KR20000026180A - 음극선관용 판넬의 측정시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 관한 것이다. 본 발명은 베이스의 상면에 액츄에이터의 구동에 의해 이동 가능하도록 셔틀이 설치되고, 셔틀의 상면에는 액츄에이터의 구동에 의해 턴테이블이 회전 가능하게 설치되며, 턴테이블의 상면에 판넬의 위치를 결정하여 측정 위치를 제공할 수 있도록 포지셔너가 설치된다. 로봇은 판넬의 형상 및 거칠기를 측정하는 제 1 및 제 2 측정 수단을 직선 이동시키는 캐리어를 가지고, 베이스의 전방에 턴테이블로부터 판넬을 배출시킬 수 있도록 배출 유닛이 설치되며, 판넬의 측정 공정은 컴퓨터에 의해 제어된다. 따라서, 컴퓨터의 제어에 의해 판넬의 형상 및 거칠기를 자동으로 측정할 수 있으므로, 측정 결과의 합격 여부를 신속하고 정확하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라, 제조 현장에 신속한 조치를 취할 수 있게 된다. 또한, 측정의 자동화로 인하여 측정 정밀도 및 신뢰성이 향상되며, 측정 결과를 데이터화하여 저장할 수 있다. 그리고, 컴퓨터의 데이터를 지역 네트워크의 구축에 의해 용이하게 공유할 수 있으므로, 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행할 수 있어 능률적이고 경제적인 운영이 가능해지게 된다. 또한, 시료의 채취 작업이 불필요해져 측정 작업이 단순해지므로, 불필요한 인력과 시간의 낭비를 줄일 수 있게 된다.

Description

음극선관용 판넬의 측정 시스템

본 발명은 음극선관용 판넬(panel)의 치수, 형상 및 거칠기를 자동으로 측정하기 위한 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 관한 것이다.

컬러텔레비젼이나 컴퓨터 모니터 등의 제조에 사용되는 음극선관은 기본적으로 세 가지의 구성 요소, 즉 화상이 투시되는 판넬과, 이 판넬의 배면에 부착되는 원추형의 휀넬(funnel)과, 휀넬의 꼭지점에 용착되는 관형상의 네크(neck)로 이루어진다. 판넬은 훼이스(face)와 스커트(skirt)를 갖추고 있으며, 훼이스의 내면에는 결상용 형광체가 도포되고, 스커트에는 다수의 구멍을 갖는 섀도우마스크가 핀에 의해 지지된다. 그리고, 네크에는 전자총이 설치되며, 전자총은 섀도우마스크의 구멍을 통하여 형광체로 전자빔을 발사함으로써 화상을 생성하게 된다.

이와 같은 음극선관의 판넬, 휀넬 및 네크는 모두 유리로 제조된다. 특히, 판넬과 휀넬은 곱(gob)이라 불리는 용융유리 덩어리를 원하는 크기 및 형상으로 프레스 성형에 의해 제조하게 된다. 성형 공정에 의해 제조된 성형품은 일반적으로 거친 표면을 가지므로, 음극선관의 화상 품질을 개선하려면 성형품의 표면을 적절히 연마하여 광학적 결함을 제거할 필요가 있다. 성형품이 판넬인 경우 연마를 필요로 하는 표면은 훼이스와, 휀넬이 용착되는 스커트의 시일에지(seal edge)이다.

한편, 판넬은 품질의 균일성을 유지하기 위하여 샘플링 검사를 수행하게 된다. 샘플링 검사에 의한 판넬의 측정 항목은 크게 치수, 형상 및 거칠기로 나눌 수 있으며, 측정의 세부 항목에는 대략 15개 정도가 있다. 예를 들어 측정의 세부 항목에는 시일에지의 두께, 훼이스의 중심 두께, 시일에지의 하이 핀(high pin), 아웃 베벨(out bevel), 시일 랜드 폭(seal land width) 등의 측정이 있다.

