KR100401490B1 - 로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치 - Google Patents
로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100401490B1 KR100401490B1 KR10-2000-0064292A KR20000064292A KR100401490B1 KR 100401490 B1 KR100401490 B1 KR 100401490B1 KR 20000064292 A KR20000064292 A KR 20000064292A KR 100401490 B1 KR100401490 B1 KR 100401490B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- command
- signal
- buffer
- pfr
- read
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
- G11C11/4082—Address Buffers; level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1045—Read-write mode select circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Description
Claims (4)
- 삭제
- 반도체 메모리 장치에 있어서,외부 클럭신호를 입력하여 내부 클럭신호를 생성하는 클럭 버퍼부와,프리페치 동작에서 리드 동작까지를 하나의 명령으로 수행하도록 하는 제 1 명령 신호 입력시 내부에서 발생하는 리드 명령이 발생할 때까지 외부 어드레스를 입력하여 래치하는 어드레스 래치부와,상기 내부 클럭신호와 외부 명령신호를 입력받아 상기 제 1 명령시 로오 활성화 신호 및 컬럼 활성화 신호 등의 내부 명령을 생성하는 명령 디코더부와,상기 명령 디코더부에서 출력된 내부 명령 및 상기 어드레스 래치부의 출력 신호에 의해 카스 레이턴시를 출력하는 모드 디코더부와,상기 제 1 명령 신호의 인가후 상기 컬럼 활성화 신호의 활성화 시간을 제어하는 신호를 발생하며 상기 어드레스 래치부의 동작을 제어하는 제어부와,상기 제 1 명령시 또는 상기 프리페치 동작시 모두 프리페치 동작을 실시한후 일정시간 후에 리드 동작을 수행하도록 제어하는 내부 신호를 발생하는 연산부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치.
- 제 2 항에 있어서, 상기 제어부는,상기 제 1 명령 인가시 컬럼 활성화 신호를 내부적으로 상기 제 1 명령후 몇 클럭 후에 활성화시킬 것인가를 결정하는 것을 특징으로 하는 로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치.
- 제 2 항에 있어서상기 연산부는 OR 논리게이트로 구성된 것을 특징으로 하는 로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0064292A KR100401490B1 (ko) | 2000-10-31 | 2000-10-31 | 로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치 |
GB0428441A GB2407422B (en) | 2000-10-31 | 2001-10-30 | Semiconductor memory device having row buffers |
US10/021,401 US6636443B2 (en) | 2000-10-31 | 2001-10-30 | Semiconductor memory device having row buffers |
GB0126004A GB2371663B (en) | 2000-10-31 | 2001-10-30 | Semiconductor memory device having row buffers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0064292A KR100401490B1 (ko) | 2000-10-31 | 2000-10-31 | 로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020034216A KR20020034216A (ko) | 2002-05-09 |
KR100401490B1 true KR100401490B1 (ko) | 2003-10-11 |
Family
ID=19696383
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2000-0064292A KR100401490B1 (ko) | 2000-10-31 | 2000-10-31 | 로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6636443B2 (ko) |
KR (1) | KR100401490B1 (ko) |
GB (1) | GB2371663B (ko) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100515069B1 (ko) * | 2003-12-01 | 2005-09-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 차동증폭형 어드레스 입력 버퍼 |
KR100641937B1 (ko) * | 2004-11-15 | 2006-11-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동기 반도체 메모리 장치 |
KR100586555B1 (ko) * | 2005-01-17 | 2006-06-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부전압 생성 제어회로 및 이를 이용한 내부전압 생성회로 |
KR100576505B1 (ko) * | 2005-01-28 | 2006-05-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | N비트 프리페치 방식을 갖는 반도체 메모리 장치 및그것의 데이터 전송 방법 |
KR100818081B1 (ko) * | 2005-06-30 | 2008-03-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 회로 |
KR100660892B1 (ko) * | 2005-11-21 | 2006-12-26 | 삼성전자주식회사 | 더블 펌프드 어드레스 스킴의 메모리 장치에서 고속 동작을위해 확장된 유효 어드레스 윈도우로 유효 커맨드를샘플링하는 회로 및 방법 |
US7656745B2 (en) | 2007-03-15 | 2010-02-02 | Micron Technology, Inc. | Circuit, system and method for controlling read latency |
KR100915824B1 (ko) * | 2008-01-07 | 2009-09-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 입력 회로 및 그 제어 방법 |
US8516185B2 (en) * | 2009-07-16 | 2013-08-20 | Netlist, Inc. | System and method utilizing distributed byte-wise buffers on a memory module |
KR20150006305A (ko) * | 2013-07-08 | 2015-01-16 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 반도체 시스템 |
JP6749021B2 (ja) * | 2015-05-15 | 2020-09-02 | 国立大学法人東北大学 | 抵抗変化型素子を備えた記憶回路 |
US9865317B2 (en) * | 2016-04-26 | 2018-01-09 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatuses including command delay adjustment circuit |
US9997220B2 (en) | 2016-08-22 | 2018-06-12 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for adjusting delay of command signal path |
