JPS6335234A - スリットｘ線撮影装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、Ｘ線源およびＸ線源の前に位置決めしたスリ
ット絞りを利用して、扇状のＸ線ビームを形成するスリ
ットＸ線撮影法に関する。かかるＸ線ビームを利用して
、検査しようとする身体部分の少なくとも一部な走査し
、身体の後側に位置決めしたＸ線検出器にＸ線陰影を形
成し、また、扇状のＸ線ビームは、相互に隣接して位置
決めした多数のセクターによって形成する。この方法に
おいては、透過したＸ線は、スリ−ット絞りと共に作動
する調節可能なビームセクター変調装置によって、走査
動作中、各セクターに対し瞬間的に制御される。さらに
、本発明は、上記の如き方法を実施才ろための装置に関
する。

（ロ）従来の技術 かかる方法および装置は、オランダ特許出願第８４００
８５号から公知であイ）。この特πＦ出願により公知の
技術に依ると、各時点においてスリット絞りを透過する
Ｘ線の品質を制御才ろため、スリット絞り付近またはそ
の内部に位置決めさ、＋１だ、ビームセクター変調装置
として作用する減衰要素を利用する。これら減衰要素は
、各々、扇状Ｘ線ビームのセクターを制御し、また、検
査せんとする身体に起因して関係するセクター内に生じ
る減衰如何により、Ｘ線ビーム内に伸長する程度が制御
される。あるセクター内におけろある瞬間、Ｘ線照射を
受けた身体に起因する減衰程度が大である場合、このセ
クターと関係する減衰要素は、動いてＸ線ビームから略
完全に外れる。他方、あるセクター内におけるある瞬間
、Ｘ線照射を受けた身体に起因する減衰程度が小である
場合、関係する減衰要素は、さらにＸ線ビーム内に伸長
する。

この技術の利点は、等質なＸ線写真、即ち、明暗部共、
コントラストに優れたＸ線写真が得られることである。

従って、例えば、上記方法により患者の−に体をＸ線撮
影したならば、医者は、１枚の写真で患者の胸部および
腹部のデータを同時に知ることができる。これに反し、
従来の方法では、かかる情報な得るためには２種類の別
のＸ線写真が必要であった。

（・→　発明が解決しようとする問題点上記の如き公知
の技術は、患者の柔かい組織にＸ線照射を行う場合、柔
かいＸ線で十分であり、また望ましいが、該小寸ろセク
ター内で照射されるＸ線は比較的硬いという欠点がある
。

故に、本発明の目的は、公知の技術を改良し且つ全体と
して　均質のＸ線写真を撮影し得る効果的な方法および
装置を提供せんとすることである。

（ロ）問題点を解決するだめの手段 上記目的のため、本発明に依る方法は、全てのセクター
を一括した所定の方法によりＸ線を周期的に変調させ、
また、調節可能なビームセクター変調装置な飼々に制御
して、各セクターに対するＸ線部分を周期的に選択する
一方、上記周期的な選択はＸ線の所定の周期的変調と同
期化させて行うことを特徴としている。

本発明に依れば、Ｘ線源と、Ｘ線源の前に位置決めした
スリット型絞りとを備え、検査ぜんとする身体の少なく
とも一部を走査し、身体の後側に位置決めしたＸ線検出
器に身体の走査部分のＸ線陰影を形成するスリットＸ綜
撮影法に使用する装置であって、作動中、Ｘ線ビームの
各セクター毎に制御手段に対する身体のＸｍ透過を示す
信号を発生する制御信号発生装置と、制御手段による信
号の制御に基づき、スリットと共に作動し、各セクター
に対してＸ線ビームを影響させることのできる調節可能
ｔ「ビームセクターとを備える装置が、さらに所定の周
期的方法にて変調させたＸ線ビームを生じさせる変調手
段を備えることを特徴とする。

（ホ）実施例 以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施例につい
て詳細に説明する。

第１図は、Ｘ線源】と、Ｘ線源の前に位置決めしたスリ
ット絞り２と、およびＸ線スクリーン３とを備えるスリ
ットＸ線撮影装置の例を線図的に示す図である。スリッ
ト絞り２は、比較的薄厚の扇状Ｘ線ビーム４を透過させ
る。作動時、Ｘ線ビーム４がＸ線検出器３を走査し得る
ような方法にてＸ線源またはスリット絞りの一方、もし
くはその双方な動かす。この目的のため、例えば、Ｘ線
源は、矢印５で示すように、Ｘ線の焦点を経て、図面の
面に対して直角に伸長する軸を中心としてスリ　ット絞
りと共に旋回させることができる。Ｘ線を照射すべき身
体６をＸ線源とＸ線検出器間に位置決めしたならば、こ
の方法により、身体６（の一部）のＸ線写真を撮影する
ことができる。

オランダ特許出願第８３０３１５６号に記載されている
ように、静止型のＸ線検出器に代えて、ストリップ状の
Ｘ線検出器を使用することもできる。

扇状Ｘ線ビームのセクター当りスリット絞りを透過する
Ｘ線の量を制御し、均質なＸ線写真を得ることができる
ようにするため、スリット絞りと共に作動し、ビームセ
クター変調装置としても作動する調節可能な減衰要素７
が設けである。この減衰要素は、例えばオランダ特許出
願第８４００８４５号に記載されているような各種の形
態にて構成することができる３、第１図に示した例にお
いて、減衰要素は舌状であり、舌状部分の自由端は、適
当な制御信号に基づいてＸ線ビーム内に旋回する程度を
制御することができる。しかし、減衰要素は、オランダ
特許出願第８４００８４５号に記載されているように、
スライダー型式とすることもできろ。

