JPS6247172A - 発光素子 - Google Patents

発光素子

Info

Publication number
JPS6247172A
JPS6247172A JP60187741A JP18774185A JPS6247172A JP S6247172 A JPS6247172 A JP S6247172A JP 60187741 A JP60187741 A JP 60187741A JP 18774185 A JP18774185 A JP 18774185A JP S6247172 A JPS6247172 A JP S6247172A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
layer
light
emitting layer
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60187741A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuji Takasu
高須 克二
Masafumi Sano
政史 佐野
Hisanori Tsuda
津田 尚徳
Yutaka Hirai
裕 平井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP60187741A priority Critical patent/JPS6247172A/ja
Publication of JPS6247172A publication Critical patent/JPS6247172A/ja
Priority to US07/406,182 priority patent/US4920387A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/16Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular crystal structure or orientation, e.g. polycrystalline, amorphous or porous
    • H01L33/18Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular crystal structure or orientation, e.g. polycrystalline, amorphous or porous within the light emitting region
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/0004Devices characterised by their operation
    • H01L33/0008Devices characterised by their operation having p-n or hi-lo junctions
    • H01L33/0012Devices characterised by their operation having p-n or hi-lo junctions p-i-n devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0054Processes for devices with an active region comprising only group IV elements
    • H01L33/0058Processes for devices with an active region comprising only group IV elements comprising amorphous semiconductors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光源或いは表示に使用される発光素子に関す
る。
〔従来の技術〕
従来、発光素子の発光層を構成する材料としては、種々
のものが報告されているが、その中でも例えばAppl
、 Phys、 Lett、 28(+978)、PP
820−622゜J、1.Pankou、D、E、Ca
rlson 、やJpn、J、Appl、Phys、j
j(+982)PP473−475.に、↑akaha
shi他、に記載されている水素原子を含む非単結晶シ
リコン(以後、rnon−9i:旧と記す)は、単結晶
シリコンと同様の゛(′導体l゛学の適用がn1能であ
ること、及び潜在的特性に優れたものがある可能慴があ
ること等の為に汀[1されている材ネ1の1つである。
1−置引用文献に記載されたnon−9i:Hを発光材
ネ1に用いた発光素イの構成は、P型不純物を含有する
P型伝導層(P層)と、P型及びN型のいずれの不純物
も含有しない層(ノンドープ層)と、N型不純物を含有
するN型伝導層(N層)とを積層したホモ接合を有する
〔解決しようとする問題へ〕
しかしながら、この様な構成の従来報告されている発光
素子では、十分な発光層のM7視光領域の発光が得られ
ておらず、加えて発光強度が弱く、寿命も短い、発光特
性の安定性に欠けると実用的には改良すべき点の多くを
残している。L記改貞案の1つとして、non−8i 
:Hに炭素原子を加えて、光学的バンドギャップを拡大
し、0■視波長領域の発光を得る試みもなされているが
、実用的には未だ問題を残しており、光源素子や表示素
子としては、未だ工業化されるには至っていない。
〔[1的〕 本発明は、1.記従来の欠点を改良した発光素子を提供
することを主たる目的とする。
本発明の別の目的は、可視波長領域に充分な発光Vを有
し、発光効率と再現性の向−1;をJlった発光素子を
提供することである。
本発明のもう1つの目的は、発光特性の安定++と寿命
を飛躍的に向[−させた発光素子を提供することである
〔問題点を解決するための手段〕 本発明の発光素子は水素原子を含む非単結晶シリコンで
構成された発光層と、該発光層を挟持する−・対の電気
的絶縁層と、これ等の発光層と絶縁層とを挟持し電気的
に接続された少なくとも−・対の電極とを有し、前記発
光層の光学的バンドギャップが2.OeV以−[−で口
つ局在準位密度がミツドギャップで10 ” c「3φ
eV−’以ドである東を4¥徴とする。
〔作 用〕
本発明の発光素子は、ト記の構成とすることによって、
rrf視波長波長領域光ピークをイ1すると共に充分な
発光18−得、発光効率と再現性を高めることが出来、
発光特性の安定性と寿命を飛躍的に向1−コせることが
出来る。
以ド、本発明を図面に従って具体的に説明する。
piTj1図は1本発明の発光素rのtlT’ltな実
施態様例の層構成を示す模式的層構成図である。
第1図に示される発光素子は、基体、101.1−にJ
ぐけられた下部電極102上に、F部電気的絶縁層10
31発光層104及びl一部電気的絶縁層105、該絶
縁層1051−に設けられた1一部電極106とで構成
されている。
第1図に示す発光素子を面状発光素子として使用する場
合には、電極102又は/及び電極106は発光色の色
までも利用するのであれば、透明であることが必要であ
り、発光層を利用するのであれば、発光する光に対して
透光性であるのが9ましい。電極102側より発光々を
取り出す場合には、基体101は電極102と同様透明
であるか若しくは発光する光に対して透光性であること
が望ましい。
本発明において、発光層は、non−3i :Hで構成
される。
発光層中に含有される水素原子(H)は、シリコン原子
の自由ダングリングボンドを補償し、その含有υは形成
される層の半導体特性、光学的特性、及び素子の発光特
性を左右する重要因子であって、本発明においては、水
素原子(H)の含有皐はN適にはシリコン原子に対して
0.1〜40原子%、より好適には0.5〜35原子%
、最適には1〜30原子%である。
本発明においては、光CVD法(光エネルギーを反応に
利用した化学的気相法による堆積膜形成法)の採用によ
り前述の構成を与えることが出来るものであり、発光層
を形成する為の原料物質も光CVD法に適合するものを
選択して使用するのが望ましい。
発光層104は、non−3i:Hで構成yれるもので
あるが、好ましくは所謂真性(N型)の半導体重P1を
示す層として作成されるのが望ましい。
non−Si:Hで構成される層は、その一般的傾向よ
り所謂P型又はN型の不純物を含有1.ない場合には僅
かにN型傾向を示すので、発光層104をN型伝導層と
するには、僅かにP型不純物を含有させる。
発光W104は1発光特性は僅かに低下はするが、P型
又はN型の不純物を含有しない所謂ノンドープ層とする
ことも出来る。
発光層104をN型伝導層とするには、層形成する際に
P型伝導特性なり、えるP型不純物を含有させるか或い
は既にnon−9i:)lで構成された層中に、P型の
不純物をイオンインプランテーションが、等の手段で注
入してやれば良い。
P型不純物としては、所謂周期律表第璽族に属する原子
(第璽族原子)、即ちB(硼素)、AM(アルミニウム
)、Ga(ガリウム)、In(イタリウム)、Te(タ
リウム)等があり、殊に好適に用いられるのは、B、G
aである。
′電気的絶縁層103,105を構成する材料としては
、′電気的に良好な絶縁特性を有し、発光層104での
発光々を効率良く外部に取り出すのに悪影響をり、オな
いもので、成11りが容易なものであれば大概のものを
採用することが出来る。
絶縁層103.105のいずれか一方は、発光々を外部
に取り出す為に5発光層に対して透明P)である必要が
ある。絶縁層103,105を構成する材I’lとして
、本発明において、好適lこ使用されるのは具体的には
Y203.S t07  。
11品質の酸化シリコ7 (a−5i xoixイ!1
し、0<x<1)、HfO,、Si3 N4.非晶質の
空化シリコン(a−3iyN1−y但し、0<y<1)
、Aす20.、PbTiO3,11品質のBaTiO3
、Ta、、Os等を挙げることが出来る。
第2図には、本発明の発光素子の別の好適な実施態様例
が示される。
第2図に示す発光素子は、その構造は基本的には第1図
に示す発光素子と同様である。
第2図に示す発光素子は、ガラス等の透明な基体201
1−に、順に透明電極202.F部絶縁層2032発光
層204 、 l:部絶縁層205.金属電極206が
fA層された層構造を有し、電極202及び金属電極2
06には夫々パルス状の又は鋸歯状の高周波高電界を印
加する為の電源207の接続端子が電気的に接続されて
いる。
第2図に示す発光素子の場合、高周波電源207によっ
て高周波電界が印加されると1発光層204より発光が
起こり、発光した光は絶縁層203、透明電極202.
基体201を透過して外部へ放出される。
未発明の発光素子は、可視域の発光波長を得る為に、発
光層の光学的バンドギャップEgoptは、2.OeV
以I−とyれる。
又1発光層の光学的バンドギャップの中心(ミツドギャ
ップ)での局在準位密!■は、  10 l6cts−
”・eV−’以F、好適には10”cab−3eel−
’とされる。
この様に、発光層の物性値を制御することによって、再
結合の効率を飛躍的に向上させることが出来、従って発
光効率の向1−を計ることが出来る。
又、発光層の外部Mf−効率を10−4%以1−になる
様に再結合の準位の分2Ijを制御することによって、
高い強度の発光を示す発光素子を得ることが出来る。
1−述した様な特性を有する発光素イは、前記した様に
光CVD法によって後述の条件で作成されるのが望まし
い。本発明の発光素子の作成法は、本発明の目的が達成
されるのであれば、光CVD法に限定されるものではな
く、適宜所望の条件に設定して1例えばHOMOCVD
法、プラズマCV D 91:等によって成されても良
い。
本発明の発光素イを構成する基体を構成する材ネ;1と
しては、通常発光素子分野において使用されている材料
の殆んどを挙げることが出来る。
基体としては、導電性でも電気絶縁性であっても良いが
、比較的耐熱性に優れているのが望ましい。
導電M基体の場合には、基体と発光層との間に設けられ
る電極!±、必ずしも設ける必要はない。
導電性基体としては、NiCr、ステンレス。
AM、Cr、Mo、Au、Nb、Ta、V、Ti等を挙
げることが出来る。
’ilt気絶縁気絶体性基体は、ポリエステル、ポリエ
チレン、ポリカーボネイト、ポリアミド、等々の合成樹
脂のフィルム、又はシート、或いはガラス、セラミック
ス、h4々を挙げることが出来る。
基体として電気絶縁性のものを採用する場合には、発光
層との間の電極として、その表面が導電処理される。
例えば、ガラスであれば、その表面に、NiCr、Af
l、Cr、Mo、Au、Ir。
Nb、Ta、V、Ti、Pt、Pd、IrzO3S n
07 、ITO(I n2 o:t +5n02 )等
から成る薄膜を設けることによって導電性が付ケSれ、
或いはポリエステルフィルム等の合成樹脂フィルムであ
れば、NiCr、AQ、Ag。
Pb、Zn、Ni 、Au、Cr、Mo、Ir。
Nb、Ta、V、Ti 、Pt等の金属の薄膜を真空蒸
着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等でその表面に設
け、又は前記金属でその表面をラミネーI・処理して、
その表面に導電P1が付与−される。
次に本発明の発光素子を作成する場合の例を第3図の光
CVD装置を以って説明する。
光CVD法の場合に使用される発光層を形成するための
原料ガスとしては、−・般式5inH2n(n = 3
 、4 、5、−−−−)で表わされる環状水素化ケイ
素化合物、S r nH7n+2 (n=2 。
−−−一)で表わされる直鎖状又は分岐を有する鎖状水
素化ケイ素化合物などが挙げられる。
また、前記一般式の原料化合物は、2種類以にを併用し
てもよいが、この場合、各化合物によって期待される膜
特性を平均化した程度の特性、ないしは相乗的に改良さ
れた特性が得られる。
また、通常は1.記の原ネ1ガス番ご水素ガスを昂釈用
カスとして混合して使用しても差支えない。
前記一般式のケイ素化合物は、光エネルギー又は比較的
低い熱エネルギーの付与により容桔に化学反応を起こし
7て良質なシリコン堆積膜を形成することができ、また
これに際し、ツ(体温度も比較的低い温度とすることが
できる。また、励起エネルギーは基体近傍に到達した原
ネ1ガスに−・様に或いは選択的制御的に付すされるが
、適宜の光学系を用いて基体の全体に照射してt4i結
膜を形成することもできるし、或いは所望部分のみに選
択的制御的に照射して部分的に堆積膜を形成することも
でき、またレジスト等を使用して所定の図形部分のみに
照射し堆積膜を形成できるなどの便利Sを看している。
第3図中、1は堆積室であり、内部の基体支持台2Lに
所望の基体3が載置される。
4は基体加熱用のヒータであり、導vi5を介して給電
され、発熱する。基体温度は特に制限されないが、 ・
般に発光層の光学的バンド・ギャップを大きくして可視
の発光を得るためには、2000C以ドであることが望
ましい。
6〜9は、ガス供給源であり、前記一般式で示される鎖
状水素化ケイ素化合物のうち液状のものを使用する場合
には、適宜の気化装−を具備させる。気化装置には、加
熱沸騰を利用するタイプ、液体原料中にキャリアガスを
通過させるタイプ等があり、いずれでもよい。ガス供給
源の個数は4個に限定されず、使用する前記−・般式の
水素化ケイ素化合物の種類の数、希釈ガス等を使用する
場合において、原料ガスである前記一般式の化合物との
予備混合の有無等に応じて適宜選択される。
図中、ガス供給源6〜9の符合に、aを付したのは分岐
管、bを付したのは流量計、Cを付したのは各流量計の
高圧側の圧力を計測する圧力計、dyはeを伺したのは
各基体流の開閉及び流線の調整をするためのバルブであ
る。
各ガス供給源から供給される原料ガス等は、ガス導入管
10の途中で混合され、図示しない換気装置に付勢され
て、室1内に導入される。又は、名カス供給源から交q
に室l内に導入される。
11は、室l内に導入されるガスの圧力を計測するため
の圧力計である。また、12はガス排気管であり、堆積
室1内を減圧したり、導入ガスを強制排気するための図
示しない排気装置と接続されている。
13はレギュレータ・バルブである。原料ガス等を導入
する前に、室l内を排気し、減圧状態とする場合、室内
の気圧は、好ましくは5×1O−Torr以下、より好
ましくはI X 10−6Torr以下である。また、
原ネ1ガス等を導入した状態において、室1内の圧力は
、好ましくはlXl0−2〜100Torr、より好ま
しくは5×10−2〜10TOrrである。
本発明で使用する励起エネルギー供給源の一例として、
14は光エネルギー発生装置であって、例えば水銀ラン
プ、キセノンランプ、炭酸ガスレーザ、アルゴンイオン
レーザ、エキシマレーザ等が用いられる。なお、本発明
で用いる光エネルギーは紫外線エネルギーに限定されず
、原料ガスに化学反応を起こさせ堆積膜を形成すること
ができるものであれば、波長域を問うものではない。
光エネルキー発生装置14から適宜の光学系を用いてノ
、(体全体或いは基体の所望部分に向けられた光15は
、矢印16の向きに波れている原車1ガス等に照射され
、励起・分解又は重合を起こして基体3I−の全体或い
は所望部分にnon−9i :Hの堆積膜を形成する。
このとき、発光層の厚さは500A〜3000人程度と
することが望ましい。
この後に、発光層の−1−から前記材料と同様な絶縁層
を市ねる。そして最後にアルミニウム、金などの金属電
極を蒸着する。
その他の作成、)1法としては、反応管中に流す反応ガ
スを外部の電気炉で加熱分解し、ガス温度よりも低い温
度に保たれた基体I−に堆積させるH OM OCV 
Dという方法がある( B、A、5cott 、R。
M、Plecenick、and E、E、Simon
yi、Appl、Phys、Lett、。
vol、39(198N)p、73)。
本発明の発光層として用いるnon−9i:Hを堆積さ
せる際にこの方法を用いても、光学的バンド・ギャップ
が大きく、局在準位密度の低い膜を作ることができる。
〔実施例〕
!、記した第3図に示す光CVD!+置を用い、1記の
・「順と条!1によって、以ドの様にして第2図に示す
構造の発光素r−を作成し、′市原207によりパルス
状の高周波高電界を印加して、特性試験を行った。
絶縁層203,205としては3000人厚のY2O3
薄膜を用い、発光層は、原料ガスとして5i7H,、ガ
スを使用して、基体温度50℃で成膜を行った。電極2
02としては、ITO透明電極、電極206としてはA
g、電極を用いた。この様にして作成した発光素イに1
00VIKHzのパルス状高周波高電界を印加したとこ
ろ、30ft−Lのifr視光域に発光ピークがある発
光が1!Iられた。これは、これまでに実現された非単
結晶シリコンを用いた発光素イの発光に比べて1桁以1
−大きい値であり、発光効率の改善がなされていること
か判った。更に、1−記の高周波電界を連続して長時間
印加し、発光特にtの安定性と耐久性を試験したところ
、−1,記の従来例に較べて安定性において約5倍、耐
久性において1.5桁優れていることが結果として得ら
れた。
〔効 果〕 −1,述した様に、本発明の発光素子は、可視波長領域
に発光ピークを有すると共に、充分な発光層をa+、発
光効率と再現性を高めることが出来、発光特性の安定性
と寿命を飛翔的に高めることが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は、本発明の発光素子の好適な実施態
様例の層構成を示す模式図、第3図は本発明の発光素子
を作成する為の装置の一例を示す゛模式図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 水素原子を含む非単結晶シリコンで構成された発光層と
    、該発光層を挟持する一対の電気的絶縁層と、これ等の
    発光層と絶縁層とを挟持し電気的に接続された少なくと
    も一対の電極とを有し、前記発光層の光学的バンドギャ
    ップが2.0eV以上で且つ局在準位密度がミツドギヤ
    ツプで10^1^6cm^−^3・eV^−^1以下で
    ある事を特徴とする発光素子。
JP60187741A 1985-08-26 1985-08-27 発光素子 Pending JPS6247172A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60187741A JPS6247172A (ja) 1985-08-27 1985-08-27 発光素子
US07/406,182 US4920387A (en) 1985-08-26 1989-09-13 Light emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60187741A JPS6247172A (ja) 1985-08-27 1985-08-27 発光素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6247172A true JPS6247172A (ja) 1987-02-28

Family

ID=16211381

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60187741A Pending JPS6247172A (ja) 1985-08-26 1985-08-27 発光素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6247172A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5608114A (en) * 1993-12-28 1997-03-04 Mitsui Toatsu Chemicals, Inc. Disproportionating method of trimethylamine

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5608114A (en) * 1993-12-28 1997-03-04 Mitsui Toatsu Chemicals, Inc. Disproportionating method of trimethylamine

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4719501A (en) Semiconductor device having junction formed from two different hydrogenated polycrystalline silicon layers
TW200915393A (en) Compound thin film and method of forming the same, and electronic device using the thin film
JPH01296611A (ja) 半導体薄膜堆積法
Zhang et al. The preparation of photoluminescent Si nanocrystal–SiOx films by reactive evaporation
JPS6247172A (ja) 発光素子
JPH03183173A (ja) 光学素子
JPS6269571A (ja) 発光素子
JPS6248081A (ja) 発光素子
JPS6248082A (ja) 発光素子
JPS6249681A (ja) 発光素子
JPS6267885A (ja) 発光素子
Ma et al. Effects of nitrogen impurities on the microstructure and electronic properties of P-doped Si nanocrystals emebedded in silicon-rich SiNx films
JPS6267884A (ja) 発光素子
JPH05140550A (ja) ダイヤモンド発光層及び表示装置
JPS6254977A (ja) 発光素子
JPS6266688A (ja) 発光素子
JPS6269569A (ja) 発光素子
JPS6254482A (ja) 発光素子
JPS6190421A (ja) 堆積膜形成方法
He et al. Structural and Electrical Properties of n-Type Poly-Si Films Prepared by Layer-by-Layer Technique
JPS6254976A (ja) 発光素子
JPS6269572A (ja) 発光素子
JPS6254978A (ja) 発光素子
JPS6267883A (ja) 発光素子
JPS6254483A (ja) 発光素子