KR200263215Y1 - 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치 - Google Patents

용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치 Download PDF

Info

Publication number
KR200263215Y1
KR200263215Y1 KR2020010032393U KR20010032393U KR200263215Y1 KR 200263215 Y1 KR200263215 Y1 KR 200263215Y1 KR 2020010032393 U KR2020010032393 U KR 2020010032393U KR 20010032393 U KR20010032393 U KR 20010032393U KR 200263215 Y1 KR200263215 Y1 KR 200263215Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
ultrasonic
probe
transducer
scanning
cable
Prior art date
Application number
KR2020010032393U
Other languages
English (en)
Inventor
박의광
Original Assignee
한국산업안전공단
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국산업안전공단 filed Critical 한국산업안전공단
Priority to KR2020010032393U priority Critical patent/KR200263215Y1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR200263215Y1 publication Critical patent/KR200263215Y1/ko

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치에 대해 개시한다. 본 발명의 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치는, 적어도 하나 이상의 탐촉자를 각각 적정거리로 이격시켜 배치하고 용접부의 두께방향에 대해 전체적으로 초음파를 주사할 수 있도록 주사라인을 가변시킬 수 있도록 된 탐촉자조합케이스와; 상기 각각의 탐촉자 일측에 접속되어 초음파신호에 관련된 정보를 전송할 수 있도록 양측에 어댑터가 구비된 탐촉자케이블과; 상기 각각의 탐촉자케이블의 일측에 구비된 어댑터와 접속되어 원하는 탐촉자를 선택하여 초음파신호를 전달시킬 수 있도록 형성된 탐촉자선택스위치를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 초음파탐상장치의 기술적 문제점인 고도로 숙련된 기술력 요구와 탐상시 지그재그 주사방법으로 인한 검사시간의 장기화 및 이에 따른 검사자의 집중력 저하로 인한 합부(合不)판정에 대한 악영향 등의 문제점을 해결하여 보다 효율적인 탐상이 가능하며, 제작가격이 저렴하고, 호환성이 뛰어나므로 높은 파급효과를 가져올 수 있는 장점이 있다.

Description

용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치{multi-scanning ultrasonic inspector for weld zone}
본 고안은 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치에 관한 것으로, 특히 적어도 하나이상의 초음파탐촉자를 계산된 적정거리로 배열하여 형성된 탐촉자조합케이스에 의해 용접부에 주사된 각각의 초음파신호를 선택적으로 구별하여 초음파탐상기를 통하여 상기 신호를 각각 표시할 수 있도록 구성된 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치에 관한 것이다.
초음파란 보통 인간이 들을 수 있는 가청음파의 범위(20~20000Hz)를 넘는 높은 주파수를 일컬으며 초음파탐상검사는 고주파수의 음파를 검사할 재질내로 보내어 표면 및 내부 결함을 검출하는 비파괴검사법의 하나이다.
초음파를 이용하여 시험체에 초음파를 전달하면 에너지의 손실과 더불어 시험체 내부를 진행하게되며 내부에 존재하는 불연속으로부터 반사한 초음파의 에너지량, 초음파의 진행시간 등을 분석하여 불연속의 위치 및 크기를 정확히 알아낼 수가 있다. 초음파탐상검사는 시험체의 내부에 존재하는 불연속부를 확인할 수 있는 방법으로 방사선투과검사와 더불어 가장 널리 사용되지만 이에 비해 시험체의두께가 두꺼워도 쉽게 검사가 가능하며, 면상결함에 대한 검출 능력이 뛰어난 장점이 있다. 초음파탐상검사시 얻어질 수 있는 정보는 초음파의 성질에 의해 반사, 굴절, 회절 및 간섭을 통해 이루어지며 시험체내 불연속으로부터의 반사, 고체와 기체의 계면에서의 반사, 고체와 액체의 계면에서의 반사등을 통한 펄스-반사법이 주로 이용되고 있다.
산업분야에 쓰이는 초음파탐상검사는 모재의 불연속부에 포함되어 있는 라미네이션, 균열, 개재물의 탐상뿐만 아니라 가공시(용접, 주조등)나 사용중에 발생할수 있는 기공, 균열, 개재물, 피로균열의 검출에 사용된다. 또한 강재뿐만 아니라 비강재의 재질로 이루어진 교량, 철재구조물, 조선, 압력용기, 일반 기계부품에 이르기까지 많은 분야에 걸쳐 있으며 사용될 수 있다.
지금까지의 초음파탐상기 및 탐촉자는 여러 종류가 제작되었다. 예를 들자면, 듀얼탐촉자는 하나의 탐촉자케이스 안에 2개의 진동자를 배치하여 한쪽의 진동자에서는 초음파를 보내고 다른 한쪽의 진동자에서는 반사된 초음파를 수신하는 역할을 수행하였다. 또한, 템덤주사용 탐촉자는 2개의 탐촉자가 1개조로 구성되어 있으며, 상기 듀얼탐촉자와 같이 1개는 송신역할을 하고, 나머지 1개는 수신역할을 수행하고 있다. 또 하나를 소개하자면 Phased array 탐촉자는 본 고안과 흡사하지만, 이것 또한 본 고안과 근본적으로 다르다. Phased array 탐촉자는 탐촉자가 한 세트로 되어있어 탐촉자 수만큼의 초음파탐상기가 내재되어있다고 할 수 있다. 즉, 각각의 진동자에 수신된 초음파신호를 특정 소프트웨어가 내장된 연산장치로 분석하고 종합하기 때문에 장비의 가격이 상당히 비싼 편에 속한다.
한편, 초음파탐상검사는 다른 비파괴검사보다 결함 검출능력이 우수하고 검사시간도 적게 소요되어 적용범위가 계속적으로 증가되는 추세이다. 이렇게 유용한 초음파탐상검사이지만 이 방법 또한 내재적인 문제점이 있다. 즉, 첫째로는 초음파탐상검사는 다른 검사방법과는 달리 고도의 숙련된 기술이 요하기 때문에 압력용기 및 기타 구조물의 취약부위에 대한 가장 적합한 검사방법이 초음파탐사검사이지만 고도의 숙련된 기술을 요하기 때문에 이에 대하여 생각해볼 여지가 있다. 둘째로는 초음파탐상검사라는 것은 용접비드에 대하여 지그재그로 주사하여 탐상을 한다. 그러나 검사부위가 많아지면 검사시간이 상당히 길어지므로 검사자의 집중력이 저하되어 합부(合不)판정에 악영향을 줄 수 있다. 셋째로는 초음파탐상검사기법중 지그재그 주사로 인한 시간적 손실을 해결하기 위해서 현재 다(多)채널 다(多)탐촉자 탐상장치 및 기법이 사용되고 있지만 특수한 프로그램이 초음파탐상기내에 설치되기 때문에 일반 초음파탐상기의 십여 배가 넘는 2 ~ 3억대의 높은 가격으로 시중에 판매되고 있어 실용성에도 많은 문제점이 부각되고있는 실정이다.
따라서, 본 고안의 목적은 다수의 케이블 조합시 초음파의 간섭현상이 초음파탐상기상에 나타나지 않는다는 원리하에 적어도 하나이상의 초음파탐촉자를 빔퍼짐각 및 주사위치에 따라 계산된 적정거리로 배열하여 형성된 탐촉자조합케이스에 의해 용접부에 주사된 각각의 초음파신호를 선택적으로 구별하는 탐촉자선택스위치의 조작에 따라 초음파탐상기를 통하여 상기 각각의 초음파신호를 독립적으로 표시할 수 있도록 구성된 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치를 제공하는데 있다.
도 1은 본 고안의 실시예에 따른 초음파 다중 스캐닝 탐상장치의 구성을 간략히 나타낸 도면.
도 2a는 본 고안의 실시예에 따른 탐촉자의 빔분산을 나타낸 도면.
도 2b는 본 고안의 실시예에 따른 겉보기진동자의 크기를 나타낸 도면.
도 3은 본 고안의 실시예에 따른 용접부와 적정거리를 둔 탐촉자에서 입사되는 빔을 나타낸 도면.
도 4는 본 고안의 실시예에 따른 다수의 탐촉자에서 용접부로 입사되는 빔을 나타낸 도면이다.
도 5는 본 고안의 실시예에 따른 탐촉자조합케이스를 나타낸 도면.
도 6은 본 고안의 실시예에 따른 탐촉자선택스위치를 나타낸 도면.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 용접부 10 : 탐촉자조합케이스
11 : 제1탐촉자 12 : 제2탐촉자
13 : 제3탐촉자 21 : 탐촉자케이블
30 : 탐촉자선택스위치 40 : 메인케이블
50 : 초음파탐상기
상기한 본 고안의 목적을 달성하기 위한 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치는, 적어도 하나 이상의 탐촉자를 각각 계산된 적정거리로 이격시켜 배치하고 용접부의 두께방향에 대해 전체적으로 초음파를 주사할 수 있도록 주사라인을 가변시킬 수 있도록 된 탐촉자조합케이스와; 상기 각각의 탐촉자 일측에 접속되어 초음파신호에 관련된 정보를 전송할 수 있도록 양측에 어댑터가 구비된 탐촉자케이블과; 상기 각각의 탐촉자케이블의 일측에 구비된 어댑터와 접속되어 원하는 탐촉자를 선택하여 초음파신호를 전달시킬 수 있도록 형성된 탐촉자선택스위치를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하고, 상기 탐촉자는 경사각탐촉자로된 것을 특징으로 하며, 상기 탐촉자선택스위치는 하부면에 자석을 형성하여 용접부재에 부착할 수 있는 것을 특징으로 할뿐만 아니라, 상기 탐촉자케이블을 일체형으로 할 수 있도록 각 탐촉자케이블의 외측을 감싸는 보호케이블로 이루어지고, 상기 탐촉자선택스위치의 일측에 접속되어 서로 간섭이나 상쇄가 되지 않은 초음파신호를 전송시킬 수 있도록 양측에 어댑터가 구비된 메인케이블을 더 포함하고, 상기 메인케이블의 일측에 구비된 어댑터에 접속되어 상기 각각의 탐촉자에 의해 탐상된 초음파신호를 독립적으로 독출하여 전체적으로 디스플레이 할 수 있도록 형성된 초음파탐상기를 포함하여 이루어진 것이 바람직하겠다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 바람직한 실시예에 대해 설명한다.
도 1은 본 고안의 실시예에 따른 초음파 다중 스캐닝 탐상장치의 구성을 간략히 나타낸 도면이다. 도 1을 참조하여 설명하면, 3개의 사각탐촉자(이하, 탐촉자라 함)를 각각 계산된 적정거리로 이격시켜 배치하고 용접부의 두께방향에 대해 전체적으로 초음파를 주사할 수 있도록 형성된 탐촉자조합케이스(10)와, 상기 각각의 탐촉자 일측에 접속되어 초음파신호에 관련된 정보를 전송할 수 있도록 양측에 어댑터가 구비된 탐촉자케이블(21)과 상기 탐촉자케이블(21)을 일체형으로 하여 탐상검사시 작업효율을 높일 수 있도록 각 탐촉자케이블(21)의 외측을 감싸는 보호케이블(22)로 구성된 서브케이블(20)과, 상기 각각의 탐촉자케이블(21)의 일측에 구비된 어댑터와 접속되어 원하는 탐촉자를 선택하여 초음파신호를 전달시킬 수 있도록 형성된 탐촉자선택스위치(30)와, 상기 탐촉자선택스위치(30)의 일측에 접속되어 서로 간섭이 되지 않은 초음파신호를 전송시킬 수 있도록 양측에 어댑터가 구비된 메인케이블(40)과, 상기 메인케이블(40)의 일측에 구비된 어댑터에 접속되어 상기 각각의 탐촉자에 의해 탐상된 초음파신호를 서로 간섭이 되지 않은 초음파신호를 각각 독립적으로 분석하여 전체적으로 디스플레이 할 수 있도록 형성된 초음파탐상기(50)로 형성되어있다.
도 2a는 본 고안의 실시예에 따른 탐촉자의 빔분산을 나타낸 도면이다.
먼저, 빔분산에 대하여 간략히 설명하면, 원거리 음장에서는 반사체로부터의반사지시의 강도는 거리가 증가함에 따라 지수적으로 감소하는데 원거리 음장에서 지시의 강도가 지수적으로 감소하는데는 빔의 분산(Beam spread)과 감쇠(Attenuation)의 이유에서이며, 빔 에너지의 강도가 탐촉자로부터의 거리가 증가하면 감소된다는 것은, 강도는 어떤 일정점에서 음파의 강도와 관계되는 것으로 일정량의 에너지가 탐촉자로 되돌아올 때는 처음 주사된 양보다 줄어든 양이 수신된다는 것이며, 이 에너지가 손실되는 것을 감쇠라 하며, 감쇠의 주원인은 산란과 흡수이고 원거리 음장에서만 언급하게 되는데, 근거리 음장에서는 근거리 음장효과가 감쇠 효과를 충분히 상쇄하기 때문이다.
빔의 분산은 진동자 면에서부터 시작되는 것은 아니며, 근거리 음장에서는 초기의 강도 발생시점으로부터 중심축으로 에너지가 집적되는 양상이므로 평면 진동자가 아닌 집속진동자로 간주할 수 있다. 따라서, 근거리 음장에서는 빔의 분산은 고려되지 않게 된다.
원거리 음장에서의 빔 분산각은
------ (식1)
으로 나타낼 수 있는데, 여기서는 빔의 분산각,는 파장, f는 주파수, d는 진동자의 직경 및 V는 속도로 나타내었다.
그러므로 분산각은 진동자의 직경과 파장에 의해 결정된다는 것을 알았다. 즉, 파장이 감소하면(주파수가 증가하면) 빔의 분산각은 감소한다, 그리고 진동자의 직경이 증가하면 비의 분산각은 감소한다. 예를 들어 직경이 20mm의 진동자가 직경이 10mm인 진동자보다 작은 빔을 갖는 것을 의미하는 것이 아니고 동일한 주파수의 경우 10mm 진동자의 분산각이 더 커지는 것을 나타낸다. 도 2a에서 보는바와 같이 진동자의 중심과 근거리 음장의 끝나는 빔의 경계를 연결하는 선과 중심축과의 각이 빔의 분산각이 된다. 본 고안에서 사용한 탐촉자는 주파수가 4MHz, 속도가 3230m/s, 진동자직경을 10mm으로 하였으며사각탐촉자를 사용하였다.
한편, 상기에서 설명한 진동자는 수직탐촉자의 진동자에 대한 설명이므로 다음 도 2b의 경우를 생각해보자.
도 2b는 본 고안의 실시예에 따른 겉보기진동자의 크기를 나타낸 도면이다.
상기 2a에서 설명한 수직탐촉자에 대한 빔분산각을 나타낸바 본 고안에서는 사각탐촉자를 사용하였으므로, 다음의 경우를 고려해야 할 것이다. 우선적으로, 시험재의 탐상면에 대해 각도를 갖고 진행하는 초음파를 이용하여 탐상하는 방법을 사각법(斜角法)이라 하고 일반적으로 횡파가 사용된다.
횡파를 이용한 사각탐촉자에서는 입사각이 굴절종파에 대해 임계각 이상이 되므로, 음파는 쐐기내 또는 접촉매질 내에서는 종파나 시험재 내에서는 일반적으로 횡파만이 전파해 간다.
사각탐촉자의 음장은 쐐기의 존재와, 쐐기와 시험재와의 경계면에서의 굴절각의 영향 때문에 복잡하나 간략히 설명하면, 사각탐촉자에서 쐐기 속으로 보내지는 종파는 시험재와의 경계면에서 일부는 반사하고 일부는 굴절한다. 즉, 사각탐상에 사용되는 굴절횡파의 음장을 알려면, 시험재중에서 본 진동자의 겉보기 크기를 알아야 한다. 쐐기중의 종파의 음속은 시험재중의 횡파의 음속보다 일반적으로 늦으므로 횡파에 의한 탐상의 경우에도 기하학적으로 생각해보면 도 2b에서 보는바와 같이 빔의 굵기가 굴절에 의해 가늘어지는 것은 시험재중에서 본 진동자의 크기가 본래의 크기보다 작아지는 것을 의미한다.
상기 겉보기 진동자의 크기 2g, 본래의 크기는 2a, 2a의 기울어진각을, 굴절각을라 하면 다음과 같은 식을 유도 할 수 있다.
----(식2)
보통 사용하고 있는 횡파의 사각탐촉자의 겉보기 축소율에 따라 굴절각이 커지면 진동자의 겉보기 크기는 작아지고 따라서 지향성이 둔해지며 아울러 먼곳의 감도가 낮아진다.
본 고안에서는 도 2b에서의 축소율에 따라 도2a의 빔 분산각에 적용하여 실시하였다.
도 3은 본 고안의 실시예에 따른 용접부와 적정거리를 둔 탐촉자에서 입사되는 빔을 나타낸 도면이다. 도 3을 참조하여 설명하면, 초음파는 레이저처럼 일정두께의 광선이 나가는 것이 아니라 분산되면서 입사된다. 그러므로 상기 도 2a 내지 도 2b에서 보인바와 같이 경사각에 대한 입사빔의 축소율에 따른 빔 분산을 고려하여, 도 3a는 시험재의 내부에 있는 15mm 떨어진 깊이에 있는 불연속부를 탐상할 수 있도록 용접부의 중심축에서 각각 31mm, 39mm, 49mm의 거리를 두고 3개의 탐촉자를 배치하고 상기 탐촉자의 위치에서 초음파를경사지게 입사하는 경우를 나타내었고, 도 3b는 시험재의 내부에 있는 9mm 떨어진 깊이에 있는 불연속부를 탐상할 수 있도옥 용접부의 중심축에서 각각 19mm, 24mm, 31mm의 거리를 두고 3개의 탐촉자를배치하여 상기 탐촉자의 위치에서 초음파를경사지게 입사하는 경우를 나타내었다.
도 4는 본 고안의 실시예에 따른 다수의 탐촉자에서 용접부로 입사되는 빔을 나타낸 도면이다. 도 4에서 보는바와 같이탐촉자의 빔퍼짐각 및 탐촉자의 위치를 감안한다면 상기탐촉자의 빔퍼짐각을 계산하여 제1,2,3탐촉자(11,12,13)를 0.5 SKIP점 범위 내에서 계산된 적정거리로 배열하면 피검체의 용접부(1)에 전체적으로 주사하게된다. 상기 SKIP점이라 함은 사각탐상에서 빔중심축이 후면에서 반사하여 도달하는 점을 말한다.
상기와 같은탐촉자의 빔퍼짐각에 따라 실험한 결과 제1탐촉자와 제2탐촉자간의 간격을 15mm로 하고, 제2탐촉자와 제3탐촉자와의 간격을 16mm로 하게되면 15mm 두께의 시험재의 종단부 즉, 두께방향을 전체적으로 주사할 수 있다.
도 5는 본 고안의 실시예에 따른 탐촉자조합케이스를 나타낸 도면이다. 상기 2 내지 도3에서의 자료를 근거로 하여 탐촉자를 구성하였다. 도 3에서 보는바와 같이 디귿자 형태의 일정한 두께를 갖는 고정틀(100)이 형성되어있고, 상기 고정틀(100)의 일측벽에는 나사홀(111)이 형성되어있고 타측 내벽에는 제1탐촉자(11)가 배치됨과 동시에 상기 나사홀(111)에는 끝단에 압착부(113)가 형성된 제1나비볼트(112)가 구비되며, 상기 제1나사볼트(112)가 나사홀(111)에 나삽되면서 상기 압착부(112)와 제1탐촉자(11)의 일측면이 맞닿으면서 제1탐촉자(11)를상기 고정틀(100)의 타측 내벽에 압착하여 고정시킨다.
또한, 상기 제1탐촉자(11)와 일정간격을 유지하면서 고정틀(100)의 양측벽에는 나사홀(211)이 형성되어있고 고정틀(100) 바닥면 중간에 제2탐촉자(12)를 배치함과 동시에 상기 양측벽에 형성된 나사홀(211)에는 끝단에 압착부(213)가 구비된 2개의 제2나비볼트(212)가 구비되며, 상기 2개의 제2나사볼트(212)가 각각 양측의 나사홀(211)에 나삽되면서 각각의 압착부(213)와 제2탐촉자(12)의 약측면과 맞닿으면서 제2탐촉자(12)를 고정틀(100) 중간에 압착 고정시킨다.
또한, 상기 제2탐촉자(12)와 일정간격을 유지하면서 상기 제1탐촉자(11)와 점대칭의 형상으로 제1탐촉자(11)가 고정된 고정틀(100)의 일측벽에 나사홀(311)이 형성되어있고 타측 내벽으로 제3타촉자(13)가 배치됨과 동시에 상기 나사홀(311)에는 끝단에 압착부(313)가 형성된 제3나비볼트(312)가 구비되며, 상기 제3나사볼트(312)가 나사홀(311)에 나삽되면서 상기 압착부(313)와 상기 제3탐촉자(13)의 일측면과 맞닿으면서 제3탐촉자(13)를 상기 고정틀(100)의 타측 내벽에 압착하여 고정시키도록 형성되어있다. 또한, 상기의 고정틀(100)은 탈착형으로 제작하고 작업의 편리성을 위하여 금형으로 제작된 틀 안에 일체형으로 제작하여 사용할 수 있다.
상기와 같이 탐촉자(11,12,13)의 굴절각, 스킵(SKIP)거리, 빔퍼짐, 입사점, 접근한계거리, 시험재의 곡률반경등의 종합적인 적용에 의하여 형성된 탐촉자조합케이스(10)의 저면을 용접부(1)와 적정거리를 유지하면서 상기 제1,2,3탐촉자(11,12,13)에 의해 탐상검사에 따른 초음파신호를 상기 탐촉자케이블(21)을 통하여 전달하게되는 것이다.
도 6은 본 고안의 실시예에 따른 탐촉자선택스위치를 나타낸 도면이다. 도 6을 참조하여 설명하면, 일측에는 상기 제1,2,3탐촉자(11,12,13)에 연결되는 서브케이블(20)이 접속되어있고, 타측에는 초음파탐상기(50)에 연결되는 메인케이블(40)이 접속되어져있으며, 상부에는 3개의 스위치가 구비되어져 각 스위치마다 상기 3개의 탐촉자(11,12,13)에 접속된 탐촉자케이블(21)과 각각 선택적으로 통전될 수 있도록 구성되어져있다. 상기 서브케이블(20)과 메인케이블(40)은 착탈가능하도록 끝단에 어댑터를 구비하였다.
상기 탐촉자선택스위치(30)에 구비된 스위치의 선택적 작동으로 인하여 상기 도5에서 설명한 탐촉자조합케이스(10)의 각 제1,2,3탐촉자(11,12,13)에 의해 탐상검사에 따른 초음파신호를 상기 서브케이블(20)을 통하여 메인케이블(40)을 거쳐 초음파탐상기(50)에 전달하여 화면에 초음파탐상신호를 디스플레이 하게되는 것이다.
상기와 같이 제1,2,3탐촉자(11,12,13)에 의한 탐상신호를 하나의 케이블(여기서는 메인케이블(50))에 전달하여도 초음파신호를 초음파탐상기의 화면에 표시하여도 서로 간섭현상 없이 독립적인 신호를 각각 얻을 수 있는 것이다.
상술한 바와 같이, 본 고안에 따른 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치는, 비파괴검사장비인 초음파탐상장치의 기술적인 문제점인 고도로 숙련된 기술력 요구와 사각탐상시 지그재그 주사로 인한 검사시간의 장기화 및 이에 따른 검사자의 집중력 저하로 인한 합부(合不)판정에 대한 악영향 등의 문제점을 해결하여 보다 효율적인 탐상이 가능하며, 장비의 제작가격을 저렴하게 할 수 있고, 호환성이 뛰어나므로 파급효과 또한 클 것이며, 본 고안으로 인하여 진단, 검시기술지원 및 제작,성능검사시 다중 스캐닝 탐상장치를 적용함으로써 검사기술향상에 크게 기여함은 너무나 자명할 것이다.
본 고안은 상술한 실시예에 한정되지 않으며, 본 고안고안술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의하여 많은 변형이 가능함은 명백할 것이다.

Claims (6)

  1. 적어도 하나 이상의 탐촉자를 각각 계산된 적정거리로 이격시켜 배치하고 용접부의 두께방향에 대해 전체적으로 초음파를 주사할 수 있도록 주사라인을 가변시키도록 된 탐촉자조합케이스와;
    상기 각각의 탐촉자 일측에 접속되어 초음파신호에 관련된 정보를 전송할 수 있도록 양측에 어댑터가 구비된 탐촉자케이블과;
    상기 각각의 탐촉자케이블의 일측에 구비된 어댑터와 접속되어 원하는 탐촉자를 선택하여 해당 초음파신호를 전달시킬 수 있도록 형성된 탐촉자선택스위치를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 탐촉자는 경사각탐촉자로된 것을 특징으로 하는 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 탐촉자선택스위치는 용접부재에 착탈 가능하도록 하부면에 자석이 구비된 것을 특징으로 하는 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 탐촉자케이블을 일체형으로 할 수 있도록 각 탐촉자케이블의 외측을 감싸는 보호케이블이 형성된 것을 특징으로 하는 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 탐촉자선택스위치의 일측에 접속되어 서로 간섭이 되지 않은 초음파신호를 전송시킬 수 있도록 양측에 어댑터가 구비된 메인케이블을 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 메인케이블의 일측에 구비된 어댑터에 접속되어 상기 각각의 탐촉자에 의해 탐상된 초음파신호를 분석하여 독립적으로 디스플레이 할 수 있도록 형성된 초음파탐상기를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치.
KR2020010032393U 2001-10-23 2001-10-23 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치 KR200263215Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020010032393U KR200263215Y1 (ko) 2001-10-23 2001-10-23 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020010032393U KR200263215Y1 (ko) 2001-10-23 2001-10-23 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2001-0065481A Division KR100441757B1 (ko) 2001-10-23 2001-10-23 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR200263215Y1 true KR200263215Y1 (ko) 2002-02-04

Family

ID=73054926

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2020010032393U KR200263215Y1 (ko) 2001-10-23 2001-10-23 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR200263215Y1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100441757B1 (ko) * 2001-10-23 2004-07-30 한국산업안전공단 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100441757B1 (ko) * 2001-10-23 2004-07-30 한국산업안전공단 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7698944B2 (en) Ultrasonic method and apparatus for evaluating spot weld zone
KR101163549B1 (ko) 위상배열 초음파 탐상용 기본 보정시험편
US9816964B1 (en) Ultrasonic method and device for volumetric examination of aluminothermic rail welds
JP4728838B2 (ja) 超音波によるスポット溶接部の評価方法及び装置
JP5574731B2 (ja) 超音波探傷試験方法
WO2005045418A1 (en) Method for checking a weld between two metal pipelines
WO2020039850A1 (ja) 接合界面の評価方法および接合界面の評価装置
JP2002062281A (ja) 欠陥深さ測定方法および装置
KR100441757B1 (ko) 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치
KR200263215Y1 (ko) 용접부에 대한 초음파 다중 스캐닝 탐상장치
JP2016050811A (ja) Tofd探傷法による超音波探傷装置と方法
KR101139592B1 (ko) 접촉매질 막 유지를 위한 종파 탐촉자 웨지 및 이를 이용한 종파 탐촉자
JPH09257764A (ja) 手動走査型超音波探傷装置
JP5250248B2 (ja) 欠陥等端部の検出方法及び欠陥等端部の検出装置
Long et al. Phased array inspection of irregular surfaces
JP3754669B2 (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
JP2003057214A (ja) 隅肉溶接部の超音波探傷方法およびその装置
KR100347366B1 (ko) 초음파 탐상 검사방법
US7418867B2 (en) Remote use of ultrasonic sensors
JPH095304A (ja) 直管とエルボとの溶接部の超音波探傷方法
JP2006126068A (ja) レーザ溶接継手の検査方法及び検査装置
Taheri et al. The advantages of Phased Array Ultrasonic Testing (PAUT) & Time of flight Diffraction (TOFD) Combination instead of using individually on ASME U stamp Pressure vessel fabrication projects.
JP2022164209A (ja) 超音波検査装置
JPH09257774A (ja) 超音波探傷装置の斜角探触子
JPH09297125A (ja) 超音波臨界角探傷装置

Legal Events

Date Code Title Description
U107 Dual application of utility model
REGI Registration of establishment
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030114

Year of fee payment: 3

LAPS Lapse due to unpaid annual fee