JPS62226654A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS62226654A
JPS62226654A JP61068386A JP6838686A JPS62226654A JP S62226654 A JPS62226654 A JP S62226654A JP 61068386 A JP61068386 A JP 61068386A JP 6838686 A JP6838686 A JP 6838686A JP S62226654 A JPS62226654 A JP S62226654A
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JP
Japan
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circuit
parasitic
diode
current
potential
Prior art date
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Pending
Application number
JP61068386A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunio Seki
邦夫 関
Hirobumi Ishii
博文 石井
Koichiro Satonaka
里中 孝一郎
Yoshimi Shindo
進藤 善美
Takeshi Masuko
益子 健
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Hitachi Information Technology Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
Hitachi Communication Systems Inc
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd, Hitachi Communication Systems Inc filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP61068386A priority Critical patent/JPS62226654A/ja
Publication of JPS62226654A publication Critical patent/JPS62226654A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体基板に各種電子回路を形成した半導体
集積回路等の電子装置に関するものであり、特にモータ
、プランシャーンレノイドの如き誘導性負荷を駆動する
電子装置、更にパワー集積回路(以下においてICとい
う)に適用して好適な回路技術に関する。
〔従来の技術〕
半導体集積回路にて構成されたモータ駆動回路を例にの
べると、駆動電流を断続した場合にモータコイルから逆
起電力が発生し、出力端子の電圧レベルが瞬間的に高レ
ベルになる。そして半導体基板に介在する寄生素子(寄
生トランジスタ、を生ダイオード)を介して寄生電流(
サブストレート電流)が流れる。
上記寄生素子については、「アナログ集積回路](昭和
57年2月1日第4刷発行、発行所近代科学社、I)p
44〜45)に記載されている。
本発明者等は、寄生電流によりICに形成された電子回
路の誤動作について検討した。以下は、公知とされた技
術ではないが、本発明者等によって検討された技術であ
シ、その概要は次のとおりである。
上記モータ駆動回路は、モータコイルへの通電を制御す
る回転位置制御系と、モータの回転速度制御系とからな
っている。上記寄生電流が発生すると、半導体基板のサ
ブストレートの電位が基板の離抵抗のために上昇し、寄
生ダイオードを介して上記回転位置制御系に不所望な制
御信号が供給されてしまうことが本発明者等の検討によ
、り明らかになり九。上記不所望な制御信号が発生する
と、モータの誤動作及びICの破壊等が発生するので好
ましくない。
そこで、上記誤動作の改善を図ったのであるが、寄生素
子そのものを無くすことはデバイス構造から困難である
ことが判明した。
そして回路技術により、上記不所望な回路動作を低減す
ることを考えた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
すなわち、寄生電流が発生すると、サブストレートの電
位が上昇して制御信号の伝達経路とサブストレートとの
間に寄生ダイオードが介在すること罠なり、サブストレ
ートから上記伝達経路に寄生電流が流れてしまう。これ
が制御信号と同様に作用してモータの誤動作及びICの
破壊等を発生させる。
上記現象を低減、或いは防止するには、寄生電流が発生
しても回転制御系に影響を及ぼさないようにすればよい
ことに気付いた。
そして回転制御系の接地ラインの電位を予め接地点より
高くしておけば、寄生電流発生時に寄生ダイオードから
回転制御系に流れる電流を阻止するか、或いは低減させ
ることができ、上記現象を防止し得ることに気付いた。
本発明の目的は、半導体基板に所望の回路動作を行う電
子回路を形成するとともに、上記半導体基板に発生する
寄生電流による誤動作を低減する半導体装置を提供する
ことにある。
本発明の上記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に述べれば、下記の通りである。
すなわち、半導体基板に所望の回路動作をなす電子回路
を形成し、その回路の接地ラインと上記半導体基板の接
地点との間にダイオードを接続し、接地点に対し接地ラ
インの電位を上記ダイオードの順方向電圧差によって予
め高レベルに保持しておくものである。
〔作 用〕
上記した手段によれば、電子回路の接地ラインが接地点
に対し高電位差になり、従って電子回路の信号伝達経路
も接地点に対し高レベルになり、寄生電流が発生しても
寄生ダイオードから信号伝達経路に流れる寄生電流が減
少、或いは阻止されることにより、半導体基板に形成さ
れた電子回路の寄生電流による誤動作を低減する。とい
う本発明の目的を達成するものである。
〔実施例〕
以下、第1図〜第3図を参照して本発明を適用した電子
装置の一実施例を説明する。なお、本実施例は本発明を
モータ駆動回路に適用した例を示すものであり、第1図
は基本的回路図、第2図は具体例を示す回路図、第3図
はデバイス構造を示すICの要部の断面因である。
本実施例の特徴は、半導体基板にモータ駆動回路を形成
するとともに、回転速度制御系の寄生電流による誤動作
を低減するように構成したことKある。
先ず、第1図について本発明の基本的概念を説明する。
v1〜V、は、モータの回転位置検出信号である。1は
前置増幅器であり、上記検出信号■、〜vsを増幅する
ものである。2はマトリクス回路であり、増幅された検
出信号v、′〜■、′のレベル差により、モータコイル
L+−Laの通電順序を決定する切り換えイぎ号Va−
Vcを得る。
3は出力回路であり、切り換え信号Va〜Vcにもとづ
き駆動電流を得る。
4は制御回路であり、本発明でいう電子回路に相当する
ものである。
そして制御回路4は、制御信号Vsによってモータ駆動
電流I、〜I6の電流量を制御し、モータの回転速度の
制御を行うものである。
ここで注目すべきは、制御回路4の接地ライン1、と接
地点との間にダイオードD、が設けられていることであ
る。
点線で示したダイオードDは、寄生ダイオードであり、
モータコイルL1〜L、に供給されていた駆動電流が遮
断されると、逆起電力によって出力回路3の寄生素子Q
+ooがオン状態になり、寄生電流によって接地ライン
l、の電位が上昇する。
なお、上記寄生素子については第2図及び第3図につい
て後述するものである。
接地ラインl、の電位が上昇すると、寄生ダイオードD
を介して制御回路に恰も制御信号Vsが供給されたよう
になるのであるが、上記ダイオードD、を設けることに
より、寄生電流の影響は阻止される。
すなわち、制御回路4の接地ライン1+の電位は、ダイ
オードD、によって少なくとも順方向電圧に相当するレ
ベルだけ接地点Eより高レベルに保持されている。
従って、接地ライン1.の電位が寄生電流によって上昇
しても上記順方向電圧以下のレベル上昇である場合は、
寄生電流が制御回路4に影響を及ぼすことがない。
また、接地ラインhと信号伝達経路との間には電圧差が
あるので、接地ラインl、の電位が順方向電圧と上記電
圧差との和で決定される電位差以上に上昇しないと、制
御回路4を1誤動作せしめることかない。
このようにして、ダイオードD1を設けることにより、
制御回路4の誤動作が低減される。
次に、第2図及び第3因を参照して更に詳細に説明する
H1〜H1はホール素子であり、モータの回転位置を磁
気的に検出して上記信号V、〜V、を得る。1a〜1c
はホール増幅器であり、上記信号v 、1〜■、′を得
る。
マトリクス回路2a〜2cは、信号v1′〜■、′につ
いてそれぞれ個別に設けられているが、同一の回路構成
であることから、マトリクス回路2cについて説明する
ものとする。
出力回路3a〜3cはそれぞれプッシェプル回路に構成
されていて、上記信号Va−Vcのレベルによって電源
側トランジスタQi t Qs * Qs tQ? 、
Q−−Qsと接地側トランジスタQ4*Q4+Q6とが
選択的に駆動される。セしてモータコイルL1〜L、に
流れる駆動電流工、〜工6が図示のように切り換えられ
る。
制御回路4は制御信号・Vsによって互いに逆位相の制
御信号vS′を得るものであり、4 a + 4 bは
同一の回路構成になされているので、制御回路4aにつ
いて説明するものとする。
制御信号Vsと基準電圧VrefとがVS>V ref
の場合、トランジスタQ ls + Q s<がオン状
態となり、トランジスタQ +t w Q uはオフに
なる。そしてトランジスタQ +s p Q taで構
成されたカレントミラー回路は非動作になる。
トランジスタQtsのコレクタ電流がトランジスタQl
?のベースに供給されるので、これがオン状態になり、
トランジスタQtaはオフになる。ライン11.に表れ
る制御信号Vs’の電圧レベルはローレベルになる。
一方、制御回路4bには、制御信号Vsがイ/パータ1
1を介して供給されるので、上記とは逆の回路動作が行
われ、上記トランジスタQsmに相当するトランジスタ
がオン状態になって、ライン1+tに表れる制御信号v
S′の電圧レベルがハイレベルになる。
トランジスタQ+aとマトリクス回路2cのトランジス
タQCsとは、カレントミラー回路を構成し、制御回路
4bの上記トランジスタQ+aに相当するトランジスタ
とマトリクス回路2cのトランジスタQ!6とはカレン
トミラー回路を構成している。
制御信号vs′が上記のようにレベル変化した場合、ト
ランジスタQCsがオフになり、トランジスタQCsが
オン状態になる。トランジスタQts*Qt4の何れか
一方が上記信号■、′によってオン状態になり、他方が
オフになる。
仮りに、トランジスタQ、4がオン状態になり、トラン
ジスタQtaがオフになったとすると、出力回路3bの
接地側トランジスタQ、がオンになり、出力回路3cの
電源側トランジスタQ、、Q、がオンになり、モータコ
イルL、からり、に駆動電流IIIが流れる。上記回路
動作は各マ) IJクス回路2a〜2cについて行われ
、上記のように駆動電流が制御される。
ところで、駆動電流が遮断されると、コイルL。
〜L3から逆起電力が発生するがこのときの回路動作を
コイルLlを例に述べる。
9番端子の電圧レベルが逆起電力eによって電源電圧V
ccよりも上昇するとQ+ooとして示すような寄生P
NP)ランジスタがオンする。トランジスタQsooは
半導体基板では第3図に示すように形成される。トラン
ジスタQ +mのコレクタ電流は基板抵抗Rxを介して
13番端子に流れるが、Pサブストレートの電位が上昇
するので、寄生ダイオードDを介してラインl+tK寄
生電流が流れようとする。
しかし、制御回路4a、4bの接地ラインl。
と13番端子として示した本発明でいう接地点との間に
は、ダイオードD、が設ゆられている。従って、Pサブ
ストレートの電位が少なくとも・順方向電圧0.7V以
上に上昇しないと、寄生ダイオードDがオンしにくいた
め、ラインtoに寄生電流が流れなくなる。
この結果、ライン1111111のレベル変化は制御信
号V s’のレベル変化に対応し、寄生電流による影響
が低減されて上記制御が正確に行われる。
上記寄生電流の影響低減動作は、コイルIJI。
L、の何れから逆起電力が発生しても、上記同様に行わ
れるので、制御回路4a、4bの誤動作が低減され、モ
ータ駆動回路の信頼性が向上する。
(11半導体基板に電子回路を形成するとともに、上記
電子回路の接地ラインと上記半導体基板の接地点との間
にダイオードを設けて接地ラインの電位を予め高レベル
に保持することにより、サブストレートの電位が寄生電
流により上昇しても七〇゛電位がダイオードの順方向電
圧(0,7V)になるまで寄生ダイオードかオンしにく
くなり、上記電子回路に寄生電流炉なかれにくくなる 
という作用で、電子回路の誤動作が低減される、という
効果が得られる。
(2)  上記寄生電流は、誘導性負荷の1に光遮断時
に発生する逆起電力によって発生することか多いので、
誘導性負荷の駆動回路の信頼性を向上し得る、という効
果が得られる。
(31上記(1) 、 (2+により、半導体集積回路
等の電子装置の付加価値が増大する、という効果が得ら
れる。
以上に、本発明者によってなされた発明を実施例にもと
づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定さ
れろものではなく、その要旨を逸脱しな〜・範囲で槙々
変形可能であることはいうまでもない。
例えば、出力回路3はダーリントン接続されたプッシュ
プル回路によって構成してもよい。この場合も、出力回
路において上記同様に寄生トランジスタQ+ooが表れ
るので、制御回路4について上記同様の回路動作が行わ
れ、上記同様の効果が得された発明をその背景となった
利用分野であるモータ駆動用のICに適用した場合につ
いて説明したが、それに限定されるものではなく、プラ
ンジャーソレノイドの駆動回路、テープレコーダ、■T
I’を等の各m’a子機器に利用することができる。
本発明は少なくとも、半導体集積回路のように寄生素子
の発生があるものに利用することができる。
〔発明の効果〕
本aにおいて開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
すなわち、半導体基板に電子回路を形成し、上記電子回
路の接地ラインと半導体基板の接地点との間にダイオー
ドを設けて、上記接地ラインと接地点との間に電位差を
保持するようになし、寄生電流によるサブストレートの
電位上昇時に寄生電流が上記電子回路に流れることを低
減し、これにより上記電子回路の寄生電流による誤動作
を低減するものである。
【図面の簡単な説明】
第1囚は本発明を適用した電子装置の一実施例を示す基
本的回路図、 第2図は上記電子装置の具体例を示すモータ駆動回路の
回路図、 第3図は寄生電流の発生を示すICの要部の断面図を示
すものである。 1・・・ホール増幅器、2・・・マトリクス回路、3・
・・出力回路、4・・・制御回路、Q1〜QCs・・・
トランジスタ、Qlo。・・・寄生トランジスタ、D、
・・・ダイオード、D・・・寄生ダイオード、L1〜L
、・・・モータコイル、Vs、Vs’・・・制御信号、
Va=Vc・・・切り換え信号、P・・・サブストレー
ト。 代理人 弁理士  小 川 勝 男 第  1  図 第  3  図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、半導体基体内に形成された電子回路の一部又は全体
    の基底電位レベルが接地レベルよりも高く設定されてな
    る半導体装置。
JP61068386A 1986-03-28 1986-03-28 半導体装置 Pending JPS62226654A (ja)

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JP61068386A JPS62226654A (ja) 1986-03-28 1986-03-28 半導体装置

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JP61068386A JPS62226654A (ja) 1986-03-28 1986-03-28 半導体装置

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JPS62226654A true JPS62226654A (ja) 1987-10-05

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ID=13372229

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JP61068386A Pending JPS62226654A (ja) 1986-03-28 1986-03-28 半導体装置

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JP (1) JPS62226654A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01255263A (ja) * 1988-04-05 1989-10-12 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPH0475371A (ja) * 1990-07-18 1992-03-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01255263A (ja) * 1988-04-05 1989-10-12 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPH0475371A (ja) * 1990-07-18 1992-03-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路

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