JPS62162388A - プリント配線板用検査装置 - Google Patents
プリント配線板用検査装置Info
- Publication number
- JPS62162388A JPS62162388A JP61004559A JP455986A JPS62162388A JP S62162388 A JPS62162388 A JP S62162388A JP 61004559 A JP61004559 A JP 61004559A JP 455986 A JP455986 A JP 455986A JP S62162388 A JPS62162388 A JP S62162388A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed wiring
- wiring board
- lower mold
- contact pin
- mold
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、プリント配線板の製造時に利用されるプリン
ト配線板用検査装置に関する。
ト配線板用検査装置に関する。
従来の技術
一般に、プリント配線板検査装置は、ボード21)a
、25bにコンタクトビア26& 、261)を設け、
プリント配線板2了のパターン部及びスルホール孔部に
接触させ、ノ<ターンの断線、ショートの検査を行って
いた。
、25bにコンタクトビア26& 、261)を設け、
プリント配線板2了のパターン部及びスルホール孔部に
接触させ、ノ<ターンの断線、ショートの検査を行って
いた。
最近、電子機器の小型化、薄型化に々もない、プリント
配線板に搭載される部品のテ、、プ化も進み、特にスル
ホールプリント配線板の検査は、部品面側、半田面側の
両面同時検査を行う必要が生じてきた。
配線板に搭載される部品のテ、、プ化も進み、特にスル
ホールプリント配線板の検査は、部品面側、半田面側の
両面同時検査を行う必要が生じてきた。
発明が解決しようとする問題点
従来のプリント配線板検査装置は、大部分のコンタクト
ピン28&、26bはスルホール孔で位置決めされてい
たが、チップ上のテストポイントはフラットであり、コ
ンタクトピン26a、2esbの位置決めがされない。
ピン28&、26bはスルホール孔で位置決めされてい
たが、チップ上のテストポイントはフラットであり、コ
ンタクトピン26a、2esbの位置決めがされない。
また、上型、下型の両面を同時に検査しようとすると、
上型と下型の合わせに時間がかかり微調整がむずかしい
。また、薄板のプリント配線板27であれば上型と下型
のコンタクトピン26j&、26bに押えられ歪が生じ
検査が困難な場合があった。
上型と下型の合わせに時間がかかり微調整がむずかしい
。また、薄板のプリント配線板27であれば上型と下型
のコンタクトピン26j&、26bに押えられ歪が生じ
検査が困難な場合があった。
問題点を解決するための手段
本発明は、かかる従来の問題点に鑑みたもので、上型あ
るいは下型のいずれか一方の型が、ガイドボストi介し
て上下動可能とし、上型面及び下型面にストリ、ソバ−
プレートを取り付けるとともにこのストリ・フパープレ
ートのガイド孔を介して接点部がスプリングで上下動す
る複数のコンタクトピンを設けた構成とし念ものである
。
るいは下型のいずれか一方の型が、ガイドボストi介し
て上下動可能とし、上型面及び下型面にストリ、ソバ−
プレートを取り付けるとともにこのストリ・フパープレ
ートのガイド孔を介して接点部がスプリングで上下動す
る複数のコンタクトピンを設けた構成とし念ものである
。
作用
上記構成とするととにより、上型、下型のメトリ2.バ
ープレートは、複数のコンタクトピンを精度良く位置決
めし、上型と下型の合わせはガイドポス)f介して、位
置決めされているので上下動する設備に上型、下型をセ
・ソトするだけで上型と下型の合わせに時間をかけるこ
となく、部品面。
ープレートは、複数のコンタクトピンを精度良く位置決
めし、上型と下型の合わせはガイドポス)f介して、位
置決めされているので上下動する設備に上型、下型をセ
・ソトするだけで上型と下型の合わせに時間をかけるこ
となく、部品面。
半田面の両面同時検査を可能とすることができる。
実施例
本発明を以下図に示す実施例と共に詳細に説明する。第
1図に本発明の実施例の構造図を示し、第2図に本発明
の実施例の具体的な全体図を示す。
1図に本発明の実施例の構造図を示し、第2図に本発明
の実施例の具体的な全体図を示す。
上型は、上型コンタクトピンボード5とコンタクトピン
をガイド保護する上型ストリッパープレート6、弾性ク
ッション8aにより構成され、上型コンタクトピンボー
ド5と上型ストリッパープレート6は数個所の上型スト
リッパープレートガイドビン121Lによって位置決め
されている。上型コンタクトピンボード6と上下機能す
る装置に取付けるホルダープレート1は上型ロケーショ
ンビン15Lによって位置決めされ上型締付はボルト1
6で固定されている。ホルダープレート1には下型のガ
イドポスト3を介して上下動可能とするスライドベアリ
ング2を設ける。上型コンタクトピンボード5にはテス
トポイント位置に複数のコンタクトピン18&が設けら
れている。コンタクトピン18aの先端は内臓されてい
るスプリング24で上下動し、上型ストリ、ソバ−プレ
ート6でガイドされ、配線部は絶縁プレート7によって
コンタクトピンソケット198L間の接触を防止してい
る。コンタクトピンソケット192Lからリード線20
&がカシメもしくは半田付けされ検査測定する計測器と
接続するコネクター211に配線されている。
をガイド保護する上型ストリッパープレート6、弾性ク
ッション8aにより構成され、上型コンタクトピンボー
ド5と上型ストリッパープレート6は数個所の上型スト
リッパープレートガイドビン121Lによって位置決め
されている。上型コンタクトピンボード6と上下機能す
る装置に取付けるホルダープレート1は上型ロケーショ
ンビン15Lによって位置決めされ上型締付はボルト1
6で固定されている。ホルダープレート1には下型のガ
イドポスト3を介して上下動可能とするスライドベアリ
ング2を設ける。上型コンタクトピンボード5にはテス
トポイント位置に複数のコンタクトピン18&が設けら
れている。コンタクトピン18aの先端は内臓されてい
るスプリング24で上下動し、上型ストリ、ソバ−プレ
ート6でガイドされ、配線部は絶縁プレート7によって
コンタクトピンソケット198L間の接触を防止してい
る。コンタクトピンソケット192Lからリード線20
&がカシメもしくは半田付けされ検査測定する計測器と
接続するコネクター211に配線されている。
下型は、下型コンタクトピンボード9と下型ストIJ
、、、 バー プレート10、弾性り・ンション8bに
より構成され下型コンタクトピンボード9と下型ストリ
ッパープレート1Qは数個所の下型ストリッパープレー
トガイドピン12bによって位置決めされ、ている。下
型コンタクトピンボード9と上下機能する装置に取付け
るダイホルダープレート4は下型ロケーションピン15
bによって位置決めされ、下型締付はボルト17で固定
されている。
、、、 バー プレート10、弾性り・ンション8bに
より構成され下型コンタクトピンボード9と下型ストリ
ッパープレート1Qは数個所の下型ストリッパープレー
トガイドピン12bによって位置決めされ、ている。下
型コンタクトピンボード9と上下機能する装置に取付け
るダイホルダープレート4は下型ロケーションピン15
bによって位置決めされ、下型締付はボルト17で固定
されている。
下Wコンタクトピンボード9にはテストポイント位置に
複数のコンタクトピン18bと、プリント配線板位置決
め用ガイドビン22が設けられている。コンタクトピン
18bの先端は内臓されているスプリング24で上下動
し、下型ストリ・フパープレート10でガイドされ、配
線部は絶縁プレート11によってコンタクトピンソケッ
ト19b間の接触を防止している。コンタクトピンソケ
ット19bからリード線20bがカシメもしくは半田付
けされ、検査測定する計測器と接続するコネクター21
bに配線されている。
複数のコンタクトピン18bと、プリント配線板位置決
め用ガイドビン22が設けられている。コンタクトピン
18bの先端は内臓されているスプリング24で上下動
し、下型ストリ・フパープレート10でガイドされ、配
線部は絶縁プレート11によってコンタクトピンソケッ
ト19b間の接触を防止している。コンタクトピンソケ
ット19bからリード線20bがカシメもしくは半田付
けされ、検査測定する計測器と接続するコネクター21
bに配線されている。
この上型、下型を上下機能する装置に取付け、下型のガ
イドピン22をプリント配線板23のガイド孔に挿入し
、プリント配線板23を下型にセットする。上下機能す
る装置により、上型もしくは下型のいずれか一方を動作
させ、プリント配線板23が完全にサントイ・ノテされ
るまでスライドさせ、コンタクトピン18をプリント配
線板23の検査ポイントに接触させ、断線・ショートの
検査を行う。下型上にあるプリント配線板23の検査位
置と上型コンタクトピン位置のズレがあっても上型のホ
ルダープレート1に設けである微調整用マイクロメータ
ーもしくはネジ13と微調整用スプリング14によって
上型コンタクトピンボード5を微調整し、上型と下型を
合わせる。
イドピン22をプリント配線板23のガイド孔に挿入し
、プリント配線板23を下型にセットする。上下機能す
る装置により、上型もしくは下型のいずれか一方を動作
させ、プリント配線板23が完全にサントイ・ノテされ
るまでスライドさせ、コンタクトピン18をプリント配
線板23の検査ポイントに接触させ、断線・ショートの
検査を行う。下型上にあるプリント配線板23の検査位
置と上型コンタクトピン位置のズレがあっても上型のホ
ルダープレート1に設けである微調整用マイクロメータ
ーもしくはネジ13と微調整用スプリング14によって
上型コンタクトピンボード5を微調整し、上型と下型を
合わせる。
プリント配線板23が薄板であっても、上型。
下型のストリ・ンバーブレー)6.10にサンドイッチ
されそり歪がなく検査することができる。