US10224938B2 (en) | 2017-07-26 | 2019-03-05 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for indirectly detecting phase variations |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10199239A (ja) * | 1996-12-27 | 1998-07-31 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置システム及び半導体記憶装置 |
JPH10340579A (ja) * | 1997-06-04 | 1998-12-22 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2000182399A (ja) * | 1998-09-24 | 2000-06-30 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置及びその制御方法 |
JP2000268565A (ja) * | 1999-03-16 | 2000-09-29 | Toshiba Corp | 同期型半導体記憶装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2118662C (en) * | 1993-03-22 | 1999-07-13 | Paul A. Santeler | Memory controller having all dram address and control signals provided synchronously from a single device |
JP4084428B2 (ja) * | 1996-02-02 | 2008-04-30 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
US6351427B1 (en) * | 1997-12-10 | 2002-02-26 | Texas Instruments Incorporated | Stored write scheme for high speed/wide bandwidth memory devices |
JP2000207900A (ja) * | 1999-01-12 | 2000-07-28 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
KR100543934B1 (ko) * | 2000-05-31 | 2006-01-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치에서 어드레스 및 데이터 억세스타임을 고속으로 하는 제어 및 어드레스 장치 |
-
2000
- 2000-10-31 KR KR10-2000-0064292A patent/KR100401490B1/ko active IP Right Grant
-
2001
- 2001-10-30 GB GB0126004A patent/GB2371663B/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-10-30 US US10/021,401 patent/US6636443B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10199239A (ja) * | 1996-12-27 | 1998-07-31 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置システム及び半導体記憶装置 |
JPH10340579A (ja) * | 1997-06-04 | 1998-12-22 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2000182399A (ja) * | 1998-09-24 | 2000-06-30 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置及びその制御方法 |
JP2000268565A (ja) * | 1999-03-16 | 2000-09-29 | Toshiba Corp | 同期型半導体記憶装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6636443B2 (en) | 2003-10-21 |
KR20020034216A (ko) | 2002-05-09 |
GB2371663A (en) | 2002-07-31 |
GB0126004D0 (en) | 2001-12-19 |
GB2371663B (en) | 2005-04-13 |
US20020054515A1 (en) | 2002-05-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6240048B1 (en) | Synchronous type semiconductor memory system with less power consumption | |
US7035150B2 (en) | Memory device with column select being variably delayed | |
US6522600B2 (en) | Fast cycle RAM and data readout method therefor | |
KR100401490B1 (ko) | 로오 버퍼를 내장한 반도체 메모리 장치 | |
KR100902125B1 (ko) | 저전력 디램 및 그 구동방법 | |
KR100230415B1 (ko) | 동기식 반도체 메모리장치의 칼럼 선택라인 제어회로 및 제어방법 | |
KR20000034938A (ko) | 집적 회로용 클록 신호 발생기 | |
CN104424981A (zh) | 数据训练器件 | |
KR100676425B1 (ko) | 동기형 반도체 기억 장치 및 그 입력 회로의 제어 방법 | |
US6166993A (en) | Synchronous semiconductor memory device | |
KR19990003680A (ko) | 데이터 입출력 마스크 입력버퍼의 전류소모를 감소시키기 위한 제어부를 구비하는 동기식 반도체 메모리장치 | |
KR100473747B1 (ko) | 클럭 신호에 동기하여 동작하는 반도체 기억 장치 | |
US7616504B2 (en) | High speed array pipeline architecture | |
JPH10162576A (ja) | 半導体メモリ装置のカラム選択ラインイネーブル回路 | |
US7813197B2 (en) | Write circuit of memory device | |
US20040223354A1 (en) | Semiconductor memory device having high-speed input/output architecture | |
JP2012113819A (ja) | 自動プリチャージ制御回路と半導体メモリ装置とプリチャージング動作制御方法 | |
US5384733A (en) | Semiconductor memory device | |
KR100649059B1 (ko) | 반도체 집적 회로 | |
KR100536598B1 (ko) | 클럭활성화 시점을 선택하는 반도체메모리장치 | |
JPH11297072A (ja) | 半導体記憶装置とその制御方法 | |
KR20090128607A (ko) | 개선된 라이트 동작 스피드를 갖는 반도체 메모리 장치 | |
KR100361862B1 (ko) | 반도체 메모리장치 및 이의 센싱전류 감소방법 | |
KR20050059790A (ko) | 감지증폭기의 오버 드라이빙 제어회로 | |
GB2407422A (en) | Semiconductor memory device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120824 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130822 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140822 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150824 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160822 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170824 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180822 Year of fee payment: 16 |