KR0141196B1 - 음극선관의 패널 검사장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 패널의 외표면을 검사하는 검사장치에 관한 것이다. 이를 위한 본 발명은, 패널의 결함을 검사하는 음극선관의 패널 검사장치에 있어서, 프레임에 지지되어 패널을 이송시키는 제1이송수단과, 상기 제1이송수단과 연속되도록 설치되며 상호 소정간격 이격된 제2, 3이송수단과, 상기 제1이송수단의 상하부에 설치되어 정전기와 이물을 제거하는 정전기 제거수단과, 상기 제2, 3이송수단 사이의 상하부에 설치되어 이를 통과하는 패널을 검사하는 패널 검사수단을 구비하고 있어, 패널의 제조 공정에서 발생될 수 있는 결함을 자동으로 검출할 수 있는 이점, 검사의 신뢰성을 향상을 시킬 수 있는 이점 및 검사 시간을 단축할 수 있는 이점을 제공한다.

Description

음극선관의 패널 검사장치

제1도는 음극선관의 패널 제조공정의 단계를 개략적으로 도시한 흐름도,

제2도는 제1도의 제조공정시에 발생되는 결함의 종류를 도시한 개략적인 형태도,

제3도는 종래 음극선관의 패널 검사장치를 개략적으로 도시한 사시도,

제4도는 종래 음극선관의 패널 검사장치의 다른 실시예를 도시한 사시도,

제5도는 본 발명에 따른 음극선관의 패널 검사장치에서 검사되는 패널의 개략적인 사시도,

제6도는 본 발명에 따른 음극선관의 패널 검사장치를 도시한 사시도,

제7도는 제6도에서 패널 검사부를 발췌한 발췌 상세도,

제8도는 본 발명에 따른 패널의 결함 인식부를 도시한 구성도,

제9도는 패널의 검사 주사 형태를 도시한 평면도,

제10도는 본 발명 검사장치와 관련된 제어장치의 블록 구성도,

제11도는 패널 검사부에서의 검사 과정을 도시한 흐름도,

제12도는 본 발명에 따라 쉐이딩 영향을 감소시키는 과정을 도시한 흐름 구성도,

제13도는 제12도의 쉐이딩 영향에 관련된 결함을 설명하기 위한 패널의 결함 위치도.

*도면의 주요부분에 대한 부호 설명*

51···프레임60···제1이송부

61···롤러62···구동모터

70···제2이송부71···벨트 컨베이어

80···제3이송부83···스텝핑모터

90···정전기 제거부100···패널

120···패널 검사부200···캐비넷

202···에어 커튼(air curtain)300···검사장치

본 발명은 음극선관의 패널 검사장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 패널의 외표면을 검사하는 검사장치에 관한 것이다.

음극선관은 그 특성에 따라 여러 종류의 것이 있으나 컴퓨터용 칼라 모니터, 가정용 텔레비젼 등에 상용되는 음극선관은 내면에 형광막이 형성된 패널과, 그 네크부의 내부와 콘부에 전자총과 편향요오크가 설치된 패널을 구비하여 구성된다. 이와 같이 구성된 음극선관은 상기 전자총으로부터 방출된 전자빔이 형광막의 주사위치에 따라 편향요오크에 의해 선택적으로 편향되어 형광점에 정확하게 랜딩됨으로써 형광막이 여기되어 발광됨으로써 화상을 형성하게 된다.

따라서, 선명한 화상을 얻기 위해서는 형광막의 발광상태 또는 주사 상태 등 여러 조건이 충족되어야 하나 상기 패널의 외표면의 곡률 또는 흠과 같은 결함이 없어야 한다.

