JPS6335096A - 複数個の測定要素を持つ測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は特許請求の範囲第１項前置部記載による多数個
の測定要素を持つ測定装置に関する。即ち本発明は、複
数個の測定要素を持つ測定装置であって、前記測定要素
は中央処理装置に結合された線によって相互にかつ、・
該中央処理装置に接続され、該測定要素は： 物理的環境に依存して変化する値を持つ電気出力信号を
生成する、少くとも１個の検出部と、前記検出部の出力
信号の強度を示す測定信号を、閉成により、前記中央処
理装置に伝達可能なスイッチ回路と、および 前記スイッチ回路を短時間で閉成し再び開成するため該
中央処理装置から制御可能な制御回路とを含む測定装置
に関する。

［従来の技術１ ドイツ連邦共和国特許公開公報（ＤＥ−Ｏ５）第３０２
５８３７号の一例に見られるように上記測定装置に関す
る重要な応用例としては測定線（ケーブル）がある、こ
れらのケーブルでは、各測定の構成要素および必要であ
れば設けられる選択装置または選択要素の構成要素であ
って各々がケーブルのある部分の制御を行なう要素は十
分に小型化されているのでとのケーブル内で集積回路ま
たは複合（ハイブリッド）回路の形で組み込まれ得る。

従ってこれらの要素は自身の框体を必要としない。

測定検出部は全く異なったタイプでもよい０例えば周知
であるのは検出装置としてサーミスタを使用したり、測
定要素をケーブル内にわずかに１ｍの間隔で設置したり
する。このように設定されたケーブルは、例えばこれを
監視するために遠隔熱導体にそって設けることができる
。この導体内で搬送される媒体が漏れのために周囲に出
ると、温度状態が局所的に変化する。これは、変化した
測定値を処理することで知ることが可能であり、この値
は漏れに極めて近い測定要素で作成され、以下では短く
“°中央処理装置°゛と呼ぶ制御測定中央処理装置に送
出される。この場合、測定値はその値を送出した測定要
素の識別と共に把握される。従って発生した漏れの極め
て正確な位置を同時に得ることが可能である。　　　　
′このような測定装置の他の応用分野では、温度依存の
構成要素の代りに他の環境パラメータに対する検出器が
使用される０例えば周囲圧力、周囲磁場、周囲湿度等に
依存して変化する電気信号を発生する検出器がある。た
だし全ての測定要素に同一検出器を備えねばならないと
いうことばない。多数の部屋を持ちこのような測定装置
を組み込んだ集合建築物内では、多数個の部屋において
温度、湿度、照明の作動状態、塵埃の発生等が監視でき
る。このためには、関連各室内に一個以上のまたは各物
理的環境パラメータに対して対応する検出器を持つ測定
要素を少くとも１個設置する。これらの全測定要素は測
定装置のケーブルで相互接続され、そのため中央処理装
置から順次呼びかけを受けることができる。

初めに説明した公知の測定装置では、各測定要素の制御
回路は主として双安定フリップフロップを含む、全ての
ケーブル部分の測定要素に含まれるフリップフロップは
ケーブルの特別な導体を介してシフトレジスタに接続さ
れる。ある−ケーブル部分において測定周期を完遂する
ためには、シフトレジスタの入力に所定の１（［１の２
進数値例えば１個の論理１が供給される。中央処理装置
から全測定要素に送られているクロック信号によって、
この所定２進値は測定要素から他の測定要素へと転送さ
れる。この二進値がある測定要素のフリップフロップの
出力に現われると、関連するスイッチ回路が閉成される
。このようにして、測定要素のスイッチは中央処理装置
の制御下で順次、２個のクロックパルス間の期間閉成さ
れ、続いて再び開成される。各ケーブル部分の先頭には
選択装置があり、これは中央処理装置によってその選択
装置自身のケーブル導体を介して符号化された番地信号
を用いて起動され得る。起動状態では、選択装置は客ケ
ーブル部分のシフトレジスタに所定の二進値を供給する
ために作動する。システムの投入時および運転中、唯１
個の測定要素が測定値を生成するようにしなければなら
ない、このため、再設定（リセット）信号が選択装置と
測定要素に供給可能で、これにより各測定周期に先立っ
て全選択要素は不活状態にされ全測定要素のフリップフ
ロップは関連するスイッチ回路を開成する状態にリセッ
トされる。これらのリセット信号は中央処理装置からケ
ーブルの独自の導体を介して、ケーブル内に置かれた回
路に転送される。

［発明が解決しようとする問題点１ 従って公知の測定装置は比較的多数のケーブル導体を必
要とし、かつ測定要素へのアクセスは上記部分単位にし
か行えない、すなわち、個々のケーブル部分は自由に選
択可能であるが、ある部分内の指定測定要素へのアクセ
スは全ての測定要素が先ず選択されるという方法でのみ
可能である。

上記に関して、本発明は、初めに説明したタイプの測定
装置を、測定要素に対するアクセス可能性および信頼性
を、可能な限り少数のケーブル導体によって実現可能に
することである。

この課題を達成のため１本発明は特許請求の範囲第１項
に記載の特徴を備える。即ち、本発明は各測定要素（５
，７５）の前記制御回路（１４）は、前記中央処理装置
（２）から送出される測定要素番地信号によって制御さ
れ得るプログラム可能な番地認識回路を含むことと； 前記測定要素（５，７５）は少くとも一群の測定要素（
５，７５）を含み、該一群に対してｎ番目の測定要素（
５，７５）の測定要素番地信号は（ｎ−１）番目の測定
要素（５，７５）の番地信号と、該（ｎ−１）番目の測
定要素（５、７５）の測定要素番地信号に時間的に後続
の付加信号とを含むことと、および 前記少くとも１群の測定要素（５、７５）の前記制御回
路（１４）は、前記中央処理装置（２）から所定測定要
素（５，７５）のための測定要素番地信号が前記制御回
路（１４）に共通的に送信されることによって順次制御
可能であり、該所定測定要素は前記一群内で最長の測定
要素番地信号を持つものでありかくて前記信号は前記一
群内の他の全ての測定要素（５、７５）の測定要素番地
信号を含む信号であることとを特徴とする。なお請求の
範囲に記載の図面参照符号は理解を助けるためであり、
必ずしも図示の態様に限定することを意図しない。

本発明は、通常運転において測定要素は固定された所定
の方法に従って順次問い合せを受けるがこれは即ちその
スイッチ回路を閉成するために問い合せを受けるという
認識を特徴とする特別な場合のみ、例えばある範囲を外
れた測定値が出現し、これが新たな測定ですぐに検出さ
れねばならない時には、通常の順番でなく特定測定要素
へのアクセスが可能なことが必要となる。

従って本発明により各測定要素に独自の番地を備え、こ
れによって中央処理装置から直接選択可能にする。他の
手段なしで、上記装置は当然広範なシステムにおいては
さし当り５万個以上の測定要素を含み得、従って、１回
の測定周期を遂行するためには対応する集合番地信号を
順次生成し送出せねばならない、このことは、１回の測
定周期定要素の番地信号は、（ｎ−１）番目の即ち直前
に選択された測定要素の番地信号と、（ｎ−１）番目の
測定要素信号の次に生成される付加信号とにより構成さ
れる。このことは全測定要素にあてはまるので、ｎ番目
の測定要素とそれより前の他の全要素の選択のためには
、第１の測定要素の番地信号とｎ−１個の付加信号とが
生成されればよい。これらの付加信号は主として各時点
において１個の電圧パルスのみによって構成されるので
極めて高速で順次生成され送出され得る。ここで各付加
信号によって測定要素が不活状態にされ、次の測定要素
は測定値の生成のために起動される。

こうして最高または最長番地を持つ測定要素の番地信号
が送出されると、これに先立つ全ての測定要素が問い合
せを受け、測定周期が完了する。

［効果］ これに必要な時間は絶対的に最小値に極めて近く、その
理由はある測定処理実行後、次の測定要素は時間的損失
なく、優先的に直後に選択されるからである。しかし各
測定要素はやはり個々に自由に選択可能である。これは
測定要素が固有の番地を持ち、その要素に対する番地信
号はそれに先立つ測定要素には完全な測定処理の実行の
ための時間を全く存在させない状態で生成され送出され
るからである。

Ａｌｌ定要素はシフトレジスタのような方法では相互接
続されていないことから、従来技術で必要とされるケー
ブル導体を不要にする。

更に測定要素および場合によって必要な選択装置に対す
る番地信号およびリセット信号更にセット信号は同一ケ
ーブル導体を介して送出可能なので、測定システムに関
する本発明の構造においては極めて少数のケーブル導体
で済む。本発明の測定システムの有利な他の教示は従属
特許請求の範囲に記載される。

本発明を以下に実施例を用いて図面を参照して説明する
。

第１図は本発明による測定装置の実施例の概略図でここ
では４線ケーブル１は複数個の測定要素５と相互におよ
び中央処理装置２と結合され、測定要素５は中央処理装
置２により個々に制御可能である。このような装置は、
主としてケーブル内に集積された最大で数千点の測定点
、即ちケーブル被覆内に収められ外部からの損傷から保
護された測定点を持つ小型システムに適する。

ケーブル１の４導体のうち、導体６は中央処理装置２か
ら測定要素５に供給電圧ＵＭを送出するための電圧供給
導体であり、導体９は測定要素を中央処理装置２内のシ
ステム接地電位に結合する接地導体である。

各測定要素５は少くとも１個の検出器１０とスイー２チ
１１と制御回路１４とを含む、各測定要素５のこれらの
構成要素は各々異なった方法で実施例に従って総合接続
され得るので第１図には第１測定要素５内に概略的にだ
け配置されている。これらの測定装置５の望ましい種々
の実施例を以下に第４図乃至第６図および第１３図を参
照して詳細に説明する。

これら全ての実施例において共通な点は、命令入力部Ｅ
を介してケーブルｌの導体８に接続されたプログラム可
能な番地識別回路が各制御回路１４に含まれることであ
る。この命令導体としての導体８上に、中央処理装置２
は測定要素番地信号を送出し、これはプログラム可能番
地識別回路によって受信され復号される。第１図の実施
例において、各測定要素５の番地識別回路は他の番地に
関してプログラムされる。中央処理装置２から送出され
た測定要素番地信号がある測定要素５のプログラムされ
た番地に一致すると、その測定要素の制御回路１４は自
身の出力Ａに信号を生成し、これによって、停止状態で
開状態のスイッチ１１は上記の時間閉成されその後開成
される。これは、出力Ａからスイッチ１１への鎖線の矢
印で示される。

スイッチ１１は図で常に機械的スイッチとして示されて
いるが電気的スイッチも望ましく使用される。これにつ
いては以下に更に詳細に説明する。

検出部１０としては、ある環境パラメータ例えば温度、
輝度または湿度等に依存してその値を変える電気的出力
信号を生成する各種検出器が使用される。スイッチ１１
の閉成によって、この出力信号自身または出力信号の強
度を示す他の電気信号は、測定信号として注目している
測定要素のデータ出力ＤＡに送出される。このデータ出
力ＤＡは測定導体として使用される導体７を介して中央
処理装置２と結合され、ここで各制御された測定要素か
らの測定信号は入力回路４によって受信され増幅され、
更に処理されるために送出される。このような入力回路
４の特に望ましい実施例を第１１図を参照して更に詳述
する。

測定導体７はケーブルｌの唯１個の導体であって中央処
理装置２に多数の測定信号を同時には転送できない導体
で構成されるので、測定要素５は個々に制御され従って
スイッチ１１の唯１個のみが閉成される。制御された測
定要素５の測定信号が中央処理装置２で検出されると、
関連スイッチ１１は再び開成でき、他の測定要素５が対
応するスイッチｌｌの閉成のために制御され得る。

通常の場合、上記測定システムは周期的に作動し、即ち
、第１測定要素から始まり、測定要素５は順次各スイッ
チ１１を閉成するために制御され、各測定要素が実測値
を検出して全測定周期が完了するまで実行される。続い
て直ちにまたは所定の休止時間後、新しい測定周期が始
められる。

上記測定周期の実行において、中央処理装置２がその瞬
時値がどの測定要素から受信されたかを常時正確に「知
る」ことは望ましいことだが、任意時点で任意の測定要
素に絶対的に選択的なアクセスが必要という訳ではない
。

従って、本発明においては測定要素５のための番地信号
は、選択順位ｎ番目の測定要素の番地信号が先行する即
ち（ｎ−１）番目の測定要素の番地信号と付加信号とを
含むように構成され、更に、これにより（ｎ＋　１）番
目の測定要素の番地信号は他の付加信号を付けて生成さ
れる。

測定周期の実行のためには、中央処理装置は選択順位の
最後の測定要素の番地信号のみを命令導体８上に送出せ
ねばならない、これは、この番地信号が他の全測定要素
の番地信号を含むからである。このようにして測定周期
の実行時、プログラムで定められた順序内の全測定要素
５は各スイッ　　゛チ１１の閉成のために選択される。

「通常時」に対してのこの厳格な選択順序にもかかわら
ず、本発明による測定システムにおいては、個々の測定
要素は自由に、つまり他の測定要素に対する先行する選
択なしに直接選択可能である。この場合、所望の測定要
素の選択順位に先行する測定要素の番地信号は、所望の
要素に先行する要素に対して各スイッチ１１を閉成する
ための十分な時間が存在しない程に高速で生成、送出さ
れ、あたかも飛び越されるように処理される。直前の測
定要素の番地信号から所望の測定要素の番地信号を作成
する付加信号は、所望の測定要素が測定信号を中央処理
装置に送出可能とする時間の長さを経て生成され送出さ
れる。

本質的なことは、本発明による測定要素番地信号および
番地識別回路の構成によって、唯１個の導体即ちケーブ
ルｌの命令導体８を用いて中央処理装置２が厳密に定め
られた測定要素選択を実行できることである。全体とし
てこのようにして、全測定要素５と中央処理装置２との
結合のための配線費用が減少される。これは、全部で４
木の導体を持つ唯１個のケーブルのみが上記動作のため
に必要だからである。これに関し、第１図および他の対
応する図に示すように、ケーブルの全導体は電圧供給導
体６と接地導体９も含めて示されていることが明らかで
ある。ここでは更に、個々の測定要素への最適アクセス
可能性も、配線経費の低減と共に達成される。

第２図はやや複雑な測定装置を示し、ケーブル１の主線
２３は複数個の測定要素５の他に、一連の選択装置２５
を持ち、該選択装置は主線２３を介して測定要素５と相
互におよび中央処理装置２に接続される。

測定要素５はここでは第１図の測定要素と同様の構成で
あって、従って、ブロックに示されるだけである。

各選択装置２５には、ケーブル１の主線２３から側線２
４が分岐し、該側線は測定要素５のみを含む、ここでは
、主線２３と側線２４に各々最大で数十個の測定要素５
を備えた測定装置として中程度の規模を対象とする。

この規模のシステムでは、個々の測定要素５に対する中
央処理装置２からの直接選択はもはや有利でない、この
ような直接選択のためには、各測定要素に固有の番地を
関連づけるためにプログラム経費および復号経費が増大
せざるを得ない。

これを避けるため、各側線２４内の測定要素５は、互い
に異なる番地を有するがこれらの番地は側線毎に緑返さ
れる。即ち各側線２４において。

例えば番地ｌの測定要素５、番地２の測定要素５等が存
在する。側線は必ずすも同数の測定要素５を含む必要は
ない、最大ｐ値の測定要素５を有する側線があると仮定
すると、側線測定要素の最大番°地はｐになる。

これに対して主線２３に置かれた測定要素５は、各々異
なりかつ側線上の測定要素の番地とも異なる番地を有す
る。主線がｑ個の測定要素を含めば、それらの番地は（
ｐ＋１）から（ｐ＋ｑ）までになる。

上記ｐ以下の番地信号発信時に、ある側線２４内の唯１
個の測定要素５内のみで、スイッチ１１を閉成するため
、各選択装置２５は、停止状態つまり選択装置２５が選
択されていない状態で開状態である少くとも１個のスイ
ッチ２８を含む。これによって通常、各側線２４の命令
導体８′は主線の命令導体８から分離する。更に第２の
スイッチ２８′を備えるのが望ましいが、これはスイッ
チ２８と同時に開成、閉成され、選択装置２５の停止状
態において各側線２４の電圧供給導体６゛を主線２３の
電圧供給導体６から分離するために作動する。命令導体
８″と８の間および電圧供給導体６゛と６の間の接続は
、関連する選択装置２５が中央処理装置２によって起動
された場合にのみ設定される。これに対して、側線の測
定導体７と接地導体９とは常に主線２３の対応する導体
７および９とに接続されている。

これは選択装置２５内に付加スイッチ２８′を必要とす
るが以下の２点において有利である。第１に全システム
の電流消費が大きく低減される。

常に、主線２４および唯１個の側線２４の測定要素５の
みが電流を受けるからである。従って導体６と９の断面
積は小さくてすみ、ケーブルｌを通って流れる供給電流
に大きな電圧降下を生じることのない大型測定システム
の構築が可能となる。第２にシステムの運転安全性が上
昇する。活状態でない全ての側線２４の側線命令導体８
°および側線電圧供給導体６′の切断によってこれらの
側線は完全に停止状態に置かれる。以下に詳述する本発
明による導体７と９の相互からの切り離しにおいて、側
線２４が停止状態であるのでシステムに乱れを生じさせ
得ない。

