KR0170399B1 - 양성 감광조성물 - Google Patents

양성 감광조성물 Download PDF

Info

Publication number
KR0170399B1
KR0170399B1 KR1019910001749A KR910001749A KR0170399B1 KR 0170399 B1 KR0170399 B1 KR 0170399B1 KR 1019910001749 A KR1019910001749 A KR 1019910001749A KR 910001749 A KR910001749 A KR 910001749A KR 0170399 B1 KR0170399 B1 KR 0170399B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substituted
unsubstituted
group
photosensitive
photosensitive material
Prior art date
Application number
KR1019910001749A
Other languages
English (en)
Other versions
KR920000008A (ko
Inventor
가쭈야 우에니시
신지 사가구찌
타다요시 코구보
Original Assignee
오오니시 미노루
후지샤신필름가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=12089548&utm_source=***_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=KR0170399(B1) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by 오오니시 미노루, 후지샤신필름가부시끼가이샤 filed Critical 오오니시 미노루
Publication of KR920000008A publication Critical patent/KR920000008A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0170399B1 publication Critical patent/KR0170399B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/022Quinonediazides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/63Esters of sulfonic acids
    • C07C309/72Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton
    • C07C309/76Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton containing nitrogen atoms, not being part of nitro or nitroso groups, bound to the carbon skeleton
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C2602/00Systems containing two condensed rings
    • C07C2602/02Systems containing two condensed rings the rings having only two atoms in common
    • C07C2602/04One of the condensed rings being a six-membered aromatic ring
    • C07C2602/10One of the condensed rings being a six-membered aromatic ring the other ring being six-membered, e.g. tetraline

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

폴리히드록시 화합물과 (a) 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는 -4-)설폰닐 클로라이드의 반응에 의해 얻어진 감광물질과 알카리 용해수지를 포함하되 상기의 감광물질이 하기의 감광화합물 (1)-(3)의 혼합물인 감광조성물이 기술되는데, 그 화합물은 : (1) 분자당 적어도 하나의 히드록실기를 갖으며 3-20의 범위내에서 히드록실기에 대한 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는 -4-)설폰닐 클로라이드 설폰산염기의 번호비를 갖으며 50중량 %이상의 양으로 감광물질에 포함된 감광화합물; (2) 폴리히드록시 화합물에서의 히드록실기가 1,2-나프토퀴논디아지도 설폰닐 에스테르화된 경우 30중량 %-0중량 %의 양으로 감광물질에 포함된 감광화합물; 및 (3) 분자당 1,2-나프토퀴논디아지도 설폰닐 에스테르화 되지않은 3개 이상의 히드록실기를 갖으며 20중량 %-0중량 %의 양으로 감광물질에 포함된 감광화합물이다.
이 조성물은 g-레이, i-레이, 엑스사이머 레이저로 노출되어 예리한 감광막 이미지를 제공하는데 적합하다. 또한 감광조성물은 고감광도, 고분해능, 정밀 재생도를 갖으므로 양호한 단면형상, 넓은 현상폭, 고내열, 및 양호한 저장안정도를 갖는 감광막 이미지를 제공한다.

