JPS6287809A - 多方向距離測定装置 - Google Patents
多方向距離測定装置Info
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- JPS6287809A JPS6287809A JP22783385A JP22783385A JPS6287809A JP S6287809 A JPS6287809 A JP S6287809A JP 22783385 A JP22783385 A JP 22783385A JP 22783385 A JP22783385 A JP 22783385A JP S6287809 A JPS6287809 A JP S6287809A
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- JP
- Japan
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- matter
- measured
- reflected
- distance
- reflecting mirror
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- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は距離測定方法に関し、特に多方向にある物体ま
での距離を光学的に測定するための方法に関する。この
様な方法は自走ロゲット用の視覚センサや自動車の衝突
防止装置用の障害物検知センサとして利用される。
での距離を光学的に測定するための方法に関する。この
様な方法は自走ロゲット用の視覚センサや自動車の衝突
防止装置用の障害物検知センサとして利用される。
自走ロコ、トにおいては、周囲環境認識のための手段と
して多方向にわたって周囲の物体までの距離を測定する
ことが行なわれ、かくして得られた距離情報に基づき物
体への衝突を避けながら走行することができる。
して多方向にわたって周囲の物体までの距離を測定する
ことが行なわれ、かくして得られた距離情報に基づき物
体への衝突を避けながら走行することができる。
また、自動車の衝突防止装置においては、障害物検知の
ための手段として多方向にわたって周囲の物体までの距
離を測定することが行なわれ、かくして得られた距離情
報に基づき他の自動車または壁等の物体に対し所定の距
離よシも近づいた時に運転者に対し警告を発するかある
いは自動車を停止または減速させるための指示を発する
ことがなされる。
ための手段として多方向にわたって周囲の物体までの距
離を測定することが行なわれ、かくして得られた距離情
報に基づき他の自動車または壁等の物体に対し所定の距
離よシも近づいた時に運転者に対し警告を発するかある
いは自動車を停止または減速させるための指示を発する
ことがなされる。
以上の様な多方向の距離測定のための手段としては、従
来よシ、被測定物体に対し超音波を発射して反射によシ
戻ってくる超音波を解析して距離を求めるという方法が
用いられている。
来よシ、被測定物体に対し超音波を発射して反射によシ
戻ってくる超音波を解析して距離を求めるという方法が
用いられている。
しかるに、この方法では被測定物体が小さい場合には測
定が困難であシ、また分解能が比較的低く、更に遠方の
物体までの距離測定に時間がかかるという問題点がある
。
定が困難であシ、また分解能が比較的低く、更に遠方の
物体までの距離測定に時間がかかるという問題点がある
。
多方向の距離測定を光学的に行なう方法として、スリッ
ト状の光束を被測定物体に投射して、該投射方向と異な
る方向から物体表面上の輝線形状を測定して、該形状か
ら演算により距離を求めるという方法が提案されている
。
ト状の光束を被測定物体に投射して、該投射方向と異な
る方向から物体表面上の輝線形状を測定して、該形状か
ら演算により距離を求めるという方法が提案されている
。
しかるに、この方法では輝線形状の入力及びその後の演
算に比較的多くの時間を要するという問題点がある。
算に比較的多くの時間を要するという問題点がある。
更に、光学的方法としてステレオ法がある。
しかるに、ステレオ法では測定方向の分解能を向上させ
ることが困難であるという問題点がある。
ることが困難であるという問題点がある。
