JPS63215904A - 光変位計によるマ−キング線検出方法 - Google Patents
光変位計によるマ−キング線検出方法Info
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- JPS63215904A JPS63215904A JP4766187A JP4766187A JPS63215904A JP S63215904 A JPS63215904 A JP S63215904A JP 4766187 A JP4766187 A JP 4766187A JP 4766187 A JP4766187 A JP 4766187A JP S63215904 A JPS63215904 A JP S63215904A
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- JP
- Japan
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- displacement meter
- marking line
- aperture
- optical displacement
- laser beam
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- Pending
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 24
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 6
- 235000015250 liver sausages Nutrition 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
この発明は、例えばレーザビーム等を用いてワークを切
断加工する装置のティーチングデータ入力時に使用され
る光変位計によるマーキング線検出方法、特に検出感度
を調整できるマーキング線検出方法に関するものである
。
断加工する装置のティーチングデータ入力時に使用され
る光変位計によるマーキング線検出方法、特に検出感度
を調整できるマーキング線検出方法に関するものである
。
［従来の技術］
第２図は例えば特願昭５９−８１９１５号の第４図に示
され、光変位計がワークの表面状態およびワークまでの
距離を検出する仕方を説明する図である。
され、光変位計がワークの表面状態およびワークまでの
距離を検出する仕方を説明する図である。
図において、（１）は光変位計、（２）はこの光変位計
（１）が内蔵する半導体レーザ（図示しない）から出力
されたレーザ光、（３）はワーク、（３＾）はこのワー
ク（３）の表面に設けられたマーキング線例えばワーク
表面に貼付されたテープ、（４）はワーク（３）上に投
射された光スポットである。なお、この光スポット（４
）の受光像は光変位計（１〉によって受光され、内蔵す
る諸口路（図示しない）によって処理される。このよう
な光変位計（１）は、矢印方向に定速で移動させられる
と、ワーク（３）の表面の状態を検出する信号ＶＬＤお
よび光変位計〈１）からワーク（３）の表面までの距離
である高さｈを検出する信号ＶＨを出力する。なお、表
面状態検出信号ＶＬＤは、それぞれワーク（３）、テー
プ（３＾）から光変位計（１）への光の入射量の相違に
より、テーブク３八）が存在する所では高レベルのマー
キング線検出信号Ｂを生じる。また、高さ検出信号ｖＨ
は、光変位計（１）がワーク（３）に対して一定の高さ
ｈで移動させられるので、はぼ一定レベルの信号になる
。
（１）が内蔵する半導体レーザ（図示しない）から出力
されたレーザ光、（３）はワーク、（３＾）はこのワー
ク（３）の表面に設けられたマーキング線例えばワーク
表面に貼付されたテープ、（４）はワーク（３）上に投
射された光スポットである。なお、この光スポット（４
）の受光像は光変位計（１〉によって受光され、内蔵す
る諸口路（図示しない）によって処理される。このよう
な光変位計（１）は、矢印方向に定速で移動させられる
と、ワーク（３）の表面の状態を検出する信号ＶＬＤお
よび光変位計〈１）からワーク（３）の表面までの距離
である高さｈを検出する信号ＶＨを出力する。なお、表
面状態検出信号ＶＬＤは、それぞれワーク（３）、テー
プ（３＾）から光変位計（１）への光の入射量の相違に
より、テーブク３八）が存在する所では高レベルのマー
キング線検出信号Ｂを生じる。また、高さ検出信号ｖＨ
は、光変位計（１）がワーク（３）に対して一定の高さ
ｈで移動させられるので、はぼ一定レベルの信号になる
。
［発明が解決しようとする問題点］
ところが、このような光変位計（１）を用いてテープ（
３＾）を検出するに当なり、ワーク（３）に投射される
光スポット（４）の大きさとテープ（３＾）の幅との間
に相関関係があることはよく知られている。
３＾）を検出するに当なり、ワーク（３）に投射される