그러나, 상기한 바와 같은 판넬의 형상 및 거칠기 측정은 대개 작업자의 수작업과 형상 및 거칠기 측정기에 의해 개별적으로 이루어지고 있기 때문에 측정 공정이 복잡하고 번거로워지는 문제가 있었다. 더욱이, 판넬의 형상 및 거칠기를 측정하기 위해서는 판넬의 대략 24군데를 절단한 시료를 채취하여 수행하여야 하므로, 시료의 채취와 판넬의 측정에 과다한 시간이 소요되었다. 특히, 시료의 채취 작업과 취급에는 세심한 주의가 요구되어 숙련된 작업이 필요할 뿐만 아니라, 시료의 채취 작업은 측정실과 별도의 채취실에서 수행하고 있어 비능률적이고 비경제적인 문제가 있었다. 이것을 개선하기 위하여 판넬의 형상 및 거칠기 측정은 대략 8개의 시료에 의해 수행하고 있으나, 측정 공정의 단순화에는 미흡한 실정에 있다.

한편, 판넬의 측정 결과를 판정 기준과 비교하여 합격 여부를 결정하기 위해서는 개별적으로 측정된 판넬의 형상 및 거칠기에 대한 측정 결과를 취합하여 데이터화 한 후, 이것을 판정 기준과 비교하여야 하기 때문에 합격 여부의 결정에 과다한 시간이 소요되었다. 뿐만 아니라, 판넬의 측정 결과가 불합격으로 판정될 경우에는 그 원인을 파악하여 제조 현장에 수정 조치를 취하여야 하는 것이나, 측정 결과를 제조 현장에 신속하게 전달할 수 없어 수정 조치를 지연시키는 원인이 되었으며, 나아가 판넬의 제작에 막대한 지장을 초래시키는 문제가 있었다. 또한, 제조 현장이 나뉘어져 설비된 경우에는 판넬의 측정 결과에 대한 데이터를 공유하기가 곤란하여 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행하는데 지장이 초래되는 문제가 있었다.

본 발명은 상기한 바와 같은 종래의 제반 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 측정을 자동으로 수행할 수 있도록 한 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.

본 발명의 다른 목적은 측정 결과의 합격 여부를 신속하게 판정할 수 있는 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 측정 정밀도가 향상되도록 한 음극선관용 판넬 측정 시스템을 제공하는데 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 측정 결과를 데이터화하여 공유할 수 있는 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 능률적이고 경제적인 운영이 가능한 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 시료의 채취없이 측정이 가능해지도록 한 음극선관용 측정 시스템을 제공하는데 있다.

도 1은 일반적인 음극선관용 판넬을 나타낸 단면도,

도 2는 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 개략적으로 나타낸 정면도,

도 3은 본 발명에 따른 측정 시스템을 나타낸 평면도,

도 4는 본 발명에 따른 측정 시스템을 나타낸 정면도,

도 5는 본 발명에 따른 측정 시스템을 나타낸 측면도,

도 6은 본 발명에 따른 측정 시스템의 포지셔너를 나타낸 사시도,

도 7은 본 발명에 따른 측정 시스템의 포지셔너를 나타낸 평면도,

도 8은 본 발명에 따른 측정 시스템의 포지셔너를 나타낸 정면도,

도 9는 도 8의 작동 상태도,

도 10은 본 발명에 따른 측정 시스템에서 배출 유닛을 나타낸 측면도이다.

♣ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ♣

10: 판넬 20: 측정 시스템

24: 베이스 30: 셔틀

40: 턴테이블 50: 포지셔너

60: 서포트 핀 68: 진공 패드

80: 로봇 90: 캐리어

100: 제 1 측정 유닛 120: 제 2 측정 유닛

140: 배출 유닛 160: 컴퓨터

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은, 베이스와; 베이스의 상면에 액츄에이터의 구동에 의해 이동 가능하도록 설치되는 셔틀과; 셔틀의 상면에 액츄에이터의 구동에 의해 회전 가능하게 설치되는 턴테이블과; 턴테이블의 상면에 판넬의 위치를 결정하여 측정 위치를 제공할 수 있도록 설치되는 포지셔너와; 판넬의 형상 및 거칠기를 측정하는 제 1 및 제 2 측정 수단을 직선 이동시키는 캐리어를 갖는 로봇과; 베이스의 전방에 턴테이블로부터 판넬을 배출시킬 수 있도록 설치되는 배출 유닛과; 판넬의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터를 포함하는 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 있다.

