JPS63316908A - 差動増幅器及び差動増幅器を有する電流検出回路 - Google Patents

差動増幅器及び差動増幅器を有する電流検出回路

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JPS63316908A
JPS63316908A JP63141435A JP14143588A JPS63316908A JP S63316908 A JPS63316908 A JP S63316908A JP 63141435 A JP63141435 A JP 63141435A JP 14143588 A JP14143588 A JP 14143588A JP S63316908 A JPS63316908 A JP S63316908A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は第1及び第2のマツチした電界効果トランシタ
(FET)を有しこれらは夫々そのソース電極を互いに
接続して電流源に接続し、ドレイン電極を夫々電流ミラ
ー回路の入力及び出力に接続してなる差動増幅器に関す
るものである。
さらに本発明は電力半導体装置の出力電流を検出する電
流検出回路にも関するものであり、この回路は大及び小
電流担持部を有し、これら各部分は少なくとも基本的半
導体素子を有し、前記大及び小電流担持部は共通の第1
電極と対応の大及び小の第2電極を有する電流検出回路
にも関するものである。
本発明はさらに上述のような電流検出回路と上述の電力
半導体回路を含んでなる集積回路に関するものである。
このような差動増幅器は米国特許第4.319,181
号(特にその第3図参照)に発表されている。二個のn
−チャネル電界効果トランジスタNETを従来既知の“
ロングチイルベア゛に接続し差動増幅器を形成する。2
個のP−チャネルF[!Tにより形成される電流ミラー
はテキスト領域内の電流が平i勤入力の電流に等しくな
るように確保する。定電流源はこの回路の“テイル”内
の極めて高い抵抗として動作する。上述の第2段に述べ
た電流検出回路11fflびに第3段11に述べた電力
半導体回路はヨーロッパ特工1出願A−0139998
及び米国特許第4,553,084号 に記載されている。
従来既知の電力半導体装置の実際的な実施例では大電流
([1持部分は極めて多数の基礎半導体素子(例えばダ
イオード、バイポーラ或いは電界効果トランジスタ及び
サイリスク)を有している。小電流担持部はこれに比し
て溝かに少ないこれら基礎半導体素子を有するか、或い
は単に1個のみのこれら基礎半導体装置を有して構成さ
れている。
大及び少電流担持部に対し単に1個のみの基礎的半導体
素子を設ける。但しこれらの半導体素子は異なる構造ま
た或いは幾何学的構造(ジオメトリ)とすることもでき
る。これは上述の米国特許第4,319.181号の場
合であり、これにおいてはバイポーラトランジスタ11
及び12は人々ラテラル(側方)の小コレクタ及び垂直
方向の主コレクタを有してなる。
電力半導体装置は同じく複数四の小電流!11持部を有
する。
さらにこれに加え大及び小電流担持部は互いに接続され
る。これは半導体本体内または外部で接続される。
上述の如く既知の半導体装置において小電流担持部の電
流レベルは大電流担持部の電流レベルに比例するものと
考えられ、その結果大電流11↓持部の電流レベルは外
部の小電力回路で検出できる。
これは電力半導体装置の出力電流のごく一部、即ち小電
流担持部の出力電流を測定ずれば大電流illll持重
流レベルを決定できるからである。
しかしながら特定の条件においては、例えば′1電流検
出回路の入力インピーダンスと電力半導体装置に接続さ
れた負荷の入力インピーダンス間に差がある場合、大第
2電極における半導体電力回路の出力電流と小第2電極
において測定した電流値は互いに比例しないことがある
ことが発見された。
例えば米国特許第4,553,084号においては抵抗
14を通過する電流を測定し、計測すべき電圧降下を求
める。この電圧降下は電力装置における電圧にT下より
遥かに少ないものであるかまたは大電流担持部が他の動
作状態であり、これが主電流担持部を代表しない場合で
ある。上述の特許においてはIOA負荷において電力装
置の電圧降下は5■でありこれは多くの用途例えば12
Vの1(両用用途においては許容できないほど高い値で
ある。
同様に米国特許第4.319.181号においては負荷
のインピーダンスは電流ミラートランジスタ21及び2
3とマツチすることがないので、2つの小コレクタ電流
は主負荷電流を表わさないものとなる。
既知の差動増幅器においてはロングチイルペアの2個の
トランジスタの特性を互いに偵ているものとすることが
極めて望ましい。これらの間の整合を行うと精度が極め
て高くなり、特に共通モード信号を排除する点で改良さ
れたものとなる。
上述の如き状況において、本発明はロングチイル対のト
ランジスタのマツチングをより改良した差動増幅器を得
ることをその目的とする。
本発明のさらに他の目的は上述の如き電力半導体装置と
して使用する改良した電流検出回路を得るにあり、その
回路では小電流1■持部が大電流担持部の動作をより正
確に代表しうるようにする。
上述の如き本発明による差動増幅器においては前記第1
及び第2 FETをディプレーション・モードFET 
とし、 前記電流源は第1及び第217FiTにマツチしている
第3及び第4デイプレーシヨン・モー1’1iETを有
し、これら第3及び第4 FETのおのおのは互いに接
続されかつ電圧源に接続されたゲート及びソース電極を
有し、また第1及び第2 F[:Tのソース電極に接続
されたドレイン電極を有することを特徴とする。
本発明は互いにマツチした装置は理想的に考えると決し
て正しくはマツチしていないがその動作状態を適当に選
択することによりこれらの間のマッチングを良好となし
うろことを発見したことにより得られたものである。ロ
ングチイル対の装置にマツチした電流源用の一対の装置
を使用しさらにこれらのゲート及びソースを所定の如く
結合することにより電流源装置のみでなくロングチイル
対装置自体もその伝送特性が最適にマツチした動作特性
曲線を保持させることができる。
例えば第3及び第4 FETのゲートをそれぞれのソー
スに関し等しい固定電位とし得る場合には、少なくとも
差が零の入力に対しては第1及び第2FliTは互いに
等しい電流を通過させ、これらは第3及び第4 NET
と同様に同じ動作曲線を維持させることができる(即ち
同じゲートソース電位を維持させる)。
第3及び第4 FETの各々のゲート電極はそれぞれの
ソース電極に直接接続することができる。これによると
第3及び第4トランジスタに対し零ゲート電位(Vss
・OV)を与えることができ、従ってそれぞれ等しい特
性電流を与えることができる。この場合差が零の入力に
対しては第1及び第2 FETのそれぞれの電流はこの
特性電流に等しくなり従って第1及び第2 NETはV
GS・0で動作する。ディプレーション・モード金属酸
化物半導体FEET(MOSFET)は例えばVCS・
0のときにマツチされる。
この差動増幅器は電流ミラー出力と第2 FETのドレ
イン電極の接合点において電流差の形状の出力信号を導
出する。
二〇差動増幅器は動作中でない場合回路を電源より切り
離しこれによって電流消費を減少させるスイッチをもう
けることができる。これはバッテリー電力源装置として
