JPS62243483A - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置

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JPS62243483A
JPS62243483A JP61085924A JP8592486A JPS62243483A JP S62243483 A JPS62243483 A JP S62243483A JP 61085924 A JP61085924 A JP 61085924A JP 8592486 A JP8592486 A JP 8592486A JP S62243483 A JPS62243483 A JP S62243483A
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JP
Japan
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shutter
exposure
circuit
sensor
image sensor
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JP61085924A
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English (en)
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Yoshihiro Todaka
義弘 戸高
Takuya Imaide
宅哉 今出
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Priority to US07/038,838 priority patent/US4809076A/en
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/72Combination of two or more compensation controls
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/71Circuitry for evaluating the brightness variation

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は撮像装置の露出制御方式に係り、特に電子スチ
ルカメラに好適な撮像装置の露出制御方式に関する。
〔従来の技術〕
従来の電子スチルカメラの撮像装置の露光制御はテレビ
ジョン学会技術報告TEBS100−4昭和59年12
月13日(木)における弁上らによる“電子スチルカメ
ラ″と題する文献において論じられているように、シャ
ッタスピード等の表示用の開放測光受光素子と、実際に
レリーズボタンを押して撮像素子(以下撮像センサと呼
ぶ)に露光する場合のシャッタスピード等を制御するた
めのダイレクト測光受光素子の2つの受光素子(以下測
光センサと呼ぶ)を使用している。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術においては、ダイレクト測光を行うために
2系統の測光センサが必要であり、両センサに光を当て
るためのハーフミラ−等が必要になる。したがって、カ
メラの光学系が複雑化し、重量が増大するという問題が
あった。
本発明の目的は、一系統の測光センサで露出の制御を行
う電子スチルカメラの露出制御回路を提供することにあ
る。
〔問題点を解決するための手段〕
撮像センサ(例えばMOSセンサ、CCDセンサ等)に
おいては、撮像センサを構成するフォトダイオードに光
が入射されると、入射光量に応じて、正負のキャリアが
対生成される。対生成された正負のキャリアのうち一方
のキャリアはフォトダイオードに電荷として残り、他方
のキャリアはセンサの基板(以下[サブ」という)やバ
イアス電源ラインを通ってセンサ外に流出する。フォト
ダイオードに電荷として残されたキャリアを順次読出す
ことにより映像信号が得られる。バイアス電源ライン等
を通ってセンサ外に流出する他方のキャリアはフォトダ
イオードからの電荷の読出しとは無関係に流出する。
ところで、この他方のキャリアによる電流はフォトダイ
オードに蓄積されている一方のキャリアの量と一対一に
対応している。そこでこの他方のキャリアによる電流を
測定することによりフォトダイオードに蓄積される電荷
量、すなわち入射光量を知ることができる。前述のよう
に他方のキャリアによる電流はフォトダイオード上に蓄
積される一方のキャリアによる電荷の読出しで無関係で
あるので、他方のキャリアによる電流の測定が映像信号
に影響を与えることもない。
したがって、上記目的は他方のキャリアによる電流を検
出する測定手段と、この測定手段の検出信号に応じて撮
像センサに入射される光量を制御する入射光量制御手段
を設けることにより達成される。
〔作用〕
測定手段は、フォトダイオードから流出する他方のキャ
リアによる電流を測定し、これを積分することによりフ
ォトダイオードに入射された光量を求める。入射光量制
御手段は、測定手段により測定された入射光量に応じ、
最適露出となるように撮像センサに入射される光量を制
御する。
〔実施例〕
以下、本発明の第1の実施例を第1図に示すブロック図
により説明する。
