JPS6230990A - 時間間隔測定装置の校正方法 - Google Patents

時間間隔測定装置の校正方法

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JPS6230990A
JPS6230990A JP61169651A JP16965186A JPS6230990A JP S6230990 A JPS6230990 A JP S6230990A JP 61169651 A JP61169651 A JP 61169651A JP 16965186 A JP16965186 A JP 16965186A JP S6230990 A JPS6230990 A JP S6230990A
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    • G04D7/00Measuring, counting, calibrating, testing or regulating apparatus
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    • G04D7/003Electrical measuring and testing apparatus for electric or electronic clocks

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は高精度時間間隔測定袋;6の校正方法に関する
〈従来技術とその問題点〉 精密なカウンタは時間間隔,パルス幅および遷移時間を
20ピコ秒の細かな分解能で測定できる。カウンタ分解
能は数10ピコ秒程度であるが、カウンタの絶対精度は
系統誤差によって制限される。これらの誤差は1ナノ秒
にも達する.平均操作により分解能をたとえば1ピコ秒
から2ピコ秒程度に向」一できるが系統誤差に対しては
なんの解決策にもならず。
正確さにはまだ限度がある。
系統誤差はカウンタのスタートチャネル路およびストッ
プチャネル路間の遅延差によって生しる。たとえば、1
〜リガレベルの不確定性、カウンタの入力増幅器内の伝
搬遅延の差およびケーブルやプローヴの電気経路長差な
どすべてがカウンタの系統遅延誤差の原因となる。さら
にこれらの遅延誤差は通常測定している人力信号の性質
によって異なり、人力振幅、スルーレート、トリガレベ
ルおよび立ち1−りか立ち下りかによっても変化する。
カウンタの系統誤差を補償するためカウンタを校正し、
校生プロセスから得られる校正定数でカウンタΔ」1定
結果を補正する。この校正プロセスは通常、まずカウン
タに既知の時間間隔を供給して測定し、測定結果および
既知の値の差を求めて校正定数とし以後の測定値を補正
するものである。
しかしながら、校正の標準となり得るような正確かつ精
密で再現性の良い時間間隔を発生するのは非常に困難で
ある。能動素子はそれ自体が系統誤差を発生し、前述の
パラメータ全てと共に変化するので能動素子を用いて信
蹄エツジを発生する試みはいずれも信頼できない。さら
に遷移時間、すなわちエツジの−1−■下降時間は有限
のため精密かつ、はっきり定義された電圧でタイミング
を測定しなければならない。これは信号のスロープが逆
のときには特に言えることであ。従来はたいてい「パル
スの中間」地点で測定するのが良いとされてきた。その
ような測定では何が口゛全パルス」を構成するかを定義
しなけわばならない。全パルスそれ自体の決定はささい
な事柄ではない。適切な決定を行なうためには別の電圧
サンプリンタ機器で確率密度なグロノ1−アウ1〜しな
ければならない。この付加プロセスにより時間間隔測定
が過度に複雑になることは明らかである。
従来技術において、同極性の2個の信号エツジ聞の時間
間隔1t11定用のカウンタを校正するにはスタートチ
ャネルおよびストップチャネル、すなオ)ちカウンタの
チャネルA、およびチャネルBの久方に同時に、完全に
同一の2個の信袴を印加せねばならない。
この時の1lll+定時間間隔が校正定数であり、カウ
ンタの測定結果から差し引く。この校I[:、技術にお
けるむずかしさは信号が同一であり、該信号エツジが同
じトリガレベル、すなわちタイミングを測定する電圧レ
ベルで同時に発生することを保証することである。
正のスロープおよび負のスロープ間の時間間隔測定用カ
ウンタを校正する従来技術は一層複雑である。
それには完全に対称なデス1−パルスが必要である。
デス1〜パルスを得る一つの方法はタイムベース水晶遁 発生器を用いてパルス発生器の出力をトリガするもので
ある。このパルス発生器自体はスペクトラムアナライザ
で調整して、す八での偶数次高調波を極少にして才〕く
。校正されているカウンタはこのテストパルスの正の向
きのスロープと負の向きのスロープの間の時間間隔を測
定する。測定された時間間隔とデス1〜パルスの半周期
との差が系統誤差をダ、える。この手順の精度はテスト
パルスの時間対称性および電圧対称性と周波数精度によ
って決る。スペクトラムアナライザは1−ランジスタの
ような能動素子を含んでいるので未知の量の誤差が校正
過程に生ずる。そこでテストパルスの中間地点をdE 
