JPS62274207A - 走行する糸の断面積又は容積の測定装置 - Google Patents
走行する糸の断面積又は容積の測定装置Info
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- JPS62274207A JPS62274207A JP10650787A JP10650787A JPS62274207A JP S62274207 A JPS62274207 A JP S62274207A JP 10650787 A JP10650787 A JP 10650787A JP 10650787 A JP10650787 A JP 10650787A JP S62274207 A JPS62274207 A JP S62274207A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
- G01B11/10—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving
- G01B11/105—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving using photoelectric detection means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H63/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package
- B65H63/06—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package responsive to presence of irregularities in running material, e.g. for severing the material at irregularities ; Control of the correct working of the yarn cleaner
- B65H63/062—Electronic slub detector
- B65H63/065—Electronic slub detector using photo-electric sensing means, i.e. the defect signal is a variation of light energy
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- B65H2701/30—Handled filamentary material
- B65H2701/31—Textiles threads or artificial strands of filaments
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
本発明は、測定間隙の一方の側に、測定間隙から遠い方
の側から光源により照らされかつ遮光片により部分的に
覆われる散乱ガラス板が設けられ、測定間隙の他方の側
に光電素子が設けられ、この光電素子の出力信号が走行
する系の断面積又は容積の尺度を表わす、走行する糸の
断面積又は容積の測定装置に関する。
の側から光源により照らされかつ遮光片により部分的に
覆われる散乱ガラス板が設けられ、測定間隙の他方の側
に光電素子が設けられ、この光電素子の出力信号が走行
する系の断面積又は容積の尺度を表わす、走行する糸の
断面積又は容積の測定装置に関する。
ドイツ連邦共和国特許第２６０２４６５号明細書から公
知のこの種の装置では、特に綾振り糸において精確な測
定結果を得るために、散乱ガラス板が糸に府して平行に
測って面中心へ減少する幅を持つように構成されている
。系が散乱ガラス板の中心から縁へ綾振りすると、糸は
輝度が−ＫＭ大きい散乱ガラス板中心におけるより大き
い長さで散乱ガラス板を覆う。それにより光電素子を形
にする効果は、綾振り範囲における系のそのつどの位置
に関係なく常に同じである。
知のこの種の装置では、特に綾振り糸において精確な測
定結果を得るために、散乱ガラス板が糸に府して平行に
測って面中心へ減少する幅を持つように構成されている
。系が散乱ガラス板の中心から縁へ綾振りすると、糸は
輝度が−ＫＭ大きい散乱ガラス板中心におけるより大き
い長さで散乱ガラス板を覆う。それにより光電素子を形
にする効果は、綾振り範囲における系のそのつどの位置
に関係なく常に同じである。
散乱ガラス板の幅の減少は、その上縁及び下縁にある２
つの鞍部によるか又は扇形遮光片により行なわれる。
つの鞍部によるか又は扇形遮光片により行なわれる。
このような測定装置では、測定間隙内にできるだけ均一
な測定区域が３つの座標方向すべてに均一性をもって存
在せねばならない。前記の公知の装置では、散乱ガラス
板面において系走行方向に対し直角に良好な均一性が得
られるが、糸走行方向における測定区域は、散乱ガラス
板全体にわたって延びる鞍部又は遮光片のため均一でな
い。遮光片は測定に特定の不精確さを生じ、特に測定区
域長より短い糸欠点ではこの不精確さが、冑害で許容で
きない測定誤差を生ずる。このような糸欠点は例えば短
い節である。
な測定区域が３つの座標方向すべてに均一性をもって存
在せねばならない。前記の公知の装置では、散乱ガラス
板面において系走行方向に対し直角に良好な均一性が得
られるが、糸走行方向における測定区域は、散乱ガラス
板全体にわたって延びる鞍部又は遮光片のため均一でな
い。遮光片は測定に特定の不精確さを生じ、特に測定区
域長より短い糸欠点ではこの不精確さが、冑害で許容で
きない測定誤差を生ずる。このような糸欠点は例えば短
い節である。
さて本発明の基礎となっている課題は、特に糸、走行方
向にも良好な均一性を持ち、従って例えば短い節のよう
な短い系欠点を持つ走行する綾振り系でも精確な測定結
果を可能にする、できるだけ均一な測定区域を形成する
ことである。
向にも良好な均一性を持ち、従って例えば短い節のよう
な短い系欠点を持つ走行する綾振り系でも精確な測定結
果を可能にする、できるだけ均一な測定区域を形成する
ことである。
この課題を解決するため本発明によれば、遮光片が光源
の光軸に設けられ、かつこの光軸を包囲する散乱ガラス
板の範囲を覆って、測定間隙の対応する範囲における輝
度がこの範囲外における値に合わされている。
の光軸に設けられ、かつこの光軸を包囲する散乱ガラス
板の範囲を覆って、測定間隙の対応する範囲における輝
度がこの範囲外における値に合わされている。
実際の実験かられかったように、本発明による解決策に
よって、測定間隙内のすべての座標方向に均一な測定区
域が得られ、短い糸欠点でも測定信号が精確に再現可能
である。
よって、測定間隙内のすべての座標方向に均一な測定区
域が得られ、短い糸欠点でも測定信号が精確に再現可能
である。
本発明による装置の第１の好ましい実施態様によれば、
光源と散乱ガラス板との間に、遮光片を包囲する導光素
子が設けられている。この実施態様は、測定区域の均一
性が更に改善されるという利点を持っている。
光源と散乱ガラス板との間に、遮光片を包囲する導光素
子が設けられている。この実施態様は、測定区域の均一
性が更に改善されるという利点を持っている。
本発明による装置の第２の好ましい実施態様によれば、
遮光片がその光源に近い方の面を反射するように構成さ
れ、導光素子が遮光片から反射される光部分を散乱ガラ
ス板へ転向する。
遮光片がその光源に近い方の面を反射するように構成さ
れ、導光素子が遮光片から反射される光部分を散乱ガラ
ス板へ転向する。
この実施態様は、遮光片により覆われる光は失われずに
測定間隙へ達し、それにより測定信号の値が高められ、
従って光源の電流が減少されるという利点を持っている
。
測定間隙へ達し、それにより測定信号の値が高められ、
従って光源の電流が減少されるという利点を持っている
。
実施例及び図面に基いて本発明を以下に説明する。
走行する糸Ｆの断面積又は容積を測定する図示した装置
は、それぞれ測定間隙２のあるケースｌを持ち、測定す
べき糸Ｆがこの測定間隙を通って走行する。図示した実
施例は、第１図及び第３図では約２．５ｍｍ、第２図で
は約４■、第４図では約６■の幅の異なる測定間隙２を
持つ測定装置を示している。
は、それぞれ測定間隙２のあるケースｌを持ち、測定す
べき糸Ｆがこの測定間隙を通って走行する。図示した実
施例は、第１図及び第３図では約２．５ｍｍ、第２図で
は約４■、第４図では約６■の幅の異なる測定間隙２を
持つ測定装置を示している。
プラスチックから一体に割出成形されたケースｌは、大
体において測定間隙２を包囲する２つの側壁３及び４と
、これら側壁を保持する基板５とから成り、これらの側
壁に装置の光学部分と電子部分が設けられ、基板はケー
スｌの取付けねじ用及び電子部分の電気接続導線用の第
！及び第２の穴を備えている。
体において測定間隙２を包囲する２つの側壁３及び４と
、これら側壁を保持する基板５とから成り、これらの側
壁に装置の光学部分と電子部分が設けられ、基板はケー
スｌの取付けねじ用及び電子部分の電気接続導線用の第
！及び第２の穴を備えている。
図において左の側壁３には光源６なるべく発光ダイオー
ド６が設けられて、右の側壁７に設けられなるべく埋込
まれた先覚素子としてのフォトダイオード７の方へ光を
送り出すａ？！！Ｉ定間１！１２はケースｌの両側壁３
及び４の方へそれぞれ散乱ガラス板８及び９により密わ
れ、それにより測定間Ｅ２に拡散照度が生じて、拡散光
としてもフォトダイオード７へ入射する。フォトダイオ
ード７の前にある散乱ガラス板９は、周囲光を遮蔽する
フィルタガラス板としても構成するか、又は同時に散乱
兼フィルタガラス板として使用することができる。
ド６が設けられて、右の側壁７に設けられなるべく埋込
まれた先覚素子としてのフォトダイオード７の方へ光を
送り出すａ？！！Ｉ定間１！１２はケースｌの両側壁３
及び４の方へそれぞれ散乱ガラス板８及び９により密わ
れ、それにより測定間Ｅ２に拡散照度が生じて、拡散光
としてもフォトダイオード７へ入射する。フォトダイオ
ード７の前にある散乱ガラス板９は、周囲光を遮蔽する
フィルタガラス板としても構成するか、又は同時に散乱
兼フィルタガラス板として使用することができる。
泄定゛間１ｅ２を通過する糸Ｆが、系欠点例えば節又は
細い個所により生ずる新面種変化を持っていると、フォ
トダイオード７への影とそれに応じて出力信号が変化す
る。フォトダイオード７の出力信号のこの変化により、
今や欠陥個所を単に記録するか、又は走行する糸Ｆを停
止して欠陥個所を除去することができる。
細い個所により生ずる新面種変化を持っていると、フォ
トダイオード７への影とそれに応じて出力信号が変化す
る。フォトダイオード７の出力信号のこの変化により、
今や欠陥個所を単に記録するか、又は走行する糸Ｆを停
止して欠陥個所を除去することができる。
散乱ガラス板８及び９には種々の材料が適していること
がわかった。第１図及び第３図の実施例では、散乱ガラ
ス板８及び９は焼結セラミックからなる板片により形成
され、第２図及び第４図の実施例では乳白ガラスから成
る散乱ガラス板８が、またフィルタガラス板として作用
するガラス板はフィルタガラスから形成されている。
がわかった。第１図及び第３図の実施例では、散乱ガラ
ス板８及び９は焼結セラミックからなる板片により形成
され、第２図及び第４図の実施例では乳白ガラスから成
る散乱ガラス板８が、またフィルタガラス板として作用
するガラス板はフィルタガラスから形成されている。
フォトダイオード７の出力信号が明確で再現可能である
ようにするため、測定間ｌ！Ｊｉ２にできるだけ均一な
測定区域が存在し、即ち照度が３つの座標方向すべてに
おいてできるだけ均一でなければならない。即ち測定間
隙に対して直角及び平行な方向即ち糸走行方向に対して
直角な２つの方向には、糸Ｆ又は欠点断面の綾振り運動
のため、また系走行方向には、測定区域長に対して短い
糸欠点が光軸に対する糸Ｆの位置に関係なくフォトダイ
オード７の同じ出力信号を生ずるため。
ようにするため、測定間ｌ！Ｊｉ２にできるだけ均一な
測定区域が存在し、即ち照度が３つの座標方向すべてに
おいてできるだけ均一でなければならない。即ち測定間
隙に対して直角及び平行な方向即ち糸走行方向に対して
直角な２つの方向には、糸Ｆ又は欠点断面の綾振り運動
のため、また系走行方向には、測定区域長に対して短い
糸欠点が光軸に対する糸Ｆの位置に関係なくフォトダイ
オード７の同じ出力信号を生ずるため。
しかし散乱ガラス板８の使用にもかかわらず測定間ｗ１
４２には、光軸の範囲にこの範囲外におけるより大きい
輝度が存在するという公知の事実は、この要求に矛盾す
る。光軸の範囲における輝度をこの範囲外の値に合わせ
るために、第１図によれば遮光片１０が、発光ダイオー
ド６の光軸に設けられて、散乱ガラス板８の特定範囲を
范っている。この範囲の大きさは、その輝度の尖頭値が
この範囲外の輝度にちょうど合うように減少されるよう
に、選ばれている。
４２には、光軸の範囲にこの範囲外におけるより大きい
輝度が存在するという公知の事実は、この要求に矛盾す
る。光軸の範囲における輝度をこの範囲外の値に合わせ
るために、第１図によれば遮光片１０が、発光ダイオー
ド６の光軸に設けられて、散乱ガラス板８の特定範囲を
范っている。この範囲の大きさは、その輝度の尖頭値が
この範囲外の輝度にちょうど合うように減少されるよう
に、選ばれている。
換言すれば、遮光片ｌＯにより光軸の範囲で輝度の尖頭
が切り取られる。実際の実験から、第１図に示す測定間
ａ２の約２．５ｍｍの幅では、遮光片１０が約４ ａｍ
２の面積を持つとよいことがわかった。遮光片ｌＯは規
則正しい而例えば円、多角形又は星の形状の板片により
形成することができる。
が切り取られる。実際の実験から、第１図に示す測定間
ａ２の約２．５ｍｍの幅では、遮光片１０が約４ ａｍ
２の面積を持つとよいことがわかった。遮光片ｌＯは規
則正しい而例えば円、多角形又は星の形状の板片により
形成することができる。
遮光片ｌＯは必ずしも面状である必要はなく、三次元的
に、例えば第１図に破線で示すように球冠として、又は
尖端が発光ダイオード６の方へ向く円錐として、又は円
筒として構成することができる。
に、例えば第１図に破線で示すように球冠として、又は
尖端が発光ダイオード６の方へ向く円錐として、又は円
筒として構成することができる。
第２図ないし第４図に示す実施例では、発光ダイオード
６と散乱ガラス板８との間に導光素子としての４光体１
１が設けられ、それにより測定間隙２における照度の均
一性が改善される。
６と散乱ガラス板８との間に導光素子としての４光体１
１が設けられ、それにより測定間隙２における照度の均
一性が改善される。
導光体＋１はガラス又はプレキシガラスのような適当な
材料から成り、円錐台の形状を持っている。散乱ガラス
板８に当るその底面は適当な凹所１２を備えている。第
２図ではこの凹所１２は、円錐状端部の開き角を導光体
１１の開き角に合わされている盲穴により、第３図では
約９０°の開き角を持つ円錐状凹所１２により、また第
４図では約１５°の開き角を持つ円錐状凹所１２により
形成されている。凹所１２の構成の他の変化や図示した
実施例の組合わせも可能である。
材料から成り、円錐台の形状を持っている。散乱ガラス
板８に当るその底面は適当な凹所１２を備えている。第
２図ではこの凹所１２は、円錐状端部の開き角を導光体
１１の開き角に合わされている盲穴により、第３図では
約９０°の開き角を持つ円錐状凹所１２により、また第
４図では約１５°の開き角を持つ円錐状凹所１２により
形成されている。凹所１２の構成の他の変化や図示した
実施例の組合わせも可能である。
第２図の凹所１２を形成する盲穴はその円錐状部分の外
面を鏡面化され、従って一方では遮光片として作用し、
他方では当る光を導光体１１へ反射する。遮光片１２か
ら反射されるこの光は、円錐台状導光体１１の開き角（
図では約４５°）を適当に選ぶと、その周面で全反射し
、従って測定間隙２へ達する。もちろん第３図及び第４
り出される光はいずれにせよ導光体１１において集束さ
れるので、多くの場合鏡面化は必ずしも必要でない。
面を鏡面化され、従って一方では遮光片として作用し、
他方では当る光を導光体１１へ反射する。遮光片１２か
ら反射されるこの光は、円錐台状導光体１１の開き角（
図では約４５°）を適当に選ぶと、その周面で全反射し
、従って測定間隙２へ達する。もちろん第３図及び第４
り出される光はいずれにせよ導光体１１において集束さ
れるので、多くの場合鏡面化は必ずしも必要でない。
こうして導光体１１及び遮光片１２の図示した構成によ
り、遮光片により覆われる光は失われずに測定間隙１２
へ達し、それによりフォトダイオード７の出力信号が高
められ、これが発光ダイオード６の電流の減少を可能に
する。測定間隙２へ達して遮光片１２により反射される
光の部分は、円錐台状導光体１１の周面の内側を鏡面化
することにより、更に高めることができる。
り、遮光片により覆われる光は失われずに測定間隙１２
へ達し、それによりフォトダイオード７の出力信号が高
められ、これが発光ダイオード６の電流の減少を可能に
する。測定間隙２へ達して遮光片１２により反射される
光の部分は、円錐台状導光体１１の周面の内側を鏡面化
することにより、更に高めることができる。
第１図ないし第４図は本発明による装置の異なる実施例
の断面ダである。 ２・・・測定間隙、６・・・光源、７・・・光電素子、
８，９・・・散乱ガラス板、１０．１２・・・遮光片。
の断面ダである。 ２・・・測定間隙、６・・・光源、７・・・光電素子、
８，９・・・散乱ガラス板、１０．１２・・・遮光片。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 測定間隙の一方の側に、測定間隙から遠い方の側か
ら光源により照らされかつ遮光片により部分的に覆われ
る散乱ガラス板が設けられ、測定間隙の他方の側に光電
素子が設けられ、この光電素子の出力信号が走行する糸
の断面積又は容積の尺度を表わすものにおいて、遮光片
（１０、１２）が光源（６）の光軸に設けられ、かつこ
の光軸を包囲する散乱ガラス板の範囲を覆って、測定間
隙（２）の対応する範囲における輝度がこの範囲外にお
ける値に合わされていることを特徴とする、走行する糸
の断面積又は容積の測定装置。 ２ 光源（６）と散乱ガラス板（８）との間に、遮光片
（１２）を包囲する導光素子（１１）が設けられている
ことを特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の装置
。 ３ 遮光片（１２）がその光源（６）に近い方の面を反
射するように構成され、導光素子 （１１）が遮光片（１２）から反射される光部分を散乱
ガラス板（８）へ転向することを特徴とする、特許請求
の範囲第２項に記載の装置。 ４ 遮光片（１２）の反射面が、導光素子（１１）の形
状に合わせた輪郭を持ち、遮光片から反射される光部分
の転向が全反射により行なわれることを特徴とする、特
許請求の範囲第３項に記載の装置。 ５ 導光素子（１１）が円錐台の形状を持ち、遮光片（
１２）が円錐に終る盲穴によるか又は円錐状凹所により
形成されていることを特徴とする、特許請求の範囲第３
項又は第４項に記載の装置。 ６ 遮光片（１２）を形成する穴の円錐状部分が、円錐
状導光素子（１１）に一致する開き角を持ち、光源（６
）から送り出される光を反射するため鏡面化されている
ことを特徴とする、特許請求の範囲第５項に記載の装置
。 ７ 導光素子（１１）が、遮光片（１２）から反射され
る光部分を散乱ガラス板（８）へ転向するため、その周
面を鏡面化されていることを特徴とする、特許請求の範
囲第３項又は第６項に記載の装置。 ８ 測定間隙（２）の他方の側において、光電素子（７
）の前に別の散乱ガラス板（９）が設けられていること
を特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の装置。 ９ 測定間隙（２）の他方の側において、光電素子（７
）の前にフィルタガラス板（９）が設けられていること
を特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH188886A CH669615A5 (ja) | 1986-05-07 | 1986-05-07 | |
| CH1888/86-3 | 1986-05-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62274207A true JPS62274207A (ja) | 1987-11-28 |
| JPH0737888B2 JPH0737888B2 (ja) | 1995-04-26 |
Family
ID=4220943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10650787A Expired - Lifetime JPH0737888B2 (ja) | 1986-05-07 | 1987-05-01 | 走行する糸の断面積又は容積の測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0244788B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0737888B2 (ja) |
| CH (1) | CH669615A5 (ja) |
| DE (1) | DE3774168D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020027295A1 (ja) * | 2018-08-03 | 2020-02-06 | 株式会社豊田自動織機 | 繊維試料の評価方法及び繊維試料評価システム |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH678172A5 (ja) * | 1989-06-07 | 1991-08-15 | Zellweger Uster Ag | |
| DE19858287A1 (de) | 1998-12-17 | 2000-06-21 | Schlafhorst & Co W | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Garnüberwachung an einer Spinn- oder Spulmaschine |
| DE102004053736B4 (de) | 2004-11-06 | 2013-05-29 | Oerlikon Textile Gmbh & Co. Kg | Garnsensor |
| DE102008005706B4 (de) * | 2008-01-24 | 2011-08-25 | Carl Zeiss Meditec AG, 07745 | Medizingerät mit einer ringförmigen Beleuchtung |
| DE102013213523A1 (de) * | 2013-07-10 | 2015-01-15 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Streuscheibe, Beleuchtungsvorrichtung und Kraftfahrzeug-Bauteil |
| EP3747812A1 (en) * | 2019-06-06 | 2020-12-09 | Gebrüder Loepfe AG | Sensor device for sensing the quality of an elongate textile body |
| JP2023120004A (ja) * | 2022-02-17 | 2023-08-29 | 村田機械株式会社 | 糸監視装置及び糸巻取機 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2602465C2 (de) * | 1976-01-23 | 1984-08-30 | W. Schlafhorst & Co, 4050 Mönchengladbach | Vorrichtung zum Messen des Querschnittes oder Volumens eines laufenden Fadens |
| GB2077426B (en) * | 1980-05-30 | 1983-12-14 | Fuji Electric Co Ltd | Apparatus for measuring film thickness |
| JPS58158605A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-20 | Stanley Electric Co Ltd | 光学ガイド装置 |
-
1986
- 1986-05-07 CH CH188886A patent/CH669615A5/de not_active IP Right Cessation
-
1987
- 1987-04-30 DE DE8787106356T patent/DE3774168D1/de not_active Expired - Fee Related
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- 1987-05-01 JP JP10650787A patent/JPH0737888B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020027295A1 (ja) * | 2018-08-03 | 2020-02-06 | 株式会社豊田自動織機 | 繊維試料の評価方法及び繊維試料評価システム |
| JPWO2020027295A1 (ja) * | 2018-08-03 | 2021-08-10 | 株式会社豊田自動織機 | 繊維試料の評価方法及び繊維試料評価システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0737888B2 (ja) | 1995-04-26 |
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| CH669615A5 (ja) | 1989-03-31 |
| DE3774168D1 (de) | 1991-12-05 |
| EP0244788A3 (en) | 1989-07-26 |
| EP0244788A2 (de) | 1987-11-11 |
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