Description

[발명의 명칭]
양성 감광조성물
[발명의 상세한 설명]
본 발명은 방사에 민감한 양성 감광조성물에 관한 것으로서, 특히 고분해능 및 감광도를 가지며 미세한 패턴을 양호한 단면 형상으로 형성하는데 매우 유용한 양성 감광막에 관한 것이다.
본 발명의 양성 감광조성물은 스핀 코팅이나 롤러 코팅기술에 의해서 반도체 웨이퍼, 유리, 세라믹 또는 금속과 같은 기재위에 0.5-3㎛의 두께로 코팅된다. 그후, 이 코팅층을 가열 및 건조시키고, 코팅층에는 마스크를 통과한 자외선을 방사시킴으로써 회로패턴등이 인쇄된다. 그런다음, 노출된 감광층을 현상시켜 기재위에 양성 형상패턴을 형성시킨다. 그리고나서, 마스크와 같은 양성 형상을 사용하여 기재를 에칭시켜 기재위에 의도하는 패턴을 형성시킨다. 본 발명의 양성 감광막은 IC와 같은 반도체의 제조, 액정장치나 열헤드용 회로판의 제조 및 기타의 사진 제작 프로세서에 적용될 수 있다.
양성 감광조성물은 일반적으로 알카리용해수지와 나프토퀴논디아지드 화합물인 감광물질을 포함한다. 예컨대, 노볼락형 페놀수지/나프토퀴논디아지드 치환 화합물은 미국 특허 제3,666,473호, 제4,115,128호 및 제4,173,470호에 기술되어 있는데, 가장 전형적인 조성물의 예는 엘.에프.톰프슨의 Introduction to Microlithograph (ACS 출판사 발행권수 219, 112∼121페이지)에 설명된 바와 같은 크레졸-포름알데히드노볼락수지/트리히드록시벤조페논-1, 2-나프토퀴논디아지도설폰산염을 포함한다.
접착제로서 이용되는 노볼락수지는 수성 알카리용액에 녹지만 냄새가 없으며 형상 패턴이 에칭마스크로서 이용될 경우 프라즈마 에칭에 높은 저항력이 있으므로 노볼락수지는 특히 유용하다. 한편, 감광물질로서만 이용될 경우 나프토퀴논디아지드 화합물은 용해 억제제로 작용하여 노볼락수지의 알카리 용해도를 낮추지만, 광방사에 의해 분해되어 노볼락수지의 알카리 용해도를 높이는 알카리 용해물질을 방출한다. 이들 혼합물성질의 광 종속변화때문에 나프토퀴논디아지드 화합물은 양성 감광조성물에서의 사진감광물질 성분으로서 특히 유용하다.
현재까지 초미립패턴의 처리에 필요한 고분해능을 얻기위한 여러가지의 감광막이 제안되었다. 그러한 것중에서 한가지의 감광조성물은 감광성분으로서 완전 에스테르를 포함하는 바, 폴리히드록시 화합물의 모든 히드록실기는 에스테르화도를 증가시킴으로써 에스테르화된다.
공개된 일본 특허출원 제61-45240호는 트리히드록시벤젠의 1,2-나프토퀴논디아지도트리설폰산염의 사용을 설명하고 있다. 공개된 일본 특허출원 제61-118744호 및 일본 특허출원 제62-280737호는 테트라히드록시벤조페논의 1,2-나프토퀴논디아지도테트라설폰산염의 사용을 설명하고 있다. 감광성분으로서 상승된 에스테르화도를 갖는 이러한 1,2-나프토퀴논디아지도설폰산염을 포함하는 감광막은 높은 분해능을 갖지만 낮은 감광도를 나타내므로 제조효율이 떨어진다. 감광도는 감광막에서의 감광성분의 비율을 감소시키거나 감광제를 감광막에 가하거나, 노출된 감광막을 처리하기 위한 현상액의 알카리 활량을 증가시킴으로써 향상될 수 있다. 그러나, 이러한 경우, 감광막의 분해능은 실질적으로 낮아지므로 감광막은 초미세패턴을 형성하는데 이용되지 않는다.
에스테르화도만을 증가시키는 것은 높은 분해능과 높은 감광도를 제공하지 못한다. 여기에서 사용된 에스테르화도의 증가라는 감광성분의 완전 에스테르형의 비율에서의 증가를 의미한다.
본 기술분야에 통상의 지식을 가진자는 양성 감광조성물에 통상적으로 이용되는 폴리히드록시혼합물의 1,2-나프토퀴논디아지도설폰산염이 단일화합물이 아니라 많은 이성체의 화합물이라는 것을 용이하게 알 수 있다.
예컨대, 미국 특허 제4,409,314호와 제4,439,516호 및 디히드록시벤조페논이나 트리히드록시벤조페논의 1,2-나프토퀴논디아지도설폰산염을 기술한 일본 특허출원 제62-280737호는 에스테르의 혼합물 형태이다.
미국 특허 제3,148,983호는 테트라히드록시벤조페논의 1,2-나프토퀴논디아지도트리설폰산염을 설명하고 있는데, 명세서에서의 설명은 기술적으로 정확하지 않다. 엔.오가타 및 그의 동료들은 Functional Materials의 43∼46페이지(1987년 12월)에 설명된 것과 같이 에스테르가 다수의 이성체 혼합물의 형태임을 발견하였다.
본 발명자들은 여러가지 감광물질내의 완전한 에스테르 이외에 특정의 이성체를 격리시켜 정화시킨 다음 이성체의 감광능력을 관찰하였다. 그 결과, 본 발명자들은 여러가지 에스테르의 혼합물의 형태인 폴리히드록시화합물인 1,2-나프토퀴논디아지도설폰산염을 함유하는 종래의 감광막으로부터 예상하지 못한 극도로 높은 감광도 및 고분해능을 갖는 어떤 이성체를 발견하였다.
더욱이, 본 발명자들은 이들 이성체를 효율적으로 제조하기 위한 신규한 방법을 발명하였다.
따라서, 본 발명의 목적은 (1) 고분해능 및 고감광도를 갖는 양성 감광조성물과; (2) 광범위한 포토마스크선 폭값보다 큰 마스크칫수를 정확하게 재현하는 양성 감광조성물과; (3) 1㎛ 이하의 선폭을 갖는 현상된 감광패턴과 높은 종횡비를 갖는 단면형상을 제공하는 양성 감광조성물과; (4) 현상된 감광패턴의 단면의 수직측벽등을 갖는 현상 감광패턴을 형성할 수도 있는 양성 감광조성물과; (5) 넓은 현상폭을 갖는 양성 감광조성물; 및 (6) 반도체장치의 제조에 특히 유용한 우수한 내열을 갖는 현상 감광형상을 형성하는 양성 감광조성물을 제공하는데 있다.
본 발명자들은 종래기술의 조성물의 문제점을 감안하여 여러가지의 양성 감광조성물을 관찰하였고, 그 결과, 본 별명의 목적이 알카리 용해수지 및 폴리히드록시 화합물과 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드(들)의 반응에 의해 제조된 감광물질을 함유하는 양성 감광조성물에 의해 달성됨을 알았는 바, 감광물질은 하기와 같은 감광화합물 (1)-(3)의 혼합물이다. 즉 ; (1) 분자당 적어도 1개의 히드록실기를 가지며 3-20의 범위내에서 히드록실기에 대한 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드 설폰산염기의 수비(Number rate)를 갖으며 50중량 %이상의 감광물질에 포함된 감광화합물; (2) 폴리히드록시 화합물내의 모든 히드록실기가 1,2-나프토퀴논디아지도 설폰닐 에스테르화 되었을 경우 30중량 %이하의 감광물질에 포함된 감광화합물; 및 (3) 분자당 1,2-나프토퀴논디아지도설폰닐 에스테르화 되지 않은 3개 이상의 히드록실기를 갖으며 20중량 %이하의 감광물질에 포함된 감광화합물.
이하, 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 이용하기 위한 감광물질은 일반식(I)으로 표시되는 하기의 화합물 (1)-(3)의 혼합물인 바, 이 혼합물은 폴리히드록시 화합물과 (a) 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드(들)의 반응에 의해 얻어진다.
Figure kpo00001
(1) 1
Figure kpo00002
a
Figure kpo00003
2 및 b/a=3/1∼20/1(수비), 50중량 %이상의 양으로 감광물질에 포함된 화합물; (2) a=0, 및 1
Figure kpo00004
b (완전 에스테르), 30중량 %-0중량%의 양으로 감광물질에 포함된 화합물; 및 (3) 3
Figure kpo00005
a, 및 0
Figure kpo00006
b, 20중량 %-0중량%의 양으로 감광재료에 포함된 화합물.
특히, 폴리히드록시 화합물은 1,2-나프토퀴논디아지도-4-설폰닐 클로라이드 또는, -5- 및 -4-설폰닐 클로라이드와 반응할 수도 있다.
화합물(1)에 있어서, a=1인 경우가 바람직하다. 수비(b/a)는 3/1-20/1인데 4/1-12/1이 바람직하고, 특히 5/1-9/1이 가장 바람직하다. 수비(b/a)가 3/1 이하인 경우, 필름 유지 백분율은 현저하게 낮아진다. 그러나, 수비(b/a)가 20/1 이상일 경우, 감광도는 급속히 줄어든다.
감광물질의 화합물(1)의 함유량은 50중량 %이상인 바, 60중량 %이상이 바람직하며, 70중량 %이상이 가장 바람직하다. 50중량 %이하일 경우에는 분해능이 떨어진다.
감광물질의 완전한 에스테르의 화합물(2)의 함유량은 30중량 %-0중량 %가 바람직하다. 함유량이 30중량 %이상일 경우, 감광도가 떨어진다. 특히, 화합물(2)의 함유량은 20중량 %-0중량 %가 바람직하며 15중량 %-0중량 %가 가장 바람직하다.
감광물질의 분자당 3개이상의 OH기를 함유하는 화합물(3)의 함유량은 20중량 %-0중량 %이다. 20중량 %이상일 경우, 감광막의 윤곽이 현저하게 망가지며 분해능역시 현저하게 낮아진다. 특히, 화합물(3)의 함유량은 15중량 %-0중량 %가 바람직하며, 10중량 %-0중량 %가 가장 바람직스럽다.
본 발명자들은 본 발명의 감광물질을 제조하기 위한 3가지의 방법을 개발하였다.
1) 일반식(I)의 b/a=3/1-20/1인 비율(수비)은 폴리히드록시 화합물과 1,2-나프토퀴논디아지도설폰닐 클로라이드의 일반 반응에 의해 얻어진 여러가지 이성체의 혼합물로부터 원주 색층분석에 의해 단리시켰다.
2) 선택반응은 폴리히드록시 화합물과 1,2-나프토퀴논디아지도설폰닐 클로라이드사이에서 실행되는 바, 여기에서 정선도는 전자 또는 입체효과에 의해 폴리히드록시 화합물의 히드록실기에 부과되었다. 그 결과 화합물은 유기용제 및 물을 포함하는 혼합용제내의 클로라이드와 반응하여 정선 에스테르화를 제공하였다.
3) 폴리히드록시 화합물에서 히드록실기의 예정된 수가 보호되므로써 화합물내의 나머지의 유리히드록실기는 1,2-나프토퀴논디아지도설폰닐 클로라이드와 에스테르화되었다. 에스테르화된 후, 보호기는 제거되어 유리 히드록실기를 회수하였다.