이하, 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 대한 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세하게 설명한다.

도 1 내지 도 10은 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 설명하기 위하여 나타낸 도면이다.

먼저, 도 1에 나타낸 바와 같이, 음극선관의 판넬(10)은 훼이스(12)와, 이 훼이스(12)의 가장자리로부터 후방으로 형성되는 스커트(14)를 갖추고 있다. 스커트(14)는 시일에지(16)를 가지며, 스커트(14)의 측면에는 프레스 성형 자국인 몰드 매치 라인(mold match line: 18)이 남게 된다. 판넬(10)은 장축과 단축을 갖는 대략 직사각형으로 형성되고, 판넬(10)의 치수는 대각선 길이에 따라 인치를 단위로 사용하여 구분하고 있다.

도 2 내지 도 5에 나타낸 바와 같이, 상기한 판넬(10)은 형상 및 거칠기를 측정하는 측정 시스템(20)의 공급 위치로 공급된다. 측정 시스템(20)의 시일에지(16)에 대한 형상의 세부 측정 항목에는 하이 핀, 아웃 베벨, 시일 랜드 폭 등이 있다. 측정 시스템(20)은 베드(bed: 22)를 가지며, 베드(22)의 상면에는 베이스(24)가 설치된다. 베이스(24)의 상면에는 복수의 안내구멍(26)이 길이 방향을 따라 나란하게 형성되고, 베이스(24)의 상면에는 안내구멍(26)을 따라 셔틀(shuttle: 30)이 이동 가능하도록 설치된다. 셔틀(30)의 하면에는 복수의 이송너트(32)가 장착되며, 셔틀(30)의 이송너트(32)는 액츄에이터(34)의 구동에 의해 이송나사축(36)을 따라 이동 가능하도록 설치되고, 이송나사축(36)의 양쪽에는 셔틀(30)의 직선 이동을 안내하는 복수의 가이드 바(38)가 나란하게 설치된다. 이때, 셔틀(30)은 액츄에이터(34)의 구동에 의해 판넬(10)을 공급할 수 있는 공급 위치에서 측정 위치로 이동되거나 측정 위치에서 판넬(10)을 배출시킬 수 있는 배출 위치로 이동되게 된다. 셔틀(30)의 상면에 판넬(10)이 올려 놓여지는 턴테이블(40)이 설치되며, 턴테이블(40)은 액츄에이터(42)의 구동에 의해 회전되고, 턴테이블(40)은 액츄에이터(42)의 구동에 의해 90도 회전하게 된다. 여기에서, 액츄에이터(42)는 스텝 모터(step motor)를 사용할 수도 있다.

도 6 내지 도 8에 나타낸 바와 같이, 턴테이블(40)의 상면에는 판넬(10)의 위치를 결정하는 포지셔너(positioner: 50)가 설치된다. 포지셔너(50)는 텐테이블(50)의 하면에 다수의 실린더(52)가 로드(52a)를 갖도록 설치되며, 로드(52a)의 양쪽에는 커넥팅 로드(54)가 턴테이블(40)의 상방으로 돌출되도록 연결되고, 커넥팅 로드(54)의 선단에 무빙 블록(56)이 장착된다. 무빙 블록(56)의 중앙에 설치홈(58)이 형성되며, 무빙 블록(56)의 설치홈(58)에는 판넬(10)의 훼이스(12)를 지지하는 서포트 핀(60)이 설치되며, 서포트 핀(60)의 선단은 구면(60a)으로 형성된다. 도면에서 서포트 핀(60)은 3개가 배치되어 훼이스(12)를 3점 지지할 수 있도록 설치된 것을 나타냈으나, 서포트 핀(60)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다.

