JPS62180241A - 断層像観察装置 - Google Patents
断層像観察装置Info
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- JPS62180241A JPS62180241A JP2267086A JP2267086A JPS62180241A JP S62180241 A JPS62180241 A JP S62180241A JP 2267086 A JP2267086 A JP 2267086A JP 2267086 A JP2267086 A JP 2267086A JP S62180241 A JPS62180241 A JP S62180241A
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- lens
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- light beam
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Links
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- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
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Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、断層像を観察する装置に関する。
（従来の技術）
生体組織のある面内の情報を取り出したいような場合、
その面を光学レンズで投影して結像させる方法が考えら
れる。
その面を光学レンズで投影して結像させる方法が考えら
れる。
しかし、光学レンズには被写界深度があるから、被写体
の断層の様子やあるいは断石内における螢光を観察する
場合、そのＩ）ｆｒＮの厚さをレンズの被写界深度以下
にすることはできない。
の断層の様子やあるいは断石内における螢光を観察する
場合、そのＩ）ｆｒＮの厚さをレンズの被写界深度以下
にすることはできない。
（発明が解決しようとする問題点）
本発明の目的は極めて薄い層の情報を取り出すことがで
きる断層像観察装置を提供することにある。
きる断層像観察装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
前記目的を達成するために本発明によるｌｌｊ’ｉ層像
観察装置は、光源と、前記光源からの光を薄い板状の光
束に変換する照明光学手段と、前記薄い板状の光束に一
方側から前記光束により照射された物体の散乱光または
螢光を観察する観察光学手段から構成されている。
観察装置は、光源と、前記光源からの光を薄い板状の光
束に変換する照明光学手段と、前記薄い板状の光束に一
方側から前記光束により照射された物体の散乱光または
螢光を観察する観察光学手段から構成されている。
（実施例）
以下、図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する
。
。
第１図は、本発明によるＷｒ層像観察装置の第１の実施
例を示す光路図である。
例を示す光路図である。
光源であるアルゴンレーザ１からの光を照明光学手段に
より薄い板状の光束１１に変換する。
より薄い板状の光束１１に変換する。
照明光学手段は光源１からの光の一部を取り出すピンホ
ール坂２、前記ピンホール坂２を透過した光をさらに集
光する集光レンズ３と集光レンズ３を透過した光を面状
に集束するシリンドリカルレンズ４から構成されている
。
ール坂２、前記ピンホール坂２を透過した光をさらに集
光する集光レンズ３と集光レンズ３を透過した光を面状
に集束するシリンドリカルレンズ４から構成されている
。
シリンドリカルレンズ４を用いて薄い板状にされた光束
は、観察光学手段であ′る顕微鏡光学系の対物レンズ６
の下側の試料１０内に入射させられる。
は、観察光学手段であ′る顕微鏡光学系の対物レンズ６
の下側の試料１０内に入射させられる。
試料１０は上下位置が微調整可能なステージ５の上に乗
せられており、光束１１が試料中の観察したい断面に沿
って入射するようにステージ５を調整する。
せられており、光束１１が試料中の観察したい断面に沿
って入射するようにステージ５を調整する。
第２図に試料と板状の光束、第３図に試料の光による切
断面とこの切断面の投影像の関係を示す。
断面とこの切断面の投影像の関係を示す。
第２図のように、光束が試料中の観測したい断層のみを
横切りながら照明することになり、第３図に示されたよ
うに、その断層内の散乱光または螢光が顕微鏡の光学系
（顕微鏡の対物レンズ６）を通して、結像面に結像され
る。
横切りながら照明することになり、第３図に示されたよ
うに、その断層内の散乱光または螢光が顕微鏡の光学系
（顕微鏡の対物レンズ６）を通して、結像面に結像され
る。
光束の厚さは第４図に示すように顕微鏡光学系の持つ被
写界深度以下の厚さである。
写界深度以下の厚さである。
これにより、被写界深度内の光束により照明された極薄
い層、すなわち観察したい断層のみを観ていることにな
る。
い層、すなわち観察したい断層のみを観ていることにな
る。
次に、観察モデルにっていの観察例について説明する。
第５図（１）は観察モデルと板状の光束の関係を示す斜
視図、同図（ｎ）、 （ＩＩ［）はこのモデルを第１
図に示す実施例装置により観察した断層像の略図である
。
視図、同図（ｎ）、 （ＩＩ［）はこのモデルを第１
図に示す実施例装置により観察した断層像の略図である
。
観察モデルは寒天Ａの中にＡと同じ濃度の寒天Ｂを糸状
にして包埋したものを試料としたものである。
にして包埋したものを試料としたものである。
寒天Ａの直径は１ｍｍ程度で、寒天Ｂには螢光物質を混
入しである。
入しである。
顕微鏡の１象を撮影する際の総合倍率は５０倍程度であ
る。
る。
照明光学手段により光源１の光束ば幅１ｍｍ、厚さ１０
μｍ厚に絞られる。
μｍ厚に絞られる。
試料は、ステージ５により、試料の（ＩＩ）と（■）の
