KR100798724B1 - 웨이퍼 테스트 방법 및 이를 위한 프로브 카드 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (21)
- 프로브 카드를 이용하여 웨이퍼 상태에서 반도체 칩을 테스트하는 웨이퍼 테스트 방법에 있어서,상기 웨이퍼 상에 서로 이웃하고 N개(단, N은 2 내지 20의 자연수임)의 반도체 칩으로 구성되는 반복 유닛을 설정하고,상기 반복 유닛을 중복되지 않게 웨이퍼 전체에 분산 배치하고,상기 반복 유닛 내의 반도체 칩들이 1회 터치다운마다 1 개씩 순차적으로 테스트 되도록 상기 프로브 카드 혹은 웨이퍼를 N번 이동하면서 테스트하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 프로브 카드 상에는, 상기 반복 유닛을 구성하는 N개의 반도체 칩 중 하나의 칩에 대응되는 영역에만 미세 탐침이 형성되는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 반복 유닛 내의 반도체 칩들이 한 번씩 테스트 되도록 상기 프로브 카 드 혹은 웨이퍼를 N번 이동할 때, 이동 거리는 상기 반도체 칩 1개의 크기에 상응하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 프로브 카드를 N번 터치다운하여 상기 웨이퍼 상의 모든 칩을 테스트하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 N이 소수인 경우, 상기 반복 유닛을 구성하는 N개의 반도체 칩은 하나의 행 또는 열로 배치되는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 제 1항에 있어서,상기 N이 합성수인 경우, 상기 반복 유닛을 구성하는 N개의 반도체 칩은 행(a)과 열(b)을 갖는 (a X b) 행렬 형태로 배치되며, 상기 a와 b는 1과 N을 포함하는 N의 약수인 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 웨이퍼 상태에서 반도체 칩을 테스트하는 프로브 카드에 있어서,상기 웨이퍼 상에 서로 이웃하고 N개(단, N은 2 내지 20의 자연수임)의 반도체 칩으로 구성되는 반복 유닛을 설정하고,상기 반복 유닛을 중복되지 않게 웨이퍼 전체에 분산 배치할 때,상기 프로브 카드는 상기 반복 유닛을 구성하는 N개의 반도체 칩 중 하나의 칩에 대응되는 영역에만 미세 탐침이 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 제 7 항에 있어서,상기 프로브 카드에서 미세 탐침이 형성되는 영역과 대응되는 반도체 칩은 모든 반복 유닛 내에서 동일한 위치인 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 제 7 항에 있어서,상기 프로브 카드를 N번 터치다운하여 상기 웨이퍼 상의 모든 칩을 테스트하는 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 제 7 항에 있어서상기 N이 소수인 경우, 상기 반복 유닛을 구성하는 N개의 반도체 칩은 하나 의 행 또는 열로 배치되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 제 7 항에 있어서,상기 N이 합성수인 경우, 상기 반복 유닛을 구성하는 N개의 반도체 칩은 행(a)과 열(b)을 갖는 (a X b) 행렬 형태로 배치되며, 상기 a와 b는 1과 N을 포함하는 N의 약수인 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 복수의 단위 테스트 유닛이 이웃하여 배열되고,상기 각각의 단위 테스트 유닛은 N개(단, N은 2 내지 20의 자연수임)의 단위 셀로 구성되며,상기 단위 테스트 유닛에 있어서, 상기 단위 테스트 유닛을 구성하는 N개의 단위 셀 중 하나의 단위 셀에만 미세 탐침이 형성되어 있으며,상기 N은 2~20의 자연수인 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 제 12 항에 있어서, 상기 N이 소수인 경우, 상기 단위 테스트 유닛을 구성하는 복수의 단위 셀은 하나의 행 또는 하나의 열로 배치되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 제 12 항에 있어서, 상기 N이 합성수인 경우, 상기 단위 테스트 유닛을 구성하는 복수의 단위 셀은 행(a)과 열(b)을 갖는 (a x b) 행렬 형태로 배치되며, 상기 a와 b는 1과 N을 포함하는 N의 약수인 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 제 12 항에 있어서, 상기 단위 셀의 크기는 반도체 칩의 크기에 상응한 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 제 12 항에 있어서, 상기 미세 탐침이 형성되는 단위 셀은 모든 단위 테스트 유닛 내에서 동일한 위치에 구비되는 것을 특징으로 하는 프로브 카드.
- 복수의 단위 테스트 유닛이 이웃하여 배열되고,상기 각각의 단위 테스트 유닛은 N개(단, N은 2 내지 20의 자연수임)의 단위 셀로 구성되며,상기 단위 테스트 유닛에 있어서, 상기 단위 테스트 유닛을 구성하는 N개의 단위 셀 중 하나의 단위 셀에만 미세 탐침이 형성되어 있으며,상기 N은 2~20의 자연수인 것을 특징으로 하는 프로브 카드를 이용한 웨이퍼 테스트 방법에 있어서,N번의 테스트에 의해 웨이퍼 상의 모든 반도체 칩에 대한 테스트가 이루어지며,N번의 테스트 진행시, 최초 테스트 후의 각 테스트는 상기 프로브 카드 또는 웨이퍼가 단위 셀만큼 이동된 후에 진행되는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 제 17 항에 있어서, 상기 N이 소수인 경우,상기 프로브 카드 또는 웨이퍼는 행 또는 열 방향으로만 단위 셀만큼 이동하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 제 17 항에 있어서, 상기 N이 합성수인 경우,상기 프로브 카드는 수직 교차하는 2개의 방향으로 순차적으로 이동하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 제 17 항에 있어서, 상기 단위 셀의 크기는 반도체 칩의 크기에 상응한 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
- 제 17 항에 있어서, 상기 미세 탐침이 형성되는 단위 셀은 모든 단위 테스트 유닛 내에서 동일한 위치에 구비되는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 테스트 방법.
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KR101136968B1 (ko) * | 2010-05-25 | 2012-04-19 | 한국생산기술연구원 | 프루브 어레이를 이용한 전기광학 검사장치 |
KR101177133B1 (ko) | 2004-12-16 | 2012-08-24 | 어드밴테스트 (싱가포르) 피티이. 엘티디. | 모의 웨이퍼, 시스템 및 자동 테스트 장비를 조정하는 방법 |
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KR20060082497A (ko) * | 2005-01-12 | 2006-07-19 | 삼성전자주식회사 | 멀티칩 테스트용 프로브 카드 |
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2007
- 2007-10-08 KR KR1020070100771A patent/KR100798724B1/ko active IP Right Grant
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