光スポット（４）の大きさとテープ（３＾）の幅との間
に相関関係があることはよく知られている。
すなわち、第３Δ図に示すようにテープ（３＾）の幅に
比べて光スポット（４）のスポット径が大きい（４＾）
時には第３Ｃ図に示すように表面状態検出信号ＶＬＤの
ピーク値Ｐ４Ａは下がるが、第３Ｂ図に示すように光ス
ポットく４）のスポット径が小さい（４Ｂ）時には第３
Ｃ図に示すように表面状態検出信号ＶＬＤのピーク値Ｐ
４Ｂは上がる傾向がある。従って、テープ（３＾）を検
出するには、後者の方が有利である。
比べて光スポット（４）のスポット径が大きい（４＾）
時には第３Ｃ図に示すように表面状態検出信号ＶＬＤの
ピーク値Ｐ４Ａは下がるが、第３Ｂ図に示すように光ス
ポットく４）のスポット径が小さい（４Ｂ）時には第３
Ｃ図に示すように表面状態検出信号ＶＬＤのピーク値Ｐ
４Ｂは上がる傾向がある。従って、テープ（３＾）を検
出するには、後者の方が有利である。
しかしながら、第３Ｄ図に示すように光スポット（４）
のスポット径が極度に小さい（４Ｃ）と、光スポット（
４）の反射光がテープ（３八）の高さの影響を受け、す
なわちテープ（３＾）の角でさえぎられて光変位計（１
）は受光量不足になり、そのため測定不能になったり、
ワーク表面のこまかい傷のために不要な信号を生じたり
するという問題点があった。
のスポット径が極度に小さい（４Ｃ）と、光スポット（
４）の反射光がテープ（３八）の高さの影響を受け、す
なわちテープ（３＾）の角でさえぎられて光変位計（１
）は受光量不足になり、そのため測定不能になったり、
ワーク表面のこまかい傷のために不要な信号を生じたり
するという問題点があった。
そこで、この発明はこのような問題点を解決するために
なされたもので、光スポットのスポット径を選択するこ
とによりマーキング線の検出感度を容易に調整できる、
光変位計によるマーキング線検出方法を得ることを目的
とする。
なされたもので、光スポットのスポット径を選択するこ
とによりマーキング線の検出感度を容易に調整できる、
光変位計によるマーキング線検出方法を得ることを目的
とする。
［問題点を解決するための手段］
この発明の光変位計によるマーキング線検出方法は、光
変位計のレーザ光投射側の前部に、所定の大きさと形状
のアパーチャーを有する板を設けたものである。
変位計のレーザ光投射側の前部に、所定の大きさと形状
のアパーチャーを有する板を設けたものである。
［作用コ
この発明においては、光スポットの大きさ、形状がアパ
ーチャーのそれぞれ大きさ、形状に対応するので、光ス
ポットの大きさ、スポット径、光量および径を容易に調
整できる。
ーチャーのそれぞれ大きさ、形状に対応するので、光ス
ポットの大きさ、スポット径、光量および径を容易に調
整できる。
［実施例］
第１図はこの発明の光変位計によるマーキング線検出方
法の一実施例を説明する図であり、図において（１）は
光変位計、（５）はこの光変位計（１）のレーザ光投射
側の前部に設けられた板であって、この板（５）の中央
には所定の大きさと形状のアパーチャー（５＾）が設け
られている。
法の一実施例を説明する図であり、図において（１）は
光変位計、（５）はこの光変位計（１）のレーザ光投射
側の前部に設けられた板であって、この板（５）の中央
には所定の大きさと形状のアパーチャー（５＾）が設け
られている。
この発明では、アパーチャー（５＾）を通過したレーザ
光［第２図中の（２）］により、ワーク［第２図中の（
３）］の表面に設けられたマーキング線すなわちテープ
［第２図中の（３＾）］を検出する。
光［第２図中の（２）］により、ワーク［第２図中の（
３）］の表面に設けられたマーキング線すなわちテープ
［第２図中の（３＾）］を検出する。
なお、所定の大きさと形状のアパーチャー（５＾）を有
する板（５）は、別な大きさと形状のアパーチャーを有
する板（図示しない）と交換され得る１例えば、ワーク
（３）の表面が傷などでいたんだような場合は、大きな
アパーチャーを有する板を用いて検出感度を下げること
ができる。
する板（５）は、別な大きさと形状のアパーチャーを有
する板（図示しない）と交換され得る１例えば、ワーク
（３）の表面が傷などでいたんだような場合は、大きな
アパーチャーを有する板を用いて検出感度を下げること
ができる。
［発明の効果］
以上のように、この発明によれば、光変位計のレーザ光
投射側の前部に、所定の大きさと形状のアパーチャーを
有する板を設けたので、光スポットのスポット径を選択
することによりマーキング線の検出感度を調整できる効
果がある。
投射側の前部に、所定の大きさと形状のアパーチャーを
有する板を設けたので、光スポットのスポット径を選択
することによりマーキング線の検出感度を調整できる効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の一実施例を説明する図、第２図は光
変位計による検出仕方を説明する図、第３八図ないし第
３Ｄ図は従来の技術の問題点を説明する図である。 （１）は光変位計、（２）はレーザ光、（３）はワーク
