JPH03125331A - 光記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、使用する光記録媒体が再生可能かどうかを判
別し、特性の合わない光記録媒体に対して誤って記録・
消去をおこなうことを回避する光記録再生装置に関丈る
ものである。

〔従来の技術〕

従来の光記録再生装置について、ここでは光磁気メモリ
装置を例に挙げて説明する。

光磁気メモリ装置の一例として光磁気ディスクメモリ装
置をとりあげ、光記録媒体としての光磁気ディスクに対
する情報の記録、記録された情報の再生、およびその消
去の各動作について第２６図ないし第３３図に基づいて
説明すると以下のとおりである。

まず光磁気ディスクへの情報の記録、および光磁気ディ
スクに記録された情報の消去の各動作について第２６図
に基づいて説明する。

情報の記録・消去が可能な光記録媒体としての光磁気デ
ィスクは、同図（ａ）に示すように、ディスク基板２８
０４上に、成膜された記録磁性膜２８０５が形成されて
いる。記録磁性膜２８０５は、磁化容易軸がその膜面に
垂直な方向になるように成膜されており、予め同一の向
き（例えば、同図中の磁化の向きＡ）にイニシャライズ
されている。さて、半導体レーザ２８０１から出射され
たレーザビーム２８０３は対物レンズ２８０２で１μｍ
程度の径に集光され、記録磁性膜２８０５に照射される
。記録すべき情報に対応する記録信号２８０７　（同図
（ｂ）に示す）に基づいてレーザビーム２８０３の光強
度の強弱が制御される。

光強度の強いレーザビーム２８０３が照射された部分の
温度は局所的に上昇してキュリー温度を越えると、その
部分の保磁力が著しく低下する。そして、その部分の磁
化の向きは、予め印加されていた外部印加磁場２８０６
と同一の向き（同図中の磁化の向きＢ）に反転する。こ
のようにして、記録信号２８０７と同一の情報が記録磁
性膜２８０５に記録されることになる。以下、上記のよ
うにして記録された記録部分をマーク２８０９、そうで
ない部分を非マーク２８１０と称する。即ち、例えばマ
ーク２８０９が２値論理の（１）に対応し、非マーク２
８１０°が２値論理の（０）に対応し、これらにより情
報が構成されている。また、この方法で記録することを
光磁気記録と称する。記録磁性膜２８０５に記録された
情報の消去は、外部印加磁場２８．０６の向きを逆にし
て記録時と同様の方法でおこない、磁化の向きを元のイ
ニシャライズ時の向き（即ち、同図中の磁化の向きＡ）
に戻すことによりおこなわれる。この結果、消去された
部分は非マーク２８１０となる。

なお、本例ではレーザビーム２８ｏ３を記録信号２８０
７に応じて変調し、一定の強さの外部印加磁場２８０６
を印加して記録する光変調方式を示したが、その他にこ
れとは逆に、レーザビーム２８０３の強さを一定にし、
外部印加磁場２８０６の向きを記録信号２８ｏ７に応じ
て変調して記録する磁界変調方式で記録してもよい。

また、本例のディスク基板２８０４にはガラス、または
プラスチック等のディスク板が用いられており、第２６
図（ａ）に示すように、トラックやセクタの番地を示す
アドレス情報が、予め物理的な凹凸２８０８の形状で刻
み込まれて形成されている。この凹凸２８０８もマーク
、および非マークである。アドレス情報は予め一定のフ
ォーマットで刻み込まれているので、それ以後は記録・
消去の各動作はできないようになっている。予め物理的
な凹凸２８０８の形状で刻み込まれた部分を以後プリフ
ォーマット部と称する。これに対して情報の記録・消去
の各動作はプリフォーマット部以外の部分でおこなわれ
、この部分をＭＯ（データ）部と称する。通常、このプ
リフォーマット部３００３、およびＭＯ（データ）部３
００２は、第２８図に示すように、渦巻状ま、たは同心
円状のトラック３００５上に交互に配置されている。

プリフォーマット部３００３とＭＯ（データ）部３００
２とが一対でひとつのセクタ３００４を構成している。

光磁気ディスク３００１はトラック３００５上に、それ
ぞれアドレス（番地）情報を含んだ多数のセクタを含む
構成となっている。情報の記録・再生・消去の各動作は
、セクタ単位ごとにおこなわれる。また、第２９図に示
すように、上記トラック３００５上のプリフォーマット
部３００３にマーク２８０８が予め刻み込まれていると
ともに、ＭＯ（データ）部３００２に光磁気記録による
マーク２８０９が記録されることになる。

光磁気ディスクの再生動作を第２７図に基づいて以下に
説明する。

同図（ａ）に示すように、半導体レーザ２８０１から出
射され、対物レンズ２８０２で１μｍ程度の径に集光さ
れたレーザビーム２８０３は、記録磁性膜２８０５に照
射される。ただし、レーザビーム２８０３は直線偏光さ
れており、レーザビーム２８０３の光強度は記録・消去
の各動作時よりも弱くしである。直線偏光されたレーザ
ビーム２８０３の光磁気ディスク３００１からの反射光
は、記録磁性膜２８０５を通過、および反射する際にフ
ァラデー効果、およびカー効果によってその偏光面が回
転する。この回転方向は、マーク２８０９と非マーク２
８１０とでは、互いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回
転する。この偏光方向の違いを検出することにより再生
をおこない、同図（ｂ）（ｃ）に示すような再生信号Ｓ
１、Ｓ２が生成される。

第３０図は再生光学系の構成の要部を示すものであり、
同図に基づいて上記再生信号Ｓ１、Ｓ２の分離を以下に
説明する。

反射光３２０１はＰＢＳ　（検光子）３２０２に入射さ
れ、２つの検波光３２１０．３２１１がそれぞれの偏光
方向ごとに光検出器３２０３．３２０４に導かれる。そ
して、光検出器３２０３．３２０４においてそれぞれ光
強度に応じて変化する電気信号に変換され、再生信号Ｓ
１、Ｓ２として出力される。従って、再生信号ＳＬ、Ｓ
２からマーク２８０９と非マーク２８１ｏとが分離して
読み出せるので、記録磁性膜２８ｏ５に記録された情報
の再生をおこなうことができる。