f41.に決定する手段を用いてこの手順を確実にする
必要がある。
〈発明のLJ的〉 従って本発明の1−1的は、信号歪の影響を受けない安
価で精密な時間間隔測定装置の校正方法を与えることで
ある。
〈発明の概要〉 本発明に従えば時間間隔測定、パルス@測定および遷移
時間スキューを測定するためのカウンタを校正する手段
および装置が導入される。これらの測定は安価な線形受
動ハードウェアで実現されるためやひずみ量も最少にな
り、別の誤差源からの系統誤差と共に校正することがで
きる。本発明の方法では非常に正確な入力基憎信号を必
要としない。無線周波数(rf)リレーを通過する信号
のクロス−スイッチングの直線性および同時性によりパ
ルスの同一性は保証される。信号は交流結合されるため
タイミングは全エツジに対してセロボルトレベルで測定
される。このようにしてゼロボルト付近での゛j1パル
ス対称性が保証される。
バイアス法を使えば、同じタイミング精度を保ったまま
ゼロボルトから任意の電H−にまで本発明に従う方法の
有効範囲が拡大する。
本発明の方法を用いてカウンタの系統誤差が決定され、
カウンタの一組の校正定数が信桂源、線形受動パワース
プリッタおよび無線周波数リレーを用いて導出される。
一連のテスト測定を行い系統誤差の発生源を異なる組み
合わせでテストすることによってカウンタの校+E定数
を導出し、それを以後の測定かC)差し引くことでカウ
ンタの系統誤差を補償する。
これらのデス1−測定は異なる信号スプリッタおよび信
号のクロス−スイッチングを用いてカウンタを異なるd
(11定モート構成にすることから成る。テスト測定お
よび計算の両方をコンピュータ制御な用いて数秒間で自
動的に行なうことができる。本発明の校正方法はカウン
タを111独で用いる場合にも、あるいは受動プローブ
、または能動プローブと共に用いる場合にも適用できる
〈発明の実施例〉 〔イ] 同スロープ時間11!1隔測定第11☆1は本
発明の装置を組み込んだデス1−構成を示す。該構成に
より本発明の校正方法を用いて同じ向きの時間間隔測定
および反対の向きの時間間隔測定か可能になる。パルス
発生器1はパルスを発生する。それはスプリッタロスも
考慮し、実際の測定時と煩以のパルスである。パルス発
生器1からの出力信シ冒ま校+E器3に印加され、校正
器3は信号を2個の信号にスプリノ1−シ、カウンタ5
のスタートチャネルおよびスタートチャネルへの人カ信
シ)とする。
校正器3は0度のパワースプリッタ13を持ち起り得る
時間スキュー■)を除いてはお互いに全く同一の2個の
波形を生じる。該校正器3はまた180度のパワースプ
リッタ15も持っており、起り得る時間スキューNを除
いて】方が他方の逆の極性の波形を生ずる。
同方向スロープ間の時間IIII隔測定を行う場合には
スイッチ■7はパルス発生器1をパワースプリッタ13
に接続する。逆方向スロープ間の時間間隔測定を行なう
場合には、スイッチ17はパルス発生器1を180度の
パワースプリッタ15に接続する。スイッチ19はスイ
ッチ17と連動して変化し、パルス発生器1からのλカ
信号を受信するパワースプリッタを出力端子2;3およ
び25に接続する。
スイッチ21は出力端子23および25をカウンタ5の
チャネルAおよびチャネルI3の両人カ端子に接続する
。スイッチ21には2つの状態があり、パワースプリッ
タ出力がカウンタ人力間で切り換えられるようにしてい
る。一方の状態においては出力端子23はカウンタ5の
チャネルAに接続され、出力端子25はチャネル■3に
接続される。もう一方の状態においては出方端子25が
チャネルA、出方端子23がチャネルBにそれぞれ接続
される。
校正のためにカウンタ5は系統誤差すなわち、時11f
f J延のないW完全なカウンタJl 7と全ての誤差
および遅延を代表する2個の入カ増@器9およびIIと
にモデル化できる。チャネルA人カは増幅器9を通って
カウンタ7のスタート六カに接続され、チャネル8人力
は増幅器11を通ってカウンタ7のス1ヘップ入力に接
続される。
同方向スロープ測定に対してのパルス発生器1がらの信
号およびイ(11定信号11flの差を第2A図に示す
第2A図においてチャネルΔの入力波形5oを実線で示
し、チャネルAの測定波形52を破線で示した。
同様にチャネルBの入力波形54および実際の測定波形
56をそれぞれ実線および破線で示す。波形50および
波形52の時間差A1は1:、にカウンタ人力増幅器9
によってこの正の向きのパルスに生じた伝搬遅延による
ものである。′同様にチャネルBについて理想の波形5
4および実際の波形56の間の時間差B4は主にカウン
タ入力増幅器1[にょって正の向きのパルスに生じた伝
搬遅延によるものである。
これら両方の時間差がカウンタ5による測定の系統誤差
となる。
もう−っの系統誤差を一グえるものはチャネルのトリガ
電1Fの誤差、すなわちチャネルAのV、およびチャネ
ルBのVbによる時間差である。トリガ電圧誤差V7お
よびVbによって生じたタイミング誤差はスルーレー1
へに依存する。スルーレートとは学位時間内の電圧変動
のことであり、測定波形52および56のスロープのこ
とである。結果としてのタイミング遅延は電圧トリガレ
ベルをスルーレートで割ったものである。したがって、