방법 1)은 실험규모로 유용하지만, 방법 2),3)은 산업공정으로서 방법 1)보다는 매우 적당하였다. 그러나 방법 3)은 보호기를 제거할시에 1,2-나프토퀴논디아지도기의 안정도에 관해서는 불리하다. 따라서 방법 2)가 가장 좋다.
방법 2)에 있어서, 전자 또는 입체효과를 갖는 특정의 골격화합물(즉, 폴리히드록시 화합물)은 유기용제 및 물을 포함하는 혼합용제에서의 에스테르화를 위해 반응하는 바, 여기에서 화합물내의 히드록실기의 반응 정선도는 상당히 증가된다. 신규한 방법 2)은 본 발명의 감광물질을 얻기위한 효과적인 수단이다.
감광화합물은 폴리히드록시 화합물(폴리히드록시 화합물은 전자효과를 갖도록 처리되어 히드록실기와 1,2-나프토퀴논디아지도설폰닐 클로라이드의 반응이 급속히 선택된다)과, 유기용제 및 물을 포함하는 혼합용제에서 (a) 1,2-나프토퀴논디아지도설폰닐 클로라이드(들)의 반응에 의해 얻어진다. 특히, 감광물질은 동일분자에서 일반식(Ⅱ)으로 표시되는 적어도 1개의 기와 일반식(Ⅲ)으로 표시되는 적어도 1개의 기를 갖는 폴리히드록시 화합물과, 유기용제 및 물을 포함하는 혼합용제내의 (a) 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드(들)을 반응시켜 얻어진다. 본 발명의 감광물질을 구성하는 화합물의 바람직한 실예는 일반식(ⅤⅡ)과 (ⅤⅢ)으로 표시된다.
Figure kpo00007
상기 일반식에 있어서 W는 직선 또는 분지 C1-C6 알킬렌기를 표시하고; X는 2가 전자 친화기, 바람직하기로는
Figure kpo00008
또는
Figure kpo00009
를 표시하고; R1은 - H, C1-C4 알킬기를 표시하며; R2는 - H, C1-C4 알킬기, 할로겐, 니트로기 또는 시아노기를 표시하고; ℓ은 0또는 1에서 3까지의 정수를 표시하며; m은 1에서 4까지의 정수를 표시하고; n은 0 또는 1 내지 4까지의 정수를 표시한다.
Figure kpo00010
상기의 일반식에서, W는 직선 또는 분지 C1-C6 알킬렌기를 표시하고; X 는 2가 전자 친화기, 바람직하기로는
Figure kpo00011
또는,
Figure kpo00012
를 표시하며; R12는 C1-C4 알칸 잔류물 또는 C6-C12 방향족 잔류물을 표시하고; R8-R11과R13및 R14는 동일 또는 다른 것 일수도 있는데 이들 각각은 -H, - OH, 치환 또는 미치환 C1-C8 알킬기, 치환 또는 미치환 C1-C8 알콕시기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아릴기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아랄킬기, 치환 또는 미치환 C2-C15 아실기, 치환 또는 미치환 C2-C15 아실록시기,
Figure kpo00013
또는
Figure kpo00014
를 표시하며; 단, 감광물질의 1분자는 하기의 조건을 만족하고;
Figure kpo00015
그리고, 기의 수비
Figure kpo00016
는 3/1-20/1이며; c -ℓ은 하기의 조건을 만족하는 평균 실수이다 :
Figure kpo00017
또한, 감광화합물은 폴리히드록시 화합물(폴리히드록시 화합물은 히드록시기와 1,2-나프토퀴논디아지도설폰닐 클로라이드의 선택반응을 위한 입체효과를 갖도록 처리된다)과, 유기용제 및 물을 포함하는 혼합용제에서의 1,2-나프토퀴논디아지도설폰닐 클로라이드의 반응에 의해 제조될 수 있다. 바람직하기로는 감광화합물은 분자당 일반식(Ⅳ), (Ⅴ) 또는 (Ⅵ)으로 표시된 적어도 1개의 기를 갖는 폴리히드록시 화합물과, 유기용제 및 물을 포함한 혼합용제에서의 (a) 1,2 -나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드(들)을 반응시킴으로써 얻어진다. 본 발명의 감광물질을 구성하는 이러한 화합물의 바람직한 실시예는 일반식 (Ⅸ)-(ⅩⅤⅠⅠⅠ)으로 표시되는 것들을 포함한다.
Figure kpo00018
여기에서 R3와 R4는 각각 직선 또는 분지 C1-C4 알킬기 또는 알콕시기를 표시하고; Y는 2가 유기기, 바람직하기로는 직선 또는 분지 C1-C4 알킬렌기,
Figure kpo00019
또는 - O -, 특히 바람직하기로는 직선 또는 분지 C1-C4 알킬렌기,
Figure kpo00020
또는
Figure kpo00021
, 더욱 바람직하기로는 직선 또는 분지 C1-C4 알킬렌기를 표시하고;
Figure kpo00022
여기에서 R5, R6및 R51은 각각 직선 또는 분지 C1-C4 알킬기를 표시하고; R7과 R52는 동일 또는 다를 수도 있는데 이들 각각은 - H, 치환 또는 미치환 C1-C8 알킬기, 치환 또는 미치환 C1-C8 알콕시기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아릴기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아랄킬기, 치환 또는 미치환 C2-C15 아실기 또는 치환 또는 미치환 C2-C15 아실록시기를 표시하고; 0은 1에서 3까지의 정수를 표시하며; P는 1 또는 2를 표시한다.
Figure kpo00023
Figure kpo00024
Figure kpo00025
상기의 일반식에서, R3와 R4는 각각 직선 또는 분지 C1-C4 알킬기 또는 알콕시기를 표시하고; Y는 2가 유기기, 바람직하기로는 직선 또는 분지 C1-C4 알킬렌기,
Figure kpo00026
Figure kpo00027
더욱 바람직스럽기로는 직선 또는 분지 C1-C4 알킬렌기,
Figure kpo00028
가장 바람직스럽기는 직선 또는 분지 C1-C4 알킬렌기를 표시하며; 동일 분자내에서 동일 또는 다를수도 있는 R은 -H,
Figure kpo00029
를 표시하고; R15-R21및 R24-R34는 동일하거나 서로 다를수도 있는 바, 이들 각각은 -H, -OH, 치환 또는 미치환 C1-C8 알킬기, 치환 또는 미치환 C1-C8 알콕시기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아릴기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아랄킬기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아실기, 치환 또는 미치환 C2-C15 아실록시기 또는
Figure kpo00030
를 표시하고; 단, 감광물질의 1분자는 하기의 조건을 만족하고;
Figure kpo00031
그리고, 기의 수비
Figure kpo00032
는 3/1-20/1이며; R22와 R23은 각각 -H, -OH,-COOH, -CN, 할로겐원자(즉, F, C1, Br), -COOR43, -R44-COOH, -R45-COOR46(여기에서 R43과 R46은 각각 치환 또는 미치환 C1-C8 알킬기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아릴기, 또는 치환 또는 미치환 C6-C15 아랄킬기를 표시하고; R44와 R45는 각각 치환 또는 미치환 C1-C8 알킬렌기, 또는 치환 또는 미치환 C6-C15 아릴렌기를 표시한다), 또는 치환 또는 미치환 C1-C8 알킬기, 치환 또는 미치환 C1-C8 알콕시기 또는 치환 또는 미치환 C6-C15 아랄킬기를 표시하며; Z는 - CO - 또는 -SO2-를 표시하고; A는 산소원자 또는 단일결합을 표시하며; a1 - u1은 하기의 조건을 만족하는 평균실수이고 :
Figure kpo00033
R39는 -OH를 표시하고; R5, R6및 R51은 각각 직선 또는 분지 C1-C4 알킬렌기를 표시하고; R35-R38은 동일하거나 다를수도 있는데, 이들 각각은 -H, -OH, 치환 또는 미치환 C1-C8 알킬기, 치환 또는 미치환 C1-C8 알콕시기 또는 치환 또는 미치환 C6-C15 아랄킬기를 표시하고; R40, R41, R53, R54및 R55는ℓ1=m1=n1=0 일 경우 일반식 (Ⅸ)-(ⅩⅥ)중 어느 하나의 잔류물, 또는 하기의 일반식으로 표시되는 알데히드 축합물의 잔류물을 각각 표시하고;
Figure kpo00034
상기의 식에서 R47은 -OH,
,
Figure kpo00035
를 표시하고; R48은 치환 또는 미치환 C1-C8 알킬기, 또는 치환 또는 미치환 C1-C8 알콕시기를 표시하며; R49은 알데히드 잔류물(즉, 포름알데히드, 아세트알데히드, 프로피온알데히드, 부틸알데히드, 클로로아세트알데히드, 또는 메톡시 아세트알데히드의 잔류물)을 표시하고; R50은 -H, 또는 치환 또는 미치환 방향족 잔류물을 표시하며; Ⅵ은 1에서 5까지의 정수를 표시한다.
상기의 바람직한 실시예에 덧붙여 분자당 일반식 (Ⅳ), (Ⅴ) 또는 (Ⅵ)의 적어도 1개의 기를 갖는 폴리히드록시 화합물, 1,2-나프토퀴논디아지도설폰닐 클로라이드 및, 비스피린과 같은
Figure kpo00036
-피론천연염료, 리코퓨테린과 같은 디아진 천연염료, 케르세틴 또는 루틴과 같은 γ-피론천연염료 및, 아리자린과 또는 퓨르퓨린과 같은 퀴논 천연염료로부터 선택된 염료를 반응시켜 얻어진 감광물질이 본 발명에 이용될 수도 있다.
일반식 (Ⅶ)-(ⅩⅧ)의 감광물질은 일반식 (Ⅶ')-(ⅩⅧ')으로 각각 표시된 폴리히드록시 화합물과, (a) 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드(들)를 유기용제 및 물을 포함하는 혼합용제 내에서 반응시켜 얻어진다.
Figure kpo00037
상기의 일반식에서, W는 직선 또는 분지 C1-C6 알킬렌기를 표시하고; X는 2가전자 친화기, 바람직하기로는
Figure kpo00038
또는
Figure kpo00039