減衰要素に必要な制御信号を発生させるため、Ｘ線ビー
ムの各セクターに対し、身体６が透過したＸ線を検出し
、該当する電気信号を発生させる検出器が身体より遠方
に位置決めされている。この検出器は、入射光の高さに
てＸ線スクリーンの後側に位置決めした一列の光検出器
を備えている。

これら光検出器は、入射Ｘ線の作用によってＸ線スクリ
ーン３によって発生された光の量を検出する。また、Ｘ
線スクリーン３を透過したＸ線な検出することも可能で
ある。検出器は、Ｘ線源の前に位置決めし、例えば、オ
ランダ特許出願第８５０６１５２号および第８５０３１
５３号に記載されたような楕円形の放射線計にて構成し
てもよい。

かかる放射線計は、第１図にて８として線図的に示して
あり、矢印９で示すように、走査Ｘ線ビームに同期化さ
せて動かす。この放射線計からの信号は、導体ＪＯを介
して、制御回路】１に供給され、減衰要素の制御信号と
なる。

」−述の技術において、Ｘ線源から供給されるＸ線ビー
ムは、減衰要素による作用を受ける前にスペクトルおよ
び強度は一定になるものと考えられる。

他方、本発明に依れば、Ｘ線ビームの照射束または硬さ
もしくはその双方共、所定の方法にて変調し、また、減
衰要素に加えて、セクターにてもＸ線ビームの制御が行
われる。以下に説明するように、減衰要素の制御が簡単
になる一方、本発明のある実施態様においては、Ｘ線管
の高電圧供給もより簡単にすることができる。

Ｘ線ビームの作用を一定に保つことも各種の方法にて実
現することができる。

本発明の第１実施熊様に依ると、Ｘ線管の高電圧は一定
のりプル電圧によって変調される。−次周波数（５０Ｈ
ｚまたは６０　Ｔ（ｚ　）のりプル電圧を利用する場合
、−次周波数に起因して常時存在する供給電圧中のりプ
ル電圧を解消するだめの手段が不要であるため、Ｘ線管
に対する高電圧の供給は比較的低廉となる。

第２図は、Ｘ線管に対する変調した供給電圧ＶＢの例を
示＋。かかる電圧は、通常の正弦交流電圧を全波整流才
ろことにより得ることができる。Ｘ線管の供給電圧の値
によってＸ線の硬さが決まり、特に、ＶＢ　の値が大き
くなるのに伴って、Ｘ線の硬さも増大する。従って、図
示した型式の供給雷１圧にて励起させたＸ線管は、供給
電圧に比例して最小値から最大値まで増大し、次いで再
び最小値まで周期的に低下する硬さのＸ線ビームを発生
させる。

供給電圧を変化させることに加えて、減衰要素の位置も
制御して、Ｘ線管の電圧が低い時間間隔０の間は開放位
置にあり、中間の時間間隔ｄの間は原則として閉じた位
置となり、この中間の時間間隔中にＸ線ビームが略遮断
されるようにする。

第３図は、１つの減衰要素が完全な閉じた位置と完全に
開放した位置の間にある変形例を示す。

他の減衰要素は、同一の方法にて同期化させた状態にて
制御される。従って、減衰要素は、比較的柔かいＸ線の
みを透過させる。

Ｘ線を照射させた身体を通って該当するセクター内にて
透過されたＸ線の関数として、希望のセクターにてＸ線
ビームを作用させるようにするため、透過したＸ線の強
度は、各セクター内の例えば放射線計８によって測定す
る。所定の最小強度に達しないセクターについては、後
続の時間間隔の間、減衰要素は閉じないようにされる。

このようにして、Ｘ線の透過性の小さい身体部分が位置
するセクター内ではより硬いＸ線が透過する。第３図に
おいて、時間間隔ｄ′は破線で示しである。

後続の時間間隔０の間、あるセクター内では所定の最小
のＸ線強度に再び達し、またはこれを１廻った場合、後
続の時間間隔ｄσ）間、関係する減衰要素は再び閉じら
れる３、 走査するＸ線ビームは、Ｘ線検出器の位置にて例えば約
４ｃｍの厚みを備えるため、ＸＩ写貞の各作像点の輝度
は、走査ビームが該当する作像点を通過する際の瞬間的
な輝度を接合することによって決する。その結果、最終
的なＸ線写真において明−暗が走査方向に余り急激に移
行するのを避けることができる。また、実際上、減衰要
素の開閉は、ある程度の時間を要するという効果もある
。

減衰要素は、２つの異なる位置（完全に開放または完全
に閉じた位置）に動かすだけでよく、また、身体を透過
したＸ線が所定の強度な１廻るか否かを検出すればよい
から、減衰要素は極めて簡単に制御することができろ。

上述した減衰要素の制御方法は、必要であれば、減衰要
素を上記２位置以外の位置に動が才ことによってさらに
精巧なものとすることができる。例えば、半閉じの中間
位置を採用し、関係するセクター内にて身体シ透過した
Ｘ線の強さが２つの所定値の間にある場合に、減衰要素
がこの位置まで動くようにすることができる。かかる中
間位置は、破線ｄ′で示しである。また、幾つかの中間
位置を採用し、もしくは位置を連続的に変化させること
さえ可能である。

一ト記ｌｒｔ哀要素の制御方法は、振幅制御と称される
。これは、減衰要素が所定時間間隔中、多数の異なる位
置の、１つの位置に動かされるからである。

別の手段として、各減衰要素が交庁に開閉する位相制御
を採用することもできる。この場合、この開閉の時点は
、一定または別の方法により変調させたＸ線管またはＸ
線ビームの変調高電圧に対してずらす。

第４図は、位相制御システムの原理を示す。この第４図
は、第２図と同様の方法にて、Ｘ線管の高電圧を変調さ
せるととによって得られたＸ線ビームの一定の変調状態
を示している。さらに、第４図において、時間間隔の一
例として、単一の減衰要素が開放し、または完全に閉じ
る時間間隔が示しである。

