있다. 특히, 총 개수를 줄이기 위하여 각 소자에 공급되는 전력에 있어서 최근의 증가로 인해, 각 소자의 휘도 특성에 있어서 변화를 검출하고 조정에 의해 변화를 극복할 필요가 있다.
이 경우, 스위치소자(SW1~SWn)로서 트랜지스터가 사용될 수 있다. 트랜지스터의 베이스에 공급되는 스위치 제어신호가 트랜지스터로 형성된 스위치소자(SW1~SWn)를 개별적으로 경유하여 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)를 통해 흐르는 구동전류를 바이패스 하는 제어를 가능하게 한다.
예를 들면, 도 12에 나타낸 구성에서, 스위치소자로서의 트랜지스터(82A~82E)는 서로 직렬로 연결된 다섯 개의 발광다이오드(41A~41E)와 병렬로 각각 연결된다. 클램핑다이오드(clamping diode)(83A~83E)는 트랜지스터(82A~82E)의 베이스와 에미터 사이에 각각 연결된다. 또한, 커플링커패시터(coupling capacitor)(84A~84E)는 트랜지스터(82A~82E)의 베이스에 각각 연결된다.
서로 직렬로 연결된 다섯 개의 발광다이오드(41A~41E)는 위에서부터 아래로 각기 전압강하(Vfa~Vfe)가 있고, 생산 롯트에 따라 변동이 있다. 서로 직렬로 연결된 다섯 개의 발광다이오드(41A~41E)는 FET(6)에 의해 PWM 구동된다.
이와 같은 구성의 구동회로에 있어서, 부_PWM 신호(a~e)가 백라이트 구동 제어부(180)에 설치된 구동 제어부(182)로부터 스위치 제어신호로서 커플링커패시터(coupling capacitor)(84A~84E)를 경유하여 트랜지스터(82A~82E)의 베이스에 각각 공급된다. 트랜지스터(82A~82E)의 에미터 전위는 다이오드(83A~83E)에 의해 제한되므로, 커플링커패시터(84A~84E)로의 부(sub)_PWM 신호 입력은 교류신호로 취급될 수 있다. 따라서, 직렬연결로도 트랜지스터(82A~82E)의 온-오프 구동이 전위를 고려하지 않고 행해질 수 있다.
예를 들면, 발광다이오드(41A)와 병렬로 연결된 트랜지스터(82A)가 온 되면, 발광다이오드(41A)의 애노드와 캐소드 사이는 트랜지스터(82A)의 온 저항(on resistance)으로 단락(short circuit)에 의해 바이패스된다. 그리하여 발광다이오드(41A)에 대한 구동전류 전부가 트랜지스터(82A)를 통해 흐르고, 발광다이오드(82A)는 점등하지 않는다.
도 12에 나타낸 구성의 동작 예를 도 13을 참조하여 설명한다.
도 13은 서로 직렬로 연결된 다섯 개의 트랜지스터(82A~82E)의 베이스에 공급되는 부(sub)_PWM 신호(a~e)의 파형을 나타낸다. 또한, t1, t2, t3, t4, 그리고 t5는 도 13의 시간 축 상의 타이밍을 나타내고 있다.
t1에서, 부(sub)_PWM 신호(a)만이 저레벨에 있고, 따라서 트랜지스터(82A)는 오프 상태이다. t1에서, 모든 트랜지스터(82A~82E)는 온 되고, 따라서 발광다이오드(41A)만이 점등한다.
마찬가지로 하여, 발광다이오드(41B~41E)가 개별적 및 순차적으로 점등될 수 있다; 즉, 발광다이오드(42B)가 t2에서 점등되고, 발광다이오드(42C)가 t3에서 점등되며, 발광다이오드(42D)가 t4에서 점등되고, 발광다이오드(42E)가 t5에서 점등된다. 이 경우에서는 다섯 개의 발광다이오드의 직렬연결이 일례로서 들어졌으나, n개의 발광다이오드(n은 임의의 숫자)의 경우에도 유사한 동작이 수행된다. 온-오프 시간비를 제어하여 바이패스 시간을 조정하면, 전환되는 전류의 정확도가 향상되고 측정시간도 확보할 수 있다.