以下の説明ではフォトダイオード上に映像信号として蓄
積されるキャリアを電子とし、バイアス電源ライン等か
ら流出するキャリアをホールとして説明する。
逆にホールにより映像信号を出力する場合も同様に行え
る。
同図において、11はレンズ、12は絞りも兼ねたシャ
ッタ、13はシャッタ駆動回路、2は撮像センサ、21
はセンサ駆動回路、22は積分測光回路、31は撮像セ
ンサより読み出された撮像信号を処理し映像信号を出力
するカメラ回路、32はカメラ回路32の出力を記録媒
体に記録するための記録回路、33は記録用ヘッド、3
4は記録媒体であるシート、35はシートを駆動するた
めのモータ、40は制御回路、41は電子スチルカメラ
の記録トリガ信号を出すシャッタスイッチ(SW) 、
201.202.203.301゜302は端子である
本実施例ではシャッタ開成後撮像センサ2に入射する光
の量を測定し、入射光量に応じてシャッタ12をコント
ロールし、入射光量が所定値になったらシャッタを閉成
する例について示す。なお、センサを用いて露出量を測
定する動作は後述する。
以下第1図に示す第1の実施例の動作を第2図の流れ図
によって説明する。
シャッタ5W41が押される前までは、シャッタ12は
閉じているとする。
先ずシャッタ5W41によりシャツタ釦が押されたこと
を、制御回路4が検出すると、同制御回路4はセンサ駆
動回路21により撮像センサ2内の信号電荷を全て掃き
出した後、読み出しを停止させ撮像センサ2のフォトダ
イオード上にレンズ11により結像される光の光電変換
された電荷を蓄える蓄積モードに入る。(ステップSL
)次にシャッタ駆動回路13によりシャッタ12を開成
する。(ステップS2)  開成と同時に撮像センサ2
上に照射された光の量に比例した露光出力が発生する端
子203の出力を積分回路で構成された積分測光回路2
2により積分を行い一定の積分値出力となるまでシャッ
タ12を開けておく。
(ステップS3)  一定の積分出力が得られたことを
制御回路4が検出すると同時にシャッタ駆動回路13に
よりシャッタ12を閉成し撮像センサ2上への露光を完
了する。(ステップ84)  その後センサ駆動回路2
1により°撮像センサ2に蓄積された信号を読み出し、
カメラ回路31によりγ補正等の信号処理をへて映像信
号を得、記録回路32)記録用ヘッド33を通してシー
ト34上に記録される。
同一撮像センサ2から映像信号2aと露光出力信号2b
を得る動作について第3図をもとに説明する。同図はn
pn3層構造のMO8形固体撮像素子のフォトダイオー
ド付近の断面の模式図でありテレビジョン学会誌第33
巻第7号(1979年発行)における小池らによる1′
学板力ラーカメラ用npn構造型MO8撮像素子の特性
″と題する論文において論じられているものである。第
3図において101はフォトダイオードを形成するnp
槽構造一部であるn生鉱散層であり撮像された信号電荷
を蓄積している。102は垂直ゲート線で、フォトダイ
オードのn−1−拡散層101とn+拡散層の信号出力
用ドレイン105とでMOSトランジスタを構成してい
る。このMOSトランジスタはn生鉱散層101に蓄積
された電荷を垂直信号線103を通して撮像センサ外に
出力するスイッチとして働く。
今矢印37方向から入射した光が酸化膜Si0゜104
を通って、フォトダイオードのnp構造101.106
に入射されると電子とホールが対生成され、電子はフォ
トダイオードn+拡散層101に残り、ホールはP型ウ
ェル106に残る。
このP型ウェル層のホールはバイアス電源38を通じて
センサ外へ出力される。この出力を露光電流Ipとする
と、露光電流Ipはセンサ上に照射されている光量に比
例する。したがって、霧光電流検出回路23により露光
電流Ipを測定すれば入射光量がわかる。
ここで特に注意すべきは、垂直ゲート線102によりフ
ォトダイオードのn生鉱散層101上の電荷をセンサ外
に読み出さない場合すなわち蓄積段階でも露光電流Ip
により測光できる点である。
なお蓄積モードのまま照射しつづけると当然フォトダイ
オード上の電荷は再結合し、露光電流Ipが入射光量に
比例しなくなるが、この状態はセンサのダイナミックレ
ンジを超えた場合に相当する。
通常これ以下の露光状態により映像信号を撮像センサよ
り取り出すので蓄積モードで露光電流Ipを測定しなが
ら露光を制御する第1の実施例で示す露出制御方式にお
いては、リニアリティの保たれている露光電流Tpの出
力内で制御でき、全く問題ない。
なおフォトダイオードのn+拡散層の蓄積電荷をMOS
スイッチをONする読み出しモードにしておけばもちろ
んさらに広い測光のダイナミックレンジをもつことがで
きる。
しかし、このような再結合によるリニアリティの変化は
、第3図の例では電子がn生鉱散層101上に充満して
くるとn型サブ107に吸いとられる縦型オーバーフロ
ー構造となっているので実際にはりニアリテイの変化は
小さく、通常問題は少ない。
すなわち、第1の実施例においては露出制御と撮像セン
サからの信号読出しを2段階に分けて行ったが(8!I
光時にn+拡散層101に蓄積された電荷の読出しが行
われないのでこれを[蓄積モード測光」という)、露出
制御のための露光電流Ipの測定と平行して撮像センサ
からの映像信号の読出しを行う読出しモード測光を行え
ば、フォトダイオードにおける電子とホールの再結合を
防止できる。これはオーバフローに対する対策を取って
いない例えば第3図のn型サブ107がない場合等に有
