JPS62204166A - ベクトル電圧比測定装置 - Google Patents
ベクトル電圧比測定装置Info
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- JPS62204166A JPS62204166A JP61046983A JP4698386A JPS62204166A JP S62204166 A JPS62204166 A JP S62204166A JP 61046983 A JP61046983 A JP 61046983A JP 4698386 A JP4698386 A JP 4698386A JP S62204166 A JPS62204166 A JP S62204166A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 31
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
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- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- SVTBMSDMJJWYQN-UHFFFAOYSA-N 2-methylpentane-2,4-diol Chemical compound CC(O)CC(C)(C)O SVTBMSDMJJWYQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100402621 Homo sapiens MSANTD4 gene Proteins 0.000 description 1
- 102100031642 Myb/SANT-like DNA-binding domain-containing protein 4 Human genes 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measuring Phase Differences (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
不発明はベクトル電圧比測定装置に係り、特に２個の交
流信号のベクトル電圧比を測定することにより、これら
交流１ｄ号の振幅比、位相差、供試素子のインピーダン
ス等ケ測定する装置に関する。
流信号のベクトル電圧比を測定することにより、これら
交流１ｄ号の振幅比、位相差、供試素子のインピーダン
ス等ケ測定する装置に関する。
第４図は供試素子１のインピーダンスＺを測定する回路
であり、供試素子１に入力電圧Ｖを与え。
であり、供試素子１に入力電圧Ｖを与え。
帰還抵抗器Ｒを、有する演算増幅器３より出力電圧は基
草電圧Ｃに対して第５図のように表わすことができる。
草電圧Ｃに対して第５図のように表わすことができる。
そしてＩ／Ｖ＝ｘ＋ｊ Ｙ ＝ （工０＋ ｊ Ｉ９０
） ／（Ｖｏ ＋ ｊ Ｖ２Ｏ）であるから、ｘ、
ｙ、 ｚはＩｏ ＋ Ｉ！１ｏ ＋Ｖｏ ＋Ｖ９Ｇを求
め、そして計算することにより求められる。かかる測定
原理については、米国特許第４．１９６，４７５号に詳
細に述べられている。
） ／（Ｖｏ ＋ ｊ Ｖ２Ｏ）であるから、ｘ、
ｙ、 ｚはＩｏ ＋ Ｉ！１ｏ ＋Ｖｏ ＋Ｖ９Ｇを求
め、そして計算することにより求められる。かかる測定
原理については、米国特許第４．１９６，４７５号に詳
細に述べられている。
従来、かかる測定を行う、即ち−ｖｏ＋ ’Ｖ９０＋
Ｉｏ ＋Ｉｓｏを求める装置として２個の装置が知られ
ている。第６図は前述米１−ｉｉ’＋許に述べられてい
る装置のブロック図、第７図はその測定順序および２１
固の交流信号のどの成分が出力されるかを示した図であ
る。入力電圧■、出力電圧工はスイッチ５を介して位相
