JPS6253771B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6253771B2 JPS6253771B2 JP54120746A JP12074679A JPS6253771B2 JP S6253771 B2 JPS6253771 B2 JP S6253771B2 JP 54120746 A JP54120746 A JP 54120746A JP 12074679 A JP12074679 A JP 12074679A JP S6253771 B2 JPS6253771 B2 JP S6253771B2
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- JP
- Japan
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- degrees
- ultrasonic
- vibrator
- insulating material
- sound insulating
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- Expired
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 23
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 7
- 239000012774 insulation material Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/24—Probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、配管溶接部等の探傷等に用いられる
超音波探触子に関する。
超音波探触子に関する。
従来、配管溶接部の欠陥等を探傷するために超
音波振動子を用いた超音波探触子が用いられてい
る。この従来の超音波探触子は、振動子が１つで
あり、所定の角度にしか超音波を送信できないも
のであつた。
音波振動子を用いた超音波探触子が用いられてい
る。この従来の超音波探触子は、振動子が１つで
あり、所定の角度にしか超音波を送信できないも
のであつた。
これは、従来より、手探傷用超音波探触子のほ
とんどが一探形であり、また超音波探傷器も１チ
ヤンネル形のため、特に多探触子の必要性がなか
つたためである。
とんどが一探形であり、また超音波探傷器も１チ
ヤンネル形のため、特に多探触子の必要性がなか
つたためである。
一方、鋼板、レール等の自動探傷では早くから
多探触子法を採用しているが、これは一探触子及
び探傷器を沢山並べて行う方式であつた。
多探触子法を採用しているが、これは一探触子及
び探傷器を沢山並べて行う方式であつた。
とこので、既設の原子力発電所の一次冷却系配
管の探傷は、垂直（０度）、斜角45度、60度の３
個の別個の接触子を用いて手動により行われてい
る。近年、検査員の放射線被曝量を低減するた
め、検査の半自動化が進められているが、別個の
探触子を１個ずつ走査するのでは、被曝量が多
く、一層の被曝量のの低減が望まれている。
管の探傷は、垂直（０度）、斜角45度、60度の３
個の別個の接触子を用いて手動により行われてい
る。近年、検査員の放射線被曝量を低減するた
め、検査の半自動化が進められているが、別個の
探触子を１個ずつ走査するのでは、被曝量が多
く、一層の被曝量のの低減が望まれている。
また、他の技術分野における超音波探触子を用
いた検査においても、作業の能率化の点から迅速
に異なる屈折角での検査を行える超音波探触子の
開発が望まれている。
いた検査においても、作業の能率化の点から迅速
に異なる屈折角での検査を行える超音波探触子の
開発が望まれている。
本発明の目的は、異なる屈折角での超音波検査
を迅速に行え、例えば原子力関係の検査にあつて
は、検査員の放射線被曝量を低減できる超音波探
触子を提供するにある。
を迅速に行え、例えば原子力関係の検査にあつて
は、検査員の放射線被曝量を低減できる超音波探
触子を提供するにある。
本発明は、シユーに取付けた複数の振動子を遮
音材を隔てて対をなすとともにそれぞれの超音波
ビームの放射角度が異なるように前記遮音材に沿
つて配設することにより、１回の走査で互いに角
度のことなる複数のビームによる探傷を可能にし
て前記目的を達成しようとするものである。
音材を隔てて対をなすとともにそれぞれの超音波
ビームの放射角度が異なるように前記遮音材に沿
つて配設することにより、１回の走査で互いに角
度のことなる複数のビームによる探傷を可能にし
て前記目的を達成しようとするものである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
下面を開口させた立方体箱状のケース１の内壁
には遮音材２が設けられるとともに、下面開口側
には、遮音材３により隔てられた２個のシユー
４，５がケース１内に上部を挿入された状態で取
付けられている。これらのシユー４，５の上部に
は、それぞれ０度用振動子６，７、45度用振動子
８，９および60度用振動子１０，１１が装着さ
れ、これらの０度用振動子６，７、45度用振動子
８，９および60度用振動子１０，１１は、第１図
に示されるように、それぞれ屈折角０度の超音波
ビーム１２、屈折角45度の超音波ビーム１３およ
び屈折角60度の超音波ビーム１４が送信あるいは
受信できるようになつている。この際、一方のシ
ユー４に装着された振動子６，８，１０を送波子
とすると、他方のシユー５に装着された振動子
７，９，１１は受波子とされる。
には遮音材２が設けられるとともに、下面開口側
には、遮音材３により隔てられた２個のシユー
