JPWO2005109446A1 - 半導体メモリ装置 - Google Patents
半導体メモリ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2005109446A1 JPWO2005109446A1 JP2006512944A JP2006512944A JPWO2005109446A1 JP WO2005109446 A1 JPWO2005109446 A1 JP WO2005109446A1 JP 2006512944 A JP2006512944 A JP 2006512944A JP 2006512944 A JP2006512944 A JP 2006512944A JP WO2005109446 A1 JPWO2005109446 A1 JP WO2005109446A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- physical block
- error
- correction circuit
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 37
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 88
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 58
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/22—Safety or protection circuits preventing unauthorised or accidental access to memory cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1068—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices in sector programmable memories, e.g. flash disk
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/14—Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits
- G11C16/16—Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits for erasing blocks, e.g. arrays, words, groups
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3418—Disturbance prevention or evaluation; Refreshing of disturbed memory data
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C2029/0409—Online test
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
Description
2 不揮発性メモリ
3 メモリコントローラ
6 メモリアクセス装置
22,32 バッファ
23,33 誤り検出及び訂正回路
25 誤り検出回路
31 ホストインターフェイス部
34 誤り訂正回路
(実施の形態1)
本実施の形態1における半導体メモリ装置の構成を図1に示す。図1の半導体メモリ装置1は大別して不揮発性メモリ2とメモリコントローラ3とを具備している。不揮発性メモリ2は、AND型フラッシュメモリにより構成されている。不揮発性メモリ2は、データ消去の最小単位であり、且つサイズが4kBである物理ブロック21を複数個(物理ブロック0〜物理ブロックM)有している。各物理ブロックは、データ書き込みの最小単位であり、2ページ構成(ページ0、1)となっている。各ページのサイズは2kBである。実施の形態1においては、物理ブロック0のページ0とページ1には既にデータが書き込まれており、それ以外の物理ブロックは何も書かれていない状態、即ち消去状態であるものとする。
次に本実施の形態2の半導体メモリ装置について、図4をもとに説明する。本実施の形態2における半導体メモリ装置の基本構成は図1と同様であるが、実施の形態1に対して、誤り検出能力は同等、誤り訂正能力は実施の形態1より劣る誤り検出及び訂正回路24を不揮発性メモリ2内に有している。さらに、メモリコントローラ3内に、実施の形態1と同等の誤り訂正能力をもつ誤り訂正回路34を有している。誤り訂正回路34は誤り検出機能を有するものとしてもよい。これらの点が実施の形態1と異なる。
次に本実施の形態3の半導体メモリ装置について、図6をもとに説明する。本実施の形態3における半導体メモリ装置の基本構成は実施の形態2と同様であるが、誤り検出回路25のみを不揮発性メモリ2内に有している点が異なる。内部処理のフローに関しては、図2とほぼ同様である。実施の形態2と異なる点は、S111において不揮発性メモリ2内の誤り検出回路25で検出された誤りデータは、すべて、不揮発性メモリ2内のバッファ22を介してメモリコントローラ3に送られる。そして、メモリコントローラ3内の誤り訂正回路34により訂正した後、S113で不揮発性メモリ2内の物理ブロック1のページ1にデータを書き込む。前述したように、誤り訂正回路34は誤り検出機能を含むものとしてもよい。このような構成により、データの信頼性を高めながらも、不揮発性メモリ2内には、誤り検出回路25のみをもつことになり、チップサイズを小さくすることができ、価格も低減することができる。
Claims (3)
- データの最小消去単位であり且つデータ書き込み単位が該最小消去単位より小さい複数の物理ブロックから成る記憶領域と、データの誤り検出及び訂正回路とを有する不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリのデータの書き込み及び読み出しの制御を行うメモリコントローラと、を具備し、
前記メモリコントローラは、前記メモリコントローラが前記不揮発性メモリ内の所定の物理ブロックに記憶されているデータを前記所定の物理ブロックと異なる物理ブロックに転送し書き込むとき、当該物理ブロックのデータに対して前記誤り検出及び訂正回路が誤り検出訂正を行うように制御する半導体メモリ装置。 - データの最小消去単位であり且つデータ書き込み単位が該最小消去単位より小さい複数の物理ブロックから成る記憶領域と、データの誤り検出及び訂正回路とを有する不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリ内の誤り検出及び訂正回路の誤り訂正能力より高い訂正能力をもつ誤り訂正回路を有し、前記不揮発性メモリのデータの書き込み及び読み出しの制御を行うメモリコントローラと、を具備し、
前記メモリコントローラは、前記メモリコンローラが前記不揮発性メモリ内の所定の物理ブロックに記憶されているデータを、前記所定の物理ブロックと異なる物理ブロックに転送し書き込むとき、前記誤り検出及び訂正回路が転送データの誤りの有無を検出し、誤りがある場合に訂正可能か否かを判別し、訂正可能の場合は前記所定の物理ブロックに記憶されているデータに対して誤り訂正を行い、訂正不可能な場合は前記メモリコントローラ内の誤り訂正回路にデータを転送するよう制御し、前記メモリコントローラ内の誤り訂正回路が、転送された前記所定の物理ブロックのデータに対して誤り訂正を行うように制御する半導体メモリ装置。 - データの最小消去単位であり且つデータ書き込み単位が該最小消去単位より小さい複数の物理ブロックから成る記憶領域と、データの誤り検出及び訂正回路とを有する不揮発性メモリと、
誤り訂正回路を有し、前記不揮発性メモリのデータの書き込み及び読み出しの制御を行うメモリコントローラと、を具備し、
前記メモリコンローラは、前記不揮発性メモリ内の所定の物理ブロックに記憶されているデータを、前記所定の物理ブロックと異なる物理ブロックに転送し書き込むとき、前記不揮発性メモリ内の誤り検出回路が転送データの誤りの有無を検出し、誤りがある場合には前記メモリコントローラ内の誤り訂正回路にデータを転送し、前記メモリコントローラ内の誤り訂正回路が、転送された前記所定の物理ブロックのデータに対して誤り訂正を行うように制御する半導体メモリ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006512944A JP4791356B2 (ja) | 2004-05-06 | 2005-04-25 | 半導体メモリ装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004137399 | 2004-05-06 | ||
JP2004137399 | 2004-05-06 | ||
JP2006512944A JP4791356B2 (ja) | 2004-05-06 | 2005-04-25 | 半導体メモリ装置 |
PCT/JP2005/007785 WO2005109446A1 (ja) | 2004-05-06 | 2005-04-25 | 半導体メモリ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2005109446A1 true JPWO2005109446A1 (ja) | 2008-03-21 |
JP4791356B2 JP4791356B2 (ja) | 2011-10-12 |
Family
ID=35320452
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006512944A Active JP4791356B2 (ja) | 2004-05-06 | 2005-04-25 | 半導体メモリ装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7793192B2 (ja) |
JP (1) | JP4791356B2 (ja) |
KR (1) | KR101115843B1 (ja) |
CN (1) | CN100576360C (ja) |
WO (1) | WO2005109446A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7849381B2 (en) * | 2004-12-21 | 2010-12-07 | Sandisk Corporation | Method for copying data in reprogrammable non-volatile memory |
US20090100290A1 (en) * | 2005-08-22 | 2009-04-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Memory controller, nonvolatile memory device, nonvolatile memory system, and data writing method |
JPWO2007049455A1 (ja) * | 2005-10-28 | 2009-04-30 | パナソニック株式会社 | 半導体メモリカード |
WO2007145316A1 (ja) * | 2006-06-15 | 2007-12-21 | Panasonic Corporation | メモリコントローラ、不揮発性記憶装置、及び不揮発性記憶装置システム |
WO2008016081A1 (fr) * | 2006-08-04 | 2008-02-07 | Panasonic Corporation | Contrôleur de mémoire, dispositif de mémoire non-volatile, dispositif d'accès et système de mémoire non-volatile |
JP2008070929A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | メモリコントローラ、不揮発性記憶装置、及び不揮発性記憶システム |
WO2008032711A1 (fr) * | 2006-09-13 | 2008-03-20 | Panasonic Corporation | Contrôleur mémoire, dispositif de stockage non volatil, dispositif d'accès et système de stockage non volatil |
KR100813630B1 (ko) * | 2007-02-07 | 2008-03-14 | 삼성전자주식회사 | 독출 성능을 향상할 수 있는 플래시 메모리 시스템 및그것의 독출 방법 |
TWI447739B (zh) * | 2010-03-22 | 2014-08-01 | Phison Electronics Corp | 錯誤校正方法、記憶體控制器與儲存系統 |
JP4837121B1 (ja) * | 2010-06-23 | 2011-12-14 | 株式会社東芝 | データ記憶装置及びデータ書き込み方法 |
US8184487B2 (en) * | 2010-08-30 | 2012-05-22 | Micron Technology, Inc. | Modified read operation for non-volatile memory |
JP5813450B2 (ja) * | 2011-10-17 | 2015-11-17 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 電子制御装置 |
KR102143517B1 (ko) | 2013-02-26 | 2020-08-12 | 삼성전자 주식회사 | 에러 정정회로를 포함하는 반도체 메모리 장치 및 반도체 메모리 장치의 동작방법 |
KR102474937B1 (ko) * | 2016-03-21 | 2022-12-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 데이터 저장 장치 및 그것의 동작 방법 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003157697A (ja) * | 2001-11-21 | 2003-05-30 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP2003186758A (ja) * | 2001-12-20 | 2003-07-04 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2003242788A (ja) * | 2003-02-10 | 2003-08-29 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体メモリ装置及びその制御方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5603001A (en) * | 1994-05-09 | 1997-02-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor disk system having a plurality of flash memories |
JP4079506B2 (ja) * | 1997-08-08 | 2008-04-23 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリシステムの制御方法 |
US6040997A (en) | 1998-03-25 | 2000-03-21 | Lexar Media, Inc. | Flash memory leveling architecture having no external latch |
JP2001297038A (ja) * | 2000-04-11 | 2001-10-26 | Toshiba Corp | データ記憶装置および記録媒体並びに記録媒体制御方法 |
US6957378B2 (en) * | 2001-06-04 | 2005-10-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device |
US7136986B2 (en) * | 2002-11-29 | 2006-11-14 | Ramos Technology Co., Ltd. | Apparatus and method for controlling flash memories |
US7012835B2 (en) * | 2003-10-03 | 2006-03-14 | Sandisk Corporation | Flash memory data correction and scrub techniques |
-
2005
- 2005-04-25 KR KR1020067023114A patent/KR101115843B1/ko active IP Right Grant
- 2005-04-25 WO PCT/JP2005/007785 patent/WO2005109446A1/ja active Application Filing
- 2005-04-25 JP JP2006512944A patent/JP4791356B2/ja active Active
- 2005-04-25 CN CN200580014359A patent/CN100576360C/zh active Active
- 2005-04-25 US US11/568,470 patent/US7793192B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003157697A (ja) * | 2001-11-21 | 2003-05-30 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP2003186758A (ja) * | 2001-12-20 | 2003-07-04 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2003242788A (ja) * | 2003-02-10 | 2003-08-29 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体メモリ装置及びその制御方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4791356B2 (ja) | 2011-10-12 |
CN100576360C (zh) | 2009-12-30 |
US20070277076A1 (en) | 2007-11-29 |
KR20070010164A (ko) | 2007-01-22 |
WO2005109446A1 (ja) | 2005-11-17 |
KR101115843B1 (ko) | 2012-03-09 |
CN1950910A (zh) | 2007-04-18 |
US7793192B2 (en) | 2010-09-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4791356B2 (ja) | 半導体メモリ装置 | |
US8006030B2 (en) | Memory controller for identifying the last valid page/segment in a physical block of a flash memory | |
US8484409B2 (en) | Nonvolatile memory controller with logical defective cluster table | |
US8031522B2 (en) | Memory system, program method thereof, and computing system including the same | |
US7757041B2 (en) | Storage device using nonvolatile cache memory and control method thereof | |
US20070214309A1 (en) | Nonvolatile storage device and data writing method thereof | |
US20080195800A1 (en) | Flash Memory Device and Flash Memory System Including a Buffer Memory | |
KR20070076849A (ko) | 메모리 카드의 카피백 동작을 수행하는 장치 및 방법 | |
JP2004139503A (ja) | 記憶装置及びその制御方法 | |
KR20140133427A (ko) | 플래시 메모리에 저장된 데이터를 관리하는 방법 및 관련 메모리 장치 및 제어기 | |
US8819332B2 (en) | Nonvolatile storage device performing periodic error correction during successive page copy operations | |
US7941601B2 (en) | Storage device using nonvolatile cache memory and control method thereof | |
JP2007241618A (ja) | 不揮発性記憶装置及びその書き込み判定方法 | |
US20170090768A1 (en) | Storage device that performs error-rate-based data backup | |
JP4308780B2 (ja) | 半導体メモリ装置、メモリコントローラ及びデータ記録方法 | |
JP4731325B2 (ja) | 記録媒体、データ処理装置及びデータ処理方法 | |
JP4661369B2 (ja) | メモリコントローラ | |
JP2005078378A (ja) | データ記憶装置及び不揮発性メモリに対するデータ書き込み方法 | |
US20050204115A1 (en) | Semiconductor memory device, memory controller and data recording method | |
JP4910426B2 (ja) | 不揮発性記憶装置の書込み方法 | |
JP2007280330A (ja) | 不揮発性記憶装置および不揮発性記憶システム | |
JP2006244017A (ja) | データコピー方法 | |
US20070174739A1 (en) | Disk device, method of writing data in disk device, and computer product | |
US20230195384A1 (en) | Solid state storage device and write control method thereof | |
JP2007304920A (ja) | フラッシュメモリ制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101228 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110201 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110712 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110721 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140729 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4791356 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |