JPS63211786A - 半導体レ−ザ素子 - Google Patents
半導体レ−ザ素子Info
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- JPS63211786A JPS63211786A JP4493687A JP4493687A JPS63211786A JP S63211786 A JPS63211786 A JP S63211786A JP 4493687 A JP4493687 A JP 4493687A JP 4493687 A JP4493687 A JP 4493687A JP S63211786 A JPS63211786 A JP S63211786A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、半導体レーザ素子に関し、特に素子に流す電
流の大きさを変えることにより、異なる波長のレーザ光
を発する半導体レーザ素子に関する。
流の大きさを変えることにより、異なる波長のレーザ光
を発する半導体レーザ素子に関する。
近年、光通信や光学的情報処理の分野における、半導体
レーザ素子の需要は急激に増大してきており、それに伴
って素子の機能に対する要求も多様化しつつある。発振
波長が可変な半導体レーザ素子もそのうちの一つである
。例えば、光カードや光ディスク等の媒体にレーザ光を
照射して情報の記録及び再生を行う場合、通常再生光の
出力を記録光よりも低(することによって、再生光によ
る書き込みを防止している。
レーザ素子の需要は急激に増大してきており、それに伴
って素子の機能に対する要求も多様化しつつある。発振
波長が可変な半導体レーザ素子もそのうちの一つである
。例えば、光カードや光ディスク等の媒体にレーザ光を
照射して情報の記録及び再生を行う場合、通常再生光の
出力を記録光よりも低(することによって、再生光によ
る書き込みを防止している。
ここで、波長可変の半導体レーザ素子を用い、再生光の
波長を媒体感度の低い領域に設定すれば、再生光の出力
をそれほど低下させることな(上記書き込みを防止出来
、S/N比の高い情報の再生が可能となる。
波長を媒体感度の低い領域に設定すれば、再生光の出力
をそれほど低下させることな(上記書き込みを防止出来
、S/N比の高い情報の再生が可能となる。
上記要求に対して、従来、多重量子井戸(MQW)構造
の高次量子準位を用いた波長可変半導体レーザ素子が提
案されている。第10図は、このような従来の半導体レ
ーザ素子における、発光領域付近のエネルギーバンド図
である。
の高次量子準位を用いた波長可変半導体レーザ素子が提
案されている。第10図は、このような従来の半導体レ
ーザ素子における、発光領域付近のエネルギーバンド図
である。
ここで発光領域23は、ウェル層22とバリア層21と
が交互に積層されたM Q W構造を有している。また
、この発光領域23とバリア層19の両側には、より屈
折率の小さいクラッド層20が設けられ、光導波路構造
24が構成されている。この半導体レーザ素子に電流を
注入すると、まず電子25は、Eo で示すエネルギー
準位に蓄積され、正孔26と再結合することにより、n
=0の量子準位間の光(波長λ、)が発振する。更に注
入電流を増すと、El で示すエネルギー準位のキャリ
ア密度が増し、再結合によってn=1の量子準位間の光
(波長λ2 )が発振する。このようにして、1つの素
子から異なる波長の光を得ることが出来る。
が交互に積層されたM Q W構造を有している。また
、この発光領域23とバリア層19の両側には、より屈
折率の小さいクラッド層20が設けられ、光導波路構造
24が構成されている。この半導体レーザ素子に電流を
注入すると、まず電子25は、Eo で示すエネルギー
準位に蓄積され、正孔26と再結合することにより、n
=0の量子準位間の光(波長λ、)が発振する。更に注
入電流を増すと、El で示すエネルギー準位のキャリ
ア密度が増し、再結合によってn=1の量子準位間の光
(波長λ2 )が発振する。このようにして、1つの素
子から異なる波長の光を得ることが出来る。
しかしながら、上記従来の波長可変半導体レーザ素子は
、以下の問題点を有していた。
、以下の問題点を有していた。
(I)異なる波長で発振させる為には、吸収損失やミラ
ー損失を通常の半導体レーザ素子より大幅に大きくする
必要があり、素子としての効率が悪い。
ー損失を通常の半導体レーザ素子より大幅に大きくする
必要があり、素子としての効率が悪い。
(n)異なる量子準位を用いているだけなので、発振波
長の差はせいぜい数10nm程度しか得られない。
長の差はせいぜい数10nm程度しか得られない。
(■)2つ以上の準位を持つ量子井戸を形成する必要が
ある為、1準位の量子井戸を用いた方が素子の特性が向
上する場合でも、その構成をとり得ない。
ある為、1準位の量子井戸を用いた方が素子の特性が向
上する場合でも、その構成をとり得ない。
本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決し、波長
可変範囲が広く、高い効率で作動する波長可変半導体レ
ーザ素子を提供することにある。
可変範囲が広く、高い効率で作動する波長可変半導体レ
ーザ素子を提供することにある。
本発明の上記目的は、異なるバンドギャップを有する半
導体を積層して成り、該積層体中に発光層を含む光導波
路構造を備えた半導体レーザ素子において、同一の光導
波路構造内に、互いに発振波長の異なる複数の発光層を
設けるこ〆によって達成される。
導体を積層して成り、該積層体中に発光層を含む光導波
路構造を備えた半導体レーザ素子において、同一の光導
波路構造内に、互いに発振波長の異なる複数の発光層を
設けるこ〆によって達成される。
以下、本発明の実施例を、図面を用いて詳細に説明する
。
。
第1図は、本発明に基づく半導体レーザ素子の一実施例
の構成を示す略断面図である。図中、1はn型GaAs
基板、2はn型GaAsバッファ層、3はn型Aj!G
aAsクラッド層、4は光導波路構造部、5はp型Aj
!GaAsクラッド層、6はp型GaAsキャップ層、
7及び8は電極を示す。また、光導波路構造部4は、前
記クラッド層3上に、順次、p型AfGaAsバリア層
91 、ノンドープGaAs第1発光層10、p型Al
GaAsバリア層11、ノンドープAI!GaAs第2
発光層12及びp型Aj!GaAsバリア層92 が積
層されて成る。
の構成を示す略断面図である。図中、1はn型GaAs
基板、2はn型GaAsバッファ層、3はn型Aj!G
aAsクラッド層、4は光導波路構造部、5はp型Aj
!GaAsクラッド層、6はp型GaAsキャップ層、
7及び8は電極を示す。また、光導波路構造部4は、前
記クラッド層3上に、順次、p型AfGaAsバリア層
91 、ノンドープGaAs第1発光層10、p型Al
GaAsバリア層11、ノンドープAI!GaAs第2
発光層12及びp型Aj!GaAsバリア層92 が積
層されて成る。
この素子は、通常の半導体製造法、例えば液相エピタキ
シー(LPE)法、有機金属気相成長(MO−CVD)
法或いは分子線エピタキシー(MBE)法を用いて、基
板1上に上記具なるエネルギーギャップを有する種々の
半導体層を成長させることによって作製される。レーザ
共振面は、例えばこのように積層された半導体をへき関
することによって形成される。また、電流狭窄層等、良
く知られた手段によって、共振面と平行な方向に電流注
入域を制限し、ストライプ状の活性領域を形成しても良
い。
シー(LPE)法、有機金属気相成長(MO−CVD)
法或いは分子線エピタキシー(MBE)法を用いて、基
板1上に上記具なるエネルギーギャップを有する種々の
半導体層を成長させることによって作製される。レーザ
共振面は、例えばこのように積層された半導体をへき関
することによって形成される。また、電流狭窄層等、良
く知られた手段によって、共振面と平行な方向に電流注
入域を制限し、ストライプ状の活性領域を形成しても良
い。
第2図は、第1図示の素子の先導波路構造部4付近のエ
ネルギーバンド図である。図中、第1図と同一の部分に
は同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。図に示す
ように、第1発光層10は、第2発光層12に比べて狭
いバンドギャップを有する。第1図に示す電極7,8間
に電流を流すと、電子14は、第1発光層10及び第2
発光層12に注入され、まず第1発光層10中で電子1
4と正孔15との再結合が生じ、波長λ1 の光が誘導
放出される。次に、注入電流を増していくと、第2発光
層12中でも電子14と正孔15との再結合が生じ、波
長λ2の光が誘導放出される。
ネルギーバンド図である。図中、第1図と同一の部分に
は同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。図に示す
ように、第1発光層10は、第2発光層12に比べて狭
いバンドギャップを有する。第1図に示す電極7,8間
に電流を流すと、電子14は、第1発光層10及び第2
発光層12に注入され、まず第1発光層10中で電子1
4と正孔15との再結合が生じ、波長λ1 の光が誘導
放出される。次に、注入電流を増していくと、第2発光
層12中でも電子14と正孔15との再結合が生じ、波
長λ2の光が誘導放出される。
上記の如き電流−光出力特性の概略を第3図に示す。第
3図において、■は電流、P、、P2はそれぞれ波長λ
1 、λ2 の光の出力を示す。
3図において、■は電流、P、、P2はそれぞれ波長λ
1 、λ2 の光の出力を示す。
電流■を増加していくと、まず第1のしきい倍電流I=
1... で波長λ1 の光が発振し、続いて第2の
しきい倍電流I = I 2.h で波長λ2の光が
発振する。
1... で波長λ1 の光が発振し、続いて第2の
しきい倍電流I = I 2.h で波長λ2の光が
発振する。
次に、本発明の半導体レーザ素子の動作原理を第6図を
用いて説明する。第6図は、第1図示の素子のエネルギ
ーバンドの上半分を示す図で、第2図と同一の部材には
同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。第6図にお
いて、第1発光層10及び第2発光層12中のキャリア
密度を各々nl 及びn2 、注入電流密度をjと
する。また、第2発光層12に注入されたキャリアが、
r2 の速さで自然放出又は非発光性の再結合をし、r
2+の速さで第1発光層10に移り、残りが誘電放出で
再結合するとする。更に、第1発光層に移ったキャリア
が、r、の速さで自然放出又は非発光性の再結合をし、
残りが誘導放出で再結合すると考えると、このときのレ
ート方程式は、e=1の単位を用いて、以下のように表
わされる。
用いて説明する。第6図は、第1図示の素子のエネルギ
ーバンドの上半分を示す図で、第2図と同一の部材には
同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。第6図にお
いて、第1発光層10及び第2発光層12中のキャリア
密度を各々nl 及びn2 、注入電流密度をjと
する。また、第2発光層12に注入されたキャリアが、
r2 の速さで自然放出又は非発光性の再結合をし、r
2+の速さで第1発光層10に移り、残りが誘電放出で
再結合するとする。更に、第1発光層に移ったキャリア
が、r、の速さで自然放出又は非発光性の再結合をし、
残りが誘導放出で再結合すると考えると、このときのレ
ート方程式は、e=1の単位を用いて、以下のように表
わされる。
但し、ここで?I%+、11%2 は夫々波長λ、。
λ2 の光の光子エネルギー、S、、S、 は夫々波
長λ1 、λ2 の光のビーム幅、Fl 及びg I(
n +)は夫々波長λ1 の光の第1発光層における閉
じじ込め係数及び利得、r2 及びg 2 (n 2
)は夫々波長λ2 の光の第2発光層における閉じ込め
係数及び利得、F′2及びg’2(n+)は夫々波長λ
2 の光の第1発光層における閉じ込め係数及び利得を
示す。
長λ1 、λ2 の光のビーム幅、Fl 及びg I(
n +)は夫々波長λ1 の光の第1発光層における閉
じじ込め係数及び利得、r2 及びg 2 (n 2
)は夫々波長λ2 の光の第2発光層における閉じ込め
係数及び利得、F′2及びg’2(n+)は夫々波長λ
2 の光の第1発光層における閉じ込め係数及び利得を
示す。
上記レート方程式の定常解は、発振時のキャリア密度の
飽和を考慮して、次の3つの領域に分けて得られる。
飽和を考慮して、次の3つの領域に分けて得られる。
(i) P+ =P2 =O(j<j++7)(ii
) P+ >O,P2=0 (J+th≦j<j2.
h)叩 (iii) P、 >o、 P2 >O(L+h≦j<
j+v) (s)n+ =n+th
(10)
更に、理解を容易とするために、注入電流密度jに対す
るキャリア密度の変化を第4図に示す。
) P+ >O,P2=0 (J+th≦j<j2.
h)叩 (iii) P、 >o、 P2 >O(L+h≦j<
j+v) (s)n+ =n+th
(10)
更に、理解を容易とするために、注入電流密度jに対す
るキャリア密度の変化を第4図に示す。
第1発光層内のキャリア密度n1 は、j−」1、ゎで
飽和する。また、第2発光層内のキャリア密度密度n2
は、J”J2+h で飽和する。尚、ここまで、n
1lh 及びn 211 が一定であるかのように議
論したが、実際は微かづつ変化する。しかし、それも考
慮に入れても、注入電流の増加に従って(i) →(
ii) → (iii)と状態が変化してい(とに変
わりはない。
飽和する。また、第2発光層内のキャリア密度密度n2
は、J”J2+h で飽和する。尚、ここまで、n
1lh 及びn 211 が一定であるかのように議
論したが、実際は微かづつ変化する。しかし、それも考
慮に入れても、注入電流の増加に従って(i) →(
ii) → (iii)と状態が変化してい(とに変
わりはない。
第5図に、本発明の半導体レーザ素子の12111〈I
における利得分布を示した。17及び16は夫々第1発
光層10及び第2発光層12の光利得である。
における利得分布を示した。17及び16は夫々第1発
光層10及び第2発光層12の光利得である。
また、第1発光層10.第2発光層12或いはギャップ
層11の厚さや混晶比、ドープ量等を変化させることに
よって、上記λ1 、λ2 。
層11の厚さや混晶比、ドープ量等を変化させることに
よって、上記λ1 、λ2 。
I llh + 12+h 等は種々の値に設定
出来る。
出来る。
尚、本発明の半導体レーザ素子においては、波長λ、の
光も波長λ2 の光も共に光導波路構造部4内で導波さ
れるので、これらの光はレーザ端面のほとんど同じ場所
から射出される。
光も波長λ2 の光も共に光導波路構造部4内で導波さ
れるので、これらの光はレーザ端面のほとんど同じ場所
から射出される。
本発明の如き波長変化の動作は無条件で起こるものでは
ない。以下にその動作条件と、素子の具体的な設計の仕
方を詳述する。
ない。以下にその動作条件と、素子の具体的な設計の仕
方を詳述する。
これを説明するための必要な式として、レーザーの発振
条件を書き下しておく。
条件を書き下しておく。
とおいたとき、
λ、の発振条件: G、 =O(20)λ2 の発振条
件: G2=0 (21)である。但し
、 α1:λ1 の光の損失係数 α2.λ2 の光の損失係数 L:Lo の共振器長 R:共振器端面の(平均)反射率 である。これを用いて、(22)弐以下の式が導かれる
。
件: G2=0 (21)である。但し
、 α1:λ1 の光の損失係数 α2.λ2 の光の損失係数 L:Lo の共振器長 R:共振器端面の(平均)反射率 である。これを用いて、(22)弐以下の式が導かれる
。
(a) n1lbとje+、の要式
n + lhとJ++hは、(4) 、 (18)、
(20)式より、次のように求められる。即ち、 の解としてn1lh が求まり、 により31+h が求まる。
(20)式より、次のように求められる。即ち、 の解としてn1lh が求まり、 により31+h が求まる。
(b)λ1 が先に発振する条件(波長可変レーザーと
しての動作条件) (3) 、 (19)、 (21
)式より、次式が条件になることがわかる。
しての動作条件) (3) 、 (19)、 (21
)式より、次式が条件になることがわかる。
(C) nz’+hとJ 2th° の要式(5)、
(6)、 (19)、 (21)式より、の解としてn
21.が求まり、 Js+h =L2 (r2++r2) n2th
(26)により、jz+h が
求まる。
(6)、 (19)、 (21)式より、の解としてn
21.が求まり、 Js+h =L2 (r2++r2) n2th
(26)により、jz+h が
求まる。
g +(n +)+ gz(n2)の函数形は、活性層
の構造に依存するが、「半導体レーザーと光集積回路」
(米松編著、オーム社、1984)や、rHetero
structure La5ersJ (Casey
and Pan1sh著、 Academic、 19
78)等に書かれている方法を用いることにより、どん
な構造のときに、どんな函数形になるかどうかを、容易
に計算または実測することができる。λ1.λ2゜rl
+ r2+ r21+ r’l+ I”21 r’2’
+ all (Z2 についても同様である。そのよ
うにして得られた結果を、上記(22)式以下の式に代
入することにより、所望の特性を持たせるための条件が
得られる。
の構造に依存するが、「半導体レーザーと光集積回路」
(米松編著、オーム社、1984)や、rHetero
structure La5ersJ (Casey
and Pan1sh著、 Academic、 19
78)等に書かれている方法を用いることにより、どん
な構造のときに、どんな函数形になるかどうかを、容易
に計算または実測することができる。λ1.λ2゜rl
+ r2+ r21+ r’l+ I”21 r’2’
+ all (Z2 についても同様である。そのよ
うにして得られた結果を、上記(22)式以下の式に代
入することにより、所望の特性を持たせるための条件が
得られる。
即ち、第2図の各領域でのXの値や、厚さくり、 、
L2. L、、 L6 等)等のい(つかの組合セニツ
イて、まず、上述の方法で、g+ (n+)+ g2(
ng。
L2. L、、 L6 等)等のい(つかの組合セニツ
イて、まず、上述の方法で、g+ (n+)+ g2(
ng。
λ1.λ2 ・・・等を求める。その結果を、(22)
式以下の式に代入して、波長可変レーザとして動作する
かどうか((24)式を満たすかどうか)とか、j++
、。
式以下の式に代入して、波長可変レーザとして動作する
かどうか((24)式を満たすかどうか)とか、j++
、。
j2.、の値が求まる。そうすれば、Xやり、、L。
・・・等を、どの値にしたときに、所望の特性をもつ波
長可変レーザになるかどうかがわかるわけである。それ
がわかれば、MBE法、MOCVD法やLPE法等を用
いて、通常の半導体レーザーを作成するのと同様の方法
で、容易に作成できる。
長可変レーザになるかどうかがわかるわけである。それ
がわかれば、MBE法、MOCVD法やLPE法等を用
いて、通常の半導体レーザーを作成するのと同様の方法
で、容易に作成できる。
−例として、J+lh の大きさを制御する方法を、
さらに具体的に書くと、J++h を小さくするには
、(23)式より、L、 を小さくしても良い1し、
r2+を大きくしてもよい。r21を大きくするには、
バリア層11と第2発光層12とのバンドギャップの差
を小さくしてもよいし、バリア層の幅り、を小さくして
もよい。また、先導波路構造部の幅り。を変えてr、を
大きくしても、J+th を小さくすることができる
。
さらに具体的に書くと、J++h を小さくするには
、(23)式より、L、 を小さくしても良い1し、
r2+を大きくしてもよい。r21を大きくするには、
バリア層11と第2発光層12とのバンドギャップの差
を小さくしてもよいし、バリア層の幅り、を小さくして
もよい。また、先導波路構造部の幅り。を変えてr、を
大きくしても、J+th を小さくすることができる
。
他方、J++h を大きくするには、上記と逆のこと
を行えばよい。
を行えばよい。
以下に本発明の更に具体的な実施例を示す。
〈実施例1〉
分子線エピタキシー法を用い、第1図に示す構造の半導
体レーザ素子を作製した。まず、n型GaAs基板1上
に、バッファ層2としてn型GaAsを1μm1クラツ
ド層3としてn型(不純物濃度5X1017cm−”)
All!o、t Gao、sAsを2μmの厚さに成
長させた。次に、このクラッド層3上に、順次バリア層
91+第1発光層10、バリア層11.第2発光層12
.バリア層9□ を成長させた。各々の組成は、第1発
光層10がノンドープGaAS、第2発光層12がノン
ドープA 1 o 、 + G a o 、 9
A S 、バリア層9.。
体レーザ素子を作製した。まず、n型GaAs基板1上
に、バッファ層2としてn型GaAsを1μm1クラツ
ド層3としてn型(不純物濃度5X1017cm−”)
All!o、t Gao、sAsを2μmの厚さに成
長させた。次に、このクラッド層3上に、順次バリア層
91+第1発光層10、バリア層11.第2発光層12
.バリア層9□ を成長させた。各々の組成は、第1発
光層10がノンドープGaAS、第2発光層12がノン
ドープA 1 o 、 + G a o 、 9
A S 、バリア層9.。
11及び9□ がp型(不純物濃度3X10”cm−3
)Alo、s Gao、t Asとした。また各層の厚
さは第2図の表記でり、 =200人、 L、 =20
0人、L、=80人。
)Alo、s Gao、t Asとした。また各層の厚
さは第2図の表記でり、 =200人、 L、 =20
0人、L、=80人。
LG=0.1μmとした。更にバリア層92 の上に、
クラッド層5としてp型(不純物濃度) X 10”c
m−3)AI!o、t Gao、s Asを1.5μm
1キヤツプ層6と層92 近くまでエツチングし、スト
ライプ状の凸状領域を形成した後、誘電体層でマスキン
グして、エツチングされていないキャップ層6の上部の
みに接触するよう、電極8を蒸着した。
クラッド層5としてp型(不純物濃度) X 10”c
m−3)AI!o、t Gao、s Asを1.5μm
1キヤツプ層6と層92 近くまでエツチングし、スト
ライプ状の凸状領域を形成した後、誘電体層でマスキン
グして、エツチングされていないキャップ層6の上部の
みに接触するよう、電極8を蒸着した。
更に基板1の底面にも電極7を蒸着した。この積層体を
へき開し、レーザ共振面を有する半導体レーザ素子を作
製した。
へき開し、レーザ共振面を有する半導体レーザ素子を作
製した。
この素子に、電流を徐々に増加させながら注入したとこ
ろ、110mAで波長870nmのレーザ光が出射し、
120mAでそれに加えて波長800nmのレーザ光が
出射した。
ろ、110mAで波長870nmのレーザ光が出射し、
120mAでそれに加えて波長800nmのレーザ光が
出射した。
本発明は以上説明した実施例に限らず種々の応用が可能
である。例えば、第7図或いは第8図に示すように、第
1発光層10..10□ 及び第2発光層12..12
□ を各々複数段けることによって、光出力を増大させ
ても良いし、第9図のように、波長λ、の光を発する第
3発光層18を設けて3波長のレーザとしても良い。
である。例えば、第7図或いは第8図に示すように、第
1発光層10..10□ 及び第2発光層12..12
□ を各々複数段けることによって、光出力を増大させ
ても良いし、第9図のように、波長λ、の光を発する第
3発光層18を設けて3波長のレーザとしても良い。
また、同様にして4波長以上のレーザを構成することも
出来る。更に、前述の実施例ではAn!GaAs系の半
導体レーザ素子を示したが、本発明はInGaAsP系
等、どのような材料のレーザにも適用が可能である。尚
、第7図〜第9図において、11..11□ 、113
はバリア層を示し、その他第2図と同一の部分には同
一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
出来る。更に、前述の実施例ではAn!GaAs系の半
導体レーザ素子を示したが、本発明はInGaAsP系
等、どのような材料のレーザにも適用が可能である。尚
、第7図〜第9図において、11..11□ 、113
はバリア層を示し、その他第2図と同一の部分には同
一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
以上説明したように、本発明の半導体レーザ素子は、従
来の可変波長半導体レーザ素子に比べ、波長可変範囲を
広げ、発光効率を向上させる効果を有する。
来の可変波長半導体レーザ素子に比べ、波長可変範囲を
広げ、発光効率を向上させる効果を有する。
第1図は本発明の半導体レーザ素子の一実施例を示す略
断面図、第2図は第1図示の素子のエネルギーバンド図
、第3図は第1図示の素子における電流−光出力特性を
示す図、第4図は第1図示の素子における注入電流密度
に対する発光層内、のキャリア密度の変化を示す図、第
5図は第1図示の素子における光利得特性を示す図、第
6図は第1図示の素子の動作原理を説明する為のエネル
ギーバンド図、第7図乃至第9図は夫々本発明の変形例
を示すエネルギーバンド図、第10図は従来の波長可変
半導体レーザ素子を示すエネルギーバンド図である。
断面図、第2図は第1図示の素子のエネルギーバンド図
、第3図は第1図示の素子における電流−光出力特性を
示す図、第4図は第1図示の素子における注入電流密度
に対する発光層内、のキャリア密度の変化を示す図、第
5図は第1図示の素子における光利得特性を示す図、第
6図は第1図示の素子の動作原理を説明する為のエネル
ギーバンド図、第7図乃至第9図は夫々本発明の変形例
を示すエネルギーバンド図、第10図は従来の波長可変
半導体レーザ素子を示すエネルギーバンド図である。
Claims (1)
- (1)異なるバンドギャップを有する半導体を積層して
成り、該積層体中に発光層を含む光導波路構造を備えた
半導体レーザ素子において、前記同一の光導波路構造内
に、互いに発振波長の異なる複数の発光層を設けたこと
を特徴とする半導体レーザ素子。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62044936A JPH0728093B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 半導体レ−ザ素子 |
DE3850139T DE3850139T2 (de) | 1987-02-27 | 1988-02-24 | Halbleiterlaser mit variabler Oszillationswellenlänge. |
EP88102756A EP0280281B1 (en) | 1987-02-27 | 1988-02-24 | Variable oscillation wavelength semiconductor laser device |
US07/511,921 US4982408A (en) | 1987-02-27 | 1990-04-16 | Variable oscillation wavelength semiconduction laser device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62044936A JPH0728093B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 半導体レ−ザ素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63211786A true JPS63211786A (ja) | 1988-09-02 |
JPH0728093B2 JPH0728093B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=12705365
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62044936A Expired - Lifetime JPH0728093B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 半導体レ−ザ素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0728093B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0290583A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-30 | Canon Inc | 多波長半導体レーザ装置 |
JPH02111091A (ja) * | 1988-10-20 | 1990-04-24 | Canon Inc | 多波長半導体レーザ装置 |
EP0863589A1 (fr) * | 1997-03-04 | 1998-09-09 | Thomson-Csf | Laser unipolaire multi-longueurs d'ondes |
-
1987
- 1987-02-27 JP JP62044936A patent/JPH0728093B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
CW MULTIWAVELENGTH TRANSVERSE-JUNCTION-STRIPE LASERS GROWN BY MOLECULAR BEAM EPITAXY OPERATING PREDOMINANTLY IN SINGLE-LONGITUDIAL MODES=1980 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0290583A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-30 | Canon Inc | 多波長半導体レーザ装置 |
JPH02111091A (ja) * | 1988-10-20 | 1990-04-24 | Canon Inc | 多波長半導体レーザ装置 |
EP0863589A1 (fr) * | 1997-03-04 | 1998-09-09 | Thomson-Csf | Laser unipolaire multi-longueurs d'ondes |
FR2760574A1 (fr) * | 1997-03-04 | 1998-09-11 | Thomson Csf | Laser unipolaire multi-longueurs d'ondes |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0728093B2 (ja) | 1995-03-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |