KR100752509B1 - Field emission device and fabrication method thereof and field emission display device using it and fabrication method thereof - Google Patents

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KR100752509B1 KR1020050135586A KR20050135586A KR100752509B1 KR 100752509 B1 KR100752509 B1 KR 100752509B1 KR 1020050135586 A KR1020050135586 A KR 1020050135586A KR 20050135586 A KR20050135586 A KR 20050135586A KR 100752509 B1 KR100752509 B1 KR 100752509B1
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Abstract

본 발명은 전자 방출 소자 및 그의 제조 방법 및 그를 이용한 전자 방출 표시장치 및 그의 제조 방법을 개시한다.    The present invention discloses an electron emitting device, a method of manufacturing the same, and an electron emitting display device using the same, and a method of manufacturing the same.

개시된 본 발명은 리프트 오프(lift-off)를 이용하여 저렴한 비용과 단순한 공정으로 기판 상에 일정 간격 이격된 제 1 전극 및 제 2 전극을 형성하고, 상기 분리된 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 미세한 나노 갭(nano gap)이 형성된 전자 방출부를 형성하는 전자 방출 소자 및 그의 제조 방법 및 그를 이용한 전자 방출 표시장치 및 그의 제조 방법에 관한 것이다.The disclosed invention uses lift-off to form first and second electrodes spaced at regular intervals on a substrate in a low cost and simple process, and between the separated first and second electrodes. The present invention relates to an electron emission device for forming an electron emission unit having a fine nano gap, and a method for manufacturing the same, and an electron emission display device using the same and a method for manufacturing the same.

전자 방출 소자, 리프트 오프(lift-off), 나노 갭(nano gap) Electron-emitting devices, lift-off, nano-gap

Description

전자 방출 소자 및 그의 제조 방법 및 그를 이용한 전자 방출 표시장치 및 그의 제조 방법{Field emission device and fabrication method thereof and field emission display device using it and fabrication method thereof}Electron emitting device, manufacturing method thereof and electron emitting display device using same and manufacturing method thereof {Field emission device and fabrication method

도 1은 종래 기술에 따른 표면전도형 전자 방출 소자의 개략적인 평면도.1 is a schematic plan view of a surface conduction electron emitting device according to the prior art;

도 2는 도 1을 I-I'로 절취한 단면도.2 is a cross-sectional view taken along the line II 'of FIG. 1;

도 3a 내지 도 3d는 종래 기술에 따른 표면전도형 전자 방출 소자의 제조 방법을 개략적으로 도시하는 공정단면도.3A to 3D are cross-sectional views schematically showing a method for manufacturing a surface conduction electron emission device according to the prior art.

도 4는 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자를 개략적으로 도시한 평면도.4 is a plan view schematically showing a surface conduction electron emission device according to the present invention;

도 5는 도 4를 Ⅱ-Ⅱ'로 절취한 단면도.5 is a cross-sectional view taken along the line II-II 'of FIG. 4;

도 6a 내지 도 6f는 본 발명에 따른 표면 전도형 전자 방출 소자의 제조 방법을 개략적으로 도시하는 공정단면도.6A to 6F are process cross-sectional views schematically showing a method for manufacturing a surface conduction electron emitting device according to the present invention.

도 7은 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자가 채용된 전자 방출 표시장치의 부분 분해 사시도.7 is a partially exploded perspective view of an electron emission display device employing the surface conduction electron emission device according to the present invention.

도 8은 도 7의 A 화살표 방향에서 바라본 전자 방출 표시장치의 부분 결합 단면도.FIG. 8 is a partial cross-sectional view of the electron emission display device viewed from the arrow A direction of FIG.

도 9a 내지 도 9f는 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자가 채용된 전 자 방출 표시장치용 캐소드 기판의 제조 방법을 개략적으로 도시하는 공정평면도.9A to 9F are process plan views schematically showing a method of manufacturing a cathode substrate for an electron emission display device employing a surface conduction electron emission element according to the present invention;

<도면의 주요부분에 대한 부호 설명><Description of Signs of Major Parts of Drawings>

100 : 기판 110, 320 : 제 1 금속층100: substrate 110, 320: first metal layer

110'. 320' : 제 1 전극 115, 325 : 포토레지스트막 패턴110 '. 320 ': first electrode 115, 325: photoresist film pattern

120a, 120b, 340a, 340b : 제 2 금속층 120a, 120b, 340a, 340b: second metal layer

120, 340 : 제 2 전극 130, 350 : 전자 방출부      120 and 340: second electrode 130 and 350: electron emission unit

310 : 배면 기판 330, 330' : 게이트 배선       310: back substrate 330, 330 ': gate wiring

340 : 제 2 전극 360 : 절연막340: second electrode 360: insulating film

365 : 콘택홀 370 : 데이터 배선      365: contact hole 370: data wiring

410 : 전면 기판 420 : 애노드 전극      410: front substrate 420: anode electrode

430 : 형광막 440 : 블랙매트릭스   430: fluorescent film 440: black matrix

500 : 스페이서      500: spacer

본 발명은 전자 방출 소자 및 그의 제조 방법 및 그를 이용한 전자 방출 표시장치 및 그의 제조 방법에 관한 것으로, 특히, 리프트 오프(lift-off)를 이용하여 저렴한 비용과 단순한 공정으로 기판 상에 일정 간격 이격된 제 1 전극 및 제 2 전극을 형성하고, 상기 분리된 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 미세한 나노 갭(nano gap)이 형성된 전자 방출부를 형성하는 전자 방출 소자 및 그의 제조 방법 및 그를 이용한 전자 방출 표시장치 및 그의 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electron emission device, a method for manufacturing the same, and an electron emission display device using the same, and a method for manufacturing the same. An electron emission device, a method of manufacturing the same, and an electron emission display using the same; forming a first electrode and a second electrode, and forming an electron emission unit having a fine nano gap formed between the separated first and second electrodes An apparatus and a method of manufacturing the same.

일반적으로 전자 방출 표시장치(Electron Emission Display Device)는 제 1 기판 측에서 방출된 전자를 제 2 기판에 형성된 형광막에 충돌시켜 이를 발광시킴으로써 소정의 영상을 구현하는 평판 표시장치로서, 전자원으로 열음극을 이용하는 방식과 냉음극을 이용하는 방식이 있다.BACKGROUND ART In general, an electron emission display device is a flat panel display that realizes a predetermined image by colliding electrons emitted from a first substrate side with a fluorescent film formed on a second substrate to emit light, and is a hot cathode as an electron source. There is a method using and a cold cathode.

상기에서 냉음극을 이용하는 방식의 전자 방출 표시장치로는 전계 방출 표시장치(Field Emission Display Device;FED), MIM(Metal-Insulator-Metal)형 전자 방출 표시장치, MIS(Metal-Insulator-Semiconductor)형 전자 방출 표시장치 및 표면 전도형 전자 방출 표시장치(Surface-conduction Electron Emission Display Device;SED) 등이 알려져 있다.Examples of the electron emission display device using the cold cathode include a field emission display device (FED), a metal-insulator-metal (MIM) type electron emission display device, and a metal-insulator-semiconductor (MIS) type. BACKGROUND Electronic emission display devices and surface-conduction electron emission display devices (SEDs) are known.

상기 표면전도형 전자 방출 표시장치(SED)는 기판 상에 형성된 소면적의 전자 방출부 표면과 수평으로 전류가 흐르는 것에 의해 전자가 방출되는 원리를 이용하며, 제 1 기판 위에 제 1 전극과 제 2 전극을 나란히 형성하고, 제 1 전극 및 제 2 전극의 표면 일부를 각각 덮으면서 서로 근접하도록 전도성막을 형성하고, 상기 전도성막에 미세 균열로 이루어진 전자 방출부를 형성하고, 제 2 기판 상에는 애노드 전극 위에 블랙매트릭스막을 사이에 두고 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B)의 형광막을 교대로 배열 형성하여 이루어진다.The surface conduction electron emission display device (SED) utilizes a principle in which electrons are emitted by a current flowing horizontally with a surface of an electron emission part of a small area formed on a substrate, and a first electrode and a second electrode on a first substrate. Electrodes are formed side by side, and a conductive film is formed so as to be close to each other while covering a part of the surface of the first electrode and the second electrode, respectively, and an electron emission part formed of fine cracks is formed on the conductive film, and a black is formed on the anode electrode on the second substrate. The red (R), green (G) and blue (B) fluorescent films are alternately formed with the matrix film interposed therebetween.

