JPS6226734B2 - - Google Patents
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- JPS6226734B2 JPS6226734B2 JP57109605A JP10960582A JPS6226734B2 JP S6226734 B2 JPS6226734 B2 JP S6226734B2 JP 57109605 A JP57109605 A JP 57109605A JP 10960582 A JP10960582 A JP 10960582A JP S6226734 B2 JPS6226734 B2 JP S6226734B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- 101000832455 Pimpla hypochondriaca Small venom protein 1 Proteins 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G06F11/2736—Tester hardware, i.e. output processing circuits using a dedicated service processor for test
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
-
- G—PHYSICS
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- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F11/26—Functional testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/267—Reconfiguring circuits for testing, e.g. LSSD, partitioning
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明は計算機システムの診断方式に係り、特
にスキヤンアウト機能を用いた診断回路の誤り検
出方式に関する。
にスキヤンアウト機能を用いた診断回路の誤り検
出方式に関する。
(b) 従来技術と問題点
計算機システムを構成する各種装置の回路内部
の状態を出力して表示等を行なうための一般的な
手段としてスキヤンアウト機能がある。回路内部
のフリツプフロツプとかゲート等に対し、1点の
アドレスを与える。該アドレスは複数のフリツプ
フロツプやゲート等の必要とする個所全てを選択
するのに十分なビツト数を持つており、該アドレ
スを選択信号の組合せにより選択し、所定の回路
の状態を出力する機能であつて、該アドレスを順
次更新することにより、全個所の回路状態を出力
し得る。該回路状態は表示されたり、誤りが発生
した場合はロギング情報として記録されたり、又
命令代行等に於る命令制御情報として活用されて
いる。
の状態を出力して表示等を行なうための一般的な
手段としてスキヤンアウト機能がある。回路内部
のフリツプフロツプとかゲート等に対し、1点の
アドレスを与える。該アドレスは複数のフリツプ
フロツプやゲート等の必要とする個所全てを選択
するのに十分なビツト数を持つており、該アドレ
スを選択信号の組合せにより選択し、所定の回路
の状態を出力する機能であつて、該アドレスを順
次更新することにより、全個所の回路状態を出力
し得る。該回路状態は表示されたり、誤りが発生
した場合はロギング情報として記録されたり、又
命令代行等に於る命令制御情報として活用されて
いる。
第1図はスキヤンアウト機能を有する計算機シ
ステムの概略的な構成例を示す。1はサービスプ
ロセツサ(以後SVPと略す)、2はシステムコン
ソールインタフエース装置(以後SCIと略す)、
3は中央処理装置(以後CPVと略す)、5は記憶
制御装置(以後MCUと略す)、6は主記憶装置
(以後MSUと略す)である。CPU3、CHP4、
MCU5、MSU6及びSCI2にはスキヤンアウト
回路が設けられており、該スキヤンアウト回路を
選択する複数の選択信号を受信して、該選択信号
の組合せにより指定されたアドレスをもつスキヤ
ンアウト回路の状態に示す出力をSCI2に送出す
る。SVP1はスキヤンアウト回路のアドレスを設
定してSCI2に送出し、SCI2に入つた該スキヤ
ンアウト回路の出力を使用目的に従つて、夫々の
出力を処理する。SCI2はSVP1と他のCPU3、
CHP4、MCU5及びMSU6との間にあつて前記
スキヤンアウト回路のアドレスをSCI2内のスキ
ヤンアウト回路も含めて送出し、該スキヤンアウ
ト回路の出力を中継してSVP1へ送る機能を持つ
ている。SVP1は該スキヤンアウト回路の出力を
デイスプレイに表示したり、プリンタで印刷した
り、フアイルに記録したり又は命令代行制御等に
使用する。
ステムの概略的な構成例を示す。1はサービスプ
ロセツサ(以後SVPと略す)、2はシステムコン
ソールインタフエース装置(以後SCIと略す)、
3は中央処理装置(以後CPVと略す)、5は記憶
制御装置(以後MCUと略す)、6は主記憶装置
(以後MSUと略す)である。CPU3、CHP4、
MCU5、MSU6及びSCI2にはスキヤンアウト
回路が設けられており、該スキヤンアウト回路を
選択する複数の選択信号を受信して、該選択信号
の組合せにより指定されたアドレスをもつスキヤ
ンアウト回路の状態に示す出力をSCI2に送出す
る。SVP1はスキヤンアウト回路のアドレスを設
定してSCI2に送出し、SCI2に入つた該スキヤ
ンアウト回路の出力を使用目的に従つて、夫々の
出力を処理する。SCI2はSVP1と他のCPU3、
CHP4、MCU5及びMSU6との間にあつて前記
スキヤンアウト回路のアドレスをSCI2内のスキ
ヤンアウト回路も含めて送出し、該スキヤンアウ
ト回路の出力を中継してSVP1へ送る機能を持つ
ている。SVP1は該スキヤンアウト回路の出力を
デイスプレイに表示したり、プリンタで印刷した
り、フアイルに記録したり又は命令代行制御等に
使用する。
最近の計算機システムのスキヤンアウト回路の
出力は計算機システムに故障が発生した場合は障
害箇所を識別するための重要な情報であり、該情
報が誤つていた場合は適切な保守が不可能となる
ばかりでなく、SVP1に割込んだ情報により命令
の代行を行なう制御情報としても用いるため、該
制御情報としてのデータに誤りがあると、その命
令の実行結果は予期出来ないものとなり、致命的
な結果をもたらす等の欠点がある。
出力は計算機システムに故障が発生した場合は障
害箇所を識別するための重要な情報であり、該情
報が誤つていた場合は適切な保守が不可能となる
ばかりでなく、SVP1に割込んだ情報により命令
の代行を行なう制御情報としても用いるため、該
制御情報としてのデータに誤りがあると、その命
令の実行結果は予期出来ないものとなり、致命的
な結果をもたらす等の欠点がある。
(c) 発明の目的
本発明の目的は上記欠点を除くため、SCIにス
キヤンアウトアドレスに基づきチエツクビツトを
作成しておき、スキヤンアウトアドレスを受信し
た各装置は該スキヤンアウトアドレスに基づき所
望回路の状態をスキヤンアウトデータとして出力
すると共にチエツクビツトを作成してスキヤンア
ウトデータと同様にSCIに送出し、前記SCIで作
成したチエツクビツトと比較して誤りを検出する
診断回路の誤り検出方式を提供することにある。
キヤンアウトアドレスに基づきチエツクビツトを
作成しておき、スキヤンアウトアドレスを受信し
た各装置は該スキヤンアウトアドレスに基づき所
望回路の状態をスキヤンアウトデータとして出力
すると共にチエツクビツトを作成してスキヤンア
ウトデータと同様にSCIに送出し、前記SCIで作
成したチエツクビツトと比較して誤りを検出する
診断回路の誤り検出方式を提供することにある。
(d) 発明の構成
本発明の構成は回路を診断するための複数の選
択信号を受信し、複数の所定回路の状態を該選択
信号の組合せにより選択して送出する回路を備え
た第1の装置又は装置群と、該第1の装置又は装
置群に対し、該複数の所定回路を診断するための
複数の選択信号を送信し、該選択信号により選択
された所定回路の出力信号を受信する第2の装置
と、該第2の装置に対し診断を指示し、該指示結
果を判断するための第3の装置を備えた計算機シ
ステムに於て、第1の装置又は装置群に前記受信
した複数の選択信号に基づき作成される誤りチエ
ツクビツトを作成する誤りチエツクビツト作成回
路と該チエツクビツトを第2の装置へ送出するた
めの送出回路を設け、第2の装置は第1の装置又
は装置群から受信したチエツクビツトを、少なく
とも第1の装置又は装置群より受信した診断デー
タを取込む迄に第1の装置又は装置群に送出する
選択信号に基づき誤りチエツクビツトを作成して
おき、該チエツクビツトと前記第1の装置又は装
置群より受信したチエツクビツトとを相互に比較
し、誤り検出を行なつて第3の装置に該結果を送
出するようにしたものである。
択信号を受信し、複数の所定回路の状態を該選択
信号の組合せにより選択して送出する回路を備え
た第1の装置又は装置群と、該第1の装置又は装
置群に対し、該複数の所定回路を診断するための
複数の選択信号を送信し、該選択信号により選択
された所定回路の出力信号を受信する第2の装置
と、該第2の装置に対し診断を指示し、該指示結
果を判断するための第3の装置を備えた計算機シ
ステムに於て、第1の装置又は装置群に前記受信
した複数の選択信号に基づき作成される誤りチエ
ツクビツトを作成する誤りチエツクビツト作成回
路と該チエツクビツトを第2の装置へ送出するた
めの送出回路を設け、第2の装置は第1の装置又
は装置群から受信したチエツクビツトを、少なく
とも第1の装置又は装置群より受信した診断デー
タを取込む迄に第1の装置又は装置群に送出する
選択信号に基づき誤りチエツクビツトを作成して
おき、該チエツクビツトと前記第1の装置又は装
置群より受信したチエツクビツトとを相互に比較
し、誤り検出を行なつて第3の装置に該結果を送
出するようにしたものである。
(e) 発明の実施例
第1図に於て、スキヤンアウトデータを読取る
ためSVP1はSCI2経由でスキヤンアウトアドレ
スを各装置に送出する。SCI2は該スキヤンアウ
トアドレスに、基づきチエツクビツトを作成して
おく。スキヤンアウトアドレスを受信した各装置
は該スキヤンアウトアドレスに基づきチエツクビ
ツトを作成し、選択された所定回路即ちスキヤン
アウト回路の状態をスキヤンアウトデータとして
出力すると共に該チエツクビツトをSCI2へ送
る。これ等のチエツクビツト、スキヤンアウトア
ドレス及びスキヤンアウトデータはSCI2がスキ
ヤンアウトアドレスを保持している間有効であ
る。
ためSVP1はSCI2経由でスキヤンアウトアドレ
スを各装置に送出する。SCI2は該スキヤンアウ
トアドレスに、基づきチエツクビツトを作成して
おく。スキヤンアウトアドレスを受信した各装置
は該スキヤンアウトアドレスに基づきチエツクビ
ツトを作成し、選択された所定回路即ちスキヤン
アウト回路の状態をスキヤンアウトデータとして
出力すると共に該チエツクビツトをSCI2へ送
る。これ等のチエツクビツト、スキヤンアウトア
ドレス及びスキヤンアウトデータはSCI2がスキ
ヤンアウトアドレスを保持している間有効であ
る。
SCI2は受信したスキヤンアウトデータを所定
のタイミングで取込む。該タイミングと同一タイ
ミングで受信したチエツクビツトとSCI2内部で
作成したチエツクビツトとを比較し、不一致であ
れば誤りとし、受信したスキヤンアウトデータは
内容が保証されていないと判断する。これ等の誤
りデータは該当装置対応に夫々SCI2内部でエラ
ーラツチとして保持される。該エラーラツチは
SVP1より任意に読出し可能で該当装置の誤りと
して表示及び制御が行なわれる。
のタイミングで取込む。該タイミングと同一タイ
ミングで受信したチエツクビツトとSCI2内部で
作成したチエツクビツトとを比較し、不一致であ
れば誤りとし、受信したスキヤンアウトデータは
内容が保証されていないと判断する。これ等の誤
りデータは該当装置対応に夫々SCI2内部でエラ
ーラツチとして保持される。該エラーラツチは
SVP1より任意に読出し可能で該当装置の誤りと
して表示及び制御が行なわれる。
第2図は本発明の一実施例を示す回路のブロツ
ク図である。SVP1よりバスAを経てスキヤンア
ドレスレジスタ7にデータが設定される。スキヤ
ンアドレスレジスタ7はカウンタで構成されてお
り、全装置のスキヤンアウト回路のアドレス設定
又は一部特定のスキヤンアウト回路のアドレス設
定が可能である。スキヤンアドレスレジスタ7の
データは切替器9によりパリテイ作成回路8を経
てパリテイチエツク回路11に入り、SVP1より
バスAを経て来たデータはチエツクビツト作成回
路10によりチエツクビツトが作成され切替器1
2によりパリテイチエツク回路11に入り、夫々
比較されてスキヤンアドレスレジスタ7のデータ
が正しく格納されたかチエツクされ、若し誤りが
あればエラーラツチ回路13にラツチされ端子B
よりSVP1へ送出される。スキヤンアドレスレジ
スタ7より14ビツトで構成された各スキヤンアウ
ト回路のアドレスは切替器9によりパリテイ作成
回路8に入りパリテイチエツク回路11に送られ
る。それと同時に該アドレスはSCI2、CPU3、
CHP4、MCU5、MSU6の各装置内に設けられ
たチエツクビツト作成回路の1つであるパリテイ
作成回路15に切替器14を経て入力し、該スキ
ヤンアウトアドレスに基づきパリテイチエツクビ
ツトがパリテイ作成回路15に於て作成されSCI
2のパリテイチエツク回路11に入る。ここで前
記パリテイ作成回路8より入つたパリテイチエツ
クビツトと比較され、誤りがあればエラーラツチ
回路13にラツチされ端子BよりSVP1へ報告さ
れる。端子Eは他のパリテイ作成回路15への分
岐を行なう。又端子CはSCI2が他に存在する場
合のパリテイチエツクビツトの入力端子で端子D
は他のSCI2へのパリテイチエツクビツト送出端
子である。
ク図である。SVP1よりバスAを経てスキヤンア
ドレスレジスタ7にデータが設定される。スキヤ
ンアドレスレジスタ7はカウンタで構成されてお
り、全装置のスキヤンアウト回路のアドレス設定
又は一部特定のスキヤンアウト回路のアドレス設
定が可能である。スキヤンアドレスレジスタ7の
データは切替器9によりパリテイ作成回路8を経
てパリテイチエツク回路11に入り、SVP1より
バスAを経て来たデータはチエツクビツト作成回
路10によりチエツクビツトが作成され切替器1
2によりパリテイチエツク回路11に入り、夫々
比較されてスキヤンアドレスレジスタ7のデータ
が正しく格納されたかチエツクされ、若し誤りが
あればエラーラツチ回路13にラツチされ端子B
よりSVP1へ送出される。スキヤンアドレスレジ
スタ7より14ビツトで構成された各スキヤンアウ
ト回路のアドレスは切替器9によりパリテイ作成
回路8に入りパリテイチエツク回路11に送られ
る。それと同時に該アドレスはSCI2、CPU3、
CHP4、MCU5、MSU6の各装置内に設けられ
たチエツクビツト作成回路の1つであるパリテイ
作成回路15に切替器14を経て入力し、該スキ
ヤンアウトアドレスに基づきパリテイチエツクビ
ツトがパリテイ作成回路15に於て作成されSCI
2のパリテイチエツク回路11に入る。ここで前
記パリテイ作成回路8より入つたパリテイチエツ
クビツトと比較され、誤りがあればエラーラツチ
回路13にラツチされ端子BよりSVP1へ報告さ
れる。端子Eは他のパリテイ作成回路15への分
岐を行なう。又端子CはSCI2が他に存在する場
合のパリテイチエツクビツトの入力端子で端子D
は他のSCI2へのパリテイチエツクビツト送出端
子である。
スキヤンアウトアドレスを受信した各装置は、
該信号を多数分岐し、多数の回路に供給する。従
つて夫々の分岐先に於て、チエツクビツト作成回
路(上記実施例ではパリテイ作成回路15)を多
数設けることにより、診断回路の誤り検出機能を
より充実させることが出来る。
該信号を多数分岐し、多数の回路に供給する。従
つて夫々の分岐先に於て、チエツクビツト作成回
路(上記実施例ではパリテイ作成回路15)を多
数設けることにより、診断回路の誤り検出機能を
より充実させることが出来る。
(f) 発明の効果
以上説明した如く本発明はスキヤンアウト回路
の出力データの誤りを検出することが可能である
ため、適切な保守業務が遂行出来るのみならず、
誤つたデータによる命令代行に伴う致命的な結果
を防止出来る等、その効果は大なるものがある。
の出力データの誤りを検出することが可能である
ため、適切な保守業務が遂行出来るのみならず、
誤つたデータによる命令代行に伴う致命的な結果
を防止出来る等、その効果は大なるものがある。
第1図はスキヤンアウト機能を有する計算機シ
ステムの概略的な構成例を示す図、第2図は本発
明の一実施例を示す回路のブロツク図である。 1はサービスプロセツサ、2はシステムコンソ
ールインタフエース装置、3は中央処理装置、4
はチヤンネル処理装置、5は記憶制御装置、6は
主記憶装置、7はスキヤンアドレスレジスタ、
8,15はパリテイ作成回路、10はチエツクビ
ツト作成回路、11はパリテイチエツク回路、1
3はエラーラツチ回路である。
ステムの概略的な構成例を示す図、第2図は本発
明の一実施例を示す回路のブロツク図である。 1はサービスプロセツサ、2はシステムコンソ
ールインタフエース装置、3は中央処理装置、4
はチヤンネル処理装置、5は記憶制御装置、6は
主記憶装置、7はスキヤンアドレスレジスタ、
8,15はパリテイ作成回路、10はチエツクビ
ツト作成回路、11はパリテイチエツク回路、1
3はエラーラツチ回路である。
Claims (1)
- 1 回路を診断するための複数の選択信号を受信
し、複数の所定回路の状態を該選択信号の組合せ
により選択して送出する回路を備えた第1の装置
又は装置群と、該第1の装置又は装置群に対し、
該複数の所定回路を診断するための複数の選択信
号を送信し、該選択信号により選択された所定回
路の出力信号を受信する第2の装置と、該第2の
装置に対し診断を指示し、該指示結果を判断する
ための第3の装置を備えた計算機システムに於
て、第1の装置又は装置群に前記受信した複数の
選択信号に基づき作成される誤りチエツクビツト
を作成する誤りチエツクビツト作成回路と該チエ
ツクビツトを第2の装置へ送出するための送出回
路を設け、第2の装置は第1の装置又は装置群か
ら受信したチエツクビツトを、少なくとも第1の
装置又は装置群より受信した診断データを取込む
迄に第1の装置又は装置群に送出する選択信号に
基づき誤りチエツクビツトを作成しておき、該チ
エツクビツトと前記第1の装置又は装置群より受
信したチエツクビツトとを相互に比較し、誤り検
出を行なつて第3の装置に該結果を送出すること
を特徴とする診断回路の誤り検出方式。
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57109605A JPS58225453A (ja) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | 診断回路の誤り検出方式 |
KR1019830002836A KR870000114B1 (ko) | 1982-06-25 | 1983-06-23 | 데이타 처리 시스템 |
AU16208/83A AU547305B2 (en) | 1982-06-25 | 1983-06-24 | Data processing system |
DE8383303647T DE3381152D1 (de) | 1982-06-25 | 1983-06-24 | Datenverarbeitungssystem mit fehlersuchfunktion. |
CA000431172A CA1208795A (en) | 1982-06-25 | 1983-06-24 | Data processing scan-art system |
US06/507,495 US4698754A (en) | 1982-06-25 | 1983-06-24 | Error detection of scan-out in a diagnostic circuit of a computer |
BR8303397A BR8303397A (pt) | 1982-06-25 | 1983-06-24 | Sistema de processamento de dados |
EP83303647A EP0102150B1 (en) | 1982-06-25 | 1983-06-24 | Data processing system with diagnosis function |
ES523596A ES8405178A1 (es) | 1982-06-25 | 1983-06-25 | Sistema de procesado de datos. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57109605A JPS58225453A (ja) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | 診断回路の誤り検出方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58225453A JPS58225453A (ja) | 1983-12-27 |
JPS6226734B2 true JPS6226734B2 (ja) | 1987-06-10 |
Family
ID=14514516
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57109605A Granted JPS58225453A (ja) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | 診断回路の誤り検出方式 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4698754A (ja) |
EP (1) | EP0102150B1 (ja) |
JP (1) | JPS58225453A (ja) |
KR (1) | KR870000114B1 (ja) |
AU (1) | AU547305B2 (ja) |
BR (1) | BR8303397A (ja) |
CA (1) | CA1208795A (ja) |
DE (1) | DE3381152D1 (ja) |
ES (1) | ES8405178A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4660198A (en) * | 1985-04-15 | 1987-04-21 | Control Data Corporation | Data capture logic for VLSI chips |
US4799222A (en) * | 1987-01-07 | 1989-01-17 | Honeywell Bull Inc. | Address transform method and apparatus for transferring addresses |
US4823347A (en) * | 1987-05-18 | 1989-04-18 | International Business Machines Corporation | Deferred parity checking of control signals across a bidirectional data transmission interface |
US4872172A (en) * | 1987-11-30 | 1989-10-03 | Tandem Computers Incorporated | Parity regeneration self-checking |
JPH02232736A (ja) * | 1989-02-03 | 1990-09-14 | Digital Equip Corp <Dec> | システムモジュール間のdram制御信号のエラー検査を行なう方法及び手段 |
US5153882A (en) * | 1990-03-29 | 1992-10-06 | National Semiconductor Corporation | Serial scan diagnostics apparatus and method for a memory device |
WO1992005486A1 (en) * | 1990-09-14 | 1992-04-02 | Digital Equipment Corporation | Method and means for error checking of dram-control signals between system modules |
JP2654272B2 (ja) * | 1991-07-10 | 1997-09-17 | 富士通株式会社 | 論理回路試験装置 |
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