JPS63211786A - 半導体レ−ザ素子 - Google Patents

半導体レ−ザ素子

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JPS63211786A JP4493687A JP4493687A JPS63211786A JP S63211786 A JPS63211786 A JP S63211786A JP 4493687 A JP4493687 A JP 4493687A JP 4493687 A JP4493687 A JP 4493687A JP S63211786 A JPS63211786 A JP S63211786A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、半導体レーザ素子に関し、特に素子に流す電
流の大きさを変えることにより、異なる波長のレーザ光
を発する半導体レーザ素子に関する。
〔従来技術〕
近年、光通信や光学的情報処理の分野における、半導体
レーザ素子の需要は急激に増大してきており、それに伴
って素子の機能に対する要求も多様化しつつある。発振
波長が可変な半導体レーザ素子もそのうちの一つである
。例えば、光カードや光ディスク等の媒体にレーザ光を
照射して情報の記録及び再生を行う場合、通常再生光の
出力を記録光よりも低(することによって、再生光によ
る書き込みを防止している。
ここで、波長可変の半導体レーザ素子を用い、再生光の
波長を媒体感度の低い領域に設定すれば、再生光の出力
をそれほど低下させることな(上記書き込みを防止出来
、S/N比の高い情報の再生が可能となる。
上記要求に対して、従来、多重量子井戸(MQW)構造
の高次量子準位を用いた波長可変半導体レーザ素子が提
案されている。第10図は、このような従来の半導体レ
ーザ素子における、発光領域付近のエネルギーバンド図
である。
ここで発光領域23は、ウェル層22とバリア層21と
が交互に積層されたM Q W構造を有している。また
、この発光領域23とバリア層19の両側には、より屈
折率の小さいクラッド層20が設けられ、光導波路構造
24が構成されている。この半導体レーザ素子に電流を
注入すると、まず電子25は、Eo で示すエネルギー
準位に蓄積され、正孔26と再結合することにより、n
=0の量子準位間の光(波長λ、)が発振する。更に注
入電流を増すと、El で示すエネルギー準位のキャリ
ア密度が増し、再結合によってn=1の量子準位間の光
(波長λ2 )が発振する。このようにして、1つの素
子から異なる波長の光を得ることが出来る。
しかしながら、上記従来の波長可変半導体レーザ素子は
、以下の問題点を有していた。
(I)異なる波長で発振させる為には、吸収損失やミラ
ー損失を通常の半導体レーザ素子より大幅に大きくする
必要があり、素子としての効率が悪い。
(n)異なる量子準位を用いているだけなので、発振波
長の差はせいぜい数10nm程度しか得られない。
(■)2つ以上の準位を持つ量子井戸を形成する必要が
ある為、1準位の量子井戸を用いた方が素子の特性が向
上する場合でも、その構成をとり得ない。
〔発明の概要〕
本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決し、波長
可変範囲が広く、高い効率で作動する波長可変半導体レ
ーザ素子を提供することにある。
本発明の上記目的は、異なるバンドギャップを有する半
導体を積層して成り、該積層体中に発光層を含む光導波
路構造を備えた半導体レーザ素子において、同一の光導
波路構造内に、互いに発振波長の異なる複数の発光層を
設けるこ〆によって達成される。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を、図面を用いて詳細に説明する
第1図は、本発明に基づく半導体レーザ素子の一実施例
の構成を示す略断面図である。図中、1はn型GaAs
基板、2はn型GaAsバッファ層、3はn型Aj!G
aAsクラッド層、4は光導波路構造部、5はp型Aj
!GaAsクラッド層、6はp型GaAsキャップ層、
7及び8は電極を示す。また、光導波路構造部4は、前
記クラッド層3上に、順次、p型AfGaAsバリア層
91 、ノンドープGaAs第1発光層10、p型Al
GaAsバリア層11、ノンドープAI!GaAs第2
発光層12及びp型Aj!GaAsバリア層92 が積
層されて成る。
この素子は、通常の半導体製造法、例えば液相エピタキ
シー(LPE)法、有機金属気相成長(MO−CVD)
法或いは分子線エピタキシー(MBE)法を用いて、基
板1上に上記具なるエネルギーギャップを有する種々の
半導体層を成長させることによって作製される。レーザ
共振面は、例えばこのように積層された半導体をへき関
することによって形成される。また、電流狭窄層等、良
く知られた手段によって、共振面と平行な方向に電流注
入域を制限し、ストライプ状の活性領域を形成しても良
い。
第2図は、第1図示の素子の先導波路構造部4付近のエ
ネルギーバンド図である。図中、第1図と同一の部分に
は同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。図に示す
ように、第1発光層10は、第2発光層12に比べて狭
いバンドギャップを有する。第1図に示す電極7,8間
に電流を流すと、電子14は、第1発光層10及び第2
発光層12に注入され、まず第1発光層10中で電子1
4と正孔15との再結合が生じ、波長λ1 の光が誘導
放出される。次に、注入電流を増していくと、第2発光