그러나, 패널의 제조공정에서 여러 요인들에 의해 패널 상에 불량 결점이 형성되는데, 이는 제1도에 도시되어 있는 바와 같이 유리 용해공정(11), 성형 공정(12), 연마 공정(13) 및 세척 건조 공정(14)시에 각각 발생하고 있다. 따라서, 형광막의 형성 상태나 주사상태가 양호하다 하여도 제2도에 도시되어 있는 바와 같이 제조 공정(제1도)에 있어서의 용해 불량에 따른 패널(100)의 기포(blister;15), 석물(stone;16), 코드(cord;17), 등: 성형 불량에 따른 패널(100)의 내면 곰보(insidepit;18); 연마 불량에 따른 패널(100)의 곰보(pit;19), 휠 마크(wheel mark;21), 긁힘(scratch;22) 등;이 있게 되면 화면상에 반점이나 화상이 왜곡되는 문제점이 있다.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 종래에는 패널의 제조가 완료된 상태에서 패널 외표면을 검사하게 되는데, 제3도에 패널의 외표면을 검사하는 장치의 일 예를 나타내 보였다.

이것은 불투명한 흑색벽(32) 상에 투과용 형광램프(31)를 설치하고 이들의 전면에 검사하고자 하는 패널(100)을 패널 지지대(34)를 이용해 설치하고 육안으로 결점부위를 검사할 수 있도록 된 것이다.

이와 같은 검사장치는 패널의 결점이 있는 부위가 상기 형광램프(31)로부터 조사된 빛이 난반사됨으로써, 밝게 보이는 원리를 이용하여 미소한 결합을 여러 각도에서 관찰하여 패널(100)을 검사하는 것이다.

그리고 상기 패널 검사장치의 다른 예는 제4도에 도시된 바와 같이 반사광을 이용한 것으로, 회전 가이드(35)에 의해 회동 가능하게 설치된 패널(100)의 외표면에 광을 조사할 수 있는 발광램프(36)를 구비하여 된 것으로, 발광램프(36)로부터 패널(100)의 외표면에 조사되어 반사되는 광량을 감지하여 패널의 결함을 검사하는 것이다.

상술한 바와 같은 패널 검사장치를 이용하여 패널의 표면을 검사하는 경우에 다음과 같은 문제점이 있다.

첫째; 육안 검사의 한계 때문에 미세 불량을 감지하기 어렵다.

둘째; 검사자는 직사광 부위의 상하에 놓이는 검은 부위에서 밝게 빛나는 산란 결점만을 감지하므로 결점자체가 검은색인 경우에는 감지가 어렵다.

셋째; 작업자가 육안 검사하게 되므로 작업자의 심리 정도에 따라 검사 정밀도의 변동이 심하다.

넷째; 작업자의 숙련도에 따라 검사정도가 달라진다.

다섯째; 패널의 검사에 따른 신뢰도가 떨어진다.

본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로, 패널의 제조공정 시 발생되는 결함의 검사에 따른 신뢰성을 향상시킬 수 있는 음극선관의 패널 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.

본 발명은 다른 목적은 패널의 검사 전에 정전기와 이물을 제거할 수 있는 음극선관의 패널 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 패널의 곡률에 기인한 검사 오류를 해소할 수 있는 음극선관의 패널 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은,

패널의 결함을 검사하는 음극선관의 패널 검사장치에 있어서, 프레임에 지지되어 패널을 이송시키는 제1이송수단과, 상기 제1이송수단과 연속되도록 설치되며 상호 소정간격 이격된 제2, 3이송수단과, 상기 제1이송수단의 상하부에 설치되어 정전기와 이물을 제거하는 정전기 제거수단과, 상기 제2, 3이송수단 사이의 상하부에 설치되어 이를 통과하는 패널을 전기 광학적인 라인(line)화상으로 검사하는 패널 검사수단을 구비하여 된 것을 그 특징으로 한다.

그리고, 패널의 곡률에 기인한 검사 오류를 해소하는 상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 패널의 결함을 검사함에 있어 패널의 곡률에 기인한 검사 오류를 보정하는 음극선관의 패널 검사 보정방법에 있어서, 복수의 선으로 분할되는 상기 패널의 검사선을 촬상소자를 구비한 카메라로 촬상하여 상기 패널의 곡률 및 미소 잡음 신호가 포함된 실화상을 얻는 단계와, 상기 실화상에 포함된 미소 잡음 신호를 제거하기 위하여 상기 실화상을 필터링하여 검사 화상을 얻는 단계와, 상기 검사 화상을 상기 패널의 기준 곡률이 포함된 기준 화상과 뺄셈 연산하여 상기 패널에 존재하는 결함만을 나타내는 이치화하는 단계, 및 상기 이치화 된 결함을 그 결함의 위치 및 크기로 나타나도록 부호화하는 단계를 포함하는 점에 그 특징이 있다.