もしチャネルへのスルーレー1−がXであ肛ばトリガ電
JE An差の寄り1番よV。
/Xである。同様に、もし7チヤネルBのスルーレート
がYであれば1−リガ電圧誤差の寄7jはV、/”i’
となる。
さらに、系統誤差を与えるものに第2A図には示してい
ないか、パワースプリッタを通る鮭路長差Pかある。し
かしなから、この誤差は校正器の2個の出力間の信号を
スイツチングすることで取り除かれる。接続ケーブルの
経路長差も誤差となるが増幅器誤差と一緒に除去される
最も簡単に実現できる校正は同しエツジ、すなわち同じ
向きの信号測定である。同一信号が整合されたパワース
プリッタを経てカウンタのAチャネルおよびBチャネル
に供給される。両チャネルは同じ正の向きのエツジで同
じトリガレベル、すなわち0.00ボルトで時間間隔を
測定するようセットする。理想的にはセロの読みが得ら
れる。実際の読みT1はチャネルBおよびチャネルAの
正のスロープの伝搬遅延差を表わす。すなわち。
B’−A”=Tl         (1)である。
同様に、負のスロープに両チャネルをセラ1−すること
により測定値T2が得られる。これはチャネルBおよび
チャネルAの負のスロープに対すする伝搬遅延差を表わ
す。
B−−A−=72         (2)トリガレベ
ル誤差の影響も含まれている。もし、トリガレベル誤差
が■であれば測定に付随するタイミング誤差は正のスロ
ープのスタートパルスあるいは負のスロープのストップ
パルスに対して負(測定間隔は短かい)であり、負のス
ロープのスター1−パルスあるいはiEの向きのストッ
プパルスに対してII:。
(測定間隔は長い)である。
さらにケーブルを逆接続してjllll定するのでパワ
ースプリッタ内、あるいはケーブル内の@気的経路長差
のため信跨間には小さい(づれども有限の時間スキュー
Pが混入し得る。
時間スキューP、およびトリガレベル■、および■5の
影響があると式(1)および(2)は次のようになる。
B”  A’  V−/ X +Vh/ X + I)
4= i” 1−     (3)B−−A−+V−/
Y−Vb/Y+P−=T2    (4)ここで A+はチャネルAの正のスロープの伝搬遅延。
A−はチャネルAの負のスロープの伝搬遅延、B+はチ
ャネルBの正のスロープの伝搬遅延、B−はチャネルB
の負のスロープの伝搬遅延、■ヮはチャネルAのトリガ
誤差、 ■、はチャネルBの1−リガ誤差、 Xは−I−昇スルーレー1− Yはド降スルーレート ■−)+は正のスロープの時間スキューP−は負のスロ
ープの時間スキュー である。
チャネルAおよびBへの信号な逆にし、測定なくり返す
と式(3)と(4)に順風したさらに2つの時間間隔校
正illり定ができる。
B’−−A”+V、/Y−V、/Y−P−=T3   
 (5)IF+−A”−V、/、X+V、/X−P+=
T4    (6)測定時till 間隔’I’ ]−
、”II 473よびT2.T3を平均すると次の式が
得られる。
(T1.+T4)/2=B+−A+−(V、−V、)/
X  (7)(1”2+T3)/2=[−A−+ (v
、−vb)/Y  (8)もしトリガレベル■、および
V、を0.00ボルトにセラ1〜すれば式(7)および
(8)から所望校正定数が得られる。トリガ回路の有限
のヒステリシス幅を持ったカウンタの場合にはトリガ点
はスロープに依存して0.00ボルトに対してヒステリ
シス幅の半分だけ1−および4へ分だけドにあるが、V
、−V、、は依然0であり式(7)および(8)も依然
有効である。スルーレートXおよびYが大きくなければ
トリガレベルで誘発される誤差は減少する。
正および負のスロープを使い、Plおよびr〕−スキュ
一時間を区別することによって本測定で1−分に校正精
度をチェックできる。(T I −T/I )/2およ
び(”I’2−T3)/2からP+および■)が得られ
る。
P、および2間の差は測定により決定でき、次の式%式
% 校正精度をチェックするのに用いられる。(P+−p)
がOからどの位ずれているかによって測定誤差の大きさ
および校正手順の妥当性がわかる。。
〔口〕 反対向きのスロープの時間間隔校正チャネルA
およびチャネルBに反対向きのスロープを用いる校正に
対してはWゼロ時間用の標準が必要である。すなわち、
正確に開時に共通のトリガレベルで反対方向に切り換わ
る2つの信け、もしくは前述の1)に類似したスロープ
によらない一定遅延の2個の信号が必要である。たいが
いの能動回路はこのようにできない。高周波差動増幅器
ですらターンオン遅延およびターンオフ遅延が数6ピコ
秒異なることは珍しいことではない。
第1図に示した装置は反対向きのスロープのパルスエツ
ジ間の時間間隔測定校正にも用いることができろ。パル
ス発生器1からの入力信号および反対向きのスロープ測
定で測定された信号間の差を第2B図に示す。
第2B図ではチャネルAの入力波形60を実線で示し、
実際のΔIす定波形62を破線で示す。同様に。
チャネルBの入力波形64および実際に測定した波形6
6をそれぞわ実線および波線で示す。波形60および波
形62間の時間差A4は一義的にはこの正のスロープの
パルスに生しだカウンタ入力増幅器9の伝搬遅延による
ものである。同様にチャネルBに対し理想波形64およ