상기와 같이 구성되는 표면전도형 전자 방출 표시장치(SED)는 제 1 전극 및 제 2 전극에 전원을 인가하여 소면적의 전자 방출부 표면과 수평으로 전류가 흐르도록 하는 것에 의하여 전자가 방출되어 상기 애노드 전극의 형광층에 충돌하여 소 정의 화상을 구현한다.In the surface conduction type electron emission display device (SED) configured as described above, electrons are emitted by applying power to the first electrode and the second electrode so that a current flows horizontally with the surface of the small area of the electron emission unit. It impinges on the fluorescent layer of the anode to produce a predetermined image.

특히, 표면전도형 전자 방출 소자는 단순한 구조와 제조의 용이성 때문에 대면적에 있어서 다수의 소자를 형성할 수 있는 특징을 가진다. 또한, 상기 표면전도형 전자 방출 소자는 방출형 표시장치를 실현하는 하나의 기술로서 백라이트가 필요없다. 이러한 장점 때문에 하전빔원, 화상표시장치 등의 다양한 장치 및 시스템에 표면전도형 전자 방출 소자를 적용하려는 많은 연구 및 개발 활동이 이루어지고 있다.In particular, the surface conduction electron-emitting device has a feature that a large number of devices can be formed in a large area because of its simple structure and ease of manufacture. In addition, the surface conduction electron-emitting device does not require a backlight as a technology for realizing an emission display device. Due to these advantages, many research and development activities have been conducted to apply surface conduction electron emission devices to various devices and systems such as a charged beam source and an image display device.

도 1은 종래 기술에 따른 표면전도형 전자 방출 소자의 개략적인 평면도이고, 도 2는 도 1을 I-I'로 절취한 단면도이다.1 is a schematic plan view of a surface conduction electron emission device according to the related art, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II ′ of FIG. 1.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 표면전도형 전자 방출 소자는 기판(10), 상기 기판(10) 상에 소정 간격 이격되며 서로 대향되어 배치된 소자 전극(20, 30), 상기 소자 전극(20, 30) 사이에 형성된 전도성 박막(40'), 상기 전도성 박막(40') 상에 형성된 탄소막(50) 및 상기 탄소막(50) 사이에 형성된 전자 방출부(50)를 포함한다. As shown in FIGS. 1 and 2, the surface conduction electron-emitting device includes a substrate 10, device electrodes 20 and 30 spaced apart from each other by a predetermined interval, and disposed to face each other. A conductive thin film 40 'formed between the 20 and 30, a carbon film 50 formed on the conductive thin film 40', and an electron emission portion 50 formed between the carbon film 50.

상기 전자 방출부(50)는 상기 기판(10) 상에 소자 전극(20, 30) 및 전도성 박막(40)을 형성한 후에 상기 소자 전극(20, 30)에 전압을 인가하여 전도성 박막(40)을 통해 전류가 흐르도록 함으로써 전도성 박막(40)의 균열에 의해 형성된다. The electron emission unit 50 forms the device electrodes 20 and 30 and the conductive thin film 40 on the substrate 10, and then applies a voltage to the device electrodes 20 and 30 to form the conductive thin film 40. It is formed by the crack of the conductive thin film 40 by allowing a current to flow through.

도 3a 내지 도 3d는 종래 기술에 따른 표면전도형 전자 방출 소자의 제조 방법을 개략적으로 도시하는 공정단면도이다.3A to 3D are cross-sectional views schematically showing a method of manufacturing a surface conduction electron emission device according to the prior art.

도 3a를 참조하면, 기판(10) 상에 스퍼터링(Sputtering)에 의해 백금(Pt)과 같은 도전성 금속을 적층한 후 레지스트 코팅, 노광, 현상, 에칭 및 스트립으로 이루어진 포토리소그래피(Photolithography) 공정에 의하여 패터닝된 소자 전극(20, 30)이 형성된다.Referring to FIG. 3A, a conductive metal such as platinum (Pt) is deposited on a substrate 10 by sputtering, and then subjected to a photolithography process including resist coating, exposure, development, etching, and stripping. Patterned device electrodes 20 and 30 are formed.

도 3b 및 도 3c를 참조하면, 이러한 공정은 통전 포밍 공정(Forming Process)으로서 알려져 있다. 우선, 잉크젯 프린팅(Ink-jet printing) 방법에 의해 유기팔라듐을 함유하는 용액이 상기 소자 전극(20, 30) 사이에 도포된 후 상기 기판(10)이 공기중에서 가열소성처리되어 산화팔라듐(PdO)으로 형성된 전도성 박막(40)이 형성된다. Referring to Figures 3B and 3C, this process is known as an energizing forming process. First, a solution containing organic palladium is applied between the device electrodes 20 and 30 by ink-jet printing, and then the substrate 10 is heat-fired in air to produce palladium oxide (PdO). A conductive thin film 40 is formed.

상기 포밍 공정은 전도성 박막(40)에 전류를 흐르게 함으로써 전도성 박막(40) 내에 균열을 발생시켜서 전자 방출부를 형성하는 처리이다. 즉, 상기 소자 전극(20, 30) 사이에 전압이 인가되어 전도성 박막(40)을 통해 전류가 흐르도록 함으로써 전도성 박막(40)에서의 국부적 파괴, 변형, 또는 변질이 유도된다.The forming process is a process of forming an electron emission part by generating a crack in the conductive thin film 40 by flowing a current through the conductive thin film 40. That is, a voltage is applied between the device electrodes 20 and 30 so that a current flows through the conductive thin film 40, thereby causing local breakdown, deformation, or alteration of the conductive thin film 40.

여기서, 상기 전도성 박막(40)은 약간의 수소 가스를 함유하는 진공분위기하에서 통전함으로써 가열하는 경우, 수소에 의하여 환원이 촉진되어, 산화팔라듐(PdO)막이 팔라듐(Pd)으로 변화된 전도성 박막(40')이 형성된다. 이때, 막의 환원에 의한 수축으로 인하여 전도성 박막(40')의 일부에서 균열(Crack)이 발생하여 균열부(45)가 형성된다. 즉, 다수의 소자의 특성의 일탈을 억제하기 위하여, 상기 소자 전극(20, 30) 사이의 전도성 박막(40')의 중심부분에 균열이 발생되고 직선형상을 갖는다(도 3c). 상기 균열부(45)는 후속 공정에서 전자 방출부로 형성된다.Here, when the conductive thin film 40 is heated by energizing in a vacuum atmosphere containing a small amount of hydrogen gas, the reduction is promoted by hydrogen, so that the palladium oxide (PdO) film is changed to palladium (Pd). ) Is formed. At this time, cracks occur in a portion of the conductive thin film 40 ′ due to shrinkage due to the reduction of the film to form cracks 45. That is, in order to suppress the deviation of the characteristic of many elements, a crack arises in the central part of the conductive thin film 40 'between the element electrodes 20 and 30, and has a linear shape (FIG. 3C). The crack 45 is formed as an electron emitting portion in a subsequent process.

또한, 상기 인가되는 전압은 일정한 피크값을 갖는 펄스 또는 증가피크값을 갖는 펄스가 인가된다.In addition, the applied voltage is a pulse having a constant peak value or a pulse having an increasing peak value is applied.

도 3d를 참조하면, 이러한 공정은 활성화 공정(Activation Process)으로서 알려져 있으며, 통상 활성화 공정은 전자방출 효율성을 개선하기 위하여 행해진다. 이 공정은, 상기 기판(10) 위에 후드형상 뚜껑을 덮음으로써 유기화합물이 존재하는 적당한 정도의 진공하에서 행하며, 도시되지 않은 X방향배선과 Y방향배선을 통하여 외부측으로부터 소자 전극 사이에 펄스전압이 반복적으로 인가된다. 탄소원자를 함유하는 가스를 도입함으로써, 탄소 또는 탄소 화합물을 함유하는 탄소막(50)을 균열부근에 퇴적시킨 후 베이킹(Baking) 처리한다.Referring to FIG. 3D, this process is known as an activation process, which is usually done to improve electron emission efficiency. This step is carried out under an appropriate degree of vacuum in which organic compounds are present by covering a hood-shaped lid on the substrate 10, and a pulse voltage is applied between the device electrodes from the outside through X and Y direction wirings (not shown). It is applied repeatedly. By introducing a gas containing carbon atoms, a carbon film 50 containing carbon or a carbon compound is deposited near the crack and then baked.

상기 탄소막(50)은 그라파이트(graphite), 다이아몬드, 다이아몬드상 탄소(DLC;Diamond Liked Carbon) 또는 탄소 나노튜브(CNT;Carbon Nano Tube)로 형성될 수 있다.The carbon film 50 may be formed of graphite, diamond, diamond like carbon (DLC), or carbon nanotube (CNT).

이때, 상기 탄소막(50)의 중심 부분에 전자 방출부(60)가 형성됨으로써, 전자 방출 소자가 완성된다.At this time, the electron emission unit 60 is formed in the central portion of the carbon film 50, thereby completing the electron emission device.

상기한 바와 같이, 종래의 표면전도형 전자 방출 소자를 제조하기 위해서는 소자 전극을 형성하기 위한 포토리소그래피 공정과, 전도성 박막 중심부에 전자 방출부를 형성하기 위한 포밍 공정과, 전자방출 효율성을 향상시키기 위한 탄소막을 형성하는 활성화 공정으로 나뉜다. As described above, in order to manufacture a conventional surface conduction electron emission device, a photolithography process for forming an element electrode, a forming process for forming an electron emission portion in the center of the conductive thin film, and a carbon film for improving electron emission efficiency It is divided into the activation process to form a.

그러나, 상기 포밍 공정 시 전도성 박막을 형성하기 위해 사용되는 잉크젯 프린팅 장비는 고가로서 제조 비용을 증가시키고, 전도성 박막 중심부에 전자 방출부를 형성하기 위해 펄스 전압을 인가함으로써 공정 수가 증가되는 문제점이 있다. 따라서, 더욱 용이하고 저렴한 가격으로 상기 전자 방출 소자의 제조 하는 방법이 필요하다.However, the inkjet printing equipment used to form the conductive thin film in the forming process has a problem of increasing the manufacturing cost at a high cost and increasing the number of processes by applying a pulse voltage to form an electron emission portion at the center of the conductive thin film. Therefore, there is a need for a method of manufacturing the electron emitting device at a more easy and inexpensive price.

또한, 표면전도형 전자 방출 소자를 실제 응용에 사용하기 위해서는, 불안정 없이 장시간 동안 양호한 전자 방출 특성이 유지되어야 할 필요가 있다. 종래의 표면전도형 전자 방출 소자에서는 포밍 공정에 의해 균열부를 형성하여 이를 전자 방출부로 이용함으로써 전자 방출부의 간격을 미세한 나노 수준으로 통제하기 어려워전자 방출 특성이 만족스럽지 못하였기 때문에 전자 방출 특성의 안전성을 개선시킬 필요가 있다.In addition, in order to use the surface conduction electron emitting device in practical applications, it is necessary to maintain good electron emission characteristics for a long time without instability. In the conventional surface conduction electron emitting device, it is difficult to control the spacing of the electron emitting portion to a fine nano level by forming a crack portion by the forming process and using it as an electron emitting portion, so that the electron emission characteristic is not satisfactory, thereby improving the safety of the electron emitting characteristic. Need to be improved.

본 발명은 리프트 오프를 이용하여 저렴한 비용과 단순한 공정으로 기판 상이 일정 간격 이격된 제 1 전극 및 제 2 전극과 상기 분리된 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 미세한 나노 갭(nano gap)이 형성된 전자 방출부를 형성함으로써 전자 방출 특성이 향상된 전자 방출 소자의 제조 방법 및 그를 이용한 전자 방출 표시장치의 제조 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.According to an embodiment of the present invention, an electron having a small nano gap formed between a first electrode and a second electrode spaced apart from each other on a substrate by a low cost and a simple process using a lift-off, and the separated first and second electrodes An object of the present invention is to provide a method of manufacturing an electron emitting device having improved electron emission characteristics by forming an emission unit and a method of manufacturing an electron emission display device using the same.

상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 전자 방출 소자의 제조 방법은, 기판 상에 제 1 금속층을 형성하는 단계, 상기 제 1 금속층 상부 전면에 포토레지스트를 도포한 후 마스크를 이용한 노광 및 현상을 통해 포토레지스트막 패턴을 형성하는 단계, 상기 포토레지스트막 패턴을 마스크로 하여 상기 제 1 금속층을 언더컷이 형성되도록 오버 에칭하여 제 1 전극을 형성하는 단계, 상기 제 1 전극 상부의 포토레지스트막 패턴을 포함한 기판 전면에 도전성 물질을 증착하여 상기 포토레지스트막 패턴 상부 및 상기 기판 상에 분리되도록 제 2 금속층을 형성하는 단계, 및 리프트 오프를 이용하여 상기 포토레지스트막 패턴 및 포토레지스트막 패턴 상부의 제 2 금속층을 제거하여 일정 간격 이격된 제 1 전극 및 제 2 전극과 상기 분리된 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 나노 갭이 형성된 전자 방출부를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a method of manufacturing an electron emission device according to the present invention includes forming a first metal layer on a substrate, applying a photoresist to the entire upper surface of the first metal layer, and then performing exposure and development using a mask. Forming a photoresist pattern through the photoresist pattern, overetching the first metal layer so that an undercut is formed using the photoresist pattern as a mask, and forming a first electrode on the first electrode; Depositing a conductive material on the entire surface of the substrate including a second metal layer formed on the photoresist layer pattern and on the substrate, and using a lift-off to form a second metal layer on the photoresist layer pattern and on the photoresist layer pattern The first electrode and the second electrode spaced apart from each other by removing the metal layer and the separated first electrode and the first electrode And forming an electron emission portion having a nano gap formed therebetween.

상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 전자 방출 표시장치는, 기판 상에 제 1 방향과 제 2 방향으로 교차하여 형성된 복수의 게이트 배선 및 복수의 데이터 배선, 상기 게이트 배선과 연결되어 형성된 제 1 전극, 상기 제 1 전극과 일정 간격 이격되며 상기 데이터 배선과 전기적으로 연결된 제 2 전극, 및 상기 게이트 배선과 데이터 배선 사이에 콘택홀을 포함하는 절연막에 의해 노출되어 상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 나노 갭이 형성된 전자 방출부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, an electron emission display device according to an exemplary embodiment of the present invention includes a plurality of gate wires, a plurality of data wires, and a first first wire connected to the gate wires formed on the substrate in a first direction and a second direction. An electrode, a second electrode spaced apart from the first electrode, and electrically connected to the data line, and an insulating layer including a contact hole between the gate line and the data line and exposed between the first electrode and the second electrode. It characterized in that it comprises an electron emission portion in which a nano gap is formed.

또한, 상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 전자 방출 표시장치의 제조 방법은, 기판 상에 상부에 포토레지스트막 패턴을 포함하는 게이트 배선 및 상기 게이트 배선과 연결된 제 1 금속층을 패터닝하여 형성하는 단계, 상기 포토레지스트막 패턴을 마스크로 하여 언더컷이 형성되도록 상기 게이트 배선 및 제 1 금속층을 오버 에칭하여 게이트 배선 및 제 1 전극을 형성하는 단계, 상기 포토레지스트막 패턴을 포함한 기판 전면에 도전성 물질을 증착하여 상기 포토레지스트막 패턴과 상기 기판 상에 분리되도록 제 2 금속층을 형성하는 단계, 리프트 오프를 이용하여 상기 포토레지스트막 패턴과 상기 포토레지스트막 패턴 상부의 제 2 금속층을 제거하여 상기 제 1 전극과 일정 간격 이격된 제 2 전극 및 상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 나노 갭이 형성된 전자 방출부를 형성하는 단계, 상기 제 1 전극과 전자 방출부의 전면 및 상기 제 2 전극의 소정 영역에 상기 제 2 전극 상에 콘택홀을 구비한 절연막을 패터닝하여 형성하는 단계, 상기 절연막 상에 상기 게이트 배선과 대응되도록 데이터 배선을 패터닝하여 형성하는 단계, 및 상기 전자 방출부을 덮고 있는 절연막을 식각하여 상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 나노 갭이 형성된 전자 방출부를 노출시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. In addition, in order to achieve the above object, a method of manufacturing an electron emission display device according to the present invention is formed by patterning a gate wiring including a photoresist film pattern on the substrate and a first metal layer connected to the gate wiring. Forming a gate wiring and a first electrode by overetching the gate wiring and the first metal layer to form an undercut using the photoresist film pattern as a mask; and forming a conductive material on the entire surface of the substrate including the photoresist film pattern. Depositing a second metal layer to be separated from the photoresist layer pattern and the substrate, and removing the photoresist layer pattern and the second metal layer on the photoresist layer pattern by using a lift-off; Nano between the first electrode and the second electrode and the second electrode spaced apart from the predetermined interval Forming an formed electron emission unit, patterning an insulating film having a contact hole on the second electrode on a front surface of the first electrode and the electron emission unit, and forming a predetermined region of the second electrode, on the insulating film Patterning the data line to correspond to the gate line, and etching the insulating layer covering the electron emission unit to expose the electron emission unit having a nanogap formed between the first electrode and the second electrode. It features.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명을 보다 상세히 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자를 개략적으로 도시한 평면도이고, 도 5는 도 4를 Ⅱ-Ⅱ'로 절취한 단면도이다.4 is a plan view schematically illustrating the surface conduction electron emission device according to the present invention, and FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line II-II ′ of FIG. 4.