、（３＾）はテープ、（４）は光スポット、（５）は板
、（５＾）はアパーチャーである。 尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 第１図 第２図 ２ルーザ光 ３、ワーク・ ３Ａ、ラーブ ４ 光スボ９ト 第３Ａ図 第３Ｂ図 第３Ｃ図 第３Ｄ図
変位計による検出仕方を説明する図、第３八図ないし第
３Ｄ図は従来の技術の問題点を説明する図である。 （１）は光変位計、（２）はレーザ光、（３）はワーク
、（３＾）はテープ、（４）は光スポット、（５）は板
、（５＾）はアパーチャーである。 尚、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 第１図 第２図 ２ルーザ光 ３、ワーク・ ３Ａ、ラーブ ４ 光スボ９ト 第３Ａ図 第３Ｂ図 第３Ｃ図 第３Ｄ図
Claims (3)
- （１）光変位計のレーザ光投射側の前部に、所定の大き
さと形状のアパーチャーを有する板を設け、前記アパー
チャーを通過したレーザ光により、ワークの表面に設け
られたマーキング線を検出することを特徴とする光変位
計によるマーキング線検出方法。 - （２）板は、別な大きさと形状のアパーチャーを有する
板と交換されることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の光変位計によるマーキング線検出方法。 - （３）マーキング線は、ワークの表面に貼付されたテー
プであることを特徴とする特許請求の範囲第１項または
第２項記載の光変位計によるマーキング線検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4766187A JPS63215904A (ja) | 1987-03-04 | 1987-03-04 | 光変位計によるマ−キング線検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4766187A JPS63215904A (ja) | 1987-03-04 | 1987-03-04 | 光変位計によるマ−キング線検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63215904A true JPS63215904A (ja) | 1988-09-08 |
Family
ID=12781445
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4766187A Pending JPS63215904A (ja) | 1987-03-04 | 1987-03-04 | 光変位計によるマ−キング線検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63215904A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005315651A (ja) * | 2004-04-27 | 2005-11-10 | Daio Paper Corp | 吸収性物品の付加物の位置検出方法 |
| JP2013503049A (ja) * | 2009-08-27 | 2013-01-31 | コーニング インコーポレイテッド | 精密エッジ仕上げのための装置及び方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6243129A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-25 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ン測定装置 |
-
1987
- 1987-03-04 JP JP4766187A patent/JPS63215904A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6243129A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-25 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ン測定装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005315651A (ja) * | 2004-04-27 | 2005-11-10 | Daio Paper Corp | 吸収性物品の付加物の位置検出方法 |
| JP2013503049A (ja) * | 2009-08-27 | 2013-01-31 | コーニング インコーポレイテッド | 精密エッジ仕上げのための装置及び方法 |
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