び実際の波形66の時間差if’Q’一義的にはカウン
タの入力増幅器11によってこの負のスロープのパルス
に生じた伝搬遅延によるものである。同方向スロープパ
ルス測定の場合と同様、これら置時間差がカウンタ5に
よる測定の系統誤差となる。
カウンタがチャネルAの波形62(第2B図)のスター
ト点およびチャネルBの波形66(第213図)のスト
ップ点間の時間差を測定する場合、別の種類の系統誤差
が生じる。また、チャネルのトリガ電圧誤差、すなわち
、チャネルAの■、、チャネルBのV、の差が系統誤差
となる。妥当な校正定数を決定するため同方向スロープ
測定時と同様、これらトリガ電圧誤差の寄り、を考慮に
入れなければならない。
また、同方向スロープの場合と同様、パワースプリッタ
15および接続ケーブルを通る経路長差を考慮に入れな
ければならない。この時間差はNと呼ばれ、同方向スロ
ープの場合のPと異なる。それは異なるパワースプリッ
タが用いられるからである。
反対方向のスロープの校正の場合、信号は180度のパ
ワースプリッタによって供給され、該パワースプリッタ
は線形受動素子である。この遅延はスロープに依存しな
い。ゼロ度のパワースプリッタの場影響を補償し、除去
することができる。
測定は2回行う。まずチャネルAは正の向きのスロープ
、チャネルBは負の向きのスロープにセラ1へし、次に
その逆にセットする。スキューNの影響およびトリガレ
ベルの影響を含め 増幅器遅延に関連した結果T 5およびT6が測定によ
り次のように導かれる。
B−−A”+N+−−V、/、X−V、/X=T5  
  (10)B ”  A  + N −+ + V 
−/ Y + V b/ Y = T 6    (I
I)ここで、 N+−はチャネルへの正の向きのスロープおよびチャネ
ルBの負の向きのスロープ間のスキューである。
N−、はチャネルAの負の向きのスロープおよびチャネ
ルBの正の向きのスロープ間のスキューである。
X、Yは先頭および後続のエツジの信号のスルーレート
である。
校正が終るとケーブルを逆にして、さらに2回測定し、
チャネルAの遅延およびチャネルBの遅延に関連した結
果T7およびT’8が次のように導かれる。
T’l”−A  −N  、+V、/X+V、/X=T
7     (121B−−A’−N、−V、/Y−V
、/Y=T8     (+3)前と同様、異なるスロ
ープのスキューに対応する校正器の遅延N1−およびN
 Jt区別する。
ここで。
(N、−N−+)= (T5−T6+−T7−T8)/
2 04)であるので(T5−T8)−(’I’6−T
7)をuにとで妥当性をチェックできる。ゼロからの偏
差は測定誤差の大きさを示し、校正測定の妥当性をチェ
ックするのに役立つ。]”5.T8およびT6.−I”
7の平均は次の式で与えられる。
(T5+1゛8)/2=H−A−(V、+V、)(1/
x+1/Y) (15)(T6+T7)/2=R”−A
−+(V、+V、)(1/X+]、/Y)(16)同方
向のスロープの場合と同様にもしくV、+V、)=0で
あれば反対方向スロープ測定に対する校正雉数が式(1
5)および(10でダ、えられる。したがって、実際問
題としてトリガレベルV、およびV、は0.00ボルト
に正確にセットすることもできるし、ヒステリシスがあ
れば反対向きのスロープ測定に対しても実際のトリガ点
は中心に対して対称となり、■、 + V b = 0
は保たれる。式(15)および(16)は所望の反対方
向のスロープの校II:、定数な与え、ヒステリシスに
対して補正番 は不安である。
要するに、J−述の8回のmQ定によって得られる結果
71〜′I゛8によりスタートチャネルA、スタートチ
ャネルI3を正の向きのスロープエツジ、あるいは負の
向きのスロープエツジの検出に使ったときの4個の可能
な測定セットアツプの組み合わせに対して校正定数が次
のように決定される。
T、、 体タートおよびストップが共に正)=(Tl+
T4)/2  (17a)Iすいタートおよびストップ
が共に負)=(’r2+T3)/2  (17b)T+
(ス’、1−1−が11:、、ストップが負)=(”r
5+78)/2  (17c)T +(スタ・−トが負
、ストップが1E)=(T’6+T7)/2  (17
d)以後の測定から校正定数を差し引くわけであるが、
トリガレベルは0.00ポ゛ルト、校正時と同じ大きさ
の信ν)でスロープ対応も同じでなければならない。
時間間隔測定の校正手順を要約するとまず、テストする
カウンタ5を校正器3の出力に接続する。カウンタトリ
ガレベルは0.00ボルトにセットする。
0度のパワースプリッタを接続し、同スロープの波形に
対して測定する。カウンタスター1−およびスタートチ
ャネルはまずIFの向きのスロープエツジで1−リガす
るようにセラ1〜し次に負の向きのスロープエツジでト
リガするようにセラ1−する。次に接続ケーブルを切り
換え、校+E器出力が反対のカウンタ人力チャネルに行
くようにし、さらに2回測定する。180度のパワース
プリッタを接続して第2組の4回の測定を行う、、これ
らの測定は第1組の測定に類似しているが、カウンタス
タートおよびストップチャネルはテスト波形の反対向き
のスロープエツジで1−リガされる。これら8回のナス