スイッチ２８．２８’の制御のため、各選択装置２５は
制御回路１４’を持ち、これは構成および機能の点で測
定要素５の制御回路１４にかなり対応している。特に各
制御回路１４°は場合によっては、主線２３の命令導体
８に命令入力部Ｅ“を介して結合されるプログラム可能
番地識別回路を持つ。命令導体８に対して、中央処理装
置２は測定要素番地信号のみでなく選択装置番地信号を
送出するが、以下に詳述するようにこれらの信号は互い
に大きな相異がある。従って、測定要素５と選択装置２
５とは同一番地を持ち得る。

中央処理装置２から送出された選択装置番地信号がある
選択装置２５のプログラムされた番地に一致すると、こ
の選択装置の制御回路１４’は出力Ａ′に信号を生成し
、これによってスイッチ２８　、２８　’は、中央処理
装置２が対応する測定要素番地信号を生成して関連する
側線２４の個々のまたは全ての測定要素５を該要素のス
イッチ１１を閉成し再び開成するように制御し終るまで
、閉成される。

以降、次の選択装置の番地信号の送出によって、これ迄
に選択された選択装置２５のスイッチ２８．２８°が開
成され、他の選択装置のスイッチ２８　、２８　’が閉
成される。従って他の側線２４の測定要素は先ず、命令
導体８，８°を介して送信されるセット信号によって測
定要素番地信号の認識の準備をし、続いて該測定要素番
地信号によって選択され得る。この信号は更に、以前に
起動された側線の測定要素を選択するためにも使用され
る。

側線の測定要素番地は主線のそれとは異なるので、これ
らの番地信号によっては、主謀２３上の測定要素は選択
されない、全ての側線の測定要素に問合せがなされると
、中央処理装置２は測定要素番地信号（ｐ＋１）から（
ｐ＋ｑ）までを送出し、これにより主謀２３の測定要素
は順次問合せを受けるが、側線の測定要素への間合せは
実行されない０選択装置２５に対する番地信号も以下の
ように構成される。即ち、選択順位ｍ番目の選択装置内
の番地信号は先行する（ｍ−１）番目の選択装置の番地
信号と付加信号とを含み、これによって（ｍ＋１）番目
の選択装置の番地信号は更に他の付加信号を付加するこ
とで生成される。

システム周期の実行のため、中央処理装置２は選択順位
で最後の選択要素２５内の選択要素番地信号を命令導体
８を介して送出し、該信号は他の全選択装置の番地信号
を含む、この際、既に述べたように、ある選択装置から
他の選択装置への切替時に、その都度測定位置番地信号
が送出される。この信号は関連する側線の測定位置５の
選択に必要である。システム周期の実行時、プログラム
で各スイッチ２８　、２８　’の開成のために指定され
た順番内の全ての選択装置２５が制御される。

選択装置２５において、所望の選択装置２５の番地信号
を高速で送出することによって先行する全ての選択装置
を飛び越すことが可能である。

第２図に示す実施例において本質的な点はケーブル１が
主線２３および側＠２４の各々で４木の導体だけを含む
ことである。ここでは更に、中規模システムにおいては
個々の測定要素への最適アクセス可能性が最小の配線経
費で実現される。

第３図は更に他の複雑な構成の測定装置を示し、中を通
る主線２３および側線２４は第２図の実施例に比較して
本質的により長く構成され得る。

これは、分岐点に選択装置２５を設けるばかりでなくそ
の各々により側線の全測定要素が関連づけられることに
より達成される。

即ち、ここでは主線２３の測定要素５と側線２４の測定
要素５とは群１θ〜１９および２０〜２２に各々まとめ
られ、これは第３図の鎖線ブロックに示される。

このような測定システムは基本的に５０に＋ｓ以上の導
体長に適している０例えばケーブル内に集積された測定
要素の間隔が約ｉｎで各群１６〜２２がおよそ１０００
個の測定要素を持つとすれば、ケーブルの主線２３のみ
でも５０以上の群を含むことができる。これは第３図に
あるように、主線２３の最後に示した群１９は部分的に
だけ示されている。

これにより、群１９が更に多数の他の群と接続可能なこ
とを示す。

上記のことは側線２４にも同様で、第３図において、こ
れらのある側線は隣接して示された群２１．２２の他に
一連の他の群を含む、これに対して、第３図に示された
第２の側線２４は唯１個の群２０を有する。

各群ＩＢ〜２２は各選択装置２５に第１に関連づけられ
る。該選択装置２５も少くとも各々１個の、プログラム
された番地受信回路を持つ制御回路１４°と、通常開状
態で制御回路１４’が出力Ａ１に送出する制御回路によ
って閉成され得る少くとも１個のスイッチ２８とを含む
。閉状態では、スイッチ２８は第１に関連づけられた群
の群命令導体８°をシステムを通るシステム命令導体８
に接続し、これによって、中央処理装置２から送出され
た測定要素番地信号は関連する群の測定要素５に到達で
きる０群２１に対するこの動作を第３図に示す、測定要
素番地信号は上記実施例においても、第１図と第２図に
関して説明した構成と同様である。

第２図および第３図の選択装置２５は極めて単純化され
ていることは明らかである。実際、これらの選択装置２
５は以下に詳述するように一連の他の回路を有する。

ある群の測定要素５は中央処理装置２からの測定要素番
地信号によって、第１に関連づけられた選択装置２５が
先ず選択されて該選択装置２５のスイッチ２８が閉成さ
れてから初めて選択され得る６選択装置２５の選択は中
央処理装置２からシステム命令導体８を介して送出され
る選択装置番地信号によって債々に実行されるが、この
信号も第２図を参照して説明した構成と同じである。

第２図に示した実施例に対する本質的相違は、第３図の
実施例では全群の測定要素、特に主線２３の測定要素も
各々の番地を持つことが可能で、この番地は全群が同数
の測定要素を持つ場合には例えば各群に対して１−にと
なる、主線２３の測定要素５に対する特別な役割はここ
では説明をはふく。

上記から、ケーブルｌは第１図および第２図の実施例に
比べて、少くとも１個だけ多くの導体が必要である。こ
れは上記の場合、グループ命令導体８°に含まれる導体
である。望ましいケースで、ある群の選択時に群命令導
体８゛のみでなく群電圧供給導体６′も該群選択時にの
み中央処理装置２に１１ｉ続するため、スイッチ２８と
同時に作動される他のスイッチ２８°を選択装置が有す
る場合には、この接続された導体６′に対するケーブル
１は更に導体６をも含まねばならない。これによって選
択を受けなかった群の切断によらずに、中央処理装置２
から見て該切替えられた群の後方にある全ての群が中央
処理装置２がら切離されるようにしている。ここでスイ
ッチおよびケーブル導体に必要な経費は第２図に関して
述べた利点、即ち特に大型システムでの劇的な電流消費
軽減および高運転安全性によって相殺される。上記の側
線２４に対する利点を示す図によって説明したことは、
各群１６〜２２にも同様に当てはまる。

第３図の実施例による測定ケーブルｌは第１図および第
２図の実施例に比べて、少くとも１個多い数の導体を必
要とする事実にもかかわらず、個々の測定要素に必要な
プログラムと復号器とのための経費の減少の他に、個々
の群への分割は利点となる。即ち、装置の許容度が本質
的に向上し、これは地中に設置される測定ケーブルの場
合には特に重要な意味を持つ、即ち、測定要素のいずれ
かで接続された導体８′が使用できなくなる欠陥が生じ
ると、これはその関連する群にのみ影響して該群が以降
オンできなくなるが、システム内の他の全ての群はその
まま機能を続けられる。

第３図の実施例では、各選択要素２５は更に他のスイッ
チ２９を持ち、これは制御回路１４′の出力Ａ２を介し
てスイッチ２８に無関係に開成、閉成され得る。上記通
常状態または停止状態で開状態のスイッチ２９によって
、各選択装置２５は、スイッチ２８を介して第１に関連
づけられる群の他に、他の群に副次的に関連づけられる
。

従って、群１７，２２．または１９が第１に関連づけら
れる選択装置２５には、各時点で群１６．２１、または
１８が夫々副次的に関連づけられる。ここに示した星形
の分岐位置において、群１７に関して、群１８．２０、
および２１の選択装置２５に対する多重の副次的配列が
生じる。

「副次的関連づけ（配属）」とは、ここでは、各選択装
置２５に備えられた他のスイッチ２９が閉状態において
、副次的に関連づけられた群の群命令導体８′を該シス
テム命令導体８に接続することを意味する。

このことから、第１に関連づけられた選択装置２５のス
イッチ２８がもはや閉成しないとき、ある群例えば群１
８の群命令導体８°を更にシステム命令導体８に接続可
能となる。この場合、中央処理装置は欠陥のある第１関
連選択装置２５の選択装置番地信号の代りに、副次的関
連選択装置２５に対する修正された番地信号を送出する
。この信号は次に受信信号の修正によって、第１関連群
１９のスイッチ２８でなく副次的関連群１８のスイッチ
２９を閉成する。続いて該群１８の°測定要素５は中央
処理装置２から送出された測定要素番地信号を受信し処
理できる。隣接する選択装置が修正なしの形態の番地信
号を受信すると、この選択装置は副次的関連群１８のス
イッチ２９でなく第１関連群１９のスイッチ２８を閉成
し、この群１９の測定要素５は次に通常の方法で中央処
理装置２により選択され得る。

少くとも２個の群ごとに対する上記の各選択装置２５の
配属によって、全システムの運転安全性は本質的に向上
する。これは、各群１６．１８または２１の群命令導体
８′をシステム命令導体８に接続する２個のスイッチ２
８．２９は、対応する群が選択されないようにするため
には、両方とも故障せねばならないからである０群１７
において第ｔｒａ連選択装置２５のスイッチ２８の他に
、３個もの他のスイッチ、即ち群１８，２０．２１の選
択装置のスイッチ２９は、群１７の測定要素５が中央処
理装置２からもはや完全に到達されないようにするため
には、これら３個のスイッチ２９が故障せねばならない
。

各選択装置２５がスイッチ２８と同時に作動を受ける多
数の「第１関連」スイッチを持ち多数の群導体をシステ
ム導体に接続したり分離したりする構成であれば、各「
第１関連」スイッチに対して、該スイッチ２９と同時に
作動を受ける他の「副次的関連」スイッチを設けること
は適当である。

測定要素５および選択要素２５は小型化できケーブル１
内に完全に集積され、即ち、ケーブル被覆内に配置され
ケーブル導体６，７，８゜８′、９に結合されるものと
する。この場合、測定位置５は群への分割にも拘らずケ
ーブルｌの長軸にそって完全に一様に分布され得るので
、第３図に閉じた形で示されたケーブル部分も特に、他
の測定要素または測定要素群を含むことができる。

第４図は測定要素５の特に望ましい第１実施例を具体的
に示す、これは、第１図乃至第３図に示した各測定構成
内の測定要素と同様に、ケーブルｌにそった環境温度の
監視に使用できる。この実施例では、検出部１０は温度
に反応する電流源であって、この電流源は一方では直接
測定導体７に、他方では２個のダイオード１２．１３を
介してスイッチ１１に接続される。スイッチ１１が制御
回路１４の信号によって閉成されると、ダイオード１２
．１３を介して検出部１０に供給電圧Ｕマが印加される
。この電圧は電流制限および緩衝回路３２の電圧出力か
ら供給され、該回路３２は自身の供給電圧ＵＭを中央処
理装置２からケーブル１の導体６を介して受ける。この
電流制限／緩衝回路３２の構成と機能とを第１２図と第
１３図を参照して以下に詳述する。

スイッチ１１の閉成によって検出部１０を構成する温度
感応電流源に供給電圧Ｕマが印加されると、ケーブルｌ
の測定導体７内に電流強度が検出部１０の環境温度の基
準を示す電流が生じる。この電流は測定信号として測定
導体７を介して中央処理装置２の受信回路に送出され、
そこで測定され評価される。この動作を第１１図を参照
して以下に詳述する。

ここで使用したタイプの温度依存電流源はＡｎａｌｏｇ
　Ｄｅｖｉｃｅｓ社のモデルＡ０５９０として市場で入
手可能〒あり、これは例えばＩＪＬＡ／にの感度を有す
゛る。この装置の使用はサーミスタよりも以下の２ＫＮ
の理由によって望ましい、先ずある定義された測定電圧
の印加時にサーミスタを通る電流の測定のためには空間
的に広範囲な測定構成は不可部である。これは、上記電
圧が強い干渉の影響を受ける可能性があるからである。

これに代って、ここでは中央処理装置から定義された測
定電流がサーミスタに印加され、測定値検出のため、こ
こで必要とされる電圧が中央処理装置ｚ内で測定される
。印加電流を検出部に供給するため、ケーブル１内に独
自の導体が必要となる。この導体は。

温度依存電流源を検出部１０として使用する本発明の望
ましい実施例に従えば除去され得る。これは、測定値の
出力のためには、電流源は供給電源とのみ接続されねば
ならないからである。他方、中央処理装置２からの電流
印加は不利にもなる。

つまり、個々の測定要素で短絡または電流漏れがあ゛っ
て、各々直ちに起動される検出部において測定電流が部
分的だけにまたは全く印加されないで、常に不正な測定
結果をもたらすような事態において上記電流印加が欠点
になる。この欠点のある電流源の使用のために、印加電
入のための各測定要素の各入力部に保護抵抗を備えるこ
とはできるが、この保護抵抗はスイッチ１１の閉状態で
はサーミスタと直列であるので、抵抗を示す温度測定の
精度および感度に影響を及ぼす。

スイッチ１１の作動を行う制御回路１４は電流／電圧供
給のため一方では接地導体９に、他方直流電圧／直流電
圧変換器（もしくは直流電圧調整器）３３を介して電流
制限／緩衝回路３２に接続される。チップ形状で集積構
成物として使用される直流電圧調整器３３は電流制限／
緩衝回路３２の前に印加される直流電圧Ｕマから、以下
に第７図を参照して詳述される制御回路１４の構成要素
に対する本質的に低い直流電圧Ｕママを生成する。この
構成は次の利点を示す、即ち、制御回路１４は検出部１
０に必要な高直流電圧Ｕマに接続された場合よりも本質
的に低い電流消費で稼動され得る。スイッチｉｔとして
、半導体スイッチを使用するのも望ましいが、この場合
供給電圧は電流制限／ｉａ衝回路３２の出力から取り出
されねばならない、これは、接続された電圧が供給電圧
よりも大きいと半導体スイッチが損傷または悪影響を受
けるからである。更に電流制限／１衝回路３２は大電流
の通過によって、上記スイッチ１１と関連する検出部１
０が同時に合金化（Ｄｕｒｃｈｌｅｇｉｅｒｅｎ）　１
１　テしまうような場合には、この大電流を通さなくす
る。

半導体スイッチを介しては更に「開状態」において漏れ
電流が流れるが、これは、他手段がなければ、検出部１
０を介して測定導体７に達する。

個々の活状態でない測定要素５の半導体スイッチ１１か
らの漏れ電流は、測定導体７内の供給電圧Ｕマを印加さ
れた検出部１０が出力する測定電流に比べて極めて小さ
い、しかし大型測定装置では何千個もの測定要素５の検
出部が測定導体７に接続されるので、これらの多数の漏
れ電流の総計は各起動された検出部１ｏの印加電流に対
して必要な測定が不可能になる程に悪影響を与える。こ
れにも拘らずスイッチ１１を半導体スイッチで実現可能
とするために、第４図に示す測定要素５は第２のスイッ
チ１５を有し、これによって検出部１０へのスイッチ１
１の接続部を接地導体９に結合可能としている。第２ス
イッチ１５は制御回路１４の出力λを介して、重複使用
のない状態でスイッチ１１に関してプッシュプル動作で
動かされる。スイッチ１１が開成するとスイッチ１５は
閉成し、スイッチ１１を流れる漏れ電流は閉成されたス
イッチ１５からダイオード１２を介して接地導体９へ導
かれ、測定導体７には到達しない。更に第２スイッチ１
５は半導体スイッチでもよく、ここでは漏れ電流を適当
に導くため、閉状態で可能な限り低抵抗のスイッチが選
択される。ダイオード１２は、中央処理装置２から遠隔
位置の測定要素５に電流印加によって接地導体９の電位
が測定導体７の電位を正方向で上回るときに、接地導体
９から測定導体７への電流を阻止する。

検出部１０内の欠陥によって短絡が生じると、直ちに次
の処置が取られる。即ち、測定導体７は、対応する測定
要素５の停止状態において閉成された第２スイッチ１５
を介して接地導体９に直接電気的に接続される。従って
、他の測定要素５から印加された測定電流の少くとも一
部は接地導体９に流され得るので、中央処理装置２の受
信回路に全電流が流れ込むことはない、必要な測定はこ
うすることによってもはや可能でなくなる。

上記のように個々の検出部１０内の短絡によって全シス
テムが機能できなくなるのを防ぐため。

検出部１０には２個のダイオード１３が直列に接続され
る。この場合、ダイオード１３は、測定要素１０に短絡
じると、上記の測定電流の流れ出しを阻止する。基本的
にはこの目的のためには１個のダイオードで十分である
。これら２個の直列のダイオードによって運転安全性は
更に向上する。