또한, 포지셔너(50)는 커넥팅 로드(54)의 한쪽에 커넥팅 플레이트(62)가 연결되고, 커넥팅 플레이트(62)의 상면에는 포스트(64)가 스프링(66)의 탄성력을 부여받아 턴테이블(40)의 상방으로 승,하강 운동이 가능하도록 설치되며, 포스트(64)의 선단에 훼이스(12)를 흡착하는 진공 패드(68)가 장착된다. 진공 패드(68)는 서포트 핀(60)의 사이에 2개가 동일 직선상에 위치되도록 설치된 것을 나타냈으나, 진공 패드(68)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다. 진공 패드(68) 사이에는 낙하로부터 판넬(10)을 보호할 수 있는 패드(70)가 장착된다. 이와 같은 포지셔너(50)의 서포트 핀(60)과 진공 패드(68)는 승강되어 판넬(10)의 측정을 수행할 수 있는 측정 위치를 제공하게 된다.

도 2 및 도 4를 다시 참조하여 설명하면, 측정 시스템(20)는 로봇(80)을 가지며, 로봇(80)은 베드(22)의 상면에 복수의 칼럼(82)이 설치되고, 칼럼(82)의 상부에 가로 레일(84)이 설치된다. 이 로봇(80)의 가로 레일(84)을 따라 액츄에이터(86)의 구동에 의해 캐리어(90)가 직선 이동되도록 설치되며, 캐리어(90)에는 무빙 플레이트(92)가 실린더(94)의 구동에 의해 승,하강 운동이 가능하도록 설치된다.

한편, 무빙 플레이트(92)의 한쪽에는 판넬(10)의 형상을 측정하는 제 1 측정 유닛(100)이 설치된다. 제 1 측정 유닛(100)은 실린더(102)의 구동에 의해 승,하강 운동되는 측정 블록(104)을 가지고, 측정 블록(104)에는 미니미터(minimeter: 110)가 판넬(10)의 표면에 접촉되어 운동하는 스타일러스(stylus: 112)를 갖도록 장착된다. 제 1 측정 유닛(100)의 미니미터(110)는 연마 전 판넬(10)의 시일에지(16)의 형상을 측정하게 된다.

또한, 무빙 플레이트(182)의 한쪽에는 제 1 측정 유닛(100)과 인접되도록 제 2 측정 유닛(120)이 설치된다. 제 2 측정 유닛(120)은 실린더(122)의 구동에 의해 측정 블록(124)이 승,하강 운동되도록 장착되며, 측정 블록(124)에는 미니미터(130)가 장착되고, 미니미터(130)는 픽업(pick up: 132)의 한쪽에 판넬(10)의 표면에 접촉되어 운동하는 스타일러스(134)를 갖도록 구성된다. 제 2 측정 유닛(120)의 미니미터(130)는 연마 후 판넬(10)의 거칠기를 측정하게 된다.

도 10에 나타낸 바와 같이, 측정 시스템(20)의 베이스(24)에는 턴테이블(40)로부터 판넬(10)을 배출시킬 수 있도록 배출 유닛(140)이 설치된다. 배출 유닛(140)은 베이스(24)의 한쪽에 브래킷(142)이 장착되고, 브래킷(142)의 상면에는 복수의 서포트 바(144)가 서로 나란하게 각각 장착된다. 여기에서, 서포트 바(144)의 높이는 판넬(10)의 훼이스(12)와 간섭되지 않도록 측정 시스템(20)의 측정 위치보다 낮게 장착된다. 서포트 바(144)의 외주면에는 판넬(10)이 보호되도록 복수의 커버(146)가 씌워지며, 커버(146)는 수지를 소재로 제작하는 것이 바람직하다. 베이스(24)의 전방에는 셔틀(30)이 배출 위치로 이동된 상태를 감지하는 센서(150)가 설치된다.

도 2에 나타낸 바와 같이, 본 발명은 일련의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터(160)를 갖추고 있다. 컴퓨터(160)는 마이크로프로세서와, 키보드, 마우스 등의 입력 장치와, 모니터, 프린터 등의 출력 장치를 갖추고 있으며, 이 컴퓨터(160)에는 이동이 자유로운 컨트롤 콘솔(control console: 162)이 케이블(164)에 의해 연결된다. 컨트롤 콘솔(162)의 수동 조작에 의해 컴퓨터(160)의 운영을 제어할 수 있고, 컨트롤 콘솔(162)의 사용에 의해 측정 공정의 이상 상태를 작업자가 쉽게 확인할 수 있어 운영의 융통성이 높아지게 된다. 한편, 컴퓨터(160)는 미리 설정된 순서, 조건, 위치 등에 정보에 따라 측정 시스템(20)의 구동을 순차적으로 제어하며, 측정 시스템(20)의 구동에 의해 얻어진 측정 결과를 저장 및 출력함과 아울러 데이터화시켜 저장한다. 또한, 컴퓨터(160)에는 또 다른 컴퓨터를 접속시켜 지역 네트워크를 용이하게 구현시킬 수 있다. 한편, 본 발명의 측정 시스템(20)은 판넬(10)의 중심을 맞추는 센터링 장치(170)와, 이 센터링 장치(170)에서 중심이 맞춰진 판넬(10)을 측정 시스템(20)의 측정 위치로 이송시켜는 이송 장치(180)와, 판넬(10)의 3차원 측정에 의해 치수, 전체 높이, 웨지 등을 측정하는 3차원 측정기(190)와 연계시켜 운영할 수 있다.

상술한 바와 같은 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 대한 작동 상태를 설명하면 다음과 같다.

도 4 및 도 5에 나타낸 바와 같이, 판넬(10)은 센터링 장치(170)의 구동에 의해 중심이 맞춰진 후 이송 장치(180)의 구동에 의해 측정 시스템(20)의 측정 위치로 공급된다. 판넬(10)이 측정 위치로 공급되기 전에 실린더(52)의 구동에 의해 포지셔너(50)의 서포트 핀(60)과 진공 패드(68)를 승강시킨 상태에서 포지셔너(50)의 상부에 판넬(10)을 공급시킨다. 이와 같이 판넬(10)이 공급되면, 서포트 핀(60)의 구면(60a)은 훼이스(12)를 3점 지지하여 판넬(10)을 안정적으로 받쳐주게 되고, 진공 패드(68)는 훼이스(12)를 흡착하여 판넬(10)의 유동을 방지하게 되며, 이로 인하여 판넬(10)의 측정 위치가 결정된다. 진공 패드(68)가 훼이스(12)를 흡착할 때에는 포스트(64)가 스프링(66)의 탄성변형에 의해 승,하강 운동되면서 충격을 흡수하게 되어 흡착이 안정적으로 이루어지게 된다.

그리고, 측정 시스템(20)의 포지셔너(50)에 의해 판넬(10)의 측정 위치가 결정된 후에는, 액츄에이터(34)의 구동에 의해 셔틀(30)을 측정 시스템(20)의 측정 위치로 이동시키며, 로봇(80)의 액츄에이터(86)가 구동되면 가로 레일(84)를 따라 캐리어(90)가 이동된다. 이와 동시에 실린더(94)의 구동에 의해 무빙 플레이트(92)를 하강시켜 제 1 및 제 2 측정 유닛(100, 120)을 측정 위치에 도달시킨 후, 컴퓨터(160)의 제어에 의해 제 1 및 제 2 측정 유닛(100, 120)을 구동시켜 판넬(10)의 형상 및 거칠기 측정을 수행하게 된다.

제 1 측정 유닛(100)은 연마 전 시일에지(16)의 형상을 측정하는 것으로, 제 1 측정 유닛(100)의 측정 블록(104)은 로봇(80)의 구동에 의해 직선 운동함과 아울러 실린더(102)의 구동에 의해 승,하강 운동된다. 이와 같은 측정 블록(104)의 직선 운동과 승,하강 운동에 의해 미니미터(130)의 스타일러스(112)가 시일에지(16)의 표면을 이동하면서 시일에지(16)의 요철에 대응하는 기구적 운동을 수행하게 된다. 이 스타일러스(112)의 기구적 운동을 컴퓨터(160)에 전기적 신호로 입력시키는 것에 의해 연마 전 시일에지(16)의 하이 핀, 아웃 베벨, 시일 랜드 폭 등을 측정할 수 있게 된다.

