KR100596869B1 - 특성 조절 장치를 구비한 반도체 장치의 내부전압 발생장치 - Google Patents
특성 조절 장치를 구비한 반도체 장치의 내부전압 발생장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
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- 테스트 모드 신호에 따라 외부 신호 또는 내부의 설정 장치에 저장된 신호를 선택하여 제어신호로서 출력하는 튜닝부;상기 제어신호를 입력받아 특성 제어신호를 출력하는 특성 제어부;레퍼런스 입력신호 및 상기 특성 제어신호를 입력받아 내부전압의 특성을 조절하여 출력하는 내부전압 발생부; 및상기 테스트 모드 신호에 따라 상기 내부전압 발생부의 출력신호 또는 데이터 버퍼의 출력신호를 선택적으로 데이터 출력 패드에 제공하는 출력부를 포함하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 내부의 설정 장치는 퓨즈인 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 내부전압 발생장치는 상기 테스트 모드 신호에 따라 어드레스 패드에서 제공된 신호를 입력받아 상기 튜닝부에 상기 외부신호로서 제공하거나 어드레스 디코더에 어드레스로서 선택적으로 제공하는 디멀티플렉서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 삭제
- 테스트 모드 신호, 제1 외부 신호를 입력받아 제1 특성 제어신호를 출력하는 제1 테스트 모드 블록;상기 테스트 모드 신호, 제2 외부 신호를 입력받아 제2 특성 제어신호를 출력하는 제2 테스트 모드 블록;레퍼런스 입력신호, 상기 제1 특성 제어신호, 및 상기 제2 특성 제어신호를 입력받아 내부 전압을 출력하는 내부전압 발생부; 및상기 테스트 모드 신호에 따라 상기 내부 전압 또는 데이터 출력 버퍼의 출력 신호를 선택적으로 데이터 출력 패드에 제공하는 출력부를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 제 5 항에 있어서, 상기 제1 테스트 모드 블록은상기 테스트 모드 신호, 상기 제1 외부 신호, 및 제1 설정 장치에 설정된 신호를 입력받아 소정의 제어신호를 출력하는 제1 튜닝부; 및상기 소정의 제어신호를 입력받아 제1 특성 제어 신호를 출력하는 제1 특성 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 제1 설정 장치는 퓨즈임을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 제 5 항에 있어서, 상기 제2 테스트 모드 블록은상기 테스트 모드 신호, 상기 제2 외부 신호, 및 제2 설정 장치에 설정된 신호를 입력받아 소정의 제어신호를 출력하는 제2 튜닝부; 및상기 소정의 제어신호를 입력받아 제2 특성 제어 신호를 출력하는 제2 특성 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 제 8 항에 있어서,상기 제2 설정 장치는 퓨즈임을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 제 5 항에 있어서, 상기 내부전압 발생부는상기 레퍼런스 입력신호가 제공되는 제1 증폭단;상기 제1 증폭단의 출력이 입력되는 제2 증폭단;상기 제2 증폭단의 입출력 단자 사이에 연결되어 상기 제1 특성 제어 신호를 입력받는 제1 특성 조절부;상기 제2 증폭단의 출력단자와 상기 내부전압 발생부의 출력단자 사이에 연결되어 상기 제2 특성 제어 신호를 입력받는 제2 특성 조절부; 및상기 내부전압 발생부의 출력단자와 그라운드 사이에 연결된 커패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 제1 특성 조절부는 저항과 커패시터가 직렬로 연결된RC 모델이 상기 입출력 단자 사이에 복수개 병렬로 연결된 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 제2 특성 조절부는 복수개의 저항을 포함하며 상기 복수개의 저항의 등가 저항은 상기 제2 특성 제어신호에 의하여 제어되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 내부전압 발생장치.
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