JPS62201314A - エンコ−ダ− - Google Patents

エンコ−ダ−

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JPS62201314A
JPS62201314A JP4455786A JP4455786A JPS62201314A JP S62201314 A JPS62201314 A JP S62201314A JP 4455786 A JP4455786 A JP 4455786A JP 4455786 A JP4455786 A JP 4455786A JP S62201314 A JPS62201314 A JP S62201314A
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JP
Japan
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light
diffracted light
diffraction grating
order
light beams
Prior art date
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Pending
Application number
JP4455786A
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English (en)
Inventor
Akira Ishizuka
公 石塚
Tetsuji Nishimura
西村 哲治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP4455786A priority Critical patent/JPS62201314A/ja
Priority to DE3706277A priority patent/DE3706277C2/de
Priority to GB8704851A priority patent/GB2187282B/en
Publication of JPS62201314A publication Critical patent/JPS62201314A/ja
Priority to US07/527,704 priority patent/US5101102A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明はエンコーダーに関し、特に移動又は回転物体に
取付けた回折格子に可干渉性光束を入射させ該回折格子
からの回折光を互いに干渉させて干渉縞を形成し、干渉
縞の明暗の縞を計数することによって回折格子の移動又
は回転状態、即ち物体の移動又は回転状態を測定するエ
ンコーダーに関するものである。
〈従来技術〉 近年NC工作機械や半導体焼付装置等の精密機械におい
ては1μm以下(サブミクロン)の単位で測定すること
のできる精密な′AIII定器が要求されている。
従来よりサブミクロンの単位で71111定することの
できるJM定器としては、レーザー等のり干渉性光束を
用い移動物体からの回折光より干渉縞を形成させ、該干
渉縞を利用したリニアエンコーダーが良く知られている
一方、従来よりフロッピーデスクの駆動子のコンピュー
ター機器5 プリンター等の市務機器、あるいはNCf
C機作さらにはVTRのギヤプステンモーターや回転ド
ラム等の回転機構の回転速度や回転速度の変動量を検出
する為の手段として光電的なロータリーエンコーダーが
利用されてきている。
光電的なロータリーエンコーダーは例えば第3図に示す
ように回転軸30に連絡した円板35の周囲に透光部と
遮光部を等間隔に設けた、所謂メインスケール31とこ
れに対応してメインスケールと等しい間隔で透光部と遮
光部とを設けた所1渭固定のインデックススケール32
との双方のスケールを投光手段33と受光手段34で挟
んで対向配置した所謂インデックススケール方式の構成
を採っている。この方法はメインスケールの回転に伴っ
て双方のスケールの透光部と遮光部の間隔に同期した信
号が得られ、この信号を周波数解析して回転軸の回転速
度の変動を検出している。この為、双方のスケールの透
光部と遮光部とのスケール間隔を細かくすればする程、
検出粘度を高めることができる。しかしながらスケール
間隔を細かくすると回折光の影響で受光手段からの出力
信号のS/N比が低下し、検出精度が低下してしまう欠
点があった。この為メインスケールの透光部と遮光部の
格子の総本数を固定させ、透光部と遮光部の間隔を回折
光の影響を受けない程度まで拡大しようとするとメイン
スケールの円板の直径が増大し更に厚さも増大し装4全
体が大型化し、この結果被検回転物体への負荷が太きく
なってくる等の欠点があった。
上記従来のロータリーエンコーダーに於る回折光の発生
、すなわちフレネル回折の影響を軽減する手法として、
メインスケールとインデックススケールとを近接させる
方法があるが、0、1 m m以下の精度で常時一定の