1−測定の結果から4個の必要な校正定数が式(1,7
a)〜(18d)に従−)で決定される。カウンタ校+
1:、用信シ)は約50%のデユーティ−サイクルで次
に測定される実際の信c3.に似ていなければならない
。以後のカウンタの測定に適当な校正定数を付加すれば
、著しく系統誤差が軽減されて時間間隔測定ができる。
(/荀 プローブ 高インピーダンスプローブを持ったカウンタに対しては
プローブの遅延はカウンタの入力増幅器の遅延に含める
ことができる。。
第3図はカウンタが高インピーダンスプローブを持って
いる場合に用いる代替テストの構成を示す。
高インピータンスプローブ30は校IF器コ3の出力お
よびカウンタ5の人力チャネルAおよびBに接続される
。高インピーダンスプローブ3oを用いる場合校正器;
3の出力を50オームの抵抗器40および42で終端す
る。もし抵抗器40および42がないときは代おりにパ
ルス発生器を50オームで終端しておく。T lから1
” 8の8回の測定は航速と同様に得られる。得られる
校正定数はプローブとカウンタの組み合わせに対しての
ものである。
プローブあるいはケーブルの不整合は校正中にカウンタ
系統誤差と一緒にされるので後の測定が有効となるため
には同一のプローブおよびケーブルを用いねばならない
2゜ に)パルス幅校正手順 パルス@測定においては弔−の信号がカウンタ内でスプ
リットされ、反対向きのスロープエツジで時間間隔ホ1
1定かなされる。′そのような′Iq定を校正するため
には内部スプリッタの影響を考慮に入れなければならな
い。プローブの場合、一本のプローブがスタートおよび
ストップの両操作に用いられる。 一般に遅延は2本の
プローブを用いる場合とは異なる。
したがって、新しい状6Lに対しでは別の校正器1:1
nが必要となる。
第4図はパルス幅測定用のカウンタ校+Eハードウェア
構成を示す。パルス発生器1は180度のパワースプリ
ッタI5にナス1〜パルスを供給する。パワースプリッ
タ15は2個の出力信Y′iを発生する。1つは端子1
03に、もう1つは端F I 05に供給し一方が他方
の反転である。スイッチ21を用いて端子103の信2
′fあるいは端子105の信号のどちらか一方をカウン
タ5の人力に接続し、その間もう一方の端子の出力は5
0オームの抵抗器l16に接続する。カウンタ5は遅延
のない完全カウンタ7および前に趙んだカウンタ内の全
ての遅延を代表する2個の増幅器9,11および0度の
内部パワースプリッタ112としてモデル化される。人
力付けは内部パワースプリッタ112に伝わり、該パワ
ースプリツタはチャネル八人力増幅器9およびチャネル
13人力増幅器11に対して2個の信号を供給する。チ
ャネル八人力増幅器9は人力信シ)の)7ち上り部分で
遅延へ〇を牛しる。内部パワースプリッタ112はチャ
ネルB信シ)の負の向きのスロープにスキュー1)−を
生じ、チャネルB人力増幅器11は負の向きのスロープ
に伝搬遅延B−を生じる。明快にするためトリ力レベル
に誘導された誤差はこの図では省略する。
増幅器9の−1−外出力から増幅器11の下降出力まで
4111定が行われる。 第5A図はカウンタがパルス
幅測定用に構成された場合のカウンタのチャネルAおよ
びチャネルBの波形を示す。波形70はカウンタ人力の
波形である。波形72は増幅器9の出力である。2個の
波形の差は一■:、にチャネルへのカウンタ人力増幅器
9によって生じた伝搬遅延A’によるものである。波形
74は増幅器11の出力である。この波形および人力波
形70の差はカウンタ内部のパワースプリッタおよテ予
チャネルI3の入力増幅器によって生じた伝搬遅延によ
るものである。負のスロープに対してはこれらはそれぞ
れD−およびB になる。
カウンタは波形72の正の向きのスロープエツジから波
形74の負の向きのスロープエツジまで波形70のパル
ス幅■]を測定しようとする。時間間隔測定においては
チャネルAおよびチャネル8間のトリガ電圧の差により
余分の系統誤差が生しる。測定されたパルス幅[(はス
タートチャネルへの遅延によって減少し、ストップチャ
ネルBの遅延によって増加する。したがって、測定値w
lはTIおよび誤差を含み1−リガレベルによる誤差を
無視すれば次のようになる。
WにB−+D ’−’ −A ’ + 1−1    
           (+8)第5B図において、波
形71は第4図のリレースイッチ21を180度のパワ
ースプリッタ15のもう一方の端rに切り換えることに
よって第5童図の波形70から反転される。チャネルA
およびチャネW4はもう一方の半波長■、とW、に類似
の誤差項がら成る。
W4= n−+ I)−−A ’+ I、      
          (+9)チャネルAで負のスロー
プを用い、チャネルI3で正最後に、周期平均測定をす
る。周期測定において系統誤差は無視でき、周期P e
 rはI(および■、の合H1である。
もし波形70の上昇スルーレートがXおよび下降スルー
レートがYならば鏡像である波形71のド降成要素の形
で見るとこわらの8!す定は以下のテーブルに要約され
る。
ポートスロープ  モデルがら予想される漿     
測定結果B #l   +−13’−A’+D利■−V、/X−Vh
/Y=W+(20)#l−+I’l’−A−+D)+L