트랜지스터를 구동하는데 사용되는 부(sub)_PWM 신호(a~e)는 주(main)_PWM 신호와 독립적으로 선택될 수 있고, 따라서 높은 자유도가 제공된다. 또한, 부(sub)_PWM 신호(a~e)의 주파수를 올림으로써 매우 짧은 점등시간을 달성할 수 있어 빠른 점등이 가능하다.
다음에, 상술한 (3) 광량의 감소가 일어나는 모드에 있어서 LED 불량의 검출에 대하여 설명한다.
(3) 광량의 감소가 일어나는 모드에 있어서 LED 불량은 발광다이오드의 발광량을 측정하여 검출될 수 있다.
도 14는 백라이트 광원장치(20) 내의 발광다이오드의 발광량을 측정하기 위한 구성의 일례를 나타낸 것이다.
백라이트 광원장치(20)는 임의의 그리고 개별적인 발광다이오드를 상술한 일련의 동작들에 의해 선택적으로 점등시킬 수 있다. 따라서, 복수의 발광다이오드에 의해 발산되는 빛을 받아들이고 빛의 양을 검출하기 위한 광센서가 설치되고, 측정 구동전류가 통과하여 측정될 발광다이오드가 차례로 선택되며, 복수의 발광다이오드 사이에서 발산되는 빛의 양의 변화가 광센서의 검출출력에 의거하여 측정될 수 있다.
예를 들면, 도 14에 나타낸 구성 예는 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)로부터 발산되는 빛을 받아들이기 위한 광센서로서 포토다이오드 (photo diode)(185)를 갖추고 있다.
포토다이오드(photo diode)(185)의 검출출력은 연산 증폭기(186A)로 형성된 전류전압 변환회로(186)를 통해 A/D 컨버터(187)에 공급되고, 디지털 데이터로서 마이크로프로세서(188)에 공급된다.
마이크로프로세서(188)는 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드 (LED1~LEDn)에 연결된 FET(6)의 스위치 제어에 의해 PWM 구동을 하기 위한 구동IC(181)와, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)에 각각 병렬로 연결된 스위치소자(SW1~SWn)에 스위치 제어신호를 공급하기 위한 구동제어부(182)에, 버스(189)를 통해 구동설정 제어신호를 공급한다. 마이크로프로세서(188)는 각각의 스위치소자를 경유하여 측정될 임의의 발광다이오드 이외의 다른 발광다이오드를 통해 흐르는 구동전류를 바이패스하고, 그것에 의해 FET(6)가 항상 온으로 되는 상태에서 측정될 발광다이오드만을 통해 측정 구동전류를 지나가게 하는 제어를 행한다. 마이크로프로세서(188)는 측정 구동전류를 지나가게 하여 측정될 발광다이오드를 차례로 선택하고, 광센서의 검출출력에 의거하여 복수의 발광다이오드 간의 발광량의 변화를 측정한다.
특히, 마이크로프로세서(188)는 임의의 발광다이오드를 매우 짧은 시간(예를 들면 1 ㎲)동안 점등하도록 선택하고, 포토다이오드(185)에 의해 그 시점의 값을 검출하여, 메모리에 그 값을 저장한다. 발광다이오드가 매우 짧은 시간 동안 선택되므로, 본 예에서와 같이 예를 들면 360개의 발광다이오드가 있고 각각의 개별 발광다이오드에 대하여 1㎲의 시간이 요구될 경우에도 총 360㎲의 시간이 걸린다.
또한, 발광다이오드가 액정 디스플레이용 백라이트 광원으로 사용될 경우, 광센서는 반드시 발광다이오드의 근처에 배치될 수는 없고, 배치와 형태상의 제한을 받는다. 이 경우, 형태로 인하여, 떨어져 있는 발광다이오드로부터 나온 빛이 약한 빛으로 검출되고 센서에 가까이 있는 발광다이오드로부터 나온 빛이 강한 빛으로 검출되는 경우가 있을 수 있다. 이것은 예를 들면, 광학 시뮬레이션이나 기준 발광다이오드를 이용한 실제 측정 등에 의해 얻어진 보정치 데이터를 메모리 테이블로서 준비함으로써, 그리고 광학적으로 감지된 광량의 데이터를 보정함으로써 처리될 수 있다.
발광다이오드는 장시간 사용에 따른 휘도특성 저하와 발광량의 감소가 발생한다. 따라서, 광량을 유지하기 위해 구동전류를 점차 증가시키면 발광다이오드의 수명이 단축된다. 그러나, 시간 경과에 따른 발광다이오드의 휘도특성 변화를 고려하여 얻어진 보정치 데이터가 메모리 테이블로서 준비되어 있고 마이크로프로세서(188)가 시간에 따라 구동전류를 감소시키도록 제어를 행하는 경우, 발광다이오드의 수명을 늘릴 수 있다.
이러한 구성의 예에서는, 임의의 발광다이오드를 구동하고, 발광 출력 데이터를 측정, 저장, 보정하는 것이 가능하기 때문에, 개별 발광다이오드의 발광량이 비정상적으로 줄어드는 것을 식별할 수 있다.
다음에, 불량 모드로서 상술된 (1) 단선이 발생하는 오픈(OPEN)모드의 불량을 피하는 방법에 대하여 도 15 ~ 도 17을 참조하여 설명한다.
도 15에 나타낸 바와 같은 구성 예에는, 상술한 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)를 통하여 흐르는 구동전류를 검출하고 불량위치의 발광다이오드를 인지하는 검출회로(90)가 다음과 같이 설치된다.
검출회로(90)에는, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)와 PWM 구동 FET(6) 사이의 접속점이 전압분배저항(91, 92)을 통해 접지되어있다. FET(6)의 게이트는 전압분배저항(93, 94)을 통해 접지되어있다. 검출회로(90)는 전압분배저항(91과 92) 사이의 연결의 중간점(P)에서 얻어지는 전압과, 전압분배저항(93과 94) 사이의 연결의 중간점(Q)에서 얻어지는 전압을, 익스클루시브 (exclusive) OR 게이트(95)로 비교하여 불량위치의 발광다이오드를 인지한다.
이러한 검출회로(90)에서, FET(6)가 FET(6)의 게이트에 공급된 주(main)_PWM 신호에 응답하여 스위치동작을 수행하므로, 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)가 정상상태일 경우, 전압분배저항(91과 92) 사이의 연결의 중간점(P)에서 얻어지는 전압과, 전압분배저항(93과 94) 사이의 연결의 중간점(Q)에서 얻어지는 전압은 서로 반대 위상으로 바뀌고, 따라서 익스클루시브 (exclusive) OR 게이트(95)의 출력은 항상 논리 '1' (Hi Level)이 된다.
서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn) 중 하나가 단선(OPEN)되면, 지점(P)의 전위는 항상 저레벨(Lo Level)이고, 따라서 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력은 주_PWM 신호와 같은 구형파(矩形波; rectangular wave)로 이루어지고, 논리 '1'과 논리 '0'이 반복되는 파형이 된다.
마이크로프로세서(188)가 구형파를 검출하면, 마이크로프로세서(188)는 도 16의 플로차트에 도시된 과정에 따라 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드(LED1~LEDn)와 각각 직렬로 연결된 스위치소자(SW1~SWn)를 차례로 턴온하도록 구동제어부(182)를 제어한다. 그것에 의해, 마이크로프로세서(188)는 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력이 논리 "1" (Hi Level)이 되는 시점에 스위치소자(SW1~SWn) 중 하나의 스위치소자(SWm)를 가리키는 스위치 번호 'm'이 불량부분에 해당한다는 것을 결정할 수 있다.