効である。
読出しモード測光では測光時の映像信号が得られるので
、通常の動画用ビデオカメラとして動作させることがで
き、モニタ上に撮影中の映像をうつし出すことができる
。したがって、1つの撮像センサを用いて静止画、動画
両用のカメラとして使用が可能である。
また、フォーカルプレーンシャッタを用いた高速撮影の
ように撮像センサ上を前幕、後幕によって作られるスリ
ットが走り、スリットを通過してくる光により露出を行
うタイプのカメラでは、蓄積モード測光を用いると、撮
像センサ全体に入射する光量の測定が困難であるが、読
出しモード測光によれば、シャッタ動作と無関係にあら
かじめ入射光量の測定ができる。
一方、蓄積モード測光では、シャッタが開成してから閉
成するまでの間の入射光量を測定することが容易であり
、ストロボ撮影のようにシャツタ釦を押す前と押してか
らの光量が変化するような場合に有効である。
次に、実際の撮像センサを用いての蓄積モード測光、読
出しモード測光の2つのモードの測光動作について説明
する。
センサ内部の構成を第4図に示す。同図において23は
水平走査回路、24は垂直走査回路、109はフォトダ
イオード、110,111はMOSスイッチ、25はフ
ォトダイオード109が配置されているフォトダイオー
ドアレイ部、26はフォトダイオードアレイ部のウェル
部を示す。
蓄積モード測光では垂直走査回路24の動作が止められ
る。もちろん水平走査回路23も同時に止めると走査に
よるノイズの発生が低減されより好ましい。このときセ
ンサ上に入射した光により光電変換されて生じた電子は
フォトダイオード109のn生鉱散層101−ヒに蓄積
され、一方ホールはウェル部26に接続された端子20
3によリセンサ外に出力される。この出力を積分するこ
とによりセンサ上の余震出量が分かる。
読出しモード測光では垂直走査回路24、水平走査回路
23を走査させMOSスイッチ(ル)。
(ロ)をオンすることによりフォトダイオード(チ)上
の電荷を端子201を通じて順次センサの外部へ出力す
る。同時に端子203によりフォトダイオードアレイ部
25に入射した光量に比例した出力が得られ、この出力
電流を測定することにより入射光量を知ることができる
次に第5図、第6図を用いて本発明の第2の実施例を説
明する。
この実施例では、読出しモード測光を行いながら、その
測光値を表示装置53に随時表示するようにした。
第5図において14は絞りも兼ねたシャッタ、15はシ
ャッタ14のシャッタ駆動装置、51は入射光の一部を
透過するはね上゛げ式のはね上げハーフミラ−152は
図示していない光学式ビューファインダに挿入されてい
る反射部を示す。53はシャッタスピード等を表示する
表示装置、54は操作者の瞳を模式的に表わしている。
55ははね上げハーフミラ−をはね−ヒげ駆動するミラ
ー駆動装置、23は撮像センサからの光出力を測定する
測光回路、42は制御回路、43は絞り値等のプリセッ
ト値入力装置を示す。
第5図の動作を第6図の流れ図を用いて説明する。以下
の実施例ではプリセット入力装置43からの例えば絞り
値に対してシャッタスピードを決め、かつシャッタを切
る絞り優先方式露出制御を行うものとして説明する。
まずシャッタ14が開放する。プリセット入力装置43
にはあらかじめ絞り値のプリセット値が入力されている
とする。はね上げハーフミラ−51を通過した光は撮像
センサ2に入射する。撮像センサ2においては第3図に
て説明したように撮像センサ2上に照射されている光に
比例した露光出力が発生し、そのP型ウェル106から
の露光電流Ipを測光回路23にて測定し、被写体から
の輝度を測定する。(ステップ86)  次にプリセッ
ト値入力装w23からの入力によりプリセットされた絞
り値を検出し、この値と撮像センサの感度、測定した被
写体の明るさからシャッタスピードを制御回路42が算
出し、表示装置52に表示する(ステップS7)。以上
のシャッタスピードを決める回路構成は35■カメラの
露出回路と同様であるので特に説明しない。
次にシャッタSW4.1がオンとなると、まずシャッタ
14を閉成し、はね上げハーフミラ−51をミラー駆動
装[55によりはね上げ(ステップS9)、センサ駆動
回路21により撮像センサ2をリセットし、センサ読出
しを停止させて、蓄積モードに入る(ステップ510)
。次に露光を行う(ステップ511)。この露光は本例
では絞り兼用のシャッタ14であるので、プリセット入
力装置43に入力された絞り値に対応する開口径でかつ
先はど算出したシャッタスピードの時間だけ開成し、露
出を行う。シャッタ14の閉成により露出が完了した後
、撮像センサ2を読出し、不図示のシートに記録する。
その後、はね上げハーフミラ−51を降下させ、シャッ
タ14を開成しくステップ13)、1回の撮影が完了す
る。
以上、絞りをプリセット入力しておき、シャッタスピー
ドを制御回路が決める絞り優先式について述べたがもち
ろんシャッタスピード優先式又はプログラム式でもよい
ことは言うまでもない。例えばプリセット入力にシャッ
タスピードを入力したとすると制御回路42はそれに対
応する絞り値を算出し、その絞り値に絞り径を開いてプ
リセットした時間、露出する。プログラム方式も35m
カメラと同様であり特に説明しない。本実施例では撮像
センサ2によりシャッタ、絞りを開いた状態で光を入射
させるが、はね上げミラーを持つ構成の場合は入射光の
一部を透過させるハーフミラ−を用いることにより、光
学ビューファインダと撮像センサ両方に光を入射させる
ことにより被写体の測光を行っている。もちろん露出時
の絞り、シャッタスピードは、絞り込む量だけでなく、
はね上げミラーがはね上り光量が増加する量もあらかじ
め計算にいれておくことはいうまでもない。
本実施例においては、露出する前に一部シャツタを閉成
させて撮像センサをリセットした後、撮像センサを蓄積
モードにして絞り兼用のシャッタを開いて露光していた
が、第7図に示す第3の実施例のようにすることにより
撮像センサのリセットのためのシャッタの閉成動作を省
略することができる。
第7図(a)は本発明の第3の実施例の構成図であり第
5図における制御回路42の代わりに制御回路44が設
けられ、さらに撮像センサのクリア回路24が新たに入
れられたものであり、残りのブロックは第5図における
同一番号のブロックと同一機能を有する。なお、第7図
(a)において、第5図中で示していたはね上げハーフ
ミラ−51、光学ビューファインダ52等は本実施例で
は重要でないので省いた。本実施例の動作を第7図(b
)に示す流れ図により説明する。本流れ図は第6図に示
した流れ図のステップS6.S7,88及びステップ1
3以後は同一であり、露出部分のみ変わっているのでシ
ャッタSWを押して露出を行う部分を中心に示した。
まず測光回路23で被写体の明るさを測定する、16 
と制御回路44はプリセット入力装置43に保持された
プリセット値からシャッタスピードを決定する。
シャッタSW4]が押されたことを検出した制御回路4
4は、絞り兼用のシャッタ14をシャッタ駆動装置15
によりプリセットされた値まで絞り込み、同時に不図示
のはね上げハーフミラ−をはね上げ撮像センサ2上に被
写体の光を入射させる。その後センサに蓄えられていた
信号電荷をクリア回路24により全てクリアし信号電荷
を零とする。このクリア操作は後はど説明する。このク
リア直後から露光が始まり制御回路44がすでに算出し
ていたシャッタスピード時間が来たら、シャッタ14を
閉成し露出が完Yする。露出後、撮像センサを読み出し
てシートに記録し、はね上げハーフミラ−を降下させ、
絞り兼用のシャッタを開成させることにより1回の撮影
が完了する。
次にクリア操作について若干説明する。撮像センサ上の
フォトダイオードに蓄積された信号電荷を全て一度にク
リアする方法の1例として、先はど示した第3図のMO
8型センサの場合について同図を用いて説明する。同撮
像センサのフォトダイオードを構成しているnp接合に
おいてダイオードのn生鉱散層10]、は通常垂直信号
線からの入力により正にチャージアップされ、逆バイア
スがかかった状態で動作している。すなわち、P型ウェ
ル106には相対的に負のバイアスがかかっている。ク
リア動作はP型ウェル106を正にバイアスし、順方向
に電圧を印加することにより、フォトダイオード中の信
号電荷を再結合させることにより行われる。以上のよう
にP型ウェル106のバイアスを反転させることにより
一度にすべてのフォトダイオードの信号電荷をクリアす
ることができる。もちろん、この他に水平、垂直のゲー
ト線を一度にオンし全てのフォトダイオードをクリアし
てもよいことはいうまでもないが、ここでは撮像信号を
順次読み出すことによる絵素をクリアする方法以外にい
くつものクリア方式があり、このクリアする手段と撮像
センサによる測光等をいかに組合せて露光制御を行わせ
るがが本題であるので、詳細は省く。
このようなりリア機能をもたせて、撮像センサ2を制御
することによりシャッタを一度閉じてから撮像センサを
リセットし、その後再び開けて露光する動作に要する時
間を短縮でき、シャッタの応答の早い電子スチルカメラ
を供給できる。
以上、撮像センサ2による測光を行って絞りのプリセッ
ト値に対するシャッタスピード等を算出、表示し、その
後算出したシャッタスピードとプリセット値により絞り
径等を制御する露光を行ったが、もちろん撮像センサの
ダイレクト測光によって露光制御を行ってよいことは言
うまでもない。
その場合の実施例を次に示す。
本発明の第4の実施例を第8図の構成ブロック図(a)
及び流れ図(b)に示し、以下動作を説明する。構成ブ
ロック図(a)において44′は制御回路、29はスイ
ッチであり、その他のブロックは第7図(a)に示した
同一番号のブロックと同一機能を有するブロックである
。第8図の流れ図(b)においてシャッタ5W43がオ
ンされるまでは1、I9゜ スイッチ29は同図に示すように測光回路23との接続
となっており、被写体の明るさを撮像センサにより測光
する読出しモードによる測光を行ってプリセット入力装
[43からの入力とから不図示の表示装置へ表示を行う
。この動作は第2の実施例と同じである。シャッタ5W
43がオンされた後スイッチ29は積分測光回路22へ
切替えられ、絞り兼用のシャッタが閉成され、ミラーが
はね上げられる。この時表示装置の表示はホールドして
おくことはいうまでもない。撮像センサに光が入射しな
くなった後、読出しを行えばフォトダイオード内の信号
電荷はリセットされる。その後第1の実施例において説
明したようにまず絞りをプリセット値まで開き露光を開
始する。同時に撮像センサの露光出力を積分して露光量
を知る積分測光回路22の出力を監視して“お曇、一定
の出力となった後絞り兼用のシャッタを閉成し露光が完
了する。その後撮像センサを読出し、シートに記録し、
ミラー降下、絞り兼用シャッタ開放で撮影が終了する。
同時にスイッチ29を切替でおき次にそなえる。
次に第9図の流れ図においてダイレクト測光でクリア動
作を伴った第5の実施例を説明するにの場合の構成ブロ
ック図は第8図(a)の構成ブロックにクリア回路を付
加し、センサ読出しによる霧光前のセンサのリセット動
作をクリア回路によって行おうとするものであり、以下
の流れ図説明により容易に分かるので省略する。第9図
の流れ図においてシャッタSWオンからシート記録まで
以外は第8図と同一なので図示を省略する。
先ずシャッタSWがオンすると、シャッタ兼用の絞りが
プリセット値まで絞り込まれかつミラーが1士ね上げら
れる。その後第3の実施例において説明したように、撮
像センサの信号電荷をクリア操作により全てクリアする
。その直後からの撮像センサの露光出力を積分測光回路
22により測光上、一定の出力となった時点でシャッタ
兼用の絞りを閉成し露光を完了する。その後は撮像セン
サ読出し、シート記録と第4の実施例と同一である。
以上の第4、第5の実施例にお゛ける特徴は、ファイン
ダ内表示では撮像センサの露光出力をlogアンプ等で
構成される測光回路23からの出力とプリセット値から
算出した値で表示しておき、シャッタSWを押した後は
撮像センサの露光出力を積分する積分測光回路22を設
けておきその出力が一定値となったら露出を打ち切るダ
イレクト測光による露出を行う点にある。すなわち2つ
の測光回路を使い分けて表示と露出制御を行う点にある
以上のことはストロボ撮影の場合でも適用できることは
もちろんである。例えば今撮像センサをリセット或いは
クリアしてかつ絞り兼用のシャッタが開いている状態で
、ストロボを発光させ、ダイレクト測光の出力すなわち
積分測光回路22の出力が一定となった時点で発光を停
止させることにより露出を完了する。
以上絞り兼用のシャッタを用いて実施例を説明したがも
ちろん絞りとシャッタ別々の場合でも本発明が適用でき
る。
次に絞りとシャッタを独立して設置した場合の第6の実
施例を第10図に示す。同図において16は絞り、17
は絞り駆動装置、18はシャッタ、19はシャッタ駆動
装置、45は制御回路、その他は第5図に示した実施例
の同一番号のブロックと同一機能を有するブロックであ
る。本実施例の動作を第11図の流れ図により説明する
。第11図においてシャッタ及び絞りは開放とし、はね
上げハーフミラ−51は降下しているものとする。まず
、撮像センサ2には光が入射しているので測光回路23
にて被写体の明るさを読出しモード測光により測定する
(ステップ518)。その後プリセット値に応じて算出
した値をファインダ内に表示する(ステップ519)。
シャッタがオンした後(ステップ520)、絞り16が
プリセット値まで絞り込まれ、はね」こげハーフミラ−
51がはね上げられる(ステップ521)。同時にシャ
ッタ18が閉成され撮像センサ2は遮光される(ステッ
プ522)。撮像センサ2がリセットされ蓄積モードと
なった後シャッタ18を制御回路45が算出した時間だ
け開き露出を完了させ、23゜ る(ステップ523)。その後、撮像センサ2を読み出
し、不図示のシートに記録する(ステップ24)。はね
上げハーフミラ−を降下させ絞り、シャッタを開放とす
ることにより1回の撮影が完了する(ステップ25)。
同側は第5図に示した第2の実施例における撮像センサ
2の遮光後のリセットによる露光制御例であるが、もち
ろん第8、又は第9図に示した第4、又は5の実施例と
同一露光方式すなわちダイレクト測光方式をとってもよ
いことはいうまでもない。ただし、フォーカルプレンシ
ャッタの場合高速シャッタを切るとシャツタ開口部がス
リット状となり撮像センサ2の積分測光精度が不良とな
る場合がある。そこでダイレクト測光方式は、ストロボ
撮影時や低速シャッタ時が都合よい。
絞りとシャッタをそれぞれ有・する場合のダイレクト測
光時の第7、第8の実施例の流れ図を第12)第13図
にそれぞれ示す。第12)第13図は第4、第5の実施
例の流れ図を示す第8、第9図の流れ図に対応しており
、それぞれ撮像セン、24゜ すのはき出しによるリセットと一度にフォトダイオード
の全信号をクリアするクリア方式による撮影の流れ図を
示す。詳細な説明は省くが、第10図ではリセット動作
のためシャッタSWがオン後一旦シャッタが閉となりそ
の後開閉して露光を行うが、第11図ではクリア動作の
ためシャッタSWがオン後、シャッタは閉とならず、露
光完了において閉となる点が異なる。
ビデオ信号を生成できる電子カメラにおいては動画の映
像信号を出力するビデオ撮影モードも重要である。第1
4図に第9の実施例を示しビデオ撮影と電子スチルカメ
ラ撮影との切換えを行う一例を説明する。同図中におい
て46は制御回路、36はオートアイリス信号回路、4
7はストロボ端子である。その他は第1図、第5図、第
8図中の同一番号のブロックの持つ機能と同一機能を有
するブロックである。
本発明のようにフォトダイオードのP型つェル上に発生
するホールによる電流を測定することによって撮像セン
サに入射する光量を測定する測光方式では、映像信号の
読出しと測光動作が互いに影響を与えないので測光中に
も映像出方を得ることができる。
したがって、読出しモードにて絞りをビデオ信号で閉ル
ープ制御すれば適正露光のビデオ撮影を行うことができ
る。このように電子スチルカメラの撮像センサを用いて
動画の映像信号を得るモードを以下ビデオモードという
このビデオモードを実現した第9の実施例の動作を第1
5図の流れ図により説明する。
まずセンサ駆動回路21により、センサは読出しモード
で駆動されているものとする。その時カメラ回路31か
らのビデオ信号によりオートアイリス信号回路36から
絞り信号が発生する。この信号に従って絞り兼用シャッ
タ14を閉ループ制御することによりオートアイリス動
作を行う(ステップ826)。このとき絞り兼用のシャ
ッタ14の制御値によって得られるオートアイリス時の
絞り値と測光回路23の被写体の明るさの入力とプリセ
ット入力袋W43の入力からシャッタスピードを算出し
、表示装置53に表示する(ステップ527)。次にフ
ォトトランジスタのn生鉱散層より電荷を読み出す(ス
テップ828)。これによりビデオ出力が得られる。ビ
デオモードではこのステップ826〜828を繰り返す
ことにより連続する映像信号が出力され、動画出力が得
られる。
ビデオモードからスチルカメラモードへの切換えはシャ
ツタ釦を押すだけでよい。シャッタSWがONとなった
場合(ステップ828)シャッタ14が閉成され撮像セ
ンサ2のリセット、露光・・・と今まで説明してきたス
チルカメラモードでの動作が行われる(ステップ830
〜533)。
以」二のようにビデオモードと電子スチルカメラ撮影が
シャツタ釦の押下げ動作により切り変わるが、絞り兼用
シャッタの制御方式をもっと簡便にした第10の実施例
を第16図に示す。第16図において60は62で示す
簡易な絞り駆動装置にて駆動されるメータ方式等で構成
されるシャッタ兼用の絞り、63は絞り60の絞り値を
検出するポテンションメータ、61はスイッチ、48は
制御回路、64は自動絞り回路である。
ビデオモードにおいてスイッチ61は第16図のスイッ
チの位置とする。自動絞り回路64により絞り駆動装置
62を通じてビデオ信号での閉ループ自動絞り回路が構
成される。スイッチ29に示されるようにポテンション
メータ63の出力とプリセット入力装置43からの絞り
入力と測光回路23からの入力によりシャッタスピード
を制御回路47が算出し表示装置53に表示する(ステ
ップ835,83g)。次に撮像センサ2から映像信号
を読出す(ステップ37)。ビデオモードでは以上のス
テップ35からステップ37を繰り返す。
今ビデオモードからスチルカメラモードに切換るためシ
ャッタ5W41がONとなると制御回路47はスイッチ
61を切替る。制御回路47はポテンションメータ63
の出力とプリセット値が等しくなるよう絞り込み制御を
行う。その後不図示のセンサクリア回路によりセンサ2
をクリアした直後から積分測光回路22の出力が一定値
にまで絞りをプリセット値に開いておき、一定値に達し
た時点で絞りを閉成し、ダイレクト測光による露出を完
了する。読出し、シート記録、スイッチ切替を行って撮
影が終了する。
以上の動作において、本構成例にストロボを付加し、ダ
イレクト測光による露光の期間にストロボ発光制御を行
わせることにより、ストロボのダイレクト測光による撮
影が可能なことは前述のダイレクト測光の実施例より明
らかであり詳細は省く。
次に本発明を用いて中央重点測光や部分測光等の重み付
は測光を行うための撮像センサの構造について説明する
通常写真を取る場合には、ファインダの中央部に被写体
が入るようにして撮影する場合が多い。
したがって、ファインダ中央部からの光を重点的に測光
するのが中央重点測光である。またファインダ内の各位
置からの光をそれぞれ取り込み、その値に所定の重み付
けをして加え合わせて入射光量とする重み付は付きの測
光方法等もある。
本発明では入射光量の測定をフォトダイオードのP型ウ
ェルから流出するホール電流を測定することにより行っ
ているため、P型ウェルをいくつかに分割し、分割され
たそれぞれの領域から流出するホール電流を測定するこ
とにより容易に重み付は付きの測光ができる。
第18図にP型ウェルを分割することにより重み付は付
きの測光を行う撮像センサの構造を示す。
第18図(a)は撮像センサの平面図であり、(b)は
その部分断面図である。フォトダイオードのP型ウェル
26は、n型拡散層108によりA、Bの2つの領域に
分割されている。A、Hの2つの領域に分割されたP型
ウェルにはそれぞれ電極210.211が接続されてお
り、この電極とサブ107間にバイアス電圧をかけるこ
とにより、各領域に発生するホール電流がフォトダイオ
ード外へ掃き出される。したがって、電極210゜21
1に流れる電流を測定することにより各領域に入射する
光の量を知ることができ、これに重みを付けて加え合せ
れば重み付は付きの測光が可能となる。
第18図(C)、(d)はそれぞれ分割パターンを変え
た例であり、電極212〜217,222〜230.2
28’ 、229’ 、230’ 、224’ 。
224’、224”にそれぞれの領域のホール電流が出
力される。
以上はウェルを通じて露光出力を取り出す方法であった
が、もちろんアルミ配線等で取り出してもよい。第19
図にその例を示す。二点鎖線112はセンサ面上に配さ
れた露光出力線を示し、同(b)図に示すように、その
一端はP型ウェル106に接続されている。その他の部
分は第18図と同一である。P型ウェル上に発生したホ
ールによる電流はアルミ配線112とn5ub107に
掛けられたバイアス電圧によりアルミ配線112上に取
り出されるn型拡散層108によりフォトダイオードに
発生するホールが同図では左方向に移動するのを妨げて
いる。
第19図(b)においてn型拡散層108はP型ウェル
(へ)を分離するものであるが、P型ウェル106に深
く侵入しておりかつpn接合となっているので、露光信
号線112を付近に配すると露光信号線112に電荷が
到達しにくい。そこでこれを分離して配置している。
第19図(a)に示したようにn型拡散層108により
フォトダイオードエリア25はAとBの2領域に分割さ
れ、それぞれ端子232,231から露光信号出力が取
り出される。
第20図(a)、(b)にその他の分割の実施例を示す
。各回の信号は第18.19図にて示した信号の部分と
同じ部分である。
これらの実施例において露光出力線112は分割した領
域の周辺にくまなく配線しているが、もちろん1ないし
数点のコンタクトで実施してもよいことはいうまでもな
い。
第21図(a)、(b)に分割測光撮像センサの他の実
施例とその原理を説明するフォトダイオード周辺のセン
サ断面図を示す。同図中の各符号の示す部分は第19図
で示した部分と同一である。
本基本実施例の特徴は第19図で示した実施例のホール
のトラップ用のn型拡散層108を取り払ったものであ
り、露光信号線112により直接P型ウェル106から
電荷を撮像センサ外に取り出すものである。このため撮
像センサ2のフォトダイオードアレイ25のどの部分か
らでも露光出力が取り出せる。第21図(c)にその他
の分割の一例を示す。これは第20図(b)の実施例に
対応させたものである。
以上はフォトダイオードアレイ部に何らかの加工をほど
こしたものであるが、もちろんP型ウェルのコンダクタ
ンス分布を変えて分割測光を行うことも可能である。
P型ウェルのコンダクタンス分布を変えて分割する実施
例を第22図に示す。第22図(a)は撮像センサを示
し、点線113はP型ウェルの打ち込み量を変えた境界
を示す。
C,Dで示した一点鎖線にそった断面を(b)。
(c)図に示す。(b)、(c)図は、それぞれ別の実
施例を示している。第22図中の114,115゜11
6はP型ウェル26において打ち込み量を変えたP土層
を示しており、P型ウェル26とコンダクタンスが異な
っている。その他の記号は第21図の同一信号の示す部
位と同じである。
第22図(b)に示したP型ウェル26の構成をとれば
P十層114上のフォトダイオード部からの露光された
電荷は、端子211を通して外部に出力されその他は端
子210にて出力される。もちろん第22図(c)に示
すようなP土層等の構成とする方がよりP土層にそって
伝わる電荷を外部に導き易く、フォトダイオード部の分
割露光出力が得られやすい。なおP土層114,115
゜116とP型ウェルとの境界を区別して示し、打ち込
み量が急変しているように表わしたが、もちろん、なめ
らかに打ち込み量を推移させてもよい。
第22図の例においては、フォトダイオード部のホール
はP土層の位置する部分で峻別されているが中央重点測
光のように、一定の測光感度分布を持つような場合も可
能であり、次にこれを実現した実施例を第23図に示す
。第23図において第22図と同じ信号を持つ部分は同
一機能を持つ部分である。本実施例の基本はP型ウェル
26に打ち込み量の分布を変化させたPl 層を設ける
ことにより、測光感度分布を持たせるものである。
同(b)図、同(a)図のE、Fで示した一点鎖線にそ
った断面を示している。同図において117゜118は
打ち込み量の分布を変化させたP」層を示しており、P
土層の厚さの変化で打ち込み量の変化を模式的に表わし
ている。なお端子211との接続を強固とするため、も
ちろんp−1層(+)の分布を第22図(c)に示すよ
うに、P型ウェル26にそって打ち込んでもよい。
同側は打ち込み量の分布を変化させるものであったが、
もちろんパターンを中央重点にそうよう変化させてもよ
い、その例を第24図(a)に示す。
この場合の打ち込み量の制御は、第22図(c)のよう
に境界での打ち込み量の変化が急峻であってよい。また
第24図(b)に他のパターンの実施例を示す。なお、
第24図中の記号で示す部分は第18.22図に示した
同一記号を持つ部分と同一であり、動作についても同様
であるので説明は省略する。なお、第24図(b)の分
割は第18図(C)の分割パターンに対応させている。
以上各種分割例を示したが、この分割例に限る必要がな
いことは明白であり、他の種々のパターンが考えられる
ことはもちろんである。
また撮像センサの例としてMO8型撮像センサの例を取
って説明したが、原理がフォトダイオード上蓄積される
電荷と対生成される電荷量を測定することにより測光す
るものであるので、他の種類の撮像センサ、例えばCC
D型撮像センサでもよいことは言うまでもなく、また撮
像センサから出力される露光出力が電子でもよいことは
言うまでもない。すなわち例えば説明してきたMO8型
撮像素子がnpn型でなくpnp型というような撮像セ
ンサであっても本発明が適用できることは言うまでもな
い。
次にCCD型撮像センサの例を第25図に示し、以上の
ことを説明する。第25図はCCD型撮像センサの一例
であり、テレビジョン学会誌Vo137、 N(110
,(1983)において石原らの発表した“縦形オーバ
ーフロー構造CCDイメージセンサ”の論文中に示され
たCCD型撮像センサの単位画素の断面図である。10
6はP型ウェル、107はn型サブ、120はチャンネ
ルストップ、121は撮像センサのフォトダイオードを
構成するpn接合のn型拡散層であるが、便宜上フォト
ダイオードとして表わす。同様に122はトランスファ
ゲート(TG) 、123は縦方向C0D(V−COD
)、124は転送電極、125はSin、、38はバイ
アス電源、126はV−CCD部分を遮光するためのA
Q光シールド、127は転送電極124に転送パルスφ
を伝達するための転送パルス端子である。今光が入射す
るとフォトダイオード121上には対生成された電子が
チャージされホールはP型ウェル106を伝って、バイ
アス電源へ電流Ipとして出力される。この電流Ipの
発生原因が入射した光であるため、入射光量を入射光に
比例した露光電流rpとして検出できる。
このことはこれまで説明してきたMO8型撮像素子と同
じであり、今まで述べてきたと同様な測光、分割測光等
の実施例にそってCCD型撮像センサ等を用いた電子カ
メラを構成できる。
なお撮像センサの分割測光の実施例において、種々の分
割測光が可能であることを述べただけで、その分割出力
を用いたカメラの制御については述べなかったが、これ
は測光回路及び制御回路が分割測光出力をどう用いるか
の問題であり、マルチプログラムAE(自動露出)方式
等に適用できる。
ところで第14.1.6図の第9,10の実施例におい
てビデオモード時には読出しモードで撮像センサを駆動
しておいて、ビデオ信号を用いたオートアイリス制御を
していたが、もちろん撮像センサから出力される本発明
で説明した測光出力を用いてオートアイリス動作を行わ
せてもよいことは言うまでもない。
当然、撮像センサの撮像面の各部から出力される測光信
号を使用できる訳であり、この各測光出力を組み合わせ
て35+m+カメラで使用しているマルチ測光による自
動露出に対応したオートアイリス制御が可能であり、種
々の撮像センサ上のマルチ測光による制御方式を取るこ
とができ、より使いやすいビデオモード付電子スチルカ
メラとして構成できる。
以上の撮像センサからの測光出力による各種絞り等の制
御はもちろん撮像センサを用いた動画用ビデオカメラに
ついても実施できることは言うまでもない。
〔発明の効果〕
本発明によれば、撮像センサを測光用センサとして使用
でき、しかも撮像しつつ測光するダイレクト測光も可能
であり、かつ撮像センサ】−の任意の部位での測光が可
能であるので、部用な構造で高機能な露光制御が可能な
電子カメラを構成できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示すブロック図、第2
図は第1の実施例の動作を示す流れ図、第3図は撮像セ
ンサの部分断面図、第4図は撮像、39゜ センサの模式図、第5図は本発明の第2の実施例を示す
ブロック図、第6図は第2の実施例の動作を示す流れ図
、第7図は本発明の第3の実施例を示すブロック図、第
8図は本発明の第4の実施例の動作を示すブロック図お
よびA作を示す流れ図、第9図は本発明の第5の実施例
を示す流れ図、第10図は本発明の第6の実施例を示す
ブロック図、第11図は第6の実施例の動作を示す流れ
図、第12回、第13図は本発明の第7、第8の実施例
の動作を説明する流れ図、第14図は本発明の第9の実
施例を示すブロック図!第15図は第9の実施例の動作
を示す流れ図、第16図は本発明の第10の実施例を示
すブロック図、第17図は第10の実施例の動作を示す
流れ図、第18図から第24図は本発明に用いる撮像セ
ンサの構成を示す模式図、第25図は本発明に用いるC
CD撮像センサの構造図である。 11・・・レンズ、2・・・測光センサ、12・・・絞
り兼用シャッタ、13・・・シャッタ駆動装置、22・
・・積分測光回路、21・・・センサ駆動回路、23・
・・露光電流検出回路、31・・・カメラ回路、32・
・・記録回路、33・・・ヘッド、34・・・シート、
35・・・モータ、41・・・シャッタSW、40・・
・制御回路、13・・・シャッタ駆動回路、23・・・
水平走査回路、24・・・垂直走査回路、25・・・フ
ォトダイオードアレイ、26・・・P型ウェル、51・
・・はね上げハーフミラ−152・・・ファインダ、2
3・・・測光回路、43・・・プリセット入力装置。 第50 躬60 躬 6 躬 7m 国 も 22 口 23国 C6−)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)入射される光の光量に応じて第1、第2のキャリ
    アを対生成する光電変換手段と、制御信号に応じて前記
    光電変換手段に入射する光の光量を制御する入射光制御
    手段と、前記光電変換手段に生成される第1のキャリア
    を読み出すことにより映像信号を出力する読出し手段を
    備えた撮像装置において、 前記光電変換手段に生成される第2のキャリアを読出し
    、第2のキャリアによる電流を測定する露光電流検出手
    段を設け、露光電流検出手段の出力信号を前記入射光制
    御手段へ制御信号として供給し露出制御を行うことを特
    徴とする撮像装置。
  2. (2)特許請求の範囲第1項において前記第1のキャリ
    アは電子であり、前記第2のキャリアはホールであるこ
    とを特徴とする撮像装置。
  3. (3)特許請求の範囲第1項において前記第1のキャリ
    アはホールであり、前記第2のキャリアは電子であるこ
    とを特徴とする撮像装置。
  4. (4)特許請求の範囲第2項ないし第3項において前記
    光電変換手段は複数の測光領域をもち、各測光領域ごと
    に前記露光電流検出手段を備えていることを特徴とする
    撮像装置。
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