JPS63127436A - 光学ピツクアツプ装置 - Google Patents

光学ピツクアツプ装置

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JPS63127436A
JPS63127436A JP61272416A JP27241686A JPS63127436A JP S63127436 A JPS63127436 A JP S63127436A JP 61272416 A JP61272416 A JP 61272416A JP 27241686 A JP27241686 A JP 27241686A JP S63127436 A JPS63127436 A JP S63127436A
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analyzer
optical
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明を以下の順序で説明する。
Ａ　産業上の利用分野 Ｂ　発明の概要 Ｃ従来の技術 Ｄ　発明が解決しようとする問題点 Ｅ　問題点を解決するための手段 Ｆ作用 Ｇ　実施例 Ｇ−１全体構成及び動作（第１図〜第３図）Ｇ−２光検
出ユニット及び信号処理部の具体構成例（第４図） Ｇ−３変形例 Ｈ発明の効果 Ａ　産業上の利用分野 本発明は、光ビームを対物レンズを通じて記録媒体に入
射させるとともに記録媒体からの反射光ビームを光検出
部に導いて、光検出部から、記録媒体に記録された情報
の読取出力を得る光学ピックアップ装置に関する。
Ｂ　発明の概要 本発明は、光ビーム発生源からの光ビームを対物レンズ
を通じて記録媒体に集束状態をもって入射させ、記録媒
体からの反射光ビームを対物レンズを通じて光検出部に
導き、光検出部から検出出力に基づいて、記録媒体に記
録された情報についての読取情報信号を得る光学ピンク
アップ装置において、対物レンズと光検出部との間の光
路上に、夫々水晶で形成された第１のプリズムと第２の
プリズムとが貼り合わされて構成されて、対物レンズを
経た反射光ビームが第１のプリズムから入射して第２の
プリズムに至るものとされ、入射する反射光ビームに基
づく少なくとも３本の光ビームを第２のプリズムから出
射させる検光子を配し、さらに、光検出部を、検光子か
ら出射する３木の光ビームを夫々検出する複数の光検出
素子が内蔵された光検出ユニットをもって形成すること
により、光学部品点数が少とされ、かつ、必要容積が縮
小されて、構成が比較的簡単で小型化を図ることができ
るものとされ、しかも、各光検出素子の設定調整が容易
なものとされる光学路構成をもって、光検出ユニットの
出力に基づき、読取情報信号とトラッキング・サーボコ
ントロールやフォーカス・サーボコントロール等のサー
ボコントロールに用いられるサーボ・エラー信号とを得
ることができるようにしたものである。
Ｃ従来の技術 情報記録媒体としてのディスクにおいて、完成されたデ
ィスクとして形成された後に、光ビームを用いて情報の
書込み、消去及び読取りを行うことができる、所謂、書
込可能光ディスクが提案されている。このような書込可
能光ディスクのうち、情報の書込み及び消去を反復して
行えるものとして、通常、光磁気ディスクと称されるも
のがある。
斯かる光磁気ディスクは、基板の面上に記録層を形成す
る垂直磁化膜が設けられ、さらに、その垂直磁化膜が保
護層によって覆われた構造を有し、全体が円板状に形成
されたものとなされる。そして、情報の消去及び新たな
情報の占込みが行われて情報記録がなされ、また書き込
まれた情報の読取りが行われて情報再生がなされる。
このような光磁気ディスクに対する情報の書込みは、例
えば、その中央部を取り囲む多数の同心円状とされる記
録トラックの夫々の位置における垂直磁化膜が、所定の