使用する場合有利である。
第1、第2、第3、第4 FETを共通の基板上に集積
化して設けることができる0個別の装置で互いに特性が
マツチしたものを選択することも可能ではあるが、各F
ETを同時に集積化しこれらの幾何学的特性を同一とし
また製造工程の変化並びに動作状態等(例えば温度)を
同一とし全ての4つのFETが同様にトランジスタ特性
の変化に影言を受けるようにすると極めて有利である。
本発明はさらに、大電流担持部分及び小電流担持部分を
有し、これら各部分は少なくとも1個の基礎半導体素子
を有する電力半導体装置の出力電流検出回路であって前
記大電流及び小電流担持部分は共通の第1電極及び対応
の大小の第2 TL極を有している電流検出回路におい
て、比較手段の出力に応じて大小第2電極の電圧を比較
する手段を有し、これによって小さい第2電極の電圧を
大きい第2電極の電圧にほぼ等しく手段と小第2電極よ
り導出する電流を測定する手段を有してなり、該比較手
段は前述の差動増幅器を有し、さらに第1および第2 
FETのゲート電極を夫々電力半導体装置の大小の第2
電極に夫々結合する手段を設けてなることを特徴とする
これと類似の電流検出回路は本出願人のヨオロッパ特許
出願86202123.5に開示されておりその内容を
本願では援用する。この電流検出回路は通常動作状態で
は電力半導体装置の大及び小第2電極を回路に接続する
点を同じ電圧とし、これによって小電流担持部内の電流
を大電流担持部の電流に正確に比例させる0本発明は改
良した特性を有する特殊な構造の差動増幅器をこのため
に使用する。
この電流制御装置はソース電極を電力半導体装置の小第
2電極に接続し、ゲート電極を差動増幅器の出力に接続
しドレイン電極を電流測定装置に接続したさらに他の電
界効果トランジスタを有する。この差動増幅器の電流差
出力はこの場合さらに他のFHTのゲートの容量を充電
または放電を行いこれはこれに結合されている電力半導
体装置の小第2電極より・I’ETが導出する電流がそ
の電極において大第2電極の電圧と等しくなるまでこれ
を行う。
FETのゲート電極を電力半導体装置の第2電極に結合
する手段にはそれぞれ同じ分割比を有する一対の電位分
配器(分圧器と略す)を設けることができる。さらにま
た特に電流検出回路が集積回路である場合、各分圧器は
2つのディプレーション・モードFETを有しこれらお
のおののゲート電極をソース電極に接続する。この場合
分圧器はそれぞれ特定の特殊な用途を有しており差動増
幅器のFETの供給電圧に対し比較すべき電圧があまり
近い場合にはこれらをターンオンする。電流ミラー回路
のトランジスタまたは電流源のトランジスタ並びにロン
グチイル対自体のトランジスタのスレショールド電圧を
規定する必要がある。
電流測定装置は1個以上のスレショールド検出回路を有
しそれらのおのおのは所定の基準電流に対し測定すべき
電流の値に応じた出力を生ずる。
このようなスレショールド検出回路はシュミットトリガ
回路を設けて構成することができる。スレショールド検
出は電流の極限値を検出でき、これにより故障状態或い
は負荷回路の短絡または例えばランプ切断等による回路
オープン状態等を検出することができる。このような検
出状態はそのときに応じてアラームを送出するか、例え
ば短絡回路の保護を行うために、電力半導体装置の動作
を自動的に制御することもできる。
電流測定装置は測定すべき電流を再生し或いはその計量
(スケール)を行うことができる1個以上の電流ミラー
回路を設けて構成できる。電流検出回路が不動作状態で
ある場合にはこれらの電流ミラー回路を不作動とする手
段を設は電流消費を減少することもできる。測定すべき
電流の再生は例えば1つのスレシシールドレベルの検出
よりもより便利に行うことができ、或いは遠方モニタが
必要のときこれを利用することができる。電流ミラーの
スケール(計量)は測定すべき電流が極めて不便なほど
小さいかまたは大きいときに有利であり、或いは1つの
参照電流を用いて1個以上のスレショールドを検出すべ
きときに便利である。
本発明はさらに大及び小電流(D持重を有する電力半導
体装置を有し、これらの各部分は少なくとも1個の基礎
半導体素子を有し、前記大及び小電流担持部は共通の第
1電極と、対応の大及び小第2電極を有し、集積回路は
さらに前述の電流検出回路を有することを特徴とする。
この種集積回路は、例えば自動車用電気装置の制御用の
インテリジェントパワースイッチの一部として利用する
か、または可変電力供給装置として使用することができ
る。
何れの場合にも電流検出回路を設けることにより負荷電
流のモニタが可能となり、例えば回路短絡または回路オ
ープンが検出でき、または一定電流を生じるためのフィ
ードバック、または電流制限機能を設けるためのフィー
ドバックを行うことができる。
このような集積回路は電流検出回路の出力に応答して電
力半導体装置を自動的に制御することができる。例えば
短絡回路状態の検出により電力半導体装置を自動的にス
イッチオフしこれはその半導体装置または負荷が過大な
電流で損傷する前にこれを行うことができる。
この電力半導体装置は金属酸化物半導・体電力トランジ
スタ(HOST)を設けることができ、この半導体は複
数個のセルを有し、大電流!U持持重これらのセルの大
部分を有しまたこれらのセルは共通のドレイン端子を有
しさらに共通のゲート端子と対応の大及び小電源端子を
有している。電力HOSTのセル構造は本発明によりそ
れ自体で電流検出用とするに適している。典型的には、
数アンペアの負荷電流に対し数万個の桁のセルを具えて
いるので1つのセルの測定電流はミリアンペアオーダー
またはそれ以下でありこれは小電力回路に対し便利な範
囲である。
災施貫 以下図面により本発明を説明する。
第1a図において差動増幅器lは第1及び第2入力端子
11及び12を有しており、これらは第1及び第2デイ
プレーシヨン・モードトランジスタ21及び22のゲー
トに接続しである。この例ではトランジスタ21及び2
2はn−チャネル金属酸化物半導体電界効果トランジス
タ(MOSFET)とするが以下の説明により明らかな
ように本発明に適した他の多くの装置をこれに使用する
ことができる。同様にここではn−チャネル装置につい
て述べであるが当業者にはこれをp−チャネル装置に変
えて使用し電圧極性を変えればよいこと当然である。
MOSFET 21及び°22のソースを共通に接続し
さらに電流源の第1端子23に接続しこれにより“ロン
グチイルペア”配置を形成する。電流源2は第2端子2
4を有しておりこれは例えば大地に接続する第1供給端
子13に接続する。
2個のp−チャネルエンハンスメントモードMO5FE
Tを電流ミラー回路3を構成するように接続する。トラ
ンジスタ31のゲートをそのドレインに接続し、これを
トランジスタ21のドレインに接続し電流ミラー回路3
の入力を形成する。トランジスタ32のゲートをトラン
ジスタ31のゲート及びドレインに接続する。トランジ
スタ31及び32のソースを第2供給端子14に共通に
接続する。トランジスタ32のドレインは電流ミラー回
路3の出力を形成し、トランジスタ22のドレイン及び
出力端7’15に接続する。
電流源2は2個のn−チャネルディプレーシゴン・モー
ドMO5FE↑25及び26を有しこれらは前述の端子
23及び24の間に並列に接続する。これら両トランジ
スタ25及び26のゲート及びソースはそれぞれ直接に
互いに接続する。
本回路の動作にあたりトランジスタ21.22.25.