時間間隔０１、およびｏ２の間、減衰要素は開放し、こ
の間、上述した制御方法により、Ｘ線管の高電圧は比較
的低い値となる。該当する減衰要素と関係するセクター
内にて身体ケ透過したＸ線の強度が第２の「開放」時間
間隔ｏ２の間、所定の値以下である場合、第４図に示す
ように第６の「開放」時間間隔０．の開始が所定の時間
だけ早くなる。その結果、該当するＸ線ビームｎセクタ
ー内では、Ｘ線を照射せんとする身体はより硬いＸ線を
受ける。第４図に示した状態時、時間間隔ｏ３の開始お
よび終了時点共早くなるが、時間間隔の長さは変わらな
い。後続の時間間隔が早くなったが否が判断するためＩ
Ｃは、早くなった「開放」時間間隔の間、該当するＸ線
ビームのセクター内にて身体を透過したＸ線も測定する
必要がある。このためには、早くなった時間間隔の間、
上記セクター内にて身体を透過したＸ線の強度が所定の
最大値を上廻らない場合、第４図にて時間間隔０４に対
して示したと同様の方法にて後続の時間間隔も早くする
必要がある。

別の手段として、前の「開放」時間間隔において、Ｘ線
ビームの関係するセクター内にて身体を透過したＸ線が
所定の最大強度に達し得なかった場合には、直ちに、「
開放」時間間隔の開始点を所定の時間だけ早める一方、
該当する時間間隔の終了点は変わらないようにすること
も可能である。

その結果、時間間隔は長くなるが、完全な当初の「開放
」時間間隔も同様に維持される。これらは全て第５図に
示しである。第５図において、時間間隔ＯＩ３の開始時
点を早め、延長した開放時間間隔０１３′　　となるよ
うにしである。この時間間隔中、前の間隔において該当
する減衰要素を透過した比較的柔かいＸ線に加えて、よ
り硬いＸ線も透過される。延長した時間間隔は、また、
延長していない完全な時間間隔０１３をも含んでいる。

該当するセクター内にて身体を透過したＸ線の強度は、
「当初−１の時間間隔０，３内にて測定することができ
る。この場合にも、Ｘ＃ｉ！の強度の測定値が所定のい
き値に達し得なかったならば、後続の「開放」時間間隔
の開始時点もまた早くなる。

上述した位相制御の最も単純な形態は、Ｘ線ビームの一
定の変調を示１−曲ｉ２ｐに対する「開放」時間間隔の
位置として、２つの異なる位置を採用する形態である。

第６図に示すように、各場合共、変調曲線のピークを位
相軌跡６６０°を包含する完全なサイクルとみた場合、
制御回路は、例えば、減衰要素の「開放」時間間隔が−
９００（−２７００）から＋９００まで、または１８０
°から６６０°まで（第４図と同様）となるか、あるい
は、「開放」時間間隔は常時９０°にて終了するが、開
始時点は−９００（＝　２７００）または１８０°（第
５図を参照）となるように構成することができる。また
、早めた「開放」時間間隔に対して、別の位置な採用す
ることも勿論可能である。

身体の後側にて測定したＸ線の強度に関し多数の異なる
いき値を選択し、従って、減衰要素の「開放」時間間隔
に対し対応する一定の位相軌跡を選択することにより、
精巧な位相制御システムを実現することができる。

身体ケ透過したＸ線の強度の瞬間的な測定値の＋ｆＸ接
的接散関数て、開放時間間隔の少なくとも開始時点の位
置を連続的に変化させれば最も正確な制御が可能となる
。

第４図乃至第６図から明らかなように、「開放」時間間
隔、または少なくとも終了時点を遅らせることによって
、同一効果の位相制御を実現することもできる。この考
えを採用した実施態様については後で詳細に説明する。

前述のオランダ特許出願第８４００８４５号において、
ビームセクター変調装置として作用する減衰要素は、舌
状体またはスライドとして構成し、制御信号の制御の下
、スリット絞りのスリットを露出させる位置をスリット
を完全に覆う位置の間の任意の位置となり得るようにし
である。かかる減衰要素は、本発明の範囲内にて直ちに
使用することができる。しかし、上述した位相制御シス
テムにおいて、減衰要素は、一定の周波数にて開閉し、
開放または閉じる時点の一方、もしくは、その両時点を
変化させるものであるため、減衰要素には、連続的に回
転する主軸が設けられている。

こ］１は全て第７「スに線図的に示しである。第７図ハ
、スリットＸ線撮影装置のスリット絞りのスリットＳを
示す。このスリット絞りの前には、図示しない手段によ
って回転させることのできる主軸２０が設げられている
。この主軸２０には、一方のみ２１で図示した羽根ホイ
ールに隣接して取付けられてし・る。両羽根ホイール２
１は、スリットＳの全長を占めている。羽根ホイールの
羽根２２は、Ｘ線を減衰させ、または遮断する４１料に
て構成されており、スリンｌ−Ｓの幾分」一方または下
方に位置決めした主軸２０から一定距離伸長しているた
め、主軸が１回転すイ）毎に、第８図に示すように、羽
根ホイールに向い合うよう位置決めしたスリットｓの一
部を短時間だけ覆う。Ｘ線ビーム４の周波数または一定
の変調に合わぜた一定の回転速度に′（主軸を回転させ
たとき、スリットが羽根によって周期的に覆われ、また
は露出されるように羽根の寸法、羽根ホイールの周縁に
沿った羽根の配分および羽根の数を選択する。