도 4 및 도 5를 참조하면, 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자는 기판(100) 상에 형성된 제 1 전극(110')과, 상기 제 1 전극(110')과 일정 간격 이격되어 서로 대향하며 상기 제 1 전극(110') 미만의 두께를 갖는 제 2 전극(120) 및 상기 분리된 제 1 전극(110')과 제 2 전극(120) 사이에 형성되며 미세한 나노 갭(nano gap)이 형성된 전자 방출부(130)가 포함된다.4 and 5, the surface conduction electron emission device according to the present invention is spaced apart from the first electrode 110 ′ formed on the substrate 100 and the first electrode 110 ′ at a predetermined interval. Opposite and formed a second electrode 120 having a thickness less than the first electrode 110 'and between the separated first electrode 110' and the second electrode 120 and a fine nano gap (nano gap) The formed electron emission unit 130 is included.

상기 제 1 전극(110')과 제 2 전극(120)은 동일층에 형성된다.The first electrode 110 ′ and the second electrode 120 are formed on the same layer.

상기 제 1 전극(110')은 캐소드 전극이고, 상기 제 2 전극(120)은 게이트 전극으로 형성된다. 반면, 상기 제 1 전극(110')은 게이트 전극이고, 상기 제 2 전극(120)은 캐소드 전극으로 형성된다.The first electrode 110 ′ is a cathode electrode, and the second electrode 120 is formed as a gate electrode. In contrast, the first electrode 110 ′ is a gate electrode, and the second electrode 120 is formed as a cathode electrode.

즉, 상기 제 1 전극(110')의 두께를 d1, 상기 제 2 전극(120)의 두께를 d2라고 정의할 때, 상기 제 1 전극(110')과 제 2 전극(120)의 두께 간에는 d1>d2를 만족시킨다. That is, when the thickness of the first electrode 110 ′ is defined as d1 and the thickness of the second electrode 120 is d2, the thickness of the first electrode 110 ′ and the second electrode 120 is d1. satisfies> 2.

상기 제 1 전극(110') 및 제 2 전극(120)은 동일 물질이거나 이종(異種)의 물질로 형성될 수 있으며, 전기적으로 도전성을 가진 다양한 재료가 사용가능하다. 특히, 전자 방출 특성을 높이기 위해 일함수(φ;Work Function)가 낮은 도전성 금속으로 형성되며, 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr), 텅스텐(W), 구리(Cu), 리튬(Li), 니켈(Ni), 금(Au), 백금(Pt), 티타늄(Ti), 은(Ag), 알루미늄(Al) 및 그 합금(예, Ag alloy, Al alloy) 등으로 이루어진 군에서 선택된 1종으로 형성된다. The first electrode 110 ′ and the second electrode 120 may be formed of the same material or different materials, and various materials having electrical conductivity may be used. In particular, it is formed of a conductive metal having a low work function (φ) to enhance electron emission characteristics, and includes molybdenum (Mo), chromium (Cr), tungsten (W), copper (Cu), lithium (Li), and nickel. (Ni), gold (Au), platinum (Pt), titanium (Ti), silver (Ag), aluminum (Al) and alloys thereof (e.g. Ag alloy, Al alloy) do.

상기 제 1 전극(110')과 제 2 전극(120) 사이에 형성된 전자 방출부(130)는 수평 방향으로 형성되며, 수십nm ~ 수백nm 정도의 나노 갭(nano gap)으로 형성된다.The electron emission unit 130 formed between the first electrode 110 ′ and the second electrode 120 is formed in a horizontal direction and has a nano gap of about several tens of nm to several hundred nm.

상기 전자 방출부(130)는 200nm 이하의 나노 갭(nano gap)으로 형성된다. 특히 상기 전자 방출부(130)의 갭이 작을수록 전자 방출 특성은 향상되므로 최대한 작게 형성된다.The electron emission unit 130 is formed with a nano gap of 200 nm or less. In particular, as the gap of the electron emission unit 130 is smaller, the electron emission characteristic is improved, and thus is formed as small as possible.

상기한 바와 같이 형성된 전자 방출 소자는 상기 제 1 전극(110')과 제 2 전극(120)에 각각 전압을 인가하면, 상기 제 1 전극(110')과 제 2 전극(120) 사이에 수평한 방향으로 자기장이 걸리고, 수평 자기장에 의해 나노 갭이 형성된 전자 방출부(130)로 전류가 흐르며, 도시하지 않은 상부 기판의 애노드 전극에 형성된 고전압에 의하여 전자의 일부 방출이 이루어진다.When the electron emission device formed as described above applies a voltage to the first electrode 110 ′ and the second electrode 120, respectively, the electron emission device may be horizontally disposed between the first electrode 110 ′ and the second electrode 120. Direction, the current flows to the electron emission unit 130 in which the nanogap is formed by the horizontal magnetic field, and the electrons are partially emitted by the high voltage formed on the anode electrode of the upper substrate (not shown).

상기한 바와 같이, 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자는 상기 전자 방출부(130)가 미세한 나노 갭 사이즈 수준으로 형성되기 때문에 전자 방출 특성을 향상시켜 불안정 없이 장시간 동안 양호한 전자 방출 특성이 유지되는 표면전도형 전자 방출 표시장치를 제작할 수 있다.As described above, the surface conduction electron emission device according to the present invention improves electron emission characteristics because the electron emission portion 130 is formed at a fine nanogap size level, thereby maintaining good electron emission characteristics for a long time without instability. A surface conduction electron emission display device can be manufactured.

도 6a 내지 도 6f는 본 발명에 따른 표면 전도형 전자 방출 소자의 제조 방법을 개략적으로 도시하는 공정단면도이다.6A to 6F are process cross-sectional views schematically showing a method for manufacturing a surface conduction electron emission device according to the present invention.

도 6a를 참조하면, 기판(100) 상에 도전성 금속을 스퍼터링, 진공증착법(Evaporation), 화학기상증착법(CVD;Chemical Vapor Deposition) 중 어느 하나의 방법으로 증착하여 제 1 금속층(110)을 형성한다. 상기 CVD 방법은 플라즈마화학기상증착법(PECVD;Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition) 또는 저압화학기상증착법(LPCVD;Low Pressure Chemical Vapor Deposition)일 수 있다.Referring to FIG. 6A, a conductive metal is deposited on the substrate 100 by any one of sputtering, evaporation, and chemical vapor deposition (CVD) to form a first metal layer 110. . The CVD method may be Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD) or Low Pressure Chemical Vapor Deposition (LPCVD).

도 6b를 참조하면, 상기 제 1 금속층(110) 상에 포토레지스트(Photo Resist;PR)를 스핀 코팅(Spin Coating) 방법으로 도포 후 포토리소그래피 공정에서 패터닝된 마스크를 이용한 노광 및 현상을 통해 식각된 포토레지스트막 패턴(115)을 형성한다.Referring to FIG. 6B, a photoresist (PR) is coated on the first metal layer 110 by spin coating, and then etched through exposure and development using a patterned mask in a photolithography process. The photoresist film pattern 115 is formed.

상기 포토레지스트(PR)는 아크릴계 수지 또는 폴리이미드일 수 있으며, 상기 포토레지스트(PR)는 광조사부로부터 보호된 부분이 현상 공정에 의해 잔류되는 포지티브형 포토레지스트(positive type PR) 또는 광에 의해 조사된 부분이 현상 공정에 의해 잔류되는 네거티브형 포토레지스트(negative type PR)일 수 있다. 본 발명에서는 포지티브형 포토레지스트를 이용하여 설명하기로 한다.The photoresist PR may be an acrylic resin or a polyimide, and the photoresist PR may be irradiated by a positive type photoresist or light in which a portion protected from the light irradiation part is left by a developing process. The portion may be a negative photoresist (negative type PR) remaining by the developing process. In the present invention will be described using a positive photoresist.