특히, 마이크로프로세서(188)는 스위치소자(SW1~SWn) 중 하나의 스위치소자(SWm)을 가리키는 스위치 번호 'm'을 m=0이 되도록 초기화하고, 즉, 모든 스위치소자(SW1~SWn)를 오프상태로 설정하도록 초기화를 수행한다(단계 S1). 마이크로프로세서(188)는 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력이 정상상태, 즉, 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력이 항상 논리 "1" (Hi Level)인 상태인지, 아니면 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력이 비정상상태, 즉, 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력이 주_PWM 신호와 같은 구형파로 되어 있는지를 판단한다(단계 S2).
익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력이 정상상태일 경우, 마이크로프로세서 (188)는 스위치번호 m이 m=0인지, 즉, 모든 스위치소자(SW1~SWn)가 오프상태인지를 판단한다(단계 S3).
단계(S3)에서 판단결과가 예(YES)일 경우, 즉, 모든 스위치소자(SW1~SWn)가 오프상태일 경우, 마이크로프로세서(188)는 상술된 단계(S2)로 돌아가 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력으로서 판단을 반복한다.
익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력이 상술된 단계(S2)에서 판단의 결과로서 비정상상태에 있을 경우, 마이크로프로세서(188)는 번호 m을 증가시키고(m=m+1)(단계 S4), 스위치소자(SWm)를 턴온시킨다(단계 S5). 그리고 나서 마이크로프로세서(188)는 상술된 단계(S2)로 돌아가 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력으로서 판정의 과정을 반복한다.
그 후, 상술된 단계(S2)의 판정의 결과로서 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력이 정상상태로 바뀔 경우, 마이크로프로세서(188)는 상술된 단계(S3)로 진행하여 스위치번호 m이 m=0인지를 판단하고나서, 익스클루시브 OR 게이트(95)의 출력이 정상상태로 바뀔 때에 스위치번호 m이 가리키는 스위치소자(SWm)와 병렬로 연결된 발광다이오드(LEDm)가 오픈모드의 불량인지를 판단한다(단계 S6).
마이크로프로세서(188)가 m=3, 즉, 세 번째 발광다이오드가 불량(OPEN)이라고 판정했다고 가정하면, 도 17에 나타내는 바와 같이, 불량부위로 판정된 세 번째 발광다이오드(41C)는 불량으로 인식되고, 발광다이오드(41C)와 병렬로 연결된 스위치소자로서의 트랜지스터(82C)에는 FET(6)에 공급되는 것과 같은 주_PWM 신호가 스위치 제어신호로서 공급되어, FET(6)에 동기하여 온, 오프 되는 것으로, 그것에 의해 불량으로 인식된 발광다이오드(41C)에 흐르는 구동전류가 트랜지스터(82C)를 경유하여 바이패스될 수 있다.
다음에, 불량 모드로서 상술된 (2) 단락(short circuit)이 발생하는 쇼트(Short)모드의 불량에 대하여 설명한다. 본 구성 예에서 단락의 경우에 있어서, 정전류 제어로 인해, DC-DC 컨버터(7)의 출력전압(Vset)은 하나의 다이오드에 대응하는 전압에 의해 자동적으로 떨어지며, 본 구성 예는 전기회로로서 정상적으로 기능한다. 상술된 광학적 검출 기구가 설치될 경우, 불량의 다이오드가 인지될 수 있다. 단락 불량은 어디까지나 비정상상태이므로, (1) 단선이 발생하는 오픈(OPEN)모드로 상태가 변화하거나 전이될 수 있다. 이 경우는 상술한 방법에 의해 처리될 수 있다.