希望通りの位相制御を実現するためには、主軸２０に対
１″る各羽根の位置を少なくとも一時的に別個に変化さ
せることができなければならない。

この目的上、羽根ホイールは、摺動、または撥ね出し可
能なように主軸に取付けてあり、各羽根には、電気的に
励起可能なブレーキが設けである。

羽根のブレーキを作動させると、この羽根の主軸２０に
対する角位置が変化し、次の羽根がＸ線ビームを遮断し
、Ｘ線ビームの一定の変調に対して、開放時間間隔の位
相が変化する。

羽根のブレーキの一例は、第９図に線図的に示しである
。このブレーキは、小さいブレーキブロック２３を備え
ている。このブロック２３は枢支点２６を有し、羽根ホ
イール２１の周縁付近に位置決めしたレバー２５の端部
に設けられている。

このレバー２５の他端は、励起可能で、制御信号が送ら
れるコイル２７の可動コアに接続されている。制御信号
のない場合、ブレーキは、ばね２８によって非閉塞位置
に保持される。羽根ホイールを摺動可能なように主軸２
０に取付けである場合、ブレーキを短時間励起させると
、位置が恒久的に変化し、その結果、恒久的な位相シフ
トが行われる。このようにして生じた位相シフトは、再
びブレーキを作動させ、羽根ホイールの位置が変イヒし
て２つの羽根間の角度距離と等しくなるようにさせると
取消される。

第１０図の実施態様において、羽根ホイールには、各々
、羽根ホイールのスポークと主軸２０の突起３２間を伸
長する４つのばね３０が設けである。この場合、ブレー
キは、位相変化の状態を保つ必要がある限り、励起状態
を保たなければならない。ブレーキの作動が完了すると
、羽根ホイールは、ばね３０の作用により再び当初の位
置に自動的に復帰する。

減衰要素を備える羽根ホイールは、各種の方法にて製造
することができる。羽根ホイールを適当なプラスチック
材料にて一体に製造し、減衰要素を構成する羽根をこの
羽根ホイールに埋込むことも可能である。

回転する減衰要素を使用する重要な利点は、高い周波数
を選択してスリットＳを露出させ、または覆うことがで
き、このため、Ｘ線ビームの変調周波数もこネニ対応し
て高くなり、その結果、Ｘ紛検出器をより均一に露出さ
せることができる点である。

羽根ホイールの位置もまた、第９図に示した以外の方法
にて制御することがでとる。第１０図は、−例として、
羽根ホイールと相互作用するうず電流ブレーキ３５を示
寸。

上記において、Ｘ線源から供給されるＸ線ビームは、Ｘ
線管の高電圧を周期的に変化させることにより一定の変
調を行わせることができることを明らかにした。これに
より、Ｘ線ビームの輝度が変化する。また、Ｘ線管を流
れる電流を変調させることができ、その結果、Ｘ線ビー
ムの強度を変化させることが可能となる。

別の手段として、機械的手段によって所定の変調を行う
ととも可能である。かかて〕機械的手段は、スリット絞
りのスリットを周期的に覆うしたは複数の要素を備えて
いる。かかる機械的変調手段の第１実施態様は第１１図
に示しである。、第１１図に示した実施態様において、
Ｘ線源（Ｘ線焦点　のみ図示）とスリット絞り２間には
板状要素４０が位置決めしてあイ）。この板状要素４０
は、スリット２の全長に亘って伸長しており、スリット
を完全に露出させイ）位置に引込んでいる。

スリットを覆う板状要素４０の位置は、破線にて示しで
ある。板状要素４０は、その−縦方向端縁に対して旋回
、または回転１−ることかできる。板状要素４０は、図
示した２つの位置間を前方および後方に周期的に旋回さ
せることかできるが、同様に、端縁４１またはこの端縁
４】に接続され、図面の面に対して直角に伸長する主軸
を中心として回転させることもできる。

第１の場合、板状要素４０は、圧電材料にて製造し１周
期的制御電圧の作用の下、一体に増刊けた端縁に対して
図示した２つの位置間を前方および後方に旋回するよう
にすることが望ましい。

第２の場合、回転主軸に対して放射状に伸長する幾つか
の板状羽根を使用し、上述したと同様の構造の羽根ホイ
ールとなるようにすることができる。但し、羽根は、ス
リットの全長に亘って伸長し、全てのセクターに同時且
つ同一の状態にて作用し得るようにすることができる。

かかる構造は、羽根ローラとして説明することができる
。

また、第１２図にて４２で示したように、スリットＳの
前にて上下に摺動する板状要素を使用することも可能で
ある。

各セクター内にて作動する減衰要素の実施態様をどのよ
うに選択するかに関係なく、Ｘ線ビーム４の一定の変調
が回部であることにも注目する必要がある。減衰要素の
例として、第１１図では羽根ホイールとして、また第１
２図では、舌状体として示；−である。

さらに、スリットの前または後側に機械的変調手段を位
置決めすることも任意である。減衰要素についても同様
であり、第１Ｊ図と第１２図の実施態様では、機械的変
調手段と減衰要素の位置を入れ替えるか、または、両者
ともスリットと同一側（Ｃ設けることができる３、こ、
１１．は、す、下に説明する実施態様についても同様で
ある。

第１３図および第１４図は、本発明に依るシステムに採
用することのできる機械的変調手段の別の実施態様な示
寸。第１３図は、矢印４８で示すように、主軸４７を中
心として回転することのできる中心ハブ４６で構成した
扇状ホイール４５を示す。このハブ４６Ｖは、Ｘ線を減
衰させる材料で製造した多数の放射状アーム４９が設げ
られている。図示した例において、４つの放射状アーム
４９を使用しているが、この数はこれより増減させるこ
とが可能である。基本的には、１つのアームで十分であ
る。扇状ホイールは、作動中、アームがスリットＳに沿
って回転するように構成しである。この目的上、第１４
図に示すように、主軸４７は、スリット絞り２の面に対
し直角に伸長している。