外部磁界が作用せしめられたもとで、情報に応じて変調
されたレーザ光ビームによって走査され、それにより所
定のパターンをもって磁化方向反転領域が形成されたも
のとなされることによって行われる。また、各記録トラ
ックは、例えば、トラッキング・サーボコントロール用
のピント等が所定のパターンをもって配列されたものと
される。
一方、光磁気ディスクに書き込まれた情報の読取りがな
されるに際しては、記録トラックにおける垂直磁化膜が
情報の書込み時におけるより小パワーとされたレーザ光
ビームによって走査され、垂直磁化膜からの反射レーザ
光ビームが光検出部によって検出されて、光検出部から
光磁気ディスクに書き込まれた情報に応じた読取信号、
及び、トラッキング・サーボコントロール及びフォーカ
ス・サーボコントロール用のトラッキング・エラー信号
及びフォーカス・エラー信号等が得られるようにされる
。斯かる情報の読取時においては、垂直磁化膜からの反
射レーザ光ビームが、カー効果に基づいて、書き込まれ
た情報に対応する垂直磁化膜における磁化方向反転パタ
ーンに応じた偏光面の回転を生じたものとなる。そして
、この偏光面の回転が、例えば、反射レーザ光ビームに
基づく直交偏光成分、即ち、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分と
の夫々が別個に検出されて比較されることにより検知さ
れ、偏光面の回転に応じた変化を有するものとなる比較
出力に基づいて読取信号が形成される。また、反射レー
ザ光ビームがトラッキング・サーボコントロール用ビッ
ト配列から受ける変化が検出されて、トラッキング・エ
ラー信号が形成され、さらに、例えば、垂直磁化膜から
の反射レーザ光ビームの光検出部上での位置あるいはス
ポット形状が検出されて、フォーカス・エラー信号が形
成される。
光磁気ディスクからの情報再生は、例えば、ディスクプ
レーヤによって行われるが、このため、ディスクプレー
ヤには、光磁気ディスクに形成された各記録トラックか
ら情報を読み取るための光学系を構成する光学ピックア
ップ装置が備えられ。
る。
このような光学ピンクアップ装置の一例は、第５図に簡
略化されて示される如く、半導体レーザ２、対物レンズ
５．光検出器１５等を含む光学系１の全体が、１個のユ
ニットを形成すべく構成されて、同心円状の記録トラッ
クが形成された光磁気ディスク６の半径方向（矢印Ａで
示される方向）に沿って移動できるようにされる。そし
て、半導体レーザ２から発せられるレーザ光ビームが、
コリメータレンズ３において平行ビーム化され、偏光ビ
ームスプリッタ４に、例えば、Ｓ偏光成分として入射し
、偏光ビームスプリッタ４においてその光軸方向が変化
せしめられた後、対物レンズ５を通じて集束状態とされ
たもとで光磁気ディスク６に入射せしめられる。光磁気
ディスク６に入射せしめられたレーザ光ビームは、記録
トランクにおいて、垂直磁化膜における書き込まれた情
報に対応する磁化反転パターンに応じて偏光面の回転を
生じるとともに、トラッキング・サーボコントロール用
ビット配列に応じた変調を受けた状態で反射され、反射
レーザ光ビームとされる。
光磁気ディスク６からの反射レーザ光ビームは、対物レ
ンズ５を介して戻り、偏光ビームスプリッタ４に入射す
る。そして、偏光ビームスプリッタ４をその光軸方向の
変化を生じることなく通過したＰ偏光成分とされた反射
レーザ光ビームが、ビームスプリッタ７に入射し、その
一部がビームスプリッタフにおいてその光軸方向が変化
せしめられ、受光レンズ８を通じてサーボ・エラー検出
用の光検出部９に導かれ、また、他の一部がビームスプ
リッタ７を光軸方向を変化させることなく通過して、位
相補償板１０を介して１７２波長板１１に入射する。
ビームスプリッタ７からの反射レーザ光ビームを受けた
光検出部９は、例えば、反射レーザ光ビームが受けたト
ラッキング・サーボコントロール用ビット配列による変