한편, 제 2 측정 유닛(120)은 연마 후 판넬(10)의 거칠기를 측정하는 것으로, 제 2 측정 유닛(120)의 측정 블록(124)은 로봇(80)의 구동에 의해 직선 운동함과 아울러 실린더(122)의 구동에 의해 승,하강 운동된다. 이와 같은 측정 블록(124)의 직선 운동과 승,하강 운동에 의해 미니미터(130)의 스타일러스(134)가 판넬(10)의 표면, 예를 들어 훼이스(12)의 표면을 이동하면서 훼이스(12)의 요철에 대응하는 기구적 운동을 하며, 스타일러스(134)의 기구적 운동에 대응되어 픽업(132)이 동적 운동을 하게 된다. 이 픽업(132)의 동적 운동을 컴퓨터(160)에 전기적 신호로 입력시키는 것에 의해 연마 후 판넬(10)의 거칠기를 측정할 수 있게 된다. 이와 같이 측정 시스템(20)의 제 1 및 제 2 측정 유닛(100, 120)에 의해 연마 전,후 판넬(10)의 형상 및 거칠기를 하나의 측정 위치에서 수행할 수 있으므로, 작업의 연속성과 효율성이 향상된다.

또한, 판넬(10)의 시료를 채취할 필요가 없어 측정 작업이 단순화되며, 측정 작업에 전문적이고 많은 인력이 필요없게 될 뿐만 아니라, 측정 시간을 크게 단축시킬 수 있게 된다. 그리고, 측정 시스템(20)의 측정 결과는 컴퓨터(160)에 입력되며, 컴퓨터(160)는 측정 시스템(20)으로부터 입력되는 측정 결과를 데이터화하여 판정 기준과 비교하고, 이것의 합격 여부를 결정한다.

도 3 및 도 10에 나타낸 바와 같이, 측정 시스템(20)의 구동에 의해 판넬(10)의 형상 및 거칠기 측정이 완료되면, 액츄에이터(42)의 구동에 의해 턴테이블(40)이 회전되어 판넬(10)의 장축이 베이스(24)의 길이 방향을 향하도록 위치시키게 된다. 그리고, 액츄에이터(34)의 구동에 의해 이송나사축(36)을 따라 셔틀(30)을 측정 시스템(20)의 측정 위치로부터 배출 위치로 이동시킨다. 셔틀(30)이 배출 위치에 도달하면, 셔틀(30)의 이동은 센서(150)의 작동에 의해 감지되고, 이 센서(150)로부터 입력되는 신호에 따라 컴퓨터(160)는 셔틀(30)의 이동을 정지시킨 후에, 실린더(52)의 구동에 의해 로드(52a)를 후퇴시켜 서포트 핀(60)과 진공 패드(68)를 초기 위치로 복귀시킨다. 서포트 핀(60)과 진공 패드(68)가 초기 위치로 복귀되는 과정에서 판넬(10)의 훼이스(12)가 배출 유닛(140)의 서포트 바(144)에 올려놓여지게 된다. 이때, 커버(146)는 판넬(10)을 충격으로부터 보호하여 긁힘 등을 방지하게 된다. 판넬(10)의 장축은 서포트 바(144)의 길이 방향을 따라 놓여져 작업자가 쉽게 배출할 수 있는 상태가 되며, 패드(70)는 작업자의 부주의로 판넬(10)이 낙하될 때 충격으로부터 판넬(10)의 파손을 방지하게 된다. 배출 유닛(140)의 서포트 바(144)로부터 판넬(10)을 배출시킨 후에는, 액츄에이터(34)의 구동에 의해 셔틀(30)을 배출 위치에서 측정 위치로 복귀시킨다.

한편, 상기한 실시예는 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한 것에 불과하고, 본 발명의 적용 범위는 이와 같은 것에 한정되는 것은 아니며 동일 사상의 범주내에서 적절하게 변경 가능한 것이다. 예를 들어 본 발명의 실시예에 나타난 각 구성 요소의 형상 및 구조는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 또한, 본 발명은 판넬의 측정이외에 각종 보드, 플레이트 등의 측정에도 널리 사용할 수 있는 것이다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 의하면, 컴퓨터의 제어에 의해 판넬의 형상 및 거칠기를 자동으로 측정할 수 있으므로, 측정 결과의 합격 여부를 신속하고 정확하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라, 판넬의 측정 결과에 이상이 있는 경우에도 제조 현장 등에 신속한 조치를 취할 수 있어 제조 공정의 손실을 최소화시킬 수 있는 것이다. 또한, 측정의 자동화로 인하여 정밀도 및 신뢰성이 향상되고, 측정 결과를 데이터화하여 효율적으로 관리할 수 있는 것이다. 그리고, 컴퓨터의 데이터를 지역 네트워크의 구축에 의해 용이하게 공유할 수 있으므로, 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행할 수 있어 능률적이고 경제적인 운영이 가능해지는 것이다. 또한, 시료의 채취 작업이 불필요해져 측정 작업이 단순해지며, 불필요한 인력과 시간의 낭비를 줄일 수 있는 것이다.

Claims (6)

1. 베이스와;

   상기 베이스의 상면에 액츄에이터의 구동에 의해 이동 가능하도록 설치되는 셔틀과;

   상기 셔틀의 상면에 액츄에이터의 구동에 의해 회전 가능하게 설치되는 턴테이블과;

   상기 턴테이블의 상면에 상기 판넬의 위치를 결정하여 측정 위치를 제공할 수 있도록 설치되는 포지셔너와;

   상기 판넬의 형상 및 거칠기를 측정하는 제 1 및 제 2 측정 수단을 직선 이동시키는 캐리어를 갖는 로봇과;

   상기 베이스의 전방에 상기 턴테이블로부터 상기 판넬을 배출시킬 수 있도록 설치되는 배출 유닛과;

   상기 판넬의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터를 포함하는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 포지셔너는,

   상기 텐테이블의 하면에 로드를 갖도록 설치되는 다수의 실린더와;

   상기 로드 각각의 양쪽에 상기 턴테이블의 상방으로 돌출되도록 연결되는 커넥팅 로드와;

   상기 커넥팅 로드의 선단에 장착되는 무빙 블록과;

   상기 무빙 블록의 중앙에 상기 판넬의 훼이스를 3점 지지할 수 있도록 설치되는 서포트 핀과;

   상기 커넥팅 로드의 한쪽에 연결되는 커넥팅 플레이트와;

   상기 커넥팅 플레이트의 상면에 스프링의 탄성력을 부여받아 승,하강 운동이 가능하도록 설치되는 복수의 포스트와;

   상기 포스트의 선단에 상기 판넬의 훼이스를 흡착할 수 있도록 장착되는 진공 패드로 구성되는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.
3. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 측정 수단은,

   실린더의 구동에 의해 승,하강 운동되는 측정 블록과;

   상기 측정 블록에 장착되고, 상기 판넬의 표면에 접촉되어 운동되는 스타일러스를 갖는 미니미터로 이루어지는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.
4. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 측정 수단은,

   실린더의 구동에 의해 승,하강 운동되는 측정 블록과;

   상기 측정 블록에 장착되고, 상기 판넬의 표면에 접촉되어 운동되도록 픽업의 한쪽에 스타일러스가 장착되는 미니미터로 이루어지는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.
5. 제 1 항에 있어서, 상기 배출 유닛은 상기 베이스의 한쪽에 브래킷이 장착되고, 상기 브래킷의 상면에 상기 판넬이 올려 놓여지는 복수의 서포트 바가 서로 나란하게 각각 장착되며, 상기 브래킷의 한쪽에 상기 판넬이 배출 위치로 이동된 상태를 감지하는 센서가 장착되는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.
6. 제 5 항에 있어서, 상기 서포트 바의 높이는 상기 판넬의 훼이스와 간섭되지 않도록 그 측정 위치보다 낮게 장착되는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.