JPS6246447A - 光磁気記録媒体 - Google Patents

光磁気記録媒体

Info

Publication number
JPS6246447A
JPS6246447A JP18479985A JP18479985A JPS6246447A JP S6246447 A JPS6246447 A JP S6246447A JP 18479985 A JP18479985 A JP 18479985A JP 18479985 A JP18479985 A JP 18479985A JP S6246447 A JPS6246447 A JP S6246447A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
plasma
polymerized film
recording medium
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18479985A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsuneo Kuwabara
恒男 桑原
Masatoshi Nakayama
正俊 中山
Hideki Hirata
秀樹 平田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP18479985A priority Critical patent/JPS6246447A/ja
Priority to US06/897,087 priority patent/US4737408A/en
Publication of JPS6246447A publication Critical patent/JPS6246447A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ■ 発明の背景 技術分野 本発明は、レーザー光等の熱および光を用いて情報の記
録、再生を行う光磁気記録媒体に関する。
先行技術とその問題点 光磁気メモリの記録媒体としては、 MnB i 、MnAJIGe、MnS b。
MnCuB1.GdFe、TbFe、 GdCo、PtCo、TbCo、 TbFeCo、  GdFeCo  、TbFeO3、
GdIG、  GdTbFe。
GdTbFeCo13i、CoFe204等の材料が知
られている。 これらは、真空蒸着法やスパッタリング
法等の方法で、プラスチックやガラス等の透明基板上に
薄膜として形成される。 これらの光磁気記録媒体に共
通している特性としては、磁化容易軸が膜面に垂直方向
にあり、さらにカー効果やファラデー効果が大きいとい
う点をあげることができる。
この性質を利用して、光磁気記録媒体の方法としては、
例えば次の方法がある。
まず、最初に膜全体を“O”すなわち一様に磁化してお
く(これを消去という)、 つ ぎに、“l”を記録し
たい部分にレーザービームを照射する。  レーザービ
ームが照射されたところは温度が上昇し、キューリ一点
に近づいた時、そしてさらにキューリ一点をこえた時に
は、保磁力Hcは0に近づく、 そして、レーザービー
ムを消し、室温にもどせば1反磁場のエネルギーにより
磁化は反転し、さらには、レーザービームの照射の際、
外部磁場を初期と反対の方向に与えて室温にもどすと、
磁化反転し、′1”なる信号が記録される。
また、記録は初期状態が“0”であるから、レーザービ
ームを照射しない部分は“0”のまま残る。
記録された光磁気メモリの読み取りは、同じようにレー
ザービームを用いて、このレーザービーム照射光の磁化
の方向による反射光の偏光面の回転、すなわち磁気光学
効果を利用して行われる。
このような媒体に要求されることは、第1に、キューリ
一点が100〜200℃程度で補償点が室温付近・であ
ること。
第2に、ノイズとなる結晶粒界などの欠陥が比較的小さ
いこと。
第3に高温成膜や長時間成膜等の方法をとらずに、比較
的大面積にわたって磁気的1機械的に均一な膜が得られ
ることがあげられる。
このような要求に答え、上記材料のなかで。
近年、希土類−遷移金属の非晶質垂直磁性薄膜が大きな
注目を集めている。
しかし、このような希土類−遷移金属品質薄膜からなる
光磁気記録媒体において、磁性薄膜層は大気に接したま
ま保存されると、大気中の酸素や水により希土類が選択
的に腐食あるいは酸化されてしまい、情報の記録、再生
が不可能となる。
そこで、一般には、前記磁性層薄膜と基板との間に保護
層を設けた構成を有するものが多く研究されている。
これらの保護層としては、例えばS i O。
5to2等の無機系の真空蒸着膜あるいは常温硬化性の
樹脂の塗膜保護層等がある。
しかしながら、これらの保護層では、十分な防湿性は得
られず、保存劣化等の問題がある。
このような問題に対処するために、本発明者らは基板上
にプラズマ重合膜を形成させる旨の提案を行っている(
昭和60年8月17日付特許出願)。
また、媒体の特性の向上や耐久性の向上、特に基板と磁
性薄膜層との接着力の向上をはかるために、プラズマ処
理をほどこした基板上にプラズマ重合膜を形成し、この
上に磁性薄膜層を設ける旨の提案を行っている(昭和6
0年8月19日付特許出願)。
さらには、媒体の磁性薄膜層表面からの水分等による劣
化を防止する目的で、?a性薄膜層表面にプラズマ重合
膜を形成し、これを保護層として用いたりあるいはさら
にこのプラズマ重合膜の上に放射線硬化型化合物を含有
する保護層を設ける旨の提案を行っている(昭和60年
8月20日および21日付特許出願)。
しかしながら、これらの提案では要求特性を必ずしも満
足せず、より一層優れた特性を有する光磁気記録媒体が
要求されている。
II  発明の目的 本発明の目的は、特性、特に耐久性、高湿度雰囲気中に
おける保存性がきわめてすぐれた光磁気記録媒体を提供
することにある。
■ 発明の開示 このような目的は、下記の本発明によって達成される。
すなわち、本発明は、基板トにプラズマ重合膜下地層を
有し、このプラズマ重合膜下地層の上に、直接あるいは
下地層を介して、希土類−遷移金属の非晶質垂直磁性薄
膜層を有し、この磁性薄膜層上にプラズマ重合膜保護層
を形成したことを特徴とする光磁気記録媒体である。
■ 発明の具体的構成 以下、本発明の具体的構成について詳細に説明する。
未発明の好適実施例としての光磁気記録媒体が第1図に
示されている。
本発明の光磁気記録媒体1は基板の2上にプラズマ重合
膜下地層31、および必要に応じ中間層35を有し、こ
の上に磁性薄膜層4を有し、さらにはプラズマ重合膜保
護層51および必要に応じ保護層55を有している。
本発明の光磁気記録媒体に用いられる基板2は1通常、
樹脂製とし、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂、エ
ポキシ樹脂、ポリメチルペンテン等のオレフィン系樹脂
等から形成するが、その他、ガラス等であってもよい。
なお、記録は基板をとおして行うことが好ましいので、
書き込み光ないし読み出し光に対する透過率は86%以
上必要である。
また、基板は、通常、ディスク状とし、1.2〜1.5
mm程度の厚さとする。
このようなディスク状基板の磁性薄膜層形成面には、ト
ラッキング用の溝が形成されてもよい。
溝の深さは、入/ 8 n程度、特に入/ 7 n〜入
/12n(ここに、nは基板の屈折率である)とされる
。 また、溝の巾は、トラック巾程度とされる。
そして、この溝の凹部に位置する磁性薄膜層を記録トラ
ンク部として、書き込み光および読み出し光を基板裏面
側から照射することが好ましい。
このように構成することにより、書き込み感度と読み出
しのS/N比が向上し、しかもトラ、キングの制御信号
は大きくなる。
また、その他の基板の形状として、テープ、ドラム等と
してもよい。
本発明のプラズマ重合膜下地層31は、Cを含む薄膜で
あることが好ましく、この場合、C単独で形成してもよ
いし、Cとその他の元素を含有させて形成してもよい。
 Cとその他の元素を含有させてプラズマ重合膜下地層
31を形成する場合、その他の元素として、H,N、0
の1種以上を含有させることが好ましい。
原料ガスとしては、通常操作性の良いことから、常温で
気体のメタン、エタン、プロパン、ブタン、ペンタン、
エチレン、プロピレン、フテン、ブタジェン、アセチレ
ン、メチルアセチレン、その他の飽和ないし不飽和の炭
化水素の1種以上を用に’るが、必要に応じて常温で液
体の炭化水素を原料としてプラズマ重合によって形成さ
れてもよい。
このような炭化水素の1種以上に、H2,02,03、
H20,N2 、NO,N20、NO2などのNOx 
、NH3、Co、co2等の1種以上を加えたものを原
料ガスとして用いても好適である。
さらに必要に応じて、原料にSi、B、P、S等のソー
スを微量成分として添加することもできる。
なお、プラズマ重合膜下地層31をC単独で形成する場
合には、炭化水素ガスに対して大量の水素を加えた混合
ガスに対してプラズマ重合を行うことによって炭素膜が
生成可能である。
この炭素膜は混合ガス比、プラズマパワー、基板温度等
の条件により、炭素の構造が変化する。
このような原料を用いて形成されるプラズマ重合博下地
層31の膜厚は、一般にlO〜1000人程度である。
この膜厚を1000Å以上にしても本発明の効果に差異
はなく、この値以上にする必要がない。
また、101未満であると、本発明の実効がなくなる。
なお、膜厚の測定は、エリプソメーター等を用いればよ
い。
このような膜厚の制御は、プラズマ重合膜下地層31形
成時の反応時間、原料ガス流量等を制御すればよい。
プラズマ重合膜下地層31は、前述の原料ガスの放電プ
ラズマを基板に接触させることにより重合膜を形成する
ものである。
プラズマ重合の原理について概説すると、気体を低圧に
保ち電場を作用させると、気体中に少量存在する自由電
子は、常圧に比べ分子間距離が非常に大きいため、電界
加速を受け、5〜10eVの運動エネルギー(電子・温
度)を獲得する。
この加速電子が原子や分子に衝突すると、原子軌道や分
子軌道を分断し、これらを電子、イオン、中性ラジカル
など1通常の状態では不安定の化学種に解離させる。
解離した電子は再び電界加速を受けて、別の原子や分子
を解離させるが、この連鎖作用で気体はたちまち高度の
電離状態となる。 そしてこれは、プラズマガスと呼ば
れている。
気体分子は電子との衝突の機会が少ないのでエネルギー
をあまり吸収せず、常温に近い温度に保たれている。
このように、電子の運動エネルギー(電子温度)と1分
子の熱運動(ガス温度)が分離した系は低温プラズマと
呼ばれ、ここでは化学種が比較的原型を保ったまま重合
等の加酸的化学反応を進めうる状況を創出しており1本
発明はこの状況を利用して基板上にプラズマ重合膜を形
成しようとするものである。 なお低温プラズマを利用
するため、基板への熱影響は全くない。
基板表面にプラズマ重合膜を形成する装置例が第2図に
示しである。 第2図は、周波数可変型の電源を用いた
プラズマ重合装置である。
第2図において、反応容器Rには、原料ガス源511ま
たは512から原料ガスがそれぞれマスフローコントロ
ーラ521および522を経て供給される。 ガス源5
11または512から別々のガスを供給する場合は、混
合器53において混合して供給する。
原料ガスは、各々1〜250s+Jl/分の流量範囲を
とりうる−0 反応容器R内には、被処理基板111が一方の回転式電
極552に支持される。
そして被処理基板111を挟むように回転式電極552
に対向する電極551が設けられている。
一方の電極551は、例えば周波数可変型の電源54に
接続され、他方の回転式電極552は8にて接地声れて
いる。
さらに、反応容器R内には、容器内を排気するための真
空系統が配備され、そしてこれは油回転ポンプ56、液
体窒素トラップ57.油拡散ポンプ58および真空コン
トローラ59を含む、 これら真空系統は1反応容器内
を0.01〜l0Torrの真空度の範囲に維持する。
操作においては、反応容器R内がまず1O−5Torr
以下になるまで容器内を排気し、その後処理ガスが所定
の流量において容器内に混合状態で供給される。
このとき、反応容器内の真空は0.01〜10Torr
の範囲に管理される。
原料ガスの流量が安定すると、電源がオンにさ終る。 
こうして、基板上にプラズマ重合膜が形成される。
なお、キャリアガスとして、Ar、N2゜He + H
2などを使用してもよい。
また、印加電流、処理時間等は通常の条件とすればよい
プラズマ発生源としては、高周波放電の他に、マイクロ
波放電、直流放電、交流放電等いずれでも利用できる。
このように形成されるプラズマ重合膜下地層31は、前
述したように、CまたはCとHlN、Oの1種以上を含
有しており、Cの含有量はプラズマ重合膜下地層31中
に3O−100at%、より好ましくは30〜90at
%である。
Cの含有量が30at%未満であると、プラズマ重合膜
下地層31の膜強度が低下し、実用に耐えない。
また、Cに加えて1種以上含有されるH9N、Oの含有
量は、水素と炭素の原子比(N/C比)が1以下、特に
、1/6〜l、窒素と炭素の原子比(N/C比)が3/
10以下、特に、1720〜3/10.酸素と炭素の原
子比(07C比)が3/10以下、特に、1/20〜3
/10の範囲が好適である。 このようにCに加えてH
,N、Oの1種以上を含有させることによって耐スクラ
ッチ性が向上する。
なお、プラズマ重合膜下地層31中のC2H,N、0お
よびその他の元素の含有量の分析は、5INS(2次イ
オン質量分析)等に従えばよい、  SIMSを用いる
場合、プラズマ重合膜下地層31表面にて、C,H,N
、Oおよびその他の元素をカウントして算出さればよい
あるいは、Ar等でイオンエツチングを行いながら、C
,H,N、Oおよびその他の元素のプロファイルを測定
して算出してもよい。
SIMSの測定については、表面科学基礎講座 第3巻
(1984)表面分析の基礎と応用(p70)  “S
IMSおよびLAMMA’の記載に従えばよい。
このようなプラズマ重合膜下地層31は、プラズマ処理
された基板2上に形成されることが好ましい。
基板2表面をプラズマ処理することによって、基板2と
の接着力が向上し、ひいてはこの基板とプラズマ重合膜
下地層31との接着力が向上する 基板2表面のプラズマ処理法の原理、方法および形成条
件等は前述したプラズマ重合法のそれと基本的にはほぼ
同一である。
ただし、プラズマ処理は原則として、無機ガスを処理ガ
スとして用い、他方、前述したプラズマ重合法によるプ
ラズマ重合膜下地層31の形成には原則として、有機ガ
ス(場合によっては無機ガスを混入させてもよい)を原
料ガスとして用いる。
本発明のプラズマ処理ガスとしては、特に制限はない。
すなわち、H2、A r 、 He’+ 02  r 
N2  +空気、NH3,03、H20,No、N20
゜NO2などのNOx等の中から適宜選定し、これらの
単独ないし混合したちのいずれであってもよい。
さらにプラズマ処理電源の周波数については、特に制限
Iはなく、直流、交流、マイクロ波等いずれであっても
よい。
このようにプラズマ処理された基板2上には、前述した
ようなプラズマ重合膜下地層31が形成され、さらに、
このプラズマ重合膜下地層31の上には、直接あるいは
中間層35を介して磁性薄膜層4が形成される。
この磁性薄膜層4は、変調された熱ビームあるいは変調
された磁界により、情報が磁気的に記録されるものであ
り、記録情報を磁気−光変換して再生するものである。
このような磁性薄膜層4として、希土類金属と遷移金属
の合金をスパッタ、蒸着法等により、非晶質膜として通
常の厚さに形成する。
希土類金属および遷移金属としては種々のものがあるが
、特に前者としてはGd 、 Tb 、また後者として
はFe、Coが好適である。
そして、その好適例としては、GdFe 。
TbFe 、TbFeCo 、GdFeCo 。
GdTbFe等がある。
これらの場合、希土類金属は15〜35at%、遷移金
属は65〜85at%程度とする。
また磁性薄膜層4の厚さは0.05〜0.1gm程度と
する。
なお、上述したように中間層35を介して、磁性薄膜層
4を設層することもできる。 この場合、中間層35の
材質としては、5i02゜SiO,AuN、Si3 N
4  、ZnS等を真空蒸着、スパッタリング等によっ
て形成したものが挙げられる。
このような中間層35は、0.05〜0.2#Lmの厚
さとする。
磁性薄膜層4上には、防湿性をさらに向上させるために
前述したようなプラズマ重合膜からなるプラズマ重合膜
保護層51が形成される。
このプラズマ重合膜保護層51の形成方法、形成条件、
ならびに重合膜の組成、膜厚等は前述したプラズマ重合
膜下地層31の場合と同様にすればよい。
このようなプラズマ重合膜保護層51の上に、さらに別
の材質の保護層55を設層することが好ましい。
保護層55の材質については、特に制限はなく、放射線
硬化型化合物、熱硬化型樹脂、二液反応硬化型化合物、
熱可塑性樹脂等の有機系の保護層、あるいは酸化ケイ素
、窒化ケイ素等の無機系の保護層など種々使用可能であ
る。
これらの中では放射線硬化型化合物を放射線で硬化させ
たものが好ましい。
用いる放射線硬化型化合物としては、イオン化エネルギ
ーに感応し、ラジカル重合性を示す不飽和二重結合を有
すアクリル酸、メタクリル酸、あるいはそれらのエステ
ル化合物のようなアクリル系二重結合、ジアリルフタレ
ートのようなアリル系二重結合、マレイン酸、マレイン
酸部導体等の不飽和二重結合等の放射線照射による架橋
あるいは重合乾燥する基を分子中に含有または導入した
モノマー、オリゴマーおよびポリマー等を挙げることが
できる。
放射線硬化型モノマーとしては1分子量2000未満の
化合物が、オリゴマーとしては分子量2000〜100
00のものが用いられる。
これらはスチレン、エチルアクリレート、エチレングリ
コールジアクリレート、エチレングリコールジメタクリ
レート、ジエチレングリコールジアクリレート、ジエチ
レングリコールメタクリレート、1.8−ヘキサングリ
コールジアクリレート、1,6−ヘキサングリコールジ
アクリレート等も挙げられるが、特に好ましいものとし
ては、ペンタエリスリトールテトラアクリレート (メ
タクリレート)、ペンタエリスリトールアクリレート(
メタクリレート)、トリメチロールプロパントリアクリ
レート(メタクリレート)、トリメチロールプロパンジ
アクリレート(メタクリレート)、多官能オリゴエステ
ルアクリレート(アロニックスM− 7100、M−5400,M−5500、M−5700
、M−6250、M−6500,M−8030、M−8
060、M−8100等、東亜合成)、ウレタンエラス
トマーにツボラン404 Q)のアクリル変性体、ある
いはこれらのものにC0OH等の官能基が導入されたも
の、フェノールエチレンオキシド付加物の7クリレート
(メタクリレート)、下記一般式で示されるペンタエリ
スリトール縮合環にアクリル基(メタクリル基)または
ε−カプロラクトン−アクリル基のついた化合物、 1)  (CH2=CHC00H2) 3  CCH2
0H(特殊アクリレートA) 2)  (CH2=CHC0OH2) 3−CCH2C
H3(特殊アクリレ−)B) 3)  (CH2=CH0C(OC3Ha ) n  
0CH2) 3−CCH2CH3(特殊アクリレ−)C
) (特殊アクリレートD) (特殊アクリレートE) (特殊アクリレートF) 式中、m=1.a=2、b=4の化合物(以下、特殊ペ
ンタエリスリトール縮合物Aという)、 m=1、a=3、b=3(7)化合物(以下、特殊ペン
タエリスリトール縮合物Bという)、m=1、a=6、
b=oの化合物(以下、特殊ペンタエリスリトール縮合
物Cという)、m=2、a=6.b=oの化合物(以下
、特殊ペンタエリスリトール縮合物りという)、および
下記式一般式で示される特殊アクリレート類等が挙げら
れる。
8)  CH2=CHCOO−(CH2CH20) 4
−COCH=CH2(特殊アクリレートH) (特殊アクリレ−)I) (特殊アクリレートJ) A:アクリノL#、    X:多価アルコールY:多
塩基酸    (特殊アクリレートK)12)    
 A(−M−N−)−M−AAニアクリル酸、   M
:2価アルコールN:2塩基酸     (特殊アクリ
レートL)また、放射線硬化型オリゴマーとしては、下
記一般式で示される多官能オリゴエステルアクリレート
やウレタンエラストマーのアクリル変性体、あるいはこ
れらのものにC0OH等の官能基が導入されたもの等が
挙げられる。
拭中R,,R2:アルキル、n:整釦 また、熱可塑性樹脂を放射線感応変性することによって
得られる放射線硬化型化合物を用いてもよい。
このような放射線硬化性樹脂の具体例としては、ラジカ
ル重合性を有する不飽和二重結合を示すアクリル酸、メ
タクリル酸、あるいはそれらのエステル化合物のような
アクリル系二重結合、ジアリルフタレートのようなアリ
ル系二重結合、マレモノ醜、マレイン酸誘導体等の不飽
和結合等の、放射線照射による架橋あるいは重合する基
を熱可塑性樹脂の分子中に含有、または導入した樹脂で
ある。
放射線硬化性樹脂に変性できる熱可塑性樹脂の例として
は、塩化ビニル系共重合体、飽和ポリエスルテ樹脂、ポ
リビニルアルコール系樹脂、エポキシ系樹脂、フェノキ
シ系樹脂、繊維素誘導体等を挙げることができる。
その他、放射線感応変性に用いることのできる樹脂とし
ては、多官能ポリエステル樹脂、ポリエーテルエステル
樹脂、ポリビニルピロリドン樹脂および誘導体(PVP
オレフィン共重合体)、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹
脂、フェノール樹脂、スピロアセタール樹脂、水酸基を
含有するアクリルエステルおよびメタクリルエステルを
重合成分として少くとも一種含むアクリル系樹脂等も有
効である。
このような保w1層55の厚さは0.1〜30ILmで
あり、より好ましくは1〜io#Lmである。
この膜厚がO,lJLm未満になると、一様な膜を形成
できず、湿度が高い雰囲気中での防湿効果が十分でなく
、磁性薄膜層4の耐久性が向上しない、 また、30I
Lmをこえると、樹脂膜の硬化の際に伴う収縮により記
録媒体の反りや保護層中のクラックが生じ、実用に酎え
ない。
このような塗膜は1通常、スピンナーコート、グラビア
塗布、スプレーコート等、種々の公知の方法で設層すれ
ばよい、 この時の塗膜の設層条件は、塗膜組成のポリ
マーの粘度、基板表面の状態、目的とする塗膜厚さ等を
考慮して適宜決定すればよい。
また、このような塗膜を電子線または紫外線によって硬
化させるには、公知の種々の方法に従えばよい。
なお、硬化に際して、紫外線を用いる場合、上述したよ
うな、放射線硬化型化合物の中には、光重合増感剤が加
えられる。
この光重合増感剤としては、従来のものでよく、例えば
、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテ
ル、α−メチルベンゾイン、α−クロルデオキシベンゾ
インのベンゾイン系、ベンゾフェノン、アセトフェノン
、ビスジアルキルアミノベンゾフェノン等のケトン類、
アセドラキノン、フエナントラキノン等のキノン類、ベ
ンジルジスルフィド、テトラメチルチウラムモノスルフ
ィド等のスルフィト類、等を挙げることができる。 光
重合増感剤は樹脂固形分に対し、0.1〜10重量%の
範囲が望ましい。
紫外線照射は、例えば、キセノン放電管、水素放電管な
どの紫外線電球等を用いればよい。
一方、電子線を用いる場合には、放射線特性としては、
加速電圧lOO〜750KV、好ましくは150〜30
0KVの放射線加速器を用い、吸収線量を0.5〜20
メガラツドになるように照射するのが好都合である。
特に照射線源としては、吸収線量の制御、製造工程ライ
ンへの導入、電離放射線の遮 等の見地から、放射線加
熱器により電子線を使用する方法および前述した紫外線
を使用する方法が有利である。
この他、前述したような酸化物、窒化物の保護層55で
あってもよい。
鹸化物としては、−酸化ケイ素、二酸化ケイ素、酸化ア
ルミニウム、酸化チタン、a#化亜鉛等が好適である。
また、窒化物としては、窒化ケイ素、窒化アルミニウム
、窒化チタン、窒化ホウ素等が好適である。
本発明は、上述したように形成して構成してもよい、 
また磁性薄膜層4を有する1対の基板を用い、磁性薄膜
層を内側にして対向させ。
接着剤等を用いて貼り合わせて、基板2の裏面側からの
書き込みを行う、いわゆる両面記録のタイプとしてもよ
い。
また、片面記録の場合、上述したような媒体上に保護板
を接着してもよい。
■ 発明の具体的作用効果 本発明によれば、必要に応じてプラズマ処理された基板
上にプラズマ重合n!下地層を有し、この上に希土類−
遷移金属の非晶質垂直磁性薄膜層を有し、さらにこの上
にプラズマ重合膜保護層を有し、必要に応じてこの上に
保護層を形成して光磁気記録媒体を構成する。
従って、得られた媒体は、特性がより向上し、しかも耐
久性、高湿度雰囲気中における保存性にもすぐれた効果
を有するものである。
なお、本発明の光磁気記録媒体は、各種情報記録媒体と
して種々の用途に用いられ有用である。
■ 発明の具体的実施例 以下、本発明の具体的実施例を示し、本発明をさらに詳
細に説明する。
[実施例] 直径20cmのPMMA製の基板2を真空チャンバ中に
入れ、一旦10’Torrの真空に引いた後、処理ガス
としてArを用い。
流l:50mJL/分にてガス圧0 、1 Torrに
保ちながら13.56MHzの高周波電圧をかけてプラ
ズマを発生させ、基板2表面をプラズマ処理した。
その後、さらに下記の条件にてプラズマ重合膜下地層3
1を基板2上に形成した。
これらのプラズマ重合膜の元素分析はSIMSで測定し
、また膜厚はエリプソメーターによって測定した。
結果を表1に示す。
このように形成されたプラズマ重合膜下地層31上にS
i3N4の中間層35を高周波マグネトロンスパッタに
よって膜厚900人に設層した。
さらにこの上に下記に示される磁性薄膜層4を設層した
後、この磁性薄膜層4上に下地層と同様にプラズマ重合
膜保護層51を形成し、さらにこの上に必要に応じて下
記に示されるような保護層55を設けた。
なお、同一基板に形成されたプラズマ重合膜下地層31
とプラズマ重合膜保護層51の膜組成および膜厚は同一
とした。
(Ni性薄膜層の形成) TbFeCoの合金薄膜をスパッタリングにより厚さ0
.1ルmに設層し、磁性薄膜層とした。
なお、ターゲットは、Feターゲットに   i:□1
1′ Tb、COチップをのせたものを用いた。11:1・1 (保護層の形成) プラズマ重合膜保護層51上に、多官能オリ    □
ゴエステルアクリレート(アロニツクスM−8030)
100重量部、光増感剤(バイキュア55)5重量部か
らなる塗布組成物をスピンナーコートで設層し、その後
、120 W / c m     ′の紫外線を15
SeC照射し、架橋・硬化させ   □た。 この時の
膜厚はloomとした。
このようにして下記1表1に示される各種光磁気ディス
クを作製し、以下に示すような特性値を測定した。
(1)C/N比(保存劣化) 初期のC/N比と、60℃、90%RHにて300時間
保存後のC/N比の変化量を下記の条件で測定した。
回転スピード       4m/sec搬送周波数 
       500KHz分解能         
  30KHz記録パワー(830nm)   3〜4
mW再生パワー(830nm)      1mW(2
)接着強度 作製した光磁気ディスクの磁性薄M層側に接着テープを
一定の圧力で接着させ、この接着テープを180°の角
度方向に一定の速度で引き離し、剥離に要した力を測定
した。
そして、サンプルNo、9(ブランク)の接着強度の値
Woに対する、各サンプルの接着強度の値Wを以下に示
す向上率(%)として表わした。
(3)ピットエラーレート 初期と、60℃、90%RHにて3oO時間保存後のE
FM信号のピットエラーレートを測定した。
結果を表1に示す。
表1に示される結果より1本発明の効果が明らかである
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明の1例を示す光磁気記録媒体の断面図
である。 第2図は、プラズマ重合装置の概略図である。 符号の説明 1・・・光磁気記録媒体、2・・・基板、31・・・プ
ラズマ重合膜下地層、35・・・中間層、4・・・磁性
薄膜層、51・・・プラズマ重合膜保護層、55・・・
保護層、53・・・混合器、54・・・直流、交流およ
び周波数可変型電源、56・・・油回転ポンプ。 57・・・液体窒素トラップ、58・・・油拡散ポンプ
、59・・・真空コントローラ、111・・・被処理基
板、511.512・・・原料ガス源、521.522
・・・マスフローコントローラ、551.552・・・
電極1 、FIG、1 FIG、2 手続ネ甫正書(自発)           1昭和6
1年 5月27日   : 特許庁長官  宇 賀 道 部 殿 !、事件の表示 昭和60年特許願第184799号 2、発明の名称 光磁気記録媒体 3、補正をする者 事件との関係   特許出願人 住  所  東京都中央区日本橋−丁目13番1号名 
 称 (306)  ティーディーケイ株式会社代表者
  大 歳   寛 4、代理人 〒101 住  所  東京都千代田区岩本町3丁目2番2号千代
田岩本ビル 4階 !!!864−4498  Fax、864−6280
氏  名  (8286)  弁理士  石 井 陽 
−□プ″′:5−5、補正により増加する発明の数  
     t       =1 −”6、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲」および 「発明の詳細な説明」の各欄 7、補正の内容 (1)明細書の[2、特許請求の範囲」の項の記載を別
紙のとおり補正する。 (2)明細書の「3、発明の詳細な説明」の項の記載を
下記のとおり補正する。 1)第7ページ9行目の「下地層」をr中間層1と補正
する。 2)第17ページ4〜5行目の「基板2との接着力が向
上し、ひいてはこの基板とプラズマ重合膜下地層31J
をr基板2とプラズマ重合膜下地層31との接着力が向
上し、ひしAてはこの基板2と磁性薄膜層41と補正す
る。 3)第22ページを別添の第22ページに差しかえる。 4)第23ページを別添の第23ページに差しかえる。 5)第26ページを別添の第26ページに差しかえる。 1− X哨すrs −+  >゛> Q 4+r l”
l ハr Jff  算+ ly r J蔽等1と補正
する。 7100、 M−5400、M−5500,M−570
0、M−6250、M−6500,M−8030、M−
8060、M−8100等、東亜合成)、ウレタンエラ
ストマーにツボラン4040)のアクリル変性体、ある
いはこれらのものにC0OH等の官能基が導入されたも
の、フェノールエチレンオキシド付加物のアクリレート
(メタクリレート)、下記一般式で示されるペンタエリ
スリトール縮金環にアクリル基(メタクリル基)または
ε−カプロラクトン−アクリル基のついた化合物、 1)   (CH2=CHCOOCH2):1−cc)
I20H(特殊アクリレートA) 2)   (CH2=CHCOOCH2)3−CCH2
CH・34鴇アクリレートB) 3)   (CH2=CHCO(OC3H6)n−OC
H2)3−CCH2CH3(特殊アクリレートC) (特殊アクリレートD) (特殊アクリレートE) CH2CH2C00CH=CH2 (特殊アクリレートF) 12)   A(−M−N+−M−A Aニアクリル酸、   M:2価アルコールN:2塩基
酸     (特殊アクリレートし)また、放射線硬化
型オリゴマーとしては、下記一般式で示される多官能オ
リゴエステルアクリレートやウレタンエラストマーのア
クリル変性体、あるいはこれらのものにC0OH等の官
能基が導入されたもの等が挙げられる。 (式中R,、R2:アルキル、n:整数)2、特許請求
の範囲 (1)基板上にプラズマ重合膜下地層を有し、このプラ
ズマ重合膜下地層の上に、直接あるいは曳側層を介して
、希土類−遷移金属の非晶質垂直磁性薄膜層を有し、こ
の磁性薄膜層上にプラズマ重合膜保護層を形成したこと
を特徴とする光磁気記録媒体。 (2)プラズマ重合膜下地層およびプラズマ重合膜保護
層がそれぞれC1またはCとH,Nおよび0のうちの少
なくとも1種を含む特許請求の範囲第1項に記載の光磁
気記録媒体。 (3)プラズマ重合膜下地層およびプラズマ重合膜保護
層中のC含有量がそれぞれ30〜100at%である特
許請求の範囲第2項に記載の光磁気記録媒体。 (4)プラズマ重合膜保護層が表面に保護層を有する特
許請求の範囲第1項ないし一第1項のいずれかに記載の
光磁気記録媒体。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上にプラズマ重合膜下地層を有し、このプラ
    ズマ重合膜下地層の上に、直接あるいは下地層を介して
    、希土類−遷移金属の非晶質垂直磁性薄膜層を有し、こ
    の磁性薄膜層上にプラズマ重合膜保護層を形成したこと
    を特徴とする光磁気記録媒体。
  2. (2)プラズマ重合膜下地層およびプラズマ重合膜保護
    層がそれぞれC、またはCとH、NおよびOのうちの少
    なくとも1種を含む特許請求の範囲第1項に記載の光磁
    気記録媒体。
  3. (3)プラズマ重合膜下地層およびプラズマ重合膜保護
    層中のC含有量がそれぞれ30〜 100at%である特許請求の範囲第2項に記載の光磁
    気記録媒体。
  4. (4)プラズマ重合膜下地層と非晶質垂直磁性薄膜層と
    の間に中間層を有する特許請求の範囲第1項ないし第3
    項のいずれかに記載の光磁気記録媒体。
  5. (5)プラズマ重合膜保護層が表面に保護層を有する特
    許請求の範囲第1項ないし第4項のいずれかに記載の光
    磁気記録媒体。
JP18479985A 1985-08-21 1985-08-22 光磁気記録媒体 Pending JPS6246447A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18479985A JPS6246447A (ja) 1985-08-22 1985-08-22 光磁気記録媒体
US06/897,087 US4737408A (en) 1985-08-21 1986-08-18 Magneto-optical recording medium having plasma-polymerized protective layers

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18479985A JPS6246447A (ja) 1985-08-22 1985-08-22 光磁気記録媒体

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6246447A true JPS6246447A (ja) 1987-02-28

Family

ID=16159496

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18479985A Pending JPS6246447A (ja) 1985-08-21 1985-08-22 光磁気記録媒体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6246447A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6278753A (ja) * 1985-10-01 1987-04-11 Fuji Photo Film Co Ltd 磁気光学記憶媒体
JPH0720751U (ja) * 1993-09-06 1995-04-11 武盛 豊永 紙なしファックス

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6150236A (ja) * 1984-08-18 1986-03-12 Canon Inc 磁気記録媒体の製造方法
JPS61184743A (ja) * 1985-02-13 1986-08-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光記録媒体

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6150236A (ja) * 1984-08-18 1986-03-12 Canon Inc 磁気記録媒体の製造方法
JPS61184743A (ja) * 1985-02-13 1986-08-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光記録媒体

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6278753A (ja) * 1985-10-01 1987-04-11 Fuji Photo Film Co Ltd 磁気光学記憶媒体
JPH0720751U (ja) * 1993-09-06 1995-04-11 武盛 豊永 紙なしファックス

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4737408A (en) Magneto-optical recording medium having plasma-polymerized protective layers
JPS6246447A (ja) 光磁気記録媒体
JPS6242349A (ja) 光磁気記録媒体の製造方法
JPS61133067A (ja) 光磁気記録媒体
JPS6246448A (ja) 光磁気記録媒体
JPS6240652A (ja) 光磁気記録媒体
JP2594422B2 (ja) 光磁気記録媒体
JP2543832B2 (ja) 光磁気記録媒体
JPS6243850A (ja) 光磁気記録媒体
JPS6292250A (ja) 情報記録媒体
JPH01165050A (ja) 光記録媒体
JPS62281143A (ja) 光磁気記録媒体
JPS63166039A (ja) 光記録媒体
JPS63166038A (ja) 光記録媒体
JPS6240651A (ja) 光磁気記録媒体
JPS6243849A (ja) 光磁気記録媒体
JPS62281144A (ja) 光磁気記録媒体
JPS63251950A (ja) 光記録媒体
JP2523300B2 (ja) 光記録媒体
JPH0770096B2 (ja) 光磁気記録媒体
JPS62281141A (ja) 光磁気記録媒体
JPS63166043A (ja) 光記録媒体
JPS63197041A (ja) 光記録媒体およびその製造方法
JPS63195841A (ja) 光記録媒体
JPS61139961A (ja) 光磁気記録媒体