調に応じた検出出力信号、及び、反射レーザ光ビームの
光検出部９上におけるスポット形状に応じた検出出力信
号を発生してサーボ・エラー信号形成部１２に供給する
。それにより、サーボ・エラー信号形成部１２において
は、光検出部９からの各検出出力信号に基づいて、光磁
気ディスク６に入射せしめられたレーザ光ビームの記録
トラックに対する追従状態をあらゎすトラッキング・エ
ラー信号ｓｔ、及び、光磁気ディスク６に入射せしめら
れたレーザ光ビームの記録トラック上における集束状態
をあられすフォーカス・エラー信号Ｓｆが得られる。こ
れらトラ、２キング・エラー信号Ｓｔ及びフォーカス・
エラー信号Ｓｆは、対物レンズ５に関連して設けられた
、図示が省略されているレンズ駆動機構を作動させて行
われるトラッキング・サーボコントロール及びフォーカ
ス・サーボコントロールに夫々用いられる。
また、ビームスプリッタ７から１７２波長板１１に入射
せしめられた反射レーザ光ビームは、その偏光面が４５
度回転せしめられてウオーラストン・プリズム１３に入
射され、ウオーラストン・プリズム１３において直交偏
光成分、即ち、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分とに分離される
。そして、ウオーラストン・プリズム１３からのＰ偏光
成分とＳ偏光成分とが、受光レンズ１４を通じて、読取
情報検出用の光検出器１５に４かれる。光検出器１５は
、ウオーラストン・プリズム１３で分離されたＰ偏光成
分とＳ偏光成分とを２個の独立した光検出素子によって
別個に検出し、各偏光成分の変化に応じた２つの検出出
力信号を発生して読取情報信号形成部１６に供給する。
それにより、読取情報信号形成部１６においては、光検
出器１５からの２つの検出出力信号が相互比較されるこ
とにより、光磁気ディスク６の垂直磁化膜において反射
レーザ光ビームが受けた偏光面の回転が検出され、その
偏光面の回転に応じた変化を有するものとなる比較出力
に基づいて読取情報信号Ｓｉが形成される。そして、読
取情報信号Ｓｉに基づいて、再生情報が得られる。
Ｄ　発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上述の如くの従来提案されている光学ピ
ックアップ装置においては、読取情報の検出あたってウ
オーラストン・プリズム１３を用いることにより、反射
レーザ光ビームの直交偏光成分の夫々を検出する２個の
光検出素子は、読取情報検出用の光検出器１５内に集合
せしめられたものとされるが、反射レーザ光ビームに基
づいてサーボ・エラーを検出するための光検出素子群を
内蔵したサーボ・エラー検出用の光ネ★出部９を、読取
情報検出用の光検出器１５とは別個に設けることが必要
とされる。このため、光磁気ディスク６からの反射レー
ザ光ビームの光路にビームスプリッタ７が配されて、反
射レーザ光ビームが２分割され、サーボ・エラー検出用
の光検出部９による検出のための光学路と読取情報検出
用の光検出器１５による検出のための光学路とが個別に
形成されている。従って、レンズやビームスプリッタ等
の光学部品が多数使用されることになり、組立工数も多
大とされて、装置がコスト高になるとともに、必要容積
が大とされて、装置全体の小型化を図ることが困難とな
ってしまう。
さらに、読取情報検出用の光検出器１５において、２個
の光検出素子を、ウオーラストン・プリズム１３で分離
された反射レーザ光ビームの直交偏光成分の夫々に正確
に対応させるべく、個々に調整することが必要とされ、
斯かる光検出素子の設定調整に多大な工数が要求される
ことになる不都合もある。
斯かる点に鑑み、本発明は、光ビーム発生源からの光ビ
ームを対物レンズを通じて、光磁気ディスク等の記録媒
体に集束状態をもって入射させ、記録媒体から対物レン
ズを通じて戻る反射光ビームに基づく直交偏光成分を個
別に検出して比較することにより読取情報信号を得ると
