JPS63308679A - 隆線紋様の隆線方向検出装置 - Google Patents
隆線紋様の隆線方向検出装置Info
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- JPS63308679A JPS63308679A JP62144012A JP14401287A JPS63308679A JP S63308679 A JPS63308679 A JP S63308679A JP 62144012 A JP62144012 A JP 62144012A JP 14401287 A JP14401287 A JP 14401287A JP S63308679 A JPS63308679 A JP S63308679A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は隆線紋様を有する指紋等を識別する際に使用す
る隆線紋様の隆線方向検出装置に関する。
る隆線紋様の隆線方向検出装置に関する。
従来より、指紋の様な多数の隆線が縞状になっている隆
線紋様の識別装置は各種提案実施されている。最近では
特公昭５９−２７９４５号公報に縞紋様方向決定装置が
開示されている。この公報においては画像を離散化した
その最小単位の絵素を任意に指定し、その指定された絵
素を中心として放射状方向に順次絵素の濃淡値を読み出
し、以前読み出した絵素との差の絶対値を異相し、その
異相の極値により方向を算出する方式が開示されている
。
線紋様の識別装置は各種提案実施されている。最近では
特公昭５９−２７９４５号公報に縞紋様方向決定装置が
開示されている。この公報においては画像を離散化した
その最小単位の絵素を任意に指定し、その指定された絵
素を中心として放射状方向に順次絵素の濃淡値を読み出
し、以前読み出した絵素との差の絶対値を異相し、その
異相の極値により方向を算出する方式が開示されている
。
然しなから、この方式では指紋画像の様な隆線が切れて
いたり、隆線がつぶれていたり、また隆線が分岐してい
るといった場合に、方向が算出できない、或いは算出し
にくいという欠点がある。
いたり、隆線がつぶれていたり、また隆線が分岐してい
るといった場合に、方向が算出できない、或いは算出し
にくいという欠点がある。
依って本発明は、指紋の様な隆線の切れや分岐の存在す
る隆線紋様に対しても容易に隆線方向をヰ食出すること
のできる隆線方向検出装置を提供することを目的とする
。
る隆線紋様に対しても容易に隆線方向をヰ食出すること
のできる隆線方向検出装置を提供することを目的とする
。
〔問題点を解決するための手段と作用〕本発明は上記発
明目的に鑑みて、第１図に示す様に、指紋等の隆線紋様
の隆線方向を検出する隆線方向検出装置であって、前記
隆線紋様の濃淡画像を複数の画素に分割し、この複数の
画素の各画素を夫々複数段階の濃淡値のうち一つの濃淡
値として順次記憶する画像記憶手段と、隣接した複数個
の画素の集合から成る各単位エリアにおいて予め選定し
た複数の方向における夫々の方向毎に一群の濃淡平均値
を求める画素列平均濃淡値算出手段と、前記各方向毎に
前記濃淡平均値群における各平均値間の差の最大値を算
出して各方向毎に対応した差の最大値の一群を求める濃
淡差最大値算出手段と、この各方向毎に対応した濃淡差
最大値の一群の中から最大の値を選出して、該最大値に
対応した特定の方向を選出する最大値方向選出手段とを
具備して、前記各単位エリアにおける隆線紋様の隆線方
向を決定することを特徴とする隆線紋様の隆線方向検出
装置を提供する。
明目的に鑑みて、第１図に示す様に、指紋等の隆線紋様
の隆線方向を検出する隆線方向検出装置であって、前記
隆線紋様の濃淡画像を複数の画素に分割し、この複数の
画素の各画素を夫々複数段階の濃淡値のうち一つの濃淡
値として順次記憶する画像記憶手段と、隣接した複数個
の画素の集合から成る各単位エリアにおいて予め選定し
た複数の方向における夫々の方向毎に一群の濃淡平均値
を求める画素列平均濃淡値算出手段と、前記各方向毎に
前記濃淡平均値群における各平均値間の差の最大値を算
出して各方向毎に対応した差の最大値の一群を求める濃
淡差最大値算出手段と、この各方向毎に対応した濃淡差
最大値の一群の中から最大の値を選出して、該最大値に
対応した特定の方向を選出する最大値方向選出手段とを
具備して、前記各単位エリアにおける隆線紋様の隆線方
向を決定することを特徴とする隆線紋様の隆線方向検出
装置を提供する。
一般には上記最大値方向選出手段により選出された最大
値に対応する特定方向がその単位エリアにおける隆線紋
様の隆線方向であるが、隆線紋様の中心付近や画像にお
ける隆線紋様のない背景部分、画質の不明瞭な所などで
は必ずしも隆線方向を正しく検出するとは限らない。こ
の場合には注目単位エリアに隣接した他の幾つかの単位
エリアにおける上記決定の隆線紋様の隆線方向を使って
一部単位エリアの隆線方向を修正することもある。
値に対応する特定方向がその単位エリアにおける隆線紋
様の隆線方向であるが、隆線紋様の中心付近や画像にお
ける隆線紋様のない背景部分、画質の不明瞭な所などで
は必ずしも隆線方向を正しく検出するとは限らない。こ