これは、どちらかのダイオード１３にも短絡が生じたと
きに、上記保護作用が同様に実行されるからである。こ
こでは、システムの機能を働かせなくするためには、同
一測定要素の３個の構成要素即ち検出部１０と両ダイオ
ード１３も短絡部を含まねばならない、しかし、同一測
定要素の３構成要素が同時に障害になることは極めて起
りにくいことである。

第５図は測定要素５の第２の実施例であって、これは第
１図から第３図に示したいずれの測定システムにも使用
可能である。第４図および第５図による測定要素５を共
通的に使用することもできる。第５図の測定要素５は以
下のように構成される。即ち、システム周期の繰返し実
行中に個々の測定要素５が２度選択される時間間隔より
も短い、検出部１０により検出された環境パラメータの
変化が該測定要素５によって記録され得る０例えば、戸
が開かれたかを検出部１０で監視すると仮定すると、大
型測定システムでは、２個の連続周期における関連測定
要素５への間合せ時に、戸がこの間に短く開けられて再
び閉じられたとしても、間合せ時には「戸は開いている
」という測定信号が得られる可能性があろう。

（以下余白） このようなシステム周期の長さに比べてより短時間の監
視対象環境パラメータの変化をも検出可能とするために
、第５図によれば、検出部１０は供給電圧Ｕｖに常時接
続されていて、該電圧は。

ケーブルの導体６から測定要素供給電圧ＵＭを得ている
電流制限および緩衝回路３２から供給される。検出部Ｉ
Ｏはここでは２個の電流供給接続部の他に信号接続部Ｓ
を有し、これを介して、信号強度が監視対象環境パラメ
ータと共に変化する信号を送出する。この信号は記憶回
路２６に供給される。検出部１０の信号が所定の閾値電
圧を越えていれば記憶回路２６は出力２７を例えば論理
０から論理１に変える。検出部の信悟が再び閾電圧を下
回ると、記憶回路はこれまでの状態を続ける。同様に電
圧Ｕｖに接続された記憶回路２６の出力電圧はこの場合
測定信号であり、制御回路１４が入力Ｅに測定要素番地
信号を保持していて、この番地に番地受信回路がプログ
ラムされていて従って出力Ａにスイッチ１１を閉成する
信号が出力される状態であると、測定導体７に供給され
続いて中央処理装置２に送信される。

問合せの完了後、記憶回路２６は再びリセットされ、こ
れは例えばスイッチ１１の閉成時に生成される信号によ
って実行される。

環境パラメータ例えば磁場の短時間変化に対して１例え
ば電気抵抗を永久的に変化させて反応するために供給電
圧を印加する必要のない検出部（例えばシｉｅｇａｎｄ
−Ｍｏｄｕｌｅ）が知られている。このような検出部は
同時に記憶回路としても働く。

問合せのため、この回路は第４図の検出部１０と同様に
、スイッチ１１を介して供給電圧におよび定電流源に接
続される。この検出部からの電流およびここで降下され
る電圧は測定値となる。監視対象結果が得られると１例
えばＷｌｅｇａｎｄモジュールにおいて、中央処理装置
２が次の測定要素を選択する前に１強電流パルスを与え
ることによって、　。

「通常または停止状態」を示す抵抗値が再設定される。

第５図は直流電圧調整器３３を示していないが。

ここでも第４図の測定要素５のように必要であれば該調
整器を設けてもよい。

検出部１０と測定導体７との間にも電圧／周波数変換器
を接続し、測定値を周波数信号の形で測定導体７に供給
することもできる。

第６図は他の実施例における測定要素群の最初の２個と
最後の測定要素５および関連する選択装置２５を示すが
、これは第２図および第３図に示した実施例とは異なる
。

第６図のケーブル１は６個の導体を持ちこのうち３個は
貫通していて、即ち、連続して全測定要素５および／ま
たは全選択要素２５と相互におよび中央処理装置２に接
続される。これらはシステム電圧供給導体６．システム
測定導体７．およびシステム接地導体９である。選択装
置２５と相互接続されるシステム命令導体８は各選択装
置内に中断部を有しこの中に信号整形回路３０が含まれ
、該整形回路は中央処理装置２から上記各選択装置２５
を介して供給される選択装置／測定装置番地信号を順序
に従って次の選択装置２５に転送するための処理を行な
う。この動作を以下に詳述する。

ケーブル１の残りの２個の導体は各部に分けられ、各々
選択装置２５．から関連する群の最後の測定要素５に延
びこの群の全測定要素５を選択装置２５に接続する。こ
れらの導体部分は群電圧供給導体６°および群命令導体
８°として働く。

選択装置２５はここでは、制御回路１４゛によって同期
作動を受ける２個のスイッチ２８．２８°を含む。両ス
イッチ２８．２８°は通常開状態で１選択装置２５が中
央処理装置２から送出された該選択装置２５に予め与え
られた選択装置番地信号を受信した時にだけ、即ち関連
測定要素５に問合せがなされた時のみ閉成される。スイ
ッチ２８は第２図および第３図の実施例と同様に９群命
令導体８“をシステム命令導体８に接続するために設け
られている。

しかし群命令導体８゛とシステム命令導体８との接続は
直接なされるのでなく１選択装置２５に備えられた第２
の信号整形回路３０を介して行なわれる。

該整形回路は上記選択装置２５から更に送出された番地
信号を順序に従って関連群に転送する。

第２スイッチ２８°も閉状態において群電圧供給導体６
°を電流制限／緩衝回路３２の供給電圧出力に接続する
が、この回路３２の電圧入力部は供給直流電圧Ｕ８を供
給するシステム電圧供給導体６と接続される。電流制限
／緩衝回路３２の出力には緩衝処理を受けた直流電圧Ｕ
、が取り出せ、これは一方ではスイッチ２８°に他方で
は直流電源調整器３３に送られる。該調整器３３は、第
４図の測定要素５の構成部分に関して述べたのと同様に
、この電圧を基に９選択装置２５の制御回路１４°へ供
給される本質的に低い直流電圧Ｕｖｖを生成する。スイ
ッチ２８°を用いて、ここでもある群のｌｌ１１定要素
５は関連する選択装置２５が選択された時のみ共通電圧
／電流源に接続される。

第６図の測定要素５は第４図のものと同様の構成である
。これらの測定要素５は検出部ＩＯとして同様に温度依
存電流源を持ち、この電流源は一方では常時システム測
定導体７と結合し他方ではスイッチ１１を介して供給直
流電圧Ｕｖに接続される。この電圧Ｕｖは各測定要素に
設けられた電流制限／緩衝回路３２によって直流電圧Ｕ
Ｍがら得られるが、この電圧ＵＭはスイッチ２８°の閉
成時群電圧供給導体６°に現われる。スイッチ１１の制
御はここでも関連する制御回路１４の出力Ａに現われる
信号によって行なわれる。測定要素番地信号は。

選択装置２５のスイッチ２８が閉成されると群命令導体
８°を介して制御回路１４の入力Ｅに与えられる。

第６図に示された群の第２の測定位置のスイッチ１１が
閉成されると、検出部１０が直流電圧Ｕｖに接続され貫
通するシステム測定導体に電流が流される。この電流は
この検出部１０の環境温度の基準を示し、処理のために
中央処理装置２に測定信号として送信される。

更に第６図の各測定要素５は直流電圧調整器３３を有し
、これは電流制限／緩衝回路３２の出力の直流電圧Ｕｖ
を低直流電圧Ｕｖｖに変換し、該電圧Ｕｖｖは各測定要
素の構成部分に対する供給電圧となる。第４図に示す第
２スイッチ１５と２個のダイオード１２．１３とはここ
では簡略化のために省略されるが、スイッチ１１として
半導体スイッチが使用されるとやはり備えられ得る。

第７図と第８図は制御回路１４および１４゛の望ましい
実施例で、　０１定要索５および選択装置２５で各々使
用可能である。この場合、測定要素および選択装置（存
在する場合のみ）に対する番地信号は連続する矩形波で
あり、これは中央処理装置２からシステム命令導体８に
出力され、制御回路１４゜１４°に受信され計数処理に
よって復号される。

第７図と第８図に示されるように、各制御回路１４、１
４°はプログラム可能逆方向計数器３５．３５゜を各々
有し、該計数器はプログラム入力Ｐ１〜ＰＫが供給電圧
Ｕｖ■または接地導体９に結合されることで、一定の初
期計数値口ないしｍに各々プログラムされ得る。これは
第７図と第８図には具体的なプログラムを示さずに概略
図のみで示されている。

プログラム可能逆方向計数器３５．３５°に初期値ｎな
いしｍを各々セットするには、各々のセット人力部に正
電圧パルスを与えねばならない。以下でセットパルスと
呼ぶパルスは、各測定周期の始めに中央処理装置２から
同様に命令導体８に供給され、第１図の実施例では直接
会ての測定要素５に到達する。以降の番地信号形成計数
パルスからこれらのセットパルスを区別可能にするため
、前者は後者と異なった時間長を有する。これは第９図
と第１０図の上列ＥおよびＥ″から明らかで、まずｔｌ
とｔ３の時間長を持つセットパルスが、それに続いて計
数パルス列が示されている。これらの計数パルスは全て
ｔ２またはｔ４の時間長を有する。これらの異なる長さ
のパルスは全て同一の命令導体８，８°を介して転送さ
れるので、制御回路１４．１４°によって互いに識別さ
れねばならない。このため制御回路１４．１４°はパル
ス長識別回路を含む。

第７図の測定要素制御回路１４の場合、入力Ｅからのパ
ルスは、制御回路１４内の接地電位への短絡時に過電流
を阻止する電流制限抵抗３４を介して。

反転用シュミットトリガ３６に到達する。このトリガ回
路の出力は単フロップ３７のクロック入力に接続され、
該出力にはＡＮＤゲート３８の入力と反転増幅器３９の
入力が接続される。増幅器３９の出力はＡＮＤゲート３
８の第２人力に接続される。単フロップ３７はシュミッ
トトリガ３６からのパルスの立下り端で起動して出力Ｑ
と句に時間長τ１の正と負のパルスを各々出力する。遅
延回路３９は入力に到達するパルスをその時間長に無関
係に時間δだけ遅延し、これを反転した形で出力する。

これは第９図の３番目の列ＶＺ３９に示される。ＡＮＤ
ゲート３８は一方ではシュミットトリガ３６からの遅延
を受けないパルスを受信し他方では遅延回路３９の出力
からの遅延を受けたパルスを受信するので、各時点で時
間長δの出力信号を生成し、これはシュミットトリガ３
６から出力されたパルスの終端に直接に続行される。こ
の様子は第９図のＧ３８の列に示される。シュミットト
リガ３Ｂによる遅延は何の作用もしないので１図には省
略されている。

ＡＮＤゲート３８の出力は各々２個のＡＮＤゲート４０
．４１の入力に結合される。このうち第２人力が単フロ
ップ３７の百出力に結合されたＡＮＤゲート４０はプロ
グラム可能逆方向計数器３５の制御入力を制御し、一方
、第２人力が単フロップ３７のＱ出力に結合されたＡＮ
Ｄゲート４１の出力パルスは計数器３５のクロック入力
に到達する。

単フロップ３７から出力されたパルスの時間長τ１は次
のように選択される。即ちこの長さがセットパルスの時
間長ｔｉより小さく、計数パルスの時間長ｔ２の総計お
よび遅延回路３９の遅延時間δよりも長いように選択さ
れる。即ち次式が成立する。

ｔ２＋δくｔｌくｔｌ　　　　　　　　（１）パルス長
をこう選ぶことで、第９図のＧ４０の列に示すように、
ゲート４０の出力には、セットパルスへの応答時のみ時
間長δのパルスが現われ。

一方Ｇ４１列に示すように、ゲート４１は計数パルスへ
の応答時だけに時間長δの出力パルスを送出する。

上記パルス長識別回路はパルス長も識別でき。

測定要素５に対する制御回路内での使用には全く十分で
ある。選択装置２５の制御回路１４°内での使用のため
には１選択装置に対するセットパルスと計数パルスとを
識別するだけでなく、これらを測定装置に対するセット
パルスおよび計数パルスからも識別せねばならない。こ
のため、第８図に示すように、上記装置に更に遅延回路
４４とＮＡＮＤゲート４５を付加せねばならない。この
ゲートの一つの入力は遅延回路４４と共通に、やはり電
流制限抵抗３４′によって入力Ｅ″に接続された非反転
シュミットトリガ３Ｂによって制御される。シュミット
トリガ３６の他の入力は非反転遅延回路４４の出力に接
続される。ＮＡＮＤゲート°４５は回路要素３７°、３
８°、３９°を、第７図において反転シュミットトリガ
３６の出力によって要素３７．３８．３９に行われたの
と同様な方法で制御する。制御回路１４°の他の構成は
制御回路１４の構成に対応するので、ここでは重複をさ
けて省略する。

第１図の構成において、各測定要素５内の制御回路１４
の逆方向計数器３５は他の初期値ｎにプログラムされる
。ここでｎは通常の場合任意の整数で１から、システム
内にある測定要素が出力する値の最大値ｐまでのいずれ
かである。

測定システムの投入直後および各測定周期の始め毎に中
央処理装置２は時間長ｔ１のセットパルスを命令導体８
に送出する。この信号は全測定要素に到達し、全ての逆
方向計数器３５を各々の初期値ｎに設定する。

この後、中央処理装置２は番地信号を同様に命令導体８
上に送出し、これによって個々の測定要素５を選択し、
各々測定処理の実施が出来るようにする。測定処理では
スイッチ１１は先ず閉成され次に再び開成される。

本発明によれば、これらの番地信号は、パルス数が、完
全に規定されたｉ’ｌｌＪ定要素５のプログラムされた
逆方向計数器３５の各出力計数値に対応するというパル
スパケットの形式では出力されない。

即ち、逆方向計数器に対してｎ＝１が成立する第１選択
の測定要素のための番地信号として、これを処理するこ
とによって該逆方向計数器の０出力゛に正電圧が出現す
る（第９図の列Ａ　　参照）ような１個の計数パルスを
出力する。ここで残りの全ての測定要素の逆方向計数器
はそのＯ出力が変化しないでｎからｎ−１の値に減少す
る。従って、ｎ−１である測定要素においてのみ第１計
数パルスと次の計数パルス間の時間に対して、スイッチ
１工は閉成され、検出部１０は電圧供給導体６に接続さ
れるので、これらの検出部１０の環境温度に対応する印
加電流が測定導体７を介して中央処理装置２に流れ、こ
こで処理され得る。

測定要素５が第４図に従って措築される場合。

即ちプッシュプル動作でスイッチ１１と交互に切替えら
れる第２スイッチ１５を持つときには、第７図に示すよ
うに、逆方向計数器３５の０出力には、出力が制御回路
１４の出力τとなる反転器４２が接続される。

測定終了時中央処理装置から直前に起動された測定要素
の番地信号に対して付加信号が与えられる。この付加信
号は上記の場合、命令導体８を介して全測定要素に到達
する他の計数パルスである。このパルスによって、関連
スイッチ１１がまだ閉成されている測定要素５の逆方向
計数器３５は。

−１の計数を行い、これによって該計数器の０出力上の
正電圧が消滅する。一方、逆方向計数器３５がｎ−２に
プログラムされた測定要素５はここで０を計数するので
、対応する０出力には正電圧が現われ、関連スイッチ１
１は閉成する（第９図１列Ａ　　）。他の全ての逆方向
計数器も、ｎ〜２にｒ２ 対応するので、各出力の０電位をそのままにしてｎ−２
を計数する。

第２の選択された測定要素５における測定処理を終了さ
せるため、中央処理装置２は命令導体８上に第３の計数
パルスを生成する。このパルスは第２測定要素を切断し
第３の測定要素を選択する。これらｐ個の計数パルスの
送出によって、測定周期の実行時においても、全ての測
定要素５は順次測定処理の実行のために起動される。こ
れに続いて、直ちにまたは長さが選択可能な休止時間の
経過後に再びセットパルスが命令導体８を介して全ての
測定要素５に送られ、新しい測定周期の実行が可能とな
る。

最大初期値ｐにプログラムされた計数器３５の逆方向計
数処理は値零まで実行される。ここでその出力および上
記測定要素５の計数出力に現われる信号を第９図に同様
に示す。

第３図と第６図の実施例においては以下の例外を除いて
上記の動作が同様に実行される。

１、群命令導体８′を持つ測定要素の同一群のみが常時
２貫通システム命令溝体８と接続され、この選択装置２
５は制御／測定中央処理装置により前もって選択される
ので、各測定要素群内の逆方向計数器３５の出力計数値
は互いに異なっていなければならない。しかし、これら
は群間で繰返されてもよく、即ち群１６〜２２の各々は
出力計数値ｎｓ−１の測定要素、出力計数値ｎｍ２の測
定要素等を含むことができる。

２、これまで全システム用測定周期として述べたことは
、ここでは、前もって関連選択装置２５が選択されてい
れば、その場合にのみ、各′Ｉｒ１１６〜２２の測定要
素５のみだけに対応する。このような計測定周期に対し
ては関連する選択装置２５の起動のために先ず番地信号
が先行きせねばならない。