이하 첨부된 도면을 참도하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세하게 설명하면 다음과 같다.

본 발명에 있어서 검사 대상은 제5도에 보인 바와 같이 측면부(41)와 연마면(42) 및 모서리부(43)로 구성된 패널(100)이다. 이 연마면(42)은 텔레비젼이나 모니터 등에서 외부에 노출되는 부위이고 2차원적으로 곡률이 형성되어 있다. 모서리부(43)는 측면부(41)와 연마면(42)과의 밀봉을 위한 것이며 일반적으로 불투명(검은색) 코팅처리 되어 있다.

제6도를 참조하면, 본 발명에 따른 음극선관의 패널 검사장치(300)는 패널의 결함을 검사하는 것으로서, 프레임(51)에 지지되어 패널을 이송시키는데 제1이송부(60)와, 상기 제1이송부(60)와 연속되도록 설치되며 상호 소정간격 이격된 제2, 3이송부(70)(80)와, 상기 제1이송부(60)의 상하부에 설치되어 정전기와 이물을 제거하는 정전기 제거부(90)와, 상기 제2, 3이송부(70)(80) 사이의 상하부에 설치되어 이를 통과하는 패널(100)을 전기 광학적인 라인 화상으로 검사하는 패널검사부(120)로 대별된다.

상기 제1이송부(60)는 프레임(51)에 설치되어 패널(100)을 이송시키는 것으로, 프레임(51)에 상호 소정간격 이격되도록 복수개의 롤러(61)가 회전 가능하게 설치되고 각각의 롤러(61)는 상기 프레이(51)에 고정된 구동모우터(62)에 의해 회전된다. 그리고 롤러(61) 상부의 양측 프레임(51)에는 이송되는 패널(100)을 안내하며 이송 위치를 결정하는 위치 결정부재(64)가 설치되는데, 이 위치 결정부재(64)의 입구측에는 양측으로 확개되어 패널(100)을 가이드하는 가이드부(64a)가 설치된다.

상기 정전기 제거부(90)는 검사하고자하는 패널(100)의 표면에 부착된 이물과, 패널(100) 내외표면의 정전기를 제거하는 것으로, 제1이송부(60)의 상하부에 복수개의 고압 노즐(91)이 고정 설치되고 이 노즐(91)의 단부에는 이로부터 토출되는 에어를 전해분리하는 전극(92)이 고정 설치된다.

상기 제2, 3이송부(70)(80)는 제1이송부(60)로부터 이송되어온 패널(100)을 이송시키는 것으로, 중앙 분리된 제 1 및 제 2 벨트 컨베이어(71)(81)가 등속 운동 가능하게 설치되고, 제1 및 제2 벨트 컨베이어(71)(81)는 컨베이어 지지 프레임(73)에 고정된 구동 모터(83), 바람직하게는 스템핑 모터에 의해 동작된다.

