JPS6186649A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS6186649A JPS6186649A JP59208005A JP20800584A JPS6186649A JP S6186649 A JPS6186649 A JP S6186649A JP 59208005 A JP59208005 A JP 59208005A JP 20800584 A JP20800584 A JP 20800584A JP S6186649 A JPS6186649 A JP S6186649A
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- Japan
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- light
- ultrasonic wave
- wave beam
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は水浸探傷において被検査体内に超首波が入射す
る位置を適確に判折できる超音波探傷装置艦−関する。
る位置を適確に判折できる超音波探傷装置艦−関する。
金属材料等の内部C;存在する欠陥を検出するための超
音波ビームC:おいてべ超音波探触′f(以後探触子と
称す)と被検査体の間に接触媒質の膜を作ることC:よ
り安定した探傷な行う直接接触法と、被検査体を水槽等
に水没させるか又は局部的≦二そのような状態を作る水
浸法が用いられる。直接接触法においては超音波が被検
査体内に入射する位置は探触子の入射点位置の直下であ
るので明fil二認識でき、従って被検査体内の探傷経
路も容易に知ることができる。他方、水浸法においては
第5因≦;示す如く水槽l内に固定した被検査体2の表
面より離して探触子3を設置し、水等の伝音媒質4を介
して被検査体内艦−超音波ビームを入射させるために、
被検量体表面I:おける超音波ビームの入射位置が分か
りin<<、従って被検査体内部における探渦経路即ち
どの部分を探傷しているのか判断に苦しむ事が通例であ
る。この場合、一般(二11探触子3の外壁に棒状の治
具等5を手で当てがい、この棒状治具5の先端が被検査
体2の表面に接する位置6から超音波ビーム7の入射点
8を推定し被検査体表面ユおける超音波ビームの経路7
′を推定するという手段を収ることが多い。この様な手
段では・超音波ビームの入射角や被検査体2と探触子3
の距離を変えるたびC:前記手段書;よる推定を行わね
ばならず、最適探傷条件の選定に多大な時間を要すると
いう欠点があった。
音波ビームC:おいてべ超音波探触′f(以後探触子と
称す)と被検査体の間に接触媒質の膜を作ることC:よ
り安定した探傷な行う直接接触法と、被検査体を水槽等
に水没させるか又は局部的≦二そのような状態を作る水
浸法が用いられる。直接接触法においては超音波が被検
査体内に入射する位置は探触子の入射点位置の直下であ
るので明fil二認識でき、従って被検査体内の探傷経
路も容易に知ることができる。他方、水浸法においては
第5因≦;示す如く水槽l内に固定した被検査体2の表
面より離して探触子3を設置し、水等の伝音媒質4を介
して被検査体内艦−超音波ビームを入射させるために、
被検量体表面I:おける超音波ビームの入射位置が分か
りin<<、従って被検査体内部における探渦経路即ち
どの部分を探傷しているのか判断に苦しむ事が通例であ
る。この場合、一般(二11探触子3の外壁に棒状の治
具等5を手で当てがい、この棒状治具5の先端が被検査
体2の表面に接する位置6から超音波ビーム7の入射点
8を推定し被検査体表面ユおける超音波ビームの経路7
′を推定するという手段を収ることが多い。この様な手
段では・超音波ビームの入射角や被検査体2と探触子3
の距離を変えるたびC:前記手段書;よる推定を行わね
ばならず、最適探傷条件の選定に多大な時間を要すると
いう欠点があった。
本発明は上記事情Cff1みてなされたもので、被検査
体表面における超音波ビームの入射点を光により視覚的
に判断することを可能とし、ひいては被検査体内の探傷
経路を分かり易くすることにより水浸探傷にお(する検
査効率を向上させることが可能な超音波探触子を提供す
ることを目的とする。
体表面における超音波ビームの入射点を光により視覚的
に判断することを可能とし、ひいては被検査体内の探傷
経路を分かり易くすることにより水浸探傷にお(する検
査効率を向上させることが可能な超音波探触子を提供す
ることを目的とする。
本発明による超音波探傷装置tマ探触子の中心部に軸方
向シー沿った小口径の穴と、この内部にレーザ光等の光
へまたは外部より導かれた光源の開口部と、この光を細
くかつ平行な光ビームにして超音波ビームの放射方向と
同一方向に元ビームを放射するレンズ系より構成し、光
ビームが被検査体表面を照射する位置を可視化すること
により超音波ビームの入射点および被検置体内部におけ
る探傷経路を明らか(ユし、迅速な水浸超音波探傷がで
きるよう!ニする。
向シー沿った小口径の穴と、この内部にレーザ光等の光
へまたは外部より導かれた光源の開口部と、この光を細
くかつ平行な光ビームにして超音波ビームの放射方向と
同一方向に元ビームを放射するレンズ系より構成し、光
ビームが被検査体表面を照射する位置を可視化すること
により超音波ビームの入射点および被検置体内部におけ
る探傷経路を明らか(ユし、迅速な水浸超音波探傷がで
きるよう!ニする。
(実施例の構成)
、以下1本発明C:係る超音波探傷装置の実施例を第1
図および第2図を参照して説明する。
図および第2図を参照して説明する。
第11/Cおいて超音波探触子3を構成する振動子9お
よび振動子の背面+’=存在するバッキング材lOの中
心軸上に設けらrL、た小口径の穴の中には半導体レー
デ等の光源11と、発生した光を細(かつ平行にする為
のレンズ系12を有することCユより、超音波ビームと
同一方向に細く平行な光ビーム13を放射する。光源1
1は電源線144二よりコネクター15を介して外部の
光源用電源16と接続される。なお振動子用の信号線1
7は通常の探触子と同様にコネクター18を介して超音
波探傷器19に接続される。
よび振動子の背面+’=存在するバッキング材lOの中
心軸上に設けらrL、た小口径の穴の中には半導体レー
デ等の光源11と、発生した光を細(かつ平行にする為
のレンズ系12を有することCユより、超音波ビームと
同一方向に細く平行な光ビーム13を放射する。光源1
1は電源線144二よりコネクター15を介して外部の
光源用電源16と接続される。なお振動子用の信号線1
7は通常の探触子と同様にコネクター18を介して超音
波探傷器19に接続される。
光ビームの光源として第1図(二おいて11探触子3に
内蔵した構造としたが、第2図に示す如く光フアイバー
ケーブル20等により外部のレーザ光源等の光源21よ
り探触子内に導びいても同様の機能な以たすことが可能
である。
内蔵した構造としたが、第2図に示す如く光フアイバー
ケーブル20等により外部のレーザ光源等の光源21よ
り探触子内に導びいても同様の機能な以たすことが可能
である。
(実施例の作用と効果)
上記構成とすることにより、第3図に示すように探触子
3より放射さnた超音波ビーム7を求目に見えず超音波
ビームの被検歪体表面≦二おける入射位置は見えないが
、超音波と−ム7の中心軸上のレンズ系12より放射さ
れ同一方向に進む光ビーム13を求被検査体表面上CR
点を描くため、その点が超音波ビームの入射点8である
ことを容易に判断することができる。従って被検査体表
面に輝点として描かれた上記の入射点8と入射角や媒質
および被検査体の音響的定数より理論式を用いることに
より、被検査体表面C:お(する超音波ビームの経路7
′即ちどの部位を探傷しているのかについて容易(二推
定することができる。
3より放射さnた超音波ビーム7を求目に見えず超音波
ビームの被検歪体表面≦二おける入射位置は見えないが
、超音波と−ム7の中心軸上のレンズ系12より放射さ
れ同一方向に進む光ビーム13を求被検査体表面上CR
点を描くため、その点が超音波ビームの入射点8である
ことを容易に判断することができる。従って被検査体表
面に輝点として描かれた上記の入射点8と入射角や媒質
および被検査体の音響的定数より理論式を用いることに
より、被検査体表面C:お(する超音波ビームの経路7
′即ちどの部位を探傷しているのかについて容易(二推
定することができる。
(他の実施例)
次に第4因を参照して他の実施例を説明する。
すなわち、探触f3の中心部1:存在する小口径の穴の
内!4二は、光源11または外部より尋びかれに光源の
開口部のItnc、上記光源11より放射さ3た光ビー
ム13が被検査体表面を照射した後に反射してくる光を
受光し電気信号(:変換するための71−フミラー22
と受光素子おを内蔵した構成とする。
内!4二は、光源11または外部より尋びかれに光源の
開口部のItnc、上記光源11より放射さ3た光ビー
ム13が被検査体表面を照射した後に反射してくる光を
受光し電気信号(:変換するための71−フミラー22
と受光素子おを内蔵した構成とする。
被検査体表面より反射してくる光の強度を求光ビーム1
3を入射する際の入射角θ≦二より腿化するために受光
素子23+二より検出された光の強度を測定することシ
ニより入射角θをデジタルの入射角表示器24(−表示
することができる為に、M音波ビーム7および被検置体
内部における経路7′のみならず入射角をも連続的にモ
ニターすることが可能となり、より適確な探傷な継続す
ることができる。
3を入射する際の入射角θ≦二より腿化するために受光
素子23+二より検出された光の強度を測定することシ
ニより入射角θをデジタルの入射角表示器24(−表示
することができる為に、M音波ビーム7および被検置体
内部における経路7′のみならず入射角をも連続的にモ
ニターすることが可能となり、より適確な探傷な継続す
ることができる。
以上説明したように本発明によれば水浸用超音波探馳子
の中心部より超音波ビームと同一方向6;細くかつ平行
な元ビームを放射する構成としたことにより、MA音波
ビームの被検査体表面における入射点および被検査体内
部における探傷経路を容易に判断できる之め、従来は探
傷位置や条件の設定に時間を要した水浸超音波探傷≦二
おける検盆効坐を向上させることか可能となる。更に被
検益体表面を照射した光ビームの反射光の強度を計測す
ることによりMAd波ビームの入射角を連続的(ニモニ
ターできるために、適確な探傷な継続することができ、
水浸探傷の正確さと効率的な探4におよぼす効果に大で
ある。
の中心部より超音波ビームと同一方向6;細くかつ平行
な元ビームを放射する構成としたことにより、MA音波
ビームの被検査体表面における入射点および被検査体内
部における探傷経路を容易に判断できる之め、従来は探
傷位置や条件の設定に時間を要した水浸超音波探傷≦二
おける検盆効坐を向上させることか可能となる。更に被
検益体表面を照射した光ビームの反射光の強度を計測す
ることによりMAd波ビームの入射角を連続的(ニモニ
ターできるために、適確な探傷な継続することができ、
水浸探傷の正確さと効率的な探4におよぼす効果に大で
ある。
第1図は本発明の超音波探傷装置の一笑絶倒をホす図、
第2図は他の実施例の図、第3図に作用を説明する図%
第4図は更に他の実施例の構成および作用を説明する因
、第5図を工従来の装置による探傷状況を示す凶である
。 2・・・被検査体 3・・・探触子7・・・超
音波ビーム 7′・・・被検査体内の超音波ビーム
径路 8・・・入射点11・・・光源
12・・・レンズ系13・・・光ビーム
19・・・超音波探傷器20・・・光ファイバー
お・・・受光菓子冴・・・入射角表示器。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名) 第1図 第2図 第3図 /A 第4図 /φ 第5図
第2図は他の実施例の図、第3図に作用を説明する図%
第4図は更に他の実施例の構成および作用を説明する因
、第5図を工従来の装置による探傷状況を示す凶である
。 2・・・被検査体 3・・・探触子7・・・超
音波ビーム 7′・・・被検査体内の超音波ビーム
径路 8・・・入射点11・・・光源
12・・・レンズ系13・・・光ビーム
19・・・超音波探傷器20・・・光ファイバー
お・・・受光菓子冴・・・入射角表示器。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名) 第1図 第2図 第3図 /A 第4図 /φ 第5図
Claims (2)
- (1)被検査体に超音波ビームを放射する振動子を外面
に有し前記超音波ビームの中心軸に沿つて光を照射する
光源を内部に有する探触子と、前記振動子に超音波電気
信号を送る探傷器と、前記光源用の電源とを備えたこと
を特徴とする超音波探傷装置。 - (2)被検査体に超音波ビームを放射する振動子を外面
に有し前記超音波ビームの中心軸に沿つて光を照射する
光源とこの光の被検査体からの反射光を受ける受光素子
とを内部に有する探触子と、前記振動子に超音波電気信
号を送る探傷器と、前記光源用の電源と、前記受光素子
からの信号を受けて前記超音波ビームの被検査体への入
射角を表示する入射角表示器とを備えたことを特徴とす
る超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59208005A JPS6186649A (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59208005A JPS6186649A (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6186649A true JPS6186649A (ja) | 1986-05-02 |
Family
ID=16549091
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59208005A Pending JPS6186649A (ja) | 1984-10-05 | 1984-10-05 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6186649A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104792884A (zh) * | 2015-04-03 | 2015-07-22 | 上海和伍新材料科技有限公司 | 超声检测中激光笔与超声探头相对位置的标定装置与方法 |
CN104792882A (zh) * | 2015-04-03 | 2015-07-22 | 上海和伍新材料科技有限公司 | 利用激光笔进行超声探头定位的装置和方法 |
CN105467011A (zh) * | 2015-12-09 | 2016-04-06 | 上海复合材料科技有限公司 | 一种超声c扫描检测中缺陷位置精确定位方法 |
CN105891114A (zh) * | 2016-05-25 | 2016-08-24 | 广西科技大学 | 用于测量散射光谱的比色皿及其光学*** |
-
1984
- 1984-10-05 JP JP59208005A patent/JPS6186649A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104792884A (zh) * | 2015-04-03 | 2015-07-22 | 上海和伍新材料科技有限公司 | 超声检测中激光笔与超声探头相对位置的标定装置与方法 |
CN104792882A (zh) * | 2015-04-03 | 2015-07-22 | 上海和伍新材料科技有限公司 | 利用激光笔进行超声探头定位的装置和方法 |
CN105467011A (zh) * | 2015-12-09 | 2016-04-06 | 上海复合材料科技有限公司 | 一种超声c扫描检测中缺陷位置精确定位方法 |
CN105891114A (zh) * | 2016-05-25 | 2016-08-24 | 广西科技大学 | 用于测量散射光谱的比色皿及其光学*** |
CN105891114B (zh) * | 2016-05-25 | 2019-03-29 | 广西科技大学 | 用于测量散射光谱的比色皿及其光学*** |
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