를 표시하며; R12는 C1-C4 알칸잔류물, 또는 C6-C12 방향족 잔류물을 표시하고; R'8-R'11및 R'13과 R'14는 동일하거나 다를수 있는데 이들 각각은 -H, -OH, 치환 또는 미치환 C1-C8 알킬기, 치환 또는 미치환 C1-C8 알콕시기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아릴기, 치환 또는 미치환 C6-C15 아랄킬기, 치환 또는 미치환 C2-C15 아실기, 또는 치환 또는 미치환 C2-C15 아실록시기를 표시하며; 단, 일반식의 1분자는 3
Figure kpo00040
-OH
Figure kpo00041
20의 조건을 만족하고; C-ℓ은 하기의 조건을 만족하는 평균실수이고:
Figure kpo00042
Figure kpo00043
Figure kpo00044
상기의 일반식에 있어서, R3와 R4는 각각 직선 또는 분지 C1-C4 알킬기 또는 알콕시기를 표시하고; Y는 2가 유기기, 바람직하기로는 직선이나 분지 C1-C4 알킬렌기,
Figure kpo00046
Figure kpo00047
또는 -O -, 더욱 바람직하기로는 직선이나 분지 C1-C4 알킬렌기,
Figure kpo00048
특히 바람직하기로는 직선이나 분지 C1-C4 알킬렌기를 표시하며; R'15-R'21과 R'24-R'34는 동일 또는 다를 수도 있는데 이들 각각은 -H, -OH, 치환이나 미치환 C1-C8 알킬기, 치환이나 미치환 C1-C8알콕시기, 치환이나 미치환 C6-C15 아릴기, 치환이나 미치환 C6-C15 아랄킬기, 치환이나 미치환 C6-C15 아실기, 또는 치환이나 미치환 C2-C15 아실록시기를 표시하고; 단, 폴리히드록시 화합물의 1분자는 -3
Figure kpo00049
-OH
Figure kpo00050
20의 조건을 만족하고; R22와 R23은 -H, -OH, -COOH, -CN, 할로겐원자(즉 F, C1, Br)-COOR43, -R44-COOH, -R45-COOR46(여기에서 R43와 R46는 치환이나 미치환 C1-C8 알킬기, 치환이나 미치환 C6-C15 아릴기, 또는 치환이나 미치환 C6-C15 알랄킬기를 표시하고 ; R44와 R45는 치환이나 미치환 C1-C8 알킬렌기, 또는 치환이나 미치환 C6-C15 아릴렌기를 표시한다), 치환이나 미치환 C1-C8 알킬기, 치환이나 미치환 C1-C8 알콕시기 또는 치환이나 미치환 C6-C15 아랄킬기를 표시하며; Z는 -CO - 또는 -SO2-를 표시하고; A는 산소원자 또는 단일결합을 표시하며; a1-u1은 하기의 조거을 만족하는 평균실수이고:
Figure kpo00051
R5, R6및 R51은 직선이나 분지 C1-C4 알킬렌기를 표시하고; R35-R38은 동일 또는 다른수도 있는데, 이들 각각은 -H, -OH, 치환이나 미치환 C1-C8 알킬기, 치환이나 미치환 C1-C8 알콕시기, 또는 치환이나 미치환 C6-C15 아랄킬기를 표시하며; R'40, R'41및 R'54는 ℓ1=m1=n1=0인 경우 일반식 (Ⅸ')-(ⅩⅥ')중 어느 하나의 잔류물 또는 하기의 일반식으로 표시된 알데히드 축합의 잔류물을 표시하고:
Figure kpo00052
여기에서 R48은 치환이나 미치환 알킬기, 또는 치환이나 미치환 알콕시기를 표시하고; R49는 알데히드 잔류물(즉, 포름알데히드, 아세트알데히드, 프로피온알데히드, 뷰틸알데히드, 클로로아세트알데히드, 또는 메틸아세트알데히드 잔류물)을 표시하며; R50은 -H, 또는 치환 또는 미치환 방향족잔류물을 표시하고; V1은 1-5까지의 정수를 표시한다.
상기의 바람직한 실시예에 덧붙여, 일반식 (Ⅳ), (Ⅴ) 또는 (Ⅵ)의 적어도 1개의 기를 비스피딘과 같은
Figure kpo00053
-피론천연염료, 루코퓨테린과 같은 디아진 천연염료, 케르세틴 또는 루틴과 같은 γ-피론천연염료 또는 아리자린이나 퓨퓨린과 같은 퀴논천연염료로 부터 선택된 1분자의 염료에 삽입함으로써 얻어진 기타의 다른 폴리히드록시 화합물이 본 발명에 이용될 수도 있다.
분자당 일반식 (Ⅱ) 또는 (Ⅲ)의 적어도 1개의 기를 갖는 폴리히드록시 화합물, 예컨대 일반식(Ⅶ')과 (Ⅷ')의 화합물과 일반식(Ⅳ), (Ⅴ) 또는 (Ⅵ)의 적어도 1개의 기를 갖는 폴리히드록시 화합물, 예컨대 일반식 (Ⅸ')-(ⅩⅧ')의 화합물들은 일반식 (Ⅱ), (Ⅲ), (Ⅳ), (Ⅴ) 또는 (Ⅵ)의 기를 하기의 반응에 따라 염기폴리히드록시 화합물에 삽입함으로써 얻어진다.
반응시킬 염기폴리히드록시화합물이 다수의 활성영역을 갖을 경우, 반응물은 다수의 활성영역을 반영하는 화합물의 혼합물이다. 그러한 혼합물이 본 발명에 이용될 수도 있다.
Figure kpo00054
(R는 직선이나 분지 C1-C4 알킬렌기이고; E는 할로겐원자(즉, F, C1, Br)이며; R3, R4및 j는 상기와 같이 정의된 것이다)
Figure kpo00055
(E는 할로겐 원자(즉 F, C1, Br)이고; G는 O또는 S이며; R3, R4는 상기와 같이 정의된 것이다)
Figure kpo00056
(DBTDL은 디뷰틸 틴 디라우레이트이고; R3와 R4는 상기에서 정의된 것이다)
Figure kpo00057
(폴리히드 화합물은
Figure kpo00058
로 표시되고; R'는 폴리히드록시 화합물 잔류물이며; R3와 R4는 전술한 것이다)
Figure kpo00059
(E는 할로겐원자(즉 F, C1, Br)이고; G는 O 또는 S이며; R''''는 직선이나 분지 C1-C4 알킬렌기이며; R3와R4는 전술한 것이다)
Figure kpo00060
Figure kpo00061
(R5와 R6는 직선이나 분지 C1-C4 알킬렌기이고; E는 할로겐원자(즉 F, C1, Br)이며; R'42와 O는 상기에서 정의한 것이다)
Figure kpo00062
(R5, R6및 R51은 직선이나 분지 C1-C4 알킬렌기이고; E는 할로겐원자(즉 F, C1, Br)이며; R52와 P는 전술한 바와 같다)
R'8-R'11,R'13-R'21, R'24-R'34및 R'40-R'42는 이미 설명하였다. -H, -OH를 제외한 R'8-R'11,R'13-R'21, R'24-R'34및 R'42의 기와, R'40과 R'41의 기및 -H, -OH, -COOH, -CN, 할로겐, -COOR43, -R44-COOH 및 -R45-COOR46을 제외한 R22와 R23의 기는 각각 1-8탄소원자를 갖는 알킬기 또는 알콕시기; 6-15 탄소원자를 갖는 아릴기 또는 아랄킬기; 1-8 탄소원자를 갖으며 C1-C8 알콕시기, C6-C15 아릴록시기, C6-C15 아릴기, 히드록실기, 카복실기, 설폰산기, 아미노기, 니트로기, 시릴기, 시릴에테르기, 시아노기, 알데히드기, 메르캅토기 또는 할로겐 원자에 의해 치환된 알킬기 또는 알콕시기; 6-15 탄소원자를 갖으며, C1-C8 알콕시기, C6-C15 아릴록시기, C6-C15 아릴기, 히드록실기, 카복실기, 설폰기, 아미노기, 니트로기, 시릴기, 시릴에테르기, 시아노기, 알데히드기, 메르캅토기, 또는 할로겐원자에 의해 치환된 아릴 또는 아랄킬기; 또는 2-15 탄소원자를 갖는 지방족 또는 방향족 아실기 또는 아실록시기가 바람직하다.
본 발명에 이용하기 위한 폴리히드록시 화합물의 바람직한 실시예는 이미 설명하였는 바, 폴리히드록시 화합물의 보다 바람직한 실시예는 하기와 같다.
본 발명의 감광조성물은 출발재료로서 폴리히드록시 화합물의 혼합물을 에스테르화시켜 얻어질 수도 있는 감광물질을 함유하여 에스테르화된 혼합물이 상기의 에스테르화 조건을 만족할 경우 단일 폴리히드록시 화합물로부터 유도된 감광물질을 함유하는 조성물과 동일한 효과를 나타낸다.
본 발명에 사용하기 위한 폴리히드록시 화합물의 가장 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다.
Figure kpo00063
Figure kpo00064
Figure kpo00065
Figure kpo00066
Figure kpo00067
Figure kpo00068
Figure kpo00069
일반식 (Ⅶ')-(ⅩⅧ')중 어느 하나의 폴리히드록시 화합물과 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드(들)의 에스테르화는 하기와 같이 수행된다.
일반식 (Ⅶ')-(ⅩⅧ')중 어느 하나의 예정된량의 폴리히드록시 화합물과, 예정된량의 1개이상의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드(들)와, 유기용제와 물을 포함하는 예정된량의 혼합용제를 플라스크에 넣고, 소디움 히드록시드, 소디움 카보네이트, 소디움 히드로겐 카보네이트 또는 트리에틸아민과 같은 염기성 촉매를 첨가하는 반응물질의 축합이 수행되었다. 유기용제는 디옥산, 아세톤, 메틸에릴케톤, N-메틸필로리돈이나 γ-부티롤액톤이 바람직하다. 좀더 바람직하기로는 N-메틸필로리돈이나 γ-부티롤액톤이 선택적으로 이용된다. 본 발명에 의해 의도하는 바와 같이 반응의 선택도를 향상시키기 위해서, 에스테르화반응에 사용하기 위한 유기용제/물의 혼합용제의 혼합비가 매우 중요하다. 유기용제/물의 혼합비는 체적비로서 100/5-100/100이 바람직하고, 보다 바람직하기로는 100/10-100/50이고, 100/15-100/43가 가장 바람직하다.
이렇게 얻어진 생성물은 물로 세척되고, 정화된뒤 건조된다. 상기의 방법에 따르면, 예컨대, 일반식 (Ⅸ)-(ⅩⅧ)의 감광물질이 제조될 수도 있다.
본 발명에 이용하기 위한 알카리 용해 노볼락수지는 산성 촉매의 존재하에서 축합물을 첨가함으로써 1몰의 페놀 화합물과 0.6-0.1몰의 알데히드 화합물을 반응시켜 얻어진다. 유용한 페놀 화합물은 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸 및 크실렌을 포함한다. 이들 페놀 화합물은 단독으로 이용될 수도 있고, 2개이상의 조합으로 이용될 수도 있다. 유용한 알데히드 화합물은 포름알데히드, 파라포름알데히드, 아세트알데히드, 할로겐 네이티드 아세트알데히드(즉, 클로로 아세트알데히드, 브롬오 아세트알데히드), 및 퍼퓨랄을 포함한다. 유용한 산성촉매는 히드록클로산, 설폰산, 포름산, 옥살산 및 아세트산을 포함한다. 따라서, 1,000-50,000의 분자량을 갖는 노볼락수지는 알카리 물질에 녹는다.