도 6c를 참조하면, 상기 포토레지스트막 패턴(115)을 마스크로 하여 상기 제 1 금속층(110)을 오버 에칭하여 언더컷이 형성된 제 1 전극(110')을 형성한다. 상기 식각은 습식 식각(wet etching) 또는 건식 식각(dry etching)으로 수행한다. Referring to FIG. 6C, the first metal layer 110 is overetched using the photoresist layer pattern 115 as a mask to form a first electrode 110 ′ having an undercut. The etching may be performed by wet etching or dry etching.

도 6d를 참조하면, 상기 제 1 전극(110') 상부의 포토레지스트막 패턴(115)을 포함한 상기 기판(100) 전면에 도전성 물질을 증착하여 상기 포토레지스트막 패턴(115) 상부 및 상기 기판(100) 상에 분리되도록 제 2 금속층(120;120a, 120b)을 형성한다.Referring to FIG. 6D, a conductive material is deposited on the entire surface of the substrate 100 including the photoresist layer pattern 115 on the first electrode 110 ′, thereby forming an upper portion of the photoresist layer pattern 115 and the substrate ( The second metal layers 120 (120a and 120b) are formed to be separated from each other.

여기서, 상기 제 2 금속층(120a, 120b)의 두께(d2)는 상기 제 1 전극(110')의 두께(d1) 미만으로 형성하며, 이를 통해 상기 언더컷이 형성된 제 1 전극(110') 상부에 포토레지스트막 패턴(115)이 형성된 구조 위에 금속을 증착할 때 상기 포토레지스트막 패턴(115)에 의해 단차부에서 증착 금속이 끊어져 분리된 제 2 금속층(120;120a, 120b)이 형성된다.Here, the thickness d2 of the second metal layers 120a and 120b is less than the thickness d1 of the first electrode 110 ′, and is formed on the first electrode 110 ′ on which the undercut is formed. When the metal is deposited on the structure on which the photoresist layer pattern 115 is formed, second metal layers 120 (120a and 120b) are formed by separating the deposition metal at the stepped portion by the photoresist layer pattern 115.

도 6e 및 도 6f를 참조하면, 리프트 오프를 이용하여 상기 포토레지스트막 패턴(115)을 식각하여 상기 제 1 전극(110')으로부터 상기 포토레지스트막 패턴(115)을 분리시키며, 이때, 상기 포토레지스트막 패턴(115) 상부에 형성된 제 2 금속층(120a)이 동시에 제거된다(6e).6E and 6F, the photoresist film pattern 115 is etched by using lift-off to separate the photoresist film pattern 115 from the first electrode 110 ′. The second metal layer 120a formed on the resist film pattern 115 is simultaneously removed (6e).

상기 리프트 오프 공정 시 상기 제 2 금속층(120a, 120b) 및 제 1 전극(110')과 포토레지스트막 패턴(115) 간에는 임의의 식각액 또는 식각가스에 대하여 막질간의 높은 선택비를 이용하며, 특히 상기 포토레지스트막 패턴(115)에 대한 선택비가 높은 식각액 또는 식각가스를 선택한다.In the lift-off process, a high selectivity ratio between the second metal layers 120a and 120b and the first electrode 110 ′ and the photoresist film pattern 115 with respect to any etching solution or etching gas is used. An etchant or an etching gas having a high selectivity with respect to the photoresist film pattern 115 is selected.

상기 리프트 오프를 통해 상기 기판(100) 상에 일정 간격 이격되며 서로 대향하는 상기 제 1 전극(110') 및 제 2 전극(120)을 형성하고, 상기 제 1 전극(110')과 제 2 전극(120) 사이에 수평한 방향으로 미세한 나노 갭이 형성된 전자 방출부(130)를 형성한다(6f). The first electrode 110 ′ and the second electrode 120 are formed on the substrate 100 to be spaced apart from each other and face each other through the lift off, and the first electrode 110 ′ and the second electrode 120 are formed to face each other. An electron emission unit 130 in which a fine nanogap is formed in the horizontal direction between the 120 is formed (6f).

이때, 상기 제 1 전극(110') 및 제 2 전극(120)은 동일층에 형성된다.In this case, the first electrode 110 ′ and the second electrode 120 are formed on the same layer.

상기 제 1 전극(110')은 캐소드 전극으로 형성하고, 상기 제 2 전극(120)은 게이트 전극으로 형성한다. 반면, 상기 제 1 전극(110')은 게이트 전극으로 형성하고, 상기 제 2 전극(120)은 캐소드 전극으로 형성할 수 있다. The first electrode 110 ′ is formed of a cathode electrode, and the second electrode 120 is formed of a gate electrode. On the other hand, the first electrode 110 ′ may be formed as a gate electrode, and the second electrode 120 may be formed as a cathode electrode.

이로써, 상기 기판(100) 상에 형성된 상기 제 1 전극 및 제 2 전극(110', 120)과 상기 분리된 제 1 전극 및 제 2 전극(110', 120) 사이에 미세한 나노 갭이 형성된 전자 방출부(130)를 포함한 전자 방출 소자를 완성한다. As a result, an electron emission in which a fine nanogap is formed between the first and second electrodes 110 ′ and 120 formed on the substrate 100 and the separated first and second electrodes 110 ′ and 120 is formed. The electron emission device including the unit 130 is completed.

상기한 바와 같이, 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자는 제 1 전극(110') 상부에 상기 제 1 전극(110') 보다 폭이 넓은 포토레지스트막 패턴(115) 위에 제 2 금속층을 적층할 경우 단차부에서 증착 금속이 끊어져 상기 포토레지스트막 패턴(115) 상부에 형성된 제 2 금속층(120a)과 상기 기판(100) 상에 형성된 제 2 금속층(120b)으로 자동 분리된다. As described above, in the surface conduction electron emission device according to the present invention, a second metal layer is laminated on the photoresist layer pattern 115 that is wider than the first electrode 110 'on the first electrode 110'. In this case, the deposition metal is broken at the stepped portion, and is automatically separated into the second metal layer 120a formed on the photoresist layer pattern 115 and the second metal layer 120b formed on the substrate 100.

따라서, 리프트 오프를 이용하여 상기 포토레지스트막 패턴(115) 및 포토레지스트막 패턴(115) 상부의 제 2 금속층(120a)을 동시에 제거하여 제 1 전극(110')과 제 2 전극(120)을 형성하고, 상기 제 1 전극(110')과 제 2 전극(120) 사이에 미세한 나노 갭이 형성된 전자 방출부(130)를 형성할 수 있다.Accordingly, the first electrode 110 ′ and the second electrode 120 may be removed by simultaneously removing the photoresist layer pattern 115 and the second metal layer 120a on the photoresist layer pattern 115 using lift off. And an electron emission unit 130 having a fine nanogap formed between the first electrode 110 ′ and the second electrode 120.

본 발명은 종래의 포밍 공정에서 사용된 잉크젯 프린팅 장치와 상기 잉크젯 프린팅 장치에 의해 도포된 전도성막에 전압을 인가하지 않고도 저렴한 비용과 단순한 공정으로 쉽게 미세한 나노 갭이 형성된 전자 방출부(130)를 형성하여 전자 방출 특성을 향상시킬 수 있다.The present invention forms an electron emitting unit 130 in which fine nanogaps are formed easily and at low cost and in a simple process without applying a voltage to an inkjet printing apparatus used in a conventional forming process and a conductive film coated by the inkjet printing apparatus. To improve the electron emission characteristics.

또한, 상기 제조 방법으로 형성된 표면전도형 전자 방출 소자를 채용함으로써 저렴한 비용과 단순한 공정으로 전자 방출 특성이 개선된 표면전도형 전자 방출 표시장치를 제작할 수 있다.In addition, by employing the surface conduction electron emission device formed by the above manufacturing method, it is possible to manufacture a surface conduction electron emission display device having improved electron emission characteristics in a low cost and simple process.

도 7은 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자가 채용된 전자 방출 표시장치의 부분 분해 사시도이고, 도 8은 도 7의 A 화살표 방향에서 바라본 전자 방출 표시장치의 부분 결합 단면도이다.FIG. 7 is a partially exploded perspective view of an electron emission display device employing the surface conduction electron emission device according to the present invention, and FIG. 8 is a partially combined cross-sectional view of the electron emission display device viewed from the arrow A of FIG. 7.