ともに、反射光ビームが光磁気ディスクから受ける変化
に基づいて、トラッキング・サーボコントロールやフォ
ーカス・サーボコントロール等のサーボコントロール用
のサーボ・エラー信号を得るにあたり、使用される光学
部品の数が少とされるとともに必要容積が縮小されて、
構成が比較的簡単で小型化を図ることができるものとさ
れ、しかも、各光検出素子の設定調整が容易なものとさ
れる光学路構成をもって、読取情報信号とサーボ・エラ
ー信号とを得ることができるようにされた、光学ピック
アップ装置を提供することを目的とする。
Ｅ　問題点を解決するための手段 上述の目的を達成すべく、本発明に係る光学ピックアッ
プ装置は、光ビーム発生源と、光ビーム発生源からの光
ビームを記録媒体に集束状態をもって入射させるととも
に記録媒体からの反射光ビームを受ける対物レンズと、
光ビーム発生源から対物レンズに入射する光ビームと対
物レンズを経た反射光ビームとを分離するビームスプリ
ッタと、夫々水晶で形成された第１のプリズムと第２の
プリズムとが貼り合わされて構成されて、ビームスブリ
フタからの反射光ビームが第１のプリズムから入射して
第２のプリズムに至る位置に配され、入射する反射光ビ
ームに基づく複数の光ビームを出射させる検光子と、検
光子から出射する複数の光ビームを個々に検出する複数
の光検出素子が内蔵された光検出ユニットとを備えて構
成される。
そして、検光子が、第１のプリズムにおける光学軸が入
射する反射光ビームの光軸に実質的に直交する面内にあ
り、かつ、入射する反射光ビームの偏光面に対して所定
の角度だけ傾いたものとされるとともに、第２のプリズ
ムにおける光学軸が入射する反射光ビームの光軸に実質
的に直交する面内にあり、かつ、第１のプリズムにおけ
る光学軸と所定の角度をなすものとされて、入射する反
射光ビームに基づく少なくとも３本の光ビームを出射さ
せるものとされる。
Ｆ作用 このように構成される本発明に係る光学ピックアップ装
置においては、記録媒体からの反射光ビームが検光子に
入射せしめられて、検光子から出射される３本の光ビー
ムは、そのうちの２本が、検光子に入射する反射光ビー
ムに基づいて得られる直交偏光成分が相互に分離された
ものとされ、また、残りの一本が、検光子に入射する反
射光ビームに基づいて得られる直交偏光成分の両者を含
むものとされる。従って、光検出ユニットに内蔵された
複数の光検出素子からは、これら３本の光ビームが個々
に検出されることにより、記録媒体からの反射光ビーム
に基づく直交偏光成分の夫々の変化に応じた第１及び第
２の検出出力信号が個々に得られるとともに、記録媒体
からの反射光ビームそのものの変化に応じた第３の検出
出力信号が得られることになる。
このようにして得られる第１の検出出力信号と第２の検
出出力信号との比較がなされ、その比較出力がとられる
ことによって読取情報信号が得られ、また、第３の検出
出力信号に基づいて、トラッキング・サーボコントロー
ルやフォーカス・サーボコントロール等のサーボコント
ロール用のサーボ・エラー信号が得られ。
そして、−個の検光子により、記録媒体からの反射、光
ビームに基づく直交偏光成分が相互に分離されて成る２
本と、直交偏光成分の両者を含む１本との合計３木の光
ビームが得られ、それらを個々に検出する複数の光検出
素子が、光検出ユニットに集合せしめられるので、例え
ば、記録媒体からの反射光ビームの光路にビームスプリ
フタを配して反射光ビームを２分割し、サーボ・エラー
検出用の光検出部による検出のための光学路と読取情報
検出用の光検出器による検出のための光学路とを個別に
形成する等のことは必要とされず、また、１７２波長板
も不要とされ、従って、光学系が、使用される光学部品
の数が少とされるとともに必要容積が縮小されて、構成
が比較的簡単で小型化を図ることができるものとされる
。
また、光検出ユニットに集合せしめられる複数の光検出
素子群の設定にあたっては、検光子からの３本の光ビー
ムのうちの特定の１本を検出するものについての調整を
行うことによって、他の２本を検出するものについての
調整も行われることになり、従って、各光検出素子の設
定調整が容易なものとされる。
Ｇ　実施例 Ｇ−１全体構成及び動作（第１図〜第３図）第１図は、
本発明に係る光学ピックアップ装置の一例を示す。
この例は、光磁気ディスクに記録された情報を再生する
に用いられるものとされており、１個のユニットを形成
すべく纏められて、同心円状の記録トラックが形成され
た光磁気ディスク６の半径方向（矢印Ａで示される方向
）に沿って移動できるようにされた光学系２ｏと、この
光学系２ｏに接続された信号処理部３０とで構成されて
いる。
光学系２０においては、前述の第５図に示される光学ピ
ックアップ装置の場合と同等に、半導体レーザ２から発
せられるレーザ光ビームが、コリメータレンズ３におい
て平行ビーム化され、偏光ビームスプリッタ４に、例え
ば、Ｓ偏光成分として入射し、偏光ビームスプリッタ４
においてその光軸方向が変化せしめられて、対物レンズ
５を通じて集束状態とされたもとで光磁気ディスク６に
入射せしめられる。光磁気ディスク６に入射せしめられ
たレーザ光ビームは、記録トランクにおいて、垂直磁化
膜における書き込まれた情報に対応する磁化反転パター
ンに応じて偏光面の回転を生じるとともに、トラッキン
グ・サーボコントロール用ピント配列に応じた変調を受
けた状態で反射され、反射レーザ光ビームとされる。
光磁気ディスク６からの反射レーザ光ビームは、対物レ
ンズ５により受けられ、対物レンズ５を通過して、偏光
ビームスプリッタ４に入射する。そして、偏光ビームス
プリッタ４をその先軸方向の変化を生じることなく通過
したＰ偏光成分とされた反射レーザ光ビームが、位相補
償板１０を介して検光子２１に入射する。検光子２１は
、第１のプリズム２２と第２のプリズム２３とが貼り合
わされて形成され、全体が６面体をなすものとされてお
り、位相補償板ＩＯを介して到来する反射レーザ光ビー
ムが、第１のプリズム２２から入射して、第１のプリズ
ム２２から第２のプリズム２３に至るように配されてい
る。
検光子２１を構成する第１及び第２のプリズム２２及び
２３の夫々は、水晶で形成されており、第２図に示され
る如く、第１のプリズム２２は、入射する反射レーザ光
ビームの光軸方向Ｉに直交する光ビーム入射面２２ａを
有し、また、第２のプリズム２３は、入射する反射レー
ザ光ビームノ光軸方向Ｉに直交する光ビーム出射面２３
ａを有している。これら第１及び第２のプリズム２２及
び２３は、入射する反射レーザ光ビームの光軸方向■に
対して４５度の傾斜角をもった境界面部２１ａを形成し
て貼り合わされている。
そして、第１のプリズム２２における光学軸は、第２図
において矢印０．で示される如く、入射する反射レーザ
光ビームの光軸方向■に実質的に直交する面内にあり、
かつ、入射する反射レーザ光ビームのＰ偏光面（ｙ面内
にある）に対して４５度だけ傾いたものとされている。
また、第２のプリズム２３における光学軸は、第２図に
おいて矢印０□で示される如く、入射する反射レーザ光
ビームの光軸方向■に実質的に直交する面内にあり、か
つ、入射する反射レーザ光ビームのＰ偏光面に対して直
交するものとされている。即ち、第２のプリズム２３に
おける光学軸は、第１のプリズム２２における光学軸に
対して４５度をなすものとされているのである。
斯かる検光子２１においては、それを形成する第１及び
第２のプリズム２２及び２３における光学軸が上述の如
くに選定されることにより、第３図に示される如く、境
界面部２１ａにおいて、第１のプリズム２２の光ビーム
入射面２２ａからそれに直交する光軸方向■を有してＰ
偏光入射する反射レーザ光ビームに基づいて、Ｐ偏光成
分である第１の光ビームが、境界面部２１ａにおける法
線に対してｙ面内において角度θｅをなす光軸方向Ｉｅ
をもって得られ、また、Ｓ偏光成分である第２の光ビー
ムが、境界面部２１ａにおける法線に対してｙ面内にお
いて角度θ０（θ０〉θｅ）をなす光軸方向１ｏをもっ
て得られ、さらに、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分との合成成
分である第３の光ビームが、入射する反射レーザ光ビー
ムと同じ光軸方向■をもって第１の光ビームと第２の光
ビームとの間に得られて、これら相互に分離した第１の
光ビーム、第２の光ビーム及び第３の光ビームの３本の
光ビームが第２のプリズム２２の光ビーム出射面２３ａ
から出射される。
即ち、検光子２１においては、位相補償板１０を介して
Ｐ偏光入射する反射レーザ光ビームに基づいて、Ｐ偏光
成分の光ビームと、Ｓ偏光成分の光ビームと、Ｐ偏光成
分とＳ偏光成分との合成成分の光ビームとの３本の光ビ
ームが相互に分離されて得られるのである。
そして、第１図に示される如くに、上述のようにして検
光子２１から得られるＰ偏光成分である第１の光ビーム
Ｌ、、ｓ偏光成分である第２の光ビームＬ２、及び、Ｐ
偏光成分とＳ偏光成分との合成成分である第３の光ビー
ムＬ、とか、共通の集光レンズ２４を通じて、さらに、
中央に位置する第３の光ビームＬ３はシリンドリカル・
レンズ２５を通じたうえで、光検出ユニット２６に夫々
入射せしめられる。光検出ユニット２６には、検光子２
１から分離されて出射する第１の光ビームＬ、を検出す
る光検出素子、第２の光ビームＬ２を検出する光検出素
子、及び、第３の光ビームＬ３を検出する光検出素子群
が集合せしめられておリ、各光検出素子及び光検出素子
群から、第１の光ビームＬ１の検出出力信号、第２の光
ビームＬ２の検出出力信号、及び、第３の光ビームＬ３
の検出出力信号が夫々得られて、それらが信号処理部３
０に供給される。
信号処理部３０においては、第１の光ビームＬ、の検出
出力信号と第２の光ビームＬ２の検出出力信号とが相互
比較されることにより、光磁気ディスク６の垂直磁化膜
において反射レーザ光ビームが受けた偏光面の回転が検
出され、その偏光面の回転に応じた変化を有するものと
なる比較出力に基づいて読取情報信号Ｓｔが形成される
。そして、斯かる読取情報信号Ｓｉに基づいて、再生情
報が得られる。また、信号処理部３０においては、第３
の光ビームＬ３の検出出力信号に基づいて、反射レーザ
光ビームが光磁気ディスク６に設けられたトラッキング
・サーボコントロール用ピット配列から受ける変化が検
出され、その検出結果に基づく、光磁気ディスク６に入
射せしめられたレーザ光ビームの記録トラックに対する
追従状態をあられすトランキング・エラー信号Ｓｔが形
成され、さらに、例えば、第３の光ビームＬ、のそれを
検出する光検出素子群上でのスポット形状が検出され、
その検出結果に基づく、光磁気ディスク６に入射せしめ
られたレーザ光ビームの記録トランク上における集束状
態をあられすフォーカス・エラー信号Ｓｆが形成される
。これらトラッキング・エラー信号Ｓｔ及びフォーカス
・エラー信号Ｓｆは、対物レンズ５に関連して設けられ
た、図示が省略されているレンズ駆動機構を作動させて
行われるトラッキング・サーボコントロール及びフォー
カス・サーボコントロールに夫々用いられる。
Ｇ−２光検出ユニット及び信号処理部の具体構成例（第
４図） 第４図は、光検出ユニット２６及び信号処理部３０の具
体構成例を示す。
この具体構成例においては、光検出ユニット２６には、
Ｐ偏光成分である第１の光ビームＬ、を検出する光検出
素子２７．８偏光酸分である第２の光ビームＬ、を検出
する光検出素子２８、及び、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分と
の合成成分である第３の光ビームＬ、を検出する光検出
素子群２９が、光検出素子群２９を中央にして配列載置
されており、光検出素子群２９は、４個の光検出素子２
９ａ、２９ｂ、２９ｃ及び２９ｄで構成されている。
そして、これら光検出素子２７．光検出素子２８及び光
検出素子群２９上に、第１の光ビームＬ。
、第２の光ビームＬ２及び第３の光ビームＬ、が夫々入
射せしめられるが、これら光検出素子２７゜光検出素子
２８及び光検出素子群２９に対する、夫々に第１の光ビ
ーム上１．第２の光ビームＬ２及び第３の光ビームＬ３
を適正に入射させるための設定調整にあたっては、光検
出ユニット２６を、中央に位置する光検出素子群２９に
第３の光ビームＬ３が適正に入射する状態となるように
調整することで足り、斯かる調整に伴って、光検出素子
２７及び２８に第１及び第２の光ビームＬ１及びＬ２が
適正に入射する状態が得られる。
光検出素子２７からは検出出力信号Ｒ１が、また、光検
出素子２８からは検出出力信号Ｒ２が得られ、さらに、
光検出素子群２９を形成する光検出素子２９ａ〜２９ｄ
から検出出力信号Ｒａ、Ｒｂ、Ｒｃ及びＲｄが夫々得ら
れて、各検出出力信号が信号処理部３０に供給される。
信号処理部３０においては、光検出素子２７からの検出
出力信号Ｒ３と光検出素子２８からの検出出力信号Ｒ２
とが、夫々、増幅回路３１と増幅回路３２とで増幅され
た後、差動回路３３において比較され、両者の差に応じ
た比較出力が差動回路３３から得られて、読取情報信号
Ｓｉとされる。
また、光検出素子群２９からの検出出力信号Ｒａと検出
出力信号Ｒｃとが加算回路３４に供給されて、和の出力
信号Ｒａ＋Ｒｃが得られ、さらに、光検出素子群２９か
らの検出出力信号Ｒｂと検出出力信号Ｒｄとが加算回路
３５に供給されて、和の出力信号Ｒ’ｂ＋Ｒｄが得られ
る。そして、加算回路３６において、和の出力信号Ｒａ
＋Ｒｃと和の出力信号Ｒｈ＋Ｒｄとの和がとられて総和
出力信号Ｒｅ　（Ｒａ＋Ｒｃ＋Ｒｂ＋Ｒｄ）が得られ、
それがサンプル・ホールド回路３８及び３９の両者に供
給される。サンプル・ホールド回路３８及び３９には、
サンプリングパルス発生部４０からの、光磁気ディスク
６に設けられたトラッキング・サーボコントロール用ビ
ット配列のパターンに応じた時間差を有するサンプリン
グパルスｐｔ＆びＰ２も供給され、サンプル・ホールド
回路３８から、総和出力信号Ｒｅに対するサンプリング
パルスＰ、によるサンプル／ホールドが行われて得られ
るサンプル／ホールド出力信号Ｓｌが得られるとともに
、サンプル・ホールド回路３９から、総和出力信号Ｒｅ
に対するサンプリングパルスＰ２によるサンプル／ホー
ルドが行われて得られるサンプル／ホールド出力信号Ｓ
２が得られる。これらサンプル／ホールド出力信号ＳＩ
及びＳ２は差動回路４１において比較され、差動回路４
１から両者の差に応じた比較出力が得られて、それによ
りトラッキング・エラー信号Ｓｔが形成される。
さらに、減算回路３７において、和の出力信号Ｒａ＋Ｒ
ｃと和の出力信号Ｒｂ十Ｒｄとの差がとられて差の出力
信号（Ｒａ＋Ｒｃ）−（Ｒｂ＋Ｒｄ）が得られ、それに
よりフォーカス・エラー信号Ｓｆが形成される。
Ｇ−３変形例 なお、上述の例においては、検光子２１を形成する第１
のプリズム２２の光学軸が、入射する反射レーザ光ビー
ムの光軸方向Ｉに実質的に直交する面内にあり、かつ、
入射する反射レーザ光ビームのＰ偏光面に対して４５度
だけ傾いたものとされているが、本発明に係る光学ピッ
クアップ装置に用いられる検光子を形成する第１のプリ
ズムの光学軸は、必ずしも、入射する反射レーザ光ビー
ムのＰ偏光面に対して４５度だけ傾いたものとされる必
要はなく、入射する反射レーザ光ビームのＰ偏光面に対
して、４５度より小あるいは大なる所定の角度だけ傾い
たものとされてもよい。
Ｈ発明の効果 以上の説明から明らかな如く、本発明に係る光学ピンク
アップ装置においては、光ビーム発生源からの光ビーム
を対物レンズを通じて、光磁気ディスク等の記録媒体に