第１４図は、かかる扇状ホイールを備えた本発明に依る
装置の平面図である。Ｘ線を減衰させるアーム間のスペ
ースには、Ｘ線を透過させる材料を充填し、扇状ホイー
ルがより剛性ではあるが、開放状態を保つようにするこ
とができる。スリットＳに沿って回転するアームの効果
をスリットＳの全長に亘って回転する場合と同一にする
ため、アームは、第１３図に破線で示すように扇状に構
成することが望ましい。上述した如き扇状ホイールは、
また、Ｘ線ビームに異なる方法にて同一の作用を与える
２種類の材料製の連続する扇状片にて構成することもで
きる。この例は第１５図に示しである。扇状ホイール５
０は、例えば、鉛にて構成し、また、間のセクター５１
は、例えば銅製とすることができる。例えば、アルミニ
ウムと銅または鉛とアルミニウムというように他の材料
を組合せて使用してもよい。

扇状ホイールは、Ｘ線管の高電圧を変えることにより実
現する一定の変調と共に採用することも可能である。Ｘ
線ビームが硬いＸ線および柔かいＸ線の双方を含んでい
る場合には、扇状ホイールを使用することにより、高電
圧の変化ピーク時（第２図）、柔かいｘＨをろ波するこ
とが可能となる。この場合、扇状ホイールのアームがス
リットの前に位置し、柔かいＸ線を遮断する。

羽根ローラを使用する場合、羽根を交互に別の材料にて
製造することにより同様の効果が得られる。

第１４図において、減衰要素７は、相互に平行に伸長す
る直線状の舌状体として示しである。しかし、この舌状
体は、Ｘ線の焦点付近に収斂点がある扇状の形態に配設
することもできる。さらに、かかる扇状の形態とした場
合、舌状体は円錐状にテーパを付けた状態にて構成する
こともできる。

さらに、舌状体は、幾つかの組として使用し１例えば、
相互に前後となるように、または一部一方が他方の上と
なるように、もしくはその両形態にて位置決めすること
ができる。

最後に、前述の実施態様は別にして、当業者には幾多の
変形例が明らかであろう。例えば、Ｘ線絞り自体、他方
の縦方向端縁に対して周期的に離接し、Ｘ線ビームを変
調させる可動の縦方向端Ｈな備えるようにすることがで
きる。

また、第２図および第４図乃至第６図に示す以外の特徴
に従って、一般的な一定の周期的変調を実行することも
可能である。第１６図は、−例として、Ｘ線管の正弦波
高電圧を半波整流することに得られる変調Ｍを示し、お
よび第１７図は、その変形例を示す。第１６図はまた、
単一のビームセクター変調装置として示したビームセク
ター変調装置の制御方法の変形例を示す。この変形例に
依れば、ビームセクター変調装置は、一般的な変調周波
数より高い周波数にて制御される。ビームセクター変調
装置の振幅または位相の一方、もしくはその両方を上述
の方法にて制御することができる。各セクターに対して
作用する特定の制御信号の効果を考慮しなかったならば
、これまで説明した実施態様において、開放および閉じ
た位相は同様に長くなる。しかし、そうする必要はない
。

閉じた位相は例えば、開放位相より長くするか、または
その逆に短かくすることができよう。

第１７図は、例えば、ビームセクター変調装置を舌状の
減衰要素にて構成する場合に採用することのできるビー
ムセクター変調装置の基本的制御手段を示す。第１７図
によれば、舌状体は、迅速に振動し、開放または閉じた
位置まで動くようにしである。その結果、舌状の減衰要
素の位置に存在するヒステリシス効果を軽減することが
できる。

さらに、上述した全ての状況下において、既にコンピュ
ータの記憶装置に記録させておいた身体のＸ線透過に関
するデータをデータベースとして利用することも可能で
ある。これらデータは、同一の身体を予め検査して入力
しておくことができる。そして、放射線計８のような検
出器を使用することなく、上記データをベースとして、
ビームセクター変調装置の制御信号を発生させることが
できる。

かかる変形例も、本発明の範囲に属するものとみなす。

【図面の簡単な説明】

第１図は、スリットＸ線撮影装置の線図、第２図（主、
本発明によりＸ線ビームに一定の変調を実行する方法な
示す線図、 第３図は、減衰要素の制御線図、 第４図、第５図および第６図は、第３図の変形図、 第７図および第８図は、本発明による装置の詳細を示す
図、 第９図は、本発明による装置の別の詳細を示す線図、 第１０図は、第９図の変形図、 第１１図乃至第１５図は、本発明に使用する機械的変調
装置の各種の実施態様を示す図、第１６図および第１７
図は、第２図および第３図のさらに別の変形例を示す図
である。 （主要符号の説明） １・・・Ｘ線源 ２・・・スリット絞り ３・・Ｘ線検出器（Ｘ線スクリーン） ４・・・Ｘ線ビーム ６・・・身　体 ８・・・放射線計 】０・・・導　体 ２０・・・主　軸 ２１・・・羽根ホイール ２３・・・ブレーキブロック ２５・・・レバー ２６・・・枢支点 ３０・・・ば　ね ３５・・・うず電流ブレーキ ４０・・・板状要素 （外４名） グ　Ｓぴ１Ｃ２７σ３６Ｃ。 ｌＩ Ｆ［０，１１１Ｇ、　１２ 手続補正書（方式） 昭和６２年　９月　１日 特許庁長官　　　小　川　邦　夫　　殿〜之ゴ １、事件の表示　　　　　　　　　　　　　　　　　　
１￥昭和６２年特許願第１５９５１２号 ２、発明の名称 スリットＸ線撮影法およびその装置 ３、補正をする者 事件との関係　　　出　願　人 住所 名　称　　ベー・ファウ・オプティシエ・インダストリ
ー・デ・オウデ・デルフト 新大手町ビル　２０６号室