도시한 바와 같이, 배면 기판(310) 위에는 전자 방출 소자와 제 1 방향으로 형성되며, 상기 전자 방출 소자의 제 1 전극(320')과 연결된 게이트 배선(330')과 상기 게이트 배선(330')과 교차하는 제 2 방향의 데이터 배선(370) 및 상기 게이트 배선(330')과 상기 데이터 배선(370) 사이에 형성되며 콘택홀(365)을 구비하는 절연막(360)이 형성된다. As shown, a gate wiring 330 'and a gate wiring 330' are formed on the rear substrate 310 in the first direction with the electron emitting device and connected to the first electrode 320 'of the electron emitting device. A data line 370 in the second direction crossing the gate line and an insulating layer 360 formed between the gate line 330 ′ and the data line 370 and including the contact hole 365 are formed.

보다 상세하게, 상기 전자 방출 소자는 상기 배면 기판(310) 상에 형성된 제 1 전극(320')과, 상기 제 1 전극(320')과 일정 간격 이격되며 서로 대향하는 제 2 전극(340)과, 상기 제 1 전극(320')과 제 2 전극(340) 사이에 미세한 나노 갭이 형성된 전자 방출부(350)를 포함하여 형성된다. 여기서, 상기 제 1 전극(320')은 게이트 전극으로 형성되고, 상기 제 2 전극(340)은 캐소드 전극으로 형성된다.In more detail, the electron emission device may include a first electrode 320 ′ formed on the rear substrate 310, a second electrode 340 spaced apart from the first electrode 320 ′ at a predetermined interval, and facing each other; The electron emitter 350 includes a nano emission gap 350 formed between the first electrode 320 ′ and the second electrode 340. Here, the first electrode 320 ′ is formed as a gate electrode, and the second electrode 340 is formed as a cathode electrode.

또한, 전면 기판(410) 하부에는 ITO(Indium Tin Oxide) 또는 IZO(Indium Zinc Oxide)와 같이 광투과율이 우수한 투명전극으로 형성된 애노드 전극(420)이 형성된다. In addition, an anode electrode 420 formed of a transparent electrode having excellent light transmittance, such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO), is formed under the front substrate 410.

상기 애노드 전극(420) 하부에는 적색(R) 형광막(430R), 녹색(G) 형광막(430G) 및 청색(B) 형광막(430B)이 교대로 배열된 형광막(430)이 형성된다.A fluorescent film 430 having a red (R) fluorescent film 430R, a green (G) fluorescent film 430G, and a blue (B) fluorescent film 430B is alternately arranged below the anode electrode 420. .

또한, 각각의 형광막(430R, 430G, 430B) 사이에는 콘트라스트 향상을 위하여 블랙매트릭스(BM;Black matrix)(440)가 배열된다.In addition, a black matrix (BM) 440 is arranged between the fluorescent films 430R, 430G, and 430B to improve contrast.

도면으로 도시하지는 않았으나, 상기 형광막(430)과 블랙매트릭스(440) 하부에 알루미늄 등으로 이루어지는 금속박막층이 더 형성될 수 있다. 상기 금속박막층은 내전압특성과 휘도향상에 도움을 준다.Although not shown in the drawing, a metal thin film layer made of aluminum may be further formed below the fluorescent film 430 and the black matrix 440. The metal thin film layer helps to improve withstand voltage characteristics and luminance.

상기와 같이 구성되는 전면 기판(410)과 배면 기판(310)은 제 1 전극(320') 또는 제 2 전극(340)인 게이트 전극과 형광막(430)이 직교하도록 마주한 상태에서 소정의 간격을 두고 실런트(미도시)에 의해 접합되며, 그 사이에 형성되는 내부 공간은 배기시켜 진공상태를 유지한다. The front substrate 410 and the rear substrate 310 configured as described above have a predetermined interval in a state where the gate electrode, which is the first electrode 320 ′ or the second electrode 340, and the fluorescent film 430 face each other at right angles. It is bonded by a sealant (not shown), and the internal space formed between them is evacuated to maintain a vacuum state.

이때, 상기 전면 기판(410)과 배면 기판(310)의 간격을 일정하게 유지시키기 위하여 스페이서(500)가 전면 기판(410)과 배면 기판(310)의 사이에 격자형으로 배열된다. In this case, the spacer 500 is arranged in a lattice form between the front substrate 410 and the rear substrate 310 in order to maintain a constant distance between the front substrate 410 and the rear substrate 310.

이후, 먼저 외부로부터 상기 게이트 배선(330')을 통해 제 1 전극(320')에 전압을 인가하고, 상기 데이터 배선(370)을 통해 상기 제 2 전극(340)에 전압을 인가하고, 도시되지 않은 배선을 통해 상기 애노드 전극(420)에 소정의 전압을 인가 하여 구동시킨다.Thereafter, first, a voltage is applied to the first electrode 320 'from the outside through the gate wire 330', and a voltage is applied to the second electrode 340 through the data wire 370. It is driven by applying a predetermined voltage to the anode electrode 420 through the wiring.

상기와 같이 각 제 1, 2 전극(320', 340)에 전압이 인가되면, 상기 제 1 전극(320')과 제 2 전극(340)의 전압 차에 의하여 상기 제 1 전극(320')과 제 2 전극(340) 사이에 미세한 나노 갭이 형성된 상기 전자 방출부(350)로 전류가 흐르며, 상기 전자 방출부(350) 주위에 수평 전계가 형성되어 상기 전자 방출부(350)에서 전자(e-)가 방출된다. 이때, 방출된 전자(e-)는 전면 기판(410)의 애노드 전극(420)에 인가된 고전압(Hv)에 이끌려 형광막(430)에 충돌하여 발광시키는 것에 의하여 소정의 영상을 구현한다. When voltage is applied to each of the first and second electrodes 320 ′ and 340 as described above, the first electrode 320 ′ and the first electrode 320 ′ and the second electrode 340 differ from each other by a voltage difference. An electric current flows to the electron emission unit 350 having a minute nanogap formed between the second electrode 340, and a horizontal electric field is formed around the electron emission unit 350 to form electrons (e) in the electron emission unit 350. -) Is released. At this time, the emitted electron (e-) is attracted by the high voltage (Hv) applied to the anode electrode 420 of the front substrate 410 hits the fluorescent film 430 to emit a predetermined image.

도 9a 내지 도 9e는 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자가 채용된 전자 방출 표시장치용 캐소드 기판의 제조 방법을 개략적으로 도시하는 공정평면도이다.9A to 9E are process plan views schematically showing a method of manufacturing a cathode substrate for an electron emission display device employing the surface conduction electron emission device according to the present invention.

도 9a를 참조하면, 배면 기판(310) 상에 도전성 금속을 스퍼터링, 진공증착법, PECVD 또는 LPCVD 방법으로 증착하여 제 1 금속층(미도시)과 상기 제 1 금속층과 연결되는 게이트 배선(미도시)을 형성한다. 상기 제 1 금속층 상에 포토레지스트를 스핀 코팅을 수행하여 도포 후 포토리소그래피에서 패터닝된 마스크를 이용하여 노광 및 현상을 통해 식각하여 포토레지스트막 패턴(325)을 형성한다.Referring to FIG. 9A, a first metal layer (not shown) and a gate wiring (not shown) connected to the first metal layer are formed by depositing a conductive metal on the rear substrate 310 by sputtering, vacuum deposition, PECVD, or LPCVD. Form. After spin coating the photoresist on the first metal layer and applying the photoresist, the photoresist pattern 325 is formed by exposure and development using a mask patterned in photolithography.

상기 포토레지스트막 패턴(325)을 이용하여 상기 제 1 금속층을 패터닝하여 제 1 금속층(320)과 상기 제 1 금속층(320)과 연결되는 게이트 배선(330)을 상기 포토레지스트막 패턴(325) 하부에 형성한다.The first metal layer is patterned using the photoresist layer pattern 325 to form a gate wiring 330 connected to the first metal layer 320 and the first metal layer 320 under the photoresist layer pattern 325. To form.

이때, 상기 제 1 금속층(320) 및 게이트 배선(330) 상에는 포토레지스트막 패턴(325)을 그대로 유지한다.In this case, the photoresist film pattern 325 is maintained on the first metal layer 320 and the gate wiring 330 as it is.

