JPWO2012005148A1 - 光学機器用遮光部材 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の遮光部材は、合成樹脂フィルムからなる基材と、前記基材の少なくとも片面に形成された遮光膜とを含むものである。当該遮光膜は、水酸基価が100(mgKOH/g)以上であるバインダー樹脂、カーボンブラック、無機粒子、及び平均粒子径が1〜10μmである樹脂粒子を含有する。
[実施例1]
基材として厚み25μmの黒色ポリエチレンテレフタレートフィルム(ルミラーX30:東レ社)を用い、当該基材の両面に下記処方の遮光膜用塗布液をそれぞれバーコート法により、乾燥時の厚みがそれぞれ10μmとなるように塗布・乾燥を行って遮光膜を形成し、実施例1の光学機器用遮光部材を作製した。
・ポリエステルポリオール 9.68部
(バーノック11-408:DIC社、水酸基価200(mgKOH/g)、固形分70%)
・イソシアネート 9.37部
(バーノックDN980:DIC社、固形分75%)
・カーボンブラック 4.57部
(バルカンXC-72:キャボット社)
・無機粒子(シリカ) 0.89部
(TS100:エボニック・デグサ・ジャパン社、平均粒子径4μm)
・樹脂粒子(架橋ポリメチルメタクリレート粒子) 5.30部
(ケミスノーMX-500:綜研化学社、平均粒子計5μm)
・メチルエチルケトン 36.93部
・トルエン 15.83部
実施例1で用いた遮光膜用塗布液のうち、ポリエステルポリオールをポリエステルポリオール(バーノックJ-517:DIC社、水酸基価140(mgKOH/g)、固形分70%)に変更し、イソシアネートの添加量を6.56重量部とした以外は実施例1と同様にして、実施例2の光学機器用遮光部材を作製した。
実施例1で用いた遮光膜用塗布液のうち、ポリエステルポリオールをポリエステルポリオール(バーノックD-144-65BA:DIC社、水酸基価100(mgKOH/g)、固形分65%)に変更して添加量を10.42重量部とし、イソシアネートの添加量を5.04重量部とした以外は実施例1と同様にして、実施例3の光学機器用遮光部材を作製した。
実施例1で用いた遮光膜用塗布液のうち、樹脂粒子を樹脂粒子(架橋ポリメチルメタクリレート粒子、ケミスノーMX-150:綜研化学社、平均粒子径1.5μm)に変更した以外は実施例1と同様にして、実施例4の光学機器用遮光部材を作製した。
実施例1で用いた遮光膜用塗布液のうち、樹脂粒子を樹脂粒子(架橋ポリメチルメタクリレート粒子、ケミスノーMX-1000:綜研化学社、平均粒子径10μm)に変更した以外は実施例1と同様にして、実施例5の光学機器用遮光部材を作製した。
実施例1で用いた遮光膜用塗布液のうち、アクリルポリオールの添加量を100重量部とし、樹脂粒子の添加量を13重量部とした以外は実施例1と同様にして、実施例6の光学機器用遮光部材を作製した。
実施例1で用いた遮光膜用塗布液のうち、ポリエステルポリオールをアクリルポリオール(アクリディックA-801P:DIC社、水酸基価50(mgKOH/g)、固形分50%)に変更して添加量を13.55重量部とし、イソシアネートの添加量を3.28重量部とした以外は実施例1と同様にして、比較例1の光学機器用遮光部材を作製した。
実施例1で用いた遮光膜用塗布液のうち、樹脂粒子を樹脂粒子(架橋ポリメチルメタクリレート粒子、ケミスノーMX-1500H:綜研化学社、平均粒子径15μm)に変更した以外は実施例1と同様にして、比較例2の光学機器用遮光部材を作製した。
実施例1で用いた遮光膜用塗布液のうち、樹脂粒子を無機粒子(硫酸バリウム、BMH:堺化学工業社、平均粒子径2.5μm)に変更した以外は実施例1と同様にして、比較例3の光学機器用遮光部材を作製した。
以上のようにして実施例1〜6及び比較例1〜3で得られた光学機器用遮光部材について、下記の方法で物性の評価をした。それぞれの結果を表1に示す。
上記実施例1〜6及び比較例1〜3で得られた光学機器用遮光部材を、JIS K7651:1988に基づき光学濃度計(TD−904:グレタグマクベス社)を用いて光学濃度を測定した。光学濃度が4.0を超え、測定不能領域の濃度となったものを「○」とし、4.0以下であったものを「×」とした。なお、測定はUVフィルターを用いた。測定結果を表1に示す。
実施例1〜6及び比較例1〜3で得られた光学機器用遮光部材の表面の光沢度(鏡面光沢度)(%)を、JIS Z8741:1997に基づきを測定した。光沢度が10(%)未満であったものを「○」、10(%)以上であったものを「×」とした。測定結果を表1に示す。
実施例1〜6及び比較例1〜3で得られた光学機器用遮光部材を、JIS K7125:1999に基づき荷重200(g)、速度100(mm/min)の条件で静摩擦係数(μs)、動摩擦係数(μk)を測定した。静摩擦係数(μs)が0.35未満のものを「○」、0.35以上のものを「×」とした。また、動摩擦係数(μk)が0.30未満のものを「○」、0.30以上のものを「×」とした。測定結果を表1に示す。
実施例1〜6及び比較例1〜3で得られた光学機器用遮光部材から、幅1.5cm長さ20cmの実施例1〜6及び比較例1〜3のサンプルを採取し、当該サンプルをそれぞれ長さ方向に2周させて円筒状とし、当該サンプルが三重に重ならないようにしてポリエステルテープ(ニチバン社)にて当該円筒状のサンプルの最表面に存在するサンプル端辺が中心になる位置で幅1.5cm長さ1.8cm接着し、幅(高さ)1.5cm、直径約3.2cmの円筒状の実施例1〜6及び比較例1〜3のサンプルを作製した。
実施例1〜6及び比較例1〜3で得られた光学機器用遮光部材をカメラの絞り部材として用い、5千回動作させて当該光学機器用遮光部材の変形或いは破損の有無を目視にて確認した。変形或いは破損がなかったものを「△」とし、変形或いは破損があったものを「×」とした。また、変形或いは破損がなかったものについて、再度2万回動作させ、後に目視にて確認した際にも変形或いは破損がなかったものを「○」とし、さらに2万5千回動作させ、後に目視にて確認した際にも変形或いは破損がなかったものを「◎」とした。測定結果を表1に示す。
基材の一方の面に、上記実施例1〜6及び比較例1〜3の遮光膜が設けられた光学機器用遮光部材を用意した。縦横10cm×10cmに裁断し、80℃、5分の環境に静置し、端部のカール量を測定した。カール量の四隅の合計が、0mm以上〜30mm未満であったものを「○」とし、30mm以上であったものを「×」とした。測定結果を表1に示す。
上記実験例1〜6及び比較例1〜3で得られた光学機器用遮光部材の遮光膜と基材との接着性を、JIS 5600−5−6における碁盤目テープ法に基づき測定して評価した。碁盤目部分の面績が10%以上剥離したものを「×」、5%以上10%未満のものを「△」、5%未満のものを「○」とした。
2・・・上部固定部
3・・・計測部
10・・・測定装置
Claims (3)
- 合成樹脂フィルムからなる基材と、前記基材の少なくとも片面に形成された遮光膜とを含む光学機器用遮光部材であって、
前記遮光膜は、水酸基価が100(mgKOH/g)以上であるバインダー樹脂、カーボンブラック、無機粒子、及び平均粒子径が1〜10μmである樹脂粒子を含有することを特徴とする光学機器用遮光部材。 - 請求項1記載の光学機器用遮光部材において、
前記樹脂粒子は、架橋ポリメチルメタクリレート粒子であることを特徴とする光学機器用遮光部材。 - 請求項1又は2記載の光学機器用遮光部材において、
前記バインダー樹脂100重量部に対し、前記樹脂粒子を20〜150重量部含有させることを特徴とする光学機器用遮光部材。
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