상기 패널 검사부(12)는 제1, 2, 3이송부(60)(70)(80)에 의해 이송되어온 패널(100)을 검사하는 것으로, 상기 제2, 3컨베이어(70)(80) 사이의 수직 상부에 복수대의 카메라(121), 바람직하게는 두 대의 카메라가 고정 설치되고, 제2, 3컨베이어(70)(80) 사이의 하면에는 광원(122)이 고정 설치된다. 여기에서 상기 카메라(121)는 통상적인 전기광학을 이용하는 촬상소자(CCD)가 사용되며 상기 광원은 제8도에 도시된 바와 같이 상호 대향되도록 설치된 한 쌍의 할로겐 램프(122a)와 이 램프(122a) 사이에 설치된 확산판(122b)과, 상기 할로겐 램프(122a)의 배면에 설치된 반사판(122C)을 구비하여 구성된다. 또한, 패널(100)의 결점을 인식할 수 있는 상기 카메라(121)는 제10도에 도시되어 있는 바와 같이 카메라를 제어하는 카메라 제어기(125)에 접속되고, 카메라 제어기(125)는 카메라(121)에서 출력되는 화상 정보를 처리하는 화상처리기(126)와 접속된다. 화상 처리기(126)는 전술한 이송부의 각 모터를 제어하는 모터 제어기(128) 및 각종 스위치와 센서를 제어하는 논리 제어기(129)와 접속되어 있는 주 처리 컴퓨터(130)와도 접속된다.

그리고 제6도를 참조하면, 상기 패널 검사장치(300)는 소정의 캐비넷(200)에 의해 감싸여져 있으며, 그 상부와 출구(204)측에는 각각 필터(201)와 에어커튼(202)이 설치된다.

이와 같이 구성되어 음극선관 패널의 결함을 검사하는 본 발명에 따른 음극선관의 패널 검사장치의 작용 및 동작을 전술한 구성을 참조하면서 상세히 설명하면 다음과 같다.

먼저, 검사 대상 패널(100)이 제1이송부(60)의 위치결정부재(64)의 가이드부(64a)에 유입되면 구동 모터(62)에 의해 등속도로 동작되는 복수의 롤러(61)에 의해 상기 패널(100)이 제2이송부(70)로 이송된다. 이때, 정전기 제거부(90)를 구성하는 제1이송부(60)의 상하에 일렬로 고정 설치된 복수개의 고압 노즐(91)에서 반대방향으로 고압 공기가 분출되는데, 이 분출 고압공기는 고압 노즐(91)의 선단에 마련된 전극(92)에서의 코로나 방전에 의해 전해 분리되어 이온화된다. 즉, 고압노즐(91)에서 분출되는 고압공기는 고압 노즐(91) 선단에 마련된 전극(92)을 지나면서 이온화되어 이송되는 패널(100)에 정전기력에 의해 부착된 먼지 입자들을 음이온화시킴으로써 부착 이물의 정전기력을 상쇄시켜 공기의 분출력에 의해 제거된다. 이와 같은 부착 이물은 음이온화됨으로써 재차 다른 부위에 부착되지 않게 된다.

상술한 바와 같이, 정전기 제거부(90)에 의해 먼지가 제거되고 제1이송부(60)에 의해 위치가 정렬되어 이송되는 패널(100)은 제2이송부(70)의 벨트 컨베이어(71)상에 놓이고 스텝핑 모터(83)에 의해 등속도 이송된다. 스텝핑 모터(83)는 중앙 분리되어 있는 제2이송부(70)의 벨트 컨베이어(71)와 제3이송부(80)의 벨트 컨베이어(81)를 동시 구동함으로써 부하의 변동에 의한 등속성을 확보하고 있다.

제2이송부(40)에 의해 이송되는 패널(100)이 제2이송부(40) 끝단의 지지 프레임(73)에 설치된 패널 감지센서(74)에 의해 감지되고, 제2이송부(70)와 제3이송부(80) 사이에 형성된 공간을 지날 때, 광원(122)에서 방출되어 패널(100)을 투과한 광량을 패널 검사부(120)에 마련된 2대의 CCD 카메라(121)가 인식한다. 이 카메라(121)는 패널(100)의 이송시 패널(100)의 단방향 일 라인(line)에 대한 정보만을 취득할 수 있게 구성되어 있어, 패널(100) 전체를 검사하기 위해서는 제9도에 도시된 바와 같이 패널(100) 이송 방향에 따라 연속적인 순차(1, 2,...., k,...n) 라인 검사를 통해 패널(100)에 대한 전체 화상 정보를 얻는다.

카메라(121)에 의한 패널(100)의 검사시 외부 장치들에 의해 기인되는 진동을 방지하기 위해 4각 구조물 형태의 카메라지지 프레임(124)을 구축하여 화상 취득시 진동의 영향을 감소시키도록 하였다.