+V、/Y+Vh/X=W2(2+)#2  −+  
 I(’−A+D’+H+V/X+Vt、/Y=W1 
 (22)#2    + −B  −A’+D−十N
、−V、’Y−V7X=W、  (23)(0,01秒
ケートのPer)   H+L   =PER(2,1
)ここで、 DlはiEの向きのスロープ内部遅延 D−は負の向きのスロープ内部遅延 Hはテスト信号の高い方の1へ周期 りはテスト信号の低い方の半周期 である。
内部パワースプリッタの遅延りはスロープに依存するD
+およびD−とじて扱われ、増幅器伝搬遅延とし一緒に
されて校正される。トリ力レベル誤差の影響は含まれて
いる。信号源の周期および幅の両方の安定性は重要であ
る。
正のパルスに°対する所望の咬IE定数W+−および負
のパルスに対する所望の校正定数W1はO、OOボルト
に補正されれば理想的には以下のようである。
W、−=B−−A++D’−V、/X−V、/Y   
(25)W−1=B’  A  +D’+v、/ x、
+v b/ Y   (26)測定結果W、−↓ およ
びPERから次のように計算される。
W+−= (W++W4 P E R)/2     
   (27+)−/W、+W、−P  ト:R)/2
                (27b)もしV、
=V、二〇、すなわち、1−リガレベルが0.00ボル
トであれば式(25)および(26)は校正定数W+−
およびW−1を与える。ヒステリシスがあり、V、+V
b=0の場合、(25)および(26)が正しいために
は一ヒ昇スルーレートおよび下降スルーレートは同じで
なければならない。
校正定数の妥当性は別の2個の推定値、すなわち、少し
異なるパラメータを用いたWlおよびW−1によってチ
ェックする。
W=−(a)=W1PER/2  (W、W−Wl W
−)/4  (28a)W、−(b)=W、−PER/
2+(W、−W2+W3−W4)/4  (28b)お
よび W−t、(a)=Wz−PER/2+(W、−W2+W
3−W、)/4  (29a)W、(bl=W 3−P
ER/2−(W、−W 2+W、−W、)/4   (
29b)これら推定値は(27+)および(27b)で
決定された校正定数値W、−およびW−1をひとまとめ
にしたものである。もし、1〜リガレベル誤差■、およ
びVbが小さく、またスルーレートXおよびYが大きく
、はぼ同じ位であれば矛盾は小さい。要するに、W4−
およびW−1はスルーレートをXおよびYのj■l均と
仮定しており、−力値の推定値はどちらのエツジがXで
どちらがYかを区別する。
要するに時1#+ # IIIQ定校正には4同の時1
1i1 ft1l隔H1り定および一周期の測定が必要
である。校II:、器の180度のパワースプリッタは
テスト入力信Y)がら2個の出力信号を得るのに用いる
。カウンタに接続したパワースプリッタの2個の出力付
けの一方を使い2回測定する。まずチャネルへの信FF
をIFの向きのスロープエツジでトリガし、チャネルH
の信号を負の向きのスロープでトリガする。次にその逆
を行う。
カウンタに接続したパワースプリッタのもう一方の出力
信号を使いさらに2回測定する。第1の8(す定接前と
同様トリガ極性を逆にする。最後に比較的長いサンプリ
ング時111Tで周期を測定する。平均周期測定を正確
に行うためである。
これら5回のテスト測定の結果から式(27a)および
(27b)に従って所望の2個の校正定数が決定される
。以後、パルス幅の測定値に適当な校正定数を付加すれ
ば、著しく系統誤差が軽減され、測定ができる。
第6図は高インピーダンスプローブ30がカウンタの入
力に接続されている場合に用いられる代替ナス1−構成
を示す。高インピーダンスプローブ30を用いる場合1
80度のパワースプリッタ15の出力を50オームの抵
抗器40.42で終端するかあるいはパルス発生器側で
終端しなければならない。ス(ホ)−1−Mおよび下降
時ffff校正−1〕昇および下降時間測定はチャネル
AおよびチャネルBの両方に対して同じスロープを用い
る以外は時間幅測定と同しである。ここでは、10%〜
90%のような極端な値にトリガレベルをセットする前
にパルスの中間での誤差を校正する。第7図はカウンタ
5の上昇および下降時間測定を校正するのに必要なハー
ドウェアを示す。180度のパワースプリッタの代わり
に0度のパワースプリッタ13(第4図参照)を用いる
以外はこのハードウェアは第4図に示すパルス幅校正ハ
ードウェアと同じである。
チャネルへの信号16′l01(第8図参照)がトリガ
ー29= 電圧■、を越えると測定が始まる。チャネルI3の信号
162がV、と等しくなると測定は終オ)る。測定結果
はRである。チャネルへの入力増幅器9(第7図参照)
は遅延A4を生じる。パワースプリッタ112は遅延D
1を生じ、チャネルB人カ増幅器11は遅延B4を正し
る。理想的にはトリガレベル■、およびV、は等しい。
もし、それらが等しくなければ信号のスルーレ−1〜X
に伴って時間間隔誤差(vb−v、)/Xが現われる。
1個の入力信号だけを用い、2回のT、’I(時間間隔
)を測定し、測定結果RおよびFを得る。構成要素をみ
るとRおよびFは、 スロープ  所望量   結果 A       B     R+−A  ++D”+
(V b−V、)/X=R(30)+  + B−−A
−+D−−(vb−V、)/Y=F (31)スルーレ
ートX、Yを早くし、トリガレベルをできるだけ等しく
セラ1−すると最後の項は無視できる。
RおよびFは上昇および下降時開校正定数である。
遅い信号を校正するときはトリガレベルを非常に正確に
、すなわちv、=v、=o、ooポル1〜に調整するこ
とか重要である。1〜リガレベルな正確に調整すればス
ルーレートかわずかに変ってもRおよびFは変化しない
。411すべきはもし、中間レベルを0゜00ポル1〜
に調整すれはヒステリシス効果は再び相殺されることで
ある。ヒステリシス幅T−Iに対して■1および■、の
両方が半分の幅だけスロープによって上下するからであ
る。同じスロープに対してはV。
−V、=Oである。
一方のチャネルの10%から他方のチャネルの90%ま
での1−昇時間および下降時間なこの方法で完全に校i
Eすることばできない。この方法はパルスの中間あたり
でトリ力レベルが同じ場合に適合し、したがって10%
〜90%の極端な値にパルスのトリガレベルをセットす
る前にパルスの中間でスキューを除去することができる
□ 任意のトリガレベルでの校正 今までのところすべての校正は0.00ボルトの1−リ
ガレベルで行ってきた。これはロジックファミリの中間
遷移電圧、たとえばr’:CLに対して−1,3ボルト
で校正したいユーザには望ましくない。校正出力にバイ
アス電流源およびブロッキングコンデンサを付加するこ
とによりそれが可能になる。第9図は0ボルト以外のト
リガ電圧を得るために必要なハードウェアを示す。電流
源200および201はバイアス電流を供給し、トリガ
電圧V、に等しいD Cオフセット電圧を生じる。これ
らは演W増幅器206および208によって制御され、
校正出力電圧36および3Bをセンスし、入力電圧■、
と比較するプロキングコンデンサ202および204は
パワースプリッタ13および15に電流が流れないよう
にする。
各チャネルにおいて、電流源200,201からのバイ
アス電流は各チャネルのトリガレベルに+E確に等しい
DCCオフセラー電圧を供給しなければならない。たと
えば、もしチャネルAか]、、OOボルトで校正されれ
ば20.0ミリアンペアのバイアス電流が要求される。
2個のチャネルに対するトリガレベルは厳密にSえば同
じである必要はない。しかしながら、50%のデユーテ
ィ−サークルを用いれば用いる絶対電圧にかかわらずだ
いたい振幅の゛ト分のところで有効な校正が常時行われ
る。
高インピダンスプローブの場合、全く前と同様、第:3
図に示すように校正出力又は校正入力で終端抵抗器が必
要である。
時間幅測定あるいは一1x *、 /下降時間測定校正
においては両チャネルは同じ1−リガレベルでなければ
ならない。
本発明の校正手順はコントローラにより自動的に実行さ
れる。コン1−ローラは校正器のスイッチを操作し、カ
ウンタ入力チャネルの1−リガ電圧、およびスロープ極
性をセラ1〜し、テスト測定の結果から校正定数を導出
する。
手順をオートメーション化するために必要な装置を第1
0図に示す。校正されるカウンタ5にはインタフェイス
バス218を通ってコンピュータコン1−ローラ216
から受けた命令に従って測定し、測定結果をハス218
を通ってコントローラ216に送る機能が必要である。
そのようなカウンタの−・例はHcwlett、−Pa
ckard  HP5370Bカウンタである。校正器
3′もまたインターフェイスバス218な通ってコン1
〜ローラ216から受けたコマンドで制御される。−例
かIT ew l et、 t −Packard  
JO6−59992A時間間隔校正器である。コントロ
ーラ216はプログラム1可能なマイクロコンピュータ
あるいはミニコンピユータあるいは専門の測定器コント
ローラである。
コントローラ216は一連のコマンドにより校正器3の
内部構成を変える。該コマンドは校正器3のスイッチを
切り換え、0度のパワースプリッタもしくは180度の
パワースプリッタのどちらかを選択し、出力信号をカウ
ンタ5のスタートおよびストップ入力に送る。第1図の
スイッチ21を用い、パワースプリッタの出力をスター
トチャネルからストップチャネルまで切り換えたり、そ
の逆に切り換えたりして信号を交互に接続する。コント
ローラ216またはカウンタ5のスタートおよびストッ
プチャネルの電圧のトリガレベルおよびスロープ極性を
セットする。@原116からのオフセット電圧も同様で
ある。
時間間隔測定校正に対してはコン1−ローラ216は校
IT:、器3およびカウンタ5にコマンドを送り式3〜
6および10−13で与えられた測定1゛1〜1゛8に
必要な構成にする。一連の各構成でコントローラ216
はカウンタ5に測定を命令し、該測定でのデータを蓄積
する。8回の測定が行オ)れるとコン1〜ローラ216
は式(17+) −(17d)に従って4回の時間間隔
校正定数をit!する。
パルス幅11t11定校正も同様な手順で行う。コン]
−ローラ216は式(20)〜(24)で11えら肛た
W、〜W4およびP E Rの測定に必要なように校正
器3およびカウンタ5を構成し、5回の測定からのデー
タを蓄積し、式(27m)および(27b)に従って2
個のパルス幅校正定数を計算する。
」−胃および下降時間訓電校正もまた同様な手順に従い
、都合よく同し装置で式(3[1)および(31)で与
えられた構成を用いて容易に行うことができる。
時間間隔測定機器の設計および校正技術において、前述
のカウンタ用校正装置および校正方法が他のタイプの時
間間隔測定機器にたやすく応用できることは明白である
。たとえば、実時間オシロスコープ。
サンプリンクオシロスコープ、デジタイジングオシロス
コープおよび波形記録計などに応用できる。
〈発明の効果〉 −F記に才」いて詳述した本発明のいくつかの実施例か
らも明らかなように、試験用信号は線形受動回路によっ
て処理されて校正さされるべき時間間隔測定装置に導入
されるので、波形の非線形歪が発生しないので、波形の
非線形歪による校+IE誤差が生じない。また校正によ
って9!tられる精度の11安か得られるから、校正の
信鞘度が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例の方法を適用して時間間隔測
定用カウンタの校正をおこなう校+lE装値のブロック
図、第2A図は第1図の装置により同一スロープの測定
をおこなうカウンタの校正中に、実際に測定される信号
と入力試験信号の代表的波形図、第2 8図は第1図の
装置により反対スロープの測定をおこなうカウンタの校
正中に実際に測定される信号と人力試験信号の代表的波
形図、第:3図は高インピーダンス・プローブを装備す
るカウンタに適合するようにした第1図の校正装置のブ
ロック図、第4褒1は本発明の1実施例の方法を適用し
て、ノ<)レス幅測定用、カウンタの校正をおこなう装
置のブロック図。 第5図は第4図の装置を用いてパルス幅測定をおこなう
カウンタの校正中に、実際にilll1定される信号と
人力試験信号の代表的波形図、第6図はノ匂しス幅測定
用高インピーダンス・プローブを装備するカウンタに適
合するようにした第4図の校正装置のブロック図、第7
図は本発明の実施例の方法によjJ上昇および下降時間
測定用カウンタの校正をおこなう校正装置のブロック図
、第8図は第7図の装置によりI:、yノ及びド降時間
を測定するカウンタの校正中心こ実際に測定される信号
と人力試験信号の代表的波形図、第9図はゼロボル1−
・レベル以外でトリガを力箋けるために制御電流源とブ
ロッキングコンデンサを付加した第1図の校正装置のブ
ロック図、第10図はコンピュータ制御用に変形された
第1図、第4図、第7図および第9図の装置のブロック
図。 1:パルス発生器; 3:校正器;    ′ 5:カウンタ; 7:完全なカウンタ; 9、11:入力増幅器; 1 3 : 0度パワースプリッタ; ]、 5 : l 8 0度パワースブリッタ;17、
19.2I:スイッチ; 30:ブローブ; 1】2:内部パワースブリッタ; 202、204 :ブロワキンクコンデンサ;206、
208:演市増幅器; 200、201 :電流源; 216:コン1−ローラ; 218:インタフエイスバス; 出願人 横河・ヒューレッ1−・パノカード株式会社代
理人 弁理士 長谷用 次 男 1)開nUG2−30990 (14)ぐ r−一一一−−−コ r−一−−−−−−−−−−− 1ト     ・−々さ ・     切象 ′−4堀、 1     仝  − 1   °ゝ゛ 1       〉  〉 1     )、 1      樅、F 1      0、/い。 1    −ゝべ= L−一一−−−− −一一一− m= ■ 一」

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 次の(イ)〜(ホ)に記載する各段階から成る1つある
    いは複数のチャネルから成る時間間隔測定装置の校正方
    法、 (イ)試験信号を発生する段階、 (ロ)前記試験信号を受動かつ線形的に分割し、第1お
    よび第2のコヒーレント信号を発生する段階、(ハ)前
    記第1および第2のコヒーレント信号を、前記1つのチ
    ャネルに順次に、あるいは前記複数のチャネルの2つの
    それぞれに同時に、交流結合して印加する段階、 (ニ)前記順次に印加された前記第1および第2のコヒ
    ーレント信号のそれぞれのパルス幅を測定するか、前記
    同時に印加された前記第1および第2のコヒーレント信
    号間の時間間隔を測定する段階、 (ホ)前記測定によって得られた測定値により前記時間
    間隔測定装置の校正をおこなう段階。
JP61169651A 1985-07-19 1986-07-18 時間間隔測定装置の校正方法 Expired - Lifetime JPH06100667B2 (ja)

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US06/757,220 US4627268A (en) 1985-07-19 1985-07-19 Method for calibrating instruments for time interval measurements

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