本発明によれば、以上の如き従来技術の問題点を解決す
るものとして、光源からの光束を平面反射鏡に入射させ
、該平面反射鏡をその反射面と平行な方向の回転軸のま
わシに回転または回動させ、かくして該反射鏡からの反
射光束を被測定物体に投射しながら走査し、該被測定物
体からの反射光束を前記平面反射鏡により反射させ且つ
集光レンズを通過させて結像させ、該結像位置を測定す
ることを特徴とする、多方向距離測定方法が提供される
。
るものとして、光源からの光束を平面反射鏡に入射させ
、該平面反射鏡をその反射面と平行な方向の回転軸のま
わシに回転または回動させ、かくして該反射鏡からの反
射光束を被測定物体に投射しながら走査し、該被測定物
体からの反射光束を前記平面反射鏡により反射させ且つ
集光レンズを通過させて結像させ、該結像位置を測定す
ることを特徴とする、多方向距離測定方法が提供される
。
以下、図面を参照しながら本発明の具体的実施例を説明
する。
する。
第１図（！Ｌ） 、 （ｂ）は本発明方法の第１の実施
例を示す概略側面図であフ、第２図及び第３図はその概
略平面図である。これらの図面において、１は光源であ
シ、該光源としては発光部に発光ダイオードや半導体レ
ーデ等を用いたものを使用することができる。該光源１
は発光部の発光光束をコリメートするためのコリメータ
レンズを内蔵している。
例を示す概略側面図であフ、第２図及び第３図はその概
略平面図である。これらの図面において、１は光源であ
シ、該光源としては発光部に発光ダイオードや半導体レ
ーデ等を用いたものを使用することができる。該光源１
は発光部の発光光束をコリメートするためのコリメータ
レンズを内蔵している。
２は凸レンズであり、３は平面反射鏡である。４は回転
平面反射鏡であり、第１図（ａ） 、 （ｂ）において
はその平面反射面のみが図示されている。尚、第１図（
ａ） 、 （ｂ）は該反射面により反射される光路を展
開して示したものである。第２図及び第３図に示される
様に、回転平面反射鏡４は６つの平面反射面を有する。
平面反射鏡であり、第１図（ａ） 、 （ｂ）において
はその平面反射面のみが図示されている。尚、第１図（
ａ） 、 （ｂ）は該反射面により反射される光路を展
開して示したものである。第２図及び第３図に示される
様に、回転平面反射鏡４は６つの平面反射面を有する。
該反射鏡４は回転軸４ａのまわりに駆動回転せしめられ
、各反射面は該回転軸４ａに関し対称的に位置する。図
において、５は凸レンズであシ、６は光電変換素子であ
る。該光電変換素子は光スポットの入射する位置に応じ
て出力信号の変化するいわゆるＩジションセンサであり
、上記平面反射鏡３から回転平面反射鏡４に至る光路の
延長上に位置している。該光電変換素子６はシーに材６
＆により保獲されている。該シール材６ａは山形形状を
なしており、その斜面に斜めに入射する光束を反射を減
少させ効率よく光電変換素子６へと導く作用をも行なう
。尚、以上の光学系において、凸レンズ２の焦点位置と
凸レンズ５の焦点位置とは一致している。
、各反射面は該回転軸４ａに関し対称的に位置する。図
において、５は凸レンズであシ、６は光電変換素子であ
る。該光電変換素子は光スポットの入射する位置に応じ
て出力信号の変化するいわゆるＩジションセンサであり
、上記平面反射鏡３から回転平面反射鏡４に至る光路の
延長上に位置している。該光電変換素子６はシーに材６
＆により保獲されている。該シール材６ａは山形形状を
なしており、その斜面に斜めに入射する光束を反射を減
少させ効率よく光電変換素子６へと導く作用をも行なう
。尚、以上の光学系において、凸レンズ２の焦点位置と
凸レンズ５の焦点位置とは一致している。
光源１から発せられた平行光束は凸レンズ２により凸レ
ンズ５の焦点位置に集束せしめられ、平面反射鏡３及び
回転平面反射鏡４により反射せしめられた後に凸レンズ
５を通過し平行光束となる。
ンズ５の焦点位置に集束せしめられ、平面反射鏡３及び
回転平面反射鏡４により反射せしめられた後に凸レンズ
５を通過し平行光束となる。
この平行光束は被測定物体の表面にて反射され、その一
部が上記凸レンズ５を通９回転平面反射鏡４により反射
せしめられて結像する。この際の結像位置は被測定物体
までの距離によって異なる。
部が上記凸レンズ５を通９回転平面反射鏡４により反射