高さの位置が前記光束により貰かれるように上下させら
れる。
高さの位置が前記光束により貰かれるように上下させら
れる。
同図（ＩＩ）には、寒天が板状の光束により（Ｉｆ）の
位置が照射されて螢光を発光している部分Ｂ１の像が、
同図（ＩＩＩ）には、同様に（Ｉ［［）の位置で螢光を
発光している部分Ｂ２の像が、現れている。
位置が照射されて螢光を発光している部分Ｂ１の像が、
同図（ＩＩＩ）には、同様に（Ｉ［［）の位置で螢光を
発光している部分Ｂ２の像が、現れている。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明は、光源からの光を照明光
学手段で薄い板状の光束に変換し前記薄い板状の光束に
一方側から前記光束により照射された物体の散乱光また
は螢光を観察光学手段により観察するように措成しであ
る。
学手段で薄い板状の光束に変換し前記薄い板状の光束に
一方側から前記光束により照射された物体の散乱光また
は螢光を観察光学手段により観察するように措成しであ
る。
これにより、光学レンズの被写界深度にかかわらず被写
体内の１ｉ薄い層内のみにおける散乱や螢光などの様子
を観察することが可能になった。
体内の１ｉ薄い層内のみにおける散乱や螢光などの様子
を観察することが可能になった。
第１図は本発明によるＩｒ層像を観察する装置の実施例
を示す光路図である。 第２図は前記実施例装置の照明光学系により形成された
光束が試料中の観測したい断層のみを横切りながら照明
している状態を示した図である。 第３図は前記照明により発生させられた照明像とその像
が観察光学系で段形された状態を示す斜視図である。 第４図は投Ｙ光学系の対物レンズの被写界深度と薄い板
状の光束の厚さの関係を示す略図である。 第５図（Ｉ）は観察モデルと板状の光束の関係を示す斜
視図、同図（Ｉｆ） （［［Ｉ）はこのモデルを第１
図に示す実施例装置により観察した断層像の略図である
。 １・・・光源（アルゴンレーザ） ２・・・ピンホール１反 ３・・・集光レンズ ４・・・シリンドリカルレンズ ５・・・ステージ ６・・・顕微鏡光学系の対物レンズ ７・・・結像面 ＩＯ・・・試料 １１・・・薄い板状の光束 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社 代理人 弁理士 井 ノ ロ 壽 ″ＡＰ１図 ７、 才３図 才４図 レンズの＃、ｆｉ、痴 才５図 （Ｉ） （Ｉｎ） （［ン
を示す光路図である。 第２図は前記実施例装置の照明光学系により形成された
光束が試料中の観測したい断層のみを横切りながら照明
している状態を示した図である。 第３図は前記照明により発生させられた照明像とその像
が観察光学系で段形された状態を示す斜視図である。 第４図は投Ｙ光学系の対物レンズの被写界深度と薄い板
状の光束の厚さの関係を示す略図である。 第５図（Ｉ）は観察モデルと板状の光束の関係を示す斜
視図、同図（Ｉｆ） （［［Ｉ）はこのモデルを第１
図に示す実施例装置により観察した断層像の略図である
。 １・・・光源（アルゴンレーザ） ２・・・ピンホール１反 ３・・・集光レンズ ４・・・シリンドリカルレンズ ５・・・ステージ ６・・・顕微鏡光学系の対物レンズ ７・・・結像面 ＩＯ・・・試料 １１・・・薄い板状の光束 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社 代理人 弁理士 井 ノ ロ 壽 ″ＡＰ１図 ７、 才３図 才４図 レンズの＃、ｆｉ、痴 才５図 （Ｉ） （Ｉｎ） （［ン
Claims (5)
- （１）光源と、前記光源からの光を薄い板状の光束に変
換する照明光学手段と、前記薄い板状の光束に一方側か
ら前記光束により照射された物体の散乱光または螢光を
観察する観察光学手段から構成した断層像観察装置。 - （２）前記照明光学手段は光源からの光の一部を取り出
すピンホール板と前記ピンホール板を透過した光を集光
する集光レンズと集光レンズを透過した光を板状に集束
するシリンドリカルレンズである特許請求の範囲第１項
記載の断層像観察装置。 - （３）前記観察光学手段は前記面状の光束により照明さ
れた物体の面の像を結像させるレンズと結像面に配置さ
れたスクリーンである特許請求の範囲第１項記載の断層
像観察装置。 - （４）前記照明光学手段の形成する薄い板状の光束の厚
さは観察光学系の対物レンズの被写界深度の厚さより小
さいものである特許請求の範囲第１項記載の断層像観察
装置。 - （５）前記照明光学手段は光源からの光を平行光に変換
するスリット板である特許請求の範囲第１項記載の断層
像観察装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2267086A JPS62180241A (ja) | 1986-02-04 | 1986-02-04 | 断層像観察装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2267086A JPS62180241A (ja) | 1986-02-04 | 1986-02-04 | 断層像観察装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62180241A true JPS62180241A (ja) | 1987-08-07 |
Family
ID=12089282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2267086A Pending JPS62180241A (ja) | 1986-02-04 | 1986-02-04 | 断層像観察装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62180241A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002529696A (ja) * | 1998-10-30 | 2002-09-10 | ザ トラスティーズ オヴ ザ ユニヴァーシティー オヴ ペンシルバニア | 多次元の酸素分布の非観血的像形成方法及びその装置 |