間隔を保持するのは困難であり、又、接触させておく場
合は摩擦による熱の発生、回転負荷の増大、寿命の低下
等の問題が生じる。従って、メインスケールとインデッ
クススケールとを用いるこの種のロータリーエンコーダ
ーでは、更に検出精度を高めるのは不可能であり、ロー
タリーエンコーダーとして新しいタイプの高い検出精度
を有する装置が要望されている。この要望に答える為の
1つの方法として、従来リニアエンコーダで提案されて
きた」二連の干渉縞検出方式をロータリーエンコーダー
に応用することが考えられる。この方式によれば従来の
ロータリーエンコーダーに於る問題点は殆ど解消され、
又、高粘度、高分解能の検出能力を有する装置を得るこ
とが可能である。
しかしながら、このロータリーエンコーダーや前述のリ
ニアエンコーダーに於て回折光を利用した[渉縞検出方
式を用いる場合にも種々の問題点は有している。例えば
1回折格子から出射する多数の回折光のうち干渉縞の形
成に使用すべS回折光を所定の光学手段に指向する際な
どに、他の不安な回折光、特に隣接する次数の回折光を
も光学下段に指向してしまい、この不要回折光が測定1
1iのノイズとなり、測定精度を大きく劣化させる要因
となっていた。
〈発明の概要〉 本発明の目的は、上記従来の欠点を除去し、干渉縞検出
力式のエンコーダーに於て、高精度のAl1定が可能で
且つ小型化を図ることが出来るエンコーダーを提供する
ことにある。
上記[1的を達する為に、本発明に係るエンコーダーは
、可干渉光束を得る為の光源手段と、該可干渉光束を移
動又は回転可能な物体に設けた回折格子に入射せしめる
第1光学手段と、該回折格子から出射する複数個の回折
光を毛ね合わせる第2光学手段と、該第2光学手段で得
られる光束を受ける受光手段とを有し、該受光手段から
の信号により前記物体の移動又は回転状態を検知するエ
ンコーダーに於て、前記回折格子から出射する複数の回
折光の内隣り合う次数の回折光の分離角Δを Δ〉36 となるは構成したことを4’F徴とする。
本発明の更なる特徴は以下に示す実施例により明らかに
なるであろう。
〈実施例〉 第1図は本発明に係るエンコーダーの光学系概略図で、
ここでは、ロータリーエンコーダーを示している。
本実施例ではレーザー1より放射された光束をコリメー
ターレンズ2によって平行光束とし偏光ビームスプリッ
タ−3に入射させ、略等光ら1の反射光束と透過光束の
2つの直線偏光の光束に分割している。このうち反射し
た光束は電波長板4を経て1円偏光とし、被測定回転物
体と連結した円板6」二の放射状の回折格子が設けられ
ている放射格子7の位iM1に入射させている。そして
放射格子7に入射し回折した透過回折光のうち特定次数
の回折光を反射手段8により反射させ、同一光路を逆行
させ放射格子7−1−の略同−位置M1に再入射させて
いる。そして放射格子7により再回折された特定次数の
回折光を電波長板4を介して入射したときと90度偏光
力位の異なる直線偏光とし偏光ビームスプリンター3に
入射させている。
本実施例では偏光ビームスプリッタ−3から反射手段8
に至る特定次数の回折光の往復光路を同一としている。
第2図は第1図で示した反射手段の一実施例の説明図で
ある。
同図においては反射鏡40を集光レンズ41の略焦点面
上に配置し、集光レンズ41に平行に入射してきた特定
次数の回折光のみをマスク42の開口部43を通過させ
反射鏡40で反射させた後、元の光路を逆戻りするよう
にしている。そして、その他の次数の回折光をマスク4
2により遮光している0反射手段としては、この地温2
図に示す機能と同一のものであれば、例えばキャッツア
イ光学系等のような構成のものでも良い。このような光
学系を用いれば例えばレーザーの発振波長が変化し、回
折角が多少変化しても略同じ光路で戻すことができる特
徴がある。
又、キャッツアイ光学系に、屈折率分布型レンズ、例え
ば白木板硝子社製のセルフォックマイクロレンズ(商品
名)等を適用し、その両端平面な点に着目して片面に反
射膜を設ける事により、構成が簡便で■つ又生産性に富
む光学素子として本発明に有効に適用する4tができる
第1図に戻り偏光ビームスプリッタ−3で分割された2
つの光束のうち透過した光束は電波長板5を介し円偏光
とし1円板6上の放射格子7上の位置M1と回転軸50
に対して略点対称の位置M2に入射させている。そして
放射格子7に入射し回折した透過回折光のうち特定次数
の回折光を前述の反射手段8と同様の反射手段9により
同一光路を逆行させて、放射格子7の略同−位置M2に
再入射させている。そして放射格子7より再回折された
特定次数の回折光を電波長板5を介し入射したときとは
90度偏光力位の異なる直線偏光とし偏光ビームスプリ
ッタ−3に入射させている。
このとさ、透過光束も前述の反射光束と同様に偏光ビー
ムスプリッタ−3から反射手段9に至る特定次数の回折
光の往復光路を同一とじている。そして反射手段8を介
し入射してきた回折光と重なり合わせた後、y4波長板
10を介し円偏光とし、光分謂器11で2つの光束に分
割し、各々の光束を互いの偏光方位を45度傾けて配置