されそり歪がなく検査することができる。
発明の効果
本発明は、以上のように上型と下型を備え、ガイドボス
トを介して上下することから、従来のように、上型、下
型の合わせに時間をかけることなく高精度のプリント配
線板の同時両面検査が可能となり省力化が図れる利点が
ある。
トを介して上下することから、従来のように、上型、下
型の合わせに時間をかけることなく高精度のプリント配
線板の同時両面検査が可能となり省力化が図れる利点が
ある。
第1図は本発明のプリント配線板検査装置の一実施例の
構造を示す半断面正面図、第2図は同斜視図、第3図は
従来のプリント配線板検査装置の構造を示す断面図であ
る。 1・・・・・・ホルダープレート、2・・・・・・スラ
イドベアリング、3・・・・・・ガイドポスト、4・・
・・・・グイホルダープレート、6・・・・・・上型コ
ンタクトピンボード、6・・・・・・上型ストリッパー
プレート、7・・・・・・絶縁プレート、8・・・・・
・弾性り、ソション、9・・・・、・下型コンタクトピ
ンボード、1o・・・・・・下型ストリッパーブL/−
ト、18・・・・・・コンタクトピン、2o・・・・・
・リード線、21・・・・・・コネクター、22・・・
・・・ガイドビン、23・・・・・・プリント配線板、
24・旧・・スプリング。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名3−
nイド汀ζ入ト に−・−ロケ−シランピン 16・・・上気J中付本ルト
構造を示す半断面正面図、第2図は同斜視図、第3図は
従来のプリント配線板検査装置の構造を示す断面図であ
る。 1・・・・・・ホルダープレート、2・・・・・・スラ
イドベアリング、3・・・・・・ガイドポスト、4・・
・・・・グイホルダープレート、6・・・・・・上型コ
ンタクトピンボード、6・・・・・・上型ストリッパー
プレート、7・・・・・・絶縁プレート、8・・・・・
・弾性り、ソション、9・・・・、・下型コンタクトピ
ンボード、1o・・・・・・下型ストリッパーブL/−
ト、18・・・・・・コンタクトピン、2o・・・・・
・リード線、21・・・・・・コネクター、22・・・
・・・ガイドビン、23・・・・・・プリント配線板、
24・旧・・スプリング。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名3−
nイド汀ζ入ト に−・−ロケ−シランピン 16・・・上気J中付本ルト
Claims (1)
- 上型あるいは下型のいずれか一方の型がガイドポストを
介して上下動可能とし、この上型面及び下型面にストリ
ッパープレートを取付けるとともに、ストリッパープレ
ートのガイド孔を介して、接点部がスプリングで上下動
する複数のコンタクトピンを設けてなるプリント配線板
用検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61004559A JPS62162388A (ja) | 1986-01-13 | 1986-01-13 | プリント配線板用検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61004559A JPS62162388A (ja) | 1986-01-13 | 1986-01-13 | プリント配線板用検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62162388A true JPS62162388A (ja) | 1987-07-18 |
Family
ID=11587398
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61004559A Pending JPS62162388A (ja) | 1986-01-13 | 1986-01-13 | プリント配線板用検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62162388A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01143977A (ja) * | 1987-11-09 | 1989-06-06 | Mania Gmbh & Co | 印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ |
JP2010138776A (ja) * | 2008-12-11 | 2010-06-24 | Mitsubishi Electric Corp | 燃料供給装置 |
JP2017173030A (ja) * | 2016-03-22 | 2017-09-28 | ヤマハファインテック株式会社 | 検査治具、検査装置及び検査方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55147363A (en) * | 1979-05-08 | 1980-11-17 | Toshiba Corp | Device for automatically testing wiring bedplate |
JPS5666765A (en) * | 1979-11-02 | 1981-06-05 | Nec Corp | Inspection method of printed board |
JPS6057269A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 両面基板位置決め検査装置 |
-
1986
- 1986-01-13 JP JP61004559A patent/JPS62162388A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55147363A (en) * | 1979-05-08 | 1980-11-17 | Toshiba Corp | Device for automatically testing wiring bedplate |
JPS5666765A (en) * | 1979-11-02 | 1981-06-05 | Nec Corp | Inspection method of printed board |
JPS6057269A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 両面基板位置決め検査装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01143977A (ja) * | 1987-11-09 | 1989-06-06 | Mania Gmbh & Co | 印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ |
JP2010138776A (ja) * | 2008-12-11 | 2010-06-24 | Mitsubishi Electric Corp | 燃料供給装置 |
JP2017173030A (ja) * | 2016-03-22 | 2017-09-28 | ヤマハファインテック株式会社 | 検査治具、検査装置及び検査方法 |
CN107219449A (zh) * | 2016-03-22 | 2017-09-29 | 雅马哈精密科技株式会社 | 检查夹具、检查装置及检查方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6160412A (en) | Impedance-matched interconnection device for connecting a vertical-pin integrated circuit probing device to integrated circuit test equipment | |
JPH022547B2 (ja) | ||
JP2003506667A (ja) | セグメントコンタクタ | |
JPS63304180A (ja) | 印刷回路板テスト装置 | |
JP2002164136A (ja) | Bga用icソケット | |
JPH0921828A (ja) | 垂直作動式プローブカード | |
ATE108909T1 (de) | Testgerät für integrierte schaltkreise. | |
JPS62162388A (ja) | プリント配線板用検査装置 | |
JPH1130644A (ja) | Ic試験装置のテストヘッドと試料との接続機構 | |
JP4097003B2 (ja) | 半導体チップ用パッケージの良否検査方法及びその装置 | |
DE4433906A1 (de) | Testgerät für integrierte Halbleiterschaltungen | |
US6556031B2 (en) | Verticle probe card for attachment within a central corridor of a magnetic field generator | |
JPH0438299Y2 (ja) | ||
JP3307166B2 (ja) | 回路基板の検査装置 | |
JP3594139B2 (ja) | 半導体テスタ装置 | |
JPH045023Y2 (ja) | ||
JPH0430550Y2 (ja) | ||
US7123034B2 (en) | Contactor assembly for common grid array devices | |
JPH09236619A (ja) | 縦型プローブカード | |
JPS59116872U (ja) | インサ−キツトテスト用のユニバ−サル・フイクスチヤ | |
JPH0129589Y2 (ja) | ||
JPH045025Y2 (ja) | ||
JPH0315765A (ja) | テストボード | |
JPH06186285A (ja) | フラットパッケージ形ic試験装置 | |
JPS57122368A (en) | Inspecting apparatus for printed circuit board |