도 9b를 참조하면, 상기 포토레지스트막 패턴(325)을 이용하여 상기 제 1 금속층(320)과 게이트 배선(330)을 습식 식각 또는 건식 식각을 통해 오버 에칭하여 상기 포토레지스트막 패턴(325) 하부에 언더컷이 형성된 제 1 전극(320') 및 게이트 배선(330')을 형성한다. 여기서, 상기 제 1 전극(320')은 게이트 전극으로 형성한다.Referring to FIG. 9B, the first metal layer 320 and the gate wiring 330 are over-etched by wet etching or dry etching using the photoresist layer pattern 325 to lower the photoresist layer pattern 325. The first electrode 320 'and the gate wiring 330' having the undercut formed thereon are formed. The first electrode 320 'is formed as a gate electrode.

도 9c를 참조하면, 상기 포토레지스트막 패턴(325)을 포함한 배면 기판(310) 전면에 걸쳐 도전성 금속을 스퍼터링, 진공증착법, PECVD 또는 LPCVD 방법으로 증착하여 포토레지스트막 패턴(325) 상부 및 배면 기판(310) 상에 단차부에 의해 금속 물질이 끊어져 분리된 제 2 금속층(340; 340a, 340b)을 형성한다.Referring to FIG. 9C, the conductive metal is deposited on the entire back substrate 310 including the photoresist layer pattern 325 by sputtering, vacuum deposition, PECVD, or LPCVD, and the upper and rear substrates of the photoresist layer pattern 325. The metal material is broken by the stepped portion on the 310 to form a second metal layer 340 (340a, 340b) separated from each other.

리프트 오프를 이용하여 상기 포토레지스트막 패턴(325) 및 상기 포토레지스트막 패턴(325) 상부의 제 2 금속층(340a)을 분리시킨다.The photoresist layer pattern 325 and the second metal layer 340a on the photoresist layer pattern 325 are separated using lift off.

따라서, 상기 배면 기판(310) 상에는 제 1 전극(320')과, 상기 제 1 전극(320')과 연결된 게이트 배선(330')과, 상기 제 1 전극(320')과 일정 간격 이격된 제 2 전극(340)이 형성된다. 여기서, 상기 제 2 전극(340)은 캐소드 전극으로 형성된다.Therefore, the first electrode 320 ′, the gate wiring 330 ′ connected to the first electrode 320 ′, and the first electrode 320 ′ are spaced apart from the first electrode 320 ′ on the rear substrate 310. 2 electrodes 340 are formed. Here, the second electrode 340 is formed as a cathode electrode.

상기 제 1 전극(320')과 제 2 전극(340) 사이에는 미세한 나노 갭이 형성된 전자 방출부(350)가 형성된다. An electron emission part 350 having a fine nanogap is formed between the first electrode 320 ′ and the second electrode 340.

도 9d를 참조하면, 상기 제 1, 2 전극(320', 340) 및 전자 방출부(350)를 포 함하는 기판 전면에 실리콘 산화막(SiO2) 또는 실리콘 질화막(SiNx)을 PECVD 또는 LPCVD를 수행하여 증착한 후 원형개구부를 갖는 마스크를 이용하여 패터닝하여 상기 전자 방출부(350)을 포함한 배면 기판(310) 상에 콘택홀(365)을 구비하는 절연막(360)을 형성한다.9D, PECVD or LPCVD is performed on a silicon oxide film (SiO 2 ) or a silicon nitride film (SiNx) on the entire surface of the substrate including the first and second electrodes 320 ′ and 340 and the electron emission unit 350. After the deposition, the patterned pattern is formed using a mask having a circular opening to form an insulating layer 360 having a contact hole 365 on the back substrate 310 including the electron emission unit 350.

상기 절연막(360)은 후속 공정에서 데이터 배선이 형성될 영역에 형성되어 상기 데이터 배선의 단락을 방지하는 역할을 수행하며, 상기 콘택홀(365)은 후속 공정에서 형성되는 데이터 배선을 통해 상기 제 2 전극(340)에 전압을 인가하는 역할을 한다.The insulating layer 360 is formed in a region where a data line is to be formed in a subsequent process to prevent a short circuit of the data line, and the contact hole 365 is formed through the data line formed in a subsequent process. It serves to apply a voltage to the electrode 340.

도 9e를 참조하면, 상기 콘택홀(365)을 구비한 절연막(360) 상에 도전성 물질을 스퍼터링, 진공증착법, PECVD 또는 LPCVD 방법으로 증착한 후 마스크를 이용하여 패터닝하여 상기 게이트 배선(330') 상에 상기 게이트 배선(330')과 교차하는 데이터 배선(370)을 형성한다.Referring to FIG. 9E, a conductive material is deposited on the insulating layer 360 including the contact hole 365 by sputtering, vacuum deposition, PECVD, or LPCVD, and then patterned by using a mask to form the gate wiring 330 ′. A data line 370 intersecting with the gate line 330 'is formed on the data line.

도 9f를 참조하면, 상기 전자 방출부(350)를 덮고 있는 전자 방출부(350) 상부의 절연막(360)을 식각하여 전자 방출부(350)를 노출시킨다. 상기 전자 방출부(350)는 나노 갭 사이즈 수준을 갖는다. Referring to FIG. 9F, the insulating layer 360 over the electron emission unit 350 covering the electron emission unit 350 is etched to expose the electron emission unit 350. The electron emission unit 350 has a nano gap size level.

이로써, 일정 간격 이격되어 서로 대향하는 제 1, 2 전극(320', 340) 및 상기 분리된 제 1 전극(320')과 제 2 전극(340) 사이에 미세한 나노 갭이 형성된 전자 방출부(350)와, 상기 게이트 배선(330') 및 데이터 배선(370)으로 형성된 본 발명에 따른 표면전도형 전자 방출 소자를 이용한 표면전도형 전자 방출 표시장치의 캐소드 기판을 완성한다. As a result, the electron emission unit 350 in which a minute nanogap is formed between the first and second electrodes 320 ′ and 340 facing each other at a predetermined interval and the separated first and second electrodes 320 ′ and 340. And the cathode substrate of the surface conduction electron emission display device using the surface conduction electron emission device according to the present invention formed of the gate line 330 'and the data line 370.

상기한 바와 같이 본 발명은 리프트 오프를 이용하여 저렴한 비용과 단순한 공정으로 쉽게 전자 방출부를 포함하는 전자 방출 소자를 채용한 전자 방출 표시장치를 제작할 수 있다.As described above, the present invention can manufacture an electron emission display device employing an electron emission device including an electron emission unit easily and in low cost and simple process using a lift off.

또한, 상기 제 1 전극 상부에 상기 제 1 전극보다 폭이 넓은 포토레지스트막 패턴을 이용하여 자동적으로 분리된 제 1, 2 전극을 통해 상기 전자 방출부가 미세한 나노 갭 사이즈 수준으로 형성될 수 있기 때문에 전자 방출 특성을 향상시켜 불안정 없이 장시간 동안 양호한 전자 방출 특성이 유지되는 표면전도형 전자 방출 표시장치를 제작할 수 있다.In addition, since the electron emission part may be formed to a minute nano gap size level through the first and second electrodes which are automatically separated by using a photoresist layer pattern wider than the first electrode on the first electrode. By improving the emission characteristics, a surface conduction electron emission display device can be manufactured in which good electron emission characteristics are maintained for a long time without instability.

본 발명에 따른 전자 방출 소자는 FEA형이나 표면 전도형(SED) 뿐만아니라, 다양한 전자 방출 소자로도 적용도 가능하다.The electron emission device according to the present invention can be applied to various electron emission devices as well as FEA type or surface conduction type (SED).

본 발명을 구체적인 실시예를 통하여 상세히 설명하였으나, 이는 본 발명을 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명에 따른 액정패널 및 그 제조 방법은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 그 변형이나 개량이 가능함이 명백하다.Although the present invention has been described in detail through specific embodiments, it is intended to describe the present invention in detail, and the liquid crystal panel and its manufacturing method according to the present invention are not limited thereto, and the technical features of the present invention may be used. It is obvious that modifications and improvements are possible by those skilled in the art.

본 발명은 리프트 오프(lift-off)를 이용하여 저렴한 비용과 단순한 공정으로 기판 상에 일정 간격 이격된 제 1 전극 및 제 2 전극을 형성하고, 상기 분리된 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 미세한 나노 갭(nano gap)이 형성된 전자 방출부를 형성하는 전자 방출 소자 및 그의 제조 방법 및 그를 이용한 전자 방출 표시장치 및 그의 제조 방법을 제공하는 효과가 있다.The present invention forms a first electrode and a second electrode spaced at regular intervals on a substrate by using a lift-off in a low cost and simple process, and between the separated first electrode and the second electrode is fine There is an effect of providing an electron emission device for forming an electron emission portion formed with a nano gap, a method for manufacturing the same, and an electron emission display device using the same and a method for manufacturing the same.