第３図と第６図の実施例のようなシステム測定周期の始
動を第１０図を参照して以下に説明するが、この場合第
８図の制御回路１４’の機能について再び述べる。

第１０図は第９図とは異なる時間基準を選んでいるので
、ここでは第９図の時間長を半分に縮めている。

システム周期内で第１群がその番地信号送出によって選
択され得る前に２選択装置２５の制御回路１４′内の逆
方向計数器３５′は先ず、プログラムされた初期値ｍに
セットされねばならない。これは１時間長ｔ３を持つ第
１０図の最上列Ｅ’ｍ５Ｔ３［１’　に示されるセット
信号により実現する。該パルスは制御回路１４’にその
入力Ｅ′を介して供給され、シュミットトリガ３６によ
り処理されるが反転は受けないで実際遅延なしに遅延回
路４４に送出される。遅延回路４４は遅延時間τ２を持
ち、第１０図の列ＶＺ４４に従ってシュミットトリガ３
６′　のパルスに遅延を与える。この遅延時間τ２は、
　７ＩｌｌＪ定要素に対するセットパルスおよび計数パ
ルスのパルス時間ｔ１よりも長く２選択装Ｍ２５に対す
る計数パルスのパルス時間ｔ４よりも短く、従って選択
装置２５に対するセットパルスのパルス時間ｔ３よりも
短かくなるように選択される。これによって、　ＮＡＮ
Ｄゲート４５はシュミットトリガパルスの先端部を時間
τ２制御する。即ち、　ＮＡＮＤゲート４５の出力にお
いて、τ２よりも長いこのような入力パルスは負の形で
のみ現れ得る。τ２がｔ３およびｔ４より小さく、ｔｌ
およびｔ２より大きく選ばれるので、　ＮＡＮＤゲート
４５からは対応する長さのセットパルスと計数パルスの
みが選択装置２５に対して通されるが、短かいセットパ
ルスと計数パルスとは測定要素５には伝達されない（ｍ
１０図の列Ｇ４５）。ＮＡＮＤゲート４５の出力パルス
は、第７図と第９図を参照して説明したのと全く同様に
１回路構成要素３７’−４１’を有する後続のパルス長
識別回路によって処理される。唯一の相異は単フロップ
３７′が時間長τ３のパルスを送出することでここでは
以下の関係が成立する。

（ｔ４−τ２）＋δ′くτ３＜　（ｔ　３−τ２）・・
・（２）従って選択装置２５のためのセットパルスに対
応する長さδ′のパルスのみがＡＮＤゲート４０’の出
力に現われ、一方ＡＮＤゲート４１’の出力には選択装
置２５のための計数パルスに対応する時間長を持つパル
スのみが現われる。列ＲＺ３５’　　　に示すようｍ■
ｑ に、第１０図の左端のセットパルスによって選択装置２
５の全ての逆方向計数器３５′　はプログラムされた計
数値ｍに設定され、この値から時間長ｔ４の各計数パル
ス毎に減算してゆく。列Ａ′　　ではこの状態を選択順
の第１の選択装置について示していて、第１の選択装置
の計数パルスによって出力Ａ′に正電圧が現われ、スイ
ッチ２８（第３図）とスイッチ２８．２８’　　（第６
図）が閉成される。

この後、第１０図の最上列のように、測定要素へのセッ
トパルスと一連の計数パルスが現われるがこれらは遅延
回路４４およびＮＡＮＤゲート４５の機能のために全て
の選択要素に対して作用を行なわない。

しかし第１群の測定要素は２つでプログラムされた値に
セットされその後第９図に示すように順次選択される。

最後の測定要素がパルス４７で選択されると、上記測定
処理は完了させられ測定要素へのセットパルスが送出さ
れるので２選択装置への他の計数パルス４９がシステム
命令導体８に現われる。このパルスによって、直前に選
択された選択装置は自身のスイッチ２８とスイッチ２８
．２８’　とを開成するので、この群に属する測定要素
が切断される。このため、第１０図の最下列に示すよう
に。

初期値−２でプログラムされた選択要素の逆方向計数器
３５′の出力に正電圧が現われ、上記群において計測定
周期の始動が可能になる。上記の測定要素に対する終了
のためのセットパルス４８は以下のために供給される。

即ち２次の群が選択された場合１選択装置２５が不活状
態にされである障害のためにスイッチ２８′でなくスイ
ッチ２８のみが開成され得る時に、現在時行中の群の測
定要素が測定信号を全く送出しないことを確実にするた
めである。

以上から２選択装置のための番地も、後続の各番地信号
が先行する番地信号と付加信号とを含むように構成され
ることが分る。上記の極めて単純な場合には、この付加
信号は選択装置に対する他の計数パルスから成る。全計
数パルスは全ての選択装置２５に供給されるので、各逆
方向計数器３５は計数パルス毎に１だけ減算する。従っ
て通常の場合、システムの各群は、プログラムによって
各逆方向計数器に指定された順番で選択される。しかし
２選択装置に対する非常に多くの計数パルスが互いに直
後に連続して、即ちこれらのパルス間にセットパルスや
計数パルスを含まない状態で。

選択すべき選択装置の番地に対応して送出されれば、上
記の場合でも自由なアクセスが可能である。

第８図の制御回路１４′　は唯１個の出力Ａ１を有する
が、第２図または第６図に示すように唯１個のスイッチ
２８と多くの同時作動可能なスイッチ２８、２８’・・
・を含むような選択装置２５内での使用に適している。

しかし第３図のように、他のスイッチ２９が（場合によ
っては同時に付加スイッチ２９′　・・・も作動可能で
あるが）修正番地信号の受信時に閉成されるとすると、
制御回路１４′　は「通常」番地信号を修正番地信号か
ら区別し修正番地信号受信時に出力Ａ２に対応する制御
信号を送出できる回路構成を持たねばならない。このよ
うな回路構成は例えば第２のプログラム可能逆方向計数
器でもよく、ここでセット人力とクロック入力とは逆方
向計数器３５′　に並列にＡＮＤゲート４０’　と４１
′　に各々接続され、０出力は制御回路１４′のＡ２出
力に接続される。上記第２のプログラム可能逆方向計数
器はシステムの他の全てのプログラム可能逆方向計数器
から区別された独自の番地にプログラムされる。

これによって、第３図のシステム内の各選択装置２５は
、スイッチ２８を（および場合によっては並列スイッチ
２８′　・・・を）またはスイッチ２９を（および場合
によっては並列スイッチ２９′・・・を）閉成するとい
う２方法で中央処理装置２から選択され得る。更に既に
述べたように群１Ｇ−２２は少くとも２個の異なる選択
装置２５によって独立に選択され。

従ってシステムの運転安全性が向上する。

第１１図は入力回路４で、第４図と第６図について説明
したように検出部１０が例えば温度依存電流印加回路か
ら成る場合２本発明に従って、測定導体７を介して送信
される測定信号の受信および増幅のため中央処理装置２
内で有利に使用される。

この場合、各測定信号は電流で形成されこれは各起動さ
れた検出部１０によって測定導体７に印加される。この
電流の大きさは対応検出部１０によって検出された環境
パラメータ例えば環境温度の高さを表わす。従ってこの
印加電流の大きさは中央処理装置２で測定され、得られ
た測定値は更に処理されねばならない。

上記目的のため入力装置４はオーム測定抵抗５０を含み
、この一端は導体５１を介して電気的に測定導体７に接
続し、他端は所定の固定基準電位Ｕ　　に接続される。

該抵抗の本発明による望まｅｆ しい決定については以下に詳述する。起動された測定要
素５からの印加電流は基準電位Ｕ　　の測Ｒｅｆ’ 定抵抗５０を通過しここで該抵抗において電圧降下を示
す。この降下の大きさは該測定装置５により監視された
環境パラメータに対する基準を示す。

測定抵抗で降下した電圧は通常０．５ボルトの規模なの
で以降の処理および登録のために増幅されねばならない
。

上記は高いブツシュブツシュ抑制を持つ本発明による差
動増幅器として構成される測定増幅器５２によって実現
される。これには例えば、１：１０４を超えるブツシュ
ブツシュ抑制と最大２００ｋｌｌｚの上限周波数とを持
つ「計数増幅器」を使用することも可能である。

第１１図に示すように例えば差動増幅器５２の「正」の
入力は測定抵抗５０の鎖端に直接電気的に接続され、該
抵抗は導体５１を介して測定導体７に接続される。

差動増幅器５２の他の人力例えば「負」人力は導体５３
を介してオーム抵抗５４の一端に電気的に接続され、該
抵抗の他端は基準電位Ｕ　　に接続されｅｆ る。更に差動増幅器５２の「負」入力は導体５３を介し
て容量５５の接続部に接続し、該容量の他の接合部は測
定導体７に接続される。更に、測定導体７を差動増幅器
５２の「正」入力に結合する導体５１と基準電位Ｕ　　
との間には容量５６とオーム抵抗５７ｅｆ とから成る直列回路が接続され、従ってこれらは測定抵
抗５０と並列になる。

本発明によるこの構成は以下の問題の解決に役立つ。

大型測定システムでは、全測定要素５を相互接続し、起
動された測定要素５に印加された電流を中央処理装置２
に送信する測定導体７は極めて長距離である。その結果
、この測定導体７にはシステム自身からまたは外部から
の交番電圧干渉が混入される。この干渉によって測定抵
抗５０に電圧が生じ、この電圧の大きさは、　′ＡＰＩ
定導体７を介して送られる印加電流が該抵抗で降下する
電圧と固定度である。信号対雑音比は他の手段を用いな
ければ極めて悪い。

信号対雑音比を改善するため、既に説明したように、差
動増幅器５２の両人力を測定導体７に接続し、即ち「正
」入力を測定導体７に電気的に直接接続し、負導体を測
定導体７に容量的に接続する。つまり測定導体７は入力
回路４内で２個の分岐路５１．５３に分かれる。更に本
質的に重要なことは、測定導体７の特性抵抗に対応する
接続抵抗によって各分岐路が基準電位Ｕ　　に終端され
るこＲｅｆ’ とである。これは各分岐路に対して、容量とオーム抵抗
との直列回路によって実現され、ここで分岐路５１に関
連づけられた容ｆｆ１５Ｂと抵抗５７の直列回路は測定
抵抗５０に並列となり、一方分岐路５３に関連する直列
回路は結合容量５５とオーム抵抗５４により構成される
。

両回列回路により形成される接続抵抗は以下のためのも
のである。即ち、測定導体７上の交番電圧干渉が差動増
幅器の両人力に同一振幅で到達し、相互間の移相が小さ
くなるためである。これは１分岐路５１．５３の各々は
、測定導体７の特性抵抗に適合させた反射のない終端を
有するからである。差動増幅器５２は高いブツシュブツ
シュ抑制のために測定導体７上に出現する交番電圧干渉
をほぼ完全に抑制し、一方印加電流により測定抵抗５０
で降下する直流電圧は「正」入力にのみ入力され、従っ
て差動増幅器５２の出力に所望の増幅度で出力される。

ここで達成される干渉抑制は極めて好ましく。

非常に大規模でより多くの分岐路を持つ測定システムに
おいても完全な測定結果が得られる。この場合、システ
ム導体としての７１−１電導体７は、全測定要素５を相
互接続し、対応する測定装置の起動時のみ選択装置２５
内の対応するスイッチを介して測定導体７に結合される
付加的な計測定導体を設ける必要はない。

作動増幅器５２の「正」入力に接続されていない測定抵
抗５０の一端が結合される基準電位Ｕ　　はｅｒ 原理的にゼロ電位でもよい。

しかし測定要素５内で検出部１０として環境パラメータ
依存の電流源が使用され該電流が選択状態の半導体スイ
ッチｌｌによって供給電圧に接続される場合には、各測
定要素５は適当な第２スイッチ１５を含まねばならない
。該第２スイッチによって、スイッチ１１の閉成時には
スイッチＵから検出部１０への接続導体は接地導体９に
接続可能となる。

極めて大型のｄｐｉ定システムではこの場合以下の問題
が発生する。即ち選択装置２５と測定要素５との構成要
素およびスイッチ要素に対してケーブル内の電圧供給導
体６または６′に供給される全供給電流は、接地導体９
を流れて中央処理装置に戻る。接地導体９を形成するケ
ーブル導体の断面積は経費上の理由から任意に大きくは
選択できないので、空間的に極めて拡大している測定シ
ステムでは、少くとも中央処理装置２から離れているこ
のような測地要素においては、中央処理装置２がら接地
導体に印加されたゼロ電位よりも数ボルト高い電位を接
地導体９に印加する。

上記システムで基準電位υ　　をゼロ電位と等ｅｆ しく選べば、実際全ての測定要素５において測定導体７
は接地導体９よりも低電位におかれる。これは、起動さ
れた各検出部１０から測定導体７へ印加される電流は極
めて低く該導体７の全長に対して非常に僅かな電圧降下
しか示さないがらである。測定要素５内の測定導体７に
現われる電位は７ｆｌｌｌ定抵抗５０での電圧降下によ
ってのみ基準電位Ｕ　　から相異している。しかしこの
測定抵抗はＲｅｆ’ 任意に太き（することはできない。そうしないと、測定
抵抗５０と測定導体７の容量の彼田部とで形成されるＲ
Ｃ回路の時定数が過大となり、測定要素の切替処理完了
までに長時間が必要となる。

測定抵抗に、上記時定数が許容可能であるような抵抗値
を選べば、測定導体７および測定抵抗５゜を小印加電流
が流れることで生じる電圧降下は。

中央処理装置２から離れた測定要素５に対して測定導体
９を介して現われる電圧降下に比べて小さくなる。

基準電位Ｕ　　をゼロ電位に選べばその結果。

ｅｒ 少くとも中央処理装置から離れた測定要素５に対して、
接地導体９から、閉成されたスイッチ１５とダイオード
１３を介して該ダイオードに接続された検出部１０の接
続部に、ａＩ定導体７の電位に対して数ボルト正方向に
高い電圧が印加される。従って、中央処理装置２から離
れた測定要素５に関連づけられた全検出部１０から、常
に、即ちスイッチ１１が閉成されていてもダイオード１
２が存在しても、小さな寄生電流が測定導体７に流れる
。寄生電流の総和は大型システムでは唯１個の起動され
たｎ１定要素５の検出部により印加された本来の測定電
流を極めて劣化させるので、必要なｎ１定はもはや不可
能となる。

上記問題の解決のため１本発明によれば入力回路４内の
基準電位Ｕ　　は、基準電位Ｕ　　とゼＲｅｆ　　　　
　　　　Ｒｃｆ 口電位との電位差が所定の値例えば接地導体９の最大許
容電位降下よりも０．５ｖ高くなるように選択される。

システム全体が例えば、遠隔の／ｌｐＩ定要素５と中央
処理装置２の間の接地導体９上に高々３ｖの電圧降下が
発生し得るように構成されれば、基／＄電位Ｕ　　は３
．５ｖに設定される。これＲｅｆ’ により、上記遠隔測定要素５内においてスイッチ１１の
開放状態時、検出部１０には、　／１１１Ｉ定導体７定
導加電流を導く可能性のある正の電圧降下は発生しない
ことが確実になる。上記構成において、中央処理装置２
に近い測定要素５では、測定導体７の電位は接地導体９
の電位より数ボルト高いので。

関連する検出部１０において逆電圧が格下する。しかし
検出部１０に直列接続されたダイオード１２．１３の極
性はこの電圧がダイオードの逆方向に印加され従って測
定導体７から接地導体９に電流が流れないように選択さ
れる。検出部１０として温度依存電流源が使用されると
、上記ダイオード１２．１３の閉塞作用は一層上昇する
。これは、該電流源もダイオード特性を有し、上記３要
素の閉塞方向が同一方向となるようにこれらの要素を直
列に接続するからである。

本発明によって基準電位Ｕ　　をゼロ電位に対ｃｆ して高くすることによって、スイッチ１１として半導体
スイッチまたは開状態で漏れ電流を通す他のスイッチを
使用でき、しかも測定システムの規模を制限しない。

本発明によれば個々の測定要素は、直前に起動された検
出部が出来るだけ短時間で次の検出部に切替えられるよ
うに制御される。これまで起動状態にあった測定要素の
閉成されていたスイッチ１１の開成と次に起動される測
定要素のスイッチ１１の開成との間の時間は出来るだけ
短くされ、望ましくは検出部の応答時間内即ち２０Ｌｔ
ｓ−５０ｔＬＳの間でなければならない。このような短
い切替時間は次の利点を導く。即ち既に述べたように、
抵抗導体７の導体容量と測定抵抗５０とで形成されるＲ
ｅ回路は任意に小さくはできない時定数を有するが、こ
れは、上記容量は測定導体７の長さに依存し、測定抵抗
５０はある最小値を持たねばならないからである。こう
することによって、検出部１０から印加される測定電流
を余り小さくはない、以降で処理され得る適当な電圧降
下を生じさせることができる。測定導体７に長時間電流
が流れないとすると、　１！＋１定導体の導体容量は完
全に放電され、検出部の投入時には、検出部から印加さ
れる電流は先ず上記容量を充電し、その後入力回路４の
測定抵抗５０において全電流が使用されねばならない。