第３１図に基づいて光磁気記録されたＭＯ（データ）部
３００２を再生した時に分離される再生信号ＳＬ、Ｓ２
の極性について以下に説明する。

光磁気記録による非マーク２８１０　（磁化の向きＡ）
からの反射光ベクトルをα、マーク２８０９（磁化の向
きＢ）からの反射光ベクトルをβとすると、αとβとは
互いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回転した反射光ベ
クトルである。反射光ベクトルα、βは、検光子（ＰＢ
Ｓ）３２０２におけるふたつの偏光方向Ｘ、Ｙへそれぞ
れ検波される。このふたつの偏光方向Ｘ、Ｙは互いに直
角な関係にある。反射光ベクトルα、βを偏光方向Ｘ、
Ｙにそれぞれ投影した検波光ベクトルα８、β７の大き
さが再生信号Ｓ１および再生信号ｓ２に対応している。

さらに検波光ベクトルα８、β７は、第３０図の検波光
３２１ｏ、３２１１にそれぞれ対応している。第３１図
に示すように、再生信号ＳＬは非マーク２８１ｏに対し
てハイレベル、マーク２８０９に対してはローレベルが
対応している。また、再生信号ｓ２は非マーク２８１ｏ
に対°シてローレベル、マーク２８０９に対してはハイ
レベルが対応しており、再生信号Ｓ１とは逆極性となっ
ている。そして、再生信号Ｓ１、Ｓ２は、Ｓ／Ｎ比を向
上させるために差動増幅器に入力され、差動増幅されて
情報の再生がおこなわれるようになっている。

次に、第３２図に基づいて物理的な凹凸２８０８で刻み
込まれたプリフォーマット部３００３を再生したときの
再生信号Ｓ１、Ｓ２の極性について以下に説明する。

プリフォーマット部３００３は記録・消去の各動作がお
こなわれないので、磁化の向きはＡのみである。この部
分では、凹凸２８０８の形状によりレーザビームの回折
が生じる。従って、同図に示すように、反射光ベクトル
は凹凸２８０８に応じてそれぞれ長い反射光ベクトルα
（凹凸の非マークの再生に対応する）、および短い反射
光ベクトルＴ（凹凸のマークの再生に対応する）となる
。これを検光子（ＰＢＳ３２０２）の偏光方向Ｘ、Ｙに
投影すると検波光ベクトルα８、Ｔ７がそれぞれ得られ
る。検波光ベクトルα８、γ７の大きさが再生信号Ｓ１
、Ｓ２に対応している。再生信号Ｓｌおよび再生信号Ｓ
２はともに、凹凸２８０８の非マークに対してハイレベ
ル、マークに対してローレベルに対応している。従って
、この再生信号Ｓ１、Ｓ２は第３１図に示した光磁気記
録のマーク２８０９、非マーク２８１ｏのものとは異な
り、極性が同じものとなる。即ち、第２７図に示すよう
に、再生信号Ｓｌ、３２はプリフォーマット部３００３
において極性が同じであり、ＭＯ（データ）部３００２
においては互いに極性が反転した信号になる。

第３３図に基づいて光磁気ディスクメモリ装置における
再生回路について以下に説明する。

第３３図において再生信号Ｓｌ、Ｓ２は再生回路３５０
１に入力され、２値化された出力信号３５１０がアドレ
ス発生回路３５ｏ２、およびタイミング発生回路３５ｏ
３に入力される。アドレス発生回路３５ｏ２において第
２８図に示したセクタ単位のプリフォーマット部３００
３に含まれるアドレス（番地）情報が出力信号３５１０
から読み出され、アドレス信号３５１１が出力される。

また、タイミング発生回路３５０３においては同じくプ
リフォーマット部に含まれるセクタ同期用のセクタマー
クが検出され、記録・再生・消去基準タイミング信号３
５１２が出力される。光磁気ディスクメモリ装置におい
て、このアドレス信号３５１１と記録・再生・消去基準
タイミング信号３５１２とに基づいて、所望のアドレス
のセクタに情報の記録・再生・消去をおこなうようにな
っている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、上記従来の構成では、光磁気記録された光磁気
ディスクは、例えば装置が異なったり、あるいは光磁気
ディスクそのものの特性（例えば反射率や透過率など）
が異なってい、る場合には再生ができないこともある。

また、誤って再生時の光量を記録・消去時の光量にした
場合などには、そこに記録された情報の消去、ひいては
光磁気ディスクそのものが破壊されるに至り、信頼性が
低下する等の問題点を有している。

〔課題を解決するための手段〕

本発明に係る光記録再生装置は、上記の課題を解決する
ために、再生回路内に再生信号振幅に対応するＡＧＣ電
圧を出力するＡＧＣ回路を備えた光記録再生装置におい
て、光記録媒体が装置に装着された際に、上記ＡＧＣ回
路からの記録された情報に対応するＡＧＣ電圧が記録、
消去、または再生可能範囲内にあるかどうかを判別し、
記録、消去、または再生可能範囲内にある時には該光記
録媒体に対して情報の記録、再生、および消去の各動作
をおこない、記録、消去、または再生可能範囲内にない
時には該光記録媒体をイジェクトしてその旨を示す警報
表示出力を出力するとともに、ＡＧＣ電圧の値に基づい
て記録、消去、または再生の各条件を光記録媒体ごとに
設定する制御手段を備えたことを特徴としている。

〔作　用〕

上記の構成によれば、光記録再生装置の再生回路に既設
のＡＧＣ回路を利用するので、別途回路を設ける必要が
なく、しかも情報を再生する前に使用する光記録媒体の
特性を判別することができる。即ち、ＡＧＣ回路の出力
であるＡＧＣ電圧は、再生信号振幅をそのまま表しては
いないが、再生信号振幅に対応して単調増加、または単
調減少する。さらに、上記ＡＧＣ電圧は使用する光記録
媒体の反射率等の特性に対応して単調増加、または単調
減少する。従って、光記録媒体を装置に装着した際、得
られたＡＧＣ電圧が、予め設定された記録、消去、また
は、再生可能範囲内にあるかどうかを制御手段が判別し
、処理することによって、該光記録媒体に対する情報の
誤った記録・消去を未然に回避することができる。例え
ば、ＡＧＣ電圧が、上記の記録、消去、または、再生可
能範囲内にある時には、該光記録媒体に対して情報の記
録、再生、および消去の各動作をおこない、記録、消去
、または再生可能範囲内にない時には該光記録媒体をイ
ジェクトしてその旨を示す警報表示出力を出力すること
によって、システムの信頼性を向上させることができる
。また、上記のＡＧＣ電圧の値に基づいて、再生時の光
量や、記録、消去時の光量などの条件も装着された光記
録媒体ごとに設定されるので、システムの信頼性を向上
させることができる。