26は飽和状態にバイアスされる。第1b図に示すよう
にこれらはほぼ一定の電流源として動作するがそれらの
ゲートソース電圧V(i3で変調される。
電流ミラー回路3の入力と出力の電流は互いに等しく規
定されるのでその出力電流は次の式で与えられる。
1111FF=II  tt ここで、 ■1はトランジスタ21の電流、 ■2はトランジスタ22の電流である。
従ってl0IFFはトランジスタ2I及び22の入力端
子ll及び12を通じそれぞれのゲートに加えられる差
入力信号(V、−Viによってm制御される。
動作特性を改良するため及び特に共通モード排除を行う
ためトランジスタ21及び22は互いにマツチさせる。
これは両トランジスタを互いに等しい幾何学的構造とし
共通基板、Lに同時に集積することにより達成される。
かくすると両トランジスタは互いに等しい処理を受けま
た温度変化等を与えられているのでその機能は同一であ
る。
しかしながら互いにマツチしているディプレーシラン・
モードMO5FETにおいてもそれらの伝送特性は曲線
Vas−OV(第1b図参照)の周囲においてのみしか
正確にマツチしていないことが知られている。トランジ
スタ21及び22の動作をこれらの有利な動作曲線内に
限定するため本発明においてはトランジスタ25及び2
Gをたがいにマツチさせ、またこれらはトランジスタ2
1及び22を並置して集積化する。トランジスタ25及
び26のゲートソース間直接接続はそれぞれVGs=0
を規定し、これによりそれぞれのドレイン電流をrot
sに規定する(第1b図参照)。このため全バイアス電
流tsは次で与えられる。
Is  =  ■++1!=2  に rots従って
負帰還用途で極めて良好な返信を形成する零差入力にお
いてはIt ”” l!となる。このため各トランジス
タ21及び22を通ずる電流は!。、。
となり、これらのゲートソース電圧は零となる。
製造工程及び温度変化等の使用状態が変化するにもかか
わらずトランジスタ21.22.25.2Gの全ては互
いにマツチされこれらの変化に対し等しく応答するため
、上述のバイアス方式は最適にマツチして使用できる。
他の型の装置に対しては最適マツチング条件はVcs=
0でなくこれより異なった値となること当然である。こ
のような場合にはトランジスタ25.26のゲート接続
は直接接続でなくこれらは異なる参照電位源によって接
続する0例えば1個以上のダイオードを通ずる電圧降下
を使用することができる。この場合ダイオード自体もそ
れぞれのトランジスタにマツチさせ温度変化あるいは工
程上の変化を打ち消すようにする。
第2図は大電流部と小電流部41及び42をそれぞれ有
する電力半導体装置4を示す。大電流部及び小電流部は
共通の第1端子43を有しまたそれぞれ大及び小の第2
端子44及び45を有する。・この図示の特定の例では
装置4はセル構造とした垂直電力MOSFET装置とし
た。この装置は一般には数百または数千のセルを有し、
これら全ては端子43に接続されている共通ドレイン電
極を有している。これらセルの大部分は並列に接続され
装置の大電流担持部41を形成しそのソースを端子44
に接続する。1個のセル(または数個のセル)は小電流
担持部42を形成し、そのソース電極を端子45に接続
する。この例では画部分のゲート電極を制御端子46に
接続する。
明細書の初めに説明した如く本発明による電流検出回路
に使用する半導体装置は電力MOSFETのみでなくこ
こに述べるのは検出回路用の一例として好適なものを記
載したにすぎない。
p−チャネルMO5FET 51のソースを小第2嬬子
45に接続しそのドレインを電流測定装置6の入力61
に接続する。この装置6は簡単のため62において大地
に接続するものを示したがこれには適当とする任意の供
給電圧レベルを使用することができこれについてはさら
に後に説明する。
トランジスタ51のゲート52を、本発明により構成し
た差動増幅器53の出力に接続する。この差動増幅器5
3の反転入力(−)を半導体回路4の小第2端子45に
接続し差動増幅器53の非反転入力(−ト)を半導体回
路4の大第2@子4に接続する。
動作に当たっては電流の主体ILOADは回路4を通じ
O;::子43より0:1;子44を通じて負荷(図示
せず)へ向かって流れる。この負荷は例えばランプまた
はモーフ巻線とする。この電流ILOADの流れは制御
端子46に供給される信号により制御される。これはM
OSFET回路4の大電流部41のトランジスタ動作に
よっ°ζ生ずる。
差動増幅2コ53はMOSFET51を駆動し電力半導
体回路4の小電流第2端子45より電流ICELLを導
出するようにする。差動増幅器53とMOSFET 5
1の帰還作用によって端子45の電圧νCELLは端子
44の電圧VLOADに等しくなるように♀IL持され
る。即ら図示のMO5IiET回5′34において小電
流部分42の電流■。
、Lは電流ttoAaに実隙上比例する。このため節中
な例としてミリアンメーターとする電流計側装置6は負
荷電流1t、oaoを正確に測定できこれは主電流通路
に直列抵抗等を挿入するを要せずしてこれを可能とする
上述のセル横i=MOsFET装置においてはI、。。
の計算は特に簡単である。これは測定するICELLと
ILOADO比は簡単にそれぞれ部分42と41とにあ
るセルの数の比となりこれが非常に良好な近位で確立さ
れるからである。特定な例として回路4を図示の如くセ
ル構造MOSFETとし、大電流担持部41には8千個
のセルを設は小電流担持部には単に1個のみのセルを設
けたとすると、 ICELIの測定電流が0.125m
Aとすると出力電流■、。ADは1^ (アンペア)で
ある。同様に測定電流0.75a+Aは出力電流6八を
表示し以下同様となる。またこの回路が上述の例と5′
シなった構造を有し例えばその2つの部分41.42が
異なる寸法またはジオメトリ(幾何構造)とした場合に
は比例定数を導き出すのにより複雑な、!1算が必要で
あるが、しかしこの定数をいったん見出せば測定は同様
に簡単でありかつ正確である。典型的な用途例えば自動
車用のインテリジェントパワースイッチとして用いる場
合には第2図の回路を従来のダッシュボードスイッチま
たはリレーと入れ替えヘッドランプ等の制御を行うこと
ができる。このような用途においては端子43ヲ車両の
バッテリーの供給線(例えば+12V)に接続し、また
アース接続62は車両のシャーシーのアースとする。第
2図示の各素子の極性は負アース系に通している。端子
44はヘッドランプの電球の如くの負荷に接続しこれの
リターン回路はアース62に接続されている。
第3図は第2図と同様な電流検出回路のより細部を示す
ものである。この回路は車両用のインテリジェントパワ
ースイッチとして使用するに適しておりここではそのこ
れ用の一例を説明する。当業者にはこの他の用途が多く
あること当然である。
第3図の左側に第1図に関し既に説明した如く本発明に
より構成した差動増幅器を設けこの増幅器を第1図の例
と同じ記号11−32で示しである。
ゲートソース間を接続した2個のディプレーション・モ
ードMOSFETを第3図では並列抵抗25及び26で
その機能を示すようにして図示しであるがその他の部分
は前述のMOSFET21及び22と同じである。
さらに追加のn−チャネルエンハンスメントモードMO
5P[T 301をこれら装置25及び26と直列に接
続する。この追加のトランジスタ301の機能はのちに
説明するが、通常動作ではこれは抵抗として動作する装
置25.26と第1a図と同じ電流供給線13の間の直
接接続を単に形成する。
第2図につい前述したような電力半導体回路の大及び小
電流第2端子にそれぞれ入力端子344及び345を設
ける。図面のスペース節約のため電力半導体装置自体は
図示を省略しである。これらの端子344及び345は
2個の分圧器71及び72によって差動増幅器1の入力
端子11及び12に結合しである。分圧器71 (分圧
器72も同様に)一対の抵抗711と712 (721
と722)を有している。好適実施例において特に集積
回路として構成するに適した例ではこれらの装置711
.712と72L 722はゲート及びソース電極をM
OSFET25及び2Gと同様に接続したディプレーシ
ョン・モードMOSFETの如きMOS負荷装置とする
分圧器71及び72のそれぞれの分圧比は装置711.
712と721.722を適当に選択することにより互
いに等しくする。これら装置712と722の各端部は
電流供給線13に接続する。電流ミラー回路3の共通ノ
ード(接続点)を第2供給線14に接続する。
p−チャネルMOSFET 73は入力端子345に接
続されているソースと差動増幅2Slの出力端子15に
接続されているゲートを有している。MOSFET 7
3のドレインを361においてn−チャネルMOSFE
T741及び742を有する電流ミラー回路74の入力
に接続する。この端子361は第2図の装置6に対応す
る電流測定回路36の入力を形成する。電流測定回路3
6は電流ミラー回路74の右側部分の全素子を含んでお
りその動作については以下に説明する。
動作中において電流供給線14は電池の供給電圧VIA
?Tを有しこれは例えば自動車用電池であり供給線13
は零Vのシャーシ電圧である。これは第2図について述
べた陰極接地方式におけるものである。
自動車用電気系統でよく生ずる高電圧ピークに対し保護
するため図面において(ネ)を付して示した全ての装置
の部分は高電圧装置として形成する。
この回路の他の部分例えば電流ミラー回路3及び電流測
定回路36は従来の相補MOS (CMOS)装置であ
る。これは第3電圧供給線70を設けていることの理由
によるものである。この電圧供給線70は図示を省略し
たレギュレーターによってvmaytより低いがCMO
5回路36の動作には充分な供給電圧vtowに維持す
る* (VmAtv  Vtow )はレギュレーター
の任意の選択により5ないし12Vとする。低電圧回路
を大地電圧に対してでなく VII&?Tに対し動作さ
せることにより、これらの電力半導体回路自体は築積化
により適することとなり低電圧回路の周囲に高電圧に対
する絶縁を設ける必要がなくなる。
この技術は係属中の英国特許出願に開示されている。
この電力供給回路(例えばヘッドライトランプ等に対す
る)がターンオンされると端子344及び345はほと
んどvmattの電圧に上昇する0分圧器71及び72
はこれらの電圧を差動増幅器lの入力11及び12に供
給するに適した電圧レベルまで低下させる。これらの各
人力11及び12と電源電圧v*atvの間には電流ミ
ラー回路3のMOSFET31及び32を飽和させるの
に充分な電圧差があるはずである。このようにして差動
増幅器lは第1a図、第tb図及び第2図について述べ
たように電圧vc!□とり、。Allを比較するように
動作する。第2図の回路と同様に差動増幅器1の出力!
5は電流制御トランジスタ73(第2図51)のゲート
に直接接続する。
この15における出力信号は第1図について説明した電
流差■。1□である。この差の電流1F、1□はトラン
ジスタ73のゲートの実効容量を充電または放電する。
即ちI□FFはトランジスタ73のゲート電圧を制御し
、このトランジスタは電力半導体装置(第3図には示し
てない)の小電流部分より導出する電流ICfLLを制
御する。
電流計測回路36内において電流ミラー回路74はトラ
ンジスタ741及び742を有しており測定電流tci
ttを生じこれを所定の比でスケール付けする。
このスケール付けは既知の方法で行われ、例えばトラン
ジスタ741及び742を賃なるチャネル寸法を持つよ
うにしこの例ではトランジスタ741 と742をそれ
ぞれ流れる電流の比を6:lとする。測定回路36はさ
らに電流ミラー75.78.79を有しこれらはトラン
ジスタ751−753.781−782.791−79
2をそれぞれ有しており、またこれらはそれぞれ予め定
めたスケール比を有している。この例においては電流ミ
ラー75.78.79のそれぞれのスケール比は7:l
 、 6:1及び7:1である。回路3Gはさらにシュ
ミットトリガ回路77及び78を有し、これらはトラン
ジスタ771−774並びに801−804をそれぞれ
有している。
参照電流源をトランジスタ762及び763の形で設け
、これらは典型的に電流ミラーの両出力トランジスタで
あり、これらの入力トランジスタは図示を省略しである
がこれらはRRFにおいてトランジスタ762及び76
3に接続しである。これらのそれぞれは基準電流!□、
を通過させるように動作し、図面では両トランジスタ7
62及び763に対しそれぞれ等しいものとして示しで
ある。しかし所望に応じこの基準電流は異なるものとす
ることができ、これはトランジスタ762及び763内
に互いに異なるスケール比を用いて行うかまたは2つの
別個のRE F 端子を設けて行い、この場合それぞれ
のトランジスタ?(if 、762は異なる電流ミラー
の部分とする。しかしながらこの好適実施例においてス
ケール付けする電流ミラー回路74.75.78.79
を使用することは上述の如く単一の基準電流I□、を使
用することにより2つの異なるスレショールドを検出し
うろこととなる。
接続点91において電流ミラー75により形成される測
定電流ICELLのスケール付けしたレプリカより基準
電流IRtFを減算する。スケール付けしたICI!L
lがIIIEFより大である場合は正電荷がシュミット
トリガ77の入力に流れこれによってトランジスタ77
2及び773をターンオンし一方トランジスタフ71を
ターンオフする。これによって出力LCは低い値(論理
値“O”)となる。これに反しスケール付けしたtct
ttが■**rより小である場合は、状態は逆となり出
力LC=“1”となる。従ってこの出力LCは検出され
た電流(b。AD)がある所定のスレショールドより低
い場合、このスレショールドはIC!LLstLOAO
の比と電流ミラー74.75に対する比1:6、lニア
の積を基準電流IREFに乗することにより簡単に決定
できる。トランジスタ774は既知の如くしてシュミッ
トトリガ77のヒステリシス作用を形成する。このヒス
テリシスはノイズの感lを改良しかつスレショールド検
出回路内の振動を除去する。
1、ランジスタフ53は電流ミラー75の第2出力を形
成し、従って測定電流ICfLLの他のスケール付けし
たレプリカを形成する。この第2出力トランジスタ75
3に対するスケール比は第1出力トランジスタ752に
対するスケール比とは異なるものと成しうるが、図示の
例では同じ値(7:1) とする。
接続点92においてこのさらに他のICELLのスケー
ル付けしたレプリカより電流■□、を減算する。
このスケール付けしたICELLが!□、より大なる場
合には正電荷がシュミットトリガ80の入力に流れトラ
ンジスタ802及び803を導通させまたトランジスタ
801をターンオフする。トランジスタ804はトリガ
回路77内のトランジスタ774 と同様なヒステリシ
ス特性を有する。トリガ回路80の出力はトランジスタ
811及び812を駆動しこれらは簡単なCMOSイン
バーター回路81を形成し出力11Cを駆動する。イン
バーター回路81が設けであるため、出ノ月ICは電流
ILOADがある適当なスレショールド値より高い場合
に値“1”を有するようになる。
このようにして電流IRtFを適当に選択しまた全ての
電流ミラー回路の比−:nを適当に選択すれば、LC・
“1”は1¥荷電流が低すぎるという外部回路への信号
となり、これは例えばランプが断線しているという結果
を示し、またIIC・“l”は負荷電流が大き過ぎるこ
とを示しこれは恐らく短絡回路状態であることを示す。
IIcはこれを他の回路で利用しこの電力回路を故障が
直るまで自動的に遮断することができる。
この特殊例では電流ミラー回路78及び79の比をそれ
ぞれ6:1及び7:lとし、rcittのスレショール
ド値(従ってILOADの(ifりを接続点92で検出
しこれは点91においてトリガ77で検出されるものよ
り約40倍大なるものとした。即ちこの例では接続点9
2のスレショールドが低い電流値である場合、例えばこ
れが通常の負荷電流の5%に対応するとき回路の断を示
す、この場合過大な負荷電流を表示する接続点92の電
流スレショールド値は通常負荷電流の2倍に対応する。
これらの実例の値に対し通常負荷電流は6Aであり、こ
の場合I LOAfl:  Ic1ttは8000 :
 lであり、これに必要な参照電流I□、は約0.9m
八である。
例えば極めて多くの差のスレショールドレベルを検出し
たり或いは電流のアナログディスプレイを行ったりする
などのように測定電流の任意の数を導出し得ること明ら
かである。この電力回路にアナログ帰還を使用し一定電
流を生じたりまたは一定電流への制限機能を付与するこ
とができる。
以上の如くかかる用途には多(の変形が可能である。
最後に電池電力による自動車用用途において説明したが
、電池は数週間もの不使用後にもその電荷を保有してい
ることが望まれる。従って第3図の回路には次の如くの
電力節約機能を設けることが望ましい、追加のトランジ
スタ302.740.750.780 、790を設は
論理信号ONが値“0”を有している場合(このON信
号に対応した等傷信号は種々のレベルで設けることがで
きこれは回路の高電圧部分に対して設けることができる
)それぞれ対応の電流ミラー回路3.74.75.78
.79等を遮断するようにすることができる。この信号
はON/?1111の相補信号として発生しこれは図示
を省略した電力スイッチの状態により発生する。トラン
ジスタ301はON・“0”の場合、差動増幅器lを電
流源の配線13より遮断するためにも設けである。この
ようにしてオフ状態の場合の電流消費を最小にしこの全
電力スイッチに対し電力消費は僅か数マイクロアンペア
となるようにする。
上述の如きインテリジェントパワースイッチ回路におい
ては単なる電力スイッチ機能のみでなく故障検出機能及
び高価な損失に対する保護機能を設けることも可能であ
る。これらの機能並びにさらにその他の機能も単一のチ
ップ上に集積化して設けることもできる。この種の電力
スイッチにはオンチップ温度保護、サージ電圧の保護及
びその他所望の機能を設けることができる。
以上の記載よりして当業者には多くの変形が可能である
。しかしこれらの変形は本件特許請求の範囲の精神を逸
脱しない限り何れもその範囲に属するものである。
【図面の簡単な説明】
第1a図は本発明による差動増幅器の回路図第1b図は
ディプレーション・モード金属酸化物半導体電界効果ト
ランジスタ(MOSFET)の典型的な各特性を示すグ
ラフ 第2図は本発明による電流検出回路及び対応の電力半導
体装置を示すブロック図 第3図は第2図の電力検出回路のさらに詳細を示す回路
図である。 l・・・差動増幅器 21、22.25.26.31.32・・・MOSFE
T36・・・電流計測回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ソース電極が互いに接続されかつ電流源に接続され
    、ドレイン電極が電流ミラー回路の入力及び出力にそれ
    ぞれ接続されているマッチした第1及び第2電界効果ト
    ランジスタ (FET)を有し、電流ミラー回路の出力と第2FET
    のドレイン電極の接続点が差動増幅器の出力を形成する
    差動増幅器において、 前記第1及び第2FETをディプレーション・モードF
    ETとし、 前記電流源は第1及び第2FETにマッチしている第3
    及び第4ディプレーション・モードFETを有し、これ
    ら第3及び第4FETのおのおのは互いに接続されかつ
    電圧源に接続されたゲート及びソース電極を有し、また
    第1及び第2FETのソース電極に接続されたドレイン
    電極を有することを特徴とする差動増幅器。 2、動作中でない場合に回路を電源より切り離して電流
    消費を減少させるスイッチ手段を設けた請求項1記載の
    差動増幅器。 3、第1、第2、第3及び第4FETを共通基板上に集
    積化した請求項1または2記載の差動増幅器。 4、第1、第2、第3及び第4FETをディプレーショ
    ンモード金属酸化物半導体FETとした請求項1、2ま
    たは3記載の差動増幅器。 5、大電流担持部分及び小電流担持部分を有し、これら
    各部分は少なくとも1個の基礎半導体素子を有する電力
    半導体装置の出力電流検出回路であって前記大電流及び
    小電流担持部分は共通の第1電極及び対応の大小の第2
    電極を有している電流検出回路において 比較手段の出力に応じて大小第2電極の電 圧を比較する手段を有し、これによって小第2電極の電
    圧を大第2電極の電圧にほぼ等しくする手段と 小第2電極より導出する電流を測定する手 段を有してなり、 該比較手段は請求項1乃至4のいずれかに 記載の差動増幅器を有し、さらに第1および第2FET
    のゲート電極を夫々電力半導体装置の大小第2電極に夫
    々結合する手段を設けてなる電流検出装置。 6、電流制御手段がさらに他の電界効果トランジスタを
    有しそのソース電極は電力半導体装置の小第2電極に接
    続し、そのゲート電極を差動増幅器の出力に接続し、ま
    たそのドレイン電極を電流測定手段に接続してなる請求
    項5記載の電流検出回路。 7、第1および第2FETのゲート電極を電力半導体装
    置の第2電極に結合する手段は一対のポテンシャルディ
    バイダー(分圧器)を有し、これらのディバイダーは夫
    々同じ分割比を有し、各ポテンシャルディバイダーは2
    つのディプレーションモードFETを有し、これらの各
    々のゲート電極をソース電極に接続してなる請求項5ま
    たは6記載の電流検出回路。 8、前記電流測定手段は1個以上のスレショールド検出
    回路を有し、これらの各々は夫々所定の基準レベルに関
    連して測定した電流値に応じた出力信号を生ずる如くし
    た請求項5乃至7記載の電流検出回路。 9、前記電流測定手段は測定すべき電流を再生し或いは
    そのスケーリング(計測)を行うための1個以上の電流
    ミラー回路を含んでなる請求項5乃至8記載の電流検出
    回路。 10、電流検出回路が不作動の場合電流消費を減少させ
    るため少なくとも1個の電流ミラー回路を不作動とする
    手段を設けた請求項9記載の電流検出回路。 11、大及び小担持部を有する電力半導体装置を有し、
    これらの各部分は少なくとも1個の基礎半導体素子を有
    し、前記大及び小電流担持部は共通の第1電極と、対応
    の大及び小第2電極を有し、集積回路はさらに請求項5
    乃至10のいずれかに記載の電流検出回路を有すること
    を特徴とする集積回路。 12、電力半導体装置は複数個のセルを有してなる金属
    酸化物半導体電力トランジスタを有し、大電流担持部分
    は前記セルの大部分を有し、これらのセルは共通のドレ
    イン端子と共通のゲート端子と対応の大及び小ソース端
    子とを有してなる請求項11記載の集積回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08154022A (ja) * 1994-11-29 1996-06-11 Nec Corp 過電流保護回路付き増幅回路
JPWO2012137670A1 (ja) * 2011-04-05 2014-07-28 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
JP2020135746A (ja) * 2019-02-25 2020-08-31 エイブリック株式会社 電流生成回路

Families Citing this family (106)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5210475B1 (en) * 1989-05-09 1996-04-23 United Technologies Automotive Circuit sensing circuit for use with a current controlling device in a power delivery circuit
GB8913439D0 (en) * 1989-06-12 1989-08-02 Inmos Ltd Current mirror circuit
US5128823A (en) * 1989-06-14 1992-07-07 Nippondenso Co., Ltd. Power semiconductor apparatus
JPH0738188B2 (ja) * 1989-10-17 1995-04-26 三菱電機株式会社 マイクロコンピュータ及びこれを用いた非接触icカード
IT1236787B (it) * 1989-11-13 1993-04-02 Italtel Spa Circuito amplificatore di potenza cmos con struttura completamente differenziale.
US5021861A (en) * 1990-05-23 1991-06-04 North Carolina State University Integrated circuit power device with automatic removal of defective devices and method of fabricating same
JPH07105722B2 (ja) * 1990-06-05 1995-11-13 株式会社東芝 D/aコンバータ
JPH04120907A (ja) * 1990-09-12 1992-04-21 Fujitsu Ltd オペアンプ回路
JPH07112155B2 (ja) * 1990-11-16 1995-11-29 株式会社東芝 スイッチング定電流源回路
JPH0514073A (ja) * 1991-06-28 1993-01-22 Fuji Electric Co Ltd 差動増幅器及び比較器
US5495155A (en) * 1991-06-28 1996-02-27 United Technologies Corporation Device in a power delivery circuit
US6320429B1 (en) * 1991-06-28 2001-11-20 Fuji Electric Co., Ltd. Integrated circuit having a comparator circuit including at least one differential amplifier
US5153499A (en) * 1991-09-18 1992-10-06 Allied-Signal Inc. Precision voltage controlled current source with variable compliance
US5374857A (en) * 1992-05-29 1994-12-20 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Circuit for providing drive current to a motor using a sensefet current sensing device and a fast amplifier
JPH06216666A (ja) * 1992-11-30 1994-08-05 Sharp Corp 差動増幅器
FR2703526B1 (fr) * 1993-04-02 1995-05-19 Gemplus Card Int Circuit de déclenchement automatique.
US5519310A (en) * 1993-09-23 1996-05-21 At&T Global Information Solutions Company Voltage-to-current converter without series sensing resistor
US5646520A (en) * 1994-06-28 1997-07-08 National Semiconductor Corporation Methods and apparatus for sensing currents
JPH08139579A (ja) * 1994-11-15 1996-05-31 Mitsubishi Electric Corp 電流源及び半導体集積回路装置
DE69533308T2 (de) * 1995-05-16 2004-11-25 Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza Verfahren und zugehöriger Schaltkreis zur Feststellung einer Schaltungsunterbrechung
DE19520735C2 (de) * 1995-06-07 1999-07-01 Siemens Ag Schaltungsanordnung zum Erfassen des Laststroms eines Leistungs-Halbleiterbauelementes mit sourceseitiger Last
JP3394389B2 (ja) * 1995-07-13 2003-04-07 シャープ株式会社 直流安定化電源回路
US5757174A (en) * 1995-07-19 1998-05-26 Micro Linear Corporation Current sensing technique using MOS transistor scaling with matched current sources
KR0158625B1 (ko) * 1995-10-18 1998-12-01 김광호 자유 컬렉터단자를 구비한 바이폴라 트랜지스터 회로
JP3627385B2 (ja) * 1996-06-28 2005-03-09 株式会社デンソー 電流検出機能を有する負荷電流供給回路
JP2000516338A (ja) * 1996-08-14 2000-12-05 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト ソース側負荷を有する電力半導体構成素子の負荷電流を検出するための回路装置
US5873053A (en) * 1997-04-08 1999-02-16 International Business Machines Corporation On-chip thermometry for control of chip operating temperature
DE19729904A1 (de) * 1997-07-12 1999-02-11 Kammerer Gmbh M Schaltungsanordnung zur Überwachung von durch eine Last fließenden Strömen
US5867014A (en) * 1997-11-20 1999-02-02 Impala Linear Corporation Current sense circuit having multiple pilot and reference transistors
DE19838657B4 (de) * 1998-08-25 2008-01-24 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zum Erfassen des Laststromes eines Leistungs-Feldeffekt-Halbleiterbauelementes
DE19844665C1 (de) * 1998-09-29 2000-03-30 Siemens Ag Schaltungsanordnung zur Steuerung und Erfassung des Laststromes durch eine Last
JP3476419B2 (ja) * 2000-06-28 2003-12-10 Necエレクトロニクス株式会社 半導体回路
TW531647B (en) * 2000-10-13 2003-05-11 Primarion Inc System and method for current sensing
US6765802B1 (en) 2000-10-27 2004-07-20 Ridley Engineering, Inc. Audio sound quality enhancement apparatus
US7474536B2 (en) * 2000-10-27 2009-01-06 Ridley Ray B Audio sound quality enhancement apparatus and method
JP4659235B2 (ja) * 2001-02-28 2011-03-30 浜松ホトニクス株式会社 発光素子駆動回路
US6770911B2 (en) * 2001-09-12 2004-08-03 Cree, Inc. Large area silicon carbide devices
US6514779B1 (en) 2001-10-17 2003-02-04 Cree, Inc. Large area silicon carbide devices and manufacturing methods therefor
JP4301760B2 (ja) * 2002-02-26 2009-07-22 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
US6781459B1 (en) 2003-04-24 2004-08-24 Omega Reception Technologies, Inc. Circuit for improved differential amplifier and other applications
TWI294683B (en) * 2004-08-23 2008-03-11 Monolithic Power Systems Inc A fault protection scheme for ccfl integrated circuits
US7314521B2 (en) * 2004-10-04 2008-01-01 Cree, Inc. Low micropipe 100 mm silicon carbide wafer
US7314520B2 (en) 2004-10-04 2008-01-01 Cree, Inc. Low 1c screw dislocation 3 inch silicon carbide wafer
KR100691349B1 (ko) 2005-07-20 2007-03-12 삼성전자주식회사 멀티 파워 시스템에 사용되는 차동 회로, 출력 버퍼 회로및 반도체 집적 회로
JP4842614B2 (ja) * 2005-10-27 2011-12-21 ルネサスエレクトロニクス株式会社 電流検出回路
CN101453818B (zh) 2007-11-29 2014-03-19 杭州茂力半导体技术有限公司 放电灯的电路保护和调节装置
US7994766B2 (en) * 2008-05-30 2011-08-09 Freescale Semiconductor, Inc. Differential current sensor device and method
DE102008032556B3 (de) * 2008-07-10 2009-09-10 Infineon Technologies Austria Ag Leistungsschalter mit einer Überstromschutzvorrichtung
JP5135199B2 (ja) * 2008-12-22 2013-01-30 パナソニック株式会社 電流検出回路およびそれを用いた電圧コンバータ
DE102009001899B4 (de) 2009-03-26 2024-01-18 Robert Bosch Gmbh Messen eines Laststroms eines Unterbrechers
US8421162B2 (en) 2009-09-30 2013-04-16 Suvolta, Inc. Advanced transistors with punch through suppression
US8273617B2 (en) 2009-09-30 2012-09-25 Suvolta, Inc. Electronic devices and systems, and methods for making and using the same
US8530286B2 (en) 2010-04-12 2013-09-10 Suvolta, Inc. Low power semiconductor transistor structure and method of fabrication thereof
US8569128B2 (en) 2010-06-21 2013-10-29 Suvolta, Inc. Semiconductor structure and method of fabrication thereof with mixed metal types
US8759872B2 (en) 2010-06-22 2014-06-24 Suvolta, Inc. Transistor with threshold voltage set notch and method of fabrication thereof
US8404551B2 (en) 2010-12-03 2013-03-26 Suvolta, Inc. Source/drain extension control for advanced transistors
US8648586B2 (en) * 2011-01-11 2014-02-11 Cadence Ams Design India Private Limited Circuit for sensing load current of a voltage regulator
US8461875B1 (en) 2011-02-18 2013-06-11 Suvolta, Inc. Digital circuits having improved transistors, and methods therefor
US8525271B2 (en) 2011-03-03 2013-09-03 Suvolta, Inc. Semiconductor structure with improved channel stack and method for fabrication thereof
US8400219B2 (en) * 2011-03-24 2013-03-19 Suvolta, Inc. Analog circuits having improved transistors, and methods therefor
US8748270B1 (en) 2011-03-30 2014-06-10 Suvolta, Inc. Process for manufacturing an improved analog transistor
US8796048B1 (en) 2011-05-11 2014-08-05 Suvolta, Inc. Monitoring and measurement of thin film layers
US8999861B1 (en) 2011-05-11 2015-04-07 Suvolta, Inc. Semiconductor structure with substitutional boron and method for fabrication thereof
US8811068B1 (en) 2011-05-13 2014-08-19 Suvolta, Inc. Integrated circuit devices and methods
US8569156B1 (en) 2011-05-16 2013-10-29 Suvolta, Inc. Reducing or eliminating pre-amorphization in transistor manufacture
US8735987B1 (en) 2011-06-06 2014-05-27 Suvolta, Inc. CMOS gate stack structures and processes
US8995204B2 (en) 2011-06-23 2015-03-31 Suvolta, Inc. Circuit devices and methods having adjustable transistor body bias
US8629016B1 (en) 2011-07-26 2014-01-14 Suvolta, Inc. Multiple transistor types formed in a common epitaxial layer by differential out-diffusion from a doped underlayer
WO2013022753A2 (en) 2011-08-05 2013-02-14 Suvolta, Inc. Semiconductor devices having fin structures and fabrication methods thereof
US8748986B1 (en) 2011-08-05 2014-06-10 Suvolta, Inc. Electronic device with controlled threshold voltage
US8614128B1 (en) 2011-08-23 2013-12-24 Suvolta, Inc. CMOS structures and processes based on selective thinning
US8645878B1 (en) 2011-08-23 2014-02-04 Suvolta, Inc. Porting a circuit design from a first semiconductor process to a second semiconductor process
US8713511B1 (en) 2011-09-16 2014-04-29 Suvolta, Inc. Tools and methods for yield-aware semiconductor manufacturing process target generation
US9236466B1 (en) 2011-10-07 2016-01-12 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Analog circuits having improved insulated gate transistors, and methods therefor
EP2592742A1 (en) * 2011-11-14 2013-05-15 ST-Ericsson SA Circuit with current-controlled frequency
US8895327B1 (en) 2011-12-09 2014-11-25 Suvolta, Inc. Tipless transistors, short-tip transistors, and methods and circuits therefor
US8819603B1 (en) 2011-12-15 2014-08-26 Suvolta, Inc. Memory circuits and methods of making and designing the same
US8883600B1 (en) 2011-12-22 2014-11-11 Suvolta, Inc. Transistor having reduced junction leakage and methods of forming thereof
US8599623B1 (en) 2011-12-23 2013-12-03 Suvolta, Inc. Circuits and methods for measuring circuit elements in an integrated circuit device
US8877619B1 (en) 2012-01-23 2014-11-04 Suvolta, Inc. Process for manufacture of integrated circuits with different channel doping transistor architectures and devices therefrom
US8970289B1 (en) 2012-01-23 2015-03-03 Suvolta, Inc. Circuits and devices for generating bi-directional body bias voltages, and methods therefor
US9093550B1 (en) 2012-01-31 2015-07-28 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Integrated circuits having a plurality of high-K metal gate FETs with various combinations of channel foundation structure and gate stack structure and methods of making same
US9406567B1 (en) 2012-02-28 2016-08-02 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Method for fabricating multiple transistor devices on a substrate with varying threshold voltages
US8863064B1 (en) 2012-03-23 2014-10-14 Suvolta, Inc. SRAM cell layout structure and devices therefrom
US9299698B2 (en) 2012-06-27 2016-03-29 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Semiconductor structure with multiple transistors having various threshold voltages
US8637955B1 (en) 2012-08-31 2014-01-28 Suvolta, Inc. Semiconductor structure with reduced junction leakage and method of fabrication thereof
US9112057B1 (en) 2012-09-18 2015-08-18 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Semiconductor devices with dopant migration suppression and method of fabrication thereof
US9041126B2 (en) 2012-09-21 2015-05-26 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Deeply depleted MOS transistors having a screening layer and methods thereof
WO2014071049A2 (en) 2012-10-31 2014-05-08 Suvolta, Inc. Dram-type device with low variation transistor peripheral circuits, and related methods
US8816754B1 (en) 2012-11-02 2014-08-26 Suvolta, Inc. Body bias circuits and methods
US9093997B1 (en) 2012-11-15 2015-07-28 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Slew based process and bias monitors and related methods
US9070477B1 (en) 2012-12-12 2015-06-30 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Bit interleaved low voltage static random access memory (SRAM) and related methods
US9112484B1 (en) 2012-12-20 2015-08-18 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Integrated circuit process and bias monitors and related methods
US9268885B1 (en) 2013-02-28 2016-02-23 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Integrated circuit device methods and models with predicted device metric variations
US9299801B1 (en) 2013-03-14 2016-03-29 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Method for fabricating a transistor device with a tuned dopant profile
US9478571B1 (en) 2013-05-24 2016-10-25 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Buried channel deeply depleted channel transistor
TWI535199B (zh) * 2014-05-15 2016-05-21 聯詠科技股份有限公司 運算放大器
CN105099381B (zh) * 2014-05-23 2018-12-14 联咏科技股份有限公司 运算放大器
US9710006B2 (en) 2014-07-25 2017-07-18 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Power up body bias circuits and methods
US9319013B2 (en) 2014-08-19 2016-04-19 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Operational amplifier input offset correction with transistor threshold voltage adjustment
DE102015204519B4 (de) * 2015-03-12 2019-01-03 Dialog Semiconductor (UK) Ltd Genaue Stromerfassungsschaltung und Verfahren zur genauen Stromerfassung
DE102015204518B4 (de) 2015-03-12 2017-04-13 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Offset-Kompensation für einen VDS-Ausgleicher in einer Stromerfassungsschaltung
DE102015222570B4 (de) 2015-11-16 2024-04-11 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Schaltung und verfahren zur stromerfassung mit hoher genauigkeit
US11243235B2 (en) * 2018-07-06 2022-02-08 Texas Instruments Incorporated Load current sensing at low output voltage
US11422168B2 (en) 2020-09-16 2022-08-23 Nxp Usa, Inc. On-chip, low-voltage, current sensing circuit
US20230185321A1 (en) * 2021-12-14 2023-06-15 Qorvo Us, Inc. Current-monitor circuit for voltage regulator in system-on-chip

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3947778A (en) * 1974-09-11 1976-03-30 Motorola, Inc. Differential amplifier
US4048575A (en) * 1974-09-11 1977-09-13 Motorola, Inc. Operational amplifier
SU748800A1 (ru) * 1977-10-04 1980-07-15 Предприятие П/Я А-1889 Дифференциальный усилитель
US4188588A (en) * 1978-12-15 1980-02-12 Rca Corporation Circuitry with unbalanced long-tailed-pair connections of FET's
US4345213A (en) * 1980-02-28 1982-08-17 Rca Corporation Differential-input amplifier circuitry with increased common-mode _voltage range
US4319181A (en) * 1980-12-24 1982-03-09 Motorola, Inc. Solid state current sensing circuit
JPS5943608A (ja) * 1982-09-06 1984-03-10 Hitachi Ltd 省電力回路
US4553084A (en) * 1984-04-02 1985-11-12 Motorola, Inc. Current sensing circuit
NL8503394A (nl) * 1985-12-10 1987-07-01 Philips Nv Stroomaftastschakeling voor een vermogenshalfgeleiderinrichting, in het bijzonder geintegreerde intelligente vermogenshalfgeleiderschakelaar voor met name automobieltoepassingen.

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08154022A (ja) * 1994-11-29 1996-06-11 Nec Corp 過電流保護回路付き増幅回路
JPWO2012137670A1 (ja) * 2011-04-05 2014-07-28 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
JP5666694B2 (ja) * 2011-04-05 2015-02-12 ルネサスエレクトロニクス株式会社 負荷電流検出回路
JP2020135746A (ja) * 2019-02-25 2020-08-31 エイブリック株式会社 電流生成回路

Also Published As

Publication number Publication date
GB2206010A (en) 1988-12-21
EP0294880A3 (en) 1989-06-07
US4885477A (en) 1989-12-05
KR890001278A (ko) 1989-03-20
EP0294880B1 (en) 1996-09-04
DE3855506D1 (de) 1996-10-10
DE3855506T2 (de) 1997-03-06
KR0128731B1 (ko) 1998-04-22
EP0294880A2 (en) 1988-12-14
JP2628694B2 (ja) 1997-07-09
GB8713387D0 (en) 1987-07-15

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