層12中でも電子14と正孔15との再結合が生じ、波
長λ2の光が誘導放出される。
上記の如き電流−光出力特性の概略を第3図に示す。第
3図において、■は電流、P、、P2はそれぞれ波長λ
1 、λ2 の光の出力を示す。
電流■を増加していくと、まず第1のしきい倍電流I=
1...  で波長λ1 の光が発振し、続いて第2の
しきい倍電流I = I 2.h  で波長λ2の光が
発振する。
次に、本発明の半導体レーザ素子の動作原理を第6図を
用いて説明する。第6図は、第1図示の素子のエネルギ
ーバンドの上半分を示す図で、第2図と同一の部材には
同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。第6図にお
いて、第1発光層10及び第2発光層12中のキャリア
密度を各々nl  及びn2  、注入電流密度をjと
する。また、第2発光層12に注入されたキャリアが、
r2 の速さで自然放出又は非発光性の再結合をし、r
2+の速さで第1発光層10に移り、残りが誘電放出で
再結合するとする。更に、第1発光層に移ったキャリア
が、r、の速さで自然放出又は非発光性の再結合をし、
残りが誘導放出で再結合すると考えると、このときのレ
ート方程式は、e=1の単位を用いて、以下のように表
わされる。
但し、ここで?I%+、11%2 は夫々波長λ、。
λ2 の光の光子エネルギー、S、、S、  は夫々波
長λ1 、λ2 の光のビーム幅、Fl 及びg I(
n +)は夫々波長λ1 の光の第1発光層における閉
じじ込め係数及び利得、r2 及びg 2 (n 2 
)は夫々波長λ2 の光の第2発光層における閉じ込め
係数及び利得、F′2及びg’2(n+)は夫々波長λ
2 の光の第1発光層における閉じ込め係数及び利得を
示す。
上記レート方程式の定常解は、発振時のキャリア密度の
飽和を考慮して、次の3つの領域に分けて得られる。
(i)  P+ =P2 =O(j<j++7)(ii
)  P+ >O,P2=0 (J+th≦j<j2.
h)叩 (iii) P、 >o、 P2 >O(L+h≦j<
j+v)        (s)n+ =n+th  
                     (10)
更に、理解を容易とするために、注入電流密度jに対す
るキャリア密度の変化を第4図に示す。
第1発光層内のキャリア密度n1 は、j−」1、ゎで
飽和する。また、第2発光層内のキャリア密度密度n2
 は、J”J2+h  で飽和する。尚、ここまで、n
1lh  及びn 211 が一定であるかのように議
論したが、実際は微かづつ変化する。しかし、それも考
慮に入れても、注入電流の増加に従って(i)  →(
ii)  → (iii)と状態が変化してい(とに変
わりはない。
第5図に、本発明の半導体レーザ素子の12111〈I
における利得分布を示した。17及び16は夫々第1発
光層10及び第2発光層12の光利得である。
また、第1発光層10.第2発光層12或いはギャップ
層11の厚さや混晶比、ドープ量等を変化させることに
よって、上記λ1 、λ2 。
I llh  +  12+h  等は種々の値に設定
出来る。
尚、本発明の半導体レーザ素子においては、波長λ、の
光も波長λ2 の光も共に光導波路構造部4内で導波さ
れるので、これらの光はレーザ端面のほとんど同じ場所
から射出される。
本発明の如き波長変化の動作は無条件で起こるものでは
ない。以下にその動作条件と、素子の具体的な設計の仕
方を詳述する。
これを説明するための必要な式として、レーザーの発振
条件を書き下しておく。
とおいたとき、 λ、の発振条件: G、 =O(20)λ2 の発振条
件: G2=0        (21)である。但し
、 α1:λ1 の光の損失係数 α2.λ2 の光の損失係数 L:Lo  の共振器長 R:共振器端面の(平均)反射率 である。これを用いて、(22)弐以下の式が導かれる
(a) n1lbとje+、の要式 n + lhとJ++hは、(4) 、 (18)、 
(20)式より、次のように求められる。即ち、 の解としてn1lh  が求まり、 により31+h  が求まる。
(b)λ1 が先に発振する条件(波長可変レーザーと
しての動作条件)  (3) 、 (19)、 (21
)式より、次式が条件になることがわかる。
(C) nz’+hとJ 2th° の要式(5)、 
(6)、 (19)、 (21)式より、の解としてn
21.が求まり、 Js+h =L2  (r2++r2) n2th  
          (26)により、jz+h  が
求まる。
g +(n +)+ gz(n2)の函数形は、活性層
の構造に依存するが、「半導体レーザーと光集積回路」
(米松編著、オーム社、1984)や、rHetero
structure  La5ersJ (Casey
and Pan1sh著、 Academic、 19
78)等に書かれている方法を用いることにより、どん
な構造のときに、どんな函数形になるかどうかを、容易
に計算または実測することができる。λ1.λ2゜rl
+ r2+ r21+ r’l+ I”21 r’2’
+ all (Z2  についても同様である。そのよ
うにして得られた結果を、上記(22)式以下の式に代
入することにより、所望の特性を持たせるための条件が
得られる。
即ち、第2図の各領域でのXの値や、厚さくり、 、 
L2. L、、 L6 等)等のい(つかの組合セニツ
イて、まず、上述の方法で、g+ (n+)+ g2(
ng。
λ1.λ2 ・・・等を求める。その結果を、(22)
式以下の式に代入して、波長可変レーザとして動作する
かどうか((24)式を満たすかどうか)とか、j++
、。
j2.、の値が求まる。そうすれば、Xやり、、L。
・・・等を、どの値にしたときに、所望の特性をもつ波
長可変レーザになるかどうかがわかるわけである。それ
がわかれば、MBE法、MOCVD法やLPE法等を用
いて、通常の半導体レーザーを作成するのと同様の方法
で、容易に作成できる。
−例として、J+lh  の大きさを制御する方法を、
さらに具体的に書くと、J++h  を小さくするには
、(23)式より、L、  を小さくしても良い1し、
r2+を大きくしてもよい。r21を大きくするには、
バリア層11と第2発光層12とのバンドギャップの差
を小さくしてもよいし、バリア層の幅り、を小さくして
もよい。また、先導波路構造部の幅り。を変えてr、を
大きくしても、J+th  を小さくすることができる
他方、J++h  を大きくするには、上記と逆のこと
を行えばよい。
以下に本発明の更に具体的な実施例を示す。
〈実施例1〉 分子線エピタキシー法を用い、第1図に示す構造の半導
体レーザ素子を作製した。まず、n型GaAs基板1上
に、バッファ層2としてn型GaAsを1μm1クラツ
ド層3としてn型(不純物濃度5X1017cm−”)
All!o、t  Gao、sAsを2μmの厚さに成
長させた。次に、このクラッド層3上に、順次バリア層
91+第1発光層10、バリア層11.第2発光層12
.バリア層9□ を成長させた。各々の組成は、第1発
光層10がノンドープGaAS、第2発光層12がノン
ドープA 1 o 、 +  G a o 、 9  
A S 、バリア層9.。
11及び9□ がp型(不純物濃度3X10”cm−3
)Alo、s Gao、t Asとした。また各層の厚
さは第2図の表記でり、 =200人、 L、 =20
0人、L、=80人。
LG=0.1μmとした。更にバリア層92 の上に、
クラッド層5としてp型(不純物濃度) X 10”c
m−3)AI!o、t Gao、s Asを1.5μm
1キヤツプ層6と層92 近くまでエツチングし、スト
ライプ状の凸状領域を形成した後、誘電体層でマスキン
グして、エツチングされていないキャップ層6の上部の
みに接触するよう、電極8を蒸着した。
更に基板1の底面にも電極7を蒸着した。この積層体を
へき開し、レーザ共振面を有する半導体レーザ素子を作
製した。
この素子に、電流を徐々に増加させながら注入したとこ
ろ、110mAで波長870nmのレーザ光が出射し、
120mAでそれに加えて波長800nmのレーザ光が
出射した。
本発明は以上説明した実施例に限らず種々の応用が可能
である。例えば、第7図或いは第8図に示すように、第
1発光層10..10□ 及び第2発光層12..12
□ を各々複数段けることによって、光出力を増大させ
ても良いし、第9図のように、波長λ、の光を発する第
3発光層18を設けて3波長のレーザとしても良い。
また、同様にして4波長以上のレーザを構成することも
出来る。更に、前述の実施例ではAn!GaAs系の半
導体レーザ素子を示したが、本発明はInGaAsP系
等、どのような材料のレーザにも適用が可能である。尚
、第7図〜第9図において、11..11□ 、113
 はバリア層を示し、その他第2図と同一の部分には同
一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の半導体レーザ素子は、従
来の可変波長半導体レーザ素子に比べ、波長可変範囲を
広げ、発光効率を向上させる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体レーザ素子の一実施例を示す略
断面図、第2図は第1図示の素子のエネルギーバンド図
、第3図は第1図示の素子における電流−光出力特性を
示す図、第4図は第1図示の素子における注入電流密度
に対する発光層内、のキャリア密度の変化を示す図、第
5図は第1図示の素子における光利得特性を示す図、第
6図は第1図示の素子の動作原理を説明する為のエネル
ギーバンド図、第7図乃至第9図は夫々本発明の変形例
を示すエネルギーバンド図、第10図は従来の波長可変
半導体レーザ素子を示すエネルギーバンド図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)異なるバンドギャップを有する半導体を積層して
    成り、該積層体中に発光層を含む光導波路構造を備えた
    半導体レーザ素子において、前記同一の光導波路構造内
    に、互いに発振波長の異なる複数の発光層を設けたこと
    を特徴とする半導体レーザ素子。
JP62044936A 1987-02-27 1987-02-27 半導体レ−ザ素子 Expired - Lifetime JPH0728093B2 (ja)

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EP88102756A EP0280281B1 (en) 1987-02-27 1988-02-24 Variable oscillation wavelength semiconductor laser device
US07/511,921 US4982408A (en) 1987-02-27 1990-04-16 Variable oscillation wavelength semiconduction laser device

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