JPS6220705B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6220705B2
JPS6220705B2 JP3222981A JP3222981A JPS6220705B2 JP S6220705 B2 JPS6220705 B2 JP S6220705B2 JP 3222981 A JP3222981 A JP 3222981A JP 3222981 A JP3222981 A JP 3222981A JP S6220705 B2 JPS6220705 B2 JP S6220705B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
strip
resin
substrate support
common connection
sealed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP3222981A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57147260A (en
Inventor
Hiroyuki Fujii
Kenichi Tateno
Mikio Nishikawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP3222981A priority Critical patent/JPS57147260A/ja
Priority to US06/352,119 priority patent/US4507675A/en
Priority to DE8282101605T priority patent/DE3273693D1/de
Priority to DE198282101605T priority patent/DE59926T1/de
Priority to EP19820101605 priority patent/EP0059926B1/en
Priority to CA000397622A priority patent/CA1174821A/en
Publication of JPS57147260A publication Critical patent/JPS57147260A/ja
Priority to US06/692,385 priority patent/US4637130A/en
Publication of JPS6220705B2 publication Critical patent/JPS6220705B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/565Moulds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3135Double encapsulation or coating and encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • H01L23/49562Geometry of the lead-frame for devices being provided for in H01L29/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85909Post-treatment of the connector or wire bonding area
    • H01L2224/8592Applying permanent coating, e.g. protective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49121Beam lead frame or beam lead device

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は比較的大きな電力を取り扱うことので
きる樹脂封止形半導体装置を製造する方法および
これに用いるリードフレームに関する。
樹脂封止形半導体装置は、量産性ならびに低コ
ストといつた面では金属封止形半導体装置に勝つ
ているが、動作時に発生する熱を放散させる面で
は金属封止形半導体装置に劣つている。近年、半
導体装置の樹脂封止化が進み、たとえばかなり大
きな電力を取り扱うことのできるトランジスタも
樹脂封止構造とされるに至つている。この場合、
放熱の面で十分な配慮が払われている。
第1図は、樹脂封止構造を有する従来の電力用
トランジスタの構造例を示す断面図であり、トラ
ンジスタ素子1の接着される基板支持部2の裏面
を封止樹脂外殻3で覆うことなく露出させるとと
もに、放熱板への取り付けを可能にするためのね
じ止め用の貫通孔を形成した構造となつている。
なお、5は保護用樹脂、6は外部リードであ
る。このような構造の樹脂封止形電力用トランジ
スタは、放熱板(図示せず)への取り付けに際し
ては露出する基板支持体1の裏面を放熱板に対し
て電気的には絶縁して熱的に結合する。この電気
的絶縁はマイカ板などの絶縁板を両者間に介在さ
せることによつてなされる。
ところで、このような構造によれば、放熱効果
の点に関しては所期の目的が達成される。しかし
ながら、上記のように放熱板への取り付けに際し
て、放熱板を介在させることが不可避であり、取
りつけ作業が煩雑となる。さらに、絶縁板は基板
支持体と放熱板との間に正しく位置しなければな
らないところであるが、両者を1体的に緊着する
際にともすると正しい位置関係が損われ、電気的
絶縁が保てなくなる。このため、第2図で示すよ
うに、基板支持体2の裏面側にも封止樹脂層7を
薄く設け、絶縁板を不要とするようにした構造の
樹脂封止形電力用トランジスタが提案されるに至
つている。
第3図は、第1図および第2図で示した樹脂封
止形電力用トランジスタを組み立てるに際して、
通常用いられるリードフレームの平面図であり、
図示するように、移送ピツチの決定ならびに樹脂
封止時の位置決めをなす孔8が穿設された共通接
続細条9から同一方向へ向つてトランジスタの外
部リード6,10,11が延び、さらに外部リー
ド6の端部に基板支持体2が繋つた構造となつて
いる。トランジスタの組みたては、その左端部に
示したように、トランジスタ素子1の接着、トラ
ンジスタ素子電極と外部リード10,11との間
の金属細線12による接続ならびに保護用樹脂5
の形成を経てなされる。
以上のようなリードフレームを用いてトランジ
スタ組立構体を得、これを第2図で示した封止構
造とするには、第4図で示すように、上金型13
と下金型14の間に形成された空所の中にトラン
ジスタ組立構体の基板支持体2を浮かせて配置
し、こののち、空所内へ樹脂30を注入すること
が行われる。この注入により樹脂30は基板支持
体2の裏面直下の空所にも満たされ、第2図で示
すように封止成型がなされる。
ところで、第4図からも明らかなように、第2
図で示した封止構造を第3図で示したリードフレ
ームを用いて得ようとした場合、リードフレーム
の外部リードの形成側のみが上下の金型によつて
挟持された状態で樹脂の注入がなされるため、基
板支持体2が樹脂の圧力で空所内で屈曲するおそ
れが多分にあり、したがつて、樹脂内の正しい位
置に基板支持体2が位置する状態で封止を行うこ
とが極めて困難であつた。かかる基板支持体2の
屈曲は、薄い樹脂層7の厚みにばらつきをもたら
し、さらに、この厚みのばらつきは、完成したト
ランジスタの放熱特性のばらつきに直結する。
本発明は、第2図で示した構造、すなわち、放
熱板を兼ねる基板支持体の一方の主面(半導体基
板の接着面とは反対側の面)の直下にも薄い樹脂
の層を形成した構造の樹脂封止形半導体装置を製
造するにあたり、基板支持体直下の薄い樹脂層の
厚みを高い精度でしかも均一な厚みに制御するこ
とのできる樹脂封止形半導体装置とこれに用いる
リードフレームを提供するものである。
以下に図面を参照して本発明を詳しく説明す
る。
第5図は、本発明にかかるリードフレームの構
造を示す図であり、第5図aは平面図を、第5図
bは第5図aのB−B線に沿つた断面をそれぞれ
示す。
図示するように、基板支持体2の外部リード6
に繋る辺とは反対側の辺から2本の細条15と1
6が延び、これらが、第2の共通接続細条17に
繋つた構造となつている。なお、第2の共通接続
細条に形成された孔18は、樹脂封止工程で金型
の一部と嵌合し位置規正のために作用する。とこ
ろで、第5図bで示すように、細条15と16の
厚みは基板支持体2よりも薄く選定され、しか
も、その下面と基板支持体2の下面との間に所定
の段差が形成されている。
第6図は、かかる本発明のリードフレームを用
いて形成したトランジスタ組立構体を樹脂で封止
成型する状態を示す図であり、上下の金型13と
14の間に形成される空所内へ樹脂30を注入し
て成型する点では、従来の方法と同じである。し
かしながら、本発明のリードフレームを使用した
場合には、図示するように、リードフレームの外
部リード6が一方の側において上下の金型によつ
て挟持されるとともに、他方の側でも、細条1
5,16ならびに第2の共通接続細条17が上下
の金型によつて挟持される。また第1の共通接続
細条に設けた孔8に金型の突出部が嵌合(図示せ
ず)するばかりでなく、第2の共通接続細条17
の孔18にも金型の突出部19が嵌合する。な
お、20はねじ止め用の孔を形成するべく樹脂を
部分的に排除する突起である。
このように、本発明の方法によれば、リードフ
レームの基板支持体2は、上下の金型13と14
によつて挟持される外部リード6と細条15,1
6とにより支持されて金型内の空所内に浮いた状
態で位置する。また、第1、第2の共通接続細条
の双方は、金型によつて単に挟持されるだけでは
なく、これらに穿設した孔と金型の突起との嵌合
によつて水平方向の動きが完全に阻止されるた
め、上記の浮いた状態は極めて正確に制御され
る。
第7図は上記の封止成型過程を経たのちの状態
を示す斜視図であり、図示するように封止外殻に
は、ねじ止め用の孔4の形成を有する肉薄部21
と肉厚部22が形成されているが、両者間に段差
が形成されていることにより、放熱板への取りつ
け時にねじの頂部が突出することのない状態が成
立する。
次いで、X−X線ならびにX′−X′線に沿つた
切断処理を施し、第1の共通接続細条9ならびに
細条15,16を切断することによつて、第8図
で示す構造の樹脂封止形トランジスタが完成す
る。
ところで、本発明の方法で形成したトランジス
タでは、細条15と16の切り口が封止外殻の側
面に露出するが、第5図で示したように、基板支
持部2の下面と細条15と16の下面との間に厚
みの差に基く段差が形成されているため、完成し
たトランジスタの放熱板へとりつけられる側の樹
脂封止外殻の下面と切り口との間には十分な間隔
が付与される。したがつて、この部分において短
絡事故が発生するおそれはない。また、細条1
5,16が肉薄であるため、これの切断も容易で
ある。
なお、本発明の方法で用いる封止成型用の樹脂
は出来うる限り熱伝導性の高いものであることが
望ましく、また、基板支持部直下の樹脂層の厚み
は、放熱特性と電気的絶縁性の両者に鑑み、約
0.3〜0.5mm程度に選定されることがのぞましく、
この範囲で特に良好な結果が得られた。
以上説明したところから明らかなように、本発
明によれば、放熱板を兼ねる基板支持体の直下に
薄い樹脂層をもつ樹脂封止形半導体装置を、高い
封止精度を付与して形成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は従来の樹脂封止形電力用
トランジスタの構造を示す断面図、第3図は従来
のリードフレームを示す平面図、第4図は第3図
で示すリードフレームを用いて第2図で示す樹脂
封止形電力用トランジスタを形成するときの封止
成型の状態を示す図、第5図a,bは本発明の一
実施例にかかるリードフレームを示す平面図なら
びに断面図、第6図〜第8図は本発明の製造方法
における封止成型工程から完成までの状態を示す
図である。 1……トランジスタ素子、2……基板支持体、
4……ねじ止め用の孔、5……保護用樹脂、6,
10,11……外部リード、12……金属細線、
13,14……金型、30……樹脂、7……薄い
樹脂層、8,18……孔、9,17……共通接続
細条、15,16……細条、19,20……金型
の突起、21……封止樹脂外殻肉薄部、22……
封止樹脂外殻肉厚部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 放熱板を兼ねる基板支持体の一方の側から導
    出される外部リードが繋る第1の共通接続細条
    と、前記基板支持体の他方の側から導出される細
    条が繋る第2の共通接続細条を有するリードフレ
    ームを用いて形成した半導体装置組立構体の、少
    くとも前記外部リードと細条を上下の金型で挟持
    し、前記基板支持体を金型内の空所に浮かせると
    ともに、前記細条の一部を金型内の空所内に位置
    させて樹脂封止成型したのち、前記外部リードと
    第1の共通接続細条との連結部の切断ならびに封
    止樹脂外殻から外部へ導出する前記細条の導出樹
    脂面に沿つた切断の処理を施すことを特徴とする
    樹脂封止形半導体装置の製造方法。 2 第1の共通接続細条、同共通細条から同一方
    向へ延びる複数本の外部リード部、同外部リード
    部の1本の先端部に繋る放熱板を兼ねる基板支持
    体、同基板支持体の前記外部リード部との連繋部
    側とは反対の側に一端が繋る細条および同細条の
    他端に繋り、前記第1の共通接続細条と基板支持
    体をはさんで並行にのびる第2の共通接続細条を
    有するとともに、前記細条が前記基板支持体より
    肉薄に選定されて両者の連繋部に段差が形成さ
    れ、さらに、前記細条の下面が基板支持体の下面
    より上部に位置していることを特徴とするリード
    フレーム。
JP3222981A 1981-03-05 1981-03-05 Manufacture of resin-sealed semiconductor device and lead frame used therefor Granted JPS57147260A (en)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3222981A JPS57147260A (en) 1981-03-05 1981-03-05 Manufacture of resin-sealed semiconductor device and lead frame used therefor
US06/352,119 US4507675A (en) 1981-03-05 1982-02-25 Method for manufacturing a plastic encapsulated semiconductor device and a lead frame therefor
DE8282101605T DE3273693D1 (en) 1981-03-05 1982-03-02 A method for manufacturing a plastic encapsulated semiconductor device and a lead frame therefor
DE198282101605T DE59926T1 (de) 1981-03-05 1982-03-02 Verfahren zum herstellen einer in kunststoff verkapselten halbleiteranordnung und ein leitergitter dafuer.
EP19820101605 EP0059926B1 (en) 1981-03-05 1982-03-02 A method for manufacturing a plastic encapsulated semiconductor device and a lead frame therefor
CA000397622A CA1174821A (en) 1981-03-05 1982-03-04 Method for manufacturing a plastic encapsulated semiconductor device and a lead frame therefor
US06/692,385 US4637130A (en) 1981-03-05 1985-01-17 Method for manufacturing a plastic encapsulated semiconductor device and a lead frame therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3222981A JPS57147260A (en) 1981-03-05 1981-03-05 Manufacture of resin-sealed semiconductor device and lead frame used therefor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57147260A JPS57147260A (en) 1982-09-11
JPS6220705B2 true JPS6220705B2 (ja) 1987-05-08

Family

ID=12353135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3222981A Granted JPS57147260A (en) 1981-03-05 1981-03-05 Manufacture of resin-sealed semiconductor device and lead frame used therefor

Country Status (5)

Country Link
US (2) US4507675A (ja)
EP (1) EP0059926B1 (ja)
JP (1) JPS57147260A (ja)
CA (1) CA1174821A (ja)
DE (2) DE3273693D1 (ja)

Families Citing this family (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57147260A (en) * 1981-03-05 1982-09-11 Matsushita Electronics Corp Manufacture of resin-sealed semiconductor device and lead frame used therefor
JPS57178352A (en) * 1981-04-28 1982-11-02 Matsushita Electronics Corp Manufacture of resin sealing type semiconductor device and lead frame employed thereon
JPS58209147A (ja) * 1982-05-31 1983-12-06 Toshiba Corp 樹脂封止型半導体装置
JPS59130449A (ja) * 1983-01-17 1984-07-27 Nec Corp 絶縁型半導体素子用リードフレーム
JPS59117156U (ja) * 1983-01-26 1984-08-07 サンケン電気株式会社 絶縁物封止半導体装置
IT1213139B (it) * 1984-02-17 1989-12-14 Ates Componenti Elettron Componente elettronico integrato di tipo "single-in-line" eprocedimento per la sua fabbricazione.
US4862246A (en) * 1984-09-26 1989-08-29 Hitachi, Ltd. Semiconductor device lead frame with etched through holes
JP2659540B2 (ja) * 1987-06-19 1997-09-30 オリンパス光学工業株式会社 内視鏡チャンネル插通型超音波プローブ
IT1214254B (it) * 1987-09-23 1990-01-10 Sgs Microelettonica S P A Dispositivo a semiconduttore in contenitore plastico o ceramico con "chips" fissati su entrambi i lati dell'isola centrale del "frame".
JPH0328510Y2 (ja) * 1987-10-02 1991-06-19
JP2708191B2 (ja) * 1988-09-20 1998-02-04 株式会社日立製作所 半導体装置
KR0158868B1 (ko) * 1988-09-20 1998-12-01 미다 가쓰시게 반도체장치
US4910581A (en) * 1988-12-27 1990-03-20 Motorola, Inc. Internally molded isolated package
US5028741A (en) * 1990-05-24 1991-07-02 Motorola, Inc. High frequency, power semiconductor device
US5399903A (en) * 1990-08-15 1995-03-21 Lsi Logic Corporation Semiconductor device having an universal die size inner lead layout
ES2103341T3 (es) * 1991-04-10 1997-09-16 Caddock Electronics Inc Resistor de tipo pelicula.
US5434750A (en) * 1992-02-07 1995-07-18 Lsi Logic Corporation Partially-molded, PCB chip carrier package for certain non-square die shapes
US5262927A (en) * 1992-02-07 1993-11-16 Lsi Logic Corporation Partially-molded, PCB chip carrier package
US5371654A (en) * 1992-10-19 1994-12-06 International Business Machines Corporation Three dimensional high performance interconnection package
US20050062492A1 (en) * 2001-08-03 2005-03-24 Beaman Brian Samuel High density integrated circuit apparatus, test probe and methods of use thereof
US5438277A (en) * 1993-03-19 1995-08-01 Advanced Micro Devices, Inc. Ground bounce isolated output buffer
US5438477A (en) * 1993-08-12 1995-08-01 Lsi Logic Corporation Die-attach technique for flip-chip style mounting of semiconductor dies
US5388327A (en) * 1993-09-15 1995-02-14 Lsi Logic Corporation Fabrication of a dissolvable film carrier containing conductive bump contacts for placement on a semiconductor device package
US5441684A (en) * 1993-09-24 1995-08-15 Vlsi Technology, Inc. Method of forming molded plastic packages with integrated heat sinks
US5619012A (en) * 1993-12-10 1997-04-08 Philips Electronics North America Corporation Hinged circuit assembly with multi-conductor framework
DE19624478A1 (de) * 1996-02-08 1998-01-02 Bayerische Motoren Werke Ag Verfahren zum Herstellen eines elektronischen Steuergeräts
US5866953A (en) * 1996-05-24 1999-02-02 Micron Technology, Inc. Packaged die on PCB with heat sink encapsulant
US5936310A (en) * 1996-11-12 1999-08-10 Micron Technology, Inc. De-wetting material for glob top applications
US6003369A (en) * 1997-05-19 1999-12-21 Continental Teves, Inc. Method for manufacturing encapsulated semiconductor devices
US6314639B1 (en) 1998-02-23 2001-11-13 Micron Technology, Inc. Chip scale package with heat spreader and method of manufacture
US7233056B1 (en) 1998-02-23 2007-06-19 Micron Technology, Inc. Chip scale package with heat spreader
US6297960B1 (en) 1998-06-30 2001-10-02 Micron Technology, Inc. Heat sink with alignment and retaining features
US6297548B1 (en) * 1998-06-30 2001-10-02 Micron Technology, Inc. Stackable ceramic FBGA for high thermal applications
US6326687B1 (en) 1998-09-01 2001-12-04 Micron Technology, Inc. IC package with dual heat spreaders
US6117797A (en) * 1998-09-03 2000-09-12 Micron Technology, Inc. Attachment method for heat sinks and devices involving removal of misplaced encapsulant
DE60142148D1 (de) * 2000-03-15 2010-07-01 Hitachi Metals Ltd Hochfrequenz-Modul und drahtloses Nachrichtengerät
US7273769B1 (en) * 2000-08-16 2007-09-25 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for removing encapsulating material from a packaged microelectronic device
JP4540884B2 (ja) * 2001-06-19 2010-09-08 三菱電機株式会社 半導体装置
TW586203B (en) * 2002-11-04 2004-05-01 Siliconware Precision Industries Co Ltd Semiconductor package with lead frame as chip carrier and method for fabricating the same
DE112005003614B4 (de) * 2005-07-28 2014-08-21 Infineon Technologies Ag Halbleiterbaugruppe für ein Schaltnetzteil und Verfahren zu dessen Montage
WO2007050038A1 (en) * 2005-10-25 2007-05-03 Infineon Technologies Ag Method of manufacture of encapsulated package
DE112006003788B4 (de) * 2006-03-28 2014-08-07 Infineon Technologies Ag Elektronisches Bauteil mit Leadframe mit nichtleitenden Verbindungsstegen und Verfahren zur Herstellung des elektronischen Bauteils
JP4901276B2 (ja) * 2006-04-10 2012-03-21 新日本製鐵株式会社 鋼帯の冷却装置
US7875962B2 (en) * 2007-10-15 2011-01-25 Power Integrations, Inc. Package for a power semiconductor device
SG142321A1 (en) 2008-04-24 2009-11-26 Micron Technology Inc Pre-encapsulated cavity interposer
DE102009026804A1 (de) * 2009-06-08 2010-12-09 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung elektronischer Bauteile
US8207455B2 (en) 2009-07-31 2012-06-26 Power Integrations, Inc. Power semiconductor package with bottom surface protrusions
IT1402273B1 (it) * 2010-07-29 2013-08-28 St Microelectronics Srl Elemento a semiconduttore con un die semiconduttore e telai di connettori
JP2012195497A (ja) * 2011-03-17 2012-10-11 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法
DE102012222679A1 (de) * 2012-12-10 2014-06-12 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Schaltmoduls und eines zugehörigen Gittermoduls sowie ein zugehöriges Gittermodul und korrespondierende elektronische Baugruppe
FR3055737B1 (fr) * 2016-09-08 2018-11-30 Continental Automotive France Procede de fabrication sur une plaque de maintien metallique d'au moins un module electronique incluant au moins un test electrique

Citations (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1275343A (en) * 1917-10-29 1918-08-13 Cleveland Tractor Co Tractor-frame.
US3431092A (en) * 1965-10-22 1969-03-04 Motorola Inc Lead frame members for semiconductor devices
US3716764A (en) * 1963-12-16 1973-02-13 Texas Instruments Inc Process for encapsulating electronic components in plastic
JPS4838070A (ja) * 1971-09-16 1973-06-05
JPS4947982A (ja) * 1972-09-07 1974-05-09
JPS4949447A (ja) * 1972-09-13 1974-05-14
JPS5036074A (ja) * 1973-07-20 1975-04-04
JPS5082967A (ja) * 1973-10-19 1975-07-04
JPS5123081A (ja) * 1974-08-20 1976-02-24 Matsushita Electronics Corp Handotaisochokinzokusaijono seizohoho
JPS51156763U (ja) * 1975-05-07 1976-12-14
JPS5224832A (en) * 1975-08-19 1977-02-24 Hideo Ikuta Rubber plant having very narrow borderr variegated foliages
JPS5277654U (ja) * 1975-12-09 1977-06-09
JPS52149659U (ja) * 1976-05-10 1977-11-12
JPS538635A (en) * 1976-07-14 1978-01-26 Ichikoh Industries Ltd Method of fixing gasket
JPS5339067A (en) * 1976-09-22 1978-04-10 Hitachi Ltd Production of semiconductor device
JPS53117968A (en) * 1977-03-25 1978-10-14 Hitachi Ltd Production of semiconductor device
JPS5442977A (en) * 1977-09-09 1979-04-05 Nec Corp Manufacture of semiconductor device
JPS5460563A (en) * 1977-10-21 1979-05-16 Mitsubishi Electric Corp Lead frame for semiconductor device
JPS5487474A (en) * 1977-12-23 1979-07-11 Nec Corp Semiconductor device
JPS54136179A (en) * 1978-04-13 1979-10-23 Nec Corp Semiconductor device
JPS5596663A (en) * 1979-01-16 1980-07-23 Nec Corp Method of fabricating semiconductor device

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1158978A (en) * 1968-06-28 1969-07-23 Standard Telephones Cables Ltd Semiconductor Devices.
US3606673A (en) * 1968-08-15 1971-09-21 Texas Instruments Inc Plastic encapsulated semiconductor devices
GB1275343A (en) * 1970-04-02 1972-05-24 Ferranti Ltd Improvements relating to lead frames for use with semiconductor devices
US3950140A (en) * 1973-06-11 1976-04-13 Motorola, Inc. Combination strip frame for semiconductive device and gate for molding
US3930114A (en) * 1975-03-17 1975-12-30 Nat Semiconductor Corp Integrated circuit package utilizing novel heat sink structure
US4017495A (en) * 1975-10-23 1977-04-12 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Encapsulation of integrated circuits
JPS53132975A (en) * 1977-04-26 1978-11-20 Toshiba Corp Semiconductor device
NL189379C (nl) * 1977-05-05 1993-03-16 Richardus Henricus Johannes Fi Werkwijze voor inkapselen van micro-elektronische elementen.
JPS5577164A (en) * 1978-12-07 1980-06-10 Nec Corp Semiconductor device
JPS57147260A (en) * 1981-03-05 1982-09-11 Matsushita Electronics Corp Manufacture of resin-sealed semiconductor device and lead frame used therefor
US4451973A (en) * 1981-04-28 1984-06-05 Matsushita Electronics Corporation Method for manufacturing a plastic encapsulated semiconductor device and a lead frame therefor
JPS58143538A (ja) * 1982-02-19 1983-08-26 Matsushita Electronics Corp 樹脂封止形半導体装置の製造方法
JPS58151035A (ja) * 1982-03-04 1983-09-08 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
JPS5919334A (ja) * 1982-07-23 1984-01-31 Toshiba Corp 半導体製造装置
JPS5963736A (ja) * 1982-10-04 1984-04-11 Matsushita Electronics Corp 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPS6066128A (ja) * 1983-09-20 1985-04-16 Tokyo Gas Co Ltd 緊急遮断弁の漏洩検査方法並びにその装置

Patent Citations (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1275343A (en) * 1917-10-29 1918-08-13 Cleveland Tractor Co Tractor-frame.
US3716764A (en) * 1963-12-16 1973-02-13 Texas Instruments Inc Process for encapsulating electronic components in plastic
US3431092A (en) * 1965-10-22 1969-03-04 Motorola Inc Lead frame members for semiconductor devices
JPS4838070A (ja) * 1971-09-16 1973-06-05
JPS4947982A (ja) * 1972-09-07 1974-05-09
JPS4949447A (ja) * 1972-09-13 1974-05-14
JPS5036074A (ja) * 1973-07-20 1975-04-04
JPS5082967A (ja) * 1973-10-19 1975-07-04
JPS5123081A (ja) * 1974-08-20 1976-02-24 Matsushita Electronics Corp Handotaisochokinzokusaijono seizohoho
JPS51156763U (ja) * 1975-05-07 1976-12-14
JPS5224832A (en) * 1975-08-19 1977-02-24 Hideo Ikuta Rubber plant having very narrow borderr variegated foliages
JPS5277654U (ja) * 1975-12-09 1977-06-09
JPS52149659U (ja) * 1976-05-10 1977-11-12
JPS538635A (en) * 1976-07-14 1978-01-26 Ichikoh Industries Ltd Method of fixing gasket
JPS5339067A (en) * 1976-09-22 1978-04-10 Hitachi Ltd Production of semiconductor device
JPS53117968A (en) * 1977-03-25 1978-10-14 Hitachi Ltd Production of semiconductor device
JPS5442977A (en) * 1977-09-09 1979-04-05 Nec Corp Manufacture of semiconductor device
JPS5460563A (en) * 1977-10-21 1979-05-16 Mitsubishi Electric Corp Lead frame for semiconductor device
JPS5487474A (en) * 1977-12-23 1979-07-11 Nec Corp Semiconductor device
JPS54136179A (en) * 1978-04-13 1979-10-23 Nec Corp Semiconductor device
JPS5596663A (en) * 1979-01-16 1980-07-23 Nec Corp Method of fabricating semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
DE59926T1 (de) 1983-02-03
EP0059926A1 (en) 1982-09-15
US4507675A (en) 1985-03-26
EP0059926B1 (en) 1986-10-08
DE3273693D1 (en) 1986-11-13
CA1174821A (en) 1984-09-25
US4637130A (en) 1987-01-20
JPS57147260A (en) 1982-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6220705B2 (ja)
US4451973A (en) Method for manufacturing a plastic encapsulated semiconductor device and a lead frame therefor
JPS6227750B2 (ja)
US5091341A (en) Method of sealing semiconductor device with resin by pressing a lead frame to a heat sink using an upper mold pressure member
EP0069390B1 (en) Lead frame for plastic encapsulated semiconductor device
JP2765278B2 (ja) 電子装置の製造方法
GB2151845A (en) A semiconductor memory
JPS6244815B2 (ja)
JPH0325934B2 (ja)
JPH0512857B2 (ja)
JPH0244147B2 (ja)
JPS6350863B2 (ja)
JPS63211638A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPS61194755A (ja) 半導体装置
CA1213678A (en) Lead frame for plastic encapsulated semiconductor device
JP2939094B2 (ja) 電力用半導体装置の製造方法
JPS638615B2 (ja)
JPH0210572B2 (ja)
JP2601033B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JPS5966128A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2917556B2 (ja) 絶縁物封止型電子部品の製造方法
KR200289924Y1 (ko) 리드프레임
JPS6246268Y2 (ja)
JP2512289B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPS6057654A (ja) 樹脂封止形半導体装置