JPS6383923A - 光情報記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光ディスクに情報を記録再生する光情報記録再
生装置に係り、特に光ディスクの汚れを検出出来るよう
にした光情報記録再生装置に関す、るものである。

従来の技術 光ディスクに情報を記録する光情報記録再生装置ハ、レ
ーザ光の高収束性とトラックの狭ピッチとによって磁気
ディスクの１０倍以上の高記録密度が得られる。

特に、追記型光ディスクや磁気光学光ディスクは再生専
用のビデオディスクやコンパクトディスクと異なって情
報の記録再生１さらには書き換えが可能な点で注目され
る。第４図は従来の光情報記録再生装置の構成図を示す
ものであり、１は情報を記録する光ディスクである。２
はモータで光ディスク１を回転させる。３は光ヘッドで
、光ディスク１にレーザ光を収束して信号を記録し、記
録された情報を収束レーザ光の反射光の変化として読み
出す。４は光ヘッド３のレーザドライブ部とフォーカス
誤差信号１ｏＯ、トラッキング誤差信号１０１と再生信
号１０２を検出するヘッドアンプ部からなるレーザドラ
イブ・ヘッドアンプ回路である。６は光ヘッド３のアク
チュエータを駆動して収束レーザ光を光ディスク１０案
内トラツクにフォーカスさせるフォーカス制御回路であ
る。

６は光ヘッド３のアクチュエータを駆動して収束レーザ
光を光ディスク１の案内トラックに追従させるトラッキ
ング制御回路である。７は入力データ１０３をディジタ
ル変調し１再生信号１０２を復調し、出力データ１０５
を出力するデータ変調・復調回路である。８は装置のシ
ステム制御を行なう制御用ＣＰＵである。

以上のように構成された従来の光情報記録再生装置にお
いては、定速で回転する光ディスク１の案内トラックに
光ヘッド３から出射されるレーザ光を集光し１　トラッ
クを追従させる。光ヘッド３で検出されたフォーカス誤
差信号１００とトラッキング誤差信号１０１はそれぞれ
フォーカス制御回路６．トラッキング制御回路６に入力
され光ヘッド３のアクチュエータを駆動することによっ
てフォーカス制御とトラッキング制御をかけて案内トラ
ックにフォーカスしたレーザ光を照射する。

データの記録は、入力データ１０３をデータ変調復調回
路子で変調し、記録可能な強度のレーザ光を変調データ
１０４で変調して光ディスク１に照射しておこなう。

データの再生は、記録されないレベルの微弱なレーザ光
を光ディスク１に照射し、収束レーザ光の反射光量を受
光した再生信号１０２をデータ変調復調回路７で復調し
、出力データＩＱ５を出力する。

通常、再生パワーは１！ＩＩＷぐらい、記録パワーは６
〜１ＱｍＷである。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、光ディスク１が１
８ＱＱｒｐｍぐらいで高速回転しているため長時間連続
使用したとき、電気的に絶縁物である樹脂やガラスを基
材とする光ディスク１は帯ｔして１その表面に空気中の
塵埃を吸着する。吸着された塵埃はレーザ光を吸収した
り、散乱して数１０％もの減衰を生じる。このため案内
トラックに蒸着された光感応性部材の記録層で記録レー
ザパワーは１例えば５〜１０ｍＷ必要なものが３〜ｅｓ
ｍｗと大幅に不足してしまい、信号記録が良好に行なえ
ない。

このことは１再生信号の振幅の減少とそれに伴うビット
エラー率の悪化、さらには記録ビットが飽和点まで記録
されていないため環境変化で記録ピントが劣化して寿命
が短かくなるといった問題点を有していた。

問題点を解決するための手段 本発明はレーザ光源からのレーザビームを光ディスクに
集光する光学手段と、前記集光されたレーザビームを光
ディスクの案内トラックにフォーカスする第１のフォー
カス手段と、集光されたレーザビームを光ディスク基材
の表面にフォーカスする第２のフォーカス手段と、光デ
ィスク基材の表面に集光されたレーザビームの反射光か
ら基準値以上の高周波成分を検出する高周波成分検出手
段を備えた光情報記録再生装置である。

作用 本発明は前記した構成により、光ディスク基材の表面に
光ヘッドからのレーザ光をフォーカスして光ディスク基
材の表面からの反射光の高周波成分を抽出し、その出力
レベルで光ディスクの表面の汚れを検出して基準値以上
の高周波成分が有ると光ディスクへの信号記録を防止す
る。

実施例 第１図は本発明の実施例における光情報記録再生装置の
構成図を示すものである。第１図において、１から４，
６から８および１ｏｏから１０６は第４図の同一の番号
と同じものである。９は光ディスク１の案内トラックの
記録層に光ヘッド３のレーザビームを集光するだめの第
１のフォーカス制御回路、１０は光ディスク１０基材表
面に光ヘッド３のレーザビームを集光するための第２の
フォーカス制御回路、１１は第２のフォーカス制御回路
１ｏによって光ディスク１の基材表面にレーザビームを
集光したときの反射光の高周波成分を検出するだめの高
周波成分検出回路である。

以上のように構成された本実施例の光情報記録再生装置
について、以下その動作を説明する。

光ディスク１がモータ２に装着されると、制御用ＣＰＵ
５は第２のフォーカス制御回路１ｏに指令１０６を出力
して光ヘッド３のレーザビームを光ディスク１の基材表
面に集光せしめる。光ディスク１の基材表面に照射され
たレーザビームは、光ディスク１の基材表面で反射され
て光ヘッド３に返ってきてレーザドライブ・ヘッドアン
プ回路４で増幅され、反射光信号１０７として高周波成
分検出回路１１に入力される。反射光信号１０７は１高
周波成分検出回路１１でその高周波成分が抽出されて、
抽出された高周波成分の振幅が基準電圧と比較される。

もし、光ディスク１の基材表面が微小なホコリ等で汚れ
ていれば基材表面に照射された光ヘッド３のレーザビー
ムの反射光には高周波成分が現われてくる。その高周波
成分がある基準値以上になると、汚れ検出信号１０８が
イネーブル状態となる。汚れ検出信号１０Ｂは制御用ｃ
ｐｔｒｓで読み取られ、イネーブル状態が検出されると
この光ディスクへの変調データ１０４の記録を禁止し、
このことをエラー信号１０９としてホスト側に通知する
。

汚れ検出信号１０Ｂがディセーブル状態ならば。

制御用ＣＰＵ５は以降のデータ記録を実行するために第
２のフォーカス制御回路１ｏの指令１０６をオフし１次
に第１のフォーカス制御回路９を指令１１ｏで起動する
。第１のフォーカス制御回路９は、光ヘッド３のレーザ
ビームを光ディスク１の案内トラックの記録層に集光せ
しめ、光ディスク１へのデータの記録あるいは、光ディ
スク１からのデータの再生を可能にする。これらのデー
タ記録、データ再生は第３図で詳述したのとおなじであ
るので省略する。

第２図は光ディスク１の基材表面にレーザビームを集光
した場合のその反射光信号を示すものである。人は光デ
ィスク１の基材の汚れのない場合。

Ｂは基材の汚れのある場合を示す。第２図人においては
、高周波成分はほとんど存在しないが、第２図已におい
ては、基材表面の微小なホコリ等によって反射光が散乱
され、高周波成分が増大する結果となる。レーザビーム
は汚れのある基材表面に集光しているため、反射光の汚
れの有無による差異は数倍と十分大きく１確実に識別可
能となる。

しかし、第１のフォーカス制御回路９を作動させて案内
トラックに集光させたときの反射光量の汚れによる差異
は、高々数１０％と識別に余裕が少なく信頼性が劣る。

第３図は第１図における高周波成分検出回路１１の一構
成例を示すものである。光ディスク１の基材表面に集光
されたレーザビームの反射光１０７はバイパスフィルタ
１２によって反射光の高周波成分だけが抽出され、第２
図Ｂに示すようにその振幅が比較器１３で正及び負方向
の基準電圧１１ｏ及び１１１と比較される。比較器１３
の出力は計数回路１４でカウントされて、基準電圧を越
えるような高周波成分がある一定値以上になると汚れ検
出信号１０８が出力される。ブた、計数回路は計時回路
であってもよく、この場合はある期間内で基準電圧を越
える時間のトータルによって汚れ検出の判断がなされる
。

以上のように本実施例によれば、光ディスクの基材表面
に光ヘッドのレーザビームを集光するフォーカス制御回
路１ｏと基材表面からの反射光の高周波成分を検出する
高周波成分検出回路１１を設けることにより、ポリカー
ボネートやＰＭＭ人などの樹脂あるいはガラスなどの電
気的に絶縁体である、いわゆる誘電体の基材からなる光
ディスクに、回転によって空気と基材の表面の摩擦で帯
電した電荷が空気中に浮遊する塵埃を吸着した汚れを検
出し、記録レーザパワー不足によるトラプルを防止する
ことができる。

また１基材の帯電は空気と基材との摩擦で生じるから周
速度のより速いディスク外周部で塵埃の吸着量が多くな
るため、上記の基材表面での反射光量の検出はディスク
外周部で行なうのがよい。

発明の詳細 な説明したように１本発明によれば、光ディスクの基材
の表面に付いた塵埃などによる汚れを検出することがで
き、その実用的効果は大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の光情報記録再生装置の構成
図、第２図は同実施例−の光ディスク基材表面からの反
射光を示す波形図、第３図は高周波成分検出回路の一構
成図、第４図は従来の光情報記録再生装置の構成図であ
る。 １・・・・・・光ディスク、２・山・・モータ、３・・
・・・・光ヘッド、４・・・・・・レーザドライブ・ヘ
ッドアンプ回路、６・・・・・・フォーカス制御回路、
６・・・・・・トラッキング制御回路、７・・・・・・
データ変調・復調回路、８・・・・・・制御用ＣＰＵ、
９・・・・・・第１のフォーカス制御回路、１０・・・
・・・第２のフォーカス制御回路、１１・・・・・・高
周波成分検出回路、１２・・・・・・バイパスフィルタ
、１３・・・・・・比較器、１４・・・・・・計数回路
、１ｏ７・・・・・・反射光信号、１０８・・・・・・
汚れ検出信号。 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名第１
図 第２図 第３図 第４図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）案内トラックを形成した光ディスクにレーザ光源
   からのレーザビームを集光する光学手段と、前記集光さ
   れたレーザビームを前記案内トラックに集光する第１の
   フォーカス手段と、前記集光されたレーザビームを前記
   光ディスク基材の表面に集光する第２のフォーカス手段
   と、前記光ディスク基材の表面に集光されたレーザビー
   ムの反射光から基準値以上の高周波成分を検出する高周
   波成分検出手段とを有し、前記高周波成分検出手段の出
   力レベルで光ディスクの表面の汚れを検出することを特
   徴とする光情報記録再生装置。
2. （２）第２のフォーカス手段は光ディスクが変換された
   とき起動されることを特徴とする特許請求の範囲第１項
   記載の光情報記録再生装置。
3. （３）第２のフォーカス手段は光ディスクの最外周部で
   起動されることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
   の光情報記録再生装置。
4. （４）高周波成分検出手段がある基準値以上の高周波成
   分を検出した時は、光ディスクへの記録を禁止すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光情報記録再
   生装置。