JPS62173775A - MIS型ZnS青色発光素子 - Google Patents
MIS型ZnS青色発光素子Info
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- JPS62173775A JPS62173775A JP61016408A JP1640886A JPS62173775A JP S62173775 A JPS62173775 A JP S62173775A JP 61016408 A JP61016408 A JP 61016408A JP 1640886 A JP1640886 A JP 1640886A JP S62173775 A JPS62173775 A JP S62173775A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/0004—Devices characterised by their operation
- H01L33/0037—Devices characterised by their operation having a MIS barrier layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0083—Processes for devices with an active region comprising only II-VI compounds
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、低抵抗ZnS を発光層、2層以上の複合絶
縁物を正孔注入用高抵抗層とする金属−絶縁物一半導体
(Metal −Insulator−3cmicon
ductor:MrS)構造のZnS青色発光素子に関
する。
縁物を正孔注入用高抵抗層とする金属−絶縁物一半導体
(Metal −Insulator−3cmicon
ductor:MrS)構造のZnS青色発光素子に関
する。
(従来の技術と発明の背景)
■−■族化合物半導体ZnS は、室温において3.7
eVの直接遷移型の禁制帯幅を持つので、高効率青色発
光材料としてGaN、SiC,Zn5cなu L、
L d +−シトpピ I:17田lし八 M
βqノ覧 r匡≠1占ゼク=す2杯れている。高圧溶
融法、昇華法、ハロゲン輸送法等で成長させたZnS単
結晶は、Al1. Tなどを不純物として添加した上、
850〜l050℃の溶融亜鉛中で熱処理することによ
り、低抵抗n型(〜1Ω・am)となり、450〜48
0nmに発光ピークを持つ青色発光を示す。しかし、p
型ZnSは得られていないため、発光素子の構造として
は従来からMIS構造が用いられている。
eVの直接遷移型の禁制帯幅を持つので、高効率青色発
光材料としてGaN、SiC,Zn5cなu L、
L d +−シトpピ I:17田lし八 M
βqノ覧 r匡≠1占ゼク=す2杯れている。高圧溶
融法、昇華法、ハロゲン輸送法等で成長させたZnS単
結晶は、Al1. Tなどを不純物として添加した上、
850〜l050℃の溶融亜鉛中で熱処理することによ
り、低抵抗n型(〜1Ω・am)となり、450〜48
0nmに発光ピークを持つ青色発光を示す。しかし、p
型ZnSは得られていないため、発光素子の構造として
は従来からMIS構造が用いられている。
第3図に示す従来のMIS型発光素子においては、正孔
担体注入用の低抵抗ZnSIm(S層)4の上に高抵抗
層(1層)3を積、饗し、さらに、その上に注入側電極
(M層)2を設ける。また、低抵抗ZnS 層4にはオ
ーミックコンタクト電極5を設ける。各71X極2.5
には、それぞれ、リード線1.lを接続する。ここで、
高抵抗層3としては、低抵抗Zn9層4上に熱処理によ
って形成する絶縁層。
担体注入用の低抵抗ZnSIm(S層)4の上に高抵抗
層(1層)3を積、饗し、さらに、その上に注入側電極
(M層)2を設ける。また、低抵抗ZnS 層4にはオ
ーミックコンタクト電極5を設ける。各71X極2.5
には、それぞれ、リード線1.lを接続する。ここで、
高抵抗層3としては、低抵抗Zn9層4上に熱処理によ
って形成する絶縁層。
蒸着によって堆積させた絶縁層、または、MOCVD(
有機金属化学堆積)法によって形成しfコ高抵抗ZnS
層が用いられている。このMIS構造の素子においては
、発光の外部信子効率は008%までの高い値が報告さ
れている。
有機金属化学堆積)法によって形成しfコ高抵抗ZnS
層が用いられている。このMIS構造の素子においては
、発光の外部信子効率は008%までの高い値が報告さ
れている。
(発明の解決しようとする問題点)
従来のMIS構造の発光素子においては、いずれの場合
にら1層3は単一の高抵抗層から成っており、この層の
性質制御性、膜厚、平坦性、安定性等に係わる問題のた
めに、発光素子の安定動作と発光効率の再現性は未だに
解決されないでいる。
にら1層3は単一の高抵抗層から成っており、この層の
性質制御性、膜厚、平坦性、安定性等に係わる問題のた
めに、発光素子の安定動作と発光効率の再現性は未だに
解決されないでいる。
本発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、その
目的は、MIS構造を有し、安定な注入発光を持続する
ことのできる ZnS高効率青色発光素子を提供するこ
とである。
目的は、MIS構造を有し、安定な注入発光を持続する
ことのできる ZnS高効率青色発光素子を提供するこ
とである。
(問題点を解決するための手段)
本発明に係る ZnS青色発光素子は、発光層としての
低抵抗ZnS層と、この低抵抗ZnS層の上に積層され
た2層以上の、それぞれ異なる絶縁性化合物から成る正
孔担体注入用の高抵抗絶縁層と、この高抵抗絶縁層の上
に形成された電極とからなる。
低抵抗ZnS層と、この低抵抗ZnS層の上に積層され
た2層以上の、それぞれ異なる絶縁性化合物から成る正
孔担体注入用の高抵抗絶縁層と、この高抵抗絶縁層の上
に形成された電極とからなる。
(作 用)
本発明に係るMI S構造のZnS青色発光素子は、高
抵抗絶縁層をZn以上の複金属とする。そして、ZnS
低抵抗層に接する第1層は、発光素子の特性を再現性
よく実現できるように制御して形成し、また、他の層は
、第1層を保護し、素子の動作を安定させる。
抵抗絶縁層をZn以上の複金属とする。そして、ZnS
低抵抗層に接する第1層は、発光素子の特性を再現性
よく実現できるように制御して形成し、また、他の層は
、第1層を保護し、素子の動作を安定させる。
(実施例)
本発明のMIS型ZnS発光素子の特徴は、1層が低抵
抗Z’nS層(M層)の臂開面、あるいは切断、研磨の
後安定化させた任意の面の上に2種類以上の絶縁物を順
次形成することにより多層構造絶縁層としたことである
。より具体的には、低抵抗ZnS層は、高圧溶融法、昇
華法、ハロゲン輸送法により成長させたZnSバルク単
結晶より切り出した小ペレツトウェハー、あるいはMB
E(分子線エビタキノヤル)成長法、M OCV D成
長法により堆猜したZnS層、または、ホモエピタキシ
ャル層またはへテロエピタキシャル層から成るZnS層
である。その上に、総層厚5〜loonmの複合高抵抗
層6として、高抵抗ZnS、高抵抗ZnO,AQvOs
、SIO,5ift、Ta205.ZrO2、Ti12
.NbtO3,Y2O3,Bad、BaS。
抗Z’nS層(M層)の臂開面、あるいは切断、研磨の
後安定化させた任意の面の上に2種類以上の絶縁物を順
次形成することにより多層構造絶縁層としたことである
。より具体的には、低抵抗ZnS層は、高圧溶融法、昇
華法、ハロゲン輸送法により成長させたZnSバルク単
結晶より切り出した小ペレツトウェハー、あるいはMB
E(分子線エビタキノヤル)成長法、M OCV D成
長法により堆猜したZnS層、または、ホモエピタキシ
ャル層またはへテロエピタキシャル層から成るZnS層
である。その上に、総層厚5〜loonmの複合高抵抗
層6として、高抵抗ZnS、高抵抗ZnO,AQvOs
、SIO,5ift、Ta205.ZrO2、Ti12
.NbtO3,Y2O3,Bad、BaS。
CaS、CrS、B、03.B2S3.Lid、KP。
NaF、NaI 、GaPI MgFt、MnFffi
、KCQ。
、KCQ。
NaCL KBr、NaBr、CaBrt、Csr
、5LN4.Bed、BeS、BeSe、BeTe等の
絶祿体あるいはその混合物のうちから2種類以上を組み
合わせて形成する。ここに、M層に接する第1層目の絶
縁層は、注入層としての特性を再現性よく確保するよう
に、厳密に膜厚や性質が制御された状態で形成ずろ。第
2層目以降の絶縁層は膜厚を過当に選びかつ物質を適当
に選ぶことにより、素子の形状を最適化する。
、5LN4.Bed、BeS、BeSe、BeTe等の
絶祿体あるいはその混合物のうちから2種類以上を組み
合わせて形成する。ここに、M層に接する第1層目の絶
縁層は、注入層としての特性を再現性よく確保するよう
に、厳密に膜厚や性質が制御された状態で形成ずろ。第
2層目以降の絶縁層は膜厚を過当に選びかつ物質を適当
に選ぶことにより、素子の形状を最適化する。
以下、本発明の実施例を第1図と第2図によって説明す
る。
る。
!実施例1]
本発明の第1の実施例を第1図に示す。発光層となるZ
nS層 4’は、高圧溶融法、昇華法ににす%i サ
ti’ タ単に’j 品Z n Sを100 ()’C
’D Zn、AQ融体中で100時間低抵抗化処理した
約5Ω・cmの11iHハい、べ1ノ、l k 五1
h!斗 ハ門ジ・7めご盾、汁f 瓜1えばヨウ素輸
送法)により成長させた単結晶ZnSを950°Cの溶
融Zn中で100時間熱処理することにより得られるl
Ω・cm程度の低抵抗ZnSnS単結−ペレットる。そ
の襞開面、あるいは研磨・化学エツチングを施した任意
の面の上に10”−eTorr以下でZn薄膜層を蒸着
後、350℃程度まで加熱し、前記Znを蒸発させた後
のf#浄なZnS面の上に、例えばMBE法、M OC
V D法等を用いた単原子層成長法のような膜厚が原子
層程度で厳密に制御される方法でZn0ICJ7を50
〜200人堆積させる。゛しかる後、A Q 20 x
を同様の方法あるいはスパッタリング法で100〜30
0人堆積させることにより絶縁層8とし、その上に適当
なV厚を有するAuを蒸着して注入側の電極2°とする
。低抵抗ZnS側のオーミック電極5°としてはll′
L−1−1g等を用いろ。各電極2°、5゛には、それ
ぞれ、リード線1’、l’を接続する。
nS層 4’は、高圧溶融法、昇華法ににす%i サ
ti’ タ単に’j 品Z n Sを100 ()’C
’D Zn、AQ融体中で100時間低抵抗化処理した
約5Ω・cmの11iHハい、べ1ノ、l k 五1
h!斗 ハ門ジ・7めご盾、汁f 瓜1えばヨウ素輸
送法)により成長させた単結晶ZnSを950°Cの溶
融Zn中で100時間熱処理することにより得られるl
Ω・cm程度の低抵抗ZnSnS単結−ペレットる。そ
の襞開面、あるいは研磨・化学エツチングを施した任意
の面の上に10”−eTorr以下でZn薄膜層を蒸着
後、350℃程度まで加熱し、前記Znを蒸発させた後
のf#浄なZnS面の上に、例えばMBE法、M OC
V D法等を用いた単原子層成長法のような膜厚が原子
層程度で厳密に制御される方法でZn0ICJ7を50
〜200人堆積させる。゛しかる後、A Q 20 x
を同様の方法あるいはスパッタリング法で100〜30
0人堆積させることにより絶縁層8とし、その上に適当
なV厚を有するAuを蒸着して注入側の電極2°とする
。低抵抗ZnS側のオーミック電極5°としてはll′
L−1−1g等を用いろ。各電極2°、5゛には、それ
ぞれ、リード線1’、l’を接続する。
、本実施例において、安定な注入発光が持続できた。
[寞施例21
第2の実施例を第2図に示す。発光層lOとなるZnS
は、実施例1に記したと同様な低抵抗Zn5i仮、Ga
As、GaP、Siなどの低抵抗n型基板、あるいは、
1nlo3のような導電性基板li上に堆積もしくはエ
ピタキンヤル成長させた低抵抗ZnS層10とし、引き
続き注入用高抵抗層7゜として高抵抗層ZnS (Zn
O)あるいはA(2tOh、次いで絶縁保持用高抵抗層
8° 、9としてZn0(A Q 203 )あるいは
s +02 (s i*NJなどをそれぞれ堆積させる
ことにより、MIS溝造とする。金属電極2”、5”、
1以下の構造は、実施例1に同じである。
は、実施例1に記したと同様な低抵抗Zn5i仮、Ga
As、GaP、Siなどの低抵抗n型基板、あるいは、
1nlo3のような導電性基板li上に堆積もしくはエ
ピタキンヤル成長させた低抵抗ZnS層10とし、引き
続き注入用高抵抗層7゜として高抵抗層ZnS (Zn
O)あるいはA(2tOh、次いで絶縁保持用高抵抗層
8° 、9としてZn0(A Q 203 )あるいは
s +02 (s i*NJなどをそれぞれ堆積させる
ことにより、MIS溝造とする。金属電極2”、5”、
1以下の構造は、実施例1に同じである。
本実施例2においてら、安定な注入発光が持続できた。
(発明の効果)
本発明によれば、従来のMIS型ZnS青色発光素子に
おける欠点すなわち従来の1層が単一絶縁層であること
により担体の注入に際しての良質の制御された注入層と
しての機能を持つことおよび注入層界面を安定に保持さ
せるための絶縁層としての役割を同時に具備することが
できなかった点を改善することが可能となる。すなわち
、本発明における2層以上の多層構造絶8層では、第1
層目の注入層は素子内部にしかも厳密に膜厚、性質が制
御された状態で形成することが出来、注入層としての特
性を再現性良く確保てきる。また、第2層目以降の絶縁
層は、注入層保護のための上部層となるとともに、膜厚
を適当に選ぶこと、ならびに物質を任意に選ぶことによ
り素子の最適化・安定化を容易に達成することが可能に
なる。したがって、発光素子の高効率化、高安定素子化
が実現できる。
おける欠点すなわち従来の1層が単一絶縁層であること
により担体の注入に際しての良質の制御された注入層と
しての機能を持つことおよび注入層界面を安定に保持さ
せるための絶縁層としての役割を同時に具備することが
できなかった点を改善することが可能となる。すなわち
、本発明における2層以上の多層構造絶8層では、第1
層目の注入層は素子内部にしかも厳密に膜厚、性質が制
御された状態で形成することが出来、注入層としての特
性を再現性良く確保てきる。また、第2層目以降の絶縁
層は、注入層保護のための上部層となるとともに、膜厚
を適当に選ぶこと、ならびに物質を任意に選ぶことによ
り素子の最適化・安定化を容易に達成することが可能に
なる。したがって、発光素子の高効率化、高安定素子化
が実現できる。
第1図と第2図は、それぞれ、本発明の実施例における
MTS型ZnS青色発光素子の素子構造概略図である。 第3図は、従来試作されているMIS型ZnS青色発光
素子の構造例の概略図である。 1°、じ・・・リード線、 2°、2−・・注入側
電極、・1“・低抵抗ZnS結晶、 5″、5−・オーミックコンタクト電極、6・多層(二
重層)構造■(高抵抗)層、6“・多層(三重層)構造
■(高抵抗)層、7.7′・・・注入接合■(高抵抗)
層(第11層)、8.8’、9・・絶縁保持■(高抵抗
)層(第2.31層)、10・・低抵抗堆積ZnS結晶
、 11・・基板。
MTS型ZnS青色発光素子の素子構造概略図である。 第3図は、従来試作されているMIS型ZnS青色発光
素子の構造例の概略図である。 1°、じ・・・リード線、 2°、2−・・注入側
電極、・1“・低抵抗ZnS結晶、 5″、5−・オーミックコンタクト電極、6・多層(二
重層)構造■(高抵抗)層、6“・多層(三重層)構造
■(高抵抗)層、7.7′・・・注入接合■(高抵抗)
層(第11層)、8.8’、9・・絶縁保持■(高抵抗
)層(第2.31層)、10・・低抵抗堆積ZnS結晶
、 11・・基板。
Claims (1)
- (1)発光層としての低抵抗ZnS層と、この低抵抗Z
nS層の上に積層された2層以上の、それぞれ異なる絶
縁性化合物から成る正孔担体注入用の高抵抗絶縁層と、
この高抵抗絶縁層の上に形成された電極とからなるZn
S青色発光素子。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1640886A JPH0697704B2 (ja) | 1986-01-27 | 1986-01-27 | MIS型ZnS青色発光素子 |
US07/256,125 US4916496A (en) | 1986-01-27 | 1988-10-06 | ZnS blue light emitting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1640886A JPH0697704B2 (ja) | 1986-01-27 | 1986-01-27 | MIS型ZnS青色発光素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62173775A true JPS62173775A (ja) | 1987-07-30 |
JPH0697704B2 JPH0697704B2 (ja) | 1994-11-30 |
Family
ID=11915412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1640886A Expired - Lifetime JPH0697704B2 (ja) | 1986-01-27 | 1986-01-27 | MIS型ZnS青色発光素子 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4916496A (ja) |
JP (1) | JPH0697704B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01238072A (ja) * | 1988-03-18 | 1989-09-22 | Mitsubishi Kasei Corp | 青色発光ダイオードの製造方法 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2708183B2 (ja) * | 1988-07-21 | 1998-02-04 | シャープ株式会社 | 化合物半導体発光素子 |
EP0377320B1 (en) * | 1988-12-27 | 1997-07-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Electric field light-emitting device |
US5081632A (en) * | 1989-01-26 | 1992-01-14 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor emitting device |
JP2809692B2 (ja) * | 1989-04-28 | 1998-10-15 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子およびその製造方法 |
JPH0387073A (ja) * | 1989-06-27 | 1991-04-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光素子 |
JP2588280B2 (ja) * | 1989-07-10 | 1997-03-05 | シャープ株式会社 | 化合物半導体発光素子 |
US5260958A (en) * | 1991-12-31 | 1993-11-09 | North American Philips Corporation | Materials for II-VI lasers |
WO1994015369A1 (en) * | 1992-12-22 | 1994-07-07 | Research Corporation Technologies, Inc. | Group ii-vi compound semiconductor light emitting devices and an ohmic contact therefor |
DE69625384T2 (de) * | 1995-01-20 | 2003-04-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Lichtemittierende Halbleitervorrichtung und Herstellungsverfahren |
US6057561A (en) * | 1997-03-07 | 2000-05-02 | Japan Science And Technology Corporation | Optical semiconductor element |
US6771019B1 (en) | 1999-05-14 | 2004-08-03 | Ifire Technology, Inc. | Electroluminescent laminate with patterned phosphor structure and thick film dielectric with improved dielectric properties |
US20050126338A1 (en) * | 2003-02-24 | 2005-06-16 | Nanoproducts Corporation | Zinc comprising nanoparticles and related nanotechnology |
US8008670B2 (en) * | 2006-02-21 | 2011-08-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
JP5300345B2 (ja) | 2007-08-10 | 2013-09-25 | キヤノン株式会社 | 発光膜、発光素子およびその製造方法 |
EP2867928B1 (en) | 2012-06-29 | 2018-08-15 | Lumileds Holding B.V. | Ii-vi based light emitting semiconductor device |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1789084B2 (de) * | 1961-08-17 | 1973-05-30 | Rca Corp., New York, N.Y. (V.St.A.) | Duennschicht-verknuepfungsglied und verfahren zu seiner herstellung |
US3366819A (en) * | 1966-02-14 | 1968-01-30 | Ibm | Light emitting semiconductor device |
US4197552A (en) * | 1975-06-12 | 1980-04-08 | Massachusetts Institute Of Technology | Luminescent semiconductor devices |
JPS5836475B2 (ja) * | 1979-05-16 | 1983-08-09 | 松下電器産業株式会社 | 磁器発光体 |
JPS5823191A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-10 | シャープ株式会社 | 薄膜el素子 |
US4547703A (en) * | 1982-05-28 | 1985-10-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Thin film electroluminescent element |
JPS59109071A (ja) * | 1982-12-14 | 1984-06-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子写真式プリンタ−の光書込みヘツド |
EP0141116B1 (en) * | 1983-10-25 | 1989-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Thin film light emitting element |
JPS60124396A (ja) * | 1983-12-09 | 1985-07-03 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜発光素子 |
-
1986
- 1986-01-27 JP JP1640886A patent/JPH0697704B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-10-06 US US07/256,125 patent/US4916496A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01238072A (ja) * | 1988-03-18 | 1989-09-22 | Mitsubishi Kasei Corp | 青色発光ダイオードの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4916496A (en) | 1990-04-10 |
JPH0697704B2 (ja) | 1994-11-30 |
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