| JP2005283527A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Hitachi High-Technologies Corp | 異物検出装置 |
| JP2008149154A (ja) * | 2000-11-27 | 2008-07-03 | General Hospital Corp | 蛍光媒介式分子断層撮影法 |
| JP2008309806A (ja) * | 2008-09-29 | 2008-12-25 | Hitachi High-Technologies Corp | 異物検出装置 |
| WO2018070098A1 (ja) | 2016-10-11 | 2018-04-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| JP2019023751A (ja) * | 2018-10-19 | 2019-02-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| WO2019198309A1 (ja) | 2018-04-09 | 2019-10-17 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| WO2019198308A1 (ja) | 2018-04-09 | 2019-10-17 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| WO2019198283A1 (ja) | 2018-04-09 | 2019-10-17 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6069534A (ja) * | 1983-09-26 | 1985-04-20 | Rikagaku Kenkyusho | 反応過程観測装置 |
-
1986
- 1986-02-04 JP JP2267086A patent/JPS62180241A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6069534A (ja) * | 1983-09-26 | 1985-04-20 | Rikagaku Kenkyusho | 反応過程観測装置 |
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2002529696A (ja) * | 1998-10-30 | 2002-09-10 | ザ トラスティーズ オヴ ザ ユニヴァーシティー オヴ ペンシルバニア | 多次元の酸素分布の非観血的像形成方法及びその装置 |
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| JP2005283527A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Hitachi High-Technologies Corp | 異物検出装置 |
| JP2008309806A (ja) * | 2008-09-29 | 2008-12-25 | Hitachi High-Technologies Corp | 異物検出装置 |
| US10809509B2 (en) | 2016-10-11 | 2020-10-20 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
| WO2018070098A1 (ja) | 2016-10-11 | 2018-04-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| US11822066B2 (en) | 2016-10-11 | 2023-11-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
| US11391934B2 (en) | 2016-10-11 | 2022-07-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
| US11131839B2 (en) | 2016-10-11 | 2021-09-28 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
| WO2019198283A1 (ja) | 2018-04-09 | 2019-10-17 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置 |
| WO2019198308A1 (ja) | 2018-04-09 | 2019-10-17 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| WO2019198309A1 (ja) | 2018-04-09 | 2019-10-17 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| US11391935B2 (en) | 2018-04-09 | 2022-07-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
| US11709350B2 (en) | 2018-04-09 | 2023-07-25 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
| US11852792B2 (en) | 2018-04-09 | 2023-12-26 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device |
| JP2019023751A (ja) * | 2018-10-19 | 2019-02-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
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