JPS63311110A - 撚線異常検出方法および装置 - Google Patents
撚線異常検出方法および装置Info
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- JPS63311110A JPS63311110A JP14733987A JP14733987A JPS63311110A JP S63311110 A JPS63311110 A JP S63311110A JP 14733987 A JP14733987 A JP 14733987A JP 14733987 A JP14733987 A JP 14733987A JP S63311110 A JPS63311110 A JP S63311110A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 abstract 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はワイヤロープ亜鉛メッキ銅線、送電線などの
撚線における異常部の検出方法および検出装置に関する
ものである。
撚線における異常部の検出方法および検出装置に関する
ものである。
(従来の技術およびその問題点〕
従来、ワイヤローブなどの撚線における外形異常の検出
は、規定された貫通孔を通すなどの接触法で行なうのが
一般的であった。
は、規定された貫通孔を通すなどの接触法で行なうのが
一般的であった。
この接触法の場合、撚線を検査用貫通孔に通して異常を
検出するものであり、この貫通孔の直径は検出しようと
する外径異常部の直径より小さく、かつ、正常部の直径
より大きくする必要があるが、第9図のような異常部2
が撚線1の一部にある場合や、第10図に示す撚線1に
おいて同図の■、■に示すような異常部2のある部分と
、■に示す正常部との差は直径としてはきわめて小さい
。従って検査用貫通孔の直径も小さくしなければならな
いため正常部が貫通孔に接触して接触疵が発生し易(品
質問題を引起こすおそれがある。また、接触抵抗、振動
による誤動作の問題もあり、これを防止するため、検査
用貫通孔の直径を大きくすると、外形異常が検出できな
い。
検出するものであり、この貫通孔の直径は検出しようと
する外径異常部の直径より小さく、かつ、正常部の直径
より大きくする必要があるが、第9図のような異常部2
が撚線1の一部にある場合や、第10図に示す撚線1に
おいて同図の■、■に示すような異常部2のある部分と
、■に示す正常部との差は直径としてはきわめて小さい
。従って検査用貫通孔の直径も小さくしなければならな
いため正常部が貫通孔に接触して接触疵が発生し易(品
質問題を引起こすおそれがある。また、接触抵抗、振動
による誤動作の問題もあり、これを防止するため、検査
用貫通孔の直径を大きくすると、外形異常が検出できな
い。
上記のような接触式の欠点を補うために、第7図、第8
図に示すような先代の非接触外径異常検出装置が開発さ
れている。
図に示すような先代の非接触外径異常検出装置が開発さ
れている。
上記の装置は軸方向に移動する被測定物3の一側に2個
の受光センサ4を配置し、他側にはラシプ5の光線をレ
ンズ6により平行光線として機箱7の前部の開口から各
受光センサ4に向けて発する投光器8を設け、各センサ
4の出力信号を差動アンプ9を経て信号処理装置10に
伝えるようにしたものである。
の受光センサ4を配置し、他側にはラシプ5の光線をレ
ンズ6により平行光線として機箱7の前部の開口から各
受光センサ4に向けて発する投光器8を設け、各センサ
4の出力信号を差動アンプ9を経て信号処理装置10に
伝えるようにしたものである。
この装置では被測定物3の正常部が両方のセンサ4の前
を通過している間は両センサ4に達する光線の量は殆ど
等しく、両センサ4の出力はバランスしているので、差
動アンプ9の出力は小さいが、第8図のように異常部1
1が一方のセンサ4の前を通るとこのセンサ4への光線
の量が減少して両センサ4の出力のバランスが崩れ、差
動アンプ9からは大きな出力信号が信号処理装置10に
送られる。
を通過している間は両センサ4に達する光線の量は殆ど
等しく、両センサ4の出力はバランスしているので、差
動アンプ9の出力は小さいが、第8図のように異常部1
1が一方のセンサ4の前を通るとこのセンサ4への光線
の量が減少して両センサ4の出力のバランスが崩れ、差
動アンプ9からは大きな出力信号が信号処理装置10に
送られる。
被測定物3が単線の場合は正常部の直径は全長に亘り一
定であるから、上記のような検査方法は有効である。
定であるから、上記のような検査方法は有効である。
しかし、撚線の場合は、以下に説明するような撚線の形
状のために上記のような従来方法では異常部の検出は困
難である。
状のために上記のような従来方法では異常部の検出は困
難である。
第5図は撚線に対する透視方向により、その外径変化が
異なることを示したものである。
異なることを示したものである。
この図の■は撚線1の側面図で、■は矢印Aの方向すな
わち、撚方向から見た形状、■は矢印Bの方向、すなわ
ち撚方向に直角の方向から見た形状を示すもの、■は矢
印Cの方向すなわち、軸芯に直角の方向から見た形状を
示すものである。
わち、撚方向から見た形状、■は矢印Bの方向、すなわ
ち撚方向に直角の方向から見た形状を示すもの、■は矢
印Cの方向すなわち、軸芯に直角の方向から見た形状を
示すものである。
撚線1を第6図のように直線dの素線15からなるもの
とすれば、第5図Hの半円状の外径変化の高さhが素線
15の直径dの0.5dとなり、第5図■の外径変化の
高さhlは0.034 dとなる。
とすれば、第5図Hの半円状の外径変化の高さhが素線
15の直径dの0.5dとなり、第5図■の外径変化の
高さhlは0.034 dとなる。
これに対して第5図■の外径変化の高さhtは0.13
4 dであるから、■において■の約4倍の顕在化、■
において■の約Xの平滑化となる。
4 dであるから、■において■の約4倍の顕在化、■
において■の約Xの平滑化となる。
撚線の場合、軸芯に直角方向においても、上記第5図■
のC視の図に示すように外径が常に変化するため前記し
た第7図、第8図に示す方法を用いての異常の検出は困
難である。
のC視の図に示すように外径が常に変化するため前記し
た第7図、第8図に示す方法を用いての異常の検出は困
難である。
また、隣接素線15間に形成される谷の部分に第9図の
ように異常部2がある場合や第10図の■、■のような
異常部2がある場合も検出不可能である。
ように異常部2がある場合や第10図の■、■のような
異常部2がある場合も検出不可能である。
上記の問題点を解決するために、この発明は撚線の外形
を受光センサに投影するための投光器の投光軸を、撚線
の撚角とほぼ平行する平行光線とし、受光センサは一対
として、撚線の正常部においては両受光センサの受光量
がほぼ等しくなり、撚線の異常部においては両受光セン
サの受光量が異なることにより撚線の異常を検出する方
法および検出装置を提供するものである。
を受光センサに投影するための投光器の投光軸を、撚線
の撚角とほぼ平行する平行光線とし、受光センサは一対
として、撚線の正常部においては両受光センサの受光量
がほぼ等しくなり、撚線の異常部においては両受光セン
サの受光量が異なることにより撚線の異常を検出する方
法および検出装置を提供するものである。
この発明は上記の通りであり、走行する撚線を受光セン
サと投光器の間に位置させることにより、撚線の形状は
受光センサに投影される。
サと投光器の間に位置させることにより、撚線の形状は
受光センサに投影される。
撚線の正常部が通過している間は両受光センサー に
投影されている撚線の影はほぼ等しくかつ規則正しく変
化しているので、両センサからの出カババランスしてい
る。
投影されている撚線の影はほぼ等しくかつ規則正しく変
化しているので、両センサからの出カババランスしてい
る。
しかし、撚線の異常部が通過すると、両センサの出力が
アンバランスとなり、これを差動アンプが検出して異常
信号を発することにより、撚線の異常部が検出される。
アンバランスとなり、これを差動アンプが検出して異常
信号を発することにより、撚線の異常部が検出される。
第1図第3図はこの発明の実施例を示すもので、21は
基台、22はその上に載せた旋回台で、垂直軸の回りに
回動し、任意の位置で基台21に固定し得る。
基台、22はその上に載せた旋回台で、垂直軸の回りに
回動し、任意の位置で基台21に固定し得る。
上記の旋回台22上には上向きコ字形の検出ヘッド23
を固定し、このヘッド23の一方の上向部を受光部24
、他方の上向部を投光器25とする。
を固定し、このヘッド23の一方の上向部を受光部24
、他方の上向部を投光器25とする。
受光部24には2個の縦長の受光センサ26を第3図の
2の間隔で配置する。また、投光器25には第2図に示
すようにランプ27と、その光線を平行光線として両受
光センサ26へ向けて発するようにするレンズ28を設
ける。
2の間隔で配置する。また、投光器25には第2図に示
すようにランプ27と、その光線を平行光線として両受
光センサ26へ向けて発するようにするレンズ28を設
ける。
また、各受光センサ26の出力信号を差動アンプ29を
経て信号処理装置30に伝えるようにする。
経て信号処理装置30に伝えるようにする。
第3図LIIは撚線軸と素線の傾斜角とセンサ投光軸の
説明図で、前記第6図に示す6本の素線15からなる撚
線1の場合を示している。
説明図で、前記第6図に示す6本の素線15からなる撚
線1の場合を示している。
この図で、Pは1本の素線15の撚りピッチであり、素
線15の本数をNとすると、P/Nは外彩度化ピッチと
なる。
線15の本数をNとすると、P/Nは外彩度化ピッチと
なる。
いま、素線15の軸芯を結ぶ円周の直径すなわち層芯径
を第6図のようにDとし、投光軸18の傾斜角をβ〔°
〕撚線1の中心線に対する素線1第3図Hの直角3角形
においてα=jan−’−となる。
を第6図のようにDとし、投光軸18の傾斜角をβ〔°
〕撚線1の中心線に対する素線1第3図Hの直角3角形
においてα=jan−’−となる。
従って上記のように投光軸18と撚線1の軸線に平行の
直線となす角をβとし、β−αとし、Kは任意の整数(
実施例では2)とすればβ”sin −’ (I!、/
(KP/N) )となる。
直線となす角をβとし、β−αとし、Kは任意の整数(
実施例では2)とすればβ”sin −’ (I!、/
(KP/N) )となる。
また、
β−10°メθにβ+10”の範囲とするが、θ=αの
ときが最も効果的である。
ときが最も効果的である。
この発明の場合は上記で明らかなように、第5図■の外
形変化ピッチを検出するものであるから、第4図(a)
、(ロ)のような作用となる。すなわち、第4図(a)
ような正常部の場合は左右の受光センサ26の受光量は
ほぼ等しくバランスしているので第2図の差動アンプ2
9の出力信号はきわめて小さいが、(b)のように異常
部2があると、受光量の差はり、のように非常に大きく
なり、差動アンプ29の出力信号も十分に大きくなる。
形変化ピッチを検出するものであるから、第4図(a)
、(ロ)のような作用となる。すなわち、第4図(a)
ような正常部の場合は左右の受光センサ26の受光量は
ほぼ等しくバランスしているので第2図の差動アンプ2
9の出力信号はきわめて小さいが、(b)のように異常
部2があると、受光量の差はり、のように非常に大きく
なり、差動アンプ29の出力信号も十分に大きくなる。
しかし、投光軸を従来装置のように軸線と直角にすると
、第5図■の外形変化ピッチとなるから第4図(C)、
(d)の作用となる。
、第5図■の外形変化ピッチとなるから第4図(C)、
(d)の作用となる。
この場合、異常部2があってもD2のように受光量の差
による異常信号は非常に小さく、差動アンプ9の出力信
号も小さいので異常部2の検出が正確にできないおそれ
がある。
による異常信号は非常に小さく、差動アンプ9の出力信
号も小さいので異常部2の検出が正確にできないおそれ
がある。
以下に0.2φの素線を4本撚して撚線をつくり、この
撚線の7本を撚り合わせて複撚線としたものをこの発明
の方法と従来方法により検出した結果を信号Sとノイズ
Nの比すなわちSN比として以下に示す。
撚線の7本を撚り合わせて複撚線としたものをこの発明
の方法と従来方法により検出した結果を信号Sとノイズ
Nの比すなわちSN比として以下に示す。
SN比
θ〉β+10” 0.8〜1.5
θ=β−10” 0.8〜1.5
上記のうち、この発明によるSN比は何れも2.0〜4
.0の範囲となり、他の方法によるSN比の0.8〜1
.5を大きく上まわっている。
.0の範囲となり、他の方法によるSN比の0.8〜1
.5を大きく上まわっている。
この発明は上記のように、走行する撚線を受光センサと
投光器の間に位置させることにより、撚線の形状を受光
センサに投影させるものであるが、投光器の投光軸を撚
線撚角とほぼ平行する平行光線とし、受光センサは一対
として、撚線の正常部においては両受光センサの受光量
がほぼ等しくなり、撚線の異常部においては両受光セン
サの受光量が異なることにより撚線の異常を検出するよ
うにしたので、外径の変化としては現れないために、従
来では検出不可能であった撚線や複撚線の撚不良による
外形異常を検出することができる。しかも、この検出は
撚線の走行中に非接触で行なうので、全長に亘る品質管
理が可能となるなどの効果がある。
投光器の間に位置させることにより、撚線の形状を受光
センサに投影させるものであるが、投光器の投光軸を撚
線撚角とほぼ平行する平行光線とし、受光センサは一対
として、撚線の正常部においては両受光センサの受光量
がほぼ等しくなり、撚線の異常部においては両受光セン
サの受光量が異なることにより撚線の異常を検出するよ
うにしたので、外径の変化としては現れないために、従
来では検出不可能であった撚線や複撚線の撚不良による
外形異常を検出することができる。しかも、この検出は
撚線の走行中に非接触で行なうので、全長に亘る品質管
理が可能となるなどの効果がある。
第1図はこの発明の一実施例を示す斜視図、第2図は同
上の一部横断平面図、第3図は撚線と投光軸と受光セン
サの関係を示す平面図、第4図a〜dはこの発明の作用
を示す拡大断面図、第5図I〜■は撚線の側面図とその
各方向から見た外形図、第6図は撚線の一例を示す横断
面図、第7図は従来の検出装置の一例を示す縦断正面図
、第8図は同上の側面図、第9図は異常部を有する撚線
の側面図、第10図Lm、■は撚線の正常部と異常部を
示す横断面図である。 25・・・・・・投光器、26・・・・・・受光センサ
、27・・・・・・ランプ、28・・・・・・レンズ、
29・・・・・・差動アンプ、30・・・・・・信号処
理装置。 特許出願人 住友電気工業株式会社 同 代理人 鎌 1) 文 ニ 手続補正書動式) 21発明の名称 撚線異常検出方法および装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 大阪市東区北浜5丁目15番地氏名酩称)
(218)住友電気工業株式会社5、補正命令の
日付 昭和62 年 8 月25 日 (発送日)6、補正に
より増加する発明の数 補 正 の 内 容 1、 明細書第11頁4行目から6行目の「第5図・・
・・・・外形図、」を「第5図は撚線の外形説明図、」
と補正します。
上の一部横断平面図、第3図は撚線と投光軸と受光セン
サの関係を示す平面図、第4図a〜dはこの発明の作用
を示す拡大断面図、第5図I〜■は撚線の側面図とその
各方向から見た外形図、第6図は撚線の一例を示す横断
面図、第7図は従来の検出装置の一例を示す縦断正面図
、第8図は同上の側面図、第9図は異常部を有する撚線
の側面図、第10図Lm、■は撚線の正常部と異常部を
示す横断面図である。 25・・・・・・投光器、26・・・・・・受光センサ
、27・・・・・・ランプ、28・・・・・・レンズ、
29・・・・・・差動アンプ、30・・・・・・信号処
理装置。 特許出願人 住友電気工業株式会社 同 代理人 鎌 1) 文 ニ 手続補正書動式) 21発明の名称 撚線異常検出方法および装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 大阪市東区北浜5丁目15番地氏名酩称)
(218)住友電気工業株式会社5、補正命令の
日付 昭和62 年 8 月25 日 (発送日)6、補正に
より増加する発明の数 補 正 の 内 容 1、 明細書第11頁4行目から6行目の「第5図・・
・・・・外形図、」を「第5図は撚線の外形説明図、」
と補正します。
Claims (2)
- (1)走行する撚線の外形異常を投光器と受光センサに
より検出する方法において、撚線の外形を受光センサに
投影するための投光器の投光軸を、撚線の撚角とほぼ平
行する平行光線とし、受光センサは一対として、撚線の
正常部においては両受光センサの受光量がほぼ等しくな
り、撚線の異常部においては両受光センサの受光量が異
なることにより撚線の異常を検出することを特徴とする
撚線異常検出方法。 - (2)走行する撚線の外形異常を投光器と受光センサに
より検出する装置において、撚線の外形を受光センサに
投影するための投光器の投光軸を撚線の撚角とほぼ平行
する平行光線とし、受光センサは一対として、この両受
光センサを投光軸と直角の方向にピッチl〔mm〕で配
置し、撚線の撚ピッチをP〔mm〕とし、最外層の撚本
数をN〔本〕、最外層の層芯径をD〔mm〕、撚線の撚
角α〔°〕、撚線軸と投光軸のなす角をθ〔°〕、とし
、撚りによる外形変化の一致する角度β〔°〕、Kを任
意の整数としたとき、 β=sin^−^1{l/(KP/N)} α=tan^−^1(πD/P) としたことを特徴とする撚線異常検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14733987A JPS63311110A (ja) | 1987-06-13 | 1987-06-13 | 撚線異常検出方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14733987A JPS63311110A (ja) | 1987-06-13 | 1987-06-13 | 撚線異常検出方法および装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63311110A true JPS63311110A (ja) | 1988-12-19 |
Family
ID=15427942
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14733987A Pending JPS63311110A (ja) | 1987-06-13 | 1987-06-13 | 撚線異常検出方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63311110A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001033184A1 (en) * | 1999-10-29 | 2001-05-10 | Pirelli Cavi E Sistemi S.P.A. | Method of measuring the twist imparted to an optical fibre and procedure for processing an optical fibre using this method |
WO2001016608A3 (en) * | 1999-09-01 | 2001-08-30 | Beta Lasermike Ltd | Apparatus and methods of detecting and controlling twists in multicore cables |
WO2011105629A1 (ja) * | 2010-02-25 | 2011-09-01 | Jfeスチール株式会社 | ワイヤロープピッチの測定方法とワイヤロープピッチ測定装置およびワイヤロープの製造方法 |
JP5436659B2 (ja) * | 2010-03-03 | 2014-03-05 | 三菱電機株式会社 | ロープ検査装置 |
-
1987
- 1987-06-13 JP JP14733987A patent/JPS63311110A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001016608A3 (en) * | 1999-09-01 | 2001-08-30 | Beta Lasermike Ltd | Apparatus and methods of detecting and controlling twists in multicore cables |
WO2001033184A1 (en) * | 1999-10-29 | 2001-05-10 | Pirelli Cavi E Sistemi S.P.A. | Method of measuring the twist imparted to an optical fibre and procedure for processing an optical fibre using this method |
WO2011105629A1 (ja) * | 2010-02-25 | 2011-09-01 | Jfeスチール株式会社 | ワイヤロープピッチの測定方法とワイヤロープピッチ測定装置およびワイヤロープの製造方法 |
JP2011196994A (ja) * | 2010-02-25 | 2011-10-06 | Jfe Steel Corp | ワイヤロープピッチの測定方法とワイヤロープピッチ測定装置およびワイヤロープの製造方法 |
JP5436659B2 (ja) * | 2010-03-03 | 2014-03-05 | 三菱電機株式会社 | ロープ検査装置 |
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