본 발명에 있어서, 제어회로는, 서로 직렬로 연결된 복수의 소자와 각각 병렬로 연결된 스위치소자를 경유하여 임의의 피측정소자 이외의 소자를 통하여 흐르는 구동전류를 바이패스하도록 하고 측정구동전류를 피측정소자만을 통하여 지나가도록 제어를 행한다. 그러므로 이는 검출회로에 의해 서로 직렬로 연결된 복수의 소자를 통해 흐르는 구동전류를 검출함으로써 불량위치의 소자를 인지하는 것이 가능하다.
또, 본 발명에 있어서, 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의해 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드의 정전류 구동을 위한 주 정전류 회로와 측정 기준 정전류 회로는 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와 스위치장치를 경유하여 선택적으로 연결될 수 있다. 그러므로 측정 기준 정전류는 측정 기준 정전류 회로로부터 발광다이오드의 불량을 검출하기 위해 공급될 수 있다.
또한, 제어회로는, 검출회로에 의해 인지된 불량위치의 소자와 병렬로 연결된 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의한 PWM 구동과 동기하여 동작시킴으로써 불량위치의 소자에 흐르는 구동전류를 항상 바이패스하도록 제어를 행한다. 그러므로 스위치 소자를 경유하여 불량위치의 소자전류를 바이패스하는 것이 가능하다.
Claims (16)
- 삭제
- 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의해 서로 직렬로 연결된 복수의 소자의 정전류 구동을 위한 정전류 구동장치에 있어서,상기 정전류 구동장치는,상기 서로 직렬로 연결된 복수의 소자와 각각 병렬로 연결된 스위치소자와,각각의 상기 스위치소자를 경유하여 임의의 피측정소자 이외의 소자를 통하여 흐르는 구동전류를 바이패스(bypass)하도록 하고 피측정소자만을 통하여 측정구동전류를 지나가도록 제어를 행하는 제어회로와,상기 서로 직렬로 연결된 복수의 소자를 통하여 흐르는 구동전류를 검출함으로써 불량위치의 소자를 인지하는 검출회로로 이루어지며,상기 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의해 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 소자의 정전류 구동을 위한 주 정전류 회로와 측정 기준 정전류 회로는 스위치부를 경유하여 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 소자와 선택적으로 연결 가능한 것을 특징으로 하는 정전류 구동장치.
- 제 2항에 있어서,상기 스위치소자는 각각 트랜지스터로 형성되며,상기 제어회로는 상기 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 경유하여 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 소자를 통하여 흐르는 구동전류를 개별적으로 바이패스하도록 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 정전류 구동장치.
- 제 3항에 있어서,상기 스위치소자는 각각 상기 트랜지스터의 베이스와 에미터 사이에 연결된 다이오드와 상기 트랜지스터의 베이스에 연결된 커패시터를 포함하며,상기 제어회로는 상기 커패시터를 경유하여 상기 트랜지스터의 베이스에 스위치 제어신호를 공급함으로써 상기 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 경유하여 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 소자를 통하여 흐르는 구동전류를 개별적으로 바이패스하도록 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 정전류 구동장치.
- 제 3항에 있어서,상기 제어회로는 상기 검출회로에 의해 인지된 불량위치의 소자와 병렬로 연결된 상기 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 상기 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의한 펄스 폭 변조 구동과 동기하여 동작시킴으로써 불량위치의 소자에 흐르는 구동전류를 항상 바이패스하도록 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 정전류 구동장치.
- 삭제
- 삭제
- 디스플레이 패널의 뒤쪽으로부터 디스플레이 패널을 조명하기 위한 백라이트 광원장치에 있어서,상기 백라이트 광원장치는,서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와,상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와 각각 병렬로 연결된 스위치소자와,각각의 스위치소자를 경유하여 임의의 피측정 발광다이오드 이외의 발광다이오드를 통하여 흐르는 구동전류를 바이패스하도록 하고 피측정 발광다이오드만을 통하여 측정구동전류를 지나가도록 제어를 행하는 제어회로와,상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드를 통하여 흐르는 구동전류를 검출함으로써 불량위치의 발광다이오드를 인지하는 검출회로로 이루어지며,펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의해 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드의 정전류 구동을 위한 주 정전류 회로와 측정 기준 정전류 회로는 스위치부를 경유하여 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와 선택적으로 연결 가능한 것을 특징으로 하는 백라이트 광원장치.