検波器７の一方の入力端子に印加される。位相検波器７
Ｆ、１）他方の入力端子には、町変位相信号発生器６
より、選択された位相（０’または９０°）をもつ信号
が印加される。位相検波器７の出力信号はアナログ／デ
ジタル変換器（ＡＤＣ）８（例えばデュアルスロープ形
成ＤＣ）によりデジタル化され出力される。第７図に示
すように、スイッチをａ、ｂ側に順次切替えると共に、
可変位相信号発生器６０位相が選択されて、Ｖｏ 、
Ｖ２Ｏ、Ｉｏ 。
Ｉｏ ＋Ｉｓｏを求める装置として２個の装置が知られ
ている。第６図は前述米１−ｉｉ’＋許に述べられてい
る装置のブロック図、第７図はその測定順序および２１
固の交流信号のどの成分が出力されるかを示した図であ
る。入力電圧■、出力電圧工はスイッチ５を介して位相
検波器７の一方の入力端子に印加される。位相検波器７
Ｆ、１）他方の入力端子には、町変位相信号発生器６
より、選択された位相（０’または９０°）をもつ信号
が印加される。位相検波器７の出力信号はアナログ／デ
ジタル変換器（ＡＤＣ）８（例えばデュアルスロープ形
成ＤＣ）によりデジタル化され出力される。第７図に示
すように、スイッチをａ、ｂ側に順次切替えると共に、
可変位相信号発生器６０位相が選択されて、Ｖｏ 、
Ｖ２Ｏ、Ｉｏ 。
Ｉ９０が順次求められる。即ち直列型処理が行なわれる
。
。
この、装置は、４個の測定に対して共通に位相検波６７
、入ＤＣ８を使用し、そしてその後孔を求ある。しかし
ながら、４個の測定を順次直列的に行うので低速である
欠点がある。
、入ＤＣ８を使用し、そしてその後孔を求ある。しかし
ながら、４個の測定を順次直列的に行うので低速である
欠点がある。
第８図は従来の他の測定装置のブロック図であり、第９
図は２個の交流石号のどの成分が出力されるかを示した
図である。第８図の装置が第６図の装置と異なる点は、
ｖｏ ＋ Ｖ２Ｏ＋ ＩＯ＋ Ｉ９０の測定に対して、
各別に位相検波器９〜１２、入ＤＣ１３〜１６を使用し
た点である。したがって、ＡＤＣ１３〜１６よりそれぞ
れｖ、 ｌ Ｖ２Ｏｒ ＩＯ＋ Ｉ９０が同時に出力さ
れ、並列型処理が行なわれる。
図は２個の交流石号のどの成分が出力されるかを示した
図である。第８図の装置が第６図の装置と異なる点は、
ｖｏ ＋ Ｖ２Ｏ＋ ＩＯ＋ Ｉ９０の測定に対して、
各別に位相検波器９〜１２、入ＤＣ１３〜１６を使用し
た点である。したがって、ＡＤＣ１３〜１６よりそれぞ
れｖ、 ｌ Ｖ２Ｏｒ ＩＯ＋ Ｉ９０が同時に出力さ
れ、並列型処理が行なわれる。
この装置は、４個の測定を同時に行うので高速測定が可
能である。しかしながら、４個の測定回路の伝達特性（
例えば、利得、位相特性）にはバラツキ（特に周囲温度
変化に基づくバラツキ）があるので、測定精度が悪い欠
点があった。
能である。しかしながら、４個の測定回路の伝達特性（
例えば、利得、位相特性）にはバラツキ（特に周囲温度
変化に基づくバラツキ）があるので、測定精度が悪い欠
点があった。
本発明は上述した欠点を除去し、直列型処理と並列型処
理とを選択的に実行しつる装置を提供することである。
理とを選択的に実行しつる装置を提供することである。
本発明の他の目的＆ｉ直列型処理の利点と並列型処理の
利点とを合せ持つ装置を提供することである。
利点とを合せ持つ装置を提供することである。
本発明のさらに他の目的は、従来の直列型処理よ、りも
高精度な測定を行うことができる装置を提供することで
ある。
高精度な測定を行うことができる装置を提供することで
ある。
本発明においては、２個の交流信号な選択的に４個の位
相検波器に導入するスイッチと、該位相検波器にそれぞ
れ直列接続されたＡＤＣと、測定モードに応じて選択さ
れた位相信号を該位相検波器に与えるＸ可変位相信号発
生器と、各測定値を記憶すると共に計算および平均化処
理を行う処理手段とより構成される。スイッチの切替え
と位相信号の位相とを制御することにより並列型処理と
、直並列型処理が行なわれ、高速度測定が必要なときに
は並列型処理が、高精度測定が必要なとぎには直並列型
処理が行なわれる。
相検波器に導入するスイッチと、該位相検波器にそれぞ
れ直列接続されたＡＤＣと、測定モードに応じて選択さ
れた位相信号を該位相検波器に与えるＸ可変位相信号発
生器と、各測定値を記憶すると共に計算および平均化処
理を行う処理手段とより構成される。スイッチの切替え
と位相信号の位相とを制御することにより並列型処理と
、直並列型処理が行なわれ、高速度測定が必要なときに
は並列型処理が、高精度測定が必要なとぎには直並列型
処理が行なわれる。
〔発明の９ｉ！、流側〕
第１図は本発明の一実施例によるベクトル電圧比測定装
置のブロック図である。交流信号Ｖはスイッチ２０の接
点台に、交流信号工はスイッチ２０の接点ｄに印加され
る。スイッチ２０の可動片ａは位相検波６２１．２２の
一方の入力端子に接続される。スイッチ２００片動片す
は位相検波器２３゜２４の一方の入力端子に接続される
。位相検波器２１〜２４の出力端子はアナログ／デジタ
ル変換器（入ＤＣ）２５〜２８０入力端子にそれぞれ接
続される。可変位相信号発生器２９は例えば２個の出力
端子３２．３３を有し、一方の出力端子３２は位相検波
器２１．２３の他方の入力端子に、他方の出力端子３３
は位相検波器２２．２４の他方の入力端子に接続される
。スイッチ２０の切替え動作と、可変位相信号発生器２
９の出力信号の位相とは測定モードに応じて制御回路３
１により制御される。ＡＤＣ２５〜２８の出力信号は記
憶回路を含む計′ＪＩＬＫよび平均化回路３０、例えば
マイクロブロセ丈に与えられ、所望の計算および平均化
動作が行なわれる。
置のブロック図である。交流信号Ｖはスイッチ２０の接
点台に、交流信号工はスイッチ２０の接点ｄに印加され
る。スイッチ２０の可動片ａは位相検波６２１．２２の
一方の入力端子に接続される。スイッチ２００片動片す
は位相検波器２３゜２４の一方の入力端子に接続される
。位相検波器２１〜２４の出力端子はアナログ／デジタ
ル変換器（入ＤＣ）２５〜２８０入力端子にそれぞれ接
続される。可変位相信号発生器２９は例えば２個の出力
端子３２．３３を有し、一方の出力端子３２は位相検波
器２１．２３の他方の入力端子に、他方の出力端子３３
は位相検波器２２．２４の他方の入力端子に接続される
。スイッチ２０の切替え動作と、可変位相信号発生器２
９の出力信号の位相とは測定モードに応じて制御回路３
１により制御される。ＡＤＣ２５〜２８の出力信号は記
憶回路を含む計′ＪＩＬＫよび平均化回路３０、例えば
マイクロブロセ丈に与えられ、所望の計算および平均化
動作が行なわれる。
上記のように構成された装置は次のように動作する。
（１）高速測定モード
以下第１図および第２図に基づいて説明すも第２図は、
第１図に示した装置により２個の交流信号のどの成分が
出力されるかを示した特性図である。スイッチ２０はａ
と０％ ｂとｄが接触するように接続される。そして可
変位相信号発生器２９の出力端子３２．３３には％基準
位相信号（例えば第５図の６）に対して００％ ９０°
の信号がそれぞれ送出される。したがって、位相検波器
２１．２２には交流信号Ｖが、位相検波器２３゜２４に
は交流信号Ｉがそれぞれ与えられ、第２図に示すように
、所定期間′ｒの間にＡＤＣ２５〜２８からＶｏ 、
Ｖ９゜、工。＋ Ｉ９゜が同時に求められる。計算／平
均化回路はこれら４個の値を用いて、前述の式に基づき
ｚ、ｘ、ｙ等を求める。なお、この測定モードにおいて
は平均化動作は不必要である。
第１図に示した装置により２個の交流信号のどの成分が
出力されるかを示した特性図である。スイッチ２０はａ
と０％ ｂとｄが接触するように接続される。そして可
変位相信号発生器２９の出力端子３２．３３には％基準
位相信号（例えば第５図の６）に対して００％ ９０°
の信号がそれぞれ送出される。したがって、位相検波器
２１．２２には交流信号Ｖが、位相検波器２３゜２４に
は交流信号Ｉがそれぞれ与えられ、第２図に示すように
、所定期間′ｒの間にＡＤＣ２５〜２８からＶｏ 、
Ｖ９゜、工。＋ Ｉ９゜が同時に求められる。計算／平
均化回路はこれら４個の値を用いて、前述の式に基づき
ｚ、ｘ、ｙ等を求める。なお、この測定モードにおいて
は平均化動作は不必要である。
この測定モードは、従来の第８図の装置と構成、動作が
同一となり、並列型処理が行なわれ、高速測定が行なわ
れる。したがって、高速測定を要求する場合にはこの測
定モードを１吏用する。
同一となり、並列型処理が行なわれ、高速測定が行なわ
れる。したがって、高速測定を要求する場合にはこの測
定モードを１吏用する。
（２）高精度測定モード
以下第１図Ｓよび第３図に基づいて説明すも第３図は第
１図に示した装置の測定順序と、２個の交流信号のどの
成分が出力されるかを示した特性図である。この測定モ
ードは直並列型処理である。最初に、スイッチ２０はａ
とｃ、ｂとｄが接触するように接続される。そして可変
位相信号発生器２９の出力端子３２．３３には、基準位
相信号Ｅに対してＯ’、９０°の信号がそれぞれ送出さ
れる。したがって、ＡＤＣ２５〜２８の出力（チャンネ
ル、ｃｈ、−ｃｈ４）よりＶｏ ＋ Ｖ９Ｇ＋ Ｉｏ
ｒ Ｉ９ｏが求められ、これらの直は計算／平均化回路
３０中に記憶される。次にスイッチ２０の設定状態を維
持したままで、可変位相信号発生器２９の出力端子３２
゜３３に９０°、０°の位相信号が送出される。したが
ってＡＤＣ２５〜２８の出力よりＶｓｏ ＋’Ｖｏ ＋
Ｉｓｏ ＋ Ｉｏが求められ、これらの直は計算／平
均化回路３０中に記憶される。次に、スイッチ２０は、
ａとｄｌｂとＣが接触するように切替えられると共に、
出力端子３２．３３にはＯ’、９０°の位相信号が送出
される。したがって、人ＤＣ２５〜２８の出力よりＩＯ
＋ Ｉ９ｏ＋ Ｖｏ Ｉ Ｖ２Ｏが求められ、同様に計
算／平均化回路３０中に記憶される。次にス・イッチ２
ｏの設定状態を維持したままで、出力端子３２．３３に
９０°、０°の位相信号が送出される。したがってＡＤ
Ｃ２５〜２８の指刀よりＩｓｏ ｌ Ｉｏ ｌ ｖ９０
１ ｖ、が求められ、同様に計算／平均化回路３０中に
記憶される。そして最終的に、計：Ｊｌ、／平均化回路
３０により、各チャンネル毎に以前に記憶された４個の
唾を用いて、例えばインピーダンスＺＩ−Ｚ４が求めら
れる。各チャンネル毎にインピーダンスＺを求めるから
、各チャンネル毎の伝達特性の相違は誤差要因にならな
い。即ち、直列型処理の利点を有する。次に、計算／平
均化回路３０により、導出された４個のＺを用いて平均
化動作が行なわれ（Ｚｌ＋ Ｚ２＋ Ｚａ＋ Ｚ４／
４ ）、Ｚの平均値が求められし る。これによりＳ／Ｎ比が同上台、より高精度測定が実
現される。
１図に示した装置の測定順序と、２個の交流信号のどの
成分が出力されるかを示した特性図である。この測定モ
ードは直並列型処理である。最初に、スイッチ２０はａ
とｃ、ｂとｄが接触するように接続される。そして可変
位相信号発生器２９の出力端子３２．３３には、基準位
相信号Ｅに対してＯ’、９０°の信号がそれぞれ送出さ
れる。したがって、ＡＤＣ２５〜２８の出力（チャンネ
ル、ｃｈ、−ｃｈ４）よりＶｏ ＋ Ｖ９Ｇ＋ Ｉｏ
ｒ Ｉ９ｏが求められ、これらの直は計算／平均化回路
３０中に記憶される。次にスイッチ２０の設定状態を維
持したままで、可変位相信号発生器２９の出力端子３２
゜３３に９０°、０°の位相信号が送出される。したが
ってＡＤＣ２５〜２８の出力よりＶｓｏ ＋’Ｖｏ ＋
Ｉｓｏ ＋ Ｉｏが求められ、これらの直は計算／平
均化回路３０中に記憶される。次に、スイッチ２０は、
ａとｄｌｂとＣが接触するように切替えられると共に、
出力端子３２．３３にはＯ’、９０°の位相信号が送出
される。したがって、人ＤＣ２５〜２８の出力よりＩＯ
＋ Ｉ９ｏ＋ Ｖｏ Ｉ Ｖ２Ｏが求められ、同様に計
算／平均化回路３０中に記憶される。次にス・イッチ２
ｏの設定状態を維持したままで、出力端子３２．３３に
９０°、０°の位相信号が送出される。したがってＡＤ
Ｃ２５〜２８の指刀よりＩｓｏ ｌ Ｉｏ ｌ ｖ９０
１ ｖ、が求められ、同様に計算／平均化回路３０中に
記憶される。そして最終的に、計：Ｊｌ、／平均化回路
３０により、各チャンネル毎に以前に記憶された４個の
唾を用いて、例えばインピーダンスＺＩ−Ｚ４が求めら
れる。各チャンネル毎にインピーダンスＺを求めるから
、各チャンネル毎の伝達特性の相違は誤差要因にならな
い。即ち、直列型処理の利点を有する。次に、計算／平
均化回路３０により、導出された４個のＺを用いて平均
化動作が行なわれ（Ｚｌ＋ Ｚ２＋ Ｚａ＋ Ｚ４／
４ ）、Ｚの平均値が求められし る。これによりＳ／Ｎ比が同上台、より高精度測定が実
現される。
なお、スイッチ２０の切替え動作および可変位相信号発
生器２９の出力信号の位相切替え動作は、前述した順序
に限定されるものでは彦く、各チャンネルにつき、４個
の成分が導出できればよい。
生器２９の出力信号の位相切替え動作は、前述した順序
に限定されるものでは彦く、各チャンネルにつき、４個
の成分が導出できればよい。
また可変位相信号発生器２９の出力信号の位相さ
はＯｏ、９０°に限定糞れるものではなく、第３図に示
す、！ ５ Ｋ、 Ｖ２Ｏ３Ｎ’１８Ｇ＋ Ｉ９０１
ＬｓｏヤＩ９Ｇ ＋ Ｉｔｇｏ＋ｖ９ｏ ＋ＶＩ＆１が
得られるようにしてもよい。またＶ（Ｉ ＨＶ２Ｏｒ
Ｖ＋ｓｏ ＋Ｖ２７Ｇ ＋ Ｉｏ ＋ Ｉ９０ ＋ Ｉ
＋ｅｏ ＋ Ｉ２？０と８回測定すればオフセット電圧
を除去できることは勿論である。しかしこのオフセット
除去動作は所要時に°１［ｇ１行なえばよい。また本出
願人が以前に出願した特開昭６０−２８３０６号のよう
に可変位相信号発生器２９の出力信号の位相を所定角毎
に回転させてもよい。
す、！ ５ Ｋ、 Ｖ２Ｏ３Ｎ’１８Ｇ＋ Ｉ９０１
ＬｓｏヤＩ９Ｇ ＋ Ｉｔｇｏ＋ｖ９ｏ ＋ＶＩ＆１が
得られるようにしてもよい。またＶ（Ｉ ＨＶ２Ｏｒ
Ｖ＋ｓｏ ＋Ｖ２７Ｇ ＋ Ｉｏ ＋ Ｉ９０ ＋ Ｉ
＋ｅｏ ＋ Ｉ２？０と８回測定すればオフセット電圧
を除去できることは勿論である。しかしこのオフセット
除去動作は所要時に°１［ｇ１行なえばよい。また本出
願人が以前に出願した特開昭６０−２８３０６号のよう
に可変位相信号発生器２９の出力信号の位相を所定角毎
に回転させてもよい。
本発明は直列型処理と並列型処理とを必要に応じて選択
できるので、高速性を要求する場合には並列型処理を、
高精度を要求する場合には直並列型処理を行なえばよい
。
できるので、高速性を要求する場合には並列型処理を、
高精度を要求する場合には直並列型処理を行なえばよい
。
直並列型処理においては、装置の伝達特性は誤差になら
ないと共に、従来の直列型処理に比べてＳ／Ｎ比が向上
する。何故ならば同一成分（例えば、 Ｖｏ ）は全体
的に４回測定され、また平均化動作を行なっているから
である。換言すると、従来の直列型処理と同−Ｓ／Ｎ比
で良ければ、各成分の測定時間を１／４（Ｔ／４）にな
し得るので、従来の直夕１ｊ型処理よりも高速測定が実
現できることになる。
ないと共に、従来の直列型処理に比べてＳ／Ｎ比が向上
する。何故ならば同一成分（例えば、 Ｖｏ ）は全体
的に４回測定され、また平均化動作を行なっているから
である。換言すると、従来の直列型処理と同−Ｓ／Ｎ比
で良ければ、各成分の測定時間を１／４（Ｔ／４）にな
し得るので、従来の直夕１ｊ型処理よりも高速測定が実
現できることになる。
第１図は本発明によるベクトル電圧比測定装置のブロッ
ク図、第２図は第１図に示した装置における並列型処理
において、２個の交流信号のどの成分が出力されるかを
示した特性図、第３図は第１図に示した装置における直
並列壓処理において、測定順序と、２個の交流信号のど
の成分が出力されるかを示した特性図、第４図はインビ
ーダンスＺを測定する回路例を示した図、第５図は２個
の交流信号のベクトル図、第６図は従来のベクトル電圧
比測定装置のブロック図、第７図は第６図の装置の測定
順序および２個の交流信号のどの成分が出力されるかを
示した図、第８図は従来の他のベクトル電圧比測定装置
のブロック図、第９図は第８図の装置において２個の交
流信号のどの成分が出力されるかを示した図である。 ２０：スイッチ、 ２１〜２４．７．９〜１２：位相検波器２９．６．１７
：可変位相信号発生器 ２５〜２８．１３〜１６：アナログ／デジタル変換器３
０：計算および平均化（ロ）路 ３１：制御回帰。 出願人 備河叱ニーＶット・パツカード株式会社代理人
弁理士 長 谷 川 次 男篤１図 第２図 ｂ−ｄ（１１ 第３図 ｂ−ｄ（Ｉ ） ｂ−ｃ（Ｖ ）第５図 ｑｎ６ 第６図 第７図 第８図 第９図
ク図、第２図は第１図に示した装置における並列型処理
において、２個の交流信号のどの成分が出力されるかを
示した特性図、第３図は第１図に示した装置における直
並列壓処理において、測定順序と、２個の交流信号のど
の成分が出力されるかを示した特性図、第４図はインビ
ーダンスＺを測定する回路例を示した図、第５図は２個
の交流信号のベクトル図、第６図は従来のベクトル電圧
比測定装置のブロック図、第７図は第６図の装置の測定
順序および２個の交流信号のどの成分が出力されるかを
示した図、第８図は従来の他のベクトル電圧比測定装置
のブロック図、第９図は第８図の装置において２個の交
流信号のどの成分が出力されるかを示した図である。 ２０：スイッチ、 ２１〜２４．７．９〜１２：位相検波器２９．６．１７
：可変位相信号発生器 ２５〜２８．１３〜１６：アナログ／デジタル変換器３
０：計算および平均化（ロ）路 ３１：制御回帰。 出願人 備河叱ニーＶット・パツカード株式会社代理人
弁理士 長 谷 川 次 男篤１図 第２図 ｂ−ｄ（１１ 第３図 ｂ−ｄ（Ｉ ） ｂ−ｃ（Ｖ ）第５図 ｑｎ６ 第６図 第７図 第８図 第９図
Claims (1)
- ４個の位相検波器と、２個の交流信号を選択的に切替え
て前記位相検波器の一方の入力端子に導入するスイッチ
と、前記スイッチの切替え動作に連動して所望位相をも
つ位相信号を前記位相検波器の他方の入力端子に印加す
る可変位相信号発生器と、前記位相検波器の出力端子に
それぞれ接続されたアナログ／デジタル変換器と、前記
アナログ／デジタル変換器の出力端子に接続されて計算
および平均化処理を行なう処理手段とより成るベクトル
電圧比測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61046983A JPS62204166A (ja) | 1986-03-04 | 1986-03-04 | ベクトル電圧比測定装置 |
| US07/021,864 US4888701A (en) | 1986-03-04 | 1987-03-04 | Apparatus for measuring vector voltage ratio |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61046983A JPS62204166A (ja) | 1986-03-04 | 1986-03-04 | ベクトル電圧比測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62204166A true JPS62204166A (ja) | 1987-09-08 |
Family
ID=12762455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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