JPH03125331A - 光記録再生装置 - Google Patents
光記録再生装置Info
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- JPH03125331A JPH03125331A JP1265987A JP26598789A JPH03125331A JP H03125331 A JPH03125331 A JP H03125331A JP 1265987 A JP1265987 A JP 1265987A JP 26598789 A JP26598789 A JP 26598789A JP H03125331 A JPH03125331 A JP H03125331A
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10595—Control of operating function
- G11B11/10597—Adaptations for transducing various formats on the same or different carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、使用する光記録媒体が再生可能かどうかを判
別し、特性の合わない光記録媒体に対して誤って記録・
消去をおこなうことを回避する光記録再生装置に関丈る
ものである。
別し、特性の合わない光記録媒体に対して誤って記録・
消去をおこなうことを回避する光記録再生装置に関丈る
ものである。
従来の光記録再生装置について、ここでは光磁気メモリ
装置を例に挙げて説明する。
装置を例に挙げて説明する。
光磁気メモリ装置の一例として光磁気ディスクメモリ装
置をとりあげ、光記録媒体としての光磁気ディスクに対
する情報の記録、記録された情報の再生、およびその消
去の各動作について第26図ないし第33図に基づいて
説明すると以下のとおりである。
置をとりあげ、光記録媒体としての光磁気ディスクに対
する情報の記録、記録された情報の再生、およびその消
去の各動作について第26図ないし第33図に基づいて
説明すると以下のとおりである。
まず光磁気ディスクへの情報の記録、および光磁気ディ
スクに記録された情報の消去の各動作について第26図
に基づいて説明する。
スクに記録された情報の消去の各動作について第26図
に基づいて説明する。
情報の記録・消去が可能な光記録媒体としての光磁気デ
ィスクは、同図(a)に示すように、ディスク基板28
04上に、成膜された記録磁性膜2805が形成されて
いる。記録磁性膜2805は、磁化容易軸がその膜面に
垂直な方向になるように成膜されており、予め同一の向
き(例えば、同図中の磁化の向きA)にイニシャライズ
されている。さて、半導体レーザ2801から出射され
たレーザビーム2803は対物レンズ2802で1μm
程度の径に集光され、記録磁性膜2805に照射される
。記録すべき情報に対応する記録信号2807 (同図
(b)に示す)に基づいてレーザビーム2803の光強
度の強弱が制御される。
ィスクは、同図(a)に示すように、ディスク基板28
04上に、成膜された記録磁性膜2805が形成されて
いる。記録磁性膜2805は、磁化容易軸がその膜面に
垂直な方向になるように成膜されており、予め同一の向
き(例えば、同図中の磁化の向きA)にイニシャライズ
されている。さて、半導体レーザ2801から出射され
たレーザビーム2803は対物レンズ2802で1μm
程度の径に集光され、記録磁性膜2805に照射される
。記録すべき情報に対応する記録信号2807 (同図
(b)に示す)に基づいてレーザビーム2803の光強
度の強弱が制御される。
光強度の強いレーザビーム2803が照射された部分の
温度は局所的に上昇してキュリー温度を越えると、その
部分の保磁力が著しく低下する。そして、その部分の磁
化の向きは、予め印加されていた外部印加磁場2806
と同一の向き(同図中の磁化の向きB)に反転する。こ
のようにして、記録信号2807と同一の情報が記録磁
性膜2805に記録されることになる。以下、上記のよ
うにして記録された記録部分をマーク2809、そうで
ない部分を非マーク2810と称する。即ち、例えばマ
ーク2809が2値論理の(1)に対応し、非マーク2
810°が2値論理の(0)に対応し、これらにより情
報が構成されている。また、この方法で記録することを
光磁気記録と称する。記録磁性膜2805に記録された
情報の消去は、外部印加磁場28.06の向きを逆にし
て記録時と同様の方法でおこない、磁化の向きを元のイ
ニシャライズ時の向き(即ち、同図中の磁化の向きA)
に戻すことによりおこなわれる。この結果、消去された
部分は非マーク2810となる。
温度は局所的に上昇してキュリー温度を越えると、その
部分の保磁力が著しく低下する。そして、その部分の磁
化の向きは、予め印加されていた外部印加磁場2806
と同一の向き(同図中の磁化の向きB)に反転する。こ
のようにして、記録信号2807と同一の情報が記録磁
性膜2805に記録されることになる。以下、上記のよ
うにして記録された記録部分をマーク2809、そうで
ない部分を非マーク2810と称する。即ち、例えばマ
ーク2809が2値論理の(1)に対応し、非マーク2
810°が2値論理の(0)に対応し、これらにより情
報が構成されている。また、この方法で記録することを
光磁気記録と称する。記録磁性膜2805に記録された
情報の消去は、外部印加磁場28.06の向きを逆にし
て記録時と同様の方法でおこない、磁化の向きを元のイ
ニシャライズ時の向き(即ち、同図中の磁化の向きA)
に戻すことによりおこなわれる。この結果、消去された
部分は非マーク2810となる。
なお、本例ではレーザビーム28o3を記録信号280
7に応じて変調し、一定の強さの外部印加磁場2806
を印加して記録する光変調方式を示したが、その他にこ
れとは逆に、レーザビーム2803の強さを一定にし、
外部印加磁場2806の向きを記録信号28o7に応じ
て変調して記録する磁界変調方式で記録してもよい。
7に応じて変調し、一定の強さの外部印加磁場2806
を印加して記録する光変調方式を示したが、その他にこ
れとは逆に、レーザビーム2803の強さを一定にし、
外部印加磁場2806の向きを記録信号28o7に応じ
て変調して記録する磁界変調方式で記録してもよい。
また、本例のディスク基板2804にはガラス、または
プラスチック等のディスク板が用いられており、第26
図(a)に示すように、トラックやセクタの番地を示す
アドレス情報が、予め物理的な凹凸2808の形状で刻
み込まれて形成されている。この凹凸2808もマーク
、および非マークである。アドレス情報は予め一定のフ
ォーマットで刻み込まれているので、それ以後は記録・
消去の各動作はできないようになっている。予め物理的
な凹凸2808の形状で刻み込まれた部分を以後プリフ
ォーマット部と称する。これに対して情報の記録・消去
の各動作はプリフォーマット部以外の部分でおこなわれ
、この部分をMO(データ)部と称する。通常、このプ
リフォーマット部3003、およびMO(データ)部3
002は、第28図に示すように、渦巻状ま、たは同心
円状のトラック3005上に交互に配置されている。
プラスチック等のディスク板が用いられており、第26
図(a)に示すように、トラックやセクタの番地を示す
アドレス情報が、予め物理的な凹凸2808の形状で刻
み込まれて形成されている。この凹凸2808もマーク
、および非マークである。アドレス情報は予め一定のフ
ォーマットで刻み込まれているので、それ以後は記録・
消去の各動作はできないようになっている。予め物理的
な凹凸2808の形状で刻み込まれた部分を以後プリフ
ォーマット部と称する。これに対して情報の記録・消去
の各動作はプリフォーマット部以外の部分でおこなわれ
、この部分をMO(データ)部と称する。通常、このプ
リフォーマット部3003、およびMO(データ)部3
002は、第28図に示すように、渦巻状ま、たは同心
円状のトラック3005上に交互に配置されている。
プリフォーマット部3003とMO(データ)部300
2とが一対でひとつのセクタ3004を構成している。
2とが一対でひとつのセクタ3004を構成している。
光磁気ディスク3001はトラック3005上に、それ
ぞれアドレス(番地)情報を含んだ多数のセクタを含む
構成となっている。情報の記録・再生・消去の各動作は
、セクタ単位ごとにおこなわれる。また、第29図に示
すように、上記トラック3005上のプリフォーマット
部3003にマーク2808が予め刻み込まれていると
ともに、MO(データ)部3002に光磁気記録による
マーク2809が記録されることになる。
ぞれアドレス(番地)情報を含んだ多数のセクタを含む
構成となっている。情報の記録・再生・消去の各動作は
、セクタ単位ごとにおこなわれる。また、第29図に示
すように、上記トラック3005上のプリフォーマット
部3003にマーク2808が予め刻み込まれていると
ともに、MO(データ)部3002に光磁気記録による
マーク2809が記録されることになる。
光磁気ディスクの再生動作を第27図に基づいて以下に
説明する。
説明する。
同図(a)に示すように、半導体レーザ2801から出
射され、対物レンズ2802で1μm程度の径に集光さ
れたレーザビーム2803は、記録磁性膜2805に照
射される。ただし、レーザビーム2803は直線偏光さ
れており、レーザビーム2803の光強度は記録・消去
の各動作時よりも弱くしである。直線偏光されたレーザ
ビーム2803の光磁気ディスク3001からの反射光
は、記録磁性膜2805を通過、および反射する際にフ
ァラデー効果、およびカー効果によってその偏光面が回
転する。この回転方向は、マーク2809と非マーク2
810とでは、互いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回
転する。この偏光方向の違いを検出することにより再生
をおこない、同図(b)(c)に示すような再生信号S
1、S2が生成される。
射され、対物レンズ2802で1μm程度の径に集光さ
れたレーザビーム2803は、記録磁性膜2805に照
射される。ただし、レーザビーム2803は直線偏光さ
れており、レーザビーム2803の光強度は記録・消去
の各動作時よりも弱くしである。直線偏光されたレーザ
ビーム2803の光磁気ディスク3001からの反射光
は、記録磁性膜2805を通過、および反射する際にフ
ァラデー効果、およびカー効果によってその偏光面が回
転する。この回転方向は、マーク2809と非マーク2
810とでは、互いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回
転する。この偏光方向の違いを検出することにより再生
をおこない、同図(b)(c)に示すような再生信号S
1、S2が生成される。
第30図は再生光学系の構成の要部を示すものであり、
同図に基づいて上記再生信号S1、S2の分離を以下に
説明する。
同図に基づいて上記再生信号S1、S2の分離を以下に
説明する。
反射光3201はPBS (検光子)3202に入射さ
れ、2つの検波光3210.3211がそれぞれの偏光
方向ごとに光検出器3203.3204に導かれる。そ
して、光検出器3203.3204においてそれぞれ光
強度に応じて変化する電気信号に変換され、再生信号S
1、S2として出力される。従って、再生信号SL、S
2からマーク2809と非マーク281oとが分離して
読み出せるので、記録磁性膜28o5に記録された情報
の再生をおこなうことができる。
れ、2つの検波光3210.3211がそれぞれの偏光
方向ごとに光検出器3203.3204に導かれる。そ
して、光検出器3203.3204においてそれぞれ光
強度に応じて変化する電気信号に変換され、再生信号S
1、S2として出力される。従って、再生信号SL、S
2からマーク2809と非マーク281oとが分離して
読み出せるので、記録磁性膜28o5に記録された情報
の再生をおこなうことができる。
第31図に基づいて光磁気記録されたMO(データ)部
3002を再生した時に分離される再生信号SL、S2
の極性について以下に説明する。
3002を再生した時に分離される再生信号SL、S2
の極性について以下に説明する。
光磁気記録による非マーク2810 (磁化の向きA)
からの反射光ベクトルをα、マーク2809(磁化の向
きB)からの反射光ベクトルをβとすると、αとβとは
互いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回転した反射光ベ
クトルである。反射光ベクトルα、βは、検光子(PB
S)3202におけるふたつの偏光方向X、Yへそれぞ
れ検波される。このふたつの偏光方向X、Yは互いに直
角な関係にある。反射光ベクトルα、βを偏光方向X、
Yにそれぞれ投影した検波光ベクトルα8、β7の大き
さが再生信号S1および再生信号s2に対応している。
からの反射光ベクトルをα、マーク2809(磁化の向
きB)からの反射光ベクトルをβとすると、αとβとは
互いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回転した反射光ベ
クトルである。反射光ベクトルα、βは、検光子(PB
S)3202におけるふたつの偏光方向X、Yへそれぞ
れ検波される。このふたつの偏光方向X、Yは互いに直
角な関係にある。反射光ベクトルα、βを偏光方向X、
Yにそれぞれ投影した検波光ベクトルα8、β7の大き
さが再生信号S1および再生信号s2に対応している。
さらに検波光ベクトルα8、β7は、第30図の検波光
321o、3211にそれぞれ対応している。第31図
に示すように、再生信号SLは非マーク281oに対し
てハイレベル、マーク2809に対してはローレベルが
対応している。また、再生信号s2は非マーク281o
に対°シてローレベル、マーク2809に対してはハイ
レベルが対応しており、再生信号S1とは逆極性となっ
ている。そして、再生信号S1、S2は、S/N比を向
上させるために差動増幅器に入力され、差動増幅されて
情報の再生がおこなわれるようになっている。
321o、3211にそれぞれ対応している。第31図
に示すように、再生信号SLは非マーク281oに対し
てハイレベル、マーク2809に対してはローレベルが
対応している。また、再生信号s2は非マーク281o
に対°シてローレベル、マーク2809に対してはハイ
レベルが対応しており、再生信号S1とは逆極性となっ
ている。そして、再生信号S1、S2は、S/N比を向
上させるために差動増幅器に入力され、差動増幅されて
情報の再生がおこなわれるようになっている。
次に、第32図に基づいて物理的な凹凸2808で刻み
込まれたプリフォーマット部3003を再生したときの
再生信号S1、S2の極性について以下に説明する。
込まれたプリフォーマット部3003を再生したときの
再生信号S1、S2の極性について以下に説明する。
プリフォーマット部3003は記録・消去の各動作がお
こなわれないので、磁化の向きはAのみである。この部
分では、凹凸2808の形状によりレーザビームの回折
が生じる。従って、同図に示すように、反射光ベクトル
は凹凸2808に応じてそれぞれ長い反射光ベクトルα
(凹凸の非マークの再生に対応する)、および短い反射
光ベクトルT(凹凸のマークの再生に対応する)となる
。これを検光子(PBS3202)の偏光方向X、Yに
投影すると検波光ベクトルα8、T7がそれぞれ得られ
る。検波光ベクトルα8、γ7の大きさが再生信号S1
、S2に対応している。再生信号Slおよび再生信号S
2はともに、凹凸2808の非マークに対してハイレベ
ル、マークに対してローレベルに対応している。従って
、この再生信号S1、S2は第31図に示した光磁気記
録のマーク2809、非マーク281oのものとは異な
り、極性が同じものとなる。即ち、第27図に示すよう
に、再生信号Sl、32はプリフォーマット部3003
において極性が同じであり、MO(データ)部3002
においては互いに極性が反転した信号になる。
こなわれないので、磁化の向きはAのみである。この部
分では、凹凸2808の形状によりレーザビームの回折
が生じる。従って、同図に示すように、反射光ベクトル
は凹凸2808に応じてそれぞれ長い反射光ベクトルα
(凹凸の非マークの再生に対応する)、および短い反射
光ベクトルT(凹凸のマークの再生に対応する)となる
。これを検光子(PBS3202)の偏光方向X、Yに
投影すると検波光ベクトルα8、T7がそれぞれ得られ
る。検波光ベクトルα8、γ7の大きさが再生信号S1
、S2に対応している。再生信号Slおよび再生信号S
2はともに、凹凸2808の非マークに対してハイレベ
ル、マークに対してローレベルに対応している。従って
、この再生信号S1、S2は第31図に示した光磁気記
録のマーク2809、非マーク281oのものとは異な
り、極性が同じものとなる。即ち、第27図に示すよう
に、再生信号Sl、32はプリフォーマット部3003
において極性が同じであり、MO(データ)部3002
においては互いに極性が反転した信号になる。
第33図に基づいて光磁気ディスクメモリ装置における
再生回路について以下に説明する。
再生回路について以下に説明する。
第33図において再生信号Sl、S2は再生回路350
1に入力され、2値化された出力信号3510がアドレ
ス発生回路35o2、およびタイミング発生回路35o
3に入力される。アドレス発生回路35o2において第
28図に示したセクタ単位のプリフォーマット部300
3に含まれるアドレス(番地)情報が出力信号3510
から読み出され、アドレス信号3511が出力される。
1に入力され、2値化された出力信号3510がアドレ
ス発生回路35o2、およびタイミング発生回路35o
3に入力される。アドレス発生回路35o2において第
28図に示したセクタ単位のプリフォーマット部300
3に含まれるアドレス(番地)情報が出力信号3510
から読み出され、アドレス信号3511が出力される。
また、タイミング発生回路3503においては同じくプ
リフォーマット部に含まれるセクタ同期用のセクタマー
クが検出され、記録・再生・消去基準タイミング信号3
512が出力される。光磁気ディスクメモリ装置におい
て、このアドレス信号3511と記録・再生・消去基準
タイミング信号3512とに基づいて、所望のアドレス
のセクタに情報の記録・再生・消去をおこなうようにな
っている。
リフォーマット部に含まれるセクタ同期用のセクタマー
クが検出され、記録・再生・消去基準タイミング信号3
512が出力される。光磁気ディスクメモリ装置におい
て、このアドレス信号3511と記録・再生・消去基準
タイミング信号3512とに基づいて、所望のアドレス
のセクタに情報の記録・再生・消去をおこなうようにな
っている。
しかし、上記従来の構成では、光磁気記録された光磁気
ディスクは、例えば装置が異なったり、あるいは光磁気
ディスクそのものの特性(例えば反射率や透過率など)
が異なってい、る場合には再生ができないこともある。
ディスクは、例えば装置が異なったり、あるいは光磁気
ディスクそのものの特性(例えば反射率や透過率など)
が異なってい、る場合には再生ができないこともある。
また、誤って再生時の光量を記録・消去時の光量にした
場合などには、そこに記録された情報の消去、ひいては
光磁気ディスクそのものが破壊されるに至り、信頼性が
低下する等の問題点を有している。
場合などには、そこに記録された情報の消去、ひいては
光磁気ディスクそのものが破壊されるに至り、信頼性が
低下する等の問題点を有している。
本発明に係る光記録再生装置は、上記の課題を解決する
ために、再生回路内に再生信号振幅に対応するAGC電
圧を出力するAGC回路を備えた光記録再生装置におい
て、光記録媒体が装置に装着された際に、上記AGC回
路からの記録された情報に対応するAGC電圧が記録、
消去、または再生可能範囲内にあるかどうかを判別し、
記録、消去、または再生可能範囲内にある時には該光記
録媒体に対して情報の記録、再生、および消去の各動作
をおこない、記録、消去、または再生可能範囲内にない
時には該光記録媒体をイジェクトしてその旨を示す警報
表示出力を出力するとともに、AGC電圧の値に基づい
て記録、消去、または再生の各条件を光記録媒体ごとに
設定する制御手段を備えたことを特徴としている。
ために、再生回路内に再生信号振幅に対応するAGC電
圧を出力するAGC回路を備えた光記録再生装置におい
て、光記録媒体が装置に装着された際に、上記AGC回
路からの記録された情報に対応するAGC電圧が記録、
消去、または再生可能範囲内にあるかどうかを判別し、
記録、消去、または再生可能範囲内にある時には該光記
録媒体に対して情報の記録、再生、および消去の各動作
をおこない、記録、消去、または再生可能範囲内にない
時には該光記録媒体をイジェクトしてその旨を示す警報
表示出力を出力するとともに、AGC電圧の値に基づい
て記録、消去、または再生の各条件を光記録媒体ごとに
設定する制御手段を備えたことを特徴としている。
上記の構成によれば、光記録再生装置の再生回路に既設
のAGC回路を利用するので、別途回路を設ける必要が
なく、しかも情報を再生する前に使用する光記録媒体の
特性を判別することができる。即ち、AGC回路の出力
であるAGC電圧は、再生信号振幅をそのまま表しては
いないが、再生信号振幅に対応して単調増加、または単
調減少する。さらに、上記AGC電圧は使用する光記録
媒体の反射率等の特性に対応して単調増加、または単調
減少する。従って、光記録媒体を装置に装着した際、得
られたAGC電圧が、予め設定された記録、消去、また
は、再生可能範囲内にあるかどうかを制御手段が判別し
、処理することによって、該光記録媒体に対する情報の
誤った記録・消去を未然に回避することができる。例え
ば、AGC電圧が、上記の記録、消去、または、再生可
能範囲内にある時には、該光記録媒体に対して情報の記
録、再生、および消去の各動作をおこない、記録、消去
、または再生可能範囲内にない時には該光記録媒体をイ
ジェクトしてその旨を示す警報表示出力を出力すること
によって、システムの信頼性を向上させることができる
。また、上記のAGC電圧の値に基づいて、再生時の光
量や、記録、消去時の光量などの条件も装着された光記
録媒体ごとに設定されるので、システムの信頼性を向上
させることができる。
のAGC回路を利用するので、別途回路を設ける必要が
なく、しかも情報を再生する前に使用する光記録媒体の
特性を判別することができる。即ち、AGC回路の出力
であるAGC電圧は、再生信号振幅をそのまま表しては
いないが、再生信号振幅に対応して単調増加、または単
調減少する。さらに、上記AGC電圧は使用する光記録
媒体の反射率等の特性に対応して単調増加、または単調
減少する。従って、光記録媒体を装置に装着した際、得
られたAGC電圧が、予め設定された記録、消去、また
は、再生可能範囲内にあるかどうかを制御手段が判別し
、処理することによって、該光記録媒体に対する情報の
誤った記録・消去を未然に回避することができる。例え
ば、AGC電圧が、上記の記録、消去、または、再生可
能範囲内にある時には、該光記録媒体に対して情報の記
録、再生、および消去の各動作をおこない、記録、消去
、または再生可能範囲内にない時には該光記録媒体をイ
ジェクトしてその旨を示す警報表示出力を出力すること
によって、システムの信頼性を向上させることができる
。また、上記のAGC電圧の値に基づいて、再生時の光
量や、記録、消去時の光量などの条件も装着された光記
録媒体ごとに設定されるので、システムの信頼性を向上
させることができる。
本発明の一実施例を第1図ないし第25図に基づいて説
明すれば、以下のとおりである。
明すれば、以下のとおりである。
まず、本発明に係る光記録再生装置として光磁気メモリ
装置について第10図ないし第18図に基づいて以下に
説明する。
装置について第10図ないし第18図に基づいて以下に
説明する。
第10図は、光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図
である。光記録媒体としての光磁気ディスク1201は
スピンドルモータ1202によって回転され、光ヘッド
1203から出射されたレーザビーム1204によって
情報の記録・再生・消去がおこなわれる。この時、外部
印加磁石1205をモータ等で回転させて磁場の向きを
反転させることよって記録・消去のための外部印加磁場
を得る。また、電磁石により記録・消去のための外部印
加磁場を得てもよい。光ヘッド12o3内の半導体レー
ザ(同図中には図示しない)へは、記録回路1206か
ら半導体レーザ駆動電流1210が入力される。同駆動
電流1210によって半導体レーザの光強度が適切に制
御されるとともに、記録情報が光磁気ディスク1201
に記録される。光ヘッド1203からは再生回路120
7へ再生信号1211 (再生信号S1、S2)が出力
される。再生回路1207において再生された再生デー
タ1212はコントローラ1208へ送られる。コント
ローラ1208では、再生データ1212に基づいて各
種の制御信号のタイミングをとるとともに、入力される
信号の状態に基づく制御信号を出力するようになってい
る。即ち、コントローラ1208からは各種制御信号1
213が記録回路1206、および再生回路12o7へ
送られる。また、コントローラ12o8がら磁場制御信
号1214が外部印加磁石12o5へ伝送され、外部印
加磁場の向きが制御される。
である。光記録媒体としての光磁気ディスク1201は
スピンドルモータ1202によって回転され、光ヘッド
1203から出射されたレーザビーム1204によって
情報の記録・再生・消去がおこなわれる。この時、外部
印加磁石1205をモータ等で回転させて磁場の向きを
反転させることよって記録・消去のための外部印加磁場
を得る。また、電磁石により記録・消去のための外部印
加磁場を得てもよい。光ヘッド12o3内の半導体レー
ザ(同図中には図示しない)へは、記録回路1206か
ら半導体レーザ駆動電流1210が入力される。同駆動
電流1210によって半導体レーザの光強度が適切に制
御されるとともに、記録情報が光磁気ディスク1201
に記録される。光ヘッド1203からは再生回路120
7へ再生信号1211 (再生信号S1、S2)が出力
される。再生回路1207において再生された再生デー
タ1212はコントローラ1208へ送られる。コント
ローラ1208では、再生データ1212に基づいて各
種の制御信号のタイミングをとるとともに、入力される
信号の状態に基づく制御信号を出力するようになってい
る。即ち、コントローラ1208からは各種制御信号1
213が記録回路1206、および再生回路12o7へ
送られる。また、コントローラ12o8がら磁場制御信
号1214が外部印加磁石12o5へ伝送され、外部印
加磁場の向きが制御される。
第11図に基づいて上記記録回路1206について以下
に説明する。
に説明する。
コントローラ1208 (同図中には図示しない)から
送られた記録データ1311は記録回路1206内の変
調回路1302に入力される。変調回路1302では、
記録データ1311が、制御信号1213によって記録
フォーマットに応じた変調データ1310に変換される
。この変調は、例えば第14図に示すような変調方式(
後述する)に従っておこなわれる。変調データ1310
は、半導体レーザ駆動回路1301へ出力される。
送られた記録データ1311は記録回路1206内の変
調回路1302に入力される。変調回路1302では、
記録データ1311が、制御信号1213によって記録
フォーマットに応じた変調データ1310に変換される
。この変調は、例えば第14図に示すような変調方式(
後述する)に従っておこなわれる。変調データ1310
は、半導体レーザ駆動回路1301へ出力される。
半導体レーザ駆動回路1301からは半導体レーザ駆動
電流1210が出力され、光ヘツド1203内の半導体
レーザ2801へ伝送される。これと同時に、半導体レ
ーザ駆動回路1301へはコントローラ1208からの
制御信号1213が入力され、半導体レーザ2801の
光強度が記録、再生、および消去の各動作に応じて適切
に制御される。
電流1210が出力され、光ヘツド1203内の半導体
レーザ2801へ伝送される。これと同時に、半導体レ
ーザ駆動回路1301へはコントローラ1208からの
制御信号1213が入力され、半導体レーザ2801の
光強度が記録、再生、および消去の各動作に応じて適切
に制御される。
第12図に基づいて上記再生回路1207について以下
に説明する。
に説明する。
光ヘッド1203 (同図中には図示しない)がらの再
生信号1211 (再生信号S1、S2)は、再生回路
1207内の信号処理回路1401に入力される。信号
処理回路1401からは、同期データ1410が復調回
路1402へ送られ、同時にセクタマーク信号1411
がコントローラ1208へ伝送される。同期データ14
10の復調は、第14図に示すような方式(後述する)
に従っておこなわれる。つまり、第11図に示す変調回
路1302とは逆の変換をおこなうことによって復調さ
れる。信号処理回路1401、復調回路1402へはコ
ントローラ1208から各種制御信号1213が伝送さ
れる。復調回路14o2がらは再生データ1212がコ
ントローラ1208へ出力される。
生信号1211 (再生信号S1、S2)は、再生回路
1207内の信号処理回路1401に入力される。信号
処理回路1401からは、同期データ1410が復調回
路1402へ送られ、同時にセクタマーク信号1411
がコントローラ1208へ伝送される。同期データ14
10の復調は、第14図に示すような方式(後述する)
に従っておこなわれる。つまり、第11図に示す変調回
路1302とは逆の変換をおこなうことによって復調さ
れる。信号処理回路1401、復調回路1402へはコ
ントローラ1208から各種制御信号1213が伝送さ
れる。復調回路14o2がらは再生データ1212がコ
ントローラ1208へ出力される。
第13図に基づいて上記コントローラ1208について
以下に説明する。
以下に説明する。
上述の信号処理回路14o1がらのセクタマーク信号1
411は、コントローラ1208内のタイミング発生回
路15o1に入力され、セクタ単位のタイミングで基準
タイミング信号151oがコントロール回路1502へ
伝送される。また、上述の復調回路1402からの再生
データ1212がコントロール回路1502に入力され
る。コントロール回路1502では、上記2つの入力信
号から各種制御信号1213が生成されるとともに、外
部装置との情報の入出力がおこなわれるようになってい
る。
411は、コントローラ1208内のタイミング発生回
路15o1に入力され、セクタ単位のタイミングで基準
タイミング信号151oがコントロール回路1502へ
伝送される。また、上述の復調回路1402からの再生
データ1212がコントロール回路1502に入力され
る。コントロール回路1502では、上記2つの入力信
号から各種制御信号1213が生成されるとともに、外
部装置との情報の入出力がおこなわれるようになってい
る。
次に、第14図ないし第18図に基づいて、第11図に
示した記録回路1206の動作を以下に説明する。
示した記録回路1206の動作を以下に説明する。
第11図における変調回路1302では、例えば第14
図に示す変調方式に基づいて変調がおこなわれる。これ
は、所謂、2,7変調力式と呼ばれるものである。第1
4図に示すように、入力データ(記録情報)は所定の変
調データのパターンに変換される。さらに、第15図に
示すフォーマットに従って適切なタイミングで、変調デ
ータ1310を第11図に示した半導体レーザ駆動回路
1301へ出力する。第15図は、第28図に示したセ
クタ3004のフォーマットを示すもので以後セクタフ
ォーマットと称する。第15図においてプリフォーマッ
ト部3003は、セクタ単位の同期タイミングを得るた
めのセクタマーク部1701と、セクタのアドレス(番
地)情報を含んだ10部1702とから構成される。こ
れらは第28図に示したように、記録・消去できないマ
ーク、および非マークに対応する物理的な凹凸が光磁気
ディスク1201に刻み込まれている。MO(データ)
部3002は、情報データを記録・再生・消去するだめ
のデータ部1703と、ふたつのギャップ部1704.
1705とから構成されている。データ部1703に上
記変調データ1310が記録される。この時の記録は、
第26図または第27図に示したように、光磁気記録に
よるマーク、および非マークでおこなわれる。なお、プ
リフォーマット部3003とMOl(データ)部300
2との間に配置されたギャップ部17041705は、
データ部1703に情報を記録する際の余裕領域である
。つまり、これらのギャップ部1704.1705は、
スピンドルモータ1202の回転と上記セクタ単位の同
期タイミングとの間に発生する位相誤差などによって、
記録開始位置、および記録終了位置が前後にずれるため
、これを見込んだ領域である。
図に示す変調方式に基づいて変調がおこなわれる。これ
は、所謂、2,7変調力式と呼ばれるものである。第1
4図に示すように、入力データ(記録情報)は所定の変
調データのパターンに変換される。さらに、第15図に
示すフォーマットに従って適切なタイミングで、変調デ
ータ1310を第11図に示した半導体レーザ駆動回路
1301へ出力する。第15図は、第28図に示したセ
クタ3004のフォーマットを示すもので以後セクタフ
ォーマットと称する。第15図においてプリフォーマッ
ト部3003は、セクタ単位の同期タイミングを得るた
めのセクタマーク部1701と、セクタのアドレス(番
地)情報を含んだ10部1702とから構成される。こ
れらは第28図に示したように、記録・消去できないマ
ーク、および非マークに対応する物理的な凹凸が光磁気
ディスク1201に刻み込まれている。MO(データ)
部3002は、情報データを記録・再生・消去するだめ
のデータ部1703と、ふたつのギャップ部1704.
1705とから構成されている。データ部1703に上
記変調データ1310が記録される。この時の記録は、
第26図または第27図に示したように、光磁気記録に
よるマーク、および非マークでおこなわれる。なお、プ
リフォーマット部3003とMOl(データ)部300
2との間に配置されたギャップ部17041705は、
データ部1703に情報を記録する際の余裕領域である
。つまり、これらのギャップ部1704.1705は、
スピンドルモータ1202の回転と上記セクタ単位の同
期タイミングとの間に発生する位相誤差などによって、
記録開始位置、および記録終了位置が前後にずれるため
、これを見込んだ領域である。
第16図に基づいて上記半導体レーザ駆動回路1301
について以下に説明する。
について以下に説明する。
半導体レーザ駆動回路1301とコントローラ1208
との間では4つの各種制御信号1810〜1813が入
出力される。また、変調回路1302(同図中には図示
しない)からは変調データ1310が半導体レーザ駆動
回路1301に入力される。上記の再生光量制御信号1
810は、再生光量制御回路1801に入力され、再生
時に光ヘツド1203内の半導体レーザ2801の再生
光量が適切に制御Ilされるようになっている。記録・
消去光量制御信号1811は、記録・消去光量制御回路
1803に入力され、記録時・消去時に対応する半導体
レーザ2801の光量が制御されるようになっている。
との間では4つの各種制御信号1810〜1813が入
出力される。また、変調回路1302(同図中には図示
しない)からは変調データ1310が半導体レーザ駆動
回路1301に入力される。上記の再生光量制御信号1
810は、再生光量制御回路1801に入力され、再生
時に光ヘツド1203内の半導体レーザ2801の再生
光量が適切に制御Ilされるようになっている。記録・
消去光量制御信号1811は、記録・消去光量制御回路
1803に入力され、記録時・消去時に対応する半導体
レーザ2801の光量が制御されるようになっている。
高周波重畳スイッチ信号1812は、高周波重畳回路1
802に入力され、半導体レーザ2801の戻り光によ
るノイズカベ低減される。再生光量制御回路1801、
記録・消去光量制御回路1803、高周波数重畳回路1
802の各出力信号1814.1815、および181
6は、加算回路1805で加算され、半導体レーザ駆動
電流1210が半導体レーザ2801に入力される。半
導体レーザ2801の光量(光強度)は、光ヘツド12
03内の光検出器1806によってその光強度に応じて
変化する電気信号に変換され、光量モニター回路180
4を介して光量モニター信号1813がコントローラ1
208(同図中には図示しない)へ伝送されるようにな
っている。コントローラ1208では、光量モニター信
号1813に基づいて、上記3つの信号1810〜18
12が出力される。つまり、半導体レーザ2801の光
強度(光量)が再生時と、記録・消去時とで適切な強度
になるように制御される。なお、高周波重畳回路180
2の出力信号1816は再生時にのみ加算回路1805
へ出力されるようになっている。
802に入力され、半導体レーザ2801の戻り光によ
るノイズカベ低減される。再生光量制御回路1801、
記録・消去光量制御回路1803、高周波数重畳回路1
802の各出力信号1814.1815、および181
6は、加算回路1805で加算され、半導体レーザ駆動
電流1210が半導体レーザ2801に入力される。半
導体レーザ2801の光量(光強度)は、光ヘツド12
03内の光検出器1806によってその光強度に応じて
変化する電気信号に変換され、光量モニター回路180
4を介して光量モニター信号1813がコントローラ1
208(同図中には図示しない)へ伝送されるようにな
っている。コントローラ1208では、光量モニター信
号1813に基づいて、上記3つの信号1810〜18
12が出力される。つまり、半導体レーザ2801の光
強度(光量)が再生時と、記録・消去時とで適切な強度
になるように制御される。なお、高周波重畳回路180
2の出力信号1816は再生時にのみ加算回路1805
へ出力されるようになっている。
第17図、および第18図に基づいて、第16図におけ
る情報の記録・消去の各動作、および再生動作を以下に
説明する。
る情報の記録・消去の各動作、および再生動作を以下に
説明する。
第17図(b)に示すように、情報の記録、消去時には
、高周波重畳スイッチ信号1812は、データ部170
3 (同図(a)参照)においてローレベル(0)にな
り、それ以外ではハイレベル(1)になる。即ち、MO
(データ)部3002内のデータ部1703において高
周波重畳をオフし、データ部1703以外ではオンする
ようになっている。これに伴って、同図(C)に示すよ
うに、変調データ1310はデータ部1703において
光磁気記録される。この時、同図(d)に示すように、
半導体レーザ2801の光量レベル(光強度)1910
はデータ部1703で高レベルになり、それ以外では低
レベルになる。つまり、ブリフォーマント部3003内
のセクタマーク部1701からセクタ同期タイミングを
検出し、10部1702からアドレス(番地)情報等を
読み出して、所定のアドレス(番地)を確認しながら、
MO(データ)部3002において情報が記録・消去さ
れる。
、高周波重畳スイッチ信号1812は、データ部170
3 (同図(a)参照)においてローレベル(0)にな
り、それ以外ではハイレベル(1)になる。即ち、MO
(データ)部3002内のデータ部1703において高
周波重畳をオフし、データ部1703以外ではオンする
ようになっている。これに伴って、同図(C)に示すよ
うに、変調データ1310はデータ部1703において
光磁気記録される。この時、同図(d)に示すように、
半導体レーザ2801の光量レベル(光強度)1910
はデータ部1703で高レベルになり、それ以外では低
レベルになる。つまり、ブリフォーマント部3003内
のセクタマーク部1701からセクタ同期タイミングを
検出し、10部1702からアドレス(番地)情報等を
読み出して、所定のアドレス(番地)を確認しながら、
MO(データ)部3002において情報が記録・消去さ
れる。
一方、情報再生時には、第18図(b)に示すように、
プリフォーマット部3003、およびMO(データ)部
3002のいずれの部分でも高周波重畳スイッチ信号1
812はハイレベル(1)である。また、同図(c)に
示すように、変調デーI’ 1310はローレベル(0
)である。さらに、同図(d)に示すように、光量レベ
ル1910は低レベルである。つまり、プリフォーマッ
ト部3003 (同図(a)を参照)内のセクタマーク
部1701からセクタ同期タイミングを検出し、ID部
部子702らアドレス(番地)情報等を読み出して、所
定のアドレス(番地)を逐次確認しながら、今度はMO
(データ)部3002から記録された情報が再生される
。
プリフォーマット部3003、およびMO(データ)部
3002のいずれの部分でも高周波重畳スイッチ信号1
812はハイレベル(1)である。また、同図(c)に
示すように、変調デーI’ 1310はローレベル(0
)である。さらに、同図(d)に示すように、光量レベ
ル1910は低レベルである。つまり、プリフォーマッ
ト部3003 (同図(a)を参照)内のセクタマーク
部1701からセクタ同期タイミングを検出し、ID部
部子702らアドレス(番地)情報等を読み出して、所
定のアドレス(番地)を逐次確認しながら、今度はMO
(データ)部3002から記録された情報が再生される
。
次に、第19図ないし第22図に基づいて第13図に示
したタイミング発生回路1501、およびコントロール
回路1502の動作について以下に説明する。
したタイミング発生回路1501、およびコントロール
回路1502の動作について以下に説明する。
第19図はタイミング発生回路1501の構成を示すブ
ロック図であり、信号処理回路1401(同図中に図示
しない)から出力されたセクタマーク信号1411はタ
イミング発生回路1501内のセクタマーク検出回路2
101に入力される。同回路2101は、セクタマーク
検出信号2110を出力する。セクタマーク検出回路2
101では、セクタマークの有無が検出される。セクタ
マーク検出信号2110は、カウンタ2102、タイマ
ー回路2104、判定回路2106へそれぞれ伝送され
る。カウンタ2102、およびタイマー回路2104の
出力信号2111、および2112は、それぞれスイッ
チ回路2103に入力され、同回路2103でどちらか
一方が選択された後に基準タイミング信号1510とし
て出力される。また、同信号1510は、データ部発生
回路2107にも入力され、これに基づいてデータ部発
生信号2116が出力される。タイマー回路2104か
らは、別の出力信号2113がウィンドウ発生回路21
05へ伝送される。同回路2105の出力信号であるウ
ィンドウ信号2114は、判定回路2106へ人力され
る。判定回路2106では、ウィンドウ信号2114と
セクタマーク検出信号2110とから、タイミング判定
信号2115が出力される。同判定信号2115により
、スイッチ回路2103では、カウンタ2102の出力
信号2111とタイマー回路2104の出力信号211
2とのどちらか一方が選択される。基準タイミング信号
1510、データ部発生信号2116、およびタイミン
グ判定信号2115は、それぞれコントロール回路15
02 (第13図参照)へ伝送される。コントロール回
路1502は、これらのタイミング発生回路1501か
ら出力される各種信号と、再生データ1212とに基づ
いて、前述した各種制御信号1213を記録回路120
6、および再生回路1gO7(第10図参照)へ伝送し
、情報の記録・再生・消去の各制御をおこなうようにな
っている。
ロック図であり、信号処理回路1401(同図中に図示
しない)から出力されたセクタマーク信号1411はタ
イミング発生回路1501内のセクタマーク検出回路2
101に入力される。同回路2101は、セクタマーク
検出信号2110を出力する。セクタマーク検出回路2
101では、セクタマークの有無が検出される。セクタ
マーク検出信号2110は、カウンタ2102、タイマ
ー回路2104、判定回路2106へそれぞれ伝送され
る。カウンタ2102、およびタイマー回路2104の
出力信号2111、および2112は、それぞれスイッ
チ回路2103に入力され、同回路2103でどちらか
一方が選択された後に基準タイミング信号1510とし
て出力される。また、同信号1510は、データ部発生
回路2107にも入力され、これに基づいてデータ部発
生信号2116が出力される。タイマー回路2104か
らは、別の出力信号2113がウィンドウ発生回路21
05へ伝送される。同回路2105の出力信号であるウ
ィンドウ信号2114は、判定回路2106へ人力され
る。判定回路2106では、ウィンドウ信号2114と
セクタマーク検出信号2110とから、タイミング判定
信号2115が出力される。同判定信号2115により
、スイッチ回路2103では、カウンタ2102の出力
信号2111とタイマー回路2104の出力信号211
2とのどちらか一方が選択される。基準タイミング信号
1510、データ部発生信号2116、およびタイミン
グ判定信号2115は、それぞれコントロール回路15
02 (第13図参照)へ伝送される。コントロール回
路1502は、これらのタイミング発生回路1501か
ら出力される各種信号と、再生データ1212とに基づ
いて、前述した各種制御信号1213を記録回路120
6、および再生回路1gO7(第10図参照)へ伝送し
、情報の記録・再生・消去の各制御をおこなうようにな
っている。
第20図に基づいて第19図に示したセクタマーク検出
回路2101について以下に説明する。
回路2101について以下に説明する。
信号処理回路1401 (同図中には図示しない)から
出力されたセクタマーク信号1411は、カウンタ回路
2201を構成するカウンタ1〜9の各人力へ伝送され
る。カウンタ1〜9の各出力信号2211〜2219は
、判定回路2202へそれぞれ伝送され、この結果に基
づいてセクタマーク検出信号2110が出力される。換
言すれば、セクタマーク検出回路2101は、セクタマ
ーク部1701 (第15図参照)を検出し、セクタ単
位の記録・再生・消去の各動作をおこなうのに必要な同
期タイミングを得る回路である。
出力されたセクタマーク信号1411は、カウンタ回路
2201を構成するカウンタ1〜9の各人力へ伝送され
る。カウンタ1〜9の各出力信号2211〜2219は
、判定回路2202へそれぞれ伝送され、この結果に基
づいてセクタマーク検出信号2110が出力される。換
言すれば、セクタマーク検出回路2101は、セクタマ
ーク部1701 (第15図参照)を検出し、セクタ単
位の記録・再生・消去の各動作をおこなうのに必要な同
期タイミングを得る回路である。
第21図に基づいて上記のカウンタ1〜9の動作を以下
に説明する。
に説明する。
セクタマーク部1701のパターンの一例として、同図
(b)に示すようなマーク、および非マークから構成さ
れるものを示す。この例では、同図(a)に示すように
、マーク長、および非マーク長の比が5:3:3ニア:
3:3:3:3:5の順序になるようにマークが刻み込
まれている。
(b)に示すようなマーク、および非マークから構成さ
れるものを示す。この例では、同図(a)に示すように
、マーク長、および非マーク長の比が5:3:3ニア:
3:3:3:3:5の順序になるようにマークが刻み込
まれている。
このマーク、および非マークのパターンを再生して得ら
れるセクタマーク信号1411は、同図(C)に示すよ
うに、例えばマークの部分でローレベル(0)、非マー
クの部分でハイレベル(1)となる2値信号に変換され
る。このセクタマーク信号1411が上記カウンタ1〜
9にそれぞれ入力されると、まずカウンタ1は、マーク
長5の長さに対応するカウンタクロック2310のクロ
ック数をカウントする。カウンタクロック2310は、
同図(d)で示すように、セクタマーク信号1411よ
りも高い周波数を有している。そして、このカウント数
が所定範囲内であれば最初のマーク(マーク長5)が正
確に検出されたことになる。続いて、カウンタ2におい
て同様に非マーク長3の長さの非マークが検出される。
れるセクタマーク信号1411は、同図(C)に示すよ
うに、例えばマークの部分でローレベル(0)、非マー
クの部分でハイレベル(1)となる2値信号に変換され
る。このセクタマーク信号1411が上記カウンタ1〜
9にそれぞれ入力されると、まずカウンタ1は、マーク
長5の長さに対応するカウンタクロック2310のクロ
ック数をカウントする。カウンタクロック2310は、
同図(d)で示すように、セクタマーク信号1411よ
りも高い周波数を有している。そして、このカウント数
が所定範囲内であれば最初のマーク(マーク長5)が正
確に検出されたことになる。続いて、カウンタ2におい
て同様に非マーク長3の長さの非マークが検出される。
このように順次セクタマーク部1701のマーク、およ
び非マークが検出され、最後にマーク長5の長さをカウ
ンタ9が検出する。このようにして得られた9個の、マ
ークまたは非マークの検出信号2211〜2219が判
定回路2202へ伝送される。そして、この9個の検出
結果のうち、全て、またはその一部がセクタマーク部1
701のパターンと一致しているか否かが判定されると
ともに、マーク・非マークの順序が判定される。この結
果、セクタマーク部であると判定された場合のみ、セク
タマーク検出信号2110がローレベル(0)になる。
び非マークが検出され、最後にマーク長5の長さをカウ
ンタ9が検出する。このようにして得られた9個の、マ
ークまたは非マークの検出信号2211〜2219が判
定回路2202へ伝送される。そして、この9個の検出
結果のうち、全て、またはその一部がセクタマーク部1
701のパターンと一致しているか否かが判定されると
ともに、マーク・非マークの順序が判定される。この結
果、セクタマーク部であると判定された場合のみ、セク
タマーク検出信号2110がローレベル(0)になる。
従って、この信号2110はセクタ単位の同期タイミン
グとして使用することができる。
グとして使用することができる。
第22図に基づいてタイミング発生回路1501の各部
の波形を以下に説明する。
の波形を以下に説明する。
同図(b)に示すように、セクタマーク検出信号211
0はプリフォーマット部3003内のセクタマーク部1
701 (同図中(a)に示す)を検出するとローレベ
ルになる。同検出信号2110°の立ち下がりエツジが
セクタの同期タイミングになる。カウンタ2102は、
同検出信号2110の立ち下がりエツジから所定カウン
ト後に、同図(C)に示すように、カウンタ出力信号2
111をローレベルにする。一方、タイマー回路210
4のカウント数は、上記カウンタ2102のカウント数
を加えて1つのセクタ製分だけカウント数が大きい。従
って、同図(d)に示すように、タイマー回路2104
の出力であるタイマー回路出力信号2112の立ち下が
りエツジは、次のセクタの信号2111の立ち下がりエ
ツジとタイミングがほぼ一致する。また、同図(e)に
示すように、ウィンドウ発生回路2105からのウィン
ドウ信号2114は、セクタマーク検出信号2110の
立ち下がりエツジを基準に、次のセクタにおけるセクタ
マーク検出信号2110の立ち下がりエツジ付近で所定
のウィンドウ幅をもってローレベルになるようになって
いる。判定回路2106の出力信号であるタイミング判
定信号2115は、ウィンドウ発生回路2105からの
ウィンドウ信号2114がローレベルの時に、セクタマ
ーク検出信号2110の立ち下がりエツジが存在すれば
、同図(f)中の実線で示すように、ハイレベルになる
ようになっている。一方、セクタマーク検出信号211
0の立ち下がりエツジが存在しなければローレベルにな
るようになっている(同図(f)中の破線で示す)。従
って、タイミング判定信号2115は、セクタマークの
検出が所定の範囲で検出できたか、あるいは検出ミスで
あったかを判定する信号になる。スイッチ回路2103
においては、セクタマークの検出ができた場合には信号
2111が選択され、そうでなく検出ミスである場合に
は信号2112が選択されるようになっている。この結
果、同図(g)に示すように、基準タイミング信号15
10はセクタマークの検出ミスが発生してもそのタイミ
ング信号を確実に出力できる。即ち、上記に示したよう
にひとつ前のセクタのタイミングに基づいて補正をおこ
なうことができる。
0はプリフォーマット部3003内のセクタマーク部1
701 (同図中(a)に示す)を検出するとローレベ
ルになる。同検出信号2110°の立ち下がりエツジが
セクタの同期タイミングになる。カウンタ2102は、
同検出信号2110の立ち下がりエツジから所定カウン
ト後に、同図(C)に示すように、カウンタ出力信号2
111をローレベルにする。一方、タイマー回路210
4のカウント数は、上記カウンタ2102のカウント数
を加えて1つのセクタ製分だけカウント数が大きい。従
って、同図(d)に示すように、タイマー回路2104
の出力であるタイマー回路出力信号2112の立ち下が
りエツジは、次のセクタの信号2111の立ち下がりエ
ツジとタイミングがほぼ一致する。また、同図(e)に
示すように、ウィンドウ発生回路2105からのウィン
ドウ信号2114は、セクタマーク検出信号2110の
立ち下がりエツジを基準に、次のセクタにおけるセクタ
マーク検出信号2110の立ち下がりエツジ付近で所定
のウィンドウ幅をもってローレベルになるようになって
いる。判定回路2106の出力信号であるタイミング判
定信号2115は、ウィンドウ発生回路2105からの
ウィンドウ信号2114がローレベルの時に、セクタマ
ーク検出信号2110の立ち下がりエツジが存在すれば
、同図(f)中の実線で示すように、ハイレベルになる
ようになっている。一方、セクタマーク検出信号211
0の立ち下がりエツジが存在しなければローレベルにな
るようになっている(同図(f)中の破線で示す)。従
って、タイミング判定信号2115は、セクタマークの
検出が所定の範囲で検出できたか、あるいは検出ミスで
あったかを判定する信号になる。スイッチ回路2103
においては、セクタマークの検出ができた場合には信号
2111が選択され、そうでなく検出ミスである場合に
は信号2112が選択されるようになっている。この結
果、同図(g)に示すように、基準タイミング信号15
10はセクタマークの検出ミスが発生してもそのタイミ
ング信号を確実に出力できる。即ち、上記に示したよう
にひとつ前のセクタのタイミングに基づいて補正をおこ
なうことができる。
このようにして得られた基準タイミング信号1510は
、データ部発生回路2107へ伝送される。同回路21
07はカウンタの一種であり、その出力であるデータ部
発生信号2116はデータ部1703でローレベルにな
る。(同図(h)を参照)つまり、データ部発生信号2
116は、プリフォーマット部3003とMO(データ
)部3002とを判別する信号として利用できる。この
ようにして得られた基準タイミング信号1510、タイ
ミング判定信号2115、およびデータ部発生信号21
16は、第13図に示したコントロール回路1502へ
伝送される。同回路1502では、これらの信号に基づ
いて前述の各種制御信号1213が生成される。
、データ部発生回路2107へ伝送される。同回路21
07はカウンタの一種であり、その出力であるデータ部
発生信号2116はデータ部1703でローレベルにな
る。(同図(h)を参照)つまり、データ部発生信号2
116は、プリフォーマット部3003とMO(データ
)部3002とを判別する信号として利用できる。この
ようにして得られた基準タイミング信号1510、タイ
ミング判定信号2115、およびデータ部発生信号21
16は、第13図に示したコントロール回路1502へ
伝送される。同回路1502では、これらの信号に基づ
いて前述の各種制御信号1213が生成される。
次に、第23図ないし第25図に基づいて、第12図に
示した信号処理回路1401の動作について以下に説明
する。
示した信号処理回路1401の動作について以下に説明
する。
第23図に示すように、光磁気ディスク1201から再
生された再生信号1211 (再生信号S1、S2)は
、信号処理回路1401内のバッファアンプ2501に
入力される。その出力信号2510は、MO波形処理部
2502とプリフォーマット波形処理部2503とへ伝
送される。これらの回路からは、MO(データ)部30
02とプリフォーマット部3003とのマーク、および
非マークに対応した2値化信号2511.2512がそ
れぞれ出力される。これらの2値化信号はデータ同期部
2504に入力され、データ同期部2504内のPLL
(Phase LockedLoop)において、
クロックと同期した同期データ2513が出力され、復
調回路1402 (同図中には図示しない)へ伝送され
る。また、プリフォーマット波形処理部2503ではセ
クタマーク信号1411が生成され、タイミング発生回
路1501へ伝送される。信号処理コントロール部25
05では、信号処理回路1401内の各部間の各種制御
信号2514〜2517が人出力される。また、第13
図に示したコントローラ1208との間で各種制御信号
1213が入出力される。
生された再生信号1211 (再生信号S1、S2)は
、信号処理回路1401内のバッファアンプ2501に
入力される。その出力信号2510は、MO波形処理部
2502とプリフォーマット波形処理部2503とへ伝
送される。これらの回路からは、MO(データ)部30
02とプリフォーマット部3003とのマーク、および
非マークに対応した2値化信号2511.2512がそ
れぞれ出力される。これらの2値化信号はデータ同期部
2504に入力され、データ同期部2504内のPLL
(Phase LockedLoop)において、
クロックと同期した同期データ2513が出力され、復
調回路1402 (同図中には図示しない)へ伝送され
る。また、プリフォーマット波形処理部2503ではセ
クタマーク信号1411が生成され、タイミング発生回
路1501へ伝送される。信号処理コントロール部25
05では、信号処理回路1401内の各部間の各種制御
信号2514〜2517が人出力される。また、第13
図に示したコントローラ1208との間で各種制御信号
1213が入出力される。
第24図および第25図は、信号処理回路1401の各
部の波形を示す図である。第24図(b)、および同図
(c)に示すように、再生信号S1、S2はMO波形処
理部25o2において差動されてMO(データ)部30
02の情報のみが分離され、さらに2値化され、MOZ
値化信号2511が生成される(同図(d)を参照)。
部の波形を示す図である。第24図(b)、および同図
(c)に示すように、再生信号S1、S2はMO波形処
理部25o2において差動されてMO(データ)部30
02の情報のみが分離され、さらに2値化され、MOZ
値化信号2511が生成される(同図(d)を参照)。
また、再生信号S1、S2はプリフォーマット波形処理
部2503において加算されてプリフォーマット部30
03の情報のみが分離され、さらに2値化されて、ID
2値化信号2512とセクタマーク信号1411が得ら
れる(同図(e)、および同図(g)を参照)。再生信
号S1、S2の差動および加算によってMO(データ)
部3002とプリフォーマット部3003 (同図(a
)を参照)とが分離できる理由は、第27図に示したよ
うに、再生信号S1、S2の極性がMO(データ)部3
002では逆であり、プリフォーマット部3゜03にお
いては同じだからである。MO2値化信号2511とI
D2値化信号2512とは、同図(f)に示すように、
それぞれデータ同期部2504においてクロックと同期
した同期データ2513に変換される。
部2503において加算されてプリフォーマット部30
03の情報のみが分離され、さらに2値化されて、ID
2値化信号2512とセクタマーク信号1411が得ら
れる(同図(e)、および同図(g)を参照)。再生信
号S1、S2の差動および加算によってMO(データ)
部3002とプリフォーマット部3003 (同図(a
)を参照)とが分離できる理由は、第27図に示したよ
うに、再生信号S1、S2の極性がMO(データ)部3
002では逆であり、プリフォーマット部3゜03にお
いては同じだからである。MO2値化信号2511とI
D2値化信号2512とは、同図(f)に示すように、
それぞれデータ同期部2504においてクロックと同期
した同期データ2513に変換される。
第25図は、第24図の波形を詳細に説明する図である
。変調データ1310 (第25図(a)を参照)に基
づいて記録されたマーク、および非マークはレーザスボ
ッ)2’701の照射によって再生される(同図(b)
を参照)。同図(c)に示すように、再生信号S1、S
2はマークの中心でピークになる信号である。MO2値
化信号2511またはID2値化信号2512は、この
ピーク位置を検出した信号であり、その立ち上がりエツ
ジがピーク位置と一致している(同図(d)を参照)。
。変調データ1310 (第25図(a)を参照)に基
づいて記録されたマーク、および非マークはレーザスボ
ッ)2’701の照射によって再生される(同図(b)
を参照)。同図(c)に示すように、再生信号S1、S
2はマークの中心でピークになる信号である。MO2値
化信号2511またはID2値化信号2512は、この
ピーク位置を検出した信号であり、その立ち上がりエツ
ジがピーク位置と一致している(同図(d)を参照)。
データ同期部2504内のPLLにおいて、MO2値化
信号2511またはID2値化信号2512から同期ク
ロックを生成し、このクロックと同期させて同期データ
2513を得ている。同図(e)に示すように、同期デ
ータ2513は変調データ1310を忠実に再生したデ
ータとなる。
信号2511またはID2値化信号2512から同期ク
ロックを生成し、このクロックと同期させて同期データ
2513を得ている。同図(e)に示すように、同期デ
ータ2513は変調データ1310を忠実に再生したデ
ータとなる。
ここで、本発明に係る光記録再生装置について第1図な
いし第9図に基づいて説明すると、以下のとおりである
。
いし第9図に基づいて説明すると、以下のとおりである
。
まず、第2図に基づいて、記録した情報の再生について
以下に詳細に説明する。
以下に詳細に説明する。
第2図は、MO波形処理部25o2の要部を示しており
、再生信号s1、s2は、MO波形処理部2502内の
差動増幅器74に入力され、ここで再生信号中のMOデ
ータのみが分離されるようになっている。MOデータは
、AGC回路としてのAGCアンプ75に入力され、M
Oデータの振幅が一定にされ、さらに2値化回路76に
おいて2値化されて2値化信号が出力される。そして、
2値化信号に基づいて再生データが生成されるようにな
っている。なお、AGCアンプ75からはAGC電圧が
コントローラ1208内のA/D変換器49(第1図を
参照)へ出力される。
、再生信号s1、s2は、MO波形処理部2502内の
差動増幅器74に入力され、ここで再生信号中のMOデ
ータのみが分離されるようになっている。MOデータは
、AGC回路としてのAGCアンプ75に入力され、M
Oデータの振幅が一定にされ、さらに2値化回路76に
おいて2値化されて2値化信号が出力される。そして、
2値化信号に基づいて再生データが生成されるようにな
っている。なお、AGCアンプ75からはAGC電圧が
コントローラ1208内のA/D変換器49(第1図を
参照)へ出力される。
上記のAGCアンプ75の例を第3図ないし第5図に基
づいて説明すると、以下のとおりである。
づいて説明すると、以下のとおりである。
第3図に示すように、AGCアンプ75は主として、ク
ランプ回路78、コンパレータ79、AGC電圧発生回
路80、および電圧制御アンプ(以下、単にVCAと称
す)77から構成されており、前述の差動増幅器74の
出力信号である差動信号がVCA77に人力される。V
CA77の増幅度はAGC電圧発生回路80の出力であ
るAGC電圧に応じて変化し、第4図に示すように、A
GC電圧が大きくなるにつれて増幅度が小さくなり、A
GC電圧が小さくなるにつれて増幅度が大きくなるよう
になっている。VCA77の出力は、2値化回路76(
第3図中には図示しない)へ伝送されるとともに、クラ
ンプ回路78の入力へ伝送される。クランプ回路78で
は、VCA77の出力中の直流分がカットされるととも
に、交流骨(ピークピーク値に相当する)のうちプラス
方向のピークは、同回路78内のダイオードDによりダ
イオードDの順方向降下電圧値にクランプされ、マイナ
ス方向のピークはクランプされずにそのまま後続のコン
パレータ79の反転入力へ伝送される。コンパレータ7
9では、非反転入力に印加されている基準電圧■。と、
クランプ回路78の出力とが大小比較される。コンパレ
ータ79の出力に基づいて、AGC電圧発生回路80は
AGC電圧を出力するようになっている。
ランプ回路78、コンパレータ79、AGC電圧発生回
路80、および電圧制御アンプ(以下、単にVCAと称
す)77から構成されており、前述の差動増幅器74の
出力信号である差動信号がVCA77に人力される。V
CA77の増幅度はAGC電圧発生回路80の出力であ
るAGC電圧に応じて変化し、第4図に示すように、A
GC電圧が大きくなるにつれて増幅度が小さくなり、A
GC電圧が小さくなるにつれて増幅度が大きくなるよう
になっている。VCA77の出力は、2値化回路76(
第3図中には図示しない)へ伝送されるとともに、クラ
ンプ回路78の入力へ伝送される。クランプ回路78で
は、VCA77の出力中の直流分がカットされるととも
に、交流骨(ピークピーク値に相当する)のうちプラス
方向のピークは、同回路78内のダイオードDによりダ
イオードDの順方向降下電圧値にクランプされ、マイナ
ス方向のピークはクランプされずにそのまま後続のコン
パレータ79の反転入力へ伝送される。コンパレータ7
9では、非反転入力に印加されている基準電圧■。と、
クランプ回路78の出力とが大小比較される。コンパレ
ータ79の出力に基づいて、AGC電圧発生回路80は
AGC電圧を出力するようになっている。
例えば、クランプ回路78の出力振幅が基準電圧v0よ
りも大きい場合には、コンパレータ79の出力がハイレ
ベルとなり、トランジスタ81はONするので、コンデ
ンサ83が充電抵抗日2を介して電源■。、により充電
されてコンデンサ83の両端の電圧が大きくなる。この
時の充電時定数は、充電抵抗82およびコンデンサ83
によって決まる。充電抵抗82とコンデンサ83との接
続点Aに生じるAGC電圧、即ち、コンデンサ83の両
端の電圧が増幅度調整用の電圧としてVCA77に伝送
され、VCA77の増幅度は小さくなる。一方、クラン
プ回路78の出力振幅が基準電圧■。よりも小さい場合
には、コンパレータ79の出力がローレベルとなり、ト
ランジスタ81はOFFするので、コンデンサ83に蓄
えられた電荷が放電抵抗84を介して放電される。この
時の放電時定数は、放電抵抗84およびコンデンサ83
によって決まる。これに伴って、AGC電圧が小さくな
り、VCA77の増幅度は大きくなる。
りも大きい場合には、コンパレータ79の出力がハイレ
ベルとなり、トランジスタ81はONするので、コンデ
ンサ83が充電抵抗日2を介して電源■。、により充電
されてコンデンサ83の両端の電圧が大きくなる。この
時の充電時定数は、充電抵抗82およびコンデンサ83
によって決まる。充電抵抗82とコンデンサ83との接
続点Aに生じるAGC電圧、即ち、コンデンサ83の両
端の電圧が増幅度調整用の電圧としてVCA77に伝送
され、VCA77の増幅度は小さくなる。一方、クラン
プ回路78の出力振幅が基準電圧■。よりも小さい場合
には、コンパレータ79の出力がローレベルとなり、ト
ランジスタ81はOFFするので、コンデンサ83に蓄
えられた電荷が放電抵抗84を介して放電される。この
時の放電時定数は、放電抵抗84およびコンデンサ83
によって決まる。これに伴って、AGC電圧が小さくな
り、VCA77の増幅度は大きくなる。
以上より、差動信号のピークピーク値とAGC電圧との
間には、第5図に示すような関係があり、同図に示す通
常振幅範囲においてAGC電圧は差動信号のピークピー
ク値に対して単調増加することがわかる。即ち、AGC
電圧の最大値・最小値が、差動信号のビークピーク値の
最大値・最小値に対応する。なお、上記のクランプ回路
78は、全波整流回路でもよい。
間には、第5図に示すような関係があり、同図に示す通
常振幅範囲においてAGC電圧は差動信号のピークピー
ク値に対して単調増加することがわかる。即ち、AGC
電圧の最大値・最小値が、差動信号のビークピーク値の
最大値・最小値に対応する。なお、上記のクランプ回路
78は、全波整流回路でもよい。
AGCアンプの他の例を第6図に基づいて説明すると、
以下のとおりである。なお、上述したAGCアンプで使
用した部材と同一の機能を有する部材には同一の符号を
付記し、便宜上、その詳細な説明を省略する。
以下のとおりである。なお、上述したAGCアンプで使
用した部材と同一の機能を有する部材には同一の符号を
付記し、便宜上、その詳細な説明を省略する。
ここで例示するAGCアンプは、AGC電圧がサンプル
ホールド回路85およびアナログスイッチ86を介して
VCA77へ伝送されるという点を除いては、上述した
AGCアンプと本質的には同じである。上記の、サンプ
ルホールド回路85およびアナログスイッチ86は、記
録・消去の各動作時にAGC電圧をその直前の値にホー
ルドするために設けられている。即ち、再生動作時には
、AGC電圧が直接アナログスイッチ86の接点86a
を介してVCA77へ伝送される。一方、記録・消去の
各動作時には、スイッチタイミング信号によりアナログ
スイッチ86は接点86aの側から接点86t)の側へ
切り換えられ、サンプルホールド回路85は、ホールド
タイミング信号により、記録・消去の各動作直前のAG
C電圧値にホールドされる。このことにより、記録・消
去の影響が回避でき、信顧性が向上する。なお、上記の
サンプルホールド回路85は、例えばA/D変換器、お
よびD/A変換器を含む構成から成っているものでもよ
い。
ホールド回路85およびアナログスイッチ86を介して
VCA77へ伝送されるという点を除いては、上述した
AGCアンプと本質的には同じである。上記の、サンプ
ルホールド回路85およびアナログスイッチ86は、記
録・消去の各動作時にAGC電圧をその直前の値にホー
ルドするために設けられている。即ち、再生動作時には
、AGC電圧が直接アナログスイッチ86の接点86a
を介してVCA77へ伝送される。一方、記録・消去の
各動作時には、スイッチタイミング信号によりアナログ
スイッチ86は接点86aの側から接点86t)の側へ
切り換えられ、サンプルホールド回路85は、ホールド
タイミング信号により、記録・消去の各動作直前のAG
C電圧値にホールドされる。このことにより、記録・消
去の影響が回避でき、信顧性が向上する。なお、上記の
サンプルホールド回路85は、例えばA/D変換器、お
よびD/A変換器を含む構成から成っているものでもよ
い。
ところで、光記録再生装置(システム)の起動時に、使
用する光磁気ディスクの特性を判別するためには、AG
Cアンプは早い応答性が要求される。このために、上記
のAGC電圧発生回路80内のコンデンサ83の放電の
時定数を短縮して応答性を改善する回路を第7図に基づ
いて以下に説明する。
用する光磁気ディスクの特性を判別するためには、AG
Cアンプは早い応答性が要求される。このために、上記
のAGC電圧発生回路80内のコンデンサ83の放電の
時定数を短縮して応答性を改善する回路を第7図に基づ
いて以下に説明する。
この回路は、主としてオーブンコレクタ87・88と放
電抵抗89とから構成されており、オープンコレクタ8
日の出力は、第3図(または第6図)中の充電抵抗82
とコンデンサ83との接続点Aに接続されている。例え
ば、オープンコレクタ87にはAGC速度制御信号が入
力され、オーブンコレクタ88にはAGCリセット信号
が入力される。AGC速度制御信号は、光磁気ディスク
の特性を判別する時にハイレベルになる。この時、オー
ブンコレクタ87の出力はローレベルになり、第3図(
または第6図)中の放電抵抗84と並列に放電抵抗89
が接続されることになる。この結果、コンデンサ83の
放電に要する時間が短縮される。また、AGCリセット
信号は、システム起動時やシステム異常時などにハイレ
ベルになる。この時、放電抵抗84が短絡されることに
なるので、瞬時に放電が完了する。
電抵抗89とから構成されており、オープンコレクタ8
日の出力は、第3図(または第6図)中の充電抵抗82
とコンデンサ83との接続点Aに接続されている。例え
ば、オープンコレクタ87にはAGC速度制御信号が入
力され、オーブンコレクタ88にはAGCリセット信号
が入力される。AGC速度制御信号は、光磁気ディスク
の特性を判別する時にハイレベルになる。この時、オー
ブンコレクタ87の出力はローレベルになり、第3図(
または第6図)中の放電抵抗84と並列に放電抵抗89
が接続されることになる。この結果、コンデンサ83の
放電に要する時間が短縮される。また、AGCリセット
信号は、システム起動時やシステム異常時などにハイレ
ベルになる。この時、放電抵抗84が短絡されることに
なるので、瞬時に放電が完了する。
第1図は、コントローラ120日の本発明に係る要部を
示しており、前述のAGCアンプ75の出力であるAG
C電圧は、コントローラ1208(同図中には図示しな
い)内のA/D変換器49に人力されて、ディジタル値
に変換される。ディジタル値に変換されたAGC電圧は
、制御手段としてのプロセッサ70に伝送される。プロ
セッサ70は、ディジタル値に変換されたAGC電圧を
サンプリングし、サンプリングしたAGC電圧が予め設
定された再生可能範囲内にあるかどうかを判別するよう
になっている。なお、上記A/D変換器49に代えて、
ウィンドウコンパレータを使用してもよい。
示しており、前述のAGCアンプ75の出力であるAG
C電圧は、コントローラ1208(同図中には図示しな
い)内のA/D変換器49に人力されて、ディジタル値
に変換される。ディジタル値に変換されたAGC電圧は
、制御手段としてのプロセッサ70に伝送される。プロ
セッサ70は、ディジタル値に変換されたAGC電圧を
サンプリングし、サンプリングしたAGC電圧が予め設
定された再生可能範囲内にあるかどうかを判別するよう
になっている。なお、上記A/D変換器49に代えて、
ウィンドウコンパレータを使用してもよい。
ここで、光磁気ディスクの特性の判別例を第8図に基づ
いて以下に説明する。
いて以下に説明する。
一般に、光磁気ディスクの反射率が変わると、それに伴
って再生信号が変化するので、AGC電圧(または差動
信号振幅)も同図に示すように変化する。即ち、反射率
が大きくなるに伴ってAGC電圧(または差動信号振幅
)も単調増加する。
って再生信号が変化するので、AGC電圧(または差動
信号振幅)も同図に示すように変化する。即ち、反射率
が大きくなるに伴ってAGC電圧(または差動信号振幅
)も単調増加する。
従って、AGC電圧(または差動信号振幅)から使用す
る光磁気ディスクの反射率が判別できることになる。例
えば第8図に示すように、同図中R7、R8、およびR
6で示す反射率を有する光磁気ディスクA、B、および
Cを本光記録再生装置で使用するとする。この時、予め
設定された再生可能範囲を同図中の破線で示す範囲であ
るとすると、光磁気ディスクBは再生可能範囲内にある
ので本光記録再生装置で再生、記録・消去の各動作がお
こなえる。一方、光磁気ディスクAおよびCは再生可能
範囲外なので、プロセッサ70は装着された光磁気ディ
スクAおよびCをイジェクトするとともに、警報表示出
力を出力する。従って、本光記録再生装置では光磁気デ
ィスクAおよびCの再生、記録・消去の各動作が以降お
こなえなくなる。また、記録マークが長い年月の間に次
第に劣化していき、再生信号振幅が小さくなる場合があ
る。この場合にも、AGC電圧からその劣化の度合を検
知することができ、例えば再記録などの処置をおこなう
ことも可能である。また、第8図に示すように、再生可
能範囲と記録、消去可能範囲とが一致しない場合もある
。例えば半導体レーザの出射光量に上限がある場合には
、再生光量は出射可能であるが、記録、消去光量は出射
できないからである。これは、外部印加磁場についても
同様である。この場合には、再生のみをおこない、記録
、消去の各動作を禁止してもよいし、再生のみおこなえ
ることを外部機器等に知らせたり、その旨表示出力を出
力してもよい。
る光磁気ディスクの反射率が判別できることになる。例
えば第8図に示すように、同図中R7、R8、およびR
6で示す反射率を有する光磁気ディスクA、B、および
Cを本光記録再生装置で使用するとする。この時、予め
設定された再生可能範囲を同図中の破線で示す範囲であ
るとすると、光磁気ディスクBは再生可能範囲内にある
ので本光記録再生装置で再生、記録・消去の各動作がお
こなえる。一方、光磁気ディスクAおよびCは再生可能
範囲外なので、プロセッサ70は装着された光磁気ディ
スクAおよびCをイジェクトするとともに、警報表示出
力を出力する。従って、本光記録再生装置では光磁気デ
ィスクAおよびCの再生、記録・消去の各動作が以降お
こなえなくなる。また、記録マークが長い年月の間に次
第に劣化していき、再生信号振幅が小さくなる場合があ
る。この場合にも、AGC電圧からその劣化の度合を検
知することができ、例えば再記録などの処置をおこなう
ことも可能である。また、第8図に示すように、再生可
能範囲と記録、消去可能範囲とが一致しない場合もある
。例えば半導体レーザの出射光量に上限がある場合には
、再生光量は出射可能であるが、記録、消去光量は出射
できないからである。これは、外部印加磁場についても
同様である。この場合には、再生のみをおこない、記録
、消去の各動作を禁止してもよいし、再生のみおこなえ
ることを外部機器等に知らせたり、その旨表示出力を出
力してもよい。
を検出するものとして、例えば第9図に示すようなエン
ベロープ検波回路64を使用してもよい。
ベロープ検波回路64を使用してもよい。
この場合、上記AGC電圧を利用する場合と比較して、
別途回路を必要とするとういう短所を有している。同回
路64は、主としてバッファ回路65、第1サンプルホ
ールド回路66、第2サンプルホールド回路67および
差動増幅回路68から構成されている。差動信号は、バ
ッファ回路65を介して第1および第2サンプルホール
ド回路66・67において上・下側側のピーク値がホー
ルドされた後、差動増幅回路68により差動信号のビー
クピーク値に対応する振幅レベル信号が出力される。こ
の振幅レベル信号が予め設定された再生可能範囲内にあ
るかどうかを検出することによって、使用する光磁気デ
ィスクの特性を判別することができる。
別途回路を必要とするとういう短所を有している。同回
路64は、主としてバッファ回路65、第1サンプルホ
ールド回路66、第2サンプルホールド回路67および
差動増幅回路68から構成されている。差動信号は、バ
ッファ回路65を介して第1および第2サンプルホール
ド回路66・67において上・下側側のピーク値がホー
ルドされた後、差動増幅回路68により差動信号のビー
クピーク値に対応する振幅レベル信号が出力される。こ
の振幅レベル信号が予め設定された再生可能範囲内にあ
るかどうかを検出することによって、使用する光磁気デ
ィスクの特性を判別することができる。
なお、上記実施例以外に、例えばAGC電圧の値によっ
て、再生光量、および記録、再生光量、あるいは記録パ
ルス長、外部印加磁場などの記録、消去、または再生の
各条件をディスクに合わせて自動的に調整することも可
能である。例えば、記録、消去の各条件を例に挙げると
、反射率の高いディスクはど記録感度が低くなる。つま
り、より大きな記録、消去光量、または外部印加磁場、
あるいは、より長い記録パルス長が必要となる。
て、再生光量、および記録、再生光量、あるいは記録パ
ルス長、外部印加磁場などの記録、消去、または再生の
各条件をディスクに合わせて自動的に調整することも可
能である。例えば、記録、消去の各条件を例に挙げると
、反射率の高いディスクはど記録感度が低くなる。つま
り、より大きな記録、消去光量、または外部印加磁場、
あるいは、より長い記録パルス長が必要となる。
従って、AGC電圧によってこれらの条件を変化させれ
ばよい。もちろん、AGC電圧以外に、上記エンベロー
プ検波回路の出力によっておこなえることは言うまでも
ない。
ばよい。もちろん、AGC電圧以外に、上記エンベロー
プ検波回路の出力によっておこなえることは言うまでも
ない。
以上のように、サンプリングされたAGC電圧(または
差動信号振幅)が再生可能範囲内にあるかどうかをプロ
セッサ70が判別し、記録、消去、または再生可能範囲
内にある時には該光磁気ディスクに対して情報の記録、
再生、および消去の各動作をおこない、記録、消去、ま
たは再生可能範囲内にない時には該光磁気ディスクをイ
ジェクトしてその旨を示す警報表示出力を出力する。な
お、警報表示出力を利用して、例えば警報を耳鳴したり
、警報灯を点滅させたりすることによって、オペレータ
にその旨を知らせることができる。
差動信号振幅)が再生可能範囲内にあるかどうかをプロ
セッサ70が判別し、記録、消去、または再生可能範囲
内にある時には該光磁気ディスクに対して情報の記録、
再生、および消去の各動作をおこない、記録、消去、ま
たは再生可能範囲内にない時には該光磁気ディスクをイ
ジェクトしてその旨を示す警報表示出力を出力する。な
お、警報表示出力を利用して、例えば警報を耳鳴したり
、警報灯を点滅させたりすることによって、オペレータ
にその旨を知らせることができる。
上記の記録、消去、または再生の各条件を設定する例と
しては、再生専用のROM型ディスクと記録、消去可能
な光磁気ディスクの2種のディスクについて、ひとつの
装置で再生、または記録、消去をおこなう場合が挙げら
れる。さらに、具体的な例を挙げると、例えばCD(コ
ンパクトディスク)と光磁気を用いた記録、消去可能な
Erasa b 1 e−CDである。つまり、上記2
種の反射率は一般に大きく異なる。そこで、AGC電圧
を検出することにより、上記2種の判別をおこない、外
部機器にその旨を知らせたり、また、表示したり、さら
に半導体レーザの出射光量を変更することも可能である
。また、光検出器の出力信号が、後段の回路の動作可能
範囲内に入るように、複数の減衰器、または増幅器の間
で切り換えておこなうことも可能である。
しては、再生専用のROM型ディスクと記録、消去可能
な光磁気ディスクの2種のディスクについて、ひとつの
装置で再生、または記録、消去をおこなう場合が挙げら
れる。さらに、具体的な例を挙げると、例えばCD(コ
ンパクトディスク)と光磁気を用いた記録、消去可能な
Erasa b 1 e−CDである。つまり、上記2
種の反射率は一般に大きく異なる。そこで、AGC電圧
を検出することにより、上記2種の判別をおこない、外
部機器にその旨を知らせたり、また、表示したり、さら
に半導体レーザの出射光量を変更することも可能である
。また、光検出器の出力信号が、後段の回路の動作可能
範囲内に入るように、複数の減衰器、または増幅器の間
で切り換えておこなうことも可能である。
本発明に係る光記録再生装置は、以上のように、再生回
路内に再生信号振幅に対応するAGC電圧を出力するA
GC回路を備えた光記録再生装置において、光記録媒体
が装置に装着された際に、上記AGC回路からの記録さ
れた情報に対応するAGC電圧が記録、消去、または再
生可能範囲内にあるかどうかを判別し、記録、消去、ま
たは再生可能範囲内にある時には該光記録媒体に対して
情報の記録、再生、および消去の各動作をおこない、記
録、消去、または再生可能範囲内にない時には該光記録
媒体をイジェクトしてその旨を示す警報表示出力を出力
するとともに、AGC電圧の値に基づいて記録、消去、
または再生の各条件を光記録媒体ごとに設定する制御手
段を備えた構成である。
路内に再生信号振幅に対応するAGC電圧を出力するA
GC回路を備えた光記録再生装置において、光記録媒体
が装置に装着された際に、上記AGC回路からの記録さ
れた情報に対応するAGC電圧が記録、消去、または再
生可能範囲内にあるかどうかを判別し、記録、消去、ま
たは再生可能範囲内にある時には該光記録媒体に対して
情報の記録、再生、および消去の各動作をおこない、記
録、消去、または再生可能範囲内にない時には該光記録
媒体をイジェクトしてその旨を示す警報表示出力を出力
するとともに、AGC電圧の値に基づいて記録、消去、
または再生の各条件を光記録媒体ごとに設定する制御手
段を備えた構成である。
これにより、例えば装置が異なったり、あるいは光記録
媒体そのものの特性(例えば反射率や透過率など)が異
なっている場合でも、誤って再生時の光量を記録・消去
時の光量にして、そこに記録された情報の消去、ひいて
は外光記録媒体そのものが破壊されることを未然に回避
できるので、装置全体の信頼性が向上する。また、簡素
で低コストな回路構成で装置全体の信頼性を向上させる
ことができる等の効果を併せて奏する。
媒体そのものの特性(例えば反射率や透過率など)が異
なっている場合でも、誤って再生時の光量を記録・消去
時の光量にして、そこに記録された情報の消去、ひいて
は外光記録媒体そのものが破壊されることを未然に回避
できるので、装置全体の信頼性が向上する。また、簡素
で低コストな回路構成で装置全体の信頼性を向上させる
ことができる等の効果を併せて奏する。
第1図ないし第9図は、本発明の一実施例を示すもので
ある。 第1図は、本発明に係る光記録再生装置の要部を示すブ
ロック図である。 第2図は、MO波形処理部の要部の構成を示すブロック
図である。 第3図は、AGCアンプの一構成例を示す図である。 第4図は、電圧制御増幅器に入力されるAGC電圧と電
圧制御増幅器の増幅度との関係を示す図である。 第5図は、AGC電圧と差動信号のビークビーク値との
関係を示す図である。 第6図は、AGCアンプの他の構成例を示す図である。 第7図は、AGC電圧発生回路の放電時定数を短縮させ
る回路例を示す図である。 第8図は、光磁気ディスクの反射率と、AGC電圧およ
び再生信号の振幅との関係を示す図である。 第9図は、エンベロープ検波回路の構成例を示す図であ
る。 第10図ないし第25図は、本発明に係る光記録再生装
置の構成を説明するためのものである。 第10図は、光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図
である。 第11図は、記録回路の構成を示すブロック図である。 第12図は、再生回路の構成を示すブロック図である。 第13図は、コントローラの構成を示すブロック図であ
る。 第14図は、記録情報の変調方式の一例として2.7変
調力式を説明した図である。 第15図は、セクタのフォーマットの例を示す図である
。 第16図は、半導体レーザ駆動回路の構成を示す図であ
る。 第17図、および第18図は、第16図における情報の
記録・消去の各動作、および再生動作時の半導体レーザ
駆動回路の各部の波形を示す図である。 第19図は、タイミング発生回路の構成を示すブロック
図である。 第20図は、セクタマーク検出回路の構成を示すブロッ
ク図である。 第21図は、第20図を構成するカウンタの動作を模式
的に説明した図である。 第22図は、タイミング発生回路の各部の波形を示す図
である。 第23図は、信号処理回路の構成を示すブロック図であ
る。 第24図は、信号処理回路の各部の波形を示す図である
。 第25図は、第24図をさらに詳しく説明した図で、M
O(データ)部およびプリフォーマット部のマークから
2値化データの生成過程を説明する図である。 第26図ないし第33図は、従来例を示すものである。 第26図は、光磁気ディスクへの情報の記録、および光
磁気ディスクに記録された情報の消去の各動作を説明す
る図である。 第27図は、光磁気ディスクの再生動作を説明す図であ
る。 第28図、および第29図は、光磁気ディスク上におけ
るプリフォーマット部とMO(データ)部との関係を示
す図である。 第30図は、再生時の光学系の要部の構成を示すブロッ
ク図である。 第31図および第32図は、MO(データ)部、および
プリフォーマット部における再生信号S1、S2のそれ
ぞれの極性についての説明図である。 第33図は、再生回路と、アドレス発生回路およびタイ
ミング発生回路との関係を示す図である。 49はA/D変換器、70はブロモ・ノサ(制御手段)
、75はAGCアンプ(AGC回路)である。
ある。 第1図は、本発明に係る光記録再生装置の要部を示すブ
ロック図である。 第2図は、MO波形処理部の要部の構成を示すブロック
図である。 第3図は、AGCアンプの一構成例を示す図である。 第4図は、電圧制御増幅器に入力されるAGC電圧と電
圧制御増幅器の増幅度との関係を示す図である。 第5図は、AGC電圧と差動信号のビークビーク値との
関係を示す図である。 第6図は、AGCアンプの他の構成例を示す図である。 第7図は、AGC電圧発生回路の放電時定数を短縮させ
る回路例を示す図である。 第8図は、光磁気ディスクの反射率と、AGC電圧およ
び再生信号の振幅との関係を示す図である。 第9図は、エンベロープ検波回路の構成例を示す図であ
る。 第10図ないし第25図は、本発明に係る光記録再生装
置の構成を説明するためのものである。 第10図は、光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図
である。 第11図は、記録回路の構成を示すブロック図である。 第12図は、再生回路の構成を示すブロック図である。 第13図は、コントローラの構成を示すブロック図であ
る。 第14図は、記録情報の変調方式の一例として2.7変
調力式を説明した図である。 第15図は、セクタのフォーマットの例を示す図である
。 第16図は、半導体レーザ駆動回路の構成を示す図であ
る。 第17図、および第18図は、第16図における情報の
記録・消去の各動作、および再生動作時の半導体レーザ
駆動回路の各部の波形を示す図である。 第19図は、タイミング発生回路の構成を示すブロック
図である。 第20図は、セクタマーク検出回路の構成を示すブロッ
ク図である。 第21図は、第20図を構成するカウンタの動作を模式
的に説明した図である。 第22図は、タイミング発生回路の各部の波形を示す図
である。 第23図は、信号処理回路の構成を示すブロック図であ
る。 第24図は、信号処理回路の各部の波形を示す図である
。 第25図は、第24図をさらに詳しく説明した図で、M
O(データ)部およびプリフォーマット部のマークから
2値化データの生成過程を説明する図である。 第26図ないし第33図は、従来例を示すものである。 第26図は、光磁気ディスクへの情報の記録、および光
磁気ディスクに記録された情報の消去の各動作を説明す
る図である。 第27図は、光磁気ディスクの再生動作を説明す図であ
る。 第28図、および第29図は、光磁気ディスク上におけ
るプリフォーマット部とMO(データ)部との関係を示
す図である。 第30図は、再生時の光学系の要部の構成を示すブロッ
ク図である。 第31図および第32図は、MO(データ)部、および
プリフォーマット部における再生信号S1、S2のそれ
ぞれの極性についての説明図である。 第33図は、再生回路と、アドレス発生回路およびタイ
ミング発生回路との関係を示す図である。 49はA/D変換器、70はブロモ・ノサ(制御手段)
、75はAGCアンプ(AGC回路)である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、再生回路内に再生信号振幅に対応するAGC電圧を
出力するAGC回路を備えた光記録再生装置において、 光記録媒体が装置に装着された際に、上記AGC回路か
らの記録された情報に対応するAGC電圧が記録、消去
、または再生可能範囲内にあるかどうかを判別し、記録
、消去、または再生可能範囲内にある時には該光記録媒
体に対して情報の記録、再生、および消去の各動作をお
こない、記録、消去、または再生可能範囲内にない時に
は該光記録媒体をイジェクトしてその旨を示す警報表示
出力を出力するとともに、AGC電圧の値に基づいて記
録、消去、または再生の各条件を光記録媒体ごとに設定
する制御手段を備えたことを特徴とする光記録再生装置
。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1265987A JP2779233B2 (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | 光記録再生装置 |
CA002027153A CA2027153C (en) | 1989-10-11 | 1990-10-09 | Optical recording/reproducing device with automatic gain control (agc) dependent control functions |
US07/594,275 US5107473A (en) | 1989-10-11 | 1990-10-09 | Optical recording/reproducing device using permissible ranges for the value of an automatic gain control voltage |
DE69024739T DE69024739T2 (de) | 1989-10-11 | 1990-10-11 | Optisches Aufnahme-/Wiedergabegerät |
EP90311180A EP0422947B1 (en) | 1989-10-11 | 1990-10-11 | Optical recording/reproducing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1265987A JP2779233B2 (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | 光記録再生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03125331A true JPH03125331A (ja) | 1991-05-28 |
JP2779233B2 JP2779233B2 (ja) | 1998-07-23 |
Family
ID=17424794
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1265987A Expired - Fee Related JP2779233B2 (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | 光記録再生装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5107473A (ja) |
EP (1) | EP0422947B1 (ja) |
JP (1) | JP2779233B2 (ja) |
CA (1) | CA2027153C (ja) |
DE (1) | DE69024739T2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04345944A (ja) * | 1991-05-24 | 1992-12-01 | Sony Corp | データ再生装置 |
DE69231731T2 (de) * | 1991-06-17 | 2001-06-28 | Sony Corp., Tokio/Tokyo | Plattenaufzeichnungsverfahren |
JP3277517B2 (ja) * | 1991-06-17 | 2002-04-22 | ソニー株式会社 | ディスク状記録媒体の再生方法 |
US5386409A (en) * | 1992-08-05 | 1995-01-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical information reproducing apparatus having improved laser oscillation |
JP3240762B2 (ja) * | 1993-07-26 | 2001-12-25 | ソニー株式会社 | 光記録媒体の再生方法及び再生装置 |
US5654948A (en) * | 1993-09-07 | 1997-08-05 | Sony Corporation | Disc apparatus for recording/reproducing with zone constant angular velocity |
US5555269A (en) * | 1993-10-29 | 1996-09-10 | Carrier Corporation | Error detection for HVAC systems |
KR960706167A (ko) | 1994-08-25 | 1996-11-08 | 이데이 노부유키 | 광디스크 및 광디스크 구동 장치(Optical disc and optical disc driving device) |
JP2000132933A (ja) * | 1998-10-22 | 2000-05-12 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | ヘッドのデータ書き込み制御方法およびそれを利用した記憶装置 |
JP3775564B2 (ja) | 2000-04-14 | 2006-05-17 | シャープ株式会社 | 光再生装置 |
WO2011159349A1 (en) | 2010-06-14 | 2011-12-22 | Audiotoniq, Inc. | Hearing aid system |
US9167339B2 (en) | 2010-07-07 | 2015-10-20 | Iii Holdings 4, Llc | Hearing damage limiting headphones |
US8515110B2 (en) | 2010-09-30 | 2013-08-20 | Audiotoniq, Inc. | Hearing aid with automatic mode change capabilities |
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