上記電流が正確な測定を可能とする定常状態になるまで
に要する時間は上記のＲｅ回路の時定数に依存する。あ
る起動検出部から次の検出部への切替時間が、測定導体
の導体容量がこの時間中に十分にまたは完全に放電でき
るように選択されると１次の検出部は、該導体容量が完
全に充電され安定状態に達するまで起動されたままにな
る。Ｒｅ回路の時定数は、ある測定要素から次の測定要
素への切替に使用されるクロック周波数に完全に対応す
ることも出来る。本発明によって切替時間を可能な限り
短かく選択すると、これまで起動されていた検出部１０
の切断後１次の検出部が起動される前に、測定導体７の
導体容量が本質的に放電するためには十分な時間がない
。従って導体容量は、２個の連続して起動される検出部
から印加される電流同志が区別され得る程度に短時間に
再充電されねばならない。しかしこの再充電時間はＲｅ
回路の時定数よりも本質的に短いので、ある定常状態か
ら次の定常状態への遷移が極めて高速で行われる。従っ
て測定要素と順次選択するのに使われるクロック周波数
は１個々の電流印加処理間のより長い“休止“の際に可
能とされる周波数に比べてより高く選択され得る。しか
しいずれの場合にも確実なことは、検出部は重複して閉
成されないし、従って次の検出部が閉成される前にこれ
まで閉成されていた検出部は確実に開成される。

次に第１２図を参照して電流制限／緩衝回路３２の第１
の実施例を説明する。該回路は２個の同−構成の分岐路
８０．７０を持ち、これらは信頼度を上げるために並列
に配列される。該分岐路８０．７０は電流制限ダイオー
ド８１．７１と電流制限抵抗８２．７２と緩衝容ｆｆ１
６３．７３を各々備え、これらの容量は上記要素に直列
に電圧供給導体６．６′と接地導体９との間に接続され
る。電流制限抵抗８２．７２と緩衝容＝ｅａ、　７３の
各中間において、その都度接続される回路のための供給
電圧Ｕ　がとり出される。両■ 平行分岐路６０．７０から共通電圧Ｕ　を取り出せるよ
うにするため、共通電圧のための両取出点は２個の相対
して接続されたダイオードによって分離され、これらの
ダイオードは陰極接続部で相互接続される。これらの切
断または減結合ダイオード６４、７４の接合点からは後
続の回路要素に供給電圧Ｕ　が送出される。

■ 電流制限／緩衝回路３２は大型測定システムの構築時に
６利に使用される。このような７１１１１定システムに
おいて電流消費量および従って電流供給導体と接地導体
の断面積をできる限り小さく抑えるためには、その回路
を０ＭＯ８素子で構成するのが適当である。該素子は停
止状態では極めて低い電流消費を示し、しかしある論理
値から他の論理値への切替に際しては短時間ではあるが
上記より本質的に高い電流を通過させる。

大型測定システムで５０００個以上の測定要素と関連す
る選択装置を含み得る場合には連続運転時にある時間経
過後には故障する構成要素が必らず発生するので１例え
ば地中設置のような近づきにくい場所に置かれたケーブ
ルに置いては上記欠陥が直接関連する回路のみを機能不
能にし測定システム全体には影響しないようにする配慮
が特に必要である。

この点最も危険なことは構成要素の短絡合金化（Ｄｕｒ
ｃｈｌｅｇｌｅｒｅｎ）で、これは入力部の通常におい
て高い入力抵抗を実際ゼロに低減するのでこの入力には
極めて高い電流が流れ得ることになる。

本発明による電流制限回路によって、該電流は少くとも
供給電圧Ｕ　が印加される電流供給人力■ に対して、先ず電流制限ダイオード８１．７１で阻止さ
れる。該ダイオードは測定要素５内に使用され、ここを
通過する電流をある値例えば４００μＡに制限する。こ
の電流値は、測定要素５が最大許容電流の生成に必要と
する電流値よりいくらか高い。原理的には各分岐路Ｇｏ
、　７０において該電流制限ダイオードで十分であるが
１本発明による信顆性を高めるためこれらのダイオード
に同様な機能を行なう第２の要素を直列に接続する。こ
のような電流制限ダイオードは比較的高価なので第２の
要素としては電流制限抵抗６２；　７２が選択される。

この制限電流は供給電圧ＵＭに依存しダイオード６１、
７１の制限電流よりも本質的に高くなり得るものである
。

特に大型ＡＰＩ定シ定力ステム電流制限抵抗０２．７２
の大きさは、電圧供給導体６または６′から全て得られ
る電流が、電流供給位置にスイッチ３２を各々有する多
数の測定要素および／または選択装置が短絡を起した場
合にも過大にならないように選ばれる。電流制限抵抗６
２．７２の望ましい値は例えば１０ｋΩである。０ＭＯ
８素子を使用の場合他の手段をとらなければ、該素子に
特有の上記切替電流最大値が供給電圧を各切替動作時に
崩すことになることを意味する。これを防ぐため緩衝容
量８３．７３が設けられ、これらは短い切替時間で必要
電流を供給し続いて抵抗８２．７２に再び印加する。こ
こで電流制限抵抗８１．７１は抵抗６２．７２で全電圧
が降下しないように働き従って本質的により低い電流を
通す。このことから緩衝容ａｅａ、　７３の再充電は切
替動作に必要な時間よりも本質的に長い時間をかけて実
行される。０ＭＯ３素子において短時間の切替時間に対
して極めて高く、それらの間の停止時間では特に低いこ
の必要電流は上記回路を通してほぼ同形の中間必要電流
に変換される。電流供給導体６．６′はこれによって有
利にも上記中間必要電流に適合させ得る。即ち、最大切
替電流値に適合させる必要はない。

この点特に重要なことは第６図に示すように選択装置１
２５内で上記の電流制限／緩衝回路を二重に使用するこ
とである。ここで全測定要素群の電圧供給導体６′は休
止状態のスイッチ２８′を介して９貫通システム電圧供
給溝体との接続から切断される。このシステムである選
択装置２５が起動され、制御回路１４′がスイッチ２８
．２８’を閉成すると、該群の全、４ｐ１定要素５に同
時に電流供給がなされこれによって対応する高切替電流
が流れる。−個の群には１０００個以上の測定要素が含
まれ得るのてこのことは電圧供給導体６に非常に高い負
荷がかかることを意味する。これを避けるため閉状態の
スイッチ２８′　は計重圧供給導体６′を電流制限／緩
衝回路３２の出力に接続し、該回路３２は緩衝処理後の
供給電圧Ｕ　を制御回路１４’　に送出する。

■ 電流制限／緩衝回路３２の緩衝容量８３．’　７３はス
イ・し千２８′の閉成時に現われる切替電流最大値を転
送できるのに十分な寸法でなければならない。該最大電
流は制御回路１４′の作動時に現われる最大電流より本
質的に大きい。測定要素５内に使用される電流制限／緩
衝回路３２では、上記位置において容量は本質的に僅か
な最大必要電流に適するようにでき従ってより小さい寸
法にできる。

第１３図は他の実施例でのａｌｌＪ定要素７５を示し１
本発明に従って、　ｉｌｌ定システムの信頼性が極めて
高く要求される場合には使用されるものである。

第５図および第４図と同様に、第１３図の測定要素７５
は温度依存電流源を形成する検出部ＩＯを含む。第４図
のスイッチ１１の代りにここでは６個のスイッチ９１〜
９Ｂから成るスイッチ回路９０が設けられる。これら６
個のスイッチ９１〜９Ｂのうち、各々２個が直列に相互
接続される。即ち９１と９２．９３と９４、および９５
と９Ｂである。上−２各２個の組から成る３個の直列回
路は一方では３個の減結合ダイオード９７〜９９を介し
て検出部１０の電圧供給接合部に接続され、他方では電
流制限／緩衝回路３２の３つの出力に各々接続される。

該出力は互いに独立して検出部１０の作動に必要な電圧
を供給する。

従って、３個の上記構成の電圧供給路１０４〜ＬＨの２
個が故障しても、検出部はなお作動電圧に接続され得る
。他方各２個のスイッチ９１〜９２．９３〜９４、９５
〜９６の直列回路は、これらの各電圧供給路１０４〜１
０６上において次の動作を確実にする。即ち各供給路で
２個のうちの１個のスイッチがもはや開成され得ないよ
うに障害になった時にも検出部ＩＯは要求された方法で
の測定完了後、供給電圧から再切断され得る。

スイッチ９１〜９６は常に同時に開成、閉成されるので
、原理的に同一制御回路１４によって制御され得る。し
かし信頼性を高めるため、第１３図の実施例では３個の
制御回路１４　　、１４２．１４３が設けられ、これら
の入力Ｅ　　、Ｅ　　、Ｅ　　は互いに並列に命令導体
８に接続され、これらの番地受信回路は同一番地にプロ
グラムされる。第１制御回路１４　　の出力Ａ１は両ス
イッチの一方即ち第１電圧供給路１０４上のスイッチ９
１と１両スイッチの一方即ち第２電圧供給路１０５上の
スイッチ９３とを制御する。第２制御回路１４゜の出力
Ａ２は第１電圧供給路１０４上の第２のスイッチ９２と
２個のスイッチの一方即ち第３電圧供給路１０Ｂ上のス
イッチ９５とを制御する。第３制御回路１４　　の出力
Ａ３は第２電圧供給路１０５上の第２のスイッチ９４と
、検出部１０の第３電圧供給路１０６上の第２のスイッ
チ９Ｇとを制御する。

制御回路１４．　、１４□、１４３の電圧供給入力部は
各々独立した導体１ｏｔ−１０３を介して電流制限／緩
衝回路３２の他の３個の供給電圧出力に接続される。望
ましくは導体１０２〜１０３の各々の上に、第４図に示
すように更に１個の直流調整器３３が接続できる。スイ
ッチ９１〜９６が半導体スイッチで形成されるときには
、制御回路１４□〜１４３の各々は第２出力λを有し、
これによって第４図のスイッチ１５に対応するスイッチ
がスイッチ９１〜９６に関してプツシニブル動作で制御
される。この場合３個の電圧供給路１０４〜１０Ｂの各
々は対応するスイッチを介して接地導体９に結合され得
るものでなければならない。しかし該スイッチは第１３
図では明瞭さのために省略されている。第４図のダイオ
ード１３の機能は第１３図の実施例ではダイオード９７
−９９が実行しているが、各ダイオードは所望であれば
２個の直列接続されたダイオードに代替され得る。

第１３図に示した電流制限／緩衝回路３２は第１２図の
実施例と同様に構成される。この実施例に比べて、第１
３図では２個でなく３個の互いに並列に配置された分岐
路１３０．７０．８０を持ち、各々の分岐路は電流制限
ダイオード８１．７１．８１と電流制限抵抗［ｉ２．７
２．８２と、緩衝容量６３．７３．８３を各々含む。

これらの構成要素は直列に電圧供給導体６と接地導体９
との間に接続される。電流制限抵抗８２゜７２、８２と
関連する緩衝容量８３．７３．８３の各々の間の接続点
８８．７８．８８から同じ大きさの３個の検出部供給電
圧が取り出される。これらは電圧供給導体６を介して供
給されるΔｐ１定位置供給電圧ＵＭから電流制限／緩衝
回路３２の３個の分岐路６０．７０゜８０を通って各々
独立に導かれ、更に上記のように、スイッチ回路９０に
よって３個の別々の供給導体１０４〜１０Ｇを介して検
出部１０に印加され得る。

２個の分岐路６０．７Ｑの各接続点６８．７８の間には
。

第１２図の実施例と同様に互いに向い合って陰極接続部
で結合された２個のダイオード１３４．７４が接続され
る。これらの間から制御回路１４□の供給電圧がとり出
される。これと同様に、２個の分岐路７０．８０の各接
続点７８．８８の間には、２個の減結合ダイオード７６
、８６が接続され、これらの間から制御回路１４３の供
給電圧がとり出される。更に同様に１両分岐路Ｇｏ、　
８０の２個の接続点６８．８８の間には２個の減結合ダ
イオード６７、７７が接続され、こわらの中間から制御
回路１４２の供給電圧がとり出される。

上記のように電流制限／緩衝回路３２の３個の分岐路Ｇ
ｏ、　７０．８（ｌの相互接続が極めて高信頼性をもっ
て実現する。３個の分岐路６０．７０．８０の２個が障
害を受けても例えば緩衝容ｆｆ１８３．７３．８３が接
続点８８．７８．　または８８に電圧を印加しなくなっ
たとしても、３個の制御回路１４□〜１４３のうちの１
個と３個の電圧供給減１０４〜１０６の１個とは必要な
作動電圧を維持し従って測定要素７５は機能しつづける
。

更に重要な点は、第１３図から分るように１例えば検出
部１０の電圧供給路１０４内に両スイッチ９１゜９２が
直列に置かれ、これらは再制御回路１４、。

１４２から制御されることである。これらの制御回路は
減結合ダイオード６４．６７を介して電流制限／緩衝回
路３２の分岐路６０の接続点８８に接続され、該接続点
６８には更に電圧供給路１０４が接続される。

同様なことは電圧供給路１０５にも当てはまり、これは
分岐路７０の接続点７８に接続されていて、該接続点に
はダイオード７４．７６を介して２個の制御回路１４　
ｔと１４３が接続される。該制御回路は、上記電圧供給
路１０５上にある２個のスイッチ９３と９４を制御する
。電圧供給導体１０Ｂは同様に分岐路８ｏの接続点８８
に接続され、該分岐路およびダイオード７７と８６を介
して作動電圧が各々制御回路Ｉ４２と１４３とに供給さ
れる。この作動電圧は電圧供給路１０Ｇ上のスイッチ９
５と９６を作動させる。

上記接続方法から、電流制限／緩衝回路３２内の２個の
分岐路の障害時には、電圧供給路１０４゜１０５、また
は１０θが確実に分岐点８８．７８．または８８に接続
され、該接続点は依然として機能でき供給電圧を２個の
制御回路に供給し、該回路は関連する電流供給路上のス
イッチを作動させることができる。例えば２個の分岐路
Ｇ０．７０が両緩衝容量６３、７３の短絡によって障害
を発生したとすると接続点６８．７８からはもはや供給
電源は得られないので、一方では両型圧供給導体１０４
．　１０５が他方では制御回路１４、が障害となる。こ
の場合供給電圧は接続点８８でのみ供給可能であり、こ
こから一方では電圧供給路１０６上を他方ではダイオー
ド７７゜８６を介して制御回路１４゜、１４３に達する
。しかし再制御回路はまだ機能を続ける電圧供給路１０
６上のスイッチ９５．９６を作動させるので、２個の分
岐路６０．７０の障害にも拘らず検出部１０は正常にオ
ン／オフされ得る。同様なことは分岐路７０と８０．ま
たは６０と８０の同時障害にも当てはまる。

既に説明したように、スイッチ９１〜９Ｂは有利にも半
導体スイッチを用いて実現可能であって。

これらは作動／供給電圧が送出されねばならない。この
ために必要な導体は第１３図では明瞭さのために省略さ
れている。しかし本発明に従ってスイッチ９１〜９６に
対する供給電圧として制御回路１４　　、１４　　、　
　または１４３に送出される供給電圧が選択され、これ
により各スイッチが作動されることは明らかである。即
ち、スイッチ９１．９３は制御回路■４□と同じ供給電
圧に、スイッチ９２．９５は制御回路１４２と同じ供給
電圧に、およびスイッチ９４、９６は制御回路１４３と
同じ供給電圧に接続される。これに対し該スイッチによ
って切替えられる検出部１０用作動電圧は減結合ダイオ
ードＧ４．７４；７Ｇ、　８８；または６７、７７の中
間からでなく電流制限／緩衝回路３２の接続点６８．７
８．または８８から取り出される。この結果３個の分岐
路００．７０．８０の２個が障害を起してもスイッチ９
１〜９６用の供給電圧は検出部１θ用の切替対象作動電
圧よりも常に高電圧に置かれる。つまり、切替対象作動
電圧の方が供給電圧より高いと半導体スイッチが損傷や
乱れを受けるために上記処置が必要である。

正常の誤りのない動作中に減結合ダイオード６４、７４
；　８７．７７、および７６、８８を介しての電圧降下
が原因で、スイッチ９１〜９６を切替えねばならない接
続点Ｂ８．７Ｂ、　Ｈから取り出された電圧が、導体　
１０１〜１０３から得られた該スイッチの供給電圧より
も大きくなるのを確実に阻止するためには。

電圧供給路　１０４〜１０Ｇの各々に更にダイオード１
０７〜１０９が各々接続され得る。

同様な方法で１選択装置２５内で使用される電流制限／
緩衝回路３２も、上記方法で相互接続される３個の分岐
路で形成され得る。この場合選択装置も３個の互いに並
列な制御回路１４’、１４２’。

１４３′　を含み、これらは多数のスイッチから成るス
イッチ回路を作動させる。ここではスイッチ２８、２８
’　、・・・２９．２９′、・・・がこれらのスイッチ
回路である。特に高信頼性のために設計されたこの選択
装置２５は、　７Ｉｌｌ定要素５が第１３図でなく例え
ば第４図や第５図のように構成されたＡｌ１１定システ
ムに有利に設置される。選択装置の障害は必ず測定要素
群全体を使用不能にするので選択装置の信頼性も特に高
く要求されねばならない。ここで測定要素の信頼性は中
程度または僅かな程度に要求される。

明らかなことに、’５０ｋｍ以上のケーブル長の大型測
定システムでは、測定要素および選択装置の番地信号を
形成するパルスおよびこれら装置内のプログラム可能逆
方向計数器のセットに必要な中央処理装置２からのパル
スを、パルスの再生成と整形を繰返さずに、システム全
体を連続して貫通する一重のケーブル導体に供給するこ
とは不可能である。

既に説明したように、このため本発明に従って各選択装
置２５内の貫通システム命令導体８上には第１信号整形
回路３０が設けられる。該整形回路は中央処理装置２か
らシステム命令導体８Ｊ−を通り上記選択装置２５を介
して受信される全てのパルスを、後続の導体部分に送出
する前に整形する。同様に各選択装置２５内にも有利に
第２信号整形回路３０が備えられ、該整形回路は受信し
たパルスを整形し、その後、閉成されたスイッチ２８を
介して関連する群の測定要素５に送出する（第６図）。

これら両信号整形回路３０は原理的には同一構成に出来
るが、これを第１４図を参照して以下に説明する。

信号整形回路３０に必要な全ての回路と構成要素とは該
回路の信頼性と運転安全性を高めるため一部並列に一部
直列に多重構成とされる。先ず命令導体８を介して入力
Ｅに到着するパルス形状信号は３個の互いに並列な信号
路　１１０〜１１２において更に処理される。これらの
信号路の各々は電流制限抵抗１１３〜１１５と該抵抗に
直列のシュミットトリガ１１６〜１１８とを含む。ここ
で抵抗１１３〜１１５は、信号整形回路３０内である構
成要素の焼付（Ｄｕｒｃｈｌｅｇｉｅｒｅｎ）によって
接地電位へ短絡が生じたときには、譲回路３０の入力Ｅ
を通る電流を制限する。シュミットトリガ　１１６〜１
１８は入力Ｅで受信されるパルスの縁部の再生成が後続
の両スイッチ群　１１９．　１２０の完全な制御か可能
なように実行できるために備えられる。２個のスイッチ
群　１１９．　１２０の各々は３個の互いに並列の分岐
路　１２１〜１２３および１２４〜１２Ｇを持ち、これ
らは各々２個の直列スイッチ８１〜Ｓ１２から成る。従
ってスイッチ群　１１９は６個のスイッチＳ　−８６を
含み、スイッチ１１１２０は６個のスイッチＳ　　−５
１２を有する。シュミットトリガ１１６〜１１８による
スイッチＳ１〜Ｓ１２の制御は９群　１１９および１２
０内のスイッチが同時に但し１群のスイッチは常に他の
群に対しプッシュプル動作で作動されるように実行され
る。第１４図においては、切替状態は以下のように示さ
れる。即ち人力ＥへのＯ信号人力時に群１１９のスイッ
チＳｌ〜Ｓ　が開成され群１２０のスイッチ８７〜Ｓ１
２が閉成される。ここでは、両群に対して異なったスイ
ッチタイプが使用されることを前提とする。該群は同一
制御信号レベルによって各々、互いに逆状態に設定され
得る。

これはスイッチＳ　−８６としてｐチャネル電界効果ト
ランジスタ（１’［ＥＴ）を、スイッチ８７〜Ｓ１２と
してｎチャネルＦＥＴを使用することで達成される。３
個のシュミットトリガ　１１６〜１１８の各々は、一方
のスイッチ群の異なる分岐路内の２個のスイッチと、他
方のスイッチ群の対応する分岐路内の２個のスイッチを
制御する。従ってシュミットトリガ１１Ｇの信号出力部
にはスイッチＳ、、Ｓ　　およびＳ　、Ｓ　の制御人力
が接続され、一方シュミットトリガ１１７はスイッチＳ
２゜Ｓ　およびＳ　、Ｓ　を、シュミットトリガ　１１
８はスイッチＳ　、Ｓ　およびＳ　、Ｓ　を制御する。

上記構成によって信号整形回路３０をもはや作動しない
ようにするためには３個のシュミットトリガ１１６〜１
１８の２個を同時に障害とせねばならないことになる。

文岐路内の２個の直列スイッチがもはや開成され得ない
ようにするにはそれらが同時に短絡状態にならねばなら
ない。もしくはある群内の３個の並列分岐の各々内で、
もはや開成不能なようにあるスイッチが欠陥を有しない
限り。

信号整形回路３０は使用不能とならない。

両スイッチ群の１個即ち群１１９は信号整形回路３０の
出力点Ａと供給電圧Ｕ　との間に接続され。

■ 一方他の群１２０は出力点Ａと接地電位に接続される。

共通信号で制御されるスイッチＳ　　−Ｓｌ。としてＰ
ＵＴが使用される場合には、全スイッチＳｌ〜Ｓ１゜が
閉成される短時間が存在するので、出力点Ａと群１．１
９の間に電流制限抵抗１２７が、出力点Ａと群　１２０
の間に電流制限抵抗１２８が、設けられる。両抵抗１２
７と　１２８は後続する導体部分の特性抵抗に対する適
合のために働く。これについて以下に詳述する。

スイッチ　１１９と　１２０の開成、開成を交互に行う
ことによって出力点Ａは抵抗１２８を介して接地電位に
、もしくは抵抗１２７を介して電位Ｕ　に接続■ され、これで入力Ｅに到達するパルスが再生成され次の
導体部分に供給される。

入力Ｅに達するパルスが所定の遅延を受けるときには信
号路１１０〜１１２の各々においてシュミットトリガ１
１６〜１１８の各々に集積部分回路が付加され、該回路
は信号路上に直列の抵抗と接地電位に結合された容量と
から形成され、この出力信号の平坦な縁部は他のシュミ
ットトリガによって急勾配でかつ雑音のないパルス端に
変換される。これらの２個のシュミットトリガから送出
される出力信号は対応する人力パルスに対して、３信号
路分の大きさに選択されたＲＣ回路の時定数だけの遅延
を受け、第１４図にシュミットトリガｌ　１．６〜１１
８の出力に関して示すように、スイッチ群　［１９と１
２０の制御のために同様な方法で使用される。

場合によってはＲＣ回路の時定数は以下のように選択さ
れる。即ち関連するパルス整形回路３０を備えた選択装
置２５が上記パルスを処理し、即ち対応する切替処理が
実行され、この群に属する電流制限／緩衝回路３２の上
記切替処理で放電された緩衝容量と関連する導体部分と
か、もはや有意な充電電流が流れない点まで充電される
と、初めて人力Ｅてのパルス受信後出力Ａに対応するパ
ルスが再び出力される。続いて電圧供給導体６への過充
電の危険なく、対応するパルスが次の選択装置２５に供
給され得る。

両低抗１２７．　１２８は本発明に従って極めて重要で
ある。即ち、パルスを長い導体に直接供給することおよ
び反射を防ぐため供給端と相対する一端において該導体
を、その導体の特性抵抗と同じ大きさのオーム抵抗を介
して接地電位に終端されることは通常のことである。

上記挿類の測定システムでは命令導体８を形成するケー
ブル導体は例えば６０または７０オームの特性抵抗を持
ち、最大パルス電圧は例えば１５Ｖである。本技術の観
点に従ってシステム命令導体８または群命令導体８′に
上記パルスを供給することによって、スイッチ群１２０
の閉成時およびスイッチ群１１９の同時の閉成時に、　
　２５０ｍＡまたは２００［＋１Ａの電流が次の命令導
体部分に流される。この導体部分は１１ＣＩ１１以上の
長さなので、上記の大きさの電流によって導体全体で非
常に大きい電圧降下が生じる。従って、特性抵抗に対応
する終端電圧を持つ反射のない導体部分は不可能である
。他方該導体を接続しないと、多重反射によって各パル
スに対して前方および後方へ進む多数の波が形成される
。この波の振幅は減衰されるが全く定義されない信号動
作を生来させる。

この問題を解決するため本発明に従って、パルスの立上
り端は直列オーム抵抗１２７を介して、パルスの立下り
端は直列オーム抵抗１２８を介して次の命令導体部分に
供給される。これらの抵抗の大きさは各々導体の特性抵
抗に等しい。

この場合、正確に交互に前方と後方に進む波が発生する
。これは第１５１Ｄを参照して説明される。

第１５図の最上列は制御信号の経過を示すが、これは例
えば第１４図の信号整形回路３０のシュミットトリガ１
１６の出力（および同様にシュミットトリガ１１７〜１
１８の出力）に現われ、これによって時間１０において
スイッチ群１２０が開成され同時にスイッチｎ１１９が
閉成される。この時点１０で制御電圧はこれまでのゼロ
レベルから論理１へ上る。第１５図の最上列に示したパ
ルスは時間長Ｔ−５０ｔ！ｓを有し、即ち５０ｔｌｓの
時間後スイッチ群１１９は再び開成され同時にスイッチ
群　１２０が閉成される。これは制御電圧が再び急勾配
で論理１から論理０に降下するからである。

第１５図の２列目はやはり電圧の状態を示し、これはパ
ルス整形回路３０のオーム抵抗１２７．　１２８を通っ
た後の出力点Ａに、最上列の信号の経過に応答して現わ
れる。ここで場合によっては両群１１９と　１２０のス
イッチが短時間同時に閉成され得ることからの影響は除
かれている。時間１０で点Ａの電圧は例えば１５Ｖの供
給電圧ＵＭの約半分だけ。

即ちここでは　７．５Ｖ急激に上昇することが分るが、
これは後続の導体部分の特性抵抗に対し直列抵抗１２７
が分圧比１：１のためである。

点Ａの電圧は、上記パルスの印加によって命令導体部分
に形成された波が該導体部分の反対側の端で反射され再
び供給端に戻ってくるまで１−記のｔＴ　Ｕ　Ｍ　／　
２を保つ。第１５図から分るように、ここで考察した導
体部分は１ｋｆｆｌの長さを持つ。この場合上記波の往
復には約ＩＱｔｌｓを要するのでこの時間の後に点Ａの
電圧は１５Ｖの値に上昇する。

考察されたパルスの立下り端は点Ａにおいて上記に対応
する経過を示す。制御電圧が論理１から論理０に降下す
る時点で点Ａの電圧は１．５　ＶからＵＭの半分の値即
ち　７．５Ｖまで上昇しこの中間レベルを１ｏｕｓ間つ
まり、導体部分の反対端で反射した波の部分が入力端に
再び戻るまで保持する。続いて点Ａの電圧はＱＶの接地
電位に再び下る。

供給されたパルスの立上り端および立下り端に応動して
点Ａで現われる上記電圧段状部分は供給端に相対する端
を除いて導体部分の全地点に存在するが各々異なった時
間長を有する。これを第１５図の３列目に上記導体部分
の中央位置に関して示すが該中央部は供給端から５００
ｍの位置とする。

」二記地点では時刻ｔ。ではまだ何も発生しない。

これは地点Ａで送出された波が５００ｍを伝達するのに
約２．５ｔｌｓ必要なためである。この２．５μｓが経
過すると該中間点においてもそれまでの接地電位から供
給電圧ＵＭの約半分だけ上昇する。しかし、これによる
電圧段状部は５ｕｓにすぎない。これは上記波がケーブ
ル部分の中間点から供給端に対向する端に達しそこから
再び元の中間点に戻るまでに１０００ｍの距離を走らね
ばならないからである。つまりケーブル部分の中央位置
において時刻１０の７．５Ｉｌｓ後には電圧は既に供給
電圧値に上昇していることを意味する。同様なことは考
察したパルスの立下り端についても当て嵌る。この場合
同様に５ｕｓの時間長を持つ電圧段状部か発生する。

第１５図の最下列はケーブル部分の供給端に相対する端
で電圧の様子を示すが該ケーブル端は供給端から１００
０ｍ離れている。時間が５ｕｓ経過すると電圧が一度に
Ｏｖから１５Ｖに上昇し、　５０ｕｓ後に再び元に戻る
ことが分る。この端においても、制御電圧のパルスに十
分一致しこれらに対し約５ｕｓの（ｉｔ　Ｅのずれを持
つパルスが得られる。上記命令導体部分がシステム命令
導体８の部分であるとすると、第１５図の最下列に示す
パルスは該位置に配刀された選択装置２５のパルス整形
回路３０への入力パルスとなり、該パルスはその急勾配
の端によって上記回路３０により直ちに処理される。

しかし該導体部分の両端間の電圧段状部はパルス端部で
は特別な問題を生じない。上記導体部分が群命令導体８
′だとするとこれは該導体全体に一様に分配された分岐
路を持ち、該分岐路によって、上記群に属する測定要素
５の制御回路１４の人力は各々該命令導体に接続される
。これらの入力には厳密な矩形波ではなく、立上り端と
立下り端が上記電圧段状部を有するパルスが受信される
。

この段状部は関連する選択装置から対応する測定要素ま
での距離に従って各々時間長が異なる。第７図を参照し
て説明°したように各制御回路１４は命令導体８′と結
合した入力にシュミットトリが３６を有し、このヒステ
レシスは該回路３６が各入力パルスに対して１段状の端
部を持たないでかっ」二足パルス整形回路内で制御電圧
として生成されるパルスの時間長と同じ時間長を有する
出力パルスを生成するように選択される。例えばこの目
的のため、シュミットトリガ３６を入力パルスの立上り
端で起動するための電圧閾値は人力パルスの最高電圧の
５０％を越えるように選択され、一方、値が低下した時
にシュミットトリガ３６を入力パルスの立下り端で起動
するための閾値は入力パルスの最高値の５０％未満に選
択される。第１５図から明らかなように１以上からシュ
ミットトリガ３６の出力パルスは制御電圧としてのパル
スと全く同一の時間長を有することになる。

第１６図を参照して遅延回路について説明する。

該回路は各プログラム可能逆方向計数器３５．３５’の
０出力と、後続のスイッチ１１またはスイッチ群９０の
後続スイッチもしくは後続スイッチ２８．２８’・・・
および２９．２９’　・・・との間に設置され得る。こ
の遅延回路は遅延要素１３０を含み、該要素には関連す
る逆方向計数器３５または３５′からパルス状出力信号
が供給され、該パルスは所定時間τ４の遅延を受ける。

この遅延パルスはＡＮＤゲート　＋３１に送られ、該ゲ
ートの他の入力には関連する逆方向計数器３５または３
５′の遅延を受けない出力信号が保持される。これによ
ってＡＮＤゲート　１３１は計数器３５または３５′の
出力を時間τ４だけ短縮する。即ち９時間τ４より短い
間は該出力信号はＡＮＤゲート１３１によって完全に抑
制されてしまう。ＡＮＤゲート１３１から出力されたパ
ルスはＯＲゲート　１３２を介して一方ではスイッチ１
１または９０もしくは２８．２８’　・・・および２９
．２９’　・・・に、他方では遅延回路に属するスイッ
チ１３３に到達する。該スイッチ　１３３はこれによっ
て閉成され論理１をＡＮＤゲート　１３４に供給する。

このＡＮＤゲート　１３４の他の人力には遅延要素１３
０の出力信号が印加される。計数器３５または３５′の
出力パルスがｔ４よ。

り長いと仮定すると、　ＡＮＤゲート　１３４はその出
力に上記パルスを時間τ４だけ短縮した時間出力する。

ＡＮＤゲート　１３４の出力はＯＲゲート　１３２の第
２人力と結合されているのでＯＲゲート　＋３２はスイ
ッチ１１または９０もしくは２８．２８’　・・・２９
．２９’　・・・およびスイッチ１３３を遅延要素１３
０の出力信号が再び論理０に下がるまで開成状態にする
。

プログラム可能逆方向検出器３５または３５′　によっ
て処理される計数パルスの連続周波数をτ４より小さく
選べば、これらのパルスによって該計数器３５または３
５′　は計数値０まで減算を行なうが、　０１？ゲート
１３２の出力には後続のスイッチのための制御信号は現
われない。この方法によって。

ｆｌｌ１１定周期外での個々の測定要素または選択装置
への自由なアクセスのためにパルスパケットを命令導体
８．８′を介して出力することが出来る。続いて該パル
スパケットは、そのプログラム可能な出力計数値ｍまた
はｎが該パルスパケット内に含まれるパルス数に対応す
る選択装置２５または測定装置５のみを応答させる。