본 발명의 조성물에 있어서, 알카리 용해성 노볼락수지에 대한 감광물질의 비율은 감광물질의 함량이 노볼락수지의 100중량부 5-100중량부, 바람직스럽기는 10-50중량부가 되도록 한다.
감광물질의 함량이 5중량부 이하일 경우 필름 보자력이 너무 낮아진다. 반대로 감광물질의 함량이 100중량부 이상이면, 조성물의 감광도가 낮아지고, 용제내에서의 그의 용해도 역시 감소된다.
본 발명의 조성물은 상기의 감광물질을 필수적으로 포함하지만 필요한 경우 2,3,4-트리히드록시 벤조페논, 2,4,4'-트리히드록시 벤조 페논이나, 2,4,6-트리히드록시 벤조 페논 및 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드(들)의 에스테르화된 생성물과 같은 공지의 감광물질을 부가적으로 포함할 수도 있다. 이경우, 부가적인 감광물질의 함량은 본 발명의 감광물질 예컨대 전술한 일반식 (Ⅸ)-(ⅩⅧ)의 감광물질의 100중량부, 바람직하기로는 30중량부 이하내지 100중량부이다. 또한, 본 발명의 조성물은 현상제내의 조성물의 용해도를 향상시키기 위해 폴리히드록시 화합물을 포함할 수 있다. 이런 목적에 유용한 폴리히드록시 화합물의 바람직한 실시예는 페놀, 레소르시놀, 프롤로그루시놀, 2,3,4-트리히드록시 벤조페논, 2,3,4,4'-테트라 히드록시 벤조페논, 2,3,4,3',4',5'-헥사 히드록시 벤조페논, 및 아세톤피로갈롤 축합수지를 포함한다.
피복용액을 제조하기 위한 본 발명의 감광물질과 알카리 용해 노볼락수지를 용해하는 용제의 유용한 실예는 메틸 에틸 케톤 및 시클로 헥사논과 같은 케톤; 에틸렌 글리콜 모노메틸 에테르와 에틸렌 글리콜 모노에틸 에테르와 같은 알콜에테르; 디옥산 및 에틸렌 글리콜 디메틸 에테르와 같은 에테르; 메틸 셀로솔브 아세테이트와 에틸 셀로솔브 아세테이트와 같은 셀로 솔브에스테르; 메틸 락테이트, 에틸 락테이트 및 부틸 아세테이트와 같은 지방산 에스테르; 1,1,2-트리클로로에틸렌과 같은 할로겐네이트 히드로카본; 및 디메틸 아세타미드, N-메틸 필로리돈, 디메틸포름아미드 및 디메틸 설폰산과 같은 고극성 용제를 포함한다. 이러한 용제는 단독 또는 2개이상의 조합으로 이용될 수 있다.
본 발명의 양성 감광조성물은 필요에 따라 통상 이용되는 염료, 가소제, 접착제, 및 첨가제로서 표면활성제를 포함할 수 있다. 그러한 접착제의 특정실에는 보라색 메틸, 보라색 수정, 초록색 공작석과 같은 염료; 스티어릭산 아세탈수지, 페녹시수지, 알키드수지와 같은 가소제; 헥사 메틸 디실라잔과 클로로메틸 실란과 같은 접착제; 및 노닐 페녹시-폴리(에틸레네옥시)에탄올 및 옥틸 페녹시-폴리(에틸레네옥시)에탄돌과 같은 표면 활성제이다.
본 발명의 양성 감광조성물은 스피너 또는 코팅기로 집적회로소자(예컨대 실리콘/실리콘 디옥시드 도금 기재)의 제조에 일반적으로 이용되며, 한정된 패턴 마스크를 통해 노둘된 뒤 본 발명의 목적을 만족하는 감광패턴을 제공하기 위해 현상되는 기재에서 코팅된다.
본 발명의 양성 감광조성물을 현상하는데 이용하느 현상기로서, 알카리 물질 예컨대 나트륨 히드록시드, 포타지움 히드록시드, 나트륨 카보네이트, 나트륨 실리케이트, 나트륨 메타 실리케이트 또는 수성 암모니아와 같은 무기 알카리 물질의 수성용액; 아민이나 n-프로필아민과 같은 1차 아민; 디에틸아민이나 디-n-부틸아민과 같은 2차아민; 트리에틸아민이나 메틸 디에틸아민과 같은 테르티아리아민; 디메틸에타놀아민이나 트리에타놀아민과 같은 알콜아민; 테트라메틸암모늄 히드록시드 또는 테트라에틸암모늄 히드록시드와 같은 퀘테르너리 암모늄 소금; 또는 피롤이나 피페리딘과 같은 고리아민이 이용될 수 있다. 또한, 수성 알카린 용액은 소정량의 알콜 및 표면활성제를 포함할 수도 있다.
본 발명의 양성 감광막은 g-레이, i-레이 및 익사이머레이져(248mm)로 노출하기에 적당하며 단면형태, 넓은 현상폭, 고내열 및 양호한 저장 안정도를 갖는 감광막을 제공하기 위해서 고감광도, 고분해능 및 정확한 재생도를 갖는다.
본 발명을 하기의 실시예를 참조하여 상세히 설명하는 바, 이로서 본 발명의 범위를 제한하고자 하는 것은 아니다. 하기의 실시예에 있어서 %는 특별히 표시하지 않는 한 중량 백분율이다.
[합성 실시예]
(1) 감광물질 (a)의 합성:
Figure kpo00070
27.0g 의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와, 아세톤/물(300㎖/75㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 트리에틸아민/아세톤(10.7g/45㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 이 혼합물을 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산 용액 1,400㎖에 부었던 바, 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서, 여과된 침전물을 물로 세척한 뒤 40℃에서 건조시킴으로써 하기의 구조를 갖는 87중량 %의 성분을 포함하는 28.5g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00071
(2) 감광물질 (b)의 합성:
Figure kpo00072
31.3g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와, γ-부틸올악톤/물(300㎖/75㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨다음, 트리에틸아민/아세톤(12.4g/55㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산 용액 1,400㎖에 부었던 바, 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척한 뒤 40℃에서 건조시켜 하기의 구조를 갖는 71중량 %의 성분을 포함하는 31g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00073
(3) 감광물질 (c)의 합성:
Figure kpo00074
21.2g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 아세톤/물(240㎖/80㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣어 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(10.1g/115㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산 용액1,000㎖에 부었는 바, 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서, 여과된 침전물을 물로 세척한 뒤 40℃에서 건조시킴으로써 하기의 구조를 갖는 75중량 %의 성분을 포함하는 25g 의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00075
(4) 감광물질 (d)의 합성:
Figure kpo00076
42.0g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 γ-부틸올악톤/물(400㎖/100㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(20.1g/230㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 3,200㎖에 부었는 바, 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척한뒤 40℃에서 건조시킴으로써 하기의 구조를 갖는 55중량 %의 성분을 포함하는 41.5g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00077
(5) 감광물질 (e)의 합성:
Figure kpo00078
49.0g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 γ-부틸올악톤/물(456㎖/120㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(23.4g/270㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 3,700㎖에 부었는 바, 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척한뒤 메탄올로 또다시 세척한뒤 40℃에서 건조시킴으로써 하기의 구조를 갖는 81중량 %의 성분을 포함하는 44.0g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00079
(6) 감광물질 (f)의 합성:
Figure kpo00080
40.4g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 γ-부틸올악톤/물(380㎖/125㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(19.3g/220㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 3,200㎖에 부었는 바, 이때 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척한뒤 40℃에서 건조시켜 하기의 구조를 갖는 91중량 %의 성분을 갖는 38.1g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00081
(7) 감광물질 (g)의 합성:
Figure kpo00082
Figure kpo00083