- 제 8항에 있어서,상기 스위치소자는 각각 트랜지스터로 형성되며,상기 제어회로는 상기 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 경유하여 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드를 통하여 흐르는 구동전류를 개별적으로 바이패스하도록 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 백라이트 광원장치.
- 제 9항에 있어서,상기 스위치소자는 각각 상기 트랜지스터의 베이스와 에미터 사이에 연결된 다이오드와 상기 트랜지스터의 베이스에 연결된 커패시터를 포함하며,상기 제어회로는 상기 커패시터를 경유하여 상기 트랜지스터의 베이스에 스위치 제어신호를 공급함으로써 상기 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 경유하여 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드를 통하여 흐르는 구동전류를 개별적으로 바이패스하도록 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 백라이트 광원장치.
- 제 9항에 있어서,상기 제어회로는 상기 검출회로에 의해 인지된 불량위치의 발광다이오드와 병렬로 연결된 상기 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 상기 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의한 펄스 폭 변조 구동과 동기하여 동작시킴으로써 불량위치의 발광다이오드에 흐르는 구동전류를 항상 바이패스하도록 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 백라이트 광원장치.
- 삭제
- 컬러필터를 갖춘 투과형 컬러 액정 디스플레이 패널과,컬러 액정 디스플레이 패널의 뒤쪽으로부터 컬러 액정 디스플레이 패널을 조명하기 위한 백라이트 광원장치로 이루어지며,상기 백라이트 광원장치는,서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와,상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와 각각 병렬로 연결된 스위치소자와,각각의 상기 스위치소자를 경유하여 임의의 피측정 발광다이오드 이외의 발광다이오드를 통하여 흐르는 구동전류를 바이패스하도록 하고 피측정 발광다이오드만을 통하여 측정구동전류를 지나가도록 제어를 행하는 제어회로와,상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드를 통하여 흐르는 구동전류를 검출함으로써 불량위치의 발광다이오드를 인지하는 검출회로를 포함하며,펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의해 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드의 정전류 구동을 위한 주 정전류 회로와 측정 기준 정전류 회로는 스위치부를 경유하여 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드와 선택적으로 연결 가능한 것을 특징으로 하는 컬러 액정표시장치.
- 제 13항에 있어서,상기 스위치소자는 각각 트랜지스터로 형성되며,상기 제어회로는 상기 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 경유하여 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드를 통하여 흐르는 구동전류를 개별적으로 바이패스하도록 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 컬러 액정표시장치.
- 제 14항에 있어서,상기 스위치소자는 각각 상기 트랜지스터의 베이스와 에미터 사이에 연결된 다이오드와 상기 트랜지스터의 베이스에 연결된 커패시터를 포함하고,상기 제어회로는 상기 커패시터를 경유하여 상기 트랜지스터의 베이스에 스위치 제어신호를 공급함으로써 상기 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 경유하여 상기 서로 직렬로 연결된 복수의 발광다이오드를 통하여 흐르는 구동전류를 개별적으로 바이패스하도록 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 컬러 액정표시장치.
- 제 14항에 있어서,상기 제어회로는 상기 검출회로에 의해 인지된 불량위치의 발광다이오드와 병렬로 연결된 상기 트랜지스터로 형성된 스위치소자를 상기 펄스 폭 변조 정전류 구동회로에 의한 펄스 폭 변조 구동과 동기하여 동작시킴으로써 불량위치의 발광다이오드에 흐르는 구동전류를 항상 바이패스하도록 제어를 행하는 것을 특징으로 하는 컬러 액정표시장치.
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