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、Ｘ線源と、Ｘ線源の前に位置決めされ、扇状のＸ線
   ビームを形成し、前記Ｘ線ビームにより検査せんとする
   身体の少なくとも一部分を走査して身体の後側に位置決
   めしたＸ線検出器にＸ線陰影を形成するスリット絞りと
   を使用し、前記扇状のＸ線ビームを相互に隣接して位置
   決めした多数のセクターによって形成し、および走査動
   作中、スリット絞りと共に作動する調節可能なビームセ
   クター変調装置によって各セクターに対し透過されたＸ
   線を瞬間的に制御するスリットＸ線撮影法において、Ｘ
   線を一括した全てのセクターに対し所定の方法にて周期
   的に変調させ、および調節可能なビームセクター変調装
   置を個々に調節し、各セクターに対し、Ｘ線の一部を周
   期的に選択し、前記周期的選択をＸ線の所定の周期的変
   調と同期化させて実行することを特徴とするスリットＸ
   線撮影法。 ２、Ｘ線ビームを略透過させる第１位置と第２可変位置
   間で一定の周期にてビームセクター変調装置の位置を変
   えることにより、周期的選択を実行することを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項に記載したスリットＸ線撮影法
   。 ３、Ｘ線ビームを略透過させる第１位置とＸ線ビームを
   最大限制御する第２位置間でビームセクター変調装置の
   位置を変えることにより周期的選択を実行し、および第
   ２位置の少なくとも位相を所定の通常の周期的変調に対
   して変化させることを特徴とする特許請求の範囲第１項
   に記載したスリットＸ線撮影法。 ４、第１位置の開始時点を変化させることを特徴とする
   特許請求の範囲第３項に記載したスリットＸ線撮影法。 ５、第１位置の終了時点を変化させることを特徴とする
   特許請求の範囲第３項に記載したスリットＸ線撮影法。 ６、第１位置の持続時間を変化させることを特徴とする
   特許請求の範囲第３項に記載したスリットＸ線撮影法。 ７、ビームセクター変調装置を振動させ、振動位相を変
   化させることにより周期的選択を実行することを特徴と
   する特許請求の範囲第１項に記載したスリットＸ線撮影
   法。 ８、ビームセクター変調装置を振動させ、振動振幅を変
   化させることにより周期的選択を実行することを特徴と
   する特許請求の範囲第１項に記載したスリットＸ線撮影
   法。 ９、ビームセクター変調装置を振動させ、振動位相およ
   び振幅を変化させることにより周期的選択を実行するこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載したスリッ
   トＸ線撮影法。 １０、より急激な第２振動を前記振動に重ね合せること
   を特徴とする特許請求の範囲第７項乃至第９項の何れか
   の項に記載したスリットＸ線撮影法。 １１、検査せんとする身体の透過を示す、各セクター信
   号を発生させ、および関係する信号に従って各調節可能
   なビームセクター変調装置を制御することを特徴とする
   特許請求の範囲第１項乃至第１０項の何れかの項に記載
   したスリットＸ線撮影法。 １２、Ｘ線源と、Ｘ線源の前に位置決めされ、扇状のＸ
   線ビームを形成し、前記Ｘ線ビームにより検査せんとす
   る身体の少なくとも一部分を走査して身体の後側に位置
   決めしたＸ線検出器にＸ線陰影を形成するスリット絞り
   とを使用し、および走査動作中、スリット絞りと共に作
   動する調節可能なビームセクター変調装置によって、各
   セクター内で身体を透過したＸ線の量の関数として、各
   セクターに対し透過されたＸ線を瞬間的に制御するスリ
   ットＸ線撮影法において、作動中、Ｘ線ビームを所定の
   方法にて周期的に変調させ、測定時間間隔中、各セクタ
   ー内にて身体を透過したＸ線の量を周期的変調と同期化
   させて測定し、第１時間間隔の少なくとも一部の間、周
   期的変調と同期化させた方法にて各ビームセクター変調
   装置を作動させ、前記第１時間間隔と第２時間間隔を交
   互に生じさせ、該当するビームセクター変調装置に対応
   するセクター内にてＸ線が透過される開放位置とし、測
   定時間間隔の少なくとも一部が少なくとも第１時間間隔
   と一致し、および第２時間間隔の少なくとも一部の間、
   各ビームセクター変調装置を作動させて、関係するセク
   ター内にて少なくとも１つ前の測定時間間隔中、測定し
   た身体の透過Ｘ線の量に対応した位置にあることを特徴
   とするスリットＸ線撮影法。 １３、第２時間間隔の少なくとも一部の間、各ビームセ
   クター変調装置を多数の異なる位置の１つの位置に動か
   すことを特徴とする特許請求の範囲第１２項に記載した
   スリットＸ線撮影法。 １４、第２時間間隔中におけるビームセクター変調装置
   の異なる位置が、ビームセクター変調装置が該当するセ
   クター内にてＸ線ビームを最大限制御する開放位置と、
   および閉じた位置とを包含し、測定時間間隔中、測定し
   たセクター内のＸ線の品質が所定の値を上廻る場合、後
   続の時間間隔中、関係するビームセクター変調装置を閉
   じた位置に動かす一方、セクター内にて測定したＸ線の
   品質が所定の値を上廻らない場合、ビームセクター変調
   装置を開放位置に維持することを特徴とする特許請求の
   範囲第１３項に記載したスリットＸ線撮影法。 １５、各ビームセクター変調装置が、少なくとも１つの
   さらに別の位置を占め、前の測定時間間隔中に測定した
   関係するセクター内のＸ線の品質が所定の２つの値の間
   にある場合、第２時間間隔中、ビームセクター変調装置
   を前記位置に動かすことを特徴とする特許請求の範囲第
   １４項に記載したスリットＸ線撮影法。 １６、Ｘ線源と、Ｘ線源の前に位置決めされ、扇状のＸ
   線ビームを形成し、前記Ｘ線ビームにより検査せんとす
   る身体の少なくとも一部分を走査して身体の後側に位置
   決めしたＸ線検出器にＸ線陰影を形成するスリット絞り
   とを使用し、および走査動作中、スリット絞りと共に作
   動する調節可能なビームセクター変調装置によって、各
   セクター内で身体を透過したＸ線の量の関数として、各
   セクターに対し透過されたＸ線の量を瞬間的に制御する
   スリットＸ線撮影法において、作動中、Ｘ線ビームを所
   定の方法にて周期的に変調させ、測定時間間隔中、各セ
   クター内にて身体を透過したＸ線の量を周期的変調と同
   期化させて測定し、各場合共、周期的変調と同期化させ
   た後続の時間間隔中、各ビームセクター変調装置を該当
   するビームセクター変調装置に対応するセクター内にて
   Ｘ線を透過させる開放位置、および該当するセクター内
   にてＸ線を最大限制御する閉じ位置に交互に動かし、関
   係するビームセクター変調装置が開放位置にある間に、
   身体を透過したＸ線の量を測定し、および測定したＸ線
   の量如何により、ビームセクター変調装置が開放位置に
   ある後続の時間間隔の位相を周期的変調に対して制御す
   ることを特徴とするスリットＸ線撮影法。 １７、「開放位置」の時間間隔の長さも制御することを
   特徴とする特許請求の範囲第１６項に記載したスリット
   Ｘ線撮影法。 １８、Ｘ線源の高電圧の振幅変調を行なうことにより周
   期的変調を実現することを特徴とする特許請求の範囲第
   １項乃至第１７項の何れかの項に記載したスリットＸ線
   撮影法。 １９、Ｘ線源のＸ線管を流れる電流を変調させることに
   よって周期的変調を実現することを特徴とする特許請求
   の範囲第１項乃至第１７項の何れかの項に記載したスリ
   ットＸ線撮影法。 ２０、Ｘ線を減衰させる少なくとも１つの要素でスリッ
   ト絞りのスリットを周期的に覆うことにより周期的変調
   を実現することを特徴とする特許請求の範囲第１項乃至
   第１７項の何れかの項に記載したスリットＸ線撮影法。 ２１、Ｘ線を減衰させる第１または第２要素でスリット
   絞りのスリットを周期的且つ連続的に覆うことにより、
   周期的変調を実現し、前記第１および第２要素が異なる
   方法にてＸ線に作用することを特徴とする特許請求の範
   囲第２０項に記載したスリットＸ線撮影法。 ２２、Ｘ線源が比較的硬いＸ線および比較的柔かいＸ線
   を供給する、周期的変調の所定の周期的位相軌跡の間、
   柔かいＸ線を吸収する要素でスリツト絞りのスリットを
   同期的に覆うことを特徴とする特許請求の範囲第１８項
   または第１９項の何れかに記載したスリットＸ線撮影法
   。 ２３、Ｘ線源と、Ｘ線源の前に位置決めされ、扇状のＸ
   線ビームを形成し、前記Ｘ線ビームにより検査せんとす
   る身体の少なくとも一部分を走査して身体の後側に位置
   決めしたＸ線検出器に身体の走査部分のＸ線陰影を形成
   するスリット絞りと、作動時、Ｘ線ビームの各セクター
   が身体を透過する状態を示す信号を制御手段に供給する
   制御信号発生装置と、スリット絞りと共に作動し、制御
   手段からの信号の制御下、各セクターに対しＸ線ビーム
   を制御することのできる調節可能なビームセクター変調
   装置とを備えるスリットＸ線撮影装置において、所定の
   周期状態にて変調したＸ線ビームを提供する変調手段を
   備えることを特徴とするスリットＸ線撮影装置。 ２４、制御手段がビームセクター変調装置を制御し、Ｘ
   線ビームの変調に同期化させた周期にて第１時間間隔の
   少なくとも一部の間、Ｘ線がビームセクター変調装置を
   通過する開放位置と、および２つの第１時間間隔の間に
   位置する第２時間間隔の少なくとも一部分の間、ビーム
   セクター変調装置がＸ線ビームを最大限制御する閉じた
   位置に各ビームセクター変調装置を動かし、制御手段が
   Ｘ線検出器からの入力信号を受信し得る構造とし、各場
   合共、前記入力信号が第１時間間隔の少なくとも一部と
   一致する少なくとも１つの測定時間間隔の間、身体を透
   過したＸ線の品質を示し、測定時間間隔中に測定したセ
   クター内のＸ線の品質が所定の値以下である場合に、制
   御手段が、測定時間間隔に続く第２時間間隔中、前記セ
   クター変調装置が閉じた位置まで動かないようにする制
   御信号を供給することを特徴とする特許請求の範囲第２
   ３項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ２５、セクター内の測定時間間隔中、身体を透過したＸ
   線の品質が所定の値以下である場合に、制御手段が後続
   の第２時間間隔中、前記セクターと関係するビームセク
   ター変調装置を開放位置に保つ信号を供給する構造であ
   るようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第２４項
   に記載したスリットＸ線撮影装置。 ２６、測定時間間隔中、セクター内にて測定したＸ線の
   品質が２つの所定値間にある場合、制御手段が前記セク
   ターと関係するビームセクター変調装置を開放位置と閉
   じた位置間の所定の中間位置に動かす制御信号を発する
   ような構造としたことを特徴とする特許請求の範囲第２
   ５項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ２７、各ビームセクター変調装置が第１時間間隔の少な
   くとも一部の間、Ｘ線ビームの変調と同期化させた周期
   にてＸ線ビームがビームセクター変調装置を通過するこ
   とのできる開放位置、および各々２つの第１時間間隔の
   間に位置する第２時間間隔の少なくとも一部分の間、ビ
   ームセクター変調装置がＸ線ビームを最大限制御する閉
   じた位置まで動くように、制御手段がビームセクター変
   調装置を制御し、および制御手段がＸ線検出器から入力
   信号を受信し得る構造とし、前記入力信号が各場合共、
   少なくとも一部分第１時間間隔と一致する測定時間間隔
   中、身体を透過したＸ線の品質を示し、制御手段が周期
   的変調に対して後続の「開放位置」時間間隔の位相を制
   御する、入力信号に対応した制御信号を発することを特
   徴とする特許請求の範囲第２３項に記載したスリットＸ
   線撮影装置。 ２８、制御信号が後続の「開放位置」時間間隔の長さを
   制御することを特徴とする特許請求の範囲第２７項に記
   載したスリットＸ線撮影装置。 ２９、変調手段がＸ線源のＸ線管の供給電圧振幅を変調
   させる手段を備えることを特徴とする特許請求の範囲第
   ２３項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ３０、変調手段がＸ線源のＸ線管を流れる電流振幅を変
   調させる手段を備えることを特徴とする特許請求の範囲
   第２３項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ３１、変調手段が、Ｘ線を減衰させ、スリット絞りのス
   リットを周期的に覆い、または露出させる少なくとも１
   つの要素を備えることを特徴とする特許請求の範囲第２
   ３項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ３２、変調手段がスリットの全長に亘ってスリット絞り
   のスリットの縦方向に対し略平行に伸長し、少なくとも
   一部分をスリットを覆う位置まで動かすことのできる板
   状要素を備えることを特徴とする特許請求の範囲第３９
   項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ３３、Ｘ線ビームの外側に位置し、スリットの縦方向に
   対し略平行に伸長する主軸に対して前記板状要素を旋回
   可能なように取付けることを特徴とする特許請求の範囲
   第３２項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ３４、前記板状要素が圧電材料にて製造され、他方の縦
   方向端縁によって固定状態に取付けた板状要素の縦方向
   端縁に対する電気的信号の作用下、Ｘ線ビーム内に旋回
   することができることを特徴とする特許請求の範囲第３
   ２項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ３５、変調手段がスリットの縦方向に対し略平行に伸長
   する主軸を中心として回転可能なローラを備え、前記ロ
   ーラには、スリットの全長に亘つて伸長するＸ線を減衰
   させる材料製の多数の放射状羽根を設けることを特徴と
   する特許請求の範囲第３１項に記載したスリットＸ線撮
   影装置。 ３６、前記羽根を異なる方法にてＸ線に影響を与える異
   なる材料にて交互に製造することを特徴とする特許請求
   の範囲第３５項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ３７、変調手段が、スリット絞りのスリットを包含する
   位相に対して直角に伸長する主軸を中心として回転し且
   つスリットの横方向に隣接して位置決めされる一方、少
   なくともスリットの長さに等しい半径を有する扇状ホィ
   ールを備え、前記扇状ホィールがＸ線を減衰させる材料
   で製造した少なくとも１つの扇状片を備えることを特徴
   とする特許請求の範囲第３１項に記載したスリットＸ線
   撮影装置。 ３８、前記扇状ホィールがＸ線を減衰させる材料製の多
   数の放射状アームを設けたハブを備えることを特徴とす
   る特許請求の範囲第３７項に記載したスリットＸ線撮影
   装置。 ３９、扇状ホィールが異なる方法にてＸ線に影響を与え
   る第１または第２材料にて製造され、交互に配設した第
   １および第２扇状片を備えることを特徴とする特許請求
   の範囲第３７項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ４０、前記第１材料が少なくとも柔かいＸ線を透過させ
   、および前記第２材料が略硬いＸ線のみを透過させるこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第３９項に記載したスリ
   ットＸ線撮影装置。 ４１、前記扇状片を交互に鉛および銅で製造することを
   特徴とする特許請求の範囲第３９項に記載したスリット
   Ｘ線撮影装置。 ４２、扇状片を交互にアルミニウムおよび銅で製造する
   ことを特徴とする特許請求の範囲第３９項に記載したス
   リットＸ線撮影装置。 ４３、扇状片を交互に鉛およびアルミニウムで製造する
   ことを特徴とする特許請求の範囲第３９項に記載したス
   リットＸ線撮影装置。 ４４、各調節可能なビームセクター変調装置が羽根円板
   を備え、前記各羽根円板がＸ線を減衰させる材料製の少
   なくとも１枚の羽根を備え、前記羽根円板をスリット絞
   りのスリットの縦方向に対して略平行に伸長する回転可
   能な主軸に相互に隣接して取付け、作動中、主軸に対す
   る羽根円板の位置を変化させ得るようにしたことを特徴
   とする特許請求の範囲第２３項に記載したスリットＸ線
   撮影装置。 ４５、各羽根円板を摺動可能なように主軸に取付けるこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第４４項に記載したスリ
   ツトＸ線撮影装置。 ４６、各羽根円板を跳ね出し可能なように主軸に取付け
   ることを特徴とする特許請求の範囲第４４項に記載した
   スリットＸ線撮影装置。 ４７、制御手段によって励起可能で、主軸に対して関係
   する羽根円板の位置を変化させ得るブレーキ要素を各羽
   根円板に設けることを特徴とする特許請求の範囲第４４
   項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ４８、羽根円板が小さいブレーキブロックの接触可能な
   周縁面を備えることを特徴とする特許請求の範囲第４７
   項に記載したスリットＸ線撮影装置。 ４９、ブレーキ要素がうず電流ブレーキであることを特
   徴とする特許請求の範囲第４７項に記載したスリットＸ
   線撮影装置。