〔実施例〕

本発明の一実施例を第１図ないし第２５図に基づいて説
明すれば、以下のとおりである。

まず、本発明に係る光記録再生装置として光磁気メモリ
装置について第１０図ないし第１８図に基づいて以下に
説明する。

第１０図は、光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図
である。光記録媒体としての光磁気ディスク１２０１は
スピンドルモータ１２０２によって回転され、光ヘッド
１２０３から出射されたレーザビーム１２０４によって
情報の記録・再生・消去がおこなわれる。この時、外部
印加磁石１２０５をモータ等で回転させて磁場の向きを
反転させることよって記録・消去のための外部印加磁場
を得る。また、電磁石により記録・消去のための外部印
加磁場を得てもよい。光ヘッド１２ｏ３内の半導体レー
ザ（同図中には図示しない）へは、記録回路１２０６か
ら半導体レーザ駆動電流１２１０が入力される。同駆動
電流１２１０によって半導体レーザの光強度が適切に制
御されるとともに、記録情報が光磁気ディスク１２０１
に記録される。光ヘッド１２０３からは再生回路１２０
７へ再生信号１２１１　（再生信号Ｓ１、Ｓ２）が出力
される。再生回路１２０７において再生された再生デー
タ１２１２はコントローラ１２０８へ送られる。コント
ローラ１２０８では、再生データ１２１２に基づいて各
種の制御信号のタイミングをとるとともに、入力される
信号の状態に基づく制御信号を出力するようになってい
る。即ち、コントローラ１２０８からは各種制御信号１
２１３が記録回路１２０６、および再生回路１２ｏ７へ
送られる。また、コントローラ１２ｏ８がら磁場制御信
号１２１４が外部印加磁石１２ｏ５へ伝送され、外部印
加磁場の向きが制御される。

第１１図に基づいて上記記録回路１２０６について以下
に説明する。

コントローラ１２０８　（同図中には図示しない）から
送られた記録データ１３１１は記録回路１２０６内の変
調回路１３０２に入力される。変調回路１３０２では、
記録データ１３１１が、制御信号１２１３によって記録
フォーマットに応じた変調データ１３１０に変換される
。この変調は、例えば第１４図に示すような変調方式（
後述する）に従っておこなわれる。変調データ１３１０
は、半導体レーザ駆動回路１３０１へ出力される。

半導体レーザ駆動回路１３０１からは半導体レーザ駆動
電流１２１０が出力され、光ヘツド１２０３内の半導体
レーザ２８０１へ伝送される。これと同時に、半導体レ
ーザ駆動回路１３０１へはコントローラ１２０８からの
制御信号１２１３が入力され、半導体レーザ２８０１の
光強度が記録、再生、および消去の各動作に応じて適切
に制御される。

第１２図に基づいて上記再生回路１２０７について以下
に説明する。

光ヘッド１２０３　（同図中には図示しない）がらの再
生信号１２１１　（再生信号Ｓ１、Ｓ２）は、再生回路
１２０７内の信号処理回路１４０１に入力される。信号
処理回路１４０１からは、同期データ１４１０が復調回
路１４０２へ送られ、同時にセクタマーク信号１４１１
がコントローラ１２０８へ伝送される。同期データ１４
１０の復調は、第１４図に示すような方式（後述する）
に従っておこなわれる。つまり、第１１図に示す変調回
路１３０２とは逆の変換をおこなうことによって復調さ
れる。信号処理回路１４０１、復調回路１４０２へはコ
ントローラ１２０８から各種制御信号１２１３が伝送さ
れる。復調回路１４ｏ２がらは再生データ１２１２がコ
ントローラ１２０８へ出力される。

第１３図に基づいて上記コントローラ１２０８について
以下に説明する。

上述の信号処理回路１４ｏ１がらのセクタマーク信号１
４１１は、コントローラ１２０８内のタイミング発生回
路１５ｏ１に入力され、セクタ単位のタイミングで基準
タイミング信号１５１ｏがコントロール回路１５０２へ
伝送される。また、上述の復調回路１４０２からの再生
データ１２１２がコントロール回路１５０２に入力され
る。コントロール回路１５０２では、上記２つの入力信
号から各種制御信号１２１３が生成されるとともに、外
部装置との情報の入出力がおこなわれるようになってい
る。

次に、第１４図ないし第１８図に基づいて、第１１図に
示した記録回路１２０６の動作を以下に説明する。

第１１図における変調回路１３０２では、例えば第１４
図に示す変調方式に基づいて変調がおこなわれる。これ
は、所謂、２，７変調力式と呼ばれるものである。第１
４図に示すように、入力データ（記録情報）は所定の変
調データのパターンに変換される。さらに、第１５図に
示すフォーマットに従って適切なタイミングで、変調デ
ータ１３１０を第１１図に示した半導体レーザ駆動回路
１３０１へ出力する。第１５図は、第２８図に示したセ
クタ３００４のフォーマットを示すもので以後セクタフ
ォーマットと称する。第１５図においてプリフォーマッ
ト部３００３は、セクタ単位の同期タイミングを得るた
めのセクタマーク部１７０１と、セクタのアドレス（番
地）情報を含んだ１０部１７０２とから構成される。こ
れらは第２８図に示したように、記録・消去できないマ
ーク、および非マークに対応する物理的な凹凸が光磁気
ディスク１２０１に刻み込まれている。ＭＯ（データ）
部３００２は、情報データを記録・再生・消去するだめ
のデータ部１７０３と、ふたつのギャップ部１７０４．
１７０５とから構成されている。データ部１７０３に上
記変調データ１３１０が記録される。この時の記録は、
第２６図または第２７図に示したように、光磁気記録に
よるマーク、および非マークでおこなわれる。なお、プ
リフォーマット部３００３とＭＯｌ（データ）部３００
２との間に配置されたギャップ部１７０４１７０５は、
データ部１７０３に情報を記録する際の余裕領域である
。つまり、これらのギャップ部１７０４．１７０５は、
スピンドルモータ１２０２の回転と上記セクタ単位の同
期タイミングとの間に発生する位相誤差などによって、
記録開始位置、および記録終了位置が前後にずれるため
、これを見込んだ領域である。

第１６図に基づいて上記半導体レーザ駆動回路１３０１
について以下に説明する。

半導体レーザ駆動回路１３０１とコントローラ１２０８
との間では４つの各種制御信号１８１０〜１８１３が入
出力される。また、変調回路１３０２（同図中には図示
しない）からは変調データ１３１０が半導体レーザ駆動
回路１３０１に入力される。上記の再生光量制御信号１
８１０は、再生光量制御回路１８０１に入力され、再生
時に光ヘツド１２０３内の半導体レーザ２８０１の再生
光量が適切に制御Ｉｌされるようになっている。記録・
消去光量制御信号１８１１は、記録・消去光量制御回路
１８０３に入力され、記録時・消去時に対応する半導体
レーザ２８０１の光量が制御されるようになっている。