した偏光板12.13を介し双方の光束に90度の位相
差を付けた直線偏光として各々の受光手段14.15に
入射させている。そして受光手段14.15により形成
された2光束の干渉縞の強度を検出している。
本実施例において被測定回転物体が放射格子7の1ピッ
チ分だけ回転するとm次の回折光の位相は2mπだけ変
化する。同様に放射格子7により再回折されたn次の回
折光の位相は2nπだけ変化する。これにより全体とし
て受光手段からは(2m −2n )個の正弦波形が得
られる。本実施例ではこのときの正弦波形を検出するこ
とにより回転量を測定している。
本実施例では回折格子のピッチを2.85pm、回折光
として1次及び−1次を利用しており。
回転物体がピッチの2.854m分だけ回転したとき受
光素子からは4個の正弦波形が得られる。即ち1F弦波
形1個当りの分解能として回折格子の1ピツチの%の2
.85/4 = 0.71pmが得られる。
さて、第1図に示すロータリーエンコーダーの構成上問
題となるのは、特に反射手段8,9の配置に関してであ
る。偏光ビームスプリッタ−3で分割された反射光束と
透過光束とは夫々放射格子7上の位5!IMI、M2に
入射するが、この時、Ml、M2からは0次、±1次。
±2次等の複数の透過回折光が出射する。上述の如き互
いに重ね合わせて干渉縞を形成させる回折光としてM 
1. M 2の±1次同志を用いる場合、0次及び±2
次の回折光が反射手段8゜9に入射するのは明らかに好
ましくない、従って、第1図に示すロータリーエンコー
ダーでは以下に示される条件式(3)を満足する様に構
成されている。
従来のメインスケールとインデックススケールとを用い
る光電式のロータリーエンコーダーで問題となるフレネ
ル回折と異なり、本発明の如き干渉縞検出方式のエンコ
ーダーに於ては、回折格子のピッチを微小にすることに
よりフラウンホーファー回折の近似を成り立たせている
。ここで、回折格子への光束の入射角Oiミツラウンホ
ーファー折によるn次の回折光の回折角On、回折格子
のピッチP1回折される光束の波長入の関係は P (5inOn −5intJ i) = n入 −
−−−−−−−−−=−一−−−−−(1)で表わすこ
とができる。
従って、隣り合う次数同志の分離角を△とするとΔ= 
5in−1((n+1)入/P+ 5inOi)−5i
n−1(n入/P+ 5InO1)−−−−(2)(n
= 0 、1 、2 、3−−−−)となる。
ここで、この種の干渉縞検出方式のエンコーダーに於て
、使用可能な可干渉光束や光学系の構成、光束径等を鑑
みると上記(2)式で示される分離角Δは1Δl >3
’−−−−(3)を満足することが望ましい、この分離
角Δが3°以下になると隣り合う次数同志の回折角の差
が小さくなり過ぎ、所q7の次数の回折光を利用しよう
として他の回折をと分離させる為には、第1図の反射手
段8.9の如き光学素子をM L 、 M 2から非常
に離れた位置に配する必要があり、光路長が長くなって
装置の小型化が出来なくなると共に系全体の安定性も悪
化する。
本実施例に於い、ては回折格子のピッチPは2.85p
mであり、レーザ1として現在ある如何なるデ/へイス
を用いたとしてもΔ>15°となる様に設計されて構成
しており、十分に(3)式を満足する。従って、反射手
段8.9等に不要な回折光が入射することはなく、反射
手段8゜9等をM 1 、 M 2に近接して配置する
ことが出来た為、精度が良く且つ小型のロータリーエン
コーダーを提供することが可能となった。
−力、回折格子に対して光束を垂直入射させる構成をと
る場合、Oi二〇であるため、上記(2) 、 (3)
式より、 Δ=  5in−1((n+1)入/P)−5in−’
 (n入/P)>3” −−−−−−(4)(n=0 
、 l 、 2 、−−=)となる、この時、代表的な
可干渉光束の波長入(pm)に対して、上記(4)式を
満足する回折格子のピッチP(ILm)の上限値を次表
に記す。
従って、レーザとして安価な半導体レーザ等を用いると
すれば、この種の光源の一般的な波長入は0.78〜0
.80μmであるから、回折格子のピッチPは15pm
未満にすることが好ましい。
第1図に戻り、本実施例では光分割器11により光束を
2分割し各々の光束量に90度の位相差をつけることに
より回転物体の回転方向も判別出来るようにしている。
尚1回転、ml−のみを測定するのであれば光分割器1
1.偏光板12.13及び一方の受光手段は不要である
本実施例では回転中心に対して略点対称の2つの71k
 74M1.M2からの回折光を利用することにより回
転物体の回転中心と放射格子の中心との偏心による測定
誤差を軽減させている。
尚、本実施例に於る構成は略点対称な2点からの回折光
を利用しているわけであるが、略点対称に限らず複数の
位置からの回折光を用いることにより略同等の効果を得
ることが出来る。
例えば、IFいに120°の角度を成す3点からの回折
光を利用したり、近接しない任意の2点からの回折光を
利用するのも有効である。
更に一方の光束の回転軸中心寄りの光束要素と略点対称
な位置に入射させた他方の光束の回転軸中心寄りの光束