또한, 패널(100) 검사시 패널 출구(204)로 유입될 수 있는 캐비넷(200) 외부의 분진이나 입자 먼지는 패널 출구(204)의 캐비넷(200) 내측 상부에 설치된 에어 커튼(202)에 의해 방지되고, 검사시 내부에서 발생되는 먼지나 이물 등은 캐비넷(200) 상면과 측면에 설치된 강제 흡착필터(201)(205)에 의해 흡착되어 검사장치 내부를 항상 청정하게 유지된다.

이하 제10도를 참조하면서 본 발명 패널 검사장치의 패널 검사부(120)와 관련된 제어장치를 살펴보면 다음과 같다.

상술한 바와 같이 복수의 카메라, 바람직하게는 두 대의 카메라(121)에 입력되는 화상 정보는 카메라 제어기(125)에 의해 원하는 화상(video) 클럭수로 설정된다. 카메라(121)에서 출력된 화상 정보는 화상처리기(126)에 입력되고 화상처리기(126)의 화상처리보드(126a)는 각 카메라에서 출력되는 화상 정보를 병렬처리하여 화상 데이터를 생성한다. 화상처리기(126)의 주보드(126b)는 각 화상처리보드(126a)에서 처리된 화상 데이터 정보를 전송선, 예를 들면 GPIB 케이블을 통해 주 처리 컴퓨터(130)에 전송하고 주 처리 컴퓨터(130)의 명령을 제어할 수도 있다. 주 처리 컴퓨터(130)는 화상 처리기(126)이외에 벨트 컨베이어 구동모타(83:제6도)를 제어하는 모터 제어기(128)와 검사장치의 각종 미도시된 스위치 및 센서를 제어하는 논리 제어기(129)와의 통신에 의해 전체 검사장치의 상황을 제어한다. 또한 주 처리 컴퓨터(130)는 원격 위치에 있는 검사 작업자에게 결점 인식의 정보를 전송선을 통해 모니터(131)에 전송할 수 있고, 외부 통신에 의해 검사 결과를 집계하는 중앙처리장치 (미도시)로 결점 정보를 송신할 수도 있다.

제11도는 패널 검사부(120)에서의 검사과정 순서를 나타내는 흐름도를 도시한다. 이를 살펴보면, 단계140에서 패널(100)이 감지센서(74)에 의해 감지되면 단계141에서와 같이 패널 검사부(120)가 작동되어 검사가 시작된다. 카메라(121) 및 제어장치(170:제10도)는 검사대상 패널(100)을 최종 라인(n)에 도달할 때까지 연속적인 순차라인(제9도) 화상 처리한다(단계142, 143). 최종 라인까지의 화상처리가 완료되면 단계144에서 패널 결점에 대한 정보(예를 들면, 위치 또는 크기등)를 추출한다. 결점의 정보는 주 처리 컴퓨터(130)에서 데이터를 가공 분류하여 작업자 앞에 놓이는 모니터(131)에 결점을 표시한다(단계146).

이하 제8도를 참조하면서 세부적인 검사에 대한 내용을 살펴보면 다음과 같다. 전술한 바와 같이 두 대의 CCD 카메라(121)가 패널(100)의 단면에 해당되는 라인 화상정보를 얻는다. 패널(100)이 벨트 컨베이어(71, 81)상에 놓일 때 할로겐 램프(122a)에서 방사된 광은 반사판(122c)에서 반사되고 이 반사광은 확산판(122b)에 의해 균일한 확산광으로 되어 방사된다. 이 확산광은 제2이송부(70)와 제3이송부(80) 사이에 형성된 공간을 통해 선형광이 되어 패널(100)에 투사된다. 이 선형광이 패널(100)을 통과할 때, 패널(100)에 어떤 결점도 없는 경우는 광이 직진하여 투과하지만 패널(100)에 결점(105)이 존재할 때는 광이 산란하게 되어 카메라(121)에 포착되는 광량은 상대적으로 줄어들게 되어 결함을 감지할 수 있게 된다.

그러나, 패널(100)의 연마면(42:제5도)은 중앙이 볼록한 곡면으로 되어 있어 패널(100) 검사시 연마면(42)의 곡률에 따른 심도(Δα:제8도) 고려하여 심도에 따른 보정을 실시하여야만 원하는 결과를 얻을 수 있는데, 이는 하기의 설명에 의해 해결될 수 있다.

카메라(121)에 있는 접사렌즈(127)에 의해 작업거리(a)와 촬상소자면까지의 거리(b)와 심도 변화(Δα)의 영향을 복합적으로 고려하여 초점거리(f)를 능동적으로 정함으로써 해결된다. 이러한 초점거리(f)는 아래의 렌즈 공식에 의해 결정된다.

1/a + 1/b = 1/f

다음으로 본 발명에 따른 패널 검사장치에 관련된 신호 처리과정을 살펴보면 다음과 같다.

제12도는 제13도의 k번째 라인에 존재하는 결점을 검출할 수 있는 신호 처리의 과정을 보인다. 전술한 바와 같이 카메라(121) 및 제어장치(170)에 의해 획득된 라인 화상 정보의 신호선(119) 형태를 모니터(131) 등을 통해 보면 화면 111에서 모서리부(41)는 어둡게 나타나고 결점(105) 부위는 국소적으로 신호의 하강이 나타나고 연마면(42)의 부위는 패널 유리의 광 굴절 방향의 차이로 중앙이 약간 볼록한 포물선 신호 형태를 취한다. 이러한 것을 쉐이딩(shading)영향이라 부르며, 이는 패널(100)이 이송장치에 의해 진행됨에 따라 유리의 광 굴절 방향이 변하기 때문에 신호선(119)의 형태가 조금씩 달라지게 되어 생성되는 것이다.

이러한 쉐이딩 영향에 의해 검사 오류가 발생될 수 있는데, 이를 해결하는 본 발명의 수단 즉, 복잡한 화상 정보로부터 해당되는 결점의 화상 정보만을 추출하는 수단을 설명하면 다음과 같다.

먼저 카메라(121)에 입력된 라인 화상 정보를 제어장치(170)를 통해 화면 112와 같이 필터링하며 미세한 잡음의 영향을 제거한다. 다음은 화면 112에 도시된 신호선(119)을 제어장(170)내에 미리 저장된 쉐이딩 신호선(화면 113)과 뺄셈 연산하여 단지 결점 부위에 대한 미소 신호의 변동만을 추출한다. 여기서 쉐이딩 신호선의 저장은 다음의 공식에 의해 패널의 진행에 따라 순차적으로 구해질 수 있다.

S_k= a S_k-1+ (1-a) D_k

여기서, S_k는 쉐이딩 데이터이고, S_k­1는 바로 한 단계 전에 구한 쉐이딩 데이터이며, D_k는 현재 필터링 및 평활화된 신호선 데이터, a는 0에서 1사이의 값을 지니는 가중치이다.

상기의 반복적인 필터링 또는 쉐이딩 보정은 패널(100)이 2차원 곡률을 지남에 따라 달라지는 신호의 영향이나 모서리부(41)에 의한 영향을 자동적으로 보상함으로써 신호 처리의 단순화를 달성할 수 있다.

다음은 신호를 이치화(binary code)하는 단계 115로서 신호의 평균이 위치하는 레벨(1)에 대해서 폭(W)을 조절하여 임계선을 결정하게 된다. 이러한 임계선에 의해 결점(105)의 위치와 크기를 결정한다. 여기서, 결점(105)의 위치와 크기는 다음의 부호화 단계 116를 거쳐 결점(105)의 시작점(a)과 끝점(a')만을 추출하여 일차적으로 저장한 후 패널(100)이 진행됨에 따라 얻어진 부호화 정보를 취합하여 단계 117에서 2차원 결점에 대한 위치와 면적의 특징량을 계산한다. 최종적으로 단계 118에서 여러 결점에 대한 위치 및 면적들을 전송선(GPIB)을 통해 주 처리 컴퓨터(130)로 송신한다.