高周波重畳スイッチ信号１８１２は、高周波重畳回路１
８０２に入力され、半導体レーザ２８０１の戻り光によ
るノイズカベ低減される。再生光量制御回路１８０１、
記録・消去光量制御回路１８０３、高周波数重畳回路１
８０２の各出力信号１８１４．１８１５、および１８１
６は、加算回路１８０５で加算され、半導体レーザ駆動
電流１２１０が半導体レーザ２８０１に入力される。半
導体レーザ２８０１の光量（光強度）は、光ヘツド１２
０３内の光検出器１８０６によってその光強度に応じて
変化する電気信号に変換され、光量モニター回路１８０
４を介して光量モニター信号１８１３がコントローラ１
２０８（同図中には図示しない）へ伝送されるようにな
っている。コントローラ１２０８では、光量モニター信
号１８１３に基づいて、上記３つの信号１８１０〜１８
１２が出力される。つまり、半導体レーザ２８０１の光
強度（光量）が再生時と、記録・消去時とで適切な強度
になるように制御される。なお、高周波重畳回路１８０
２の出力信号１８１６は再生時にのみ加算回路１８０５
へ出力されるようになっている。

第１７図、および第１８図に基づいて、第１６図におけ
る情報の記録・消去の各動作、および再生動作を以下に
説明する。

第１７図（ｂ）に示すように、情報の記録、消去時には
、高周波重畳スイッチ信号１８１２は、データ部１７０
３　（同図（ａ）参照）においてローレベル（０）にな
り、それ以外ではハイレベル（１）になる。即ち、ＭＯ
（データ）部３００２内のデータ部１７０３において高
周波重畳をオフし、データ部１７０３以外ではオンする
ようになっている。これに伴って、同図（Ｃ）に示すよ
うに、変調データ１３１０はデータ部１７０３において
光磁気記録される。この時、同図（ｄ）に示すように、
半導体レーザ２８０１の光量レベル（光強度）１９１０
はデータ部１７０３で高レベルになり、それ以外では低
レベルになる。つまり、ブリフォーマント部３００３内
のセクタマーク部１７０１からセクタ同期タイミングを
検出し、１０部１７０２からアドレス（番地）情報等を
読み出して、所定のアドレス（番地）を確認しながら、
ＭＯ（データ）部３００２において情報が記録・消去さ
れる。

一方、情報再生時には、第１８図（ｂ）に示すように、
プリフォーマット部３００３、およびＭＯ（データ）部
３００２のいずれの部分でも高周波重畳スイッチ信号１
８１２はハイレベル（１）である。また、同図（ｃ）に
示すように、変調デーＩ’　１３１０はローレベル（０
）である。さらに、同図（ｄ）に示すように、光量レベ
ル１９１０は低レベルである。つまり、プリフォーマッ
ト部３００３　（同図（ａ）を参照）内のセクタマーク
部１７０１からセクタ同期タイミングを検出し、ＩＤ部
部子７０２らアドレス（番地）情報等を読み出して、所
定のアドレス（番地）を逐次確認しながら、今度はＭＯ
（データ）部３００２から記録された情報が再生される
。

次に、第１９図ないし第２２図に基づいて第１３図に示
したタイミング発生回路１５０１、およびコントロール
回路１５０２の動作について以下に説明する。

第１９図はタイミング発生回路１５０１の構成を示すブ
ロック図であり、信号処理回路１４０１（同図中に図示
しない）から出力されたセクタマーク信号１４１１はタ
イミング発生回路１５０１内のセクタマーク検出回路２
１０１に入力される。同回路２１０１は、セクタマーク
検出信号２１１０を出力する。セクタマーク検出回路２
１０１では、セクタマークの有無が検出される。セクタ
マーク検出信号２１１０は、カウンタ２１０２、タイマ
ー回路２１０４、判定回路２１０６へそれぞれ伝送され
る。カウンタ２１０２、およびタイマー回路２１０４の
出力信号２１１１、および２１１２は、それぞれスイッ
チ回路２１０３に入力され、同回路２１０３でどちらか
一方が選択された後に基準タイミング信号１５１０とし
て出力される。また、同信号１５１０は、データ部発生
回路２１０７にも入力され、これに基づいてデータ部発
生信号２１１６が出力される。タイマー回路２１０４か
らは、別の出力信号２１１３がウィンドウ発生回路２１
０５へ伝送される。同回路２１０５の出力信号であるウ
ィンドウ信号２１１４は、判定回路２１０６へ人力され
る。判定回路２１０６では、ウィンドウ信号２１１４と
セクタマーク検出信号２１１０とから、タイミング判定
信号２１１５が出力される。同判定信号２１１５により
、スイッチ回路２１０３では、カウンタ２１０２の出力
信号２１１１とタイマー回路２１０４の出力信号２１１
２とのどちらか一方が選択される。基準タイミング信号
１５１０、データ部発生信号２１１６、およびタイミン
グ判定信号２１１５は、それぞれコントロール回路１５
０２　（第１３図参照）へ伝送される。コントロール回
路１５０２は、これらのタイミング発生回路１５０１か
ら出力される各種信号と、再生データ１２１２とに基づ
いて、前述した各種制御信号１２１３を記録回路１２０
６、および再生回路１ｇＯ７（第１０図参照）へ伝送し
、情報の記録・再生・消去の各制御をおこなうようにな
っている。

第２０図に基づいて第１９図に示したセクタマーク検出
回路２１０１について以下に説明する。

信号処理回路１４０１　（同図中には図示しない）から
出力されたセクタマーク信号１４１１は、カウンタ回路
２２０１を構成するカウンタ１〜９の各人力へ伝送され
る。カウンタ１〜９の各出力信号２２１１〜２２１９は
、判定回路２２０２へそれぞれ伝送され、この結果に基
づいてセクタマーク検出信号２１１０が出力される。換
言すれば、セクタマーク検出回路２１０１は、セクタマ
ーク部１７０１　（第１５図参照）を検出し、セクタ単
位の記録・再生・消去の各動作をおこなうのに必要な同
期タイミングを得る回路である。

第２１図に基づいて上記のカウンタ１〜９の動作を以下
に説明する。

セクタマーク部１７０１のパターンの一例として、同図
（ｂ）に示すようなマーク、および非マークから構成さ
れるものを示す。この例では、同図（ａ）に示すように
、マーク長、および非マーク長の比が５：３：３ニア：
３：３：３：３：５の順序になるようにマークが刻み込
まれている。