49.3g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 γ-부틸올악톤/물(470㎖/13㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(24.0g/280㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 4,500㎖에 부었는 바, 이때 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척하고 40℃에서 건조시켜 하기의 구조를 갖는 62중량 %의 성분을 포함하는 43.1g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00084
(8) 감광물질 (h)의 합성:
Figure kpo00085
48.9g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 γ-부틸올악톤/물(470㎖/905㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(23.8g/275㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 4,000㎖에 부었는 바, 이때 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척하고 40℃에서 건조시켜 하기의 구조를 갖는 73중량 %의 성분을 포함하는 44.1g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00086
(9) 감광물질 (i)의 합성:
Figure kpo00087
40.7g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 γ-부틸올악톤/물(390㎖/130㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(19.8g/230㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 4,500㎖에 부었는 바, 이때 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척한뒤 40℃에서 건조시켜 하기의 구조를 갖는 77중량 %의 성분을 포함하는 39g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00088
(10) 감광물질 (j)의 합성:
Figure kpo00089
45.2g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 γ-부틸올악톤/물(430㎖/108㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(21.6g/250㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 4,000㎖에 부었는 바, 이때 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척한뒤 40℃에서 건조시켜 하기의 구조를 갖는 71중량 %의 성분을 포함하는 40.8g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00090
(11) 감광물질 (k)의 합성:
Figure kpo00091
42.7g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 γ-부틸올악톤/물(400㎖/100㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(20.8g/250㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 3,800㎖에 부었는 바, 이때 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척하고 40℃에서 건조시켜 하기의 구조를 갖는 67중량 %의 성분을 포함하는 39.0g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00092
(12) 감광물질 (ℓ )의 합성:
Figure kpo00093
40.5g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 γ-부틸올악톤/물(400㎖/140㎖)의 혼합용제를 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 4-디메틸아미노피리딘/아세톤(19.3g/220㎖)의 혼합액체를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 그리고, 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 4,500㎖에 부었는 바, 이때 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척하고 40℃에서 건조시켜 하기의 구조를 갖는 74중량 %의 성분을 포함하는 38.4g의 감광물질을 얻었다.
Figure kpo00094
(13) 감광물질 (m)의 합성: 첫번째 비교 실예로서 감광물질(m)이 제조되었다.
Figure kpo00095
30.0g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 340㎖의 아세톤을 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 트리에틸아민/아세톤(11.9g/50㎖)의 혼합용제를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 2,000㎖에 부었는 바, 이때 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척하고 건조시켜 화합물(m')의 32.8g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰산염을 얻었다.
(14) 감광물질 (n)의 합성:
두번째 비교 실예로서, 감광물질 (n)이 제조되었다. 상기의 10g의 화합물(m), 48.1g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰닐 클로라이드와 550㎖의 아세톤을 3목 플라스크에 넣고 균일하게 용해시킨 다음, 트리에틸아민/아세톤(19.0g/80㎖)의 혼합용제를 점차적으로 떨어뜨려 그곳에 첨가하고, 25℃에서 3시간 동안 반응시켰다. 반응혼합물을 1%의 수성 히드로클로릭산용액 3,300㎖에 부었는 바, 이때 형성된 침전물을 여과법에 의해 제거하였다. 그리고나서 여과된 침전물을 물로 세척하고 다시 메탄올로 세척한뒤 건조시켜 화합물(m')의 46.0g의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-설폰산염을 얻었다.
(15) 노볼락수지의 합성:
37g의 m-크레졸, 63g의 p-크레졸, 51.0g의 37중량 % 포르말린과 0.05g의 옥살산을 3목 플라스크에 넣고 교반하여 100℃로 가열하고 7시간 동안 반응시켰다. 반응 후, 반응혼합물을 실내온도로 냉각시키고, 플라스크 내의 압력을 30mmHg로 감소시켰다. 그다음, 플라스크의 내용물을 150℃로 점차적으로 가열시켜 물과 비반응된 단량체를 제거하였다. 이렇게 얻어진 노볼락수지는 7,500(폴리스틸렌과 동일함)의 평균분자량을 갖었다.
[실시예 1-12와 비교실시예 1과 2]
양성 감광조성물의 제조 및 그의 평가: 상기의 합성실시예(1)-(14)에서 제조된 바와 같은 감광물질(a)-(n)의 특성을 하기의 표 1에 도시하였다.
1.10g의 물질 (a)-(n)과 합성실시예(15)에서 얻어진 5g의 크레졸 노볼락수지(분자량: 7,500)을 18g의 에틸 셀로솔브 아세테이트에 용해시킨 다음 0.2㎛마이크로 여과기를 통해 여과시켜 감광조성물을 제조하였다. 이렇게 제조된 감광조성물을 실리콘 웨이퍼위에서 스핀도금기로서 도금시키고, 니트로겐 기압을 갖는 통상의 전류오븐내에서 110℃로 30분 동안 건조시켜 1.2㎛ 두께를 갖는 감광막을 형성하였다. 이 감광막을 환원 방사 노출장치(NSR1505, 니콘사 제조)를 사용하여 노출시킨 다음, 수성 2.38% 테트라메틸암모늄 히드록시드 용액으로 1분동안 현상시킨다. 그위에 현상된 감광막 이미지를 갖는 실리콘웨이퍼를 30초동안 물로서 린스한 후 건조시킨다. 감광막패턴을 스캔닝 전자 현미경으로 관찰하여 감광막의 성질을 평가하였다. 그 결과를 하기의 표 2에 도시하였다.
감광도는 0.1㎛의 마스크패턴을 재현하기 위해 노출양의 역수로서 정의하고, 비교실시예 2의 대조시료의 감광도값에 대한 상대값으로 표시된다.
감광막 유지도는 현상후의 비노출부분에 대한 현상전의 비노출부분의 비의 백분율로 표시된다.
분해능은 1.0㎛의 마스크패턴을 재현하는 노출량을 위한 기준 분해능이다.
열저항을 평가하기 위해서, 감광막패턴이 형성된 실리콘웨이퍼를 통상의 전류오븐에서 30분동안 현미경 검사시 굽는 조건하에서 패턴이 변형(즉 흐름)되지 않는 온도에서 구었는 바, 이를 내열이라 한다.
감광막의 형상은 감광막벽의 표면과, 1.0㎛의 감광막 패턴의 단면을 위해 실리콘웨이퍼의 평면에 의해 형성된 각(θ)으로 표시된다.
표 2에 도시한 결과로부터 명백히 알 수 있는 바와 같이, 본 발명의 감광물질(a)-(ℓ)로부터 형성된 감광막은 현저히 우수한 분해능과 감광막 형상을 나타냈다. 또한, 본 발명의 감광물질은 에틸 셀로솔브 아세테이트에서 높은 용해도를 갖는다. 본 발명의 감광물을 함유하는 감광막 조성물은 장시간동안 안정하며, 40℃에서 30일 동안 저장한 후에도 오븐내부에는 침전물이 전혀 형성되지 않았다. 한편, 비교 감광물질(m)과 (n)을 함유하는 감광막 조성물 용액은 불안정하고, 동일 조건하에서 저장한 후에는 침전물을 형성하였다.
Figure kpo00096
Figure kpo00097
비록 본 발명이 기술된 특징의 실시예를 참조하여 설명되었을지라도 본 기술분야에 통상의 지식을 가진자라면 본 발명의 범주를 벗어나지 않는 한도내에서 여러가지 변경 및 수정이 있음을 용이하게 알 수 있을 것이다.