본 발명은 단차부에 의해 자동적으로 분리된 제 1, 2 전극을 통해 상기 전자 방출부를 미세한 나노 갭 사이즈 수준으로 형성할 수 있기 때문에 전자 방출 특성을 향상시켜 불안정 없이 장시간 동안 양호한 전자 방출 특성이 유지되는 표면전도형 전자 방출 표시장치를 제작할 수 있는 또 다른 효과가 있다.According to the present invention, since the electron emission portion can be formed at a fine nanogap size level through the first and second electrodes automatically separated by the stepped portion, the electron emission characteristics are improved to maintain good electron emission characteristics for a long time without instability. Another effect is to produce a surface conduction electron emission display.

Claims (10)

기판 상에 제 1 금속층을 형성하는 단계;Forming a first metal layer on the substrate; 상기 제 1 금속층 상부 전면에 포토레지스트를 도포한 후 마스크를 이용한 노광 및 현상을 통해 포토레지스트막 패턴을 형성하는 단계;Forming a photoresist film pattern through exposure and development using a mask after applying the photoresist to the entire upper surface of the first metal layer; 상기 포토레지스트막 패턴을 마스크로 하여 상기 제 1 금속층을 언더컷이 형성되도록 오버 에칭하여 제 1 전극을 형성하는 단계;Forming a first electrode by overetching the first metal layer to form an undercut using the photoresist pattern as a mask; 상기 제 1 전극 상부의 포토레지스트막 패턴을 포함한 기판 전면에 도전성 물질을 증착하여 상기 포토레지스트막 패턴 상부 및 상기 기판 상에 분리되도록 제 2 금속층을 형성하는 단계; 및 Depositing a conductive material on an entire surface of the substrate including the photoresist layer pattern on the first electrode to form a second metal layer on the photoresist layer pattern and on the substrate; And 리프트 오프를 이용하여 상기 포토레지스트막 패턴 및 포토레지스트막 패턴 상부의 제 2 금속층을 제거하여 일정 간격 이격된 제 1 전극 및 제 2 전극과 상기 분리된 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 나노 갭이 형성된 전자 방출부를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출 소자의 제조 방법.The nano-gap may be formed between the first and second electrodes spaced apart by a predetermined interval and the first and second electrodes spaced apart from each other by removing the photoresist pattern and the second metal layer on the photoresist pattern by using lift-off. A method of manufacturing an electron emitting device comprising the step of forming the formed electron emitting portion. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 전극과 상기 제 2 전극은 도전성 금속으로 형성하는 것을 특징으로 하는 전자 방출 소자의 제조 방법.And the first electrode and the second electrode are made of a conductive metal. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 전극은 캐소드 전극으로 형성하고 상기 제 2 전극은 게이트 전극으로 형성하거나, 상기 제 1 전극은 게이트 전극으로 형성하고 상기 제 2 전극은 캐소드 전극으로 형성하는 것을 특징으로 하는 전자 방출 소자의 제조 방법.The first electrode is formed of a cathode electrode and the second electrode is formed of a gate electrode, or the first electrode is formed of a gate electrode and the second electrode is formed of a cathode electrode, characterized in that Way. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 2 금속층과 제 1 전극 및 포토레지스트막 패턴은 식각액 또는 식각가스에 대하여 막질간의 고 선택비를 갖는 물질로 형성하는 것을 특징으로 하는 전자 방출 소자의 제조 방법.And the second metal layer, the first electrode, and the photoresist film pattern are formed of a material having a high selectivity between films with respect to an etching solution or an etching gas. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 2 금속층은 도전성 금속을 스퍼터링, 진공증착법, 플라즈마화학기상증착법 또는 저압화학기상증착법을 수행하여 형성하는 것을 특징으로 하는 전자 방출 소자의 제조 방법.The second metal layer is a method of manufacturing an electron emitting device, characterized in that the conductive metal is formed by sputtering, vacuum deposition, plasma chemical vapor deposition or low pressure chemical vapor deposition. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 리프트 오프는 상기 포토레지스트막 패턴의 고 선택비를 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 전자 방출 소자의 제조 방법.And the lift-off is formed using a high selectivity ratio of the photoresist film pattern. 기판 상에 제 1 방향과 제 2 방향으로 교차하여 형성된 복수의 게이트 배선 및 복수의 데이터 배선;A plurality of gate lines and a plurality of data lines formed on the substrate to intersect in a first direction and a second direction; 상기 게이트 배선과 연결되며 제 1 두께를 갖는 제 1 전극; A first electrode connected to the gate wiring and having a first thickness; 상기 제 1 전극과 일정 간격 이격되고 상기 데이터 배선과 전기적으로 연결되며 상기 제 1 두께보다 작은 두께를 갖는 제 2 전극; 및A second electrode spaced apart from the first electrode and electrically connected to the data line and having a thickness smaller than the first thickness; And 상기 게이트 배선과 데이터 배선 사이에 개재되고 콘택홀을 포함하는 절연막에 의해 노출되어 상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 나노 갭이 형성된 전자 방출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출 표시장치.And an electron emission unit interposed between the gate line and the data line and exposed by an insulating layer including a contact hole to form a nano gap between the first electrode and the second electrode. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 제 1 전극은 캐소드 전극으로 형성되고 상기 제 2 전극은 게이트 전극으로 형성되거나, 상기 제 1 전극은 게이트 전극으로 형성되고 상기 제 2 전극은 캐소드 전극으로 형성되는 것을 특징으로 하는 전자 방출 표시장치.And wherein the first electrode is formed of a cathode electrode, the second electrode is formed of a gate electrode, or the first electrode is formed of a gate electrode, and the second electrode is formed of a cathode electrode. 기판 상에 상부에 포토레지스트막 패턴을 포함하는 게이트 배선 및 상기 게이트 배선과 연결된 제 1 금속층을 패터닝하여 형성하는 단계;Patterning and forming a gate wiring including a photoresist film pattern on the substrate and a first metal layer connected to the gate wiring; 상기 포토레지스트막 패턴을 마스크로 하여 언더컷이 형성되도록 상기 게이트 배선 및 제 1 금속층을 오버 에칭하여 게이트 배선 및 제 1 전극을 형성하는 단계;Forming a gate wiring and a first electrode by overetching the gate wiring and the first metal layer to form an undercut using the photoresist pattern as a mask; 상기 포토레지스트막 패턴을 포함한 기판 전면에 도전성 물질을 증착하여 상기 포토레지스트막 패턴과 상기 기판 상에 분리되도록 제 2 금속층을 형성하는 단계;Depositing a conductive material on an entire surface of the substrate including the photoresist layer pattern to form a second metal layer separated from the photoresist layer pattern and the substrate; 리프트 오프를 이용하여 상기 포토레지스트막 패턴과 상기 포토레지스트막 패턴 상부의 제 2 금속층을 제거하여 상기 제 1 전극과 일정 간격 이격된 제 2 전극 및 상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 나노 갭이 형성된 전자 방출부를 형성하는 단계;The nanogap may be formed between the first electrode and the second electrode and the second electrode spaced apart from the first electrode by a predetermined distance by removing the photoresist pattern and the second metal layer on the photoresist pattern by using lift-off. Forming a formed electron emission portion; 상기 제 1 전극과 전자 방출부의 전면 및 상기 제 2 전극의 소정 영역에 상기 제 2 전극 상에 콘택홀을 구비한 절연막을 패터닝하여 형성하는 단계;Patterning an insulating film having a contact hole on the second electrode on a front surface of the first electrode and the electron emission unit and a predetermined region of the second electrode; 상기 절연막 상에 상기 게이트 배선과 대응되도록 데이터 배선을 패터닝하여 형성하는 단계; 및 Patterning and forming data lines on the insulating layer to correspond to the gate lines; And 상기 전자 방출부을 덮고 있는 절연막을 식각하여 상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 나노 갭이 형성된 전자 방출부를 노출시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 방출 표시장치의 제조 방법. And etching the insulating film covering the electron emission part to expose the electron emission part having a nano gap formed between the first electrode and the second electrode. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 리프트 오프는 상기 포토레지스트막 패턴의 고 선택비를 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 전자 방출 표시장치의 제조 방법.And the lift-off is formed using a high selectivity ratio of the photoresist film pattern.
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