集束状態をもって入射させ、記録媒体から対物レンズを
通じて戻る反射光ビームに基づく直交偏光成分を個別に
検出して比較することにより読取情報信号を得るととも
に、反射光ビームが光磁気ディスクから受ける変化に基
づいて、トラッキング・サーボコントロールやフォーカ
ス・サーボコントロール等のサーボコントロール用のサ
ーボ・エラー信号を得るにあたり、−個の検光子により
、記録媒体からの反射光ビームに基づく直交偏光成分が
相互に分離せしめられて成る２本と、直交偏光成分の両
者を含む１本との合計３本の光ビームを得ることができ
、また、それらを個々に検出する複数の光検出素子を、
光検出ユニットに集合せしめられるので、例えば、サー
ボ・エラー検出のための光学路と読取情報検出用の光学
路とを個別に形成するためのビームスプリッタを含む光
学部品や１７２波長板等が不要とされる。
従って、本発明に係る光学ピックアップ装置は、光学系
が、使用される光学部品の数が少とされるとともに必要
容積が縮小されて、構成が比較的前車で小型化を図るこ
とができるものとされることになる。また、光検出ユニ
ットに集合せしめられる複数の光検出素子の設定にあた
っては、検光子からの３本の光ビームのうちの特定の１
本を検出するものについての調整を行うことによって、
他の２本を検出するものについての調整も行われること
になり、従って、各光検出素子の設定調整が、多大な工
数を要さず、容易に行えるものとされる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明に係る光学ピックアップ装置の一例を簡
略化して示す構成図、第２図及び第３図は第１図に示さ
れる例に用いられる検光子の説明に供される図、第４図
は第１図に示される例に用いられる光検出ユニット及び
信号処理部の具体構成例を示す概略構成図、第５図は従
来提案されている光学ピックアップ装置の一例を簡略化
して示す構成図である。 図中、２は半導体レーザ、３はコリメータレンズ、４は
偏光ビームスプリッタ、５は対物レンズ、６は光磁気デ
ィスク、２０は光学系、２１は検光子、２２は第１のプ
リズム、２３は第２のプリズム、２４は集光レンズ、２
６は光検出ユニット、３０は信号処理部である。 第１図 第２図 ２２第１０プリズム 第３図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光ビーム発生源と、 該光ビーム発生源からの光ビームを記録媒体に集束状態
    をもって入射させるとともに上記記録媒体からの反射光
    ビームを受ける対物レンズと、上記光ビーム発生源から
    上記対物レンズに入射する光ビームと上記対物レンズを
    経た反射光ビームとを分離するビームスプリッタと、 夫々水晶で形成された第１のプリズムと第２のプリズム
    とが貼り合わされて構成されて、上記ビームスプリッタ
    からの反射光ビームが上記第１のプリズムから入射して
    上記第２のプリズムに至る位置に配され、上記第１のプ
    リズムにおける光学軸が入射する反射光ビームの光軸に
    実質的に直交する面内にあり、かつ、上記入射する反射
    光ビームの偏光面に対して所定の角度だけ傾いたものと
    されるとともに、上記第２のプリズムにおける光学軸が
    上記入射する反射光ビームの光軸に実質的に直交する面
    内にあり、かつ、上記第１のプリズムにおける光学軸と
    所定の角度をなすものとされて、上記入射する反射光ビ
    ームに基づく少なくとも３本の光ビームを出射させる検
    光子と、 該検光子から出射する上記３本の光ビームを個々に検出
    する複数の光検出素子が内蔵された光検出ユニットと、 を備えて成る光学ピックアップ装置。
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