Claims (4)

  1. 하기의 일반식(Ⅶ) 또는 (Ⅷ)으로 표시된 화합물의 혼합물을 포함함을 특징으로 하는 양성 감광조성물:
    Figure kpo00098
    여기에서, W는 직선 또는 분지 C1-C6알킬렌기를 표시하고; X는 2가 전자 친화기 또는
    Figure kpo00099
    를 표시하며; R12는 C1-C4알칸잔류물 또는 C6-C12방향족 잔류물을 표시하고; R8-R11과 R13및 R14는 동일하거나 다를 수도 있는 -H, -OH, 치환 또는 미치환 알킬기, 치환 또는 미치환 알콕시기, 치환 또는 미치환 아릴기, 치환 또는 미치환 아랄킬기, 치환 또는 미치환 아실기, 치환 또는 미치환 아실록시기,
    Figure kpo00100
    를 각각 표시하며; 단, 감광물질의 1분자는 하기의 조건을 만족하고;
    Figure kpo00101
    기의 수비
    Figure kpo00102
    는 3/1-20/1이고: c-ℓ은 하기의 조건을 만족하는 평균실수임:
    Figure kpo00103
  2. 제1항에 있어서, 상기 감광물질은 하기의 일반식 (Ⅸ)-(ⅩⅧ)중 어느 하나로 표시된 화합물의 혼합물을 포함함을 특징으로하는 양성 감광조성물:
    Figure kpo00104
    Figure kpo00105
    Figure kpo00106
    Figure kpo00107
    여기에서 R3와 R4는 각각 직선 또는 분지 C1-C4알킬기 또는 알콕시기를 표시하고; Y는 직선 또는 분지 C1-C4알킬렌기,또는
    Figure kpo00108
    Figure kpo00109
    또는 -O -을 표시하며; 동일분자 내에서 동일 또는 다를 수 있는 R은 -H,
    Figure kpo00110
    를 표시하고; R15-R21및 R24-R34는 동일 또는 다를 수 있는 -H, -OH, 치환 또는 미치환 알킬기, 치환 또는 미치환 알콕시기, 치환 또는 미치환 아릴기, 치환이나 미치환 아랄킬기, 치환이나 미치환 아실기, 치환이나 미치환 아실록시기
    Figure kpo00111
    를 각각 표시하며; 단, 감광물질의 1분자는 하기의 조건을 막족하고;
    Figure kpo00112
    기의 수비
    Figure kpo00113
    는 3/1-20/1 이며; R22와 R23는 각각 -H, -OH, -COOH, -CN, 할로겐원자, -COOR43, -R44-COOH, -R45-COOR46(여기에서 R43과 R46은 치환이나 미치환 알킬기, 치환이나 미치환 아릴기, 또는 치환이나 미치환 아랄킬기를 각각 표시하고; R44와 R45는 치환이나 미치환 알킬렌기 또는 치환이나 미치환 아릴렌기를 각각 표시한다), 또는 치환이나 미치환 알킬기, 치환이나 미치환 알콕시기, 또는 치환이나 미치환 아랄킬기를 표시하고; Z는 -CO -, -SO2-를 표시하며; A는 산소원자 또는 단일결합을 표시하고; a1-u1은 하기의 조건을 만족하는 평균 실수이고:
    Figure kpo00114
    R39는 -OH를 표시하고; R5, R6및 R51은 직선이나 분지 C1-C4알킬렌기를 각각 표시하며; R35-R38은 동일 또는 다를 수 있는 -H, -OH, 치환이나 미치환 알킬기, 치환이나 미치환 알콕시기, 또는 치환이나 미치환 알랄킬기를 각각 표시하고; R40, R41, R53, R54및 R55는 ℓ1=m1=n1=0일 경우 일반식 (Ⅸ)-(ⅩⅥ)중 어느하나의 잔류물 또는 하기의 일반식으로 표시된 알데히드 축합물의 잔류물을 표시하고;
    여기에서 R47은 -OH,
    Figure kpo00115
    또는
    Figure kpo00116
    를 표시하고; R48은 치환이나 미치환 알킬기, 치환이나 미치환 알콕시기를 표시하며; R49은 알데히드 잔류물을 표시하고; R50은 -H 또는 치환이나 미치환 방향족 잔류물을 표시하며; v1은 1-5까지의 정수를 표시한다.
  3. 제1항에 있어서, 일반식 (Ⅸ)-(ⅩⅧ)으로 표시된 감광 화합물은 일반식 (Ⅸ')-(ⅩⅧ')중 어느하나로 표시된 폴리히드록시 화합물과, 유기용제 및 물을 포함하는 혼합용제내의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드를 반응시켜 얻어짐을 특징으로 하는 양성 감광조성물:
    Figure kpo00117
    Figure kpo00118
    Figure kpo00119
    여기에서 R3과 R4는 직선이나 분지 C1-C4알킬기 또는 알콕시기를 각각 표시하고; Y는 직선이나 분지 C1-C4알킬렌기, 또는
    Figure kpo00120
    Figure kpo00121
    또는 -O -를 표시하며; R'15-R'21과 R'24-R'34는 동일하거나 다를 수 있는 -H, -OH, 치환이나 미치환 알킬기, 치환이나 미치환 알콕시기, 치환이나 미치환 아릴기, 치환이나 알랄킬기, 치환이나 아실기, 또는 치환이나 미치환 아실록시기를 각각 표시하고; 단, 폴리히드록시 화합물의 1분자는 -3
    Figure kpo00122
    -OH
    Figure kpo00123
    20의 조건을 만족하고; R22와 R23은 -H, -OH, -COOH, -CN, 할로겐원자, -COOR43, -R44-COOH, -R45-COOR46(여기에서 R43과 R46은 치환이나 미치환 알킬기, 치환이나 미치환 아릴기, 또는 치환이나 미치환 아랄킬기를 각각 표시하고; R44와 R45는 치환이나 미치환 알킬렌기, 또는 치환이나 미치환 아릴렌기를 각각 표시함), 치환이나 미치환 알킬기, 치환이나 알콕시기, 또는 치환이나 미치환 아랄킬기를 각각 표시하고; Z는 -CO -, 또는 -SO2-를 표시하며; A는 산소원자 또는 단일결합을 표시하고; a1-u1은 하기의 조건을 만족하는 평균 실수이고:
    Figure kpo00124
    R5, R6과 R51은 각각 직선이나 분지 C1-C4알킬렌기를 표시하고; R35-R38은 동일 또는 다를 수도 있는 -H, -OH, 치환이나 미치환 알킬기, 치환이나 미치환 알콕시기, 또는 치환이나 미치환 아랄킬기를 각각 표시하며; R'40, R'41과 R'54는 ℓ1=m1=n1=0인 경우 일반식 (Ⅸ')-(ⅩⅥ')중 어느하나의 잔류물 또는 하기의 일반식으로 표시된 알데히드 축합물의 잔류물을 표시하고:
    Figure kpo00125
    여기에서, R48은 치환이나 미치환 알킬기, 또는 치환이나 미치환 알콕시기를 표시하고; R49는 알데히드 잔류물을 표시하며; R50은 -H, 또는 치환이나 미치환 방향족 잔류물을 표시하고; v1은 1-5까지의 정수를 표시한다.
  4. 제1항에 있어서, 일반식 (Ⅶ)과(Ⅷ)을 표시된 감광 화합물은 일반식 (Ⅶ')과 (Ⅷ')중 어느하나로 표시된 폴리히드록시 화합물과, 유기용제 및 물을 포함하는 혼합용제내에서의 1,2-나프토퀴논디아지도-5-(및/또는-4-)설폰닐 클로라이드를 반응시켜 얻어짐을 특징으로 하는 양성 감광조성물:
    Figure kpo00126
    Figure kpo00127
    여기에서 W는 직선이나 분지 C1-C6알킬렌기를 표시하고; X는 2가 전자 친화기, 또는
    Figure kpo00128
    를 표시하며; R12는 C1-C4알칸 잔류물 또는 C6-C12방향족 잔류물을 표시하고; R'8-R'11및 R'13과 R'14는 동일하거나 다를 수도 있는 -H, -OH 치환이나 미치환 알킬기, 치환이나 미치환 알콕시기, 치환이나 미치환 아릴기, 치환이나 미치환 아랄킬기, 치환이나 미치환 아실기, 또는 치환이나 미치환 아실록시기를 각각 표시하며; 단, 일반식의 1분자는 3
    Figure kpo00129
    -OH
    Figure kpo00130
    20의 조건을 만족하며; c-ℓ은 하기의 조건을 만족하는 평균 실수이다:
    Figure kpo00131
KR1019910001749A 1990-02-01 1991-02-01 양성 감광조성물 KR0170399B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2-22679 1990-02-01
JP2022679A JP2761786B2 (ja) 1990-02-01 1990-02-01 ポジ型フオトレジスト組成物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920000008A KR920000008A (ko) 1992-01-10
KR0170399B1 true KR0170399B1 (ko) 1999-03-20

Family

ID=12089548

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910001749A KR0170399B1 (ko) 1990-02-01 1991-02-01 양성 감광조성물

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5565300A (ko)
EP (1) EP0440238B2 (ko)
JP (1) JP2761786B2 (ko)
KR (1) KR0170399B1 (ko)
DE (1) DE69130125T3 (ko)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4137325A1 (de) * 1991-11-13 1993-05-19 Hoechst Ag Lichtempfindliches gemisch auf der basis von o-naphthochinondiaziden und daraus hergestelltes lichtempfindliches material
US5221592A (en) * 1992-03-06 1993-06-22 Hoechst Celanese Corporation Diazo ester of a benzolactone ring compound and positive photoresist composition and element utilizing the diazo ester
JP3094652B2 (ja) * 1992-05-18 2000-10-03 住友化学工業株式会社 ポジ型レジスト組成物
JP3466218B2 (ja) * 1992-06-04 2003-11-10 住友化学工業株式会社 ポジ型レジスト組成物
JP2744557B2 (ja) * 1992-09-11 1998-04-28 富士写真フイルム株式会社 感光性樹脂組成物
DE69421982T2 (de) * 1993-09-20 2000-03-30 Fuji Photo Film Co., Ltd. Positiv arbeitende Photoresistzusammensetzung
EP0886183A1 (en) * 1993-12-17 1998-12-23 Fuji Photo Film Co., Ltd. Positive-working photoresist composition
JP3503839B2 (ja) 1994-05-25 2004-03-08 富士写真フイルム株式会社 ポジ型感光性組成物
JP3278306B2 (ja) 1994-10-31 2002-04-30 富士写真フイルム株式会社 ポジ型フォトレジスト組成物
US5541033A (en) * 1995-02-01 1996-07-30 Ocg Microelectronic Materials, Inc. Selected o-quinonediazide sulfonic acid esters of phenolic compounds and their use in radiation-sensitive compositions
EP0737895B1 (en) * 1995-04-10 1999-09-08 Shipley Company LLC Photoresist with photoactive compound mixtures
US5750310A (en) * 1995-04-27 1998-05-12 Fuji Photo Film Co., Ltd. Positive photoresist composition
JP2002207291A (ja) * 2001-01-11 2002-07-26 Toyo Gosei Kogyo Kk ナフトキノンジアジド系感光剤溶液の製造方法
CA2574581A1 (en) * 2004-07-23 2006-02-09 Polnox Corporation Anti-oxidant macromonomers and polymers and methods of making and using the same
WO2006039810A1 (en) * 2004-10-13 2006-04-20 St-Jean Photochimie Inc. Photoactive compositions and preparation thereof
WO2006060800A1 (en) 2004-12-03 2006-06-08 Polnox Corporation Synthesis of aniline and phenol-based antioxidant macromonomers and corresponding polymers
EP1861484A2 (en) 2005-02-22 2007-12-05 Polnox Corporation Nitrogen and hindered phenol containing dual functional macromolecular antioxidants: synthesis , performances and applications
US7705185B2 (en) 2005-03-25 2010-04-27 Polnox Corporation Alkylated and polymeric macromolecular antioxidants and methods of making and using the same
US20070149660A1 (en) 2005-10-27 2007-06-28 Vijayendra Kumar Stabilized polyolefin compositions
US7705176B2 (en) 2005-10-27 2010-04-27 Polnox Corporation Macromolecular antioxidants based on sterically hindered phenols and phosphites
US20070161522A1 (en) 2005-12-02 2007-07-12 Cholli Ashok L Lubricant oil compositions
WO2008005358A2 (en) 2006-07-06 2008-01-10 Polnox Corporation Novel macromolecular antioxidants comprising differing antioxidant moieties: structures, methods of making and using the same
US7767853B2 (en) 2006-10-20 2010-08-03 Polnox Corporation Antioxidants and methods of making and using the same
US10294423B2 (en) 2013-11-22 2019-05-21 Polnox Corporation Macromolecular antioxidants based on dual type moiety per molecule: structures, methods of making and using the same
WO2015137486A1 (ja) 2014-03-13 2015-09-17 三菱瓦斯化学株式会社 化合物、樹脂、リソグラフィー用下層膜形成材料、リソグラフィー用下層膜、パターン形成方法、及び化合物又は樹脂の精製方法
KR102326848B1 (ko) * 2014-03-13 2021-11-17 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 레지스트 조성물 및 레지스트 패턴 형성방법
KR102643950B1 (ko) 2015-03-30 2024-03-07 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 화합물, 수지, 및 이들의 정제방법, 리소그래피용 하층막 형성재료, 하층막 형성용 조성물, 및 하층막, 그리고, 레지스트패턴 형성방법, 및 회로패턴 형성방법
JP6156711B2 (ja) 2015-03-30 2017-07-05 三菱瓦斯化学株式会社 レジスト基材、レジスト組成物及びレジストパターン形成方法
US20180251695A1 (en) 2017-03-01 2018-09-06 Polnox Corporation Macromolecular Corrosion (McIn) Inhibitors: Structures, Methods Of Making And Using The Same

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3100856A1 (de) * 1981-01-14 1982-08-12 Hoechst Ag, 6000 Frankfurt Lichtempfindliches gemisch auf basis von o-napthochinondiaziden und daraus hergestelltes lichtempfindliches kopiermaterial
US4587196A (en) * 1981-06-22 1986-05-06 Philip A. Hunt Chemical Corporation Positive photoresist with cresol-formaldehyde novolak resin and photosensitive naphthoquinone diazide
US4499171A (en) * 1982-04-20 1985-02-12 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Positive type photosensitive resin composition with at least two o-quinone diazides
JPS61185741A (ja) * 1985-02-13 1986-08-19 Mitsubishi Chem Ind Ltd ポジ型フオトレジスト組成物
US4626492A (en) * 1985-06-04 1986-12-02 Olin Hunt Specialty Products, Inc. Positive-working o-quinone diazide photoresist composition containing a dye and a trihydroxybenzophenone compound
US5215857A (en) * 1985-08-07 1993-06-01 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. 1,2-quinonediazide containing radiation-sensitive resin composition utilizing methyl 2-hydroxypropionate, ethyl 2-hydroxypropionate or methyl 3-methoxypropionate as the solvent
EP0227487B1 (en) * 1985-12-27 1992-07-15 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Positive type radiation-sensitive resin composition
JPS6343134A (ja) * 1986-08-11 1988-02-24 Mitsubishi Chem Ind Ltd ポジ型フオトレジスト組成物
JPS63178228A (ja) * 1987-01-20 1988-07-22 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型フオトレジスト組成物
JPH0814696B2 (ja) * 1987-09-17 1996-02-14 富士写真フイルム株式会社 感光性樹脂組成物
JP2552891B2 (ja) * 1988-01-26 1996-11-13 富士写真フイルム株式会社 ポジ型フオトレジスト組成物
JP2552900B2 (ja) * 1988-06-07 1996-11-13 富士写真フイルム株式会社 ポジ型フオトレジスト組成物
US5059507A (en) * 1988-06-13 1991-10-22 Sumitomo Chemical Company, Limited Positive resist composition containing quinone diazide sulfonic acid ester of a phenol compound and an alkali soluble resin
JP2800186B2 (ja) * 1988-07-07 1998-09-21 住友化学工業株式会社 集積回路製作用ポジ型レジスト組成物の製造方法
US5001040A (en) * 1988-07-11 1991-03-19 Olin Hunt Specialty Products Inc. Process of forming resist image in positive photoresist with thermally stable phenolic resin
JP2715480B2 (ja) * 1988-10-13 1998-02-18 住友化学工業株式会社 ポジ型レジスト用組成物
US4957846A (en) * 1988-12-27 1990-09-18 Olin Hunt Specialty Products Inc. Radiation sensitive compound and mixtures with trinuclear novolak oligomer with o-naphthoquinone diazide sulfonyl group
JP2700918B2 (ja) * 1989-04-26 1998-01-21 富士写真フイルム株式会社 ポジ型フオトレジスト組成物
US5019478A (en) * 1989-10-30 1991-05-28 Olin Hunt Specialty Products, Inc. Selected trihydroxybenzophenone compounds and their use in photoactive compounds and radiation sensitive mixtures

Also Published As

Publication number Publication date
US5565300A (en) 1996-10-15
EP0440238A3 (en) 1991-12-11
KR920000008A (ko) 1992-01-10
JPH03228057A (ja) 1991-10-09
EP0440238B1 (en) 1998-09-09
DE69130125T3 (de) 2003-01-16
JP2761786B2 (ja) 1998-06-04
EP0440238B2 (en) 2002-06-05
DE69130125T2 (de) 1999-05-06
DE69130125D1 (de) 1998-10-15
EP0440238A2 (en) 1991-08-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0170399B1 (ko) 양성 감광조성물
EP0395049B1 (en) Positive-working photoresist composition
JP2552891B2 (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
KR950007568B1 (ko) 포지티브 작용성 감광성 내식막 조성물
US4957846A (en) Radiation sensitive compound and mixtures with trinuclear novolak oligomer with o-naphthoquinone diazide sulfonyl group
JP2568827B2 (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPS63305348A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
US4992596A (en) Selected trinuclear novolak oligomers and their use in photoactive compounds and radiation sensitive mixtures
US5001040A (en) Process of forming resist image in positive photoresist with thermally stable phenolic resin
EP0424464B1 (en) Thermally stable phenolic resin compositions and their use in light-sensitive compositions
US5302688A (en) Selected block phenolic oligomers and their use in phenolic resin compositions and in radiation-sensitive resist compositions
EP0948553B1 (en) Fractionated novolak resin from cresol-formaldehyde reaction mixture and photoresist composition therefrom
US4992356A (en) Process of developing a radiation imaged product with trinuclear novolak oligomer having o-naphthoquinone diazide sulfonyl group
JPH08504747A (ja) ジアゾナフトキノンのヘキサヒドロキシベンゾフェノンスルホン酸エステル増感剤およびそれを使用するポジ型フォトレジスト
KR0164962B1 (ko) 포지티브형 포토레지스트 조성물
US5278021A (en) O-naphthoquinone diazide sulfonyl esters of 4-(4-hydroxyphenyl)cyclohexanone phenolic derivatives with associated radiation sensitive mixtures and articles
US5151340A (en) Selected photoactive methylolated cyclohexanol compounds and their use in radiation-sensitive mixtures
US5576139A (en) Positive type photoresist composition comprising a novolak resin made with a silica-magnesia solid catalyst
US5019478A (en) Selected trihydroxybenzophenone compounds and their use in photoactive compounds and radiation sensitive mixtures
US5234795A (en) Process of developing an image-wise exposed resist-coated substrate
JP2574692B2 (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
US5232819A (en) Selected block phenolic oligomers and their use in phenolic resin compositions and in radiation-sensitive resist compositions
US5225318A (en) Selected photoactive methylolated cyclohexanol compounds and their use in forming positive resist image patterns
US5220073A (en) Selected trihydroxybenzophenone compounds
US5219714A (en) Selected trihydroxybenzophenone compounds and their use in photoactive compounds and radiation sensitive mixtures

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20081010

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee