JPS62278445A - マルチ超音波探触子 - Google Patents
マルチ超音波探触子Info
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- JPS62278445A JPS62278445A JP61121194A JP12119486A JPS62278445A JP S62278445 A JPS62278445 A JP S62278445A JP 61121194 A JP61121194 A JP 61121194A JP 12119486 A JP12119486 A JP 12119486A JP S62278445 A JPS62278445 A JP S62278445A
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- Japan
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- Pending
Links
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- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 30
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
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- 229910001018 Cast iron Inorganic materials 0.000 description 1
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- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
１発明の詳細な説明
産業上の利用分野
本発明は、溶接欠陥や鋳鉄内部欠陥を検出するためのマ
ルチ超音波探触子に関するものである。
ルチ超音波探触子に関するものである。
従来の技術
従来超音波を利用して溶接線中の溶接欠陥や鋳物内部の
欠陥などを検出する超音波探傷装置としてすでに種々の
ものが提案されておシ、その−例として特開昭６０−１
３８４５５号に示されたものがある。
欠陥などを検出する超音波探傷装置としてすでに種々の
ものが提案されておシ、その−例として特開昭６０−１
３８４５５号に示されたものがある。
上記従来のマルチ超音波探触子は８１０図、第１１図に
示すように、中央に設けた受信用（または送信用）の超
音波振動子αの左右両側に一対の送信用（または受信用
）の超音波振動子す。
示すように、中央に設けた受信用（または送信用）の超
音波振動子αの左右両側に一対の送信用（または受信用
）の超音波振動子す。
ｂが所定の角度で対向するように設けられた構成となっ
ておシ、超音波の放射方向が一方向（１８０°）だけで
あった。
ておシ、超音波の放射方向が一方向（１８０°）だけで
あった。
発明が解決しようとする問題点
上記従来のマルチ超音波探触子は超音波の放射方向が一
方向（１８０°）であるため、被探傷物内の欠陥の形状
や方向によってはこの欠陥が検出できないという問題が
あった。
方向（１８０°）であるため、被探傷物内の欠陥の形状
や方向によってはこの欠陥が検出できないという問題が
あった。
例えば第１２図に示すように、欠陥Ｃが長細かった場合
、図中矢印ｄ、、ｄ−，に示すように欠陥Ｃの直角方向
から超音波が入射した場合はこの欠陥Ｃを検出できるが
、矢印ｔ１．ε２に示すように欠陥Ｃの長手方向から超
音波が入射された場合にはこれを検出できないことがあ
った。
、図中矢印ｄ、、ｄ−，に示すように欠陥Ｃの直角方向
から超音波が入射した場合はこの欠陥Ｃを検出できるが
、矢印ｔ１．ε２に示すように欠陥Ｃの長手方向から超
音波が入射された場合にはこれを検出できないことがあ
った。
問題点を解決するための手段及び作用
本発明は上記のことにかんがみなされたちので、従来の
マルチ超音波探触子に比較して検出力を極めて向上する
ことができるようにしたものセ、その構成は、中央超音
波振動子の両側に外側超音波振動子を対状に配設したマ
ルチ超音波探触子において、外側超音波振動子を中央超
音波振動子の周囲３６０°にわたって複数対設けた構成
となっていて、被探傷物の欠陥に対して２方向以上から
超音波が入射されるようになっている。
マルチ超音波探触子に比較して検出力を極めて向上する
ことができるようにしたものセ、その構成は、中央超音
波振動子の両側に外側超音波振動子を対状に配設したマ
ルチ超音波探触子において、外側超音波振動子を中央超
音波振動子の周囲３６０°にわたって複数対設けた構成
となっていて、被探傷物の欠陥に対して２方向以上から
超音波が入射されるようになっている。
実施例
本発明の実施例を第１図から第９図に基づいて説明する
。
。
図中１は下方が開口された筒状のケースであり、このケ
ース１の中央部には中央部超音波振動子２が下方へ向け
て設けられている。またこの中央部超音波振動子２の周
囲で、かつ９０’分割方向に外側超音波振動子３α、
３ｂ 、 ３ｃ 。
ース１の中央部には中央部超音波振動子２が下方へ向け
て設けられている。またこの中央部超音波振動子２の周
囲で、かつ９０’分割方向に外側超音波振動子３α、
３ｂ 、 ３ｃ 。
３ｃＬが、それぞれ上記中央超音波振動子２の中心線Ｏ
に対して同一角度で対向する姿勢となるようにクサビ４
α＋４ｈ＋４ｃ、４ｒＬに取付けて設けられている上記
各外側超音波振動子３ａ〜３ｄを取付けるそれぞれのク
サビ４６〜４ｄは音響遮断板５にて隔離されている。
に対して同一角度で対向する姿勢となるようにクサビ４
α＋４ｈ＋４ｃ、４ｒＬに取付けて設けられている上記
各外側超音波振動子３ａ〜３ｄを取付けるそれぞれのク
サビ４６〜４ｄは音響遮断板５にて隔離されている。
なお上記クサビ４α〜４ｄはかならずしも各外側超音波
振動子３α〜３ｄにあわせて分割することなく一体状で
あってもよい。この場合、中央超音波振動子２の周囲に
筒状の音響遮閉板を設ける。
振動子３α〜３ｄにあわせて分割することなく一体状で
あってもよい。この場合、中央超音波振動子２の周囲に
筒状の音響遮閉板を設ける。
第２図において、６け外側超音波振動子３α〜３ｄの上
面をカバーする吸音材、７はケース１内に充填した高ダ
ンピング材である。
面をカバーする吸音材、７はケース１内に充填した高ダ
ンピング材である。
なお上記中央及び外側超音波振動子２，３ｃＬ〜３ｄは
それぞれ図示しないリード線及びケーブルを介して探傷
装置本体に接続されている。
それぞれ図示しないリード線及びケーブルを介して探傷
装置本体に接続されている。
次に探傷作用について説明する。まず接触子の下面を被
探傷物の上面に位置させ、外側超音波振動子３α〜３ｄ
に５ＭＨ２の超音波信号を印加して音波を発生させる。
探傷物の上面に位置させ、外側超音波振動子３α〜３ｄ
に５ＭＨ２の超音波信号を印加して音波を発生させる。
各振動子３Ｇ〜３ｄによυ発生された音波はクサビ４α
〜４ｄを透過して中央超音波振動子２直下の中心１！Ｏ
で交差され、この交差点付近にある欠陥がある場合には
これに反射する。そしてこの反射波は中央超音波振動子
２にて受信され探傷器へ信号として送られてこの探傷器
にて上記欠陥が検出される。
〜４ｄを透過して中央超音波振動子２直下の中心１！Ｏ
で交差され、この交差点付近にある欠陥がある場合には
これに反射する。そしてこの反射波は中央超音波振動子
２にて受信され探傷器へ信号として送られてこの探傷器
にて上記欠陥が検出される。
このとき、探傷用の超音波は欠陥に対して等分４方向か
ら発信されるので、被探傷物内の欠陥の形状に関係なく
検出される。
ら発信されるので、被探傷物内の欠陥の形状に関係なく
検出される。
実験例
第３図に示す鋳物１０内に長細い欠陥１０４がある場合
、従来の２方向型の超音波接触子を長手方向Ａ方向にセ
ットした場合の欠陥エコーの探傷波形は第４図に示すよ
うになシ、本発明の上記実施例で示した超音波接触子を
その一方の超音波振動子をＡ方向にセットした場合の欠
陥エコーの探傷波形は第５図に示すようになった。両図
中波形のピークｘ、ｘ′が欠陥部があることを示してお
シ、同一欠陥の場合、本発明に係る超音波探触子の方が
検出力が優れていることがわかる。
、従来の２方向型の超音波接触子を長手方向Ａ方向にセ
ットした場合の欠陥エコーの探傷波形は第４図に示すよ
うになシ、本発明の上記実施例で示した超音波接触子を
その一方の超音波振動子をＡ方向にセットした場合の欠
陥エコーの探傷波形は第５図に示すようになった。両図
中波形のピークｘ、ｘ′が欠陥部があることを示してお
シ、同一欠陥の場合、本発明に係る超音波探触子の方が
検出力が優れていることがわかる。
なお上記実施例では外側の超音波振動子を中央の超音波
振動子に対して９０’方向４個所に配置した例を示した
が、これは４５°方向ｇ個所でもよく、外側の超音波振
動子は中央の超音波振動子の周囲等間隔をあけて複数対
設ける。
振動子に対して９０’方向４個所に配置した例を示した
が、これは４５°方向ｇ個所でもよく、外側の超音波振
動子は中央の超音波振動子の周囲等間隔をあけて複数対
設ける。
上述した超音波探触子ではフサどの角度によって検出深
さがおおよそきめられてしまい、しかも深さ方向に１個
所しか探傷できないので、これを改善するために第６図
に示すように構成してもよい。
さがおおよそきめられてしまい、しかも深さ方向に１個
所しか探傷できないので、これを改善するために第６図
に示すように構成してもよい。
すなわち、中央の超音波振動子１１０両側に、クサビ角
が７０°、４５°と異なる２対の外側超音波ｍ動子１２
ｃｓ、＋２Ａと＋３α、＋３ｂを設ける。なおこれは同
一方向に２対以上でもよい。
が７０°、４５°と異なる２対の外側超音波ｍ動子１２
ｃｓ、＋２Ａと＋３α、＋３ｂを設ける。なおこれは同
一方向に２対以上でもよい。
実験例
第７図に示すように、テストピース１４に、従来のマル
チ超音波探触子の焦点深さ５鴎と、それよシ深い表面か
ら１５ｍ、２５ｍｍの位置に横穴＋５４．１５ｂ、＋５
０をあけ、コレを従来のマルチ超音波振動子と上記多焦
点型の探触子にて検出比較した。
チ超音波探触子の焦点深さ５鴎と、それよシ深い表面か
ら１５ｍ、２５ｍｍの位置に横穴＋５４．１５ｂ、＋５
０をあけ、コレを従来のマルチ超音波振動子と上記多焦
点型の探触子にて検出比較した。
その結果従来のものでの欠陥エコーは第８図に示すよう
になシ、深さ５關位置にある横穴５ａによる欠陥だけを
検出したのに対し、上記多焦点型のものでは笛９図に示
すように３つの横穴５α、５４．５ｃによるそれぞれの
欠陥を検出した。
になシ、深さ５關位置にある横穴５ａによる欠陥だけを
検出したのに対し、上記多焦点型のものでは笛９図に示
すように３つの横穴５α、５４．５ｃによるそれぞれの
欠陥を検出した。
発明の効果
本発明によれば、中央の超音波振動子２のまわシに複数
対の外側超音波振動子３ａ〜３ｄを配置したから、外側
超音波振動子３ａ〜３ｄから超音波を発生させたときに
、中央の超音波振動子２は、これの３６０°方向からこ
のときの超音波が受信され、従来のマルチ超音波探触子
に比較して検出力を極めて向上することができた。
対の外側超音波振動子３ａ〜３ｄを配置したから、外側
超音波振動子３ａ〜３ｄから超音波を発生させたときに
、中央の超音波振動子２は、これの３６０°方向からこ
のときの超音波が受信され、従来のマルチ超音波探触子
に比較して検出力を極めて向上することができた。
第１図から第９図は本発明の実施例を概略的に示すもの
で、第１図は下面図、第２図は第１図のＡ−Ａ＠及びＢ
−Ｂ線に沿う断面図、第３図は被探傷物内の欠陥を示す
説明図、第４図、第５図はｇ３図に示す欠陥のエコーを
示す線図、第６図は他の実施例を示す説明図、第７図は
被探傷物の他側を示す斜視図、第８図、第９図は他の実
施例における欠陥検出エコーを示す線図、第１０図〜第
１２図は従来例を示すもので、第１０図は断面図、第１
１図は下面図、第１２図は長細い欠陥に対する検出方向
を示す説明図である。 ２は中央超音波振動子、３ｃＬ、３ｈ 、３ｃ 。 ３ｄは外側超音波振動子。
で、第１図は下面図、第２図は第１図のＡ−Ａ＠及びＢ
−Ｂ線に沿う断面図、第３図は被探傷物内の欠陥を示す
説明図、第４図、第５図はｇ３図に示す欠陥のエコーを
示す線図、第６図は他の実施例を示す説明図、第７図は
被探傷物の他側を示す斜視図、第８図、第９図は他の実
施例における欠陥検出エコーを示す線図、第１０図〜第
１２図は従来例を示すもので、第１０図は断面図、第１
１図は下面図、第１２図は長細い欠陥に対する検出方向
を示す説明図である。 ２は中央超音波振動子、３ｃＬ、３ｈ 、３ｃ 。 ３ｄは外側超音波振動子。
Claims (1)
- 中央超音波振動子の両側に外側超音波振動子を対状に配
設したマルチ超音波探触子において、外側超音波振動子
３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄを中央超音波振動子２の周囲３
６０°にわたって複数対設けたことを特徴とするマルチ
超音波探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61121194A JPS62278445A (ja) | 1986-05-28 | 1986-05-28 | マルチ超音波探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61121194A JPS62278445A (ja) | 1986-05-28 | 1986-05-28 | マルチ超音波探触子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62278445A true JPS62278445A (ja) | 1987-12-03 |
Family
ID=14805191
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61121194A Pending JPS62278445A (ja) | 1986-05-28 | 1986-05-28 | マルチ超音波探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62278445A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05209868A (ja) * | 1990-07-05 | 1993-08-20 | Nkk Corp | 複合超音波探触子 |
| JP2011163798A (ja) * | 2010-02-05 | 2011-08-25 | Ryoden Shonan Electronics Kk | ボルト検査装置 |
| JP2016045157A (ja) * | 2014-08-26 | 2016-04-04 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置 |
| JP2021085728A (ja) * | 2019-11-27 | 2021-06-03 | 独立行政法人石油天然ガス・金属鉱物資源機構 | 探触子および板厚測定装置 |
-
1986
- 1986-05-28 JP JP61121194A patent/JPS62278445A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05209868A (ja) * | 1990-07-05 | 1993-08-20 | Nkk Corp | 複合超音波探触子 |
| JP2011163798A (ja) * | 2010-02-05 | 2011-08-25 | Ryoden Shonan Electronics Kk | ボルト検査装置 |
| JP2016045157A (ja) * | 2014-08-26 | 2016-04-04 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置 |
| JP2021085728A (ja) * | 2019-11-27 | 2021-06-03 | 独立行政法人石油天然ガス・金属鉱物資源機構 | 探触子および板厚測定装置 |
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