４，５がケース１内に上部を挿入された状態で取
付けられている。これらのシユー４，５の上部に
は、それぞれ０度用振動子６，７、45度用振動子
８，９および60度用振動子１０，１１が装着さ
れ、これらの０度用振動子６，７、45度用振動子
８，９および60度用振動子１０，１１は、第１図
に示されるように、それぞれ屈折角０度の超音波
ビーム１２、屈折角45度の超音波ビーム１３およ
び屈折角60度の超音波ビーム１４が送信あるいは
受信できるようになつている。この際、一方のシ
ユー４に装着された振動子６，８，１０を送波子
とすると、他方のシユー５に装着された振動子
７，９，１１は受波子とされる。
前記ケース１の上面には開口１５が形成される
とともに、この開口１５を閉塞する蓋１６が取付
けられている。また、ケース１にはケーブル１７
の一端が導入されている。さらに、前記２個のシ
ユー４，５の下面には、前記遮音材３に対応した
中央を遮音材１８で仕切られるとともに、互いに
組合わされて平面がほぼ方形となるアダプタシユ
ー１９，２０がリング２１により組合わされて着
脱可能あるいは必要に応じて接着等により固着さ
れている。このアダプタシユー１９，２０は、被
検体の形状に応じて加工され、接触を良好に保つ
ためのものであり、接触面積を小さくする必要が
ある場合には、接触に必要な最低限の面積を残
し、他は研削して除去すればよい。また、アダプ
タシユー１９，２０を用いずシユー４，５を直接
被検体に接触させてもよい。
とともに、この開口１５を閉塞する蓋１６が取付
けられている。また、ケース１にはケーブル１７
の一端が導入されている。さらに、前記２個のシ
ユー４，５の下面には、前記遮音材３に対応した
中央を遮音材１８で仕切られるとともに、互いに
組合わされて平面がほぼ方形となるアダプタシユ
ー１９，２０がリング２１により組合わされて着
脱可能あるいは必要に応じて接着等により固着さ
れている。このアダプタシユー１９，２０は、被
検体の形状に応じて加工され、接触を良好に保つ
ためのものであり、接触面積を小さくする必要が
ある場合には、接触に必要な最低限の面積を残
し、他は研削して除去すればよい。また、アダプ
タシユー１９，２０を用いずシユー４，５を直接
被検体に接触させてもよい。
なお、前記各超音波ビーム１２，１３，１４の
入射点は０度の付近に設定されるとともに、これ
らの３本の超音波ビーム１２，１３，１４は、Ｘ
−Ｙ座標の二次元平面内の同一象限内に投入され
るように各振動子６〜１１がシユー４，５に装着
されている。
入射点は０度の付近に設定されるとともに、これ
らの３本の超音波ビーム１２，１３，１４は、Ｘ
−Ｙ座標の二次元平面内の同一象限内に投入され
るように各振動子６〜１１がシユー４，５に装着
されている。
このような構成において、被検体の探傷を行う
には、時間的に十分間隔をとり、まず、０度で探
傷を行い、次に45度で探傷を行い、最後に60度で
探傷を行う。その次の周期も、０度、45度、60度
の探傷を順次行い、これを繰返して検査を継続す
る。
には、時間的に十分間隔をとり、まず、０度で探
傷を行い、次に45度で探傷を行い、最後に60度で
探傷を行う。その次の周期も、０度、45度、60度
の探傷を順次行い、これを繰返して検査を継続す
る。
上述のような本実施例によれば、一台の超音波
探触子によつて３本の異なる屈折角度の超音波ビ
ーム１２〜１４を送出でき、かつ、これらの３本
の屈折角度の異なる超音波ビーム１２〜１４は、
同一の断面内に存在するようにされているから、
各ビーム１２〜１４の信号をそのまま重畳して画
像表示でき、実時間で断面像を形成することがで
きる。特に、０度のビーム１２は、底面の形状や
被検体の輪郭を表示するのに有効である。また、
検査時間を従来に比べて短縮できるから、作業能
率が向上し、原子力関係の作業に用いた場合は、
検査員の放射線被曝量を低減できる。
探触子によつて３本の異なる屈折角度の超音波ビ
ーム１２〜１４を送出でき、かつ、これらの３本
の屈折角度の異なる超音波ビーム１２〜１４は、
同一の断面内に存在するようにされているから、
各ビーム１２〜１４の信号をそのまま重畳して画
像表示でき、実時間で断面像を形成することがで
きる。特に、０度のビーム１２は、底面の形状や
被検体の輪郭を表示するのに有効である。また、
検査時間を従来に比べて短縮できるから、作業能
率が向上し、原子力関係の作業に用いた場合は、
検査員の放射線被曝量を低減できる。
なお、前記実施例においては、３本の超音波ビ
ームの入射点は０度のビームの付近としたが、探
触子の接触面積を最小にするには、３本のビーム
の入射点を同一点にするのがよい。しかし、実用
上は必ずしも全てを同一点にしなくともよく、０
度と45度とを同一点にしたり、45度と60度とを同
一点にしたりすることによつても接触面積を小さ
くでき、これらも本発明に含まれるものである。
さらに、前記実施例では、屈折角は、０度、45
度、60度としたが、必ずしもこれに限定されるも
のではなく、必要に応じて適宜角度を変更して設
定してもよく、かつ、３つの角度に限らず２つあ
るいは４つ以上の角度を設定してもよい。要する
に、本発明のシユーは複数個の振動子を有し、異
なる屈折角の超音波ビームを送出できるように構
成されていればよい。
ームの入射点は０度のビームの付近としたが、探
触子の接触面積を最小にするには、３本のビーム
の入射点を同一点にするのがよい。しかし、実用
上は必ずしも全てを同一点にしなくともよく、０
度と45度とを同一点にしたり、45度と60度とを同
一点にしたりすることによつても接触面積を小さ
くでき、これらも本発明に含まれるものである。
さらに、前記実施例では、屈折角は、０度、45
度、60度としたが、必ずしもこれに限定されるも
のではなく、必要に応じて適宜角度を変更して設
定してもよく、かつ、３つの角度に限らず２つあ
るいは４つ以上の角度を設定してもよい。要する
に、本発明のシユーは複数個の振動子を有し、異
なる屈折角の超音波ビームを送出できるように構
成されていればよい。
上述のように、本発明によれば、被検体の検査
を能率よく行うことのできる超音波探触子を提供
できるという効果がある。
を能率よく行うことのできる超音波探触子を提供
できるという効果がある。
第１図は本発明に係る超音波探触子の一実施例
を示す側面断面図、第２図は第１図の−線矢
視断面図、第３図は第２図の−線矢視断面
図、第４図は第１図の実施例に用いられるアダプ
タシユーの平面図、第５図は第４図の−線矢
視側面図である。 １……ケース、４，５……シユー、６〜１１…
…振動子、１２〜１４……超音波ビーム。
を示す側面断面図、第２図は第１図の−線矢
視断面図、第３図は第２図の−線矢視断面
図、第４図は第１図の実施例に用いられるアダプ
タシユーの平面図、第５図は第４図の−線矢
視側面図である。 １……ケース、４，５……シユー、６〜１１…
…振動子、１２〜１４……超音波ビーム。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ シユーに振動子を取付、前記振動子からの超
音波ビームにより被測定物の探傷を行う超音波探
触子において、前記シユーに取付けた複数の振動
子を遮音材を隔てて対をなすとともにそれぞれの
超音波ビームの放射角度が異なるように前記遮音
材に沿つて配設したことを特徴とする超音波探触
子。 ２ 特許請求の範囲の第１項に奥いて、シユーは
遮音材をはさんで複数個有し、前記各シユーに
夫々前記遮音材に沿つて複数個の振動子を角度を
異ならせて配置したことを特徴とした超音波探触
子。 ３ 特許請求の範囲の第１項または第２項におい
て、振動子の設置角は、屈折角が０度、45度、60
度となる角停であることを特徴とした超音波探触
子。 ４ 特許請求の範囲の第３項において、各振動子
の配列は、上部から屈折角０度の振動子、45度の
振動子、60度の振動子の順であることを特徴とし
た超音波探触子。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12074679A JPS5644842A (en) | 1979-09-21 | 1979-09-21 | Ultrasonic probe |
| DE19803035463 DE3035463A1 (de) | 1979-09-21 | 1980-09-19 | Ultraschallinspektionssonde |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12074679A JPS5644842A (en) | 1979-09-21 | 1979-09-21 | Ultrasonic probe |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5644842A JPS5644842A (en) | 1981-04-24 |
| JPS6253771B2 true JPS6253771B2 (ja) | 1987-11-12 |
Family
ID=14793951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12074679A Granted JPS5644842A (en) | 1979-09-21 | 1979-09-21 | Ultrasonic probe |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5644842A (ja) |
| DE (1) | DE3035463A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3277083D1 (en) * | 1982-10-19 | 1987-10-01 | Hitachi Ltd | Ultrasonic testing apparatus |
| JPS646550U (ja) * | 1987-07-01 | 1989-01-13 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4835883A (ja) * | 1971-09-09 | 1973-05-26 | ||
| JPS51145389A (en) * | 1975-06-09 | 1976-12-14 | Hitachi Ltd | Ultra sound wave senser |
-
1979
- 1979-09-21 JP JP12074679A patent/JPS5644842A/ja active Granted
-
1980
- 1980-09-19 DE DE19803035463 patent/DE3035463A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4835883A (ja) * | 1971-09-09 | 1973-05-26 | ||
| JPS51145389A (en) * | 1975-06-09 | 1976-12-14 | Hitachi Ltd | Ultra sound wave senser |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3035463A1 (de) | 1981-04-09 |
| JPS5644842A (en) | 1981-04-24 |
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