要素とを互いに重なり合わせ、同様に回転中心の外側寄
りの光束要素同志を毛ね合わせることにより、放射格子
の外側と内側のピッチの違いより生じる波面収差の影響
を除去している。
本実施例では偏光ビームスプリッタ−3から反射F段8
.9に至る特定次数の回折光の往復の光路を同一とする
ことにより、偏光ビームスプリッタ−3における2つの
回折光束の重なり具合を容易にし、装置全体の組立粘度
を向上させている。
以上、本発明に関して第1図のロータリーエンコーダー
を用いて説明したが、本発明は第1図の構成に限定され
るものではなく、回折格子を有し回折格子から出射する
回折光を利用して干渉縞を形成し、この干渉縞を検出す
る方式の全てのエンコーダーに適用可能である。特に本
発明によれば、第1図に示す如きロータリーエンコーダ
ーの小型化、薄型化を達成するのを容易にし、測定精度
が高く且つ小型の装置を提供出来る。
又、本発明においては透過回折光の代わりに反射回折光
を利用しても良い。
尚、本発明において使用する回折格子は、透光部と遮光
部から成る所謂振幅型の回折格子、互いに異なる屈折率
を有する部分から成る位相型の回折格子である。特に位
相型の回折格子は、例えば、透明円盤の円周上に凹凸の
レリーフパターンを形成することにより作成出来、エン
ボス、スパツク等のプロセスにより量産カ可能である。
又、エンコーダの場合、所定の移動物体に形成する回折
格子のピッチは直接測定精度に係わってくる。即ち回折
格子のピッチが小さい程同−構成の装置では精度が向上
する。従って、本発明に於る回折格子のピッチは装置の
仕様、特に要求される検出精度と装置構成や大きさ等を
考慮した一Lで決定すべきである。
〈発明の効果〉 以に、本発明に係るエンコーダーは、回折格子から出射
する複数の回折光、特に隣り合う次数の回折光による悪
影響を除くことが出来ると共に装置の小型化、薄型化を
可能にする装置であり、高精度測定が可能なエンコーダ
ーである。
【図面の簡単な説明】
第1図は木光り1に係るロータリーエンコーダーの一実
施例を示す図。 第2図は第1図に於る反射手段の構成例を示す図。 第3図は従来のロータリーエンコーダーの一例を示す図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)可干渉光束を得る為の光源手段と、該可干渉光束
    を移動又は回転可能な物体に設けた回折格子に入射せし
    める第1光学手段と、該回折格子から出射する複数個の
    回折光を重ね合わせる第2光学手段と、該第2光学手段
    で得られる光束を受ける受光手段とを有し、該受光手段
    からの信号により前記物体の移動又は回転状態を検知す
    るエンコーダーに於て、前記回折格子から出射する複数
    の回折光の内隣り合う次数の回折光の分離角Δを Δ>3° となる様構成したエンコーダー。
  2. (2)前記回折格子のピッチPが15μm以下であるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載のエンコ
    ーダー。
JP4455786A 1986-02-28 1986-02-28 エンコ−ダ− Pending JPS62201314A (ja)

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JP4455786A JPS62201314A (ja) 1986-02-28 1986-02-28 エンコ−ダ−
DE3706277A DE3706277C2 (de) 1986-02-28 1987-02-26 Drehungsmeßgeber
GB8704851A GB2187282B (en) 1986-02-28 1987-03-02 Rotary encoder
US07/527,704 US5101102A (en) 1986-02-28 1990-05-23 Rotary encoder having a plurality of beams emitted by a diffraction grating

Applications Claiming Priority (1)

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JP4455786A JPS62201314A (ja) 1986-02-28 1986-02-28 エンコ−ダ−

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5953209B2 (ja) * 1981-08-06 1984-12-24 工業技術院長 多結晶シリコンインゴットの鋳造法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5953209B2 (ja) * 1981-08-06 1984-12-24 工業技術院長 多結晶シリコンインゴットの鋳造法

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