JPH0737888B2 - 走行する糸の断面積又は容積の測定装置 - Google Patents
走行する糸の断面積又は容積の測定装置Info
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- JPH0737888B2 JPH0737888B2 JP10650787A JP10650787A JPH0737888B2 JP H0737888 B2 JPH0737888 B2 JP H0737888B2 JP 10650787 A JP10650787 A JP 10650787A JP 10650787 A JP10650787 A JP 10650787A JP H0737888 B2 JPH0737888 B2 JP H0737888B2
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- glass plate
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
- G01B11/10—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving
- G01B11/105—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving using photoelectric detection means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H63/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package
- B65H63/06—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package responsive to presence of irregularities in running material, e.g. for severing the material at irregularities ; Control of the correct working of the yarn cleaner
- B65H63/062—Electronic slub detector
- B65H63/065—Electronic slub detector using photo-electric sensing means, i.e. the defect signal is a variation of light energy
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
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- B65H2701/00—Handled material; Storage means
- B65H2701/30—Handled filamentary material
- B65H2701/31—Textiles threads or artificial strands of filaments
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、測定間隙の一方の側に、測定間隙から遠い方
の側から光源により照らされかつ遮光片により部分的に
覆われる散乱ガラス板が設けられ、測定間隙の他方の側
に光電素子が設けられ、この光電素子の出力信号が走行
する糸の断面積又は容積の尺度を表わす、走行する糸の
断面積又は容積の測定装置に関する。
の側から光源により照らされかつ遮光片により部分的に
覆われる散乱ガラス板が設けられ、測定間隙の他方の側
に光電素子が設けられ、この光電素子の出力信号が走行
する糸の断面積又は容積の尺度を表わす、走行する糸の
断面積又は容積の測定装置に関する。
ドイツ連邦共和国特許第2602465号明細書から公知のこ
の種の装置では、特に綾振り糸において精確な測定結果
を得るために、散乱ガラス板が糸に対して平行に測つて
面中心へ減少する幅を持つように構成されている。糸が
散乱ガラス板の中心から縁へ綾振りすると、糸は輝度が
一層大きい散乱ガラス板中心におけるより大きい長さで
散乱ガラス板を覆う。それにより光電素子を影にする効
果は、綾振り範囲における糸のそのつどの位置に関係な
く常に同じである。散乱ガラス板の幅の減少は、その上
縁及び下縁にある２つの鞍部によるか又は扇形遮光片に
より行なわれる。
の種の装置では、特に綾振り糸において精確な測定結果
を得るために、散乱ガラス板が糸に対して平行に測つて
面中心へ減少する幅を持つように構成されている。糸が
散乱ガラス板の中心から縁へ綾振りすると、糸は輝度が
一層大きい散乱ガラス板中心におけるより大きい長さで
散乱ガラス板を覆う。それにより光電素子を影にする効
果は、綾振り範囲における糸のそのつどの位置に関係な
く常に同じである。散乱ガラス板の幅の減少は、その上
縁及び下縁にある２つの鞍部によるか又は扇形遮光片に
より行なわれる。
このような測定装置では、測定間隙内にできるだけ均一
な測定区域が３つの座標方向すべてに均一性をもつて存
在せねばならない。前記の公知の装置では、散乱ガラス
板面において糸走行方向に対し直角に良好な均一性が得
られるが、糸走行方向における測定区域は、散乱ガラス
板全体にわたつて延びる鞍部又は遮光片のため均一でな
い。遮光片は測定に特定の不精確さを生じ、特に測定区
域長より短い糸欠点ではこの不精確さが、有害で許容で
きない測定誤差を生ずる。このような糸欠点は例えば短
い節である。
な測定区域が３つの座標方向すべてに均一性をもつて存
在せねばならない。前記の公知の装置では、散乱ガラス
板面において糸走行方向に対し直角に良好な均一性が得
られるが、糸走行方向における測定区域は、散乱ガラス
板全体にわたつて延びる鞍部又は遮光片のため均一でな
い。遮光片は測定に特定の不精確さを生じ、特に測定区
域長より短い糸欠点ではこの不精確さが、有害で許容で
きない測定誤差を生ずる。このような糸欠点は例えば短
い節である。
さて本発明の基礎となつている課題は、特に糸走行方向
にも良好な均一性を持ち、従つて例えば短い節のような
短い糸欠点を持つ走行する綾振り糸でも精確な測定結果
を可能にする、できるだけ均一な測定区域を形成するこ
とである。
にも良好な均一性を持ち、従つて例えば短い節のような
短い糸欠点を持つ走行する綾振り糸でも精確な測定結果
を可能にする、できるだけ均一な測定区域を形成するこ
とである。
この課題を解決するため本発明によれば、遮光片が光源
の光軸に設けられ、かつ光軸の周りにあつて散乱ガラス
板の輝度の平均値より著しく大きい尖頭値を持つ光軸近
傍範囲を覆つている。
の光軸に設けられ、かつ光軸の周りにあつて散乱ガラス
板の輝度の平均値より著しく大きい尖頭値を持つ光軸近
傍範囲を覆つている。
実際の実験からわかつたように、本発明による解決策に
よつて、測定間隙内のすべての座標方向に均一な測定区
域が得られ、短い糸欠点でも測定信号が精確に再現可能
である。
よつて、測定間隙内のすべての座標方向に均一な測定区
域が得られ、短い糸欠点でも測定信号が精確に再現可能
である。
本発明による装置の第１の好ましい実施態様によれば、
光源と散乱ガラス板との間に、遮光片を包囲する導光素
子が設けられている。この実施態様は、測定区域の均一
性が更に改善されるという利点を持つている。
光源と散乱ガラス板との間に、遮光片を包囲する導光素
子が設けられている。この実施態様は、測定区域の均一
性が更に改善されるという利点を持つている。
本発明による装置の第２の好ましい実施態様によれば、
遮光片がその光源に近い方の面を反射するように構成さ
れ、導光素子が遮光片から反射される光部分を散乱ガラ
ス板へ転向する。この実施態様は、遮光片により覆われ
る光は失われずに測定間隙へ達し、それにより測定信号
の値が高められ、従つて光源の電流が減少されるという
利点を持つている。
遮光片がその光源に近い方の面を反射するように構成さ
れ、導光素子が遮光片から反射される光部分を散乱ガラ
ス板へ転向する。この実施態様は、遮光片により覆われ
る光は失われずに測定間隙へ達し、それにより測定信号
の値が高められ、従つて光源の電流が減少されるという
利点を持つている。
実施例及び図面に基いて本発明を以下に説明する。
走行する糸Ｆの断面積又は容積を測定する図示した装置
は、それぞれ測定間隙２のあるケース１を持ち、測定す
べき糸Ｆがこの測定間隙を通つて走行する。図示した実
施例は、第１図及び第３図では約2.5mm、第２図では約4
mm、第４図では約6mmの幅の異なる測定間隙２を持つ測
定装置を示している。
は、それぞれ測定間隙２のあるケース１を持ち、測定す
べき糸Ｆがこの測定間隙を通つて走行する。図示した実
施例は、第１図及び第３図では約2.5mm、第２図では約4
mm、第４図では約6mmの幅の異なる測定間隙２を持つ測
定装置を示している。
プラスチツクから一体に射出成形されたケース１は、大
体において測定間隙２を包囲する２つの側壁３及び４
と、これら側壁を保持する基板５とから成り、これらの
側壁に装置の光学部分と電子部分が設けられ、基板はケ
ース１の取付けねじ用及び電子部分の電気接続導線用の
第１及び第２の穴を備えている。
体において測定間隙２を包囲する２つの側壁３及び４
と、これら側壁を保持する基板５とから成り、これらの
側壁に装置の光学部分と電子部分が設けられ、基板はケ
ース１の取付けねじ用及び電子部分の電気接続導線用の
第１及び第２の穴を備えている。
図において左の側壁３には光源６なるべく発光ダイオー
ド６が設けられて、右の側壁７に設けられなるべく埋込
まれた光電素子としてのフオトダイオード７の方へ光を
送り出す。測定間隙２はケース１の両側壁３及び４の方
へそれぞれ散乱ガラス板８及び９により覆われ、それに
より測定間隙２に拡散照度が生じて、拡散光としてもフ
オトダイオード７へ入射する。フオトダイオード７の前
にある散乱ガラス板９は、周囲光を遮蔽するフイルタガ
ラス板としても構成するか、又は同時に散乱兼フイルタ
ガラス板として使用することができる。
ド６が設けられて、右の側壁７に設けられなるべく埋込
まれた光電素子としてのフオトダイオード７の方へ光を
送り出す。測定間隙２はケース１の両側壁３及び４の方
へそれぞれ散乱ガラス板８及び９により覆われ、それに
より測定間隙２に拡散照度が生じて、拡散光としてもフ
オトダイオード７へ入射する。フオトダイオード７の前
にある散乱ガラス板９は、周囲光を遮蔽するフイルタガ
ラス板としても構成するか、又は同時に散乱兼フイルタ
ガラス板として使用することができる。
測定間隙２を通過する糸Ｆが、糸欠点例えば節又は細い
個所により生ずる断面積変化を持つていると、フオトダ
イオード７への影とそれに応じて出力信号が変化する。
フオトダイオード７の出力信号のこの変化により、今や
欠陥個所を単に記録するか、又は走行する糸Ｆを停止し
て欠陥個所を除去することができる。
個所により生ずる断面積変化を持つていると、フオトダ
イオード７への影とそれに応じて出力信号が変化する。
フオトダイオード７の出力信号のこの変化により、今や
欠陥個所を単に記録するか、又は走行する糸Ｆを停止し
て欠陥個所を除去することができる。
散乱ガラス板８及び９には種々の材料が適していること
がわかつた。第１図及び第３図の実施例では、散乱ガラ
ス板８及び９は焼結セラミツクからなる板片により形成
され、第２図及び第４図の実施例では乳白ガラスから成
る散乱ガラス板８が、またフイルタガラス板として作用
するガラス板はフイルタガラスから形成されている。
がわかつた。第１図及び第３図の実施例では、散乱ガラ
ス板８及び９は焼結セラミツクからなる板片により形成
され、第２図及び第４図の実施例では乳白ガラスから成
る散乱ガラス板８が、またフイルタガラス板として作用
するガラス板はフイルタガラスから形成されている。
フオトダイオード７の出力信号が明確で再現可能である
ようにするため、測定間隙２にできるだけ均一な測定区
域が存在し、即ち照度が３つの座標方向すべてにおいて
できるだけ均一でなければならない。即ち測定間隙に対
して直角及び平行な方向即ち糸走行方向に対して直角な
２つの方向には、糸Ｆ又は欠点断面の綾振り運動のた
め、また糸走行方向には、測定区域長に対して短い糸欠
点が光軸に対する糸Ｆの位置に関係なくフオトダイオー
ド７の同じ出力信号を生ずるため。
ようにするため、測定間隙２にできるだけ均一な測定区
域が存在し、即ち照度が３つの座標方向すべてにおいて
できるだけ均一でなければならない。即ち測定間隙に対
して直角及び平行な方向即ち糸走行方向に対して直角な
２つの方向には、糸Ｆ又は欠点断面の綾振り運動のた
め、また糸走行方向には、測定区域長に対して短い糸欠
点が光軸に対する糸Ｆの位置に関係なくフオトダイオー
ド７の同じ出力信号を生ずるため。
しかし散乱ガラス板８の使用にもかかわらず測定間隙２
には、光軸の範囲にこの範囲外におけるより大きい輝度
が存在するという公知の事実は、この要求に矛盾する。
光軸の範囲における輝度をこの範囲外の値に合わせるた
めに、第１図によれば遮光片10が、発光ダイオード６の
光軸に設けられて、散乱ガラス板８の特定範囲を覆つて
いる。この範囲の大きさは、その輝度の尖頭値がこの範
囲外の輝度に従つて平均輝度にちようど合うように減少
されるように、選ばれている。
には、光軸の範囲にこの範囲外におけるより大きい輝度
が存在するという公知の事実は、この要求に矛盾する。
光軸の範囲における輝度をこの範囲外の値に合わせるた
めに、第１図によれば遮光片10が、発光ダイオード６の
光軸に設けられて、散乱ガラス板８の特定範囲を覆つて
いる。この範囲の大きさは、その輝度の尖頭値がこの範
囲外の輝度に従つて平均輝度にちようど合うように減少
されるように、選ばれている。
換言すれば、遮光片10により光軸の範囲で輝度の尖頭が
切り取られる。実際の実験から、第１図に示す測定間隙
２の約2.5mmの幅では、遮光片10が約4mm2の面積を持つ
とよいことがわかつた。遮光片10は規則正しい面例えば
円、多角形又は星の形状の板片により形成することがで
きる。
切り取られる。実際の実験から、第１図に示す測定間隙
２の約2.5mmの幅では、遮光片10が約4mm2の面積を持つ
とよいことがわかつた。遮光片10は規則正しい面例えば
円、多角形又は星の形状の板片により形成することがで
きる。
遮光片10は必ずしも面状である必要はなく、三次元的
に、例えば第１図に破線で示すように球冠として、又は
尖端が発光ダイオード６の方へ向く円錐として、又は円
筒として構成することができる。
に、例えば第１図に破線で示すように球冠として、又は
尖端が発光ダイオード６の方へ向く円錐として、又は円
筒として構成することができる。
第２図ないし第４図に示す実施例では、発光ダイオード
６と散乱ガラス板８との間に導光素子としての導光体11
が設けられ、それにより測定間隙２における照度の均一
性が改善される。導光体11はガラス又はプレキシガラス
のような適当な材料から成り、円錐台の形状を持つてい
る。散乱ガラス板８に当るその底面は適当な凹所12を備
えている。第２図ではこの凹所12は、円錐状端部の開き
角を導光体11の開き角に合わされている盲穴により、第
３図では約90゜の開き角を持つ円錐状凹所12により、ま
た第４図では約15゜の開き角を持つ円錐状凹所12により
形成されている。凹所12の構成の他の変化や図示した実
施例の組合わせも可能である。
６と散乱ガラス板８との間に導光素子としての導光体11
が設けられ、それにより測定間隙２における照度の均一
性が改善される。導光体11はガラス又はプレキシガラス
のような適当な材料から成り、円錐台の形状を持つてい
る。散乱ガラス板８に当るその底面は適当な凹所12を備
えている。第２図ではこの凹所12は、円錐状端部の開き
角を導光体11の開き角に合わされている盲穴により、第
３図では約90゜の開き角を持つ円錐状凹所12により、ま
た第４図では約15゜の開き角を持つ円錐状凹所12により
形成されている。凹所12の構成の他の変化や図示した実
施例の組合わせも可能である。
第２図の凹所12を形成する盲穴はその円錐状部分の外面
を鏡面化され、従つて一方では遮光片として作用し、他
方では当る光を導光体11へ反射する。遮光片12から反射
されるこの光は、円錐台状導光体11の開き角（図では約
45゜）を適当に選ぶと、その周面で全反射し、従つて測
定間隙２へ達する。もちろん第３図及び第４図の実施例
でも、凹所12を上述したように鏡面化することができる
が、発光ダイオード６から送り出される光はいずれにせ
よ導光体11において集束されるので、多くの場合鏡面化
は必ずしも必要でない。
を鏡面化され、従つて一方では遮光片として作用し、他
方では当る光を導光体11へ反射する。遮光片12から反射
されるこの光は、円錐台状導光体11の開き角（図では約
45゜）を適当に選ぶと、その周面で全反射し、従つて測
定間隙２へ達する。もちろん第３図及び第４図の実施例
でも、凹所12を上述したように鏡面化することができる
が、発光ダイオード６から送り出される光はいずれにせ
よ導光体11において集束されるので、多くの場合鏡面化
は必ずしも必要でない。
こうして導光体11及び遮光片12の図示した構成により、
遮光片により覆われる光は失われずに測定間隙12へ達
し、それによりフオトダイオード７の出力信号が高めら
れ、これが発光ダイオード６の電流の減少を可能にす
る。測定間隙２へ達して遮光片12により反射される光の
部分は、円錐台状導光体11の周面の内側を鏡面化するこ
とにより、更に高めることができる。
遮光片により覆われる光は失われずに測定間隙12へ達
し、それによりフオトダイオード７の出力信号が高めら
れ、これが発光ダイオード６の電流の減少を可能にす
る。測定間隙２へ達して遮光片12により反射される光の
部分は、円錐台状導光体11の周面の内側を鏡面化するこ
とにより、更に高めることができる。
第１図ないし第４図は本発明による装置の異なる実施例
の断面図である。 ２……測定間隙、６……光源、７……光電素子、8,9…
…散乱ガラス板、10,12……遮光片。
の断面図である。 ２……測定間隙、６……光源、７……光電素子、8,9…
…散乱ガラス板、10,12……遮光片。
Claims (9)
- 【請求項１】測定間隙の一方の側に、測定間隙から遠い
方の側から光源により照らされかつ遮光片により部分的
に覆われる散乱ガラス板が設けられ、測定間隙の他方の
側に光電素子が設けられ、この光電素子の出力信号が走
行する糸の断面積又は容積の尺度を表わすものにおい
て、遮光片（10,12）が光源（６）の光軸に設けられ、
かつ光軸の周りにあつて散乱ガラス板（８）の輝度の平
均値より著しく大きい尖頭値を持つ光軸近傍範囲を覆つ
ていることを特徴とする、走行する糸の断面積又は容積
の測定装置。 - 【請求項２】光源（６）と散乱ガラス板（８）との間
に、遮光片（12）を包囲する導光素子（11）が設けられ
ていることを特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載
の装置。 - 【請求項３】遮光片（12）がその光源（６）に近い方の
面を反射するように構成され、導光素子（11）が遮光片
（12）から反射される光部分を散乱ガラス板（８）へ転
向することを特徴とする、特許請求の範囲第２項に記載
の装置。 - 【請求項４】遮光片（12）の反射面が、導光素子（11）
の形状に合わせた輪郭を持ち、遮光片から反射される光
部分の転向が全反射により行なわれることを特徴とす
る、特許請求の範囲第３項に記載の装置。 - 【請求項５】導光素子（11）が円錐台の形状を持ち、遮
光片（12）が円錐に終る盲穴によるか又は円錐状凹所に
より形成されていることを特徴とする、特許請求の範囲
第３項又は第４項に記載の装置。 - 【請求項６】遮光片（12）を形成する穴の円錐状部分
が、円錐状導光素子（11）に一致する開き角を持ち、光
源（６）から送り出される光を反射するため鏡面化され
ていることを特徴とする、特許請求の範囲第５項に記載
の装置。 - 【請求項７】導光素子（11）が、遮光片（12）から反射
される光部分を散乱ガラス板（８）へ転向するため、そ
の周面を鏡面化されていることを特徴とする、特許請求
の範囲第３項又は第６項に記載の装置。 - 【請求項８】測定間隙（２）の他方の側において、光電
素子（７）の前に別の散乱ガラス板（９）が設けられて
いることを特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の
装置。 - 【請求項９】測定間隙（２）の他方の側において、光電
素子（７）の前にフイルタガラス板（９）が設けられて
いることを特徴とする、特許請求の範囲第１項に記載の
装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH188886A CH669615A5 (ja) | 1986-05-07 | 1986-05-07 | |
| CH1888/86-3 | 1986-05-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62274207A JPS62274207A (ja) | 1987-11-28 |
| JPH0737888B2 true JPH0737888B2 (ja) | 1995-04-26 |
Family
ID=4220943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10650787A Expired - Lifetime JPH0737888B2 (ja) | 1986-05-07 | 1987-05-01 | 走行する糸の断面積又は容積の測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0244788B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0737888B2 (ja) |
| CH (1) | CH669615A5 (ja) |
| DE (1) | DE3774168D1 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH678172A5 (ja) * | 1989-06-07 | 1991-08-15 | Zellweger Uster Ag | |
| DE19858287A1 (de) | 1998-12-17 | 2000-06-21 | Schlafhorst & Co W | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Garnüberwachung an einer Spinn- oder Spulmaschine |
| DE102004053736B4 (de) | 2004-11-06 | 2013-05-29 | Oerlikon Textile Gmbh & Co. Kg | Garnsensor |
| DE102008005706B4 (de) * | 2008-01-24 | 2011-08-25 | Carl Zeiss Meditec AG, 07745 | Medizingerät mit einer ringförmigen Beleuchtung |
| DE102013213523A1 (de) * | 2013-07-10 | 2015-01-15 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Streuscheibe, Beleuchtungsvorrichtung und Kraftfahrzeug-Bauteil |
| JP6984835B2 (ja) * | 2018-08-03 | 2021-12-22 | 株式会社豊田自動織機 | 繊維試料の評価方法及び繊維試料評価システム |
| EP3747812A1 (en) * | 2019-06-06 | 2020-12-09 | Gebrüder Loepfe AG | Sensor device for sensing the quality of an elongate textile body |
| JP2023120004A (ja) * | 2022-02-17 | 2023-08-29 | 村田機械株式会社 | 糸監視装置及び糸巻取機 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2602465C2 (de) * | 1976-01-23 | 1984-08-30 | W. Schlafhorst & Co, 4050 Mönchengladbach | Vorrichtung zum Messen des Querschnittes oder Volumens eines laufenden Fadens |
| GB2077426B (en) * | 1980-05-30 | 1983-12-14 | Fuji Electric Co Ltd | Apparatus for measuring film thickness |
| JPS58158605A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-20 | Stanley Electric Co Ltd | 光学ガイド装置 |
-
1986
- 1986-05-07 CH CH188886A patent/CH669615A5/de not_active IP Right Cessation
-
1987
- 1987-04-30 DE DE8787106356T patent/DE3774168D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1987-04-30 EP EP19870106356 patent/EP0244788B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-05-01 JP JP10650787A patent/JPH0737888B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0244788B1 (de) | 1991-10-30 |
| DE3774168D1 (de) | 1991-12-05 |
| JPS62274207A (ja) | 1987-11-28 |
| EP0244788A2 (de) | 1987-11-11 |
| CH669615A5 (ja) | 1989-03-31 |
| EP0244788A3 (en) | 1989-07-26 |
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