せしめられて結像する。この際の結像位置は被測定物体
までの距離によって異なる。
第１図（、）は被測定物体（図示せず）が比較的近距離
にある場合を示しておシ、この場合には反射鏡４から比
較的離れた位置Ａにおいて光電変換素子６上に結像する
。第１図（ｂ）は被測定物体（図示せず）が比較的遠距
離にある場合を示しておシ、この場合には反射鏡４から
比較的近い位置Ｂにおいて光電変換素子６上に結像する
。
にある場合を示しておシ、この場合には反射鏡４から比
較的離れた位置Ａにおいて光電変換素子６上に結像する
。第１図（ｂ）は被測定物体（図示せず）が比較的遠距
離にある場合を示しておシ、この場合には反射鏡４から
比較的近い位置Ｂにおいて光電変換素子６上に結像する
。
従って、予め光電変換素子６上の結像位置と被測定物体
までの距離との関係を求めておけば、光電変換素子６の
出力から直ちに被測定物体までの距離を得ることができ
る。
までの距離との関係を求めておけば、光電変換素子６の
出力から直ちに被測定物体までの距離を得ることができ
る。
以上の様な関係は反射鏡４を回転軸４ａのまわシに回転
させてもほぼ同様に保たれる。ＢＩＪち、第２図に示さ
れる様に、光源１から発せられた光束は、反射鏡４が実
線で示される回転位置にあるときには該反射鏡による反
射の後に実線で示される方向に投射され、反射鏡４が点
線で示される回転位置にあるときには該反射鏡による反
射の後に点線で示される方向に投射される。また、かく
して被測定物体に投射され、該物体によシ反射された光
束は、第３図に示される様に、反射鏡４が実線で示され
る回転位置にあるときには実線で示される様に凸レンズ
５及び反射鏡４を経て光電変換素子６上に結像せしめら
れ、反射鏡４が点線で示される回転位置にあるときには
点線で示される様に凸レンズ５及び反射鏡４を経て光電
変換素子６上に結像せしめられる。かくして１回転反射
！４による光束投射の方向によらず被測定物体からの反
射光束の一部は光電変換素子６上に結像せしめられる。
させてもほぼ同様に保たれる。ＢＩＪち、第２図に示さ
れる様に、光源１から発せられた光束は、反射鏡４が実
線で示される回転位置にあるときには該反射鏡による反
射の後に実線で示される方向に投射され、反射鏡４が点
線で示される回転位置にあるときには該反射鏡による反
射の後に点線で示される方向に投射される。また、かく
して被測定物体に投射され、該物体によシ反射された光
束は、第３図に示される様に、反射鏡４が実線で示され
る回転位置にあるときには実線で示される様に凸レンズ
５及び反射鏡４を経て光電変換素子６上に結像せしめら
れ、反射鏡４が点線で示される回転位置にあるときには
点線で示される様に凸レンズ５及び反射鏡４を経て光電
変換素子６上に結像せしめられる。かくして１回転反射
！４による光束投射の方向によらず被測定物体からの反
射光束の一部は光電変換素子６上に結像せしめられる。
従って１反射鏡４を回転させることによシ所定の角度範
囲内にある被測定物体までの距離を測定することができ
る。尚、反射鏡４を回転させると、被測定物体からの反
射光が該反射鏡の反射面に到達するまでの時間内圧反射
鏡自体がある角度回転しているので、結像位置は厳密に
は第１図における紙面に垂直の方向にずれるのであるが
、反射鏡回転の角速度が一定の場合にはこのずれ童は予
め算出可能であシ、光電変換素子６を適宜移動させたり
更に平面反射鏡を介在きせ適宜回動させたシすることに
より光電変換素子６上に結像させる補正を行なうことが
できる。
囲内にある被測定物体までの距離を測定することができ
る。尚、反射鏡４を回転させると、被測定物体からの反
射光が該反射鏡の反射面に到達するまでの時間内圧反射
鏡自体がある角度回転しているので、結像位置は厳密に
は第１図における紙面に垂直の方向にずれるのであるが
、反射鏡回転の角速度が一定の場合にはこのずれ童は予
め算出可能であシ、光電変換素子６を適宜移動させたり
更に平面反射鏡を介在きせ適宜回動させたシすることに
より光電変換素子６上に結像させる補正を行なうことが
できる。
本実施例によれば、反射鏡４の回転を継続することによ
フ、順次隣接反射面を用いて所定角度範囲にある被測定
物体までの距離測定を高速にて繰返し連続的に行なうこ
とができる。
フ、順次隣接反射面を用いて所定角度範囲にある被測定
物体までの距離測定を高速にて繰返し連続的に行なうこ
とができる。
第４図（ａ） 、 （ｂ）は本発明方法の第２の実施例
を示す概略側面図であシ、第５図はその概略平面図であ
る。これらの図面において、上記第１〜３図におけると
同様の部材には同一の符号が付されておシ、これらにつ
いてはここでは説明を省略する。
を示す概略側面図であシ、第５図はその概略平面図であ
る。これらの図面において、上記第１〜３図におけると
同様の部材には同一の符号が付されておシ、これらにつ
いてはここでは説明を省略する。
図において、７は凸シリンドリカルレンズであシ、その
円筒軸方向は第４図における紙面と垂直の方向である。
円筒軸方向は第４図における紙面と垂直の方向である。
また、・８は凸シリンドリカルレンズであり、その円筒
軸方向は第４図における紙面と垂直の方向である。９は
凸レンズであシ、１゜は光電変換素子である。該光電変
換素子１０は上記光電変換素子６と同様なポジションセ
ンナである。該凸レンズ９及び光電変換素子１０は、光
源１から凸シリンドリカルレンズ７を経て回転反射鏡４
に至る光路の真下の位置に存在している。尚、この光学
系において、凸シリンドリカルレンズ７の焦線位置と凸
シリンドリカルレンズ８ｏ焦ａ位置とは一致している。
軸方向は第４図における紙面と垂直の方向である。９は
凸レンズであシ、１゜は光電変換素子である。該光電変
換素子１０は上記光電変換素子６と同様なポジションセ
ンナである。該凸レンズ９及び光電変換素子１０は、光
源１から凸シリンドリカルレンズ７を経て回転反射鏡４
に至る光路の真下の位置に存在している。尚、この光学
系において、凸シリンドリカルレンズ７の焦線位置と凸
シリンドリカルレンズ８ｏ焦ａ位置とは一致している。
光源１から発せられた平行光束は凸シリンドリカルレン
ズ７によシ凸シリンドリカルレンズ８の焦線位置に第４
図の紙面に沿う方向に関してのみ集束せしめられ、回転
平面反射鏡４により反射せしめられた後に凸シリンドリ
カルレンズ８に入射し、該レンズによシ第４図の紙面に
沿う方向に関してのみ集束作用を受は平行光束となる。
ズ７によシ凸シリンドリカルレンズ８の焦線位置に第４
図の紙面に沿う方向に関してのみ集束せしめられ、回転
平面反射鏡４により反射せしめられた後に凸シリンドリ
カルレンズ８に入射し、該レンズによシ第４図の紙面に
沿う方向に関してのみ集束作用を受は平行光束となる。
尚１本実施例において、上記凸シリンドリカルレンズ７
の光軸及び凸シリンドリカルレンズ８の光軸を含み水平
な平面（第４図において紙面に垂直な平面）Ｓのことを
、以下、基準平面ということにする。
の光軸及び凸シリンドリカルレンズ８の光軸を含み水平
な平面（第４図において紙面に垂直な平面）Ｓのことを
、以下、基準平面ということにする。
かくして、凸シリンドリカルレンズ８を出た平行光束は
被測定物体の表面にて反射され、その一部が上記凸シリ
ンドリカルレンズ８を通過し集束作用を受けて結像せし
められる。この際の結像位置は被測定物体までの距離に
よって異なる。第４図（＆）は被測定物体（図示せず）
が比較的近距離にある場合を示しておシ、この場合には
反射鏡４の反射面から比較的離れた位置Ｃに結像する。
被測定物体の表面にて反射され、その一部が上記凸シリ
ンドリカルレンズ８を通過し集束作用を受けて結像せし
められる。この際の結像位置は被測定物体までの距離に
よって異なる。第４図（＆）は被測定物体（図示せず）
が比較的近距離にある場合を示しておシ、この場合には
反射鏡４の反射面から比較的離れた位置Ｃに結像する。
第４図（ｂ）は被測定物体（図示せず）が比較的遠距離
にある場合を示しておシ、この場合には反射鏡４の反射
面に比較的近い位置りに結像する。これら結像位置Ｃ，
Ｄはいづれも基準平面Ｓ上にある。尚、これら結像は上
下方向に関してのみ行なわれる。
にある場合を示しておシ、この場合には反射鏡４の反射
面に比較的近い位置りに結像する。これら結像位置Ｃ，
Ｄはいづれも基準平面Ｓ上にある。尚、これら結像は上
下方向に関してのみ行なわれる。
従って、像は水平方向に長い線状のものとなる。
上記凸レンズ９は上記基準平面Ｓの所定の部分（即ち、
上記結像位置Ｃ，Ｄを含み、測定すべき距離範囲内にあ
る被測定物体からの反射光束が結像する範囲内の全位置
をカバーする部分）Ｑを光電変換素子１０上に結像させ
る。即ち、該光電変換素子１０は凸レンズ９に関し上記
基準平面Ｓの所定の部分Ｑと共役の位置に配置されてお
シ、更に被測定物体から上記凸シリンドリカルレンズ８
を通って反射鏡４の反射面に入射して反射し上記所定部
分Ｑ内に結像せしめられた光束は凸レンズ９を通って光
電変換素子１０に入射せしめられる。
上記結像位置Ｃ，Ｄを含み、測定すべき距離範囲内にあ
る被測定物体からの反射光束が結像する範囲内の全位置
をカバーする部分）Ｑを光電変換素子１０上に結像させ
る。即ち、該光電変換素子１０は凸レンズ９に関し上記
基準平面Ｓの所定の部分Ｑと共役の位置に配置されてお
シ、更に被測定物体から上記凸シリンドリカルレンズ８
を通って反射鏡４の反射面に入射して反射し上記所定部
分Ｑ内に結像せしめられた光束は凸レンズ９を通って光
電変換素子１０に入射せしめられる。
従って、光電変換素子１０の出力から基準平面Ｓ上の結
像位置を知ることができ、該結像位置から被測定物体の
位置を知ることができる。かくして、予め光電変換素子
１０上の結像位置と被測定物体までの距離との関係を求
めておけば、光電変換素子１０の出力として直ちに被測
定物体までの距離が得られる。
像位置を知ることができ、該結像位置から被測定物体の
位置を知ることができる。かくして、予め光電変換素子
１０上の結像位置と被測定物体までの距離との関係を求
めておけば、光電変換素子１０の出力として直ちに被測
定物体までの距離が得られる。
以上の様な関係が反射鏡４を回転軸４ｍのまわシに回転
させてもほぼ同様に保たれることは、上記第１の実施例
の場合と同じである。ただ、本実施例においては上記の
如く基準平面Ｓ上の像は水平方向に長いので、反射鏡４
の回転によシ像位置が水平方向にずれても光電変換素子
１０による結像位置の検出に実質上影響を与えない。
させてもほぼ同様に保たれることは、上記第１の実施例
の場合と同じである。ただ、本実施例においては上記の
如く基準平面Ｓ上の像は水平方向に長いので、反射鏡４
の回転によシ像位置が水平方向にずれても光電変換素子
１０による結像位置の検出に実質上影響を与えない。
上記第２の実施例においては基準平面Ｓ内の所定の部分
Ｑ内に結像せしめられる像を更に凸レンズ９を用いて光
電変換素子１０上に結像させているが、本発明において
は上記所定の部分Ｑに光電変換素子を配置して結像位置
の測定を行なってもよい。
Ｑ内に結像せしめられる像を更に凸レンズ９を用いて光
電変換素子１０上に結像させているが、本発明において
は上記所定の部分Ｑに光電変換素子を配置して結像位置
の測定を行なってもよい。
第６図は本発明方法の第３の実施例を示す概略側面図で
ある。本図において、上記第４図におけると同様の部材
には同一の符号が付されておシ、これらについてはここ
では説明を省略する。
ある。本図において、上記第４図におけると同様の部材
には同一の符号が付されておシ、これらについてはここ
では説明を省略する。
本実施例は上記第２の実施例の変形例である。
本実施例においては、凸シリンドリカルレンズ１１が基
準子面Ｓ近傍の部分を有しておらず、また光源１と回転
平面反射鏡４との間に凸シリンドリカルレンズは存在し
ない。そして、光源１から発せられた平行光束は回転平
面反射鏡４によシ反射せしめられた後に直ちに被測定物
体に投射される。その他は上記第２の実施例と同様であ
る。
準子面Ｓ近傍の部分を有しておらず、また光源１と回転
平面反射鏡４との間に凸シリンドリカルレンズは存在し
ない。そして、光源１から発せられた平行光束は回転平
面反射鏡４によシ反射せしめられた後に直ちに被測定物
体に投射される。その他は上記第２の実施例と同様であ
る。
本実施例によれば構成部品点数を少なくすることができ
る。
る。
上記実施例においては反射鏡は回転多面鏡からなるが、
本発明においては反射鏡は１面のみからなるものでもよ
い。１面のみからなる反射鏡の場合には、上記実施例と
同様に同一の向きに回転を継続して継続的に多方向距離
測定を行なうこともできるし、回転軸のまわシに所定の
角度範囲内で回動させて連続的に多方向距離測定を行な
うこともできる。
本発明においては反射鏡は１面のみからなるものでもよ
い。１面のみからなる反射鏡の場合には、上記実施例と
同様に同一の向きに回転を継続して継続的に多方向距離
測定を行なうこともできるし、回転軸のまわシに所定の
角度範囲内で回動させて連続的に多方向距離測定を行な
うこともできる。
また、本発明方法においては、外光と光源からの光束と
を区別してＳ／Ｎ比を上げ測定精度を向上させるために
、光源として赤外線発光素子を用い受光用光電変換素子
の前方に可視光遮断フィルタを置いたり、光源を変調発
光させ該変調に同期して光電変換素子の出力をと９出し
たシする等の方法を適用することもできる。
を区別してＳ／Ｎ比を上げ測定精度を向上させるために
、光源として赤外線発光素子を用い受光用光電変換素子
の前方に可視光遮断フィルタを置いたり、光源を変調発
光させ該変調に同期して光電変換素子の出力をと９出し
たシする等の方法を適用することもできる。
更に、本発明においては、集光レンズから被測定物体に
投射される光路上に平面反射鏡を配置し、該平面反射鏡
を上記回転平面反射鏡の回転軸と非平行な回転軸のまわ
シに回動させることによって２次元的に光束走査を行な
い、立体的多方向の距離測定を行なうこともできる。
投射される光路上に平面反射鏡を配置し、該平面反射鏡
を上記回転平面反射鏡の回転軸と非平行な回転軸のまわ
シに回動させることによって２次元的に光束走査を行な
い、立体的多方向の距離測定を行なうこともできる。
以上の如き本発明によれば、多方向の距離測定結果を直
ちに時系列的電気信号として得ることができ、複雑な演
算処理を必要としないため、比較的簡単な構成にて高速
で測定を行なうことができる。
ちに時系列的電気信号として得ることができ、複雑な演
算処理を必要としないため、比較的簡単な構成にて高速
で測定を行なうことができる。
また、本発明によれば、光学的に結像された像の位置測
定により測定結果を得ることができるので、光学系の精
度を上げることによＦ）Ｗ易に分解能を向上させること
ができる。
定により測定結果を得ることができるので、光学系の精
度を上げることによＦ）Ｗ易に分解能を向上させること
ができる。
第１図（ａ） 、 （ｂ）は本発明方法を説明するため
の概略側面図であジ、第２図及び第３図はその概略平面
図である。 第４図（ａ） 、 （ｂ）は本発明方法を説明するため
の概略側面図である。又、第５図はその概略平面図であ
る。 第６図は本発明方法を説明するための概略側面図である
。 １：光源、２，５，９：凸レンズ、３：千面反射鏡、４
：回転平面反射鏡、４ａ：回転軸、６゜１０：光電変換
素子、７，８，１１：凸シリンドリカルレンズ。 代理人 弁理士 山 下 穣 子 弟１図（Ｇ） 第１ 図 （ｂ） 第３図 第４図（０） 第４図（ｂ） 第５図 第６ 図
の概略側面図であジ、第２図及び第３図はその概略平面
図である。 第４図（ａ） 、 （ｂ）は本発明方法を説明するため
の概略側面図である。又、第５図はその概略平面図であ
る。 第６図は本発明方法を説明するための概略側面図である
。 １：光源、２，５，９：凸レンズ、３：千面反射鏡、４
：回転平面反射鏡、４ａ：回転軸、６゜１０：光電変換
素子、７，８，１１：凸シリンドリカルレンズ。 代理人 弁理士 山 下 穣 子 弟１図（Ｇ） 第１ 図 （ｂ） 第３図 第４図（０） 第４図（ｂ） 第５図 第６ 図
Claims (2)
- （１）光源からの光束を平面反射鏡に入射させ、該平面
反射鏡をその反射面と平行な方向の回転軸のまわりに回
転または回動させ、かくして該反射鏡からの反射光束を
被測定物体に投射しながら走査し、該被測定物体からの
反射光束を前記平面反射鏡により反射させ且つ集光レン
ズを通過させて結像させ、該結像位置を測定することを
特徴とする、多方向距離測定方法。 - （２）前記平面反射鏡が１つの回転軸に関し対称的に複
数個配列された反射面を有する、特許請求の範囲第１項
の多方向距離測定方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60227833A JPH0610615B2 (ja) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | 多方向距離測定装置 |
| US07/306,248 US5033845A (en) | 1985-10-15 | 1989-02-06 | Multi-direction distance measuring method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60227833A JPH0610615B2 (ja) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | 多方向距離測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6287809A true JPS6287809A (ja) | 1987-04-22 |
| JPH0610615B2 JPH0610615B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=16867084
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60227833A Expired - Lifetime JPH0610615B2 (ja) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | 多方向距離測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0610615B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63309809A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-16 | Rikagaku Kenkyusho | 非接触光学的距離検出プロ−ブの構成 |
| JP2016035436A (ja) * | 2014-08-04 | 2016-03-17 | 船井電機株式会社 | レーザレンジファインダ |
| JP2016035411A (ja) * | 2014-08-01 | 2016-03-17 | 船井電機株式会社 | レーザレンジファインダ |
| US10067222B2 (en) | 2014-08-01 | 2018-09-04 | Funai Electric Co., Ltd. | Laser rangefinder |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59125009A (ja) * | 1982-12-29 | 1984-07-19 | Fujitsu Ltd | パタ−ン検知法 |
| JPS59187211A (ja) * | 1983-04-08 | 1984-10-24 | Hitachi Denshi Ltd | 光電式測距装置 |
-
1985
- 1985-10-15 JP JP60227833A patent/JPH0610615B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59125009A (ja) * | 1982-12-29 | 1984-07-19 | Fujitsu Ltd | パタ−ン検知法 |
| JPS59187211A (ja) * | 1983-04-08 | 1984-10-24 | Hitachi Denshi Ltd | 光電式測距装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63309809A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-16 | Rikagaku Kenkyusho | 非接触光学的距離検出プロ−ブの構成 |
| JP2016035411A (ja) * | 2014-08-01 | 2016-03-17 | 船井電機株式会社 | レーザレンジファインダ |
| US10067222B2 (en) | 2014-08-01 | 2018-09-04 | Funai Electric Co., Ltd. | Laser rangefinder |
| JP2016035436A (ja) * | 2014-08-04 | 2016-03-17 | 船井電機株式会社 | レーザレンジファインダ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0610615B2 (ja) | 1994-02-09 |
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