他方、十分に低速の制御では即ち通常の場合には、逆方
向計数器３５または３５′の出力信号は遅延を受けるが
短縮されないで送出されるので上記条件はやはり有効で
あり、測定導体７の強い放電を避けるためには上記条件
に従って特に７１１１１定要索５において可能な限り漏
れのない制御が必らず保証されることになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による測定装置の実施例の概略回路図で
ある。 第２図はより復雑な実施例の概略図であってここで選択
装置を介し主線から側線が分岐し、これらは各測定要素
群を形成する。 第３図は本発明の装置の更に復雑な実施例の概略図であ
ってここでケーブルの主線」二の測定要素は選択装置に
よって群に分けられている。 第４図は本発明のｉ’１ｌ１１定要素の第１実施ρりを
示す。 第５図は本発明の、’１１＋１定要素の第２実施例を示
す。 第６図は第１図および第３図に示す各群に修正を加えた
実施例における関連選択装置を持つ測定要素群の概略回
路図である。 第７図は番地信号の受信時およびスイッチの閉閉成時に
測定要素内で使用され得る制御回路の概略図である。 第８図は番地信号の受信時およびスイッチの閉閉成時に
測定装置内で使用可能な制御装置の概略図である。 第９図は第７図の制御回路の動作を示すパルス信号のタ
イミング図である。 第１０図は第８図の制御信号の動作を示すパルス信号の
タイミング図である。 第１１図は、　／ｌＦ１定要素からの／１１１ｊ定信号
の受信および増幅のために中央処理装置において使用さ
れ得る受信回路を示す。 第１２図は、各ｎ１定要素および各選択装置への電流供
給に使用され得る電流制限および緩゛衝回路の第１実施
例を示す。 第１３図は特に高信頼性を得るために設計された測定要
素の他の実施例である。 第１４図は番地信号の再生成のための信号整形回路を示
す。 第１５図は番地信号を命令導体の各部に分配する動作を
説明するためのパルスタイミング図である。　　　　゛ 第１６図は測定要素および選択装置内の各制御回路の出
力部と、各接続スイッチとの間に使用され得る供給回路
を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、複数個の測定要素を持つ測定装置であって、前記測
   定要素は中央処理装置に結合された線によって相互にか
   つ、該中央処理装置に接続され、該測定要素は： 物理的環境に依存して変化する値を持つ電気出力信号を
   生成する、少くとも１個の検出部と、前記検出部の出力
   信号の強度を示す測定信号を、閉成により、前記中央処
   理装置に伝達可能なスイッチ回路と、および 前記スイッチ回路を短時間で閉成し再び開成するため該
   中央処理装置から制御可能な制御回路とを含む測定装置
   において、該装置は： 前記各測定要素（５、７５）の前記制御回路（１４）は
   、前記中央処理装置（２）から送出される測定要素番地
   信号によって制御され得るプログラム可能な番地認識回
   路を含むことと： 前記測定要素（５、７５）は少くとも一群の測定要素（
   ５、７５）を含み、該一群に対してｎ番目の測定要素（
   ５、７５）の測定要素番地信号は（ｎ−１）番目の測定
   要素（５、７５）の番地信号と、該（ｎ−１）番目の測
   定要素（５、７５）の測定要素番地信号に時間的に後続
   の付加信号とを含むことと、および 前記少くとも１群の測定要素（５、７５）の前記制御回
   路（１４）は、前記中央処理装置（２）から所定測定要
   素（５、７５）のための測定要素番地信号が前記制御回
   路（１４）に共通的に送信されることによって順次制御
   可能であり、該所定測定要素は前記一群内で最長の測定
   、要素番地信号を持つものでありかくて前記信号は前記
   一群内の他の全ての測定要素（５、７５）の測定要素番
   地信号を含む信号であることとを特徴とする測定装置。 ２、特許請求の範囲第１項記載の装置において、前記番
   地認識回路はプログラム可能な逆方向計数器（３５）で
   あって、前記各計数器（３５）は、前記少くとも一群の
   測定要素（５、７５）に対して該群の測定周期の始動前
   に前記中央処理装置（２）から共通的に送出される設定
   パルスによって、各々プログラムされた初期値に設定さ
   れ、前記少くとも一群の測定要素（５、７５）の各々の
   番地認識回路内において他の初期値が設定されることと
   、および 前記最長測定要素番地信号は一連の計数パルスから成り
   、該パルスは前記少くとも一群の前記測定要素（５、７
   ５）の前記逆方向計数器（３５）に送出され、ここで該
   一群の前記測定要素（５、７５）のスイッチ回路（１１
   、９０）は前記連続計数パルスによって交互に閉成し再
   び開成され得ることとを特徴とする測定装置。 ３、特許請求の範囲第１項または第２項に記載の装置に
   おいて、前記中央処理装置（２）へ、前記測定要素（５
   、７５）に関して順次生成された測定信号が、システム
   測定導体としての前記線（１）の導体（７）を介して送
   出され得ることと、および 前記番地信号は前記測定要素（５、７５）に送出され、
   この場合、前記測定導体（７）上には同時には１個だけ
   の測定信号が供給され、連続する測定信号供給間の時間
   は可能な限り短いこととを特徴とする測定装置。 ４、特許請求の範囲第１項乃至第３項のいずれか１項に
   記載の装置において、前記複数個の測定要素（５、７５
   ）は測定要素（５、７５）の多数の群（２３、２４；１
   ６〜２２）を含み、少くともいくつかの前記群（２４；
   １６〜２２）は前記線（１）を介して前記中央処理装置
   （２）と、前記測定要素（５、７５）とおよび他の選択
   装置（２５）とに結合された選択装置にその都度第１に
   関連づけられることと、および 前記選択装置（２５）は前記中央処理装置 （２）によって個別に起動可能であって、この場合前記
   中央処理装置（２）から送出された前記測定要素番地信
   号は前記起動された選択装置（２５）に第１に関連づけ
   られた前記群（２４；１６〜２２）の前記測定要素にの
   み伝達されることとを特徴とする測定装置。 ５、特許請求の範囲第４項記載の装置において、前記少
   くとも一群（１６〜２２）は同時に他の群（１６〜２２
   ）に第１に関連づけられた第２選択装置（２５）に副次
   的に関連づけられることと、および 前記選択装置（２５）は前記中央処理装置 （２）により選一的に個別に起動可能であってここで前
   記中央処理装置（２）から送出された前記測定装置番地
   信号は、前記選択装置（２５）に第１に関連づけられた
   前記群（１６〜２２）の前記測定要素（５、７５）のみ
   にまたは前記選択装置（２５）に副次的に関連づけられ
   た前記群（１６〜２２）の前記測定要素（５、７５）の
   みに伝達されることとを特徴とする測定装置。 ６、特許請求の範囲第４項または第５項に記載の装置に
   おいて、前記各選択装置（２５）は；前記選択装置（２
   ５）の起動状態において閉成される少くとも１個のスイ
   ッチ（２８）であって、ここで群命令導体として作動し
   前記第１に関連づけられた前記群（１６〜２２）の前記
   測定要素（５、７５）に前記測定要素番地信号を送出可
   能な前記線（２）の導体部分（８’）は、前記中央処理
   装置（２）を前記全選択装置（２５）に結合しシステム
   導体として作動する前記線（１）の連結導体（８）に結
   合された導体部分（８’）であるスイッチ（２８）と、
   および プログラム可能番地認識回路を持つ少くとも１個のスイ
   ッチ（２８）のための制御回路 （１４’）であって、ここで前記認識回路によって前記
   スイッチ（２８）は前記関連群番地信号の認識後に閉状
   態および再び開状態にされ得るスイッチ（２８）である
   制御回路（１４’）とを含むことを特徴とする測定装置
   。 ７、特許請求の範囲第６項記載の装置において、第ｍ番
   目の前記選択装置（２５）の前記群番地信号は第（ｍ−
   １）番目の前記選択装置（２５）の前記群番地信号と、
   前記（ｍ−１）番目の前記選択装置（２５）の前記群番
   地信号に時間的に後続する付加信号とを含むことと、お
   よび前記選択装置（２５）は順次に個別に起動可能であ
   って、ここで前記装置（２５）には前記中央処理装置（
   ２）から前記選択装置（２５）のための前記群番地が共
   通的に送信され、前記選択装置（２５）は該最長群番地
   信号を持ち従つて該信号は他の全ての該選択装置（２５
   ）の該群番地信号を含むこととを特徴とする測定装置。 ８、特許請求の範囲第７項記載の装置において、前記選
   択装置（２５）の前記番地認識回路はプログラム可能逆
   方向計数器（３５’）であって、前記各計数器はシステ
   ム測定周期の始動前に前記中央処理装置（２）から共通
   的に前記選択装置（２５）に送出される設定パルスによ
   って、その都度プログラムされた初期値に設定される計
   数器（３５’）であり、ここで、前記各選択装置（２５
   ）の前記番地認識回路内に他の初期値がプログラムされ
   ることと、および 前記最長群番地信号は前記全選択装置（２５）の前記逆
   方向計数器（３５’）に送出される一連の計数パルスを
   含み、ここで前記連続計数パルスによって前記選択装置
   （２５）の前記スイッチ（２８）は順次に閉状態におよ
   び再び開状態にされ得ることとを特徴とする測定装置。 ９、特許請求の範囲第５項乃至第８項のいずれか１項に
   記載の装置において、一群の該測定要素（５、７５）に
   第１に結合され他の一群の該要素（５、７５）に副次的
   に結合された各選択装置（２５）は、 プログラム可能番地認識回路を持つ制御装置（１４’）
   であって、第１選択装置番地信号の認識時に第１制御信
   号を生成し、第２選択装置番地信号の認識時に第２制御
   信号を生成する装置（１４’）と、 前記第１制御信号によって閉状態にされ再び開状態にさ
   れる少くとも１個の第１スイッチ（２８）であって、群
   命令導体として作動し前記測定要素番地信号を前記第１
   に関連づけられた前記群の前記測定要素（５、７５）に
   転送可能な前記線（１）の導体部分（８’）を前記閉状
   態において前記線（１）の連結導体（８）に結合する第
   １スイッチ（２８）であり、前記導体（８）は前記中央
   処理装置（２）を該全選択装置（２５）に接続しかつシ
   ステム命令導体として作動する導体（８）とした第１ス
   イッチ（２８）と、および前記第２制御信号によって閉
   状態にされ再び開状態にされる少くとも１個の第２スイ
   ッチ（２９）であって、群命令導体として作動し前記測
   定要素番地信号を前記副次的に関連づけられた前記群の
   前記測定要素（５、７５）に転送可能な前記線（１）の
   導体部分（８’）を前記閉状態において前記線（１）の
   連結導体（８）に接続する第２スイッチ（２９）とを含
   むことを特徴とする測定装置。 １０、特許請求の範囲第９項記載の装置において、前記
   番地認識回路は２個のプログラム可能逆方向計数器を持
   ち、該計数器はシステム測定周期の始動前に前記中央処
   理装置（２）から該選択装置（２５）に共通に転送され
   る設定パルスによつて２個の異なる初期値に設定され、
   ここで該異なる初期値は該全選択装置に対して異なり、
   前記２個の逆方向計数器に対して該選択装置番地信号は
   計数パルスの形で送出されることと、および前記逆方向
   計数器の一方は計数状態“ゼロ”の到達時に前記第１制
   御信号を送出し、前記計数器の他方は計数状態“ゼロ”
   の到達時に前記第２制御信号を送出することとを特徴と
   する測定装置。 １１、特許請求の範囲第４項乃至第１０項のいずれか１
   項に記載の装置において、前記各選択装置（２５）は第
   ２スイッチ（２８’）を持ち、該スイッチ（２８’）は
   前記制御回路（１４’）により少くとも１個のスイッチ
   （２８）と共に作動させられ、前記選択装置（２５）の
   起動状態において、電源供給導体としての前記線（１）
   の連結導体（６）を介して、前記第１に関連づけられた
   群（１６〜２２）の前記測定要素（５）のために前記電
   源供給回路を閉状態にすることを特徴とする測定装置。 １２、特許請求の範囲第１項記載の装置において、前記
   各選択装置（２５）は他のスイッチを持ち、該スイッチ
   は該制御回路（１４’）により該少くとも１個のスイッ
   チ（２８）とともに作動され、該選択装置（２５）の起
   動状態において、前記第１に関連づけられた前記群（１
   ６〜２２）の前記測定要素（５、７５）の前記測定信号
   を受信しこれによって群測定導体として働く導体部分を
   、システム測定導体として働く前記線（１）の連絡導体
   に結合することを特徴とする測定装置。 １３、特許請求の範囲第１項乃至第１２項のいずれか１
   項に記載の装置において、前記少くとも１個の前記測定
   要素（５）は記憶手段（２６）を備え、該記憶手段（２
   ６）は前記検出部（１０）により検出された前記監視環
   境パラメータの短時間の変化を少くとも該測定要素（５
   ）からの次の問合せまで記憶可能であることと、および 該記憶手段（２６）の出力信号は前記スイッチ回路（１
   １）が閉状態に設定されることによって測定信号として
   前記中央処理装置（２）に転送可能であることとを特徴
   とする測定装置。 １４、特許請求の範囲第１項乃至第１３項のいずれか１
   項に記載の装置において、前記少くとも１個の該測定要
   素（５）の前記検出部（１０）は電流源であって、該電
   流源は供給電圧の印加によって該物理的環境パラメータ
   特に温度に依存する強度の印加電流を通すことと、 前記印加電流を出力する前記検出部（１０）の接続部は
   前記測定導体（７）と常に結合されていて、これによっ
   て印加電流を測定信号として該中央処理装置（２）に伝
   送可能であることと、および 前記検出部（１０）の該電圧供給接続部は前記測定要素
   （５）の該スイッチ回路（１１）を介して、該中央処理
   装置（２）から前記検出部（１０）に供給電圧を印加す
   るための前記線（１）の導体（６、６’）に接続される
   こととを特徴とする測定装置。 １５、特許請求の範囲第１項乃至第１３項のいずれか１
   項に記載の装置において、少くとも前記測定要素（５）
   の前記検出部（１０）には電圧／周波数変換装置が接続
   され、前記スイッチ回路（１１）が閉状態になると前記
   検出部（１０）の出力信号は前記測定導体（７）を介し
   て測定信号として前記中央処理装置（２）に伝送され得
   ることを特徴とする測定装置。 １６、複数個の測定要素を持つ測定装置において、前記
   測定要素は中央処理装置に結合された線によって相互に
   および該中央処理装置に接続された測定要素であって、
   該要素は； 少くとも１個の、物理的環境に依存して変化する値を持
   つ電気出力信号を生成する検出部と、前記検出部の出力
   信号の強度を示す測定信号を、閉状態において、前記中
   央処理装置に伝達可能なスイッチ回路と、および 前記スイッチ回路を短時間で閉成し再び開成するための
   該中央処理装置から制御可能な制御回路とを含む前記複
   数個の該測定要素を持つ測定装置であって、特に特許請
   求の範囲第１項乃至第１３項のいずれか１項に記載の測
   定装置において、少くとも１個の前記測定要素（５）の
   該検出部（１０）は電流源であって、該電流源は供給電
   圧の印加によって前記物理的環境パラメータ特に温度に
   依存する強度の印加電流を通すことと、前記印加電流を
   出力する該検出部（１０）の接続部は該測定導体（７）
   に常に結合されこれによって印加電流は測定信号として
   該中央処理装置（２）に伝送され得ることと、および、 前記検出部（１０）の電圧供給接続部は該測定要素（５
   ）の前記スイッチ回路（１１）によって、供給電圧を該
   中央処理装置（２）から該検出部（１０）に印加するた
   めの前記線（１）の導体（６、６’）に接続可能である
   こととを特徴とする測定装置。 １７、特許請求の範囲第１４項または第１６項に記載の
   装置において、前記各印加電流を該中央処理装置（２）
   に導く測定導体（７）は該中央処理装置（２）内におい
   て測定抵抗（５０）を介して基準電位（Ｕ＿Ｒ＿ｅ＿ｆ
   ）の下に置かれることと、各時点での印加電流によって
   該測定抵抗 （５０）で降下する電圧の測定と増幅とのために、高い
   同相抑制を持つ差動増幅器（５２）が備えられ、該増幅
   器（５２）の入力（“＋”）は該測定導体（７）の終端
   におよび該測定抵抗（５０）を介して該基準電位（Ｕ＿
   ｒ＿ｅ＿ｆ）に電気的に接続されることと、 前記測定抵抗には、第１容量（５６）と該容量（５６）
   に直列接続された第１オーム抵抗（５７）とが並列接続
   されることと、 前記差動増幅器（５２）の他の入力（“−”）は、第２
   容量（５５）を介して該測定導体（７）の該終端と更に
   第２オーム抵抗（５４）を介して該基準電位（Ｕ＿ｒ＿
   ｅ＿ｆ）と接続されここでは前記両容量（５５、５６）
   と前記両オーム抵抗（５４、５７）との各大きさは、該
   第１容量（５６）と該第１オーム抵抗（５７）とにより
   成る第１ＲＣ回路の複合抵抗が、該第２容量（５５）と
   該第２オーム抵抗（５４）とにより成る第２ＲＣ回路の
   複合抵抗に等しくなるように選択されることと、および 前記オーム抵抗（５４、５７）は各時点で該測定導体（
   ７）の特性抵抗に等しいこととを特徴とする測定装置。 １８、特許請求の範囲第１４項または第１７項に記載の
   装置において、前記測定要素（５）の前記スイッチ回路
   （１１）は半導体スイッチを含むことと、および 前記検出部（１０）の前記電圧供給接続部と前記スイッ
   チ回路（１１）との間の結合導体は、前記制御回路（１
   ４）から、プッシュプル動作で前記第１スイッチ回路（
   １１）に結合される他のスイッチ回路（１５）を介して
   、測定要素接地電位に結合されることとを特徴とする測
   定装置。 １９、特許請求の範囲第１７項および第１８項に記載の
   装置において、前記基準電位（Ｕ＿Ｒ＿ｅ＿ｆ）と該中
   央処理装置（２）におけるゼロ電位との間に電位差が与
   えられ、前記２電位の大きい電位は最大許容電位降下と
   して使用され、該降下は該中央処理装置（２）の前記ゼ
   ロ電位と任意の測定要素（１０）の測定要素接地電位と
   の間に現われ得ることを特徴とする測定装置。 ２０、特許請求の範囲第１９項の装置において、該スイ
   ッチ回路（１１）から該検出部 （１０）を介して該測定導体（７）への該電流路上の前
   記各測定要素（５）内に少くとも１個のダイオード（１
   ３）が設けられ、該ダイオード（１３）は該検出部（１
   ０）が短絡時に他の検出部（１０）が該測定電流を測定
   位置接地電位へ流すことを妨げることを特徴とする測定
   装置。 ２１、特許請求の範囲第１項乃至第２０項のいずれか１
   項に記載の装置において、前記各測定要素（５、７５）
   の該電流供給および／または前記各選択装置（２５）の
   該電流供給は電流制限および緩衝回路（３２）を介して
   行われることを特徴とする測定回路。 ２２、複数個の測定要素を持つ測定装置において、前記
   測定要素は中央処理装置に接続された線によって相互に
   および該中央処理装置に接続された測定要素であって該
   要素は； 少くとも１個の、物理的環境に依存して変化する値を持
   つ電気出力信号を生成する検出部と、前記検出部の出力
   信号の強度を示す測定信号を、閉状態において、前記中
   央処理装置に伝達可能なスイッチ回路と、および 前記スイッチ回路を短時間で閉成し再び開成するため該
   中央処理装置から制御可能な制御回路とを含む前記複数
   個の該要素を持つ測定装置であって、特に特許請求の範
   囲第１項乃至第２０項のいずれか一項に記載の装置にお
   いて、前記各測定要素（５、７５）の該電流供給および
   ／または前記各選択装置（２５）の該電流供給は電流制
   限および緩衝回路（３２）を介して行われることを特徴
   とする測定装置。 ２３、特許請求の範囲第２１項または第２２項に記載の
   装置において、前記電流制限および緩衝回路（３２）は
   少くとも１個の分岐路（６０）を持ち、該分岐路（６０
   ）は電流制限ダイオード（６１）と、電流制限抵抗（６
   ２）と、および緩衝容量（６３）とを含み、前記ダイオ
   ード（６１）と前記抵抗（６２）と前記容量（６３）と
   は直列に接続され、該分岐路（６０）は該電流制限ダイ
   オード（６１）の陽極によって該電圧供給導体（６、６
   ’）におよび該緩衝容量（６３）の自由接続部によって
   該接地導体（９）に結合されることと、および 関連回路のための前記供給電圧（Ｕ＿ｖ）は該電流制限
   抵抗（６２）と該緩衝容量（６３）との間から取り出さ
   れることとを特徴とする測定装置。 ２４、特許請求の範囲第２３項記載の装置において、前
   記電流制限および緩衝回路（３２）は互いに並列に並ん
   だ２個の分岐路（６０、７０）を持ち、前記各分岐路は
   電流制限ダイオード（６１、７１）と、電流制限抵抗（
   ６２、７２）と、および緩衝容量（６３、７３）とを含
   み、前記ダイオードと前記抵抗と前記容量とは直列に接
   続されることと、および 前記電流制限抵抗（６２、７２）と前記両緩衝容量（６
   ３、７３）との間の２個の接続点（６８、７８）の間に
   は直列で互いに向い合って接続されたダイオード（６４
   、７４）が備えられ、該両ダイオード間において該供給
   対象回路のための前記供給電圧（Ｕ＿ｖ）が取り出され
   ることとを特徴とする測定装置。 ２５、特許請求の範囲第２３項に記載の装置において、
   前記電流制限および緩衝回路（３２）は互いに並列に配
   置された３個の分岐路（６０、７０、８０）を持ち、前
   記各分岐路は電流制限ダイオード（６１、７１、８１）
   と、電流制限抵抗（６２、７２、８２）と、および緩衝
   容量（６３、７３、８３）とを含み、該ダイオードと該
   抵抗と該緩衝容量とは各々直列に接続されることと、お
   よび 前記３個の分岐路（６０、７０、８０）は以下に従って
   互いに関連づけられ、即ち 該第１分岐路（６０）と該第２分岐路（７０）の各々の
   該電流制限抵抗（６２、７２）と該緩衝容量（６３、７
   ３）との接続点（６８、７３）間に互いに向い合い直列
   に配置された第１のダイオードの対（６４、７４）が接
   続され、 該第２分岐路（７０）と第３分岐路（８０）の各々の該
   電流制限抵抗（７２、８２）と該緩衝容量（７３、８３
   ）との接続点（７８、８８）間に互いに向い合い直列に
   配置された第２のダイオード対（７６、８６）が接続さ
   れ、 該第１分岐路（６０）と該第３分岐路（８０）の各々の
   該電流制限抵抗（６２、８２）と該緩衝容量（６３、８
   ３）との接続点（７６、８６）間に互いに向い合い直列
   に配置された第３のダイオード対（６７、７７）が接続
   され、および前記各ダイオード対の該ダイオード（６４
   、７４；７６、８６；６７、７７）間の接続点に電圧供
   給対象回路のための供給電圧が接続されるように該分岐
   路（６０、７０、８０）が関連づけられることとを特徴
   とする測定装置。 ２６、特許請求の範囲第２５項記載の装置において、前
   記ダイオード対に接続された前記各供給電圧は制御回路
   （１４＿１、１４＿２、１４＿３）に送出されることと
   、 前記３個の制御回路（１４＿１、１４＿２、１４＿３）
   は番地認識回路を持ち、該認識回路は同一番地に対して
   プログラムされていることと、および 前記制御装置（１４＿１、１４＿２、１４＿３）は前記
   スイッチ回路（９０）の少くとも１個の該スイッチ（９
   １、９３、９２、９５、９４、９６）をその都度同時に
   作動させることとを特徴とする測定装置。 ２７、特許請求の範囲第２６項記載の装置において、前
   記電流制限および緩衝回路（３２）は該３個の並列分岐
   路（６０、７０、８０）と該３個の制御回路（１４＿１
   、１４＿２、１４＿３）と共に測定要素（７５）内に設
   けられることと、 前記スイッチ回路（９０）は検出部（１０）の投入／切
   断のために作動することと、および前記検出部（１０）
   に対して、機能的に互いに並列でかつ独立した電圧供給
   路（１０４、 １０５、１０６）が備えられ、該供給路中に各時点にお
   いて該スイッチ群（９０）の少くとも１個の該スイッチ
   が配置され、該スイッチの後方でかつ該検出部（１０）
   の前方において３個の切断ダイオード（９７、９８、９
   ９）によって互いに接続されることとを特徴とする測定
   装置。 ２８、特許請求の範囲第２７項記載の装置において、前
   記３個の電圧供給路（１０４、１０５、１０６）は、該
   電流制限および緩衝回路（３２）の該電流制限抵抗（６
   ２、７２、８２）と該緩衝容量（６３、７３、８３）と
   の間の該３個の結合点（６８、７８、８８）に各々接続
   されることを特徴とする測定装置。 ２９、特許請求の範囲第２８項記載の装置において、前
   記３個の電圧供給路（１０４、１０５、１０６）は各々
   ２個の互いに直列のスイッチ（９１、９２、９３、９４
   、９５、９６）を持ち、該２個のスイッチは各時点にお
   いて前記３個の制御回路（１４＿１、１４＿２、１４＿
   ３）の異なる２個によって制御されることと、 前記電圧供給路（１０４、１０５、１０６）は該分岐路
   （６０、７０、８０）の該結合点（６８、７８、８８）
   に各々接続され、該分岐路（６０、７０、８０）は該２
   個の制御回路（１４＿１、１４＿２、１４＿１、１４＿
   ３、１４＿２、１４＿３）への電圧供給に寄与し、該２
   個の制御回路は前記電圧供給路（１０４、１０５、１０
   ６）内に置かれた該スイッチ（９１、９２、９３、９４
   、９５、９６）を作動させることとを特徴とする測定装
   置。 ３０、特許請求の範囲第２５項乃至第２９項のいずれか
   １項に記載の装置において、該電流制限および緩衝回路
   （３２）の前記各供給電源出力部と、該出力部から電源
   を受ける回路との間に直流変換器（３３）が備えられ、
   該変換器（３３）は該電流制限および緩衝回路（３２）
   から得られた直流電圧（Ｕ＿ｖ）を該電圧供給対象回路
   のための本質的に低い直流電圧（Ｕ＿ｖ＿ｖ）に降下さ
   せることと、および 前記スイッチ回路（１１、９０）の閉状態時に該電流制
   限および緩衝回路（３２）より得られるより高い電圧（
   Ｕ＿ｖ）を前記検出部（１０）に印加することとを特徴
   とする測定装置。 ３１、特許請求の範囲第２５項または第２６項に記載の
   装置において、前記電流制限および緩衝回路（３２）は
   前記３個の並列分岐路（６０、７０、８０）と前記３個
   の制御回路（１４＿１、１４＿２、１４＿３）と共に選
   択装置（２５）内に配置されることと、および 前記各切替対象群導体（６’、７’、８’）に対して各
   時点において複数個のスイッチにより成るスイッチ回路
   が設けられることとを特徴とする測定装置。 ３２、特許請求の範囲第３項乃至第３１項のいずれか１
   項に記載の装置において、前記各選択装置（２５）内に
   信号整形回路（３０）が備えられ、該回路（３０）は前
   記中央処理装置（２）から前記選択装置（２５）を介し
   て得られる前記番地信号を再生し、後続の選択装置（２
   ５）に導く前記システム命令導体（８）の部分に前記信
   号を供給することを特徴とする測定装置。 ３３、複数個の測定要素を持つ測定装置において、前記
   測定要素は中央処理装置に接続された線によって相互に
   および該中央処理装置に接続された測定要素であって、
   該要素は； 少くとも１個の、物理的環境に依存して変化する値を持
   つ電気出力信号を生成する検出部と、前記検出部の出力
   信号の強度を示す測定信号を、閉状態において、前記中
   央処理装置に伝達可能なスイッチ回路と、および 前記スイッチ回路を短時間で閉成し再び開成するため該
   中央処理装置から制御可能な制御回路とを含む前記複数
   個の該要素を持つ測定装置であって、特に、特許請求の
   範囲第３項乃至第３１項のいずれか１項に記載の装置に
   おいて、前記各選択装置（２５）内に信号整形回路（３
   ０）を備え、該回路（３０）は前記中央処理装置（２）
   から該選択装置（２５）を介して得られる番地信号を再
   生し、後続の選択装置（２５）に導く前記システム命令
   導体（８）の部分に該信号を供給することを特徴とする
   測定装置。 ３４、特許請求の範囲第３２項または第３３項に記載の
   装置において、前記各選択装置（２５）は第２の信号整
   形回路（３０）を備え、該回路（３０）は前記中央処理
   装置（２）から前記選択装置（２５）を介して得られる
   該測定要素番地信号を再生成し、前記スイッチ回路（２
   ８、２９）の閉成時に該信号を前記第１にもしくは副次
   的に関連づけられた前記群に供給することを特徴とする
   測定装置。 ３５、特許請求の範囲第３２項乃至第３４項のいずれか
   １項に記載の装置において、前記信号整形回路（３０）
   は少くとも１個の分岐路を持つパルス整形回路であって
   、該分岐路は信号導体（Ｅ）に接続され、前記入力電流
   を制限するための直流抵抗（１１３）とシュミットトリ
   ガ回路（１１６）とを含むことを特徴とする測定装置。 ３６、特許請求の範囲第３５項記載の装置において、前
   記シュミットトリガ回路（１１６）の該出力は少くとも
   ２個のスイッチ（Ｓ＿６、Ｓ＿１＿１）をプッシュプル
   動作で制御し、ここで前記２個のスイッチ（Ｓ＿６、Ｓ
   ＿１＿１）の一方は常に閉状態で同時に他方は常に開状
   態であることと、 該一方のスイッチ（Ｓ＿６）を介して抵抗 （１２７）の一端は前記供給電圧（Ｕ＿ｖ）に結合され
   、該抵抗（１２７）の他端は該他方のスイッチ（Ｓ＿１
   ＿１）を介して接地され得ることと、および前記信号整
   形回路（３０）の該出力信号は該両抵抗（１２７、１２
   ８）間から得られることとを特徴とする測定装置。 ３７、特許請求の範囲第３５項記載の装置において、前
   記多数の分岐路は並列に接続されることを特徴とする測
   定装置。 ３８、特許請求の範囲第３７項記載の装置において、前
   記並列接続分岐路（１１０、１１１、１１２）の前記シ
   ュミットトリガ回路（１１６、１１７、１１８）はプッ
   シュプル動作で複数個のスイッチ（Ｓ＿１−Ｓ＿１＿２
   ）を制御し、該スイッチは各群内で直列に、各群同志が
   並列に接続されることと、 共通に閉成可能なスイッチ（Ｓ＿１−Ｓ＿６）の群（１
   １９）を介して前記抵抗の前記一端は前記供給電圧（Ｕ
   ＿ｖ）に結合可能であって、前記他端は抵抗（１２８）
   に結合され、該抵抗（１２８）の第２端は、共通に閉成
   可能なスイッチ（Ｓ＿７−Ｓ＿１＿２）により成る該他
   の群（１２０）によって接地され得ることと、および 前記信号整形回路（３０）の該出力信号は前記両抵抗（
   １２７、１２８）間から取り出し得ることとを特徴とす
   る測定装置。 ３９、特許請求の範囲第３６項または第３８項記載の装
   置において、前記各抵抗（１２７、１２８）の値は前記
   命令導体（８）の後続部の特性抵抗に等しいことと、お
   よび 該命令導体（８）の該部分は供給端に対向する該部分の
   端で抵抗に終端し、該抵抗の値は該導体部分の前記特性
   抵抗よりも本質的に高いこととを特徴とする測定装置。 ４０、特許請求の範囲第１項乃至第３９項のいずれか１
   項に記載の装置において、前記各選択装置（２５）と前
   記各測定要素（５、７５）との中において、前記制御回
   路（１４、１４’）と該回路（１４、１４’）によって
   制御されるスイッチ回路（１１、９０、２８、２８’・
   ・・、２９、２９’・・・）との間に供給回路（１３０
   、１３１、１３２、１３３、１３４）を備え、該供給回
   路は該関連番地信号の受信後所定時間（τ＿４）前記ス
   イッチ回路の応答を抑制することを特徴とする測定装置
   。 ４１、特許請求の範囲第１項乃至第４０項のいずれか１
   項に記載の装置において、前記制御回路（１４、１４’
   ）または前記信号整形回路（３０）にあって前記命令導
   体（８、８’）に結合された信号入力部と、前記信号入
   力部を介して制御される後続の回路部分（３６、３６’
   、１１６、１１７、１１８）との間に各々電流制限抵抗
   （３４、３４’、１１３、１１４、１１５）が設けられ
   ていることを特徴とする測定装置。 ４２、特許請求の範囲第２項乃至第４１項のいずれか１
   項に記載の装置において、前記設定パルスと前記計数パ
   ルスとは、前記線（１）の共通の、命令導体（８、８’
   ）として働く導体を介して前記測定要素（５、７５）に
   送出されること該設定パルスは該計数パルスとは異なる
   時間的長さを有することと、および 前記各測定要素（５、７５）の該制御回路 （１４）はパルス長識別回路（３７、３８、４９、４０
   、４１）を持ち、該識別回路は該設定信号および該計数
   信号を前記逆方向計数器（３５）の該設定入力および該
   クロック入力に各々供給することを特徴とする測定装置
   。 ４３、特許請求の範囲第８項乃至第４２項のいずれか１
   項に記載の装置において、前記選択要素（２５）の該制
   御回路（１４’）のための該設定パルスと該計数パルス
   とは前記線（１）の共通導体（８）を介して前記選択要
   素（２５）に転送されることと、 該設定パルスは、該測定要素（２５）に対する前記計数
   パルスとは異なる時間的長さを有することと、および 前記各選択要素（２５）の該制御回路 （１４’）はパルス長識別回路（３７’、 別回路は該設定パルスおよび該計数パルスを前記逆方向
   計数器（３５’）の該設定入力および該クロック入力に
   各々送信することとを特徴とする測定装置。 ４４、特許請求の範囲第４３項に記載の装置において、
   前記選択装置（２５）に対して該選択装置（２５）のた
   めの前記設定パルスと前記計数パルスとは該線（１）の
   該命令導体（８）を介して伝送され、該導体（８）を介
   して該選択装置（２５）のための該設定パルスと該計数
   パルスは前記中央処理装置にも送出されることと、 該選択装置（２５）用の該設定パルスと該計数パルスと
   は前記測定要素（５、７５）のための該設定パルスおよ
   び該計数パルスとは異なる時間的長さを持つことと、お
   よび 前記各選択装置（２５）の該パルス長識別回路（３７’
   、３８’、３９’、４０’、４１’）は該測定要素（５
   、７５）のための該設定パルスおよび該計数パルスを抑
   制するための付加回路（４４、４５）を備えたこととを
   特徴とする測定装置。 ４５、特許請求の範囲第４４項記載の装置において、前
   記測定要素（５、７５）のための該設定パルスは該測定
   要素のための該計数パルスよりも長いことと、 前記選択装置（２５）のための該計数パルスは該測定要
   素（５、７５）のための該設定パルスよりも長いことと
   、および 前記選択装置（２５）のための該設定パルスは該選択装
   置のための該計数パルスよりも長いことを特徴とする測
   定装置。