このマーク、および非マークのパターンを再生して得ら
れるセクタマーク信号１４１１は、同図（Ｃ）に示すよ
うに、例えばマークの部分でローレベル（０）、非マー
クの部分でハイレベル（１）となる２値信号に変換され
る。このセクタマーク信号１４１１が上記カウンタ１〜
９にそれぞれ入力されると、まずカウンタ１は、マーク
長５の長さに対応するカウンタクロック２３１０のクロ
ック数をカウントする。カウンタクロック２３１０は、
同図（ｄ）で示すように、セクタマーク信号１４１１よ
りも高い周波数を有している。そして、このカウント数
が所定範囲内であれば最初のマーク（マーク長５）が正
確に検出されたことになる。続いて、カウンタ２におい
て同様に非マーク長３の長さの非マークが検出される。

このように順次セクタマーク部１７０１のマーク、およ
び非マークが検出され、最後にマーク長５の長さをカウ
ンタ９が検出する。このようにして得られた９個の、マ
ークまたは非マークの検出信号２２１１〜２２１９が判
定回路２２０２へ伝送される。そして、この９個の検出
結果のうち、全て、またはその一部がセクタマーク部１
７０１のパターンと一致しているか否かが判定されると
ともに、マーク・非マークの順序が判定される。この結
果、セクタマーク部であると判定された場合のみ、セク
タマーク検出信号２１１０がローレベル（０）になる。

従って、この信号２１１０はセクタ単位の同期タイミン
グとして使用することができる。

第２２図に基づいてタイミング発生回路１５０１の各部
の波形を以下に説明する。

同図（ｂ）に示すように、セクタマーク検出信号２１１
０はプリフォーマット部３００３内のセクタマーク部１
７０１　（同図中（ａ）に示す）を検出するとローレベ
ルになる。同検出信号２１１０°の立ち下がりエツジが
セクタの同期タイミングになる。カウンタ２１０２は、
同検出信号２１１０の立ち下がりエツジから所定カウン
ト後に、同図（Ｃ）に示すように、カウンタ出力信号２
１１１をローレベルにする。一方、タイマー回路２１０
４のカウント数は、上記カウンタ２１０２のカウント数
を加えて１つのセクタ製分だけカウント数が大きい。従
って、同図（ｄ）に示すように、タイマー回路２１０４
の出力であるタイマー回路出力信号２１１２の立ち下が
りエツジは、次のセクタの信号２１１１の立ち下がりエ
ツジとタイミングがほぼ一致する。また、同図（ｅ）に
示すように、ウィンドウ発生回路２１０５からのウィン
ドウ信号２１１４は、セクタマーク検出信号２１１０の
立ち下がりエツジを基準に、次のセクタにおけるセクタ
マーク検出信号２１１０の立ち下がりエツジ付近で所定
のウィンドウ幅をもってローレベルになるようになって
いる。判定回路２１０６の出力信号であるタイミング判
定信号２１１５は、ウィンドウ発生回路２１０５からの
ウィンドウ信号２１１４がローレベルの時に、セクタマ
ーク検出信号２１１０の立ち下がりエツジが存在すれば
、同図（ｆ）中の実線で示すように、ハイレベルになる
ようになっている。一方、セクタマーク検出信号２１１
０の立ち下がりエツジが存在しなければローレベルにな
るようになっている（同図（ｆ）中の破線で示す）。従
って、タイミング判定信号２１１５は、セクタマークの
検出が所定の範囲で検出できたか、あるいは検出ミスで
あったかを判定する信号になる。スイッチ回路２１０３
においては、セクタマークの検出ができた場合には信号
２１１１が選択され、そうでなく検出ミスである場合に
は信号２１１２が選択されるようになっている。この結
果、同図（ｇ）に示すように、基準タイミング信号１５
１０はセクタマークの検出ミスが発生してもそのタイミ
ング信号を確実に出力できる。即ち、上記に示したよう
にひとつ前のセクタのタイミングに基づいて補正をおこ
なうことができる。

このようにして得られた基準タイミング信号１５１０は
、データ部発生回路２１０７へ伝送される。同回路２１
０７はカウンタの一種であり、その出力であるデータ部
発生信号２１１６はデータ部１７０３でローレベルにな
る。（同図（ｈ）を参照）つまり、データ部発生信号２
１１６は、プリフォーマット部３００３とＭＯ（データ
）部３００２とを判別する信号として利用できる。この
ようにして得られた基準タイミング信号１５１０、タイ
ミング判定信号２１１５、およびデータ部発生信号２１
１６は、第１３図に示したコントロール回路１５０２へ
伝送される。同回路１５０２では、これらの信号に基づ
いて前述の各種制御信号１２１３が生成される。

次に、第２３図ないし第２５図に基づいて、第１２図に
示した信号処理回路１４０１の動作について以下に説明
する。

第２３図に示すように、光磁気ディスク１２０１から再
生された再生信号１２１１　（再生信号Ｓ１、Ｓ２）は
、信号処理回路１４０１内のバッファアンプ２５０１に
入力される。その出力信号２５１０は、ＭＯ波形処理部
２５０２とプリフォーマット波形処理部２５０３とへ伝
送される。これらの回路からは、ＭＯ（データ）部３０
０２とプリフォーマット部３００３とのマーク、および
非マークに対応した２値化信号２５１１．２５１２がそ
れぞれ出力される。これらの２値化信号はデータ同期部
２５０４に入力され、データ同期部２５０４内のＰＬＬ
　（Ｐｈａｓｅ　　ＬｏｃｋｅｄＬｏｏｐ）において、
クロックと同期した同期データ２５１３が出力され、復
調回路１４０２　（同図中には図示しない）へ伝送され
る。また、プリフォーマット波形処理部２５０３ではセ
クタマーク信号１４１１が生成され、タイミング発生回
路１５０１へ伝送される。信号処理コントロール部２５
０５では、信号処理回路１４０１内の各部間の各種制御
信号２５１４〜２５１７が人出力される。また、第１３
図に示したコントローラ１２０８との間で各種制御信号
１２１３が入出力される。

第２４図および第２５図は、信号処理回路１４０１の各
部の波形を示す図である。第２４図（ｂ）、および同図
（ｃ）に示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２はＭＯ波形処
理部２５ｏ２において差動されてＭＯ（データ）部３０
０２の情報のみが分離され、さらに２値化され、ＭＯＺ
値化信号２５１１が生成される（同図（ｄ）を参照）。

また、再生信号Ｓ１、Ｓ２はプリフォーマット波形処理
部２５０３において加算されてプリフォーマット部３０
０３の情報のみが分離され、さらに２値化されて、ＩＤ
２値化信号２５１２とセクタマーク信号１４１１が得ら
れる（同図（ｅ）、および同図（ｇ）を参照）。再生信
号Ｓ１、Ｓ２の差動および加算によってＭＯ（データ）
部３００２とプリフォーマット部３００３　（同図（ａ
）を参照）とが分離できる理由は、第２７図に示したよ
うに、再生信号Ｓ１、Ｓ２の極性がＭＯ（データ）部３
００２では逆であり、プリフォーマット部３゜０３にお
いては同じだからである。ＭＯ２値化信号２５１１とＩ
Ｄ２値化信号２５１２とは、同図（ｆ）に示すように、
それぞれデータ同期部２５０４においてクロックと同期
した同期データ２５１３に変換される。

第２５図は、第２４図の波形を詳細に説明する図である
。変調データ１３１０　（第２５図（ａ）を参照）に基
づいて記録されたマーク、および非マークはレーザスボ
ッ）２’７０１の照射によって再生される（同図（ｂ）
を参照）。同図（ｃ）に示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ
２はマークの中心でピークになる信号である。ＭＯ２値
化信号２５１１またはＩＤ２値化信号２５１２は、この
ピーク位置を検出した信号であり、その立ち上がりエツ
ジがピーク位置と一致している（同図（ｄ）を参照）。

データ同期部２５０４内のＰＬＬにおいて、ＭＯ２値化
信号２５１１またはＩＤ２値化信号２５１２から同期ク
ロックを生成し、このクロックと同期させて同期データ
２５１３を得ている。同図（ｅ）に示すように、同期デ
ータ２５１３は変調データ１３１０を忠実に再生したデ
ータとなる。

ここで、本発明に係る光記録再生装置について第１図な
いし第９図に基づいて説明すると、以下のとおりである
。

まず、第２図に基づいて、記録した情報の再生について
以下に詳細に説明する。

第２図は、ＭＯ波形処理部２５ｏ２の要部を示しており
、再生信号ｓ１、ｓ２は、ＭＯ波形処理部２５０２内の
差動増幅器７４に入力され、ここで再生信号中のＭＯデ
ータのみが分離されるようになっている。ＭＯデータは
、ＡＧＣ回路としてのＡＧＣアンプ７５に入力され、Ｍ
Ｏデータの振幅が一定にされ、さらに２値化回路７６に
おいて２値化されて２値化信号が出力される。そして、
２値化信号に基づいて再生データが生成されるようにな
っている。なお、ＡＧＣアンプ７５からはＡＧＣ電圧が
コントローラ１２０８内のＡ／Ｄ変換器４９（第１図を
参照）へ出力される。

上記のＡＧＣアンプ７５の例を第３図ないし第５図に基
づいて説明すると、以下のとおりである。

第３図に示すように、ＡＧＣアンプ７５は主として、ク
ランプ回路７８、コンパレータ７９、ＡＧＣ電圧発生回
路８０、および電圧制御アンプ（以下、単にＶＣＡと称
す）７７から構成されており、前述の差動増幅器７４の
出力信号である差動信号がＶＣＡ７７に人力される。Ｖ
ＣＡ７７の増幅度はＡＧＣ電圧発生回路８０の出力であ
るＡＧＣ電圧に応じて変化し、第４図に示すように、Ａ
ＧＣ電圧が大きくなるにつれて増幅度が小さくなり、Ａ
ＧＣ電圧が小さくなるにつれて増幅度が大きくなるよう
になっている。ＶＣＡ７７の出力は、２値化回路７６（
第３図中には図示しない）へ伝送されるとともに、クラ
ンプ回路７８の入力へ伝送される。クランプ回路７８で
は、ＶＣＡ７７の出力中の直流分がカットされるととも
に、交流骨（ピークピーク値に相当する）のうちプラス
方向のピークは、同回路７８内のダイオードＤによりダ
イオードＤの順方向降下電圧値にクランプされ、マイナ
ス方向のピークはクランプされずにそのまま後続のコン
パレータ７９の反転入力へ伝送される。コンパレータ７
９では、非反転入力に印加されている基準電圧■。と、
クランプ回路７８の出力とが大小比較される。コンパレ
ータ７９の出力に基づいて、ＡＧＣ電圧発生回路８０は
ＡＧＣ電圧を出力するようになっている。

例えば、クランプ回路７８の出力振幅が基準電圧ｖ０よ
りも大きい場合には、コンパレータ７９の出力がハイレ
ベルとなり、トランジスタ８１はＯＮするので、コンデ
ンサ８３が充電抵抗日２を介して電源■。、により充電
されてコンデンサ８３の両端の電圧が大きくなる。この
時の充電時定数は、充電抵抗８２およびコンデンサ８３
によって決まる。充電抵抗８２とコンデンサ８３との接
続点Ａに生じるＡＧＣ電圧、即ち、コンデンサ８３の両
端の電圧が増幅度調整用の電圧としてＶＣＡ７７に伝送
され、ＶＣＡ７７の増幅度は小さくなる。一方、クラン
プ回路７８の出力振幅が基準電圧■。よりも小さい場合
には、コンパレータ７９の出力がローレベルとなり、ト
ランジスタ８１はＯＦＦするので、コンデンサ８３に蓄
えられた電荷が放電抵抗８４を介して放電される。この
時の放電時定数は、放電抵抗８４およびコンデンサ８３
によって決まる。これに伴って、ＡＧＣ電圧が小さくな
り、ＶＣＡ７７の増幅度は大きくなる。

以上より、差動信号のピークピーク値とＡＧＣ電圧との
間には、第５図に示すような関係があり、同図に示す通
常振幅範囲においてＡＧＣ電圧は差動信号のピークピー
ク値に対して単調増加することがわかる。即ち、ＡＧＣ
電圧の最大値・最小値が、差動信号のビークピーク値の
最大値・最小値に対応する。なお、上記のクランプ回路
７８は、全波整流回路でもよい。

ＡＧＣアンプの他の例を第６図に基づいて説明すると、
以下のとおりである。なお、上述したＡＧＣアンプで使
用した部材と同一の機能を有する部材には同一の符号を
付記し、便宜上、その詳細な説明を省略する。

ここで例示するＡＧＣアンプは、ＡＧＣ電圧がサンプル
ホールド回路８５およびアナログスイッチ８６を介して
ＶＣＡ７７へ伝送されるという点を除いては、上述した
ＡＧＣアンプと本質的には同じである。上記の、サンプ
ルホールド回路８５およびアナログスイッチ８６は、記
録・消去の各動作時にＡＧＣ電圧をその直前の値にホー
ルドするために設けられている。即ち、再生動作時には
、ＡＧＣ電圧が直接アナログスイッチ８６の接点８６ａ
を介してＶＣＡ７７へ伝送される。一方、記録・消去の
各動作時には、スイッチタイミング信号によりアナログ
スイッチ８６は接点８６ａの側から接点８６ｔ）の側へ
切り換えられ、サンプルホールド回路８５は、ホールド
タイミング信号により、記録・消去の各動作直前のＡＧ
Ｃ電圧値にホールドされる。このことにより、記録・消
去の影響が回避でき、信顧性が向上する。なお、上記の
サンプルホールド回路８５は、例えばＡ／Ｄ変換器、お
よびＤ／Ａ変換器を含む構成から成っているものでもよ
い。

ところで、光記録再生装置（システム）の起動時に、使
用する光磁気ディスクの特性を判別するためには、ＡＧ
Ｃアンプは早い応答性が要求される。このために、上記
のＡＧＣ電圧発生回路８０内のコンデンサ８３の放電の
時定数を短縮して応答性を改善する回路を第７図に基づ
いて以下に説明する。

この回路は、主としてオーブンコレクタ８７・８８と放
電抵抗８９とから構成されており、オープンコレクタ８
日の出力は、第３図（または第６図）中の充電抵抗８２
とコンデンサ８３との接続点Ａに接続されている。例え
ば、オープンコレクタ８７にはＡＧＣ速度制御信号が入
力され、オーブンコレクタ８８にはＡＧＣリセット信号
が入力される。ＡＧＣ速度制御信号は、光磁気ディスク
の特性を判別する時にハイレベルになる。この時、オー
ブンコレクタ８７の出力はローレベルになり、第３図（
または第６図）中の放電抵抗８４と並列に放電抵抗８９
が接続されることになる。この結果、コンデンサ８３の
放電に要する時間が短縮される。また、ＡＧＣリセット
信号は、システム起動時やシステム異常時などにハイレ
ベルになる。この時、放電抵抗８４が短絡されることに
なるので、瞬時に放電が完了する。

第１図は、コントローラ１２０日の本発明に係る要部を
示しており、前述のＡＧＣアンプ７５の出力であるＡＧ
Ｃ電圧は、コントローラ１２０８（同図中には図示しな
い）内のＡ／Ｄ変換器４９に人力されて、ディジタル値
に変換される。ディジタル値に変換されたＡＧＣ電圧は
、制御手段としてのプロセッサ７０に伝送される。プロ
セッサ７０は、ディジタル値に変換されたＡＧＣ電圧を
サンプリングし、サンプリングしたＡＧＣ電圧が予め設
定された再生可能範囲内にあるかどうかを判別するよう
になっている。なお、上記Ａ／Ｄ変換器４９に代えて、
ウィンドウコンパレータを使用してもよい。

ここで、光磁気ディスクの特性の判別例を第８図に基づ
いて以下に説明する。

一般に、光磁気ディスクの反射率が変わると、それに伴
って再生信号が変化するので、ＡＧＣ電圧（または差動
信号振幅）も同図に示すように変化する。即ち、反射率
が大きくなるに伴ってＡＧＣ電圧（または差動信号振幅
）も単調増加する。

従って、ＡＧＣ電圧（または差動信号振幅）から使用す
る光磁気ディスクの反射率が判別できることになる。例
えば第８図に示すように、同図中Ｒ７、Ｒ８、およびＲ
６で示す反射率を有する光磁気ディスクＡ、Ｂ、および
Ｃを本光記録再生装置で使用するとする。この時、予め
設定された再生可能範囲を同図中の破線で示す範囲であ
るとすると、光磁気ディスクＢは再生可能範囲内にある
ので本光記録再生装置で再生、記録・消去の各動作がお
こなえる。一方、光磁気ディスクＡおよびＣは再生可能
範囲外なので、プロセッサ７０は装着された光磁気ディ
スクＡおよびＣをイジェクトするとともに、警報表示出
力を出力する。従って、本光記録再生装置では光磁気デ
ィスクＡおよびＣの再生、記録・消去の各動作が以降お
こなえなくなる。また、記録マークが長い年月の間に次
第に劣化していき、再生信号振幅が小さくなる場合があ
る。この場合にも、ＡＧＣ電圧からその劣化の度合を検
知することができ、例えば再記録などの処置をおこなう
ことも可能である。また、第８図に示すように、再生可
能範囲と記録、消去可能範囲とが一致しない場合もある
。例えば半導体レーザの出射光量に上限がある場合には
、再生光量は出射可能であるが、記録、消去光量は出射
できないからである。これは、外部印加磁場についても
同様である。この場合には、再生のみをおこない、記録
、消去の各動作を禁止してもよいし、再生のみおこなえ
ることを外部機器等に知らせたり、その旨表示出力を出
力してもよい。

を検出するものとして、例えば第９図に示すようなエン
ベロープ検波回路６４を使用してもよい。

この場合、上記ＡＧＣ電圧を利用する場合と比較して、
別途回路を必要とするとういう短所を有している。同回
路６４は、主としてバッファ回路６５、第１サンプルホ
ールド回路６６、第２サンプルホールド回路６７および
差動増幅回路６８から構成されている。差動信号は、バ
ッファ回路６５を介して第１および第２サンプルホール
ド回路６６・６７において上・下側側のピーク値がホー
ルドされた後、差動増幅回路６８により差動信号のビー
クピーク値に対応する振幅レベル信号が出力される。こ
の振幅レベル信号が予め設定された再生可能範囲内にあ
るかどうかを検出することによって、使用する光磁気デ
ィスクの特性を判別することができる。

なお、上記実施例以外に、例えばＡＧＣ電圧の値によっ
て、再生光量、および記録、再生光量、あるいは記録パ
ルス長、外部印加磁場などの記録、消去、または再生の
各条件をディスクに合わせて自動的に調整することも可
能である。例えば、記録、消去の各条件を例に挙げると
、反射率の高いディスクはど記録感度が低くなる。つま
り、より大きな記録、消去光量、または外部印加磁場、
あるいは、より長い記録パルス長が必要となる。

従って、ＡＧＣ電圧によってこれらの条件を変化させれ
ばよい。もちろん、ＡＧＣ電圧以外に、上記エンベロー
プ検波回路の出力によっておこなえることは言うまでも
ない。

以上のように、サンプリングされたＡＧＣ電圧（または
差動信号振幅）が再生可能範囲内にあるかどうかをプロ
セッサ７０が判別し、記録、消去、または再生可能範囲
内にある時には該光磁気ディスクに対して情報の記録、
再生、および消去の各動作をおこない、記録、消去、ま
たは再生可能範囲内にない時には該光磁気ディスクをイ
ジェクトしてその旨を示す警報表示出力を出力する。な
お、警報表示出力を利用して、例えば警報を耳鳴したり
、警報灯を点滅させたりすることによって、オペレータ
にその旨を知らせることができる。

上記の記録、消去、または再生の各条件を設定する例と
しては、再生専用のＲＯＭ型ディスクと記録、消去可能
な光磁気ディスクの２種のディスクについて、ひとつの
装置で再生、または記録、消去をおこなう場合が挙げら
れる。さらに、具体的な例を挙げると、例えばＣＤ（コ
ンパクトディスク）と光磁気を用いた記録、消去可能な
Ｅｒａｓａ　ｂ　１　ｅ−ＣＤである。つまり、上記２
種の反射率は一般に大きく異なる。そこで、ＡＧＣ電圧
を検出することにより、上記２種の判別をおこない、外
部機器にその旨を知らせたり、また、表示したり、さら
に半導体レーザの出射光量を変更することも可能である
。また、光検出器の出力信号が、後段の回路の動作可能
範囲内に入るように、複数の減衰器、または増幅器の間
で切り換えておこなうことも可能である。

〔発明の効果〕

本発明に係る光記録再生装置は、以上のように、再生回
路内に再生信号振幅に対応するＡＧＣ電圧を出力するＡ
ＧＣ回路を備えた光記録再生装置において、光記録媒体
が装置に装着された際に、上記ＡＧＣ回路からの記録さ
れた情報に対応するＡＧＣ電圧が記録、消去、または再
生可能範囲内にあるかどうかを判別し、記録、消去、ま
たは再生可能範囲内にある時には該光記録媒体に対して
情報の記録、再生、および消去の各動作をおこない、記
録、消去、または再生可能範囲内にない時には該光記録
媒体をイジェクトしてその旨を示す警報表示出力を出力
するとともに、ＡＧＣ電圧の値に基づいて記録、消去、
または再生の各条件を光記録媒体ごとに設定する制御手
段を備えた構成である。

これにより、例えば装置が異なったり、あるいは光記録
媒体そのものの特性（例えば反射率や透過率など）が異
なっている場合でも、誤って再生時の光量を記録・消去
時の光量にして、そこに記録された情報の消去、ひいて
は外光記録媒体そのものが破壊されることを未然に回避
できるので、装置全体の信頼性が向上する。また、簡素
で低コストな回路構成で装置全体の信頼性を向上させる
ことができる等の効果を併せて奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第９図は、本発明の一実施例を示すもので
ある。 第１図は、本発明に係る光記録再生装置の要部を示すブ
ロック図である。 第２図は、ＭＯ波形処理部の要部の構成を示すブロック
図である。 第３図は、ＡＧＣアンプの一構成例を示す図である。 第４図は、電圧制御増幅器に入力されるＡＧＣ電圧と電
圧制御増幅器の増幅度との関係を示す図である。 第５図は、ＡＧＣ電圧と差動信号のビークビーク値との
関係を示す図である。 第６図は、ＡＧＣアンプの他の構成例を示す図である。 第７図は、ＡＧＣ電圧発生回路の放電時定数を短縮させ
る回路例を示す図である。 第８図は、光磁気ディスクの反射率と、ＡＧＣ電圧およ
び再生信号の振幅との関係を示す図である。 第９図は、エンベロープ検波回路の構成例を示す図であ
る。 第１０図ないし第２５図は、本発明に係る光記録再生装
置の構成を説明するためのものである。 第１０図は、光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図
である。 第１１図は、記録回路の構成を示すブロック図である。 第１２図は、再生回路の構成を示すブロック図である。 第１３図は、コントローラの構成を示すブロック図であ
る。 第１４図は、記録情報の変調方式の一例として２．７変
調力式を説明した図である。 第１５図は、セクタのフォーマットの例を示す図である
。 第１６図は、半導体レーザ駆動回路の構成を示す図であ
る。 第１７図、および第１８図は、第１６図における情報の
記録・消去の各動作、および再生動作時の半導体レーザ
駆動回路の各部の波形を示す図である。 第１９図は、タイミング発生回路の構成を示すブロック
図である。 第２０図は、セクタマーク検出回路の構成を示すブロッ
ク図である。 第２１図は、第２０図を構成するカウンタの動作を模式
的に説明した図である。 第２２図は、タイミング発生回路の各部の波形を示す図
である。 第２３図は、信号処理回路の構成を示すブロック図であ
る。 第２４図は、信号処理回路の各部の波形を示す図である
。 第２５図は、第２４図をさらに詳しく説明した図で、Ｍ
Ｏ（データ）部およびプリフォーマット部のマークから
２値化データの生成過程を説明する図である。 第２６図ないし第３３図は、従来例を示すものである。 第２６図は、光磁気ディスクへの情報の記録、および光
磁気ディスクに記録された情報の消去の各動作を説明す
る図である。 第２７図は、光磁気ディスクの再生動作を説明す図であ
る。 第２８図、および第２９図は、光磁気ディスク上におけ
るプリフォーマット部とＭＯ（データ）部との関係を示
す図である。 第３０図は、再生時の光学系の要部の構成を示すブロッ
ク図である。 第３１図および第３２図は、ＭＯ（データ）部、および
プリフォーマット部における再生信号Ｓ１、Ｓ２のそれ
ぞれの極性についての説明図である。 第３３図は、再生回路と、アドレス発生回路およびタイ
ミング発生回路との関係を示す図である。 ４９はＡ／Ｄ変換器、７０はブロモ・ノサ（制御手段）
、７５はＡＧＣアンプ（ＡＧＣ回路）である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、再生回路内に再生信号振幅に対応するＡＧＣ電圧を
   出力するＡＧＣ回路を備えた光記録再生装置において、 光記録媒体が装置に装着された際に、上記ＡＧＣ回路か
   らの記録された情報に対応するＡＧＣ電圧が記録、消去
   、または再生可能範囲内にあるかどうかを判別し、記録
   、消去、または再生可能範囲内にある時には該光記録媒
   体に対して情報の記録、再生、および消去の各動作をお
   こない、記録、消去、または再生可能範囲内にない時に
   は該光記録媒体をイジェクトしてその旨を示す警報表示
   出力を出力するとともに、ＡＧＣ電圧の値に基づいて記
   録、消去、または再生の各条件を光記録媒体ごとに設定
   する制御手段を備えたことを特徴とする光記録再生装置
   。