상술한 바와 같이 쉐이딩 보정에 의한 신호 처리에서 얻어지는 효과는 다음과 같다.

첫째: 패널의 2차원 곡률에 의한 광량 변화의 영향을 제거함으로써 신뢰성 있는 불량 감지를 수행할 수 있다.

둘째: 모서리부에 의한 영향을 자동 보상함으로써 패널의 위치 결정에서 기인하는 위치 오차를 자동으로 보상할 수 있다.

이와 같은 발명에 따른 음극선관의 패널 검사장치는 패널의 제조공정에서 발생될 수 있는 불량을 자동으로 검출 할 수 있는 이점을 제공한다.

그리고, 본 발명은 검사의 신뢰성을 향상을 시킬 수 있는 이점을 제공하며, 검사시간을 단축할 수 있는 이점을 제공한다.

Claims (12)

1. 패널의 결함을 검사하는 음극선관의 패널 검사장치에 있어서, 프레임에 지지되어 패널을 이송시키는데 제1이송수단과,

   상기 제1이송수단과 연속되도록 설치되며 상호 소정간격 이격된 제2, 3이송수단과,

   상기 제1이송수단의 상하부에 설치되어 정전기와 이물을 제거하는 정전기 제거수단과,

   상기 제2, 3이송수단 사이의 상하부에 설치되어 이를 통과하는 패널을 전기 광학적인 라인 화상으로 검사하는 패널 검사수단을 구비하여 된 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사장치.
2. 제1항에 있어서,

   상기 제1이송수단은 롤러 컨베이어인 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사장치.
3. 제1항에 있어서,

   상기 정전기 제거수단은 제1컨베이어의 상하부에 설치된 공압노즐과, 이 공압노즐의 단부에 고정된 이온 발생수단을 구비하여 된 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사장치.
4. 제3항에 있어서,

   상기 이온 발생수단은 노즐의 단부에 설치된 이온 전극을 구비하여 된 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사장치.
5. 제1항에 있어서,

   상기 제2 및 제3 이송수단은 벨트 컨베이어인 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사장치.
6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,

   상기 패널 검사수단은 상기 제2 및 제3 이송수단 사이의 수직상하부에 각각 설치된 카메라와 광원을 구비하여 된 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
7. 제1항에 있어서,

   상기 제2 및 제3 이송수단은 하나의 모타에 의해 동시에 구동되는 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사장치.
8. 제1항에 있어서,

   상기 패널의 이송을 감지하여 그 감지 신호를 상기 패널 검사수단에 출력하는 감지센서가 상기 제2이송수단에 마련된 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사장치.
9. 패널의 결함을 검사함에 있어 패널의 곡률에 기인한 검사오류를 보정하는 음극선관의 패널 검사 보정방법에 있어서,

   복수의 라인으로 분할되는 상기 패널의 검사라인을 촬상소자를 구비한 카메라로 촬상하여 상기 패널의 곡률 및 미소 잡음 신호가 포함된 실화상을 얻는 단계와,

   상기 실화상에 포함된 미소 잡음신호를 제거하기 위하여 상기 실화상을 필터링하여 검사 화상을 얻는 단계와,

   상기 검사 화상을 상기 패널의 기준 곡률이 포함된 기준 화상과 논리연산하여 상기 패널에 존재하는 결함만을 나타내는 이치화하는 단계, 및

   상기 이치화된 결함을 그 결함의 위치 및 크기로 나타나도록 부호화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사 보정방법.
10. 제9항에 있어서,

    상기 패널의 검사라인이 모두 검사될 때까지 상기 단계들이 반복 순환되는 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사 보정방법.
11. 제9항에 있어서,

    상시 실화상은 상기 패널의 이송 중에 획득되어 지는 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사 보정방법.
12. 제9항에 있어서,

    상기 논리연산이 뺄셈 연산인 것을 특징으로 하는 음극선관의 패널 검사 보정방법.