の場合には注目単位エリアに隣接した他の幾つかの単位
エリアにおける上記決定の隆線紋様の隆線方向を使って
一部単位エリアの隆線方向を修正することもある。
以下本発明を添付図面に示す実施例に基づいて更に詳細
に説明する。第２図は本発明のハード構成図、第３図（
ａ）、（ｂ）、（Ｃ）は本発明による隆線紋様の隆線方
向検出装置の原理説明図、第４図は隆線方向検出の対象
となる隆線紋様領域の分割図、第５図は画素列の方向の
例示図、第６図（ａ）、（ｂ）は第４図の領域のうちの
一部分である単位エリアに第５図の画素列の方向を適用
した画素列の例示図、第７図は本発明による隆線紋様の
隆線方向検出装置を使用した処理の流れ図である。
に説明する。第２図は本発明のハード構成図、第３図（
ａ）、（ｂ）、（Ｃ）は本発明による隆線紋様の隆線方
向検出装置の原理説明図、第４図は隆線方向検出の対象
となる隆線紋様領域の分割図、第５図は画素列の方向の
例示図、第６図（ａ）、（ｂ）は第４図の領域のうちの
一部分である単位エリアに第５図の画素列の方向を適用
した画素列の例示図、第７図は本発明による隆線紋様の
隆線方向検出装置を使用した処理の流れ図である。
第２図を参照すると、電化結合素子カメラ（ＣＣＤカメ
ラ）１０によって指紋等の隆線紋様を検出し、この紋様
画像をＡ／Ｄ変換装置１２を介して複数（多数）の画素
に分割して、各画素を例えば８ビツトの白黒濃淡情報と
して例えばマイクロコンビ二一夕から成る画像処理装置
１４のデータメモリ１６内にストアする。後述する画像
処理のプログラムはプログラムメモリ１８にストアして
おく。
ラ）１０によって指紋等の隆線紋様を検出し、この紋様
画像をＡ／Ｄ変換装置１２を介して複数（多数）の画素
に分割して、各画素を例えば８ビツトの白黒濃淡情報と
して例えばマイクロコンビ二一夕から成る画像処理装置
１４のデータメモリ１６内にストアする。後述する画像
処理のプログラムはプログラムメモリ１８にストアして
おく。
処理対象画像部を第４図に示す様に矩形にとり、行方向
及び列方向に各々例えば５１２分割する。こうして対象
画像を５１２ Ｘ ５１２個の画素に分割する。
及び列方向に各々例えば５１２分割する。こうして対象
画像を５１２ Ｘ ５１２個の画素に分割する。
この画素の複数個の集合画像、例えば１６ Ｘ １６個
の隣接した画素集合体を基本単位エリアとし、該単位エ
リア毎に紋様画像の隆線方向を決定する。従って３２
Ｘ ３２個の基本単位エリアについて隆線方向を検出す
ることになる。
の隣接した画素集合体を基本単位エリアとし、該単位エ
リア毎に紋様画像の隆線方向を決定する。従って３２
Ｘ ３２個の基本単位エリアについて隆線方向を検出す
ることになる。
上記の単位エリア毎の隆線方向検出装置の作動原理を第
３図（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）を参照してわかり易く説明
する。各図の矩形図は同一単位エリアＵＡを表わし、ま
ず（ａ）図は左右方向ＤＩ、即ち第４図の各行方向に並
んだ画素列Ｓｔ （ｉ＝ｌ。
３図（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）を参照してわかり易く説明
する。各図の矩形図は同一単位エリアＵＡを表わし、ま
ず（ａ）図は左右方向ＤＩ、即ち第４図の各行方向に並
んだ画素列Ｓｔ （ｉ＝ｌ。
２、・・・１６）に注目する。即ち各画素列ＳｉにはＤ
ｌの方向に１６個の画素が並んでおり、この１６個の画
素の各列ＳｉをスリットＳｉと呼ぶことにする゛。この
単位エリアＵＡは隆線紋様のため図示の如く白黒濃淡模
様が生じている。この単位エリアＵＡにつき、ＤＩ力方
向各スリットＳｉ毎に１６個の画素の平均濃淡値を表示
したものが単位エリアＵＡの左側の棒グラフである。他
の（ｂ）図、（ｃ）図については、第５図に画素列の状
態を示す各方向Ｄ２ 、Ｄ３毎の各スリット毎に平均濃
淡値を表示している。各図からも明らかな様に、各方向
ＤＩ、Ｄ２．Ｄ３における各濃淡平均値群での最大値と
最小値との差の最大値Ｄａ 、 Ｄｂ 。
ｌの方向に１６個の画素が並んでおり、この１６個の画
素の各列ＳｉをスリットＳｉと呼ぶことにする゛。この
単位エリアＵＡは隆線紋様のため図示の如く白黒濃淡模
様が生じている。この単位エリアＵＡにつき、ＤＩ力方
向各スリットＳｉ毎に１６個の画素の平均濃淡値を表示
したものが単位エリアＵＡの左側の棒グラフである。他
の（ｂ）図、（ｃ）図については、第５図に画素列の状
態を示す各方向Ｄ２ 、Ｄ３毎の各スリット毎に平均濃
淡値を表示している。各図からも明らかな様に、各方向
ＤＩ、Ｄ２．Ｄ３における各濃淡平均値群での最大値と
最小値との差の最大値Ｄａ 、 Ｄｂ 。
ＤｃではＤｃが最も大きい。このことは方向Ｄ３が単位
エリアＵＡ内の紋様の隆線方向と略一致していることに
起因する。即ちこのＤｃ値に対応した方向Ｄ３を単位エ
リアＵＡ内での隆線方向とするわけである。
エリアＵＡ内の紋様の隆線方向と略一致していることに
起因する。即ちこのＤｃ値に対応した方向Ｄ３を単位エ
リアＵＡ内での隆線方向とするわけである。
以上の隆線方向検出処理を各単位エリア毎に行なう。こ
のため各単位エリアに設けるスリットの方向を例えば第
５図に示すように、Ｄ１〜Ｄ８まで予め設定しておく。
のため各単位エリアに設けるスリットの方向を例えば第
５図に示すように、Ｄ１〜Ｄ８まで予め設定しておく。
隆線紋様の隆線方向を精度よく検出するためには、この
方向群を角度方向に等配的に数多く設定することが望ま
しいが、それは画像処理装置１４（第２図）のメモリ容
量や画素のサイズ等にも依存する。
方向群を角度方向に等配的に数多く設定することが望ま
しいが、それは画像処理装置１４（第２図）のメモリ容
量や画素のサイズ等にも依存する。
上記スリット（画素列）の方向Ｄ１〜Ｄ８までのうち、
ＤＩとＤ５を除く他の６個のスリットを使った処理にお
いては、例えば第６図（ｂ）に示す様に注目している単
位エリアＵＡのみならず周辺の単位スリットの画素をも
使用して各スリットを構成することは一向にさしつかえ
ない。また第４図に示す処理対象画像部の周辺部の処理
においては、スリットの方向によっては画素の存在しな
い所もあり得る。この場合には特殊処理として、架空の
画素に予め定めた濃淡値を適用することはさしつかえな
い。また最外周部の処理を行なわな 。
ＤＩとＤ５を除く他の６個のスリットを使った処理にお
いては、例えば第６図（ｂ）に示す様に注目している単
位エリアＵＡのみならず周辺の単位スリットの画素をも
使用して各スリットを構成することは一向にさしつかえ
ない。また第４図に示す処理対象画像部の周辺部の処理
においては、スリットの方向によっては画素の存在しな
い所もあり得る。この場合には特殊処理として、架空の
画素に予め定めた濃淡値を適用することはさしつかえな
い。また最外周部の処理を行なわな 。
いという方法でもよい。
次に第６図（ａ）の場合の処理を参考にしながら、第７
図に従って本発明による隆線紋様の隆線方向検出装置の
処理の流れを説明する。まずステップ２４と２６におい
ては最初のスリットＳ１に関して画素Ｅ１からＥ１６ま
での１６個の画素の濃淡値を累算する。即ちステップ２
６における所定数はスリット内の画素ＥｊＯ数１６であ
る。こうして１６個の濃淡値を累算した後にステップ２
８において画素数１６で除することにより、平均濃淡値
を算出し、ステップ３０にて第２図に示すデータメモリ
ー６にストアする。ステップ３２における所定数は単位
エリアＵＡ内のスリットＳｉの数１６であり、結局１６
個の平均濃淡値をストアする。次にステップ３４におい
てデータメモリ１６にストアした１６個の平均濃淡値群
を使用してそれらの差の最大値を求め、ステップ３６に
て上述のデータメモリ１６にストアする。ステップ３８
における所定数は第５図に示す方向Ｄ１〜Ｄ８の合計数
８であり、同一の単位エリアＵＡに対してステップ２４
からステップ３６までの処理を各方向毎に８回繰り返す
。こうしてステップ４０において、８個の方向Ｄ１〜Ｄ
８の各々に対応した最大濃淡差群の中から最大値を選出
し、該最大値に対応した特定の方向をステップ４２にお
いてデータメモリ１６にストアする。
図に従って本発明による隆線紋様の隆線方向検出装置の
処理の流れを説明する。まずステップ２４と２６におい
ては最初のスリットＳ１に関して画素Ｅ１からＥ１６ま
での１６個の画素の濃淡値を累算する。即ちステップ２
６における所定数はスリット内の画素ＥｊＯ数１６であ
る。こうして１６個の濃淡値を累算した後にステップ２
８において画素数１６で除することにより、平均濃淡値
を算出し、ステップ３０にて第２図に示すデータメモリ
ー６にストアする。ステップ３２における所定数は単位
エリアＵＡ内のスリットＳｉの数１６であり、結局１６
個の平均濃淡値をストアする。次にステップ３４におい
てデータメモリ１６にストアした１６個の平均濃淡値群
を使用してそれらの差の最大値を求め、ステップ３６に
て上述のデータメモリ１６にストアする。ステップ３８
における所定数は第５図に示す方向Ｄ１〜Ｄ８の合計数
８であり、同一の単位エリアＵＡに対してステップ２４
からステップ３６までの処理を各方向毎に８回繰り返す
。こうしてステップ４０において、８個の方向Ｄ１〜Ｄ
８の各々に対応した最大濃淡差群の中から最大値を選出
し、該最大値に対応した特定の方向をステップ４２にお
いてデータメモリ１６にストアする。
以上の処理を各単位エリアＵＡ毎に行ない、全ての単位
エリアＵＡについて処理が終わると、即ち本実施例では
３２ Ｘ ３２個の単位エリアの処理が終わるとステッ
プ４４により全ての処理が終了する。
エリアＵＡについて処理が終わると、即ち本実施例では
３２ Ｘ ３２個の単位エリアの処理が終わるとステッ
プ４４により全ての処理が終了する。
実際には各単位エリア毎の上記データメモリ１６にスト
アされた３２ Ｘ ３２個の方向、即ち隆線方向をプロ
ッタを使用して図面出力させたり、その他必要に応じて
加工出力させる。
アされた３２ Ｘ ３２個の方向、即ち隆線方向をプロ
ッタを使用して図面出力させたり、その他必要に応じて
加工出力させる。
次に第８図には他の実施例としての本発明による隆線紋
様の隆線方向検出装置を図示している。
様の隆線方向検出装置を図示している。
画像記憶部５０は図示していないＣＯＤカメラやＡ／Ｄ
変換装置を通して指紋等の画像を例えば５１２ Ｘ ５
１２個の画素として各画素毎に濃淡値を対応させてスト
アする。演算部５４は画像記憶部５０より画素続出回路
５２を介して読み出された画素の濃淡値を加算等演算処
理して隆線方向を算出する。比較部５６は画像記憶部５
０より読み出された画素数をカウントし、所定数になれ
ば前記演算部５４のバッファ回路に加算結果等を出力す
る。所定数以下であれば画素位置決定部５８に信号を出
力する。この画素位置決定部５８は前記比較部５６から
の入力又は画像記憶部５０への初期画像入力によって画
像記憶部５０から読み出す画素の位置を決定し、画素続
出回路５２に画素位置情報を送出する。こうして画像記
憶部５０より画素を読み出し、前記演算部５４に画素の
濃淡値を送出する。
変換装置を通して指紋等の画像を例えば５１２ Ｘ ５
１２個の画素として各画素毎に濃淡値を対応させてスト
アする。演算部５４は画像記憶部５０より画素続出回路
５２を介して読み出された画素の濃淡値を加算等演算処
理して隆線方向を算出する。比較部５６は画像記憶部５
０より読み出された画素数をカウントし、所定数になれ
ば前記演算部５４のバッファ回路に加算結果等を出力す
る。所定数以下であれば画素位置決定部５８に信号を出
力する。この画素位置決定部５８は前記比較部５６から
の入力又は画像記憶部５０への初期画像入力によって画
像記憶部５０から読み出す画素の位置を決定し、画素続
出回路５２に画素位置情報を送出する。こうして画像記
憶部５０より画素を読み出し、前記演算部５４に画素の
濃淡値を送出する。
以下では隆線方向の決定手順を詳述する。画像記憶部５
０に画像情報が入力すると同時に初期値設定回路８０に
はこの画像入力があったという信号が送入される。第４
図から第６図までを合わせて参照し、例えば単位エリア
が（行、列）＝ （１゜１）からスタートする。初期値
設定回路８０によって位置決定回路８２の位置情報は初
期化される。
０に画像情報が入力すると同時に初期値設定回路８０に
はこの画像入力があったという信号が送入される。第４
図から第６図までを合わせて参照し、例えば単位エリア
が（行、列）＝ （１゜１）からスタートする。初期値
設定回路８０によって位置決定回路８２の位置情報は初
期化される。
即ち、単位エリアＵＡ（１，１）、方向Ｄ１、スリット
Ｓｌ、画素Ｅｌの位置情報が設定され、画素続出回路５
２に位置情報を送出する。こうして画像記憶部５０から
上記の画素Ｅ１の濃淡値を読み出して加算回路６０に入
力すると同時に同方向比較回路７４にてカウントされる
。
Ｓｌ、画素Ｅｌの位置情報が設定され、画素続出回路５
２に位置情報を送出する。こうして画像記憶部５０から
上記の画素Ｅ１の濃淡値を読み出して加算回路６０に入
力すると同時に同方向比較回路７４にてカウントされる
。
加算回路６０に入力した画素Ｅ１の濃淡情報はバッファ
回路６２に一時スドアされる。１スリツトの画素数は本
実施例では１６である。上記同方向比較回路７４のカウ
ント値は今は１であるため１６以下である旨の信号を位
置決定回路８２へ送信する。そこでこの位置決定回路８
２は画素続出回路５２へ次の画素Ｅ２の濃淡値を読み出
す旨の信号を送信する。こうして画素Ｅ２の濃淡値はバ
ッファ回路６２に一時スドアされている画素Ｅ１の濃淡
値と加算されて再びバッファ回路６２に一時スドアされ
る。そして同方向比較回路７４のカウント値は２となる
０以上の処理を画素Ｅ１６の濃淡値を加算するまで繰り
返すと同方向比較回路７４のカウント値が１６となり、
同方向比較回路７４はバッファ回路６２に記憶された画
素ＥｌからＥｌ６までの濃淡値の合計値を割算回路６４
に送出させてバッファ回路６２の値はクリアされる。
回路６２に一時スドアされる。１スリツトの画素数は本
実施例では１６である。上記同方向比較回路７４のカウ
ント値は今は１であるため１６以下である旨の信号を位
置決定回路８２へ送信する。そこでこの位置決定回路８
２は画素続出回路５２へ次の画素Ｅ２の濃淡値を読み出
す旨の信号を送信する。こうして画素Ｅ２の濃淡値はバ
ッファ回路６２に一時スドアされている画素Ｅ１の濃淡
値と加算されて再びバッファ回路６２に一時スドアされ
る。そして同方向比較回路７４のカウント値は２となる
０以上の処理を画素Ｅ１６の濃淡値を加算するまで繰り
返すと同方向比較回路７４のカウント値が１６となり、
同方向比較回路７４はバッファ回路６２に記憶された画
素ＥｌからＥｌ６までの濃淡値の合計値を割算回路６４
に送出させてバッファ回路６２の値はクリアされる。
割算回路６４に入力された前記合計値は１６で割算され
、平均値としてバッファ回路６６にストアされる。
、平均値としてバッファ回路６６にストアされる。
同時に次方向比較回路７６に信号が入力されてカウント
値が１となる。そして移動回路８４へ信号を送信し、こ
れによりこの移動回路８４は位置決定回路８２ヘスリツ
トＳ２へ移動する信号を送信する。こうして位置情報は
単位エリア（１、１）、方向Ｄ１、スリットＳ２、画素
Ｅ１に設定される。
値が１となる。そして移動回路８４へ信号を送信し、こ
れによりこの移動回路８４は位置決定回路８２ヘスリツ
トＳ２へ移動する信号を送信する。こうして位置情報は
単位エリア（１、１）、方向Ｄ１、スリットＳ２、画素
Ｅ１に設定される。
この後は上述と同様の処理を繰り返し、スリットＳ２の
１６個の画素（ＥｌからＥｌ６）の濃淡値の平均値をバ
ッファ回路６６ヘストアする。こうしてスリンｌ−３１
６まで繰り返すと次方向比較回路７６のカウント値が１
６になり、バッファ回路６６にストアされている１６個
のスリット（Ｓｌから３１６）の平均濃淡値を最大最小
算出回路６８に送出させ、その最大値と最小値との差を
バッファ回路７０にストアする。
１６個の画素（ＥｌからＥｌ６）の濃淡値の平均値をバ
ッファ回路６６ヘストアする。こうしてスリンｌ−３１
６まで繰り返すと次方向比較回路７６のカウント値が１
６になり、バッファ回路６６にストアされている１６個
のスリット（Ｓｌから３１６）の平均濃淡値を最大最小
算出回路６８に送出させ、その最大値と最小値との差を
バッファ回路７０にストアする。
そして全方向比較回路７８に信号が送信されてカウント
値が１となる。そして方向決定回路８６へ信号を送信し
、これにより次の方向Ｄ２についての処理を行なうよう
位置決定回路８２へ信号を送信する。こうして位置情報
は単位エリア（１゜１）、方向Ｄ２、スリットＳｔ、画
素Ｅｌ（第６図（ｂ）参照）に設定される。上述した方
向Ｄ１に対する処理と同様の処理を行ない、この方向Ｄ
２に対する各スリット（ＳＬから８１６）の平均濃淡値
の差の最大値をバッファ回路７０にストアする。この処
理を方向Ｄ３ 、Ｄ４ 、Ｄ５ 、Ｄ６ 。
値が１となる。そして方向決定回路８６へ信号を送信し
、これにより次の方向Ｄ２についての処理を行なうよう
位置決定回路８２へ信号を送信する。こうして位置情報
は単位エリア（１゜１）、方向Ｄ２、スリットＳｔ、画
素Ｅｌ（第６図（ｂ）参照）に設定される。上述した方
向Ｄ１に対する処理と同様の処理を行ない、この方向Ｄ
２に対する各スリット（ＳＬから８１６）の平均濃淡値
の差の最大値をバッファ回路７０にストアする。この処
理を方向Ｄ３ 、Ｄ４ 、Ｄ５ 、Ｄ６ 。
Ｄｌ、及びＤ８まで行なうと、全方向比較回路７８のカ
ウント値は８となり、バッファ回路７０にストアされた
８方向（ＤｌからＤ８）の各最大差の濃淡情報を隆線方
向決定回路７２へ送出する。
ウント値は８となり、バッファ回路７０にストアされた
８方向（ＤｌからＤ８）の各最大差の濃淡情報を隆線方
向決定回路７２へ送出する。
この最大差群の中から最大の値を選出し、これに対する
方向が隆線方向である。そしてカウント値はクリアされ
、エリア決定回路８８へ信号を送信し、次の単位エリア
に関する処理を行なうよう位置決定回路８２へ信号を送
信する。こうして位置情報は、例えば単位エリア（１、
２） 、方向Ｄｉ、スリットｓ １．画素Ｅ１に設定さ
れ、上記と同様の処理を繰り返し、全ての単位エリアに
ついて処理してゆく。
方向が隆線方向である。そしてカウント値はクリアされ
、エリア決定回路８８へ信号を送信し、次の単位エリア
に関する処理を行なうよう位置決定回路８２へ信号を送
信する。こうして位置情報は、例えば単位エリア（１、
２） 、方向Ｄｉ、スリットｓ １．画素Ｅ１に設定さ
れ、上記と同様の処理を繰り返し、全ての単位エリアに
ついて処理してゆく。
以上では単位エリアは１６ Ｘ １６の画素の集合とし
ているが、例えば１６×８等の様に縦、横の方向の画素
数は同じである必要はない。
ているが、例えば１６×８等の様に縦、横の方向の画素
数は同じである必要はない。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、処理
対象領域を機械的に複数の画素に分割して、幾つかの画
素の集合領域毎に各種方向スリットの平均的濃淡値を使
用して、単純な加減乗除算を施すか、大小比較（加減算
に相当）を行なうだけで隆線紋様の隆線方向を検出でき
、隆線の切れやつぶれ等の影響を受けにくく隆線方向を
正しく検出できると共に、検出装置も簡単である。
対象領域を機械的に複数の画素に分割して、幾つかの画
素の集合領域毎に各種方向スリットの平均的濃淡値を使
用して、単純な加減乗除算を施すか、大小比較（加減算
に相当）を行なうだけで隆線紋様の隆線方向を検出でき
、隆線の切れやつぶれ等の影響を受けにくく隆線方向を
正しく検出できると共に、検出装置も簡単である。
第１図は本発明の機能構成図、第２図は本発明による装
置をマイクロコンピュータを使用して構成した場合の構
成図、第３図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は本発明による隆
線紋様の隆線方向検出装置の原理説明図、第４図は隆線
方向検出対象となる領域の分割図、第５図は画素列（ス
リット）の８方向の例示図、第６図（ａ）、 （ｂ）は
第４図の領域のうちの一部分である単位エリアに第５図
の画素列の方向を適用した画素列の例示図、第７図は第
２図のマイクロコンピュータを使用した場合の処理の流
れ図、第８図は本発明による装置の他の実施図。 １０・・・ＣＣＤカメラ、 １２・・・Ａ／Ｄ変換装置、 １４・・・マイクロコンピュータ（画像処理装置）、Ｄ
ｌ、Ｄ２・・・、Ｄ８・・・スリットの方向、Ｅｊ・・
・画素、 Ｓｉ・・・スリット（画素列）、Ｕ
Ａ・・・単位エリア。
置をマイクロコンピュータを使用して構成した場合の構
成図、第３図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は本発明による隆
線紋様の隆線方向検出装置の原理説明図、第４図は隆線
方向検出対象となる領域の分割図、第５図は画素列（ス
リット）の８方向の例示図、第６図（ａ）、 （ｂ）は
第４図の領域のうちの一部分である単位エリアに第５図
の画素列の方向を適用した画素列の例示図、第７図は第
２図のマイクロコンピュータを使用した場合の処理の流
れ図、第８図は本発明による装置の他の実施図。 １０・・・ＣＣＤカメラ、 １２・・・Ａ／Ｄ変換装置、 １４・・・マイクロコンピュータ（画像処理装置）、Ｄ
ｌ、Ｄ２・・・、Ｄ８・・・スリットの方向、Ｅｊ・・
・画素、 Ｓｉ・・・スリット（画素列）、Ｕ
Ａ・・・単位エリア。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、指紋等の隆線紋様の隆線方向を検出する隆線方向検
出装置であって、前記隆線紋様の濃淡画像を複数の画素
に分割し、この複数の画素の各画素を夫々複数段階の濃
淡値のうち一つの濃淡値として順次記憶する画像記憶手
段と、隣接した複数個の画素の集合から成る各単位エリ
アにおいて予め選定した複数の方向における夫々の方向
毎に一群の濃淡平均値を求める画素列平均濃淡値算出手
段と、前記各方向毎に前記濃淡平均値群における各平均
値間の差の最大値を算出して各方向毎に対応した差の最
大値の一群を求める濃淡差最大値算出手段と、この各方
向毎に対応した濃淡差最大値の一群の中から最大の値を
選出して該最大値に対応した特定の方向を選出する最大
値方向選出手段とを具備して、前記各単位エリアにおけ
る隆線紋様の隆線方向を決定することを特徴とする隆線
紋様の隆線方向検出装置。 ２、前記濃淡値が白黒明度による濃淡値から成る特許請
求の範囲第１項に記載の隆線紋様の隆線方向検出装置。 ３、前記予め選定した複数の方向が、互いに略等角度ず
つ離隔して成る特許請求の範囲第１項に記載の隆線紋様
の隆線方向検出装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62144012A JPS63308679A (ja) | 1987-06-11 | 1987-06-11 | 隆線紋様の隆線方向検出装置 |
| AU16988/88A AU613635B2 (en) | 1987-06-11 | 1988-06-02 | Apparatus for detecting pattern of crest line |
| CA000568567A CA1301341C (en) | 1987-06-11 | 1988-06-03 | Apparatus for detecting pattern of crest line |
| EP19880108880 EP0294716A3 (en) | 1987-06-11 | 1988-06-03 | Apparatus for detecting pattern of crest line |
| US07/202,282 US4953228A (en) | 1987-06-11 | 1988-06-03 | Apparatus for detecting pattern of crest line |
| KR1019880007019A KR890000990A (ko) | 1987-06-11 | 1988-06-11 | 크레스트 라인의 패턴 검출용 장치 |
| CN88103499A CN1016096B (zh) | 1987-06-11 | 1988-06-11 | 检测凸纹线形状的装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62144012A JPS63308679A (ja) | 1987-06-11 | 1987-06-11 | 隆線紋様の隆線方向検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63308679A true JPS63308679A (ja) | 1988-12-16 |
Family
ID=15352266
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62144012A Pending JPS63308679A (ja) | 1987-06-11 | 1987-06-11 | 隆線紋様の隆線方向検出装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4953228A (ja) |
| EP (1) | EP0294716A3 (ja) |
| JP (1) | JPS63308679A (ja) |
| KR (1) | KR890000990A (ja) |
| CN (1) | CN1016096B (ja) |
| AU (1) | AU613635B2 (ja) |
| CA (1) | CA1301341C (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0696012A2 (en) | 1994-06-21 | 1996-02-07 | Nec Corporation | Apparatus for and method of determining ridge direction patterns |
| KR100825773B1 (ko) * | 2005-08-23 | 2008-04-28 | 삼성전자주식회사 | 방향 추정 방법 및 장치 |
| US7769206B2 (en) | 2004-03-04 | 2010-08-03 | Nec Corporation | Finger/palm print image processing system and finger/palm print image processing method |
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| US6889903B1 (en) | 1988-08-31 | 2005-05-10 | Intermec Ip Corp. | Method and apparatus for optically reading information |
| US6681994B1 (en) | 1988-08-31 | 2004-01-27 | Intermec Ip Corp. | Method and apparatus for optically reading information |
| US6688523B1 (en) | 1988-08-31 | 2004-02-10 | Intermec Ip Corp. | System for reading optical indicia |
| AU7496391A (en) * | 1990-01-22 | 1991-08-05 | James O. Gouge | Image pattern extraction |
| US5267328A (en) * | 1990-01-22 | 1993-11-30 | Gouge James O | Method for selecting distinctive pattern information from a pixel generated image |
| JPH0415774A (ja) * | 1990-05-02 | 1992-01-21 | Eastman Kodak Japan Kk | バーコードリーダ |
| JPH04252383A (ja) * | 1990-07-27 | 1992-09-08 | Ezel Inc | 指紋撮影装置 |
| US5261008A (en) * | 1990-08-07 | 1993-11-09 | Yozan, Inc. | Fingerprint verification method |
| EP0470530B1 (en) * | 1990-08-07 | 1997-01-22 | Yozan Inc. | Fingerprint verification method |
| US5124537A (en) * | 1990-10-29 | 1992-06-23 | Omniplanar, Inc. | Omnidirectional bar code reader using virtual scan of video raster scan memory |
| EP0567680B1 (en) * | 1992-04-30 | 1999-09-22 | International Business Machines Corporation | Pattern recognition and validation, especially for hand-written signatures |
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| DE19818229A1 (de) * | 1998-04-24 | 1999-10-28 | Hauke Rudolf | System zur berührungslosen Hand- und Fingerlinien-Erkennung |
| US6373984B1 (en) * | 1999-03-16 | 2002-04-16 | Indigo Medical Incorporated | System and method for detecting patterns or objects in a digital image |
| JP4586746B2 (ja) * | 2006-02-27 | 2010-11-24 | 日本電気株式会社 | 指紋照合装置、指紋パタンエリア抽出装置および品質判定装置、並びにその方法およびプログラム |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1599243A (ja) * | 1968-12-12 | 1970-07-15 | ||
| US3979722A (en) * | 1974-05-31 | 1976-09-07 | Nippon Electric Company, Ltd. | Automatic character recognition device employing dynamic programming |
| US3993888A (en) * | 1974-10-29 | 1976-11-23 | Calspan Corporation | Scanning line filter |
| US4468807A (en) * | 1980-07-03 | 1984-08-28 | Palmguard, Inc. | Method for analyzing stored image details |
| JPS5851388A (ja) * | 1981-09-22 | 1983-03-26 | Ricoh Co Ltd | 方向コ−ド割付け方法 |
| EP0098152B1 (en) * | 1982-06-28 | 1988-12-28 | Nec Corporation | Method and device for matching fingerprints |
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| US4723297A (en) * | 1984-09-27 | 1988-02-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for automatic correction of character skew in the acquisition of a text original in the form of digital scan results |
| CA1258710A (en) * | 1985-07-06 | 1989-08-22 | Youko Yamaguchi | Pattern recognition apparatus |
| JPS62125481A (ja) * | 1985-11-26 | 1987-06-06 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | パタ−ン認識装置 |
| JP3045870B2 (ja) * | 1992-04-23 | 2000-05-29 | 住友電気工業株式会社 | 光スイッチの製造方法 |
-
1987
- 1987-06-11 JP JP62144012A patent/JPS63308679A/ja active Pending
-
1988
- 1988-06-02 AU AU16988/88A patent/AU613635B2/en not_active Ceased
- 1988-06-03 US US07/202,282 patent/US4953228A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-06-03 EP EP19880108880 patent/EP0294716A3/en not_active Withdrawn
- 1988-06-03 CA CA000568567A patent/CA1301341C/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-06-11 CN CN88103499A patent/CN1016096B/zh not_active Expired
- 1988-06-11 KR KR1019880007019A patent/KR890000990A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US5717786A (en) * | 1994-06-21 | 1998-02-10 | Nec Corporation | Apparatus for determining ridge direction patterns |
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| KR100825773B1 (ko) * | 2005-08-23 | 2008-04-28 | 삼성전자주식회사 | 방향 추정 방법 및 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1030297A (zh) | 1989-01-11 |
| CA1301341C (en) | 1992-05-19 |
| EP0294716A3 (en) | 1991-05-08 |
| KR890000990A (ko) | 1989-03-17 |
| AU613635B2 (en) | 1991-08-08 |
| AU1698888A (en) | 1988-12-15 |
| EP0294716A2 (en) | 1988-12-14 |
| US4953228A (en) | 1990-08-28 |
